JP2000097969A - フレームグランド用コンタクトプローブ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 検査基板の基準穴周辺に設置されたフレーム
の接地をとる為の回路パターンに接触するフレームグラ
ンド用コンタクトプローブにおいて、従来技術の不安定
な要因を除去し、安定且つ精度の高い検査を可能にする
とともに、耐久性を高め、維持費を低くすること。 【解決手段】 検査基板としてのプリント基板８０の基
準穴８１の周辺に設置されたフレームの接地をとる為の
回路パターン８に面接触する環状部材としてのリング２
と、該リング２を前記基準穴８１にガイドするガイド部
材としてのガイドピン１とからなるフレームグランド用
コンタクトプローブ。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば複写機、コ
ンピュータに使用されている基板の組立不具合の有無を
検査するのに用いられるフレームグランド用コンタクト
プローブに関する。

【０００２】

【従来の技術】従来のフレームグランド用ピンプローブ
は、図６に示されるようにプリント基板上に形成された
フレームグランドのパターンＴにピンＰの先端を接触さ
せる回路等の検査に各種ピンプローブが使用されてい
た。

【０００３】従来のフレームグランド用ピンプローブの
取付け例は、図６に示されるように、ナットＮによって
固定板Ｆに固定されたガイドピンＧとは別に固定板Ｆに
穴を開けピンプローブＰが介挿されるピンソケット（バ
ーレル）ＰＳを固定するとともに、可動板Ｋに支持して
ピンＰの曲がりを押さえる構造となっている。

【０００４】プランジャとしての前記ピンＰが検査用基
板ＢのパターンＴに当たり、電気的に接触することによ
り、前記ピンソケットＰＳの下端に装着されたハーネス
Ｈを介して計測するものである。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
のフレームグランド用ピンプローブは、フレームグラン
ドのパターンＴ、その形状から、パターンが格子上とな
り、パターンが無い所と有る所が存在し、且つ検査装置
側の位置決め用として基準ピンとしてのガイドピンＰを
フレームグランドのある穴に設置するため、前記ピンプ
ローブＰが立てられないことがあるという問題があっ
た。

【０００６】また、テストパッドを配設して基準ピンと
してのガイドピンＧからの距離を保つか、部品面から前
記ピンプローブＰを立てるものであるため、接触性に難
があり、接触不良が発生し、精度よく測定できないとい
う問題があった。

【０００７】さらに、回路等の検査を行うためにフレー
ムグランドのパターンＴにピンプローブＰの先端を点接
触させるものであるため、毎回の接触によりピンプロー
ブＰの先端が摩耗するので、接触不良が発生して耐久性
に問題があるとともに、前記ピンプローブＰを定期的に
交換する必要があり、維持費も高くなるという問題もあ
った。

【０００８】そこで本発明者は、上記従来技術における
問題点を解消すること課題として定め、検査基板の基準
穴周辺に設置されたフレームの接地をとる為の回路パタ
ーンにおいて、ガイド部材によって環状部材を基準穴に
ガイドして環状部材を回路パターンに環状に面接触させ
るという本発明の技術的思想に着眼し、更に研究開発を
重ねた結果、上記従来技術の不安定な要因を除去し、安
定且つ精度の高い検査を可能にするとともに、耐久性を
高め、維持費を低くするという目的を達成する本発明に
到達した。

【０００９】

【課題を解決するための手段】本発明（請求項１に記載
の第１発明）のフレームグランド用コンタクトプローブ
は、検査基板の基準穴周辺に設置されたフレームの接地
をとる為の回路パターンに面接触する環状部材と、該環
状部材を前記基準穴にガイドするガイド部材とからなる
ものである。

【００１０】本発明（請求項２に記載の第２発明）のフ
レームグランド用コンタクトプローブは、前記第１発明
において、前記環状部材を前記ガイド部材に対して進退
自在に弾性支持して、前記基準穴周りの前記回路パター
ンに弾性的に押圧する押圧部材を備えているものであ
る。

【００１１】本発明（請求項３に記載の第３発明）のフ
レームグランド用コンタクトプローブは、前記第２発明
において、前記ガイド部材が、前記検査基板の前記基準
穴に介挿されるとともに、前記環状部材としてのリング
に介挿される検査用治具のガイドピンによって構成され
ているものである。

【００１２】本発明（請求項４に記載の第４発明）のフ
レームグランド用コンタクトプローブは、前記第３発明
において、前記リングおよびガイドピンが、導電性材料
で構成されているものである。

【００１３】

【発明の作用および効果】上記構成より成る第１発明の
フレームグランド用コンタクトプローブは、検査基板の
基準穴周辺に設置されたフレームの接地をとる為の回路
パターンにおいて、前記ガイド部材によって前記環状部
材を前記基準穴にガイドして前記回路パターンの前記基
準穴周りに環状に面接触させることにより、前記基準穴
周辺に設置されたフレームの接地をとるので、上記従来
技術の不安定な要因を除去し、安定且つ精度の高い検査
を可能にするとともに、耐久性を高め、維持費を低くす
るという効果を奏する。

【００１４】上記構成より成る第２発明のフレームグラ
ンド用コンタクトプローブは、前記第１発明において、
前記押圧部材が、前記環状部材を前記ガイド部材に対し
て進退自在に弾性支持して、前記基準穴周りの前記回路
パターンに弾性的に押圧するので、不安定な要因を除去
し、安定且つ精度の高い検査を可能にするとともに、耐
久性を高め、維持費を低くするという効果を奏する。

【００１５】上記構成より成る第３発明のフレームグラ
ンド用コンタクトプローブは、前記第２発明において、
前記ガイド部材を構成する検査用治具の前記ガイドピン
が、前記検査基板の前記基準穴に介挿されるとともに、
前記環状部材としてのリングに介挿されるので、前記ガ
イドピンによって前記リングを前記基準穴にガイドして
前記回路パターンの前記基準穴周りに面接触させること
により、前記基準穴周辺に設置されたフレームの接地を
とるので、シンプルな構成の前記リングによって、上記
従来技術の不安定な要因を除去し、安定且つ精度の高い
検査を可能にするとともに、耐久性を高め、コストおよ
び維持費を低くするという効果を奏する。

【００１６】上記構成より成る第４発明のフレームグラ
ンド用コンタクトプローブは、前記第３発明において、
前記リングおよびガイドピンが、導電性材料で構成され
ているので、前記基準穴周りの前記回路パターンに弾性
的に押圧された前記リングを介して前記ガイドピンから
前記基準穴周辺に設置されたフレームの接地をとるた
め、従来のピンプローブを不要にして、構成をシンプル
かつ安価にするという効果を奏する。

【００１７】

【発明の実施の形態】以下本発明の実施の形態につき、
図面を用いて説明する。

【００１８】（実施形態）本実施形態のフレームグラン
ド用コンタクトプローブは、図１ないし図５に示される
ように検査基板としてのプリント基板８０の基準穴８１
の周辺に設置されたフレームの接地をとる為の回路パタ
ーン８に面接触する環状部材としてのリング２と、該リ
ング２を前記基準穴８１にガイドするガイド部材として
のガイドピン１とからなるものである。

【００１９】プリント基板８０は、図１に示されるよう
に基板の下面にフレームグランド（接地）用のパターン
８が形成され、可動板６の上面にスペーサを介して載置
され、コーナー部に前記ガイドピン１が挿入される前記
基準穴８１が形成されている。

【００２０】フレームの接地とは、装置本体の板金（シ
ャーシ）と基板とを同電位にするために設けられた基板
上のパターンであり、このパターンと基板内の回路のグ
ランド（接地）は、低抵抗（０Ωまたは１０Ω）で接続
されることが多い。電磁波の発振を抑えるためにこのフ
レームグランドと回路グランドが接続されないこともあ
る。接続は、ビス（ネジ）で基板の穴に通し、直接装置
本体に止められる。

【００２１】前記可動板６は、図１に示されるように前
記プリント基板８０の前記コーナー部に形成された前記
ガイドピン１が挿入される前記基準穴８１に対向する位
置に前記基準穴８１の直径より大きな前記リング２が介
挿される大径および小径の段差のある逆Ｔ字状の円形穴
６１が形成されている。

【００２２】固定板４は、図１に示されるように前記可
動板６に対して一定距離隔てて平行に配設され、前記プ
リント基板８０の前記コーナー部に形成された前記基準
穴８１および前記可動板６に形成された前記逆Ｔ字状の
円形穴６１に対向する位置に前記ガイドピン１が挿入さ
れる穴部４１が形成され、ナット５によって前記ガイド
ピン１が締着され固定される。

【００２３】前記リング２は、図１ないし図４に示され
るように前記可動板６の大径および小径の段差のある逆
Ｔ字状の前記円形穴６１に介挿され、前記プリント基板
８０の前記コーナー部に形成された前記基準穴８１の周
りの前記パターン８に小径の上端部が当接する前記逆Ｔ
字状の環状部材２０によって構成される。

【００２４】前記ガイドピン１は、図１および図４に示
されるように前記プリント基板８０の前記コーナー部に
形成された前記基準穴８１への挿入を容易にするために
先端が円錐状に先細形状に形成された棒状部材１０によ
って構成され、下端は前記ナットが螺着されるように螺
子溝が形成されている。

【００２５】前記ガイドピン１は、前記固定板４の前記
穴部に挿入した後、リング状のスペーサプレート１３が
挿入され、該スペーサプレート１３と前記リング２との
間に介挿され該リング２を上方に付勢するスプリング３
が挿入され、次に前記リング２が挿入された後、前記可
動板６の逆Ｔ字状の円形穴に挿入され、前記下端にハー
ネス７を挿入した後螺子部に前記ナット５を締着するこ
とによって前記ガイドピン１が固定される。前記可動板
６の上面にスペーサを介して前記プリント基板８０が載
置されると前記プリント基板８０の前記基準穴８１に挿
入される。

【００２６】前記スプリング３は、図１および図４に示
されるように前記環状部材としてのリング２を前記ガイ
ド部材としてのガイドピン１に対して進退自在に弾性支
持して、前記基準穴８１周りの前記回路パターン８に弾
性的に押圧する押圧部材を構成するものである。

【００２７】また前記リング２およびガイドピン１が、
機械的強度を備えた導電性材料で構成され、一例として
本実施形態においてはステンレス（ＳＵＳ３０４）を採
用したが、鉄、真鍮などを採用することが出来る。

【００２８】上記構成より成る本実施形態のフレームグ
ランド用コンタクトプローブは、前記プリント基板８０
が前記可動板６の上面にスペーサを介して載置される
と、前記ガイドピン１の先端が前記プリント基板８０の
前記基準穴８１に挿入され、前記プリント基板８０の上
面が直交関係に配設された基板押さえ板９によって下方
に押し付けられている。

【００２９】前記プリント基板８０の上面が前記基板押
さえ板９によって下方に押し付けられているので、前記
リング２の環状の上面（平らもしくは、鋸面）が下面の
フレームグランド用の前記パターン８に接触し、前記ガ
イドピン１を介して更に前記ナット５の上面に一端が挾
着された前記ハーネス７を介して、検査装置本体の計測
用基板に信号が伝達される。

【００３０】本実施形態における抵抗計測、コンデンサ
計測およびマルチメーターの計測方法は、図５に示され
るように抵抗計測、コンデンサ計測およびマルチメータ
ーその他の計測器を基板上の素子の両端に当てて計る。
素子は、基板上に設けられたパッド（パターン）の一部
にピンを当てるとともに、上述したリング２およびガン
ドピン１を介して測定する。

【００３１】上記作用を奏する本実施形態のフレームグ
ランド用コンタクトプローブは、前記検査基板８０の前
記基準穴８１の周辺に設置されたフレームの接地をとる
為の前記回路パターン８において、前記ガイド部材とし
てのガイドピン１によって前記環状部材としてのリング
２を前記基準穴８１にガイドして前記回路パターン８の
前記基準穴８１周りに面接触させることにより、前記基
準穴８１の周辺に設置されたフレームの接地をとるの
で、上記従来技術の不安定な要因を除去し、安定且つ精
度の高い検査を可能にするとともに、耐久性を高め、維
持費を低くするという効果を奏する。

【００３２】また本実施形態のフレームグランド用コン
タクトプローブは、前記押圧部材としての前記スプリン
グ３が、前記リング２を前記ガイドピン１に対して進退
自在に弾性支持して、前記基準穴８１の周りの前記回路
パターン８に弾性的に押圧するので、不安定な要因を除
去し、安定且つ精度の高い検査を可能にするとともに、
耐久性を高め、維持費を低くするという効果を奏する。

【００３３】さらに本実施形態のフレームグランド用コ
ンタクトプローブは、検査用治具の前記ガイドピンが、
前記検査基板８０の前記基準穴８１に介挿されるととも
に、前記リング２に介挿されるので、前記ガイドピン１
によって前記リング２を前記基準穴８１にガイドして前
記回路パターン８の前記基準穴８１の周りに環状に面接
触させることにより、前記基準穴８１の周辺に設置され
たフレームの接地をとるので、シンプルな構成の前記リ
ング２によって、上記従来技術の不安定な要因を除去
し、安定且つ精度の高い検査を可能にするとともに、コ
ストおよび維持費を低くするという効果を奏する。

【００３４】また本実施形態のフレームグランド用コン
タクトプローブは、前記リング２およびガイドピン１
が、導電性材料で構成されているので、前記基準穴８１
の周りの前記回路パターン８に弾性的に押圧された前記
リング２を介して前記ガイドピン１から前記基準穴８１
の周辺に設置されたフレームの接地をとるため、従来の
ピンプローブを不要にして、構成をシンプルかつ安価に
するという効果を奏する。

【００３５】さらに本実施形態のフレームグランド用コ
ンタクトプローブは、前記リング２およびガイドピン１
が、ステンレスのような機械的強度を備えた導電性材料
で構成されているので、安定且つ精度の高い検査を可能
にするとともに、耐久性を高めるという効果を奏する。

【００３６】また本実施形態のフレームグランド用コン
タクトプローブは、前記プリンタ基板８０の形成された
パターン８とコンタクトプローブとしてのリング２の接
触性の向上につながり、ほぼ１００％の接触を保つこと
ができる。

【００３７】さらに本実施形態のフレームグランド用コ
ンタクトプローブは、上述した方法によって、フレーム
グランドとして基板に形成される前記パターン８の形状
に関係なく、計測用の前記リング２と電気的に接触をは
かることができ、接触不良による検査の判定をなくすこ
とができ、生産性の向上につなげることができる。

【００３８】また本実施形態のフレームグランド用コン
タクトプローブは、前記検査用治具のガイドピン１を利
用してスプリング３によって上方に付勢されたリング２
によって、前記検査基板８０のガイドピン周りのフレー
ムグランドのパターン８への電気的接続を容易にすると
ともに、前記ガイドピン１を介して前記リングによって
検査基板８０に信号を送ることを可能にする。

【００３９】さらに前記検査基板８０が吸引され、前記
プリント基板８０が前記可動板６の上面にスペーサを介
して載置され、基板押さえ板８３によっし押し付けられ
ると、前記スプリング３によって上方に付勢された前記
リング２によって、ガイドピン周りのフレームグランド
のパターン８に接触して、安定且つ確実な検査を可能に
するものである。

【００４０】また本実施形態のフレームグランド用コン
タクトプローブは、前記検査基板８０のガイドピン周り
のフレームグランドのパターン８への接触面をリング形
状としてフレームグランドのパターン全体に接触するこ
とを可能にするものである。

【００４１】上述の実施形態は、説明のために例示した
もので、本発明としてはそれらに限定されるものでは無
く、特許請求の範囲、発明の詳細な説明および図面の記
載から当業者が認識することができる本発明の技術的思
想に反しない限り、変更および付加が可能である。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施形態のフレームグランド用コンタ
クトプローブを検査用治具に取り付けた構造およびコン
タクトプローブとフレームグランドとの接触状態を示す
断面図である。

【図２】本実施形態における検査基板の上面を示す部分
平面図である。

【図３】本実施形態におけるフレームグランドのパター
ンにリングが接触している状態を示す検査部周りの図１
中Ａ−Ａ線に沿う部分拡大断面図である。

【図４】本実施形態におけるガイドピンおよびリングを
示す説明図である。

【図５】本実施形態における計測方法を説明するための
説明図である。

【図６】従来のコンタクトプロープの構造および使い方
を説明するための断面図である。

【符号の説明】

１ ガイドピン ２ リング ３ スプリング ４ 固定板（治具） ５ ナット ６ 稼働板 ７ ハーネス ８ 回路パターン ８０ プリント基板

フロントページの続き (72)発明者 山田 ルミ 三重県鈴鹿市伊船町1900番地 鈴鹿富士ゼ ロックス株式会社内 Ｆターム(参考） 2G011 AA10 AB01 AB07 AB09 AC14 AE01 AF07 2G032 AA00 AB02 AF01 AL03 9A001 BB05 KK31 KK37 KK42 LL05

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 検査基板の基準穴周辺に設置されたフレ
   ームの接地をとる為の回路パターンに面接触する環状部
   材と、 該環状部材を前記基準穴にガイドするガイド部材とから
   なることを特徴とするフレームグランド用コンタクトプ
   ローブ。
2. 【請求項２】 請求項１において、 前記環状部材を前記ガイド部材に対して進退自在に弾性
   支持して、前記基準穴周りの前記回路パターンに弾性的
   に押圧する押圧部材を備えていることを特徴とするフレ
   ームグランド用コンタクトプローブ。
3. 【請求項３】 請求項２において、 前記ガイド部材が、前記検査基板の前記基準穴に介挿さ
   れるとともに、前記環状部材としてのリングに介挿され
   る検査用治具のガイドピンによって構成されていること
   を特徴とするフレームグランド用コンタクトプローブ。
4. 【請求項４】 請求項３において、 前記リングおよびガイドピンが、導電性材料で構成され
   ていることを特徴とするフレームグランド用コンタクト
   プローブ。