JP2000097804A - 画像映写システム内の特徴の場所を判断する方法、入力画像の電子表示を発生する方法、画像映写システム内の特徴の場所を判断するための装置、および入力画像の電子表示を発生するための装置 - Google Patents

画像映写システム内の特徴の場所を判断する方法、入力画像の電子表示を発生する方法、画像映写システム内の特徴の場所を判断するための装置、および入力画像の電子表示を発生するための装置

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JP2000097804A JP11267310A JP26731099A JP2000097804A JP 2000097804 A JP2000097804 A JP 2000097804A JP 11267310 A JP11267310 A JP 11267310A JP 26731099 A JP26731099 A JP 26731099A JP 2000097804 A JP2000097804 A JP 2000097804A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 画像映写システム内の光学特徴の場所を判断
する方法を提供する。 【解決手段】 この方法は、１）第１の位置のレンズ
（９）を用いて検出器（８）へと特徴の第１の画像を映
写するステップと、２）検出器（８）を用いて特徴の第
１の画像の位置を検知するステップと、３）第１の位置
から横方向に間隔をあけられた第２の位置のレンズを用
いて検出器（８）へと特徴の第２の画像を映写するステ
ップと、４）検出器（８）を用いて特徴の第２の画像の
位置を検知するステップと、５）ステップ２）および
４）で検知された位置間の差から欠陥の場所を導き出す
ステップとを含む。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、画像映写システム内
の特徴の場所を判断するための方法および装置に関す
る。
【０００２】
【先行技術および発明が解決すべき問題】入力スキャナ
またはカメラのような画像映写システムは、画像を検出
器へと映写する多数の異なった光学構成要素（たとえ
ば、レンズ、光源、ミラー等）を従来有するものであ
る。これらの光学構成要素のあるものが有するいかなる
特徴（たとえば、欠陥）も検出器へと結像される。多く
の場合特徴の場所を判断することが望ましいかもしれな
いが、これはこれまでは可能ではなかった。
【０００３】
【問題を解決するための手段および動作形態】この発明
の第１の局面に従うと、画像映写システム内の特徴の場
所を判断するための方法であって、 １） 第１の位置のレンズを用いて、検出器へと特徴の
第１の画像を映写するステップと、 ２） 検出器を用いて、特徴の第１の画像の位置を検知
するステップと、 ３） 第１の位置から横方向に間隔をあけられた第２の
位置のレンズを用いて、検出器へと特徴の第２の画像を
映写するステップと、 ４） 検出器を用いて、特徴の第２の画像の位置を検知
するステップと、 ５） ステップ２）およびステップ４）において検知さ
れた位置間の差から特徴の場所を導き出すステップとを
含む、方法が提供される。
【０００４】この発明は特徴の視差を効果的に測定し、
こうして、特徴と検出器との間の距離が導き出され得る
ようにする。
【０００５】この方法はいかなる特徴の位置をつきとめ
るためにも用いられ得るが、特徴は典型的に光学構成要
素の欠陥、たとえば、レンズ、ミラー、プラテンまたは
光源上の掻き傷または付着物を含む。
【０００６】第１および第２の画像の位置が、レンズの
映写領域の上を走査させられる単一の検出器素子を用い
て、ステップ２）およびステップ４）において測定され
得る。しかしながら、検出器または各検出器は好ましく
は検出器素子のアレイを含み、位置はアレイ上の特徴の
画像の位置に従ってステップ２）およびステップ４）に
おいて検知される。
【０００７】２つの位置のうちの１つから特徴の画像を
各々映写する、１対の横方向に間隔をあけられた固定し
たレンズが用いられてもよい。しかしながら、特徴の画
像は典型的に同じレンズを用いてステップ１）およびス
テップ３）において映写され、この方法は第１の位置と
第２の位置との間にレンズを移動させるステップをさら
に含む。
【０００８】同様に、２つの画像の１つの位置を各々検
知する、１対の横方向に間隔をあけられた検出器が用い
られてもよい。しかしながら、特徴の画像は典型的にス
テップ１）およびステップ３）において同じ検出器へと
映写される。この場合、検出器素子の単一の固定したア
レイが用いられてもよく、各画像はアレイの異なる部分
へと映写される。しかしながら、この方法は好ましくは
ステップ１）とステップ３）との間で検出器を移動させ
るステップをさらに含む。
【０００９】好ましい実施例では、レンズおよび検出器
はステップ１）とステップ３）との間でともに移動させ
られる。これによって、レンズおよび検出器が小型カメ
ラユニット内にともに収容可能となる。
【００１０】レンズは２つの位置の間を往復可能であ
り、欠陥の場所は特徴の画像の移動速度を検知すること
によって導き出され得る。すなわち、特徴がレンズに近
ければ画像は迅速に移動する。代替的に、レンズはそれ
が第１および第２の位置にある場合に静止していてもよ
い。
【００１１】第１および第２の画像の絶対位置はステッ
プ２）およびステップ４）において検知され得る。代替
的に、１対の特徴が検出器へと映写されてもよく、対応
の画像の相対位置が検知されてもよい。この場合、特徴
の１つが画像映写システム内の光学構成要素の１つの上
の参照記号を含んでもよい。
【００１２】ある例では、特徴の場所が（たとえばビジ
ュアルディスプレイまたはラウドスピーカによって）ユ
ーザに対して単に出力される。これによってユーザは何
らかの適切な行動をとることが可能となる。
【００１３】この発明の第２の局面に従うと、入力画像
の電子表示を発生する方法であって、 ａ） 検出器が入力画像の電子表示を発生するように、
映写システムを用いて検出器へと入力画像を映写するス
テップと、 ｂ） この発明の第１の局面に従う方法によって、映写
システム内の特徴の場所を判断するステップと、 ｃ） ステップｂ）において判断された特徴の場所に従
って、入力画像の電子表示を補正するステップとを含
む、方法が提供される。
【００１４】補正ステップは「進行中」に、すなわち、
電子表示がステップａ）において発生されているときに
実行されてもよい。代替的に、補正は処理後のステップ
であって、表示が記憶された後に行なわれてもよい。
【００１５】この方法は、自然に照らされたシーンから
電子表示を発生するカメラシステムにおいて用いられて
もよい。しかしながら、入力画像は典型的に、元の画像
を有する基板を照らし、照らされた基板からの放射を検
出器へと向けることによって、検出器へと映写される。
【００１６】典型的に、入力画像の電子表示は、ステッ
プｂ）において判断された場所に従って光学構成要素に
特徴を割当て、特徴が割当てられた光学構成要素に従っ
て入力画像信号の電子表示を補正することによって、ス
テップｃ）において補正される。
【００１７】入力画像全体は同時に検出器へと映写され
得る。しかしながら、この方法は好ましくは検出器と入
力画像との間で相対的走査移動を引き起こすステップを
さらに含む。これは、検出器および／またはレンズを移
動させるか、元の画像を有する基板を移動させることを
含む、多くの方法で達成され得る。
【００１８】この発明の第３の局面に従うと、画像映写
システム内の特徴の場所を判断するための装置であっ
て、検出器と、横方向に間隔をあけられた位置から検出
器へと特徴の第１および第２の画像を映写するための１
つ以上のレンズと、特徴の第１および第２の画像の位置
を検知するための手段と、第１の画像の位置と第２の画
像の位置との間の差から特徴の場所を導き出すための手
段とを含む、装置が提供される。
【００１９】この発明の第４の局面に従うと、入力画像
の電子表示を発生するための装置であって、 ａ） 検出器が入力画像の電子表示を発生するように、
検出器へと入力画像を映写するための映写システムと、 ｂ） 映写システム内の特徴の場所を判断するための、
この発明の第３の局面に従う装置と、 ｃ） 特徴の場所に従って入力画像の電子表示を補正す
るための手段とを含む、装置が提供される。
【００２０】典型的に、映写システムは、元の画像を有
する基板を照らすための放射源と、照らされた基板から
検出器へと放射を向けるための手段とを含む。
【００２１】
【実施例】この発明の多くの実施例をここで添付の図面
を参照して説明する。
【００２２】図１および図２を参照すると、フラットベ
ッド入力スキャナ１は「プラテン」として通常知られる
平坦な透明の上面３を有するハウジング２を含む。可動
キャリッジ４が蛍光灯５、カメラ支持部６およびミラー
１１を運ぶ。ＣＣＤ検出器アレイ８および結像レンズ９
を含むカメラ７はカメラ支持部６の支持アーム１０によ
って支持される。
【００２３】走査されるべきカラースライド１２がプラ
テン３上に配置される。蛍光灯５が、角度を持ったミラ
ー１１によってカメラ７の方へ反射される光ビーム１３
で、プラテン３中を延びるストリップを照らす。
【００２４】スライド１２全体を入力走査するために、
キャリッジ４は１４で示されるような低速走査方向に移
動される。蛍光灯５がスライド１２の上を通ると、光ビ
ーム１３がスライド１２を通過し、スライドが有する画
像に従って変調される。変調されたビームは次にカメラ
７の方へ反射され、（スライドの照らされたストリップ
から引出される）入力画像が結像レンズ９によって検出
器へと焦点を合せられる。
【００２５】カメラ支持部６は、倍率を変更するため
に、１６で示されるような低速走査方向に移動させられ
得る。カメラ支持部６がキャリッジ４の後端１７にある
とき、結像レンズ９の視野はプラテン３全体に延びてい
る。さらに、ＣＣＤカメラ７が、カメラ支持部６に沿っ
て支持アーム１０を摺動させることによって、１５で示
すような高速走査方向に移動され得る。この横移動によ
って、カメラはプラテン３上の中心にないスライドを高
倍率で観察することが可能となる。図２の平面図では、
カメラ７はスライド１２の端縁間のプラテンのストリッ
プを結像するように位置決めされている。
【００２６】入力スキャナ１のための制御システムを図
３に示す。マイクロプロセッサ２０は、（キャリッジ４
を駆動する）横摺動ドライブモータ２１と、（支持アー
ム６に沿ってカメラ７を駆動する）ドライブモータ２２
と、（倍率を調節するためにキャリッジ４に沿って支持
アーム６を駆動する）倍率ドライブモータ２３とを制御
する。
【００２７】検出器アレイ８は、素子が受ける光の強度
に関連した一連のデジタル画像データ値を各々発生する
８００個のＣＣＤ素子のラインを含む。画像データ値は
画像信号２６としてアレイから読出される。
【００２８】結像手順を図４のフロー図に示す。第１の
ステップ２４において、１つ以上のスライドがユーザに
よってプラテン３上に配置される。図１および図２の場
合、単一のスライド１２のみが示されるが、一般にいか
なる数のスライドがプラテン３上に配置されてもよい。
【００２９】ステップ２５において、マイクロプロセッ
サ２０がスキャナ１にプラテン３全体の低解像度走査を
行なわせる。すなわち、検出器アレイ８の視野がプラテ
ン３全体に延びるようにカメラ支持部６がキャリッジ４
の後端１７に駆動され、キャリッジ４がプラテン３の全
長に沿って駆動され、かつ検出器８からの画像信号２６
が低解像度画像メモリ２７内に記憶されるようにする。
マイクロプロセッサ２０は次に低解像度メモリ２７内の
画像を分析して、プラテン３上のスライドの各々の座標
をつきとめる。図２の場合、マイクロプロセッサ２０は
スライド１２の２つの反対側のコーナー２８、２９の座
標を判断する。
【００３０】ステップ２８において、キャリッジ４は、
スライドがないホワイトバランス領域３０を蛍光灯５が
照らすように、プラテン３の端部のホワイトバランス位
置まで移動される。ステップ３１において、カメラ７が
走査されるべき第１のスライド（この場合、スライド１
２）のために適切な位置まで移動される。さらに、カメ
ラ７の高速走査位置が、カメラ７が図２の３２で示され
たホワイトバランス領域の一部を結像するように、たと
えば５ｍｍの距離だけスライド１２の中心からずらされ
る。
【００３１】ステップ９０において、マイクロプロセッ
サは第１のホワイトバランス結像手順を行なう。ホワイ
トバランス結像手順９０において、マイクロプロセッサ
２０は検出器８から８０００個の画像データ値の単一の
ラインを受取り、画像データ値を画像メモリ９９に記憶
する。メモリ９９内の画像データ値は次に処理されて、
各ＣＣＤ素子ごとにホワイトバランス率ｆ（white bala
nce factor）を発生する。画像データ値が（高い光強度
に対応して）高いと率ｆは低く、画像データ値が（低い
光強度に対応して）低いと率ｆは高い。したがって、ホ
ワイトバランス率ｆは、ＣＣＤ素子からの全信号を十分
な照明の下で等しい値にもたらすのに必要な利得を与え
る。８０００素子検出器アレイ８０での率ｆの変動例を
図５に示す。図５の横軸は検出器８での距離に対応し、
ＣＣＤ素子が１から８０００の番号を付される。図５の
縦軸は任意単位のホワイトバランス率ｆを与える。検出
器８の左側端縁３３および右側端縁３４では、結像レン
ズ９がとらえる光はより少なく、したがって、率ｆがよ
り高い。アレイ８の中央３６では、結像レンズ９は光を
より効率的に集め、したがって、率ｆはそれに対応して
より低い。補正率ｆの８０００個の値がホワイトバラン
スメモリ３５内に記憶される。
【００３２】図１および図２に示す光学構成要素上には
多数の欠陥が存在する。特に、プラテン３は２つの欠陥
３６、３７を有し、蛍光灯５は２つの欠陥３８、３９を
有し、ミラー１１は２つの欠陥４０、４１を有する。欠
陥３６−４１はたとえば掻き傷、または一片の埃、髪の
毛等の付着物であり得る。欠陥３６−４１は検出器に達
する光を低減させ、それによって図５に示すように率ｆ
のピークが生じる。プラテン３上の欠陥３６、３７が鋭
く大きいピーク３６′、３７′を生じる。ピーク３
６′、３７′は他のピークよりも鋭く高い。なぜなら、
プラテン上の欠陥３６、３７はカメラ７の焦点面上にあ
るためである。蛍光灯５内の欠陥３８、３９は率ｆにお
いて対応のピーク３８′、３９′を生じる。同様に、ミ
ラー１１内の欠陥４０、４１は補正率ｆにおいて対応の
ピーク４０′、４１′を生じる。ピーク３８′−４１′
はピーク３６′、３７′よりも幅広く、低い。なぜな
ら、ミラー１１および蛍光灯５がカメラ７の焦点面から
離れているためである。
【００３３】図４に戻って、ステップ５０においてドラ
イブモータ２２がカメラをスライド１２に従って５ｍｍ
だけ右側へと走査位置に移動させる。ステップ６０にお
いて、マイクロプロセッサ２０が（第１のホワイトバラ
ンス結像手順９０と同一の）第２の走査位置での第２の
ホワイトバランス結像手順を行なって、メモリ３５内に
記憶される第２の組の率ｆを発生する。
【００３４】カメラ７の横方向の移動が欠陥３６−４１
の見かけの角位置を変化させる。この原理を図６および
図７において示す。図６を参照すると、映写システム内
の３つの光学素子（すなわち、蛍光灯５、プラテン３お
よびミラー１１）の各々が欠陥５１−５３をそれぞれ有
する。レンズ９の光軸（すなわち、その中心を通過す
る、レンズに対して垂直な線）はライン５４上にある。
図示の目的のために、欠陥５１−５３は光軸と整列され
るが、ほとんどの場合欠陥は直線上にない。プラテン欠
陥５２の焦点を合せられた画像５２′と、蛍光灯欠陥５
１およびミラー欠陥５３の焦点を外された画像５１′、
５３′がみなアレイ８の中心で同じ位置に映写される。
【００３５】図７では、レンズ９の光軸がライン５４か
ら横方向に５ｍｍだけ間隔をあけられた第２のライン５
５に沿って位置するように、カメラ７が横方向に移動さ
れている。光軸に対する欠陥５１−５３の見かけの角位
置はここで異なっている。結果として、欠陥５１−５３
の画像５１"、５２"および５３"が検出器アレイ８に沿
って間隔をあけられ、間隔の差が各欠陥の場所を導き出
すために利用可能である。
【００３６】ステップ６１（図４）において、マイクロ
プロセッサ２０は図８および図９により詳細に示す欠陥
除去手順を行なう。ステップ７１およびステップ７２に
おいて、マイクロプロセッサ２０はメモリ３５内の２組
の率ｆを分析して２つのピークテーブルを生じる。分析
手順を図９で示す。ステップ６２において、マイクロプ
ロセッサ２０は次の率ｆを選択する。ステップ６３にお
いて、率ｆが６つの周囲の率と合計される。ステップ６
４において、７つの合計された値における最大の２つの
値が合計から減算される。ステップ６５において、（減
算後の）合計が５で割算されて移動平均値を生む。ステ
ップ６６において、移動平均値が予め定められた率（た
とえば１．２）で掛算されてしきい値を生む。結果とし
て生じるしきい値は図５に点線６７で示される。ステッ
プ６８において、マイクロプロセッサ２０は現在の率ｆ
がしきい値６７を超えているかどうかを判断する。現在
の率がしきい値未満であれば、この率はピークの一部で
はなく、次の率が処理される。現在の率がしきい値６７
を超えていれば、現在の率がピークの一部である。各ピ
ークごとに、最大値および半値全幅（ＦＷＨＭ）値が計
算される。最大値は６９で更新され、ＦＷＨＭ値はステ
ップ７０で更新される。率が６８でしきい値を下回るま
で次の率が９６で選択される。最終的な最大値およびＦ
ＷＨＭ値がピークメモリ９１内のピークテーブルに記憶
される。
【００３７】ステップ７１で作成されたピークテーブル
を表１で以下に示す。
【００３８】
【表１】
【００３９】表１に示すように、補正率の各ピークには
ピーク番号およびＣＣＤ位置が割当てられる。
【００４０】図８の手順は、第２の位置が表２で以下に
示すような第２のピークテーブルを発生するようにステ
ップ７２において繰返される。
【００４１】
【表２】
【００４２】図８を参照すると、表１および表２が２つ
の位置の間での欠陥の見かけの角位置の差を判断するた
めに比較される。ステップ７３において、表２の第１の
ピークが選択される。ステップ７４において、マイクロ
プロセッサ２０は表２の第１の欠陥（ピーク７）の最大
値およびＦＷＨＭ値を表１の第１のピーク（ピーク１）
と比較する。値が同様であれば、ステップ７５において
ＣＣＤ位置の差（Ｘ１−Ｘ２）が計算され、メモリ９２
内に記憶される。メモリ９２の内容を以下の表３に示
す。
【００４３】
【表３】
【００４４】ルックアップテーブル７６は以下の表４に
示すように各光学素子ごとに値を予め入れられている。
【００４５】
【表４】
【００４６】表４でわかるように、拡大率１では、カメ
ラ７の高速走査方向での１ｍｍの移動ごとに、蛍光灯２
０上のいかなる欠陥もＣＣＤ素子２０個分移動し、ミラ
ー１１上のいかなる欠陥もＣＣＤ素子３０個分移動し、
プラテン３上のいかなる欠陥もＣＣＤ素子４０個分移動
する。
【００４７】ステップ７９において、現在のピークが表
４を参照して光学構成要素の１つに割当てられる。割当
てられた構成要素は上の表３の第３列に入れられる。た
とえばピーク１およびピーク７の場合、Ｘ１−Ｘ２はＣ
ＣＤ素子１００個分である。カメラ７が５ｍｍだけ移動
されており、倍率が１であるので、欠陥１は蛍光灯５上
にあるに違いない。
【００４８】スライド１２の走査の間、（キャリッジと
ともに移動する）ミラー１１および蛍光灯５上の欠陥３
８−４１が考慮に入れられなければならない。したがっ
て、ホワイトバランス率ｆ内にそれらの関連のピーク３
８′−４１′を保つ必要がある。しかしながら、ホワイ
トバランス領域３０におけるプラテン上の欠陥３６、３
７が走査の間存在せず、したがって、率ｆにおけるそれ
らの関連のピーク３６′、３７′が除去されなければな
らない。図８の手順によって、プラテン欠陥の特定およ
び除去が可能となる。
【００４９】欠陥がプラテン上にあれば（ステップ７
７）、メモリ３５内にストアされる率ｆのピークが除去
され（ステップ７８）、中間の率が補間によって置換え
られる。次のピークが次にステップ７３で選択され、同
様に処理される。
【００５０】（ピーク除去後の）ホワイトバランス率ｆ
を図１０に示す。プラテン３と関連したピーク３６′、
３７′が除去されており、ミラー１１および蛍光灯５に
関連したピーク３８′−４１′が保持されている。
【００５１】図４に戻って、ステップ６１の欠陥除去手
順の後、キャリッジ４がプラテン３から駆動されてスラ
イド１２を入力走査する（ステップ９４）。入力走査９
４の間、画像信号がホワイトバランス率ｆで掛算され
（ピーク除去後−図１０）、補正された画像信号が画像
メモリ９９内にセーブされる。
【００５２】図１１は代替的な走査手順を示す。ほとん
どのステップが図４と対応し、同じ参照番号が適宜用い
られている。しかしながら、ホワイトバランス率ｆから
ピークを除去する代りに、システムはユーザに欠陥の場
所を通知するだけである。すなわち、図８のステップ７
７およびステップ７８が省略され、ピークがステップ７
６においてそれらのそれぞれの光学構成要素に割当てら
れた後、マイクロプロセッサがディスプレイ１００に
「プラテンに２欠陥、ウィンドウに２欠陥、蛍光灯に２
欠陥」というメッセージを出力させる。
【００５３】次に、ユーザは蛍光灯５またはミラー１１
を洗浄するか交換するかのような適切な行動をとること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 フラットベッドスキャナの側断面図である。
【図２】 図１のフラットベッドスキャナの平面図であ
る。
【図３】 処理電子素子の概略図である。
【図４】 入力走査手順における主処理ステップを示す
フロー図である。
【図５】 検出器でのホワイトバランス率の変動を示す
グラフ図である。
【図６】 第１の位置から検出器へと結像される３つの
欠陥の概略図である。
【図７】 第２の位置から検出器へと結像される３つの
欠陥の概略図である。
【図８】 欠陥除去手順を示すフロー図である。
【図９】 欠陥のピークテーブルを作成する方法を示す
フロー図である。
【図１０】 ピーク除去後のホワイトバランス率ｆを示
すグラフ図である。
【図１１】 代替的な入力走査手順を示すフロー図であ
る。
【符号の説明】
１ スキャナ、２ ハウジング、３ プラテン、５ 蛍
光灯、６ カメラ支持部、７ カメラ、８ 検出器、９
レンズ、１０ 支持アーム、１１ ミラー、１２ ス
ライド。
フロントページの続き (72)発明者 フィリップ・アンドリュー・ウェストレイ ク イギリス、エイチ・ピィ・１ ３・キュ ー・ディ ハートフォードシャー、ヘメ ル・ヘンプステッド、サンダルズ・スプリ ング、15 (72)発明者 ニジェル・イングラム・ブロムレイ イギリス、エム・ケー・８ ９・イー・エ ル バッキンガムシャー、ミルトン・ケイ ンズ、グレイト・ホルム、バーリー・コー ト、24 (72)発明者 エレイン・キャソリン・ステッドマン イギリス、エイ・エル・１ ２・エイ・エ ックス ハートフォードシャー、セイン ト・アルバンズ、プロスペクト・ロード、 14、フラット・２ (54)【発明の名称】 画像映写システム内の特徴の場所を判断する方法、入力画像の電子表示を発生する方法、画像映 写システム内の特徴の場所を判断するための装置、および入力画像の電子表示を発生するための 装置

Claims (14)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 画像映写システム内の特徴の場所を判断
    する方法であって、 １） 第１の位置のレンズを用いて、検出器へと特徴の
    第１の画像を映写するステップと、 ２） 前記検出器を用いて、前記特徴の第１の画像の位
    置を検知するステップと、 ３） 第１の位置から横方向に間隔をあけられた第２の
    位置のレンズを用いて、検出器へと前記特徴の第２の画
    像を映写するステップと、 ４） 前記検出器を用いて、前記特徴の第２の画像の位
    置を検知するステップと、 ５） ステップ２）およびステップ４）において検知さ
    れた位置間の差から前記特徴の場所を導き出すステップ
    とを含む、方法。
  2. 【請求項２】 前記検出器または各検出器は検出器素子
    のアレイを含み、前記位置はアレイ上の前記特徴の画像
    の位置に従ってステップ２）およびステップ４）におい
    て検知される、請求項１に記載の方法。
  3. 【請求項３】 前記特徴の画像は同じレンズを用いてス
    テップ１）およびステップ３）において映写され、この
    方法は前記第１の位置と前記第２の位置との間でレンズ
    を移動させるステップをさらに含む、請求項１または２
    に記載の方法。
  4. 【請求項４】 前記特徴の画像はステップ１）およびス
    テップ３）において同じ検出器へと映写される、請求項
    １から３のいずれかに記載の方法。
  5. 【請求項５】 ステップ１）とステップ３）との間で検
    出器を移動させるステップをさらに含む、請求項４に記
    載の方法。
  6. 【請求項６】 ６） ステップ５）における導き出しに
    従って前記特徴の場所の表示を出力するステップをさら
    に含む、請求項１から５のいずれかに記載の方法。
  7. 【請求項７】 入力画像の電子表示を発生する方法であ
    って、 ａ） 検出器が前記入力画像の電子表示を発生するよう
    に、映写システムを用いて検出器へと入力画像を映写す
    るステップと、 ｂ） 請求項１から６のいずれかに記載の方法によっ
    て、前記映写システム内の特徴の場所を判断するステッ
    プと、 ｃ） ステップｂ）において判断された前記特徴の場所
    に従って前記入力画像の電子表示を補正するステップと
    を含む、方法。
  8. 【請求項８】 前記入力画像は、元の画像を有する基板
    を照らし、照らされた基板からの放射を前記検出器へと
    向けることによって、前記検出器へと映写される、請求
    項７に記載の方法。
  9. 【請求項９】 前記入力画像の電子表示は、ステップ
    ｂ）において判断された場所に従って光学構成要素に前
    記特徴を割当て、前記特徴が割当てられた光学構成要素
    に従って入力画像信号の電子表示を補正することによっ
    て、ステップｃ）において補正される、請求項７または
    ８に記載の方法。
  10. 【請求項１０】 前記検出器と前記入力画像との間に相
    対的走査移動を引き起こすステップをさらに含む、請求
    項７から９のいずれかに記載の方法。
  11. 【請求項１１】 画像映写システム内の特徴の場所を判
    断するための装置であって、検出器と、横方向に間隔を
    あけられた位置から前記検出器へと前記特徴の第１およ
    び第２の画像を映写するための１つ以上のレンズと、前
    記特徴の第１および第２の画像の位置を検知するための
    手段と、前記第１および第２の画像の位置間の差から前
    記特徴の場所を導き出すための手段とを含む、装置。
  12. 【請求項１２】 入力画像の電子表示を発生するための
    装置であって、 ａ） 検出器が前記入力画像の電子表示を発生するよう
    に、検出器へと入力画像を映写するための映写システム
    と、 ｂ） 前記映写システム内の特徴の場所を判断するため
    の請求項１１に記載の装置と、 ｃ） 前記特徴の場所に従って前記入力画像の電子表示
    を補正するための手段とを含む、装置。
  13. 【請求項１３】 前記映写システムは、元の画像を有す
    る基板を照らすための放射源と、照らされた基板から前
    記検出器へと放射を向けるための手段とを含む、請求項
    １２に記載の装置。
  14. 【請求項１４】 前記検出器と前記入力画像との間に相
    対的走査移動を発生するための手段をさらに含む、請求
    項１２または１３に記載の装置。
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