JP2000091902A - インタフェース回路及びこれを含む入力バッファ集積回路 - Google Patents

インタフェース回路及びこれを含む入力バッファ集積回路

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JP2000091902A
JP2000091902A JP10260736A JP26073698A JP2000091902A JP 2000091902 A JP2000091902 A JP 2000091902A JP 10260736 A JP10260736 A JP 10260736A JP 26073698 A JP26073698 A JP 26073698A JP 2000091902 A JP2000091902 A JP 2000091902A
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康則 澤井
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • HELECTRICITY
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    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/003Modifications for increasing the reliability for protection
    • H03K19/00346Modifications for eliminating interference or parasitic voltages or currents
    • H03K19/00361Modifications for eliminating interference or parasitic voltages or currents in field effect transistor circuits

Abstract

(57)【要約】 【課題】 信号波形のリンギングを有効に防止する。 【解決手段】 バッファ集積回路4内において、入力バ
ッファ5への入力信号のレベルと基準レベルとを比較器
CMP1において比較する。この比較回路の比較結果に応じ
てトランジスタNTR1をオンオフ動作し、入力信号のレベ
ルを制御する。 【効果】 出力バッファ2からの波形のリンギングが大
きい場合でも、このリンギングを“H”レベル信号と認
識することはなく、誤動作を起こさない。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はインタフェース回路
及びこれを含む入力バッファ集積回路に関し、特にパー
ソナルコンピュータ(以下、PCと呼ぶ)等の出力信号
を入力とする周辺機器等に設けられそのPC等の出力信
号を入力とする入力バッファへの入力信号レベルを制御
するインタフェース回路及びこれを含む入力バッファ集
積回路に関する。
【0002】
【従来の技術】図10はPCと周辺機器とのデータ授受
を行う従来のインターフェースの構成を示す図である。
同図に示されているインターフェースは、PC側の出力
バッファ2と、周辺側の入力バッファ5と、これら両バ
ッファ双方を接続するケーブル3とを含んで構成されて
いる。出力バッファ2は1チップに集積化されたバッフ
ァ集積回路1内に設けられている。また、入力バッファ
5は1チップに集積化されたバッファ集積回路6内に設
けられている。
【0003】このようなインターフェースにおいて、出
力バッファ2の出力段と入力バッファ5の入力段とのイ
ンピーダンスが不整合であると、入力バッファ5の入力
段において信号に反射が生じる。この反射により、入力
バッファ5の入力段の信号には図11のシミュレーショ
ン波形ようなリンギングが発生する。同図中、PCOUTは
図10のPC側出力バッファ1の出力波形、PERIINは周
辺機器側の入力バッファ5の入力波形に夫々対応してい
る。なお、同図には、信号の立下り時の動作が示されて
いる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、PCと周辺
機器とのインターフェースで多く用いられているAT
(advanced technology)インター
フェースでは、TTL(transistor tra
nsistor logic)規格に基づきデータの授
受を行っている。このため、図11中の期間(a)のよ
うに波形のリンギングが0.8Vを超えると、周辺機器
側の入力バッファ5では、このリンギングを“H”レベ
ル信号と認識し誤動作を起こすおそれがある。
【0005】本来、反射によるリンギングはインピーダ
ンスの整合により低減できるが、不特定のPCとの接続
を要求される周辺機器については、PC側の出力ドライ
バ、接続ケーブル、接続コネクタ等の仕様、材質の相違
により状態が変わってしまうためインピーダンス整合が
難しく、有効なリンギング対策にはなっていない。
【0006】本発明は上述した従来技術の欠点を解決す
るためになされたものであり、その目的は信号波形のリ
ンギングを有効に防止することのできるインタフェース
回路及びこれを含む入力バッファ集積回路を提供するこ
とである。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明によるインタフェ
ース回路は、第1の装置の出力信号を入力とする第2の
装置に設けられ前記出力信号を入力とする入力バッファ
への入力信号レベルを制御するインタフェース回路であ
って、前記出力信号のレベルと所定基準レベルとの比較
結果に応じて前記入力信号レベルを制御する制御手段を
含むことを特徴とする。また、前記制御手段は、前記出
力信号のレベルと前記基準レベルとを比較する比較回路
と、この比較回路の比較結果に応じてオンオフ動作して
前記入力信号レベルを制御するスイッチング素子とを含
むことを特徴とする。
【0008】一方、本発明による入力バッファ集積回路
は、第1の装置の出力信号を入力とする第2の装置に設
けられ前記出力信号を入力とする入力バッファと、前記
第2の装置に設けられ前記入力バッファへの入力信号レ
ベルを制御するインタフェース回路とが1チップに集積
されてなる入力バッファ集積回路であって、前記インタ
フェース回路は、前記出力信号のレベルと所定基準レベ
ルとの比較結果に応じて前記入力信号レベルを制御する
制御手段を含むことを特徴とする。前記制御手段は、前
記出力信号のレベルと前記基準レベルとを比較する比較
回路と、この比較回路の比較結果に応じてオンオフ動作
して前記入力信号レベルを制御するスイッチング素子と
を含むことを特徴とする。
【0009】要するに本発明では、PCとその周辺機器
(磁気ディスクドライブ、フロッピディスクドライブ
等)とのインターフェースにおいて、周辺機器側の入力
バッファの入力部にアクティブクランプ回路を設けてい
るのである。
【0010】そして、基準電圧を例えば、−0.3Vに
設定することにより、入力波形のアンダーシュートに起
因するリンギングを低減することができる。また回路構
成の変更により規定以上の電圧レベルに対してクランプ
をかけ、オーバシュートに起因するリンギングを低減で
きる。
【0011】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の一形態につ
いて図面を参照して説明する。なお、以下の説明におい
て参照する各図においては、他の図と同等部分には同一
符号が付されている。
【0012】図1は本発明によるインタフェース回路の
実施の一形態を示すブロック図である。同図において
は、出力バッファ2はバッファ集積回路1内に設けら
れ、また、入力バッファ5はバッファ集積回路4内に設
けられ、これらがケーブル3で接続されている。バッフ
ァ集積回路4は、入力バッファ5の他、比較器CMP1と、
クランプ用トランジスタNTR1と、2入力NORゲートNO
R1とを含んで構成されている。
【0013】ここで、比較器CMP1の回路構成の一例が図
2に示されている。同図において、比較器CMP1は基準電
位入力端子VREF 、比較信号入力端子VIN、ストップ信
号入力端子STOP、比較結果出力端子VO の各端子を持
ち、バイアス電圧を生成するトランジスタM16、M1
7、M19及びM18と、差分比較部を構成するM8、
M5、M9、M6、M3、M1、M4及びM2と、比較
結果出力部を構成するM10及びM11と、ストップ信
号入力による動作停止用のトランジスタM21及びM2
0並びにインバータM22とを含んで構成されている。
【0014】なお、同図中、各トランジスタに付されて
いる「N=W/L」又は「P=W/L」(WとLは任意
の数値)はトランジスタのサイズを示しており、Wはゲ
ート幅、Lはゲート長を意味する。NはN型MOS(M
etal Oxide Semiconductor)
トランジスタを意味し、PはP型MOSトランジスタを
意味する。インバータM22は、PMOSトランジスタ
及びNMOSトランジスタで構成されている。10/
7.5は、PMOSトランジスタのサイズとNMOSト
ランジスタのサイズとの比率(PMOSトランジスタサ
イズ/NMOSトランジスタサイズ)を示している。
【0015】同図に示されている比較器は一般的な回路
により構成されている。しかし、差動比較部のトランジ
スタM5とM6とのトランジスタサイズが異なる。これ
によりこの比較器は、オフセットを持った比較器として
動作する。
【0016】まずストップ信号入力端子STOPが“H”の
場合について説明する。この場合、トランジスタM16
がOFF、M21がONになり、ノードM160がグラ
ンド(GND)レベルになるため、トランジスタM1
7、M18、M7、M11がOFFになる。またM20
が電源(VDD)レベルになるためトランジスタM19、
M8、M9がOFFとなる。よって全ての電源(VDD)
−グランド(GND)間の電流パスは切断され、ストッ
プ状態になる。
【0017】次に、ストップ信号入力端子STOPが“L”
の場合について説明する。この場合、トランジスタM2
1、M20はOFFになり、トランジスタM16はON
になる。よってまずトランジスタM16、M17よりバ
イアス電圧M160が生成される。バイアス電圧の値は
図3に示されている両トランジスタのDC特性の交点で
ある約1.4Vに決定する。
【0018】続いてトランジスタM18及びM19によ
りバイアス電圧M190が生成される。このバイアス電
圧の値は図4に示されている両トランジスタのDC特性
の交点である約2.8Vとなる。
【0019】この2つのバイアス電圧にコントロールさ
れ、差動比較部は動作する。すなわち、トランジスタM
8、M9はバイアス電圧にコントロールされ、定電流源
として働き、各々M5、M6との関係で電圧M80、M
90が決定される。
【0020】図5には基準電圧VREF =0V、入力信号
電圧レベルVIN=0Vの時のトランジスタM8、M9、
M5及びM6のDC特性が示されている。同図に示され
ているように、夫々の交点である2.7V、2.9Vが
電圧M80、M90となる。このようにトランジスタM
5、M6のトランジスタサイズの相違により、オフセッ
トが生じている。
【0021】トランジスタM1、M2は各々電圧M8
0、M90を受けて動作するが、バイアス電圧M160
にコントロールされ定電流源として動作するトランジス
タM7により2つのトランジスタのドレイン−ソース間
電流の総和は一定となる。このためトランジスタM1と
トランジスタM2のON抵抗の差より両方のトランジス
タの電流に差が発生し、電圧M30と電圧M40に電位
差が発生する。
【0022】差動比較部のM40のレベルを受け、比較
結果出力部のM11とM10より比較結果VO が決定さ
れる。
【0023】図6には差動比較部及び比較結果出力部の
VREF =0V、VIN=−1〜+5Vの時のDC特性を示
されている。トランジスタM5のゲート電圧であるVRE
F が一定のため、電圧M80の値が一定であるのに対
し、電圧M90はVINの値に応じて変化し、VIN=−
0.3VでM80=M90、M30=M40となる。こ
の状態を境界にVIN<−0.3Vの時、M80>M9
0、M30<M40によりVO =“L”になり、、VIN
>−0.3Vの時、M80<M90、M30>M40に
よりVO =“H”になる。
【0024】このため、図1に示されている回路構成の
ようにVREF =0Vに設定された場合、比較器CMP1はV
IN<−0.3Vの時、VO =“L”、VIN>−0.3V
の時、VO =“H”となる比較器として動作する。
【0025】次に図1中のアクティブクランプ部につい
て、説明する。
【0026】(1)信号STOP=“L”の時 前述のようにCMP1は入力レベルが−0.3V以上の時、
出力CMPOUT=“L”、クランプ用トランジスタNTR1はO
FFとなる。よってこの状態で通常の入力バッファとし
て機能する。
【0027】これに対し、入力レベルが−0.3Vより
小さい時、出力CMPOUT=“H”、クランプ用トランジス
タNTR1はONになり、入力レベルを0Vにクランプしよ
うと働く。
【0028】この動作が実際のリンギング波形に対して
どのように働くかを示したシミュレーション結果が図7
に示されている。同図においてPCOUT は図1中のPC
側出力バッファ1の出力信号に、PERIINは周辺側入力バ
ッファ5の入力信号に、CMPOUTは比較器CMP1の比較結果
出力信号に、NOR10は2入力NORゲートNOR1の出
力信号に夫々対応する。
【0029】同図中、期間(a)においては信号PERIIN
は−0.3Vを上回っているため、比較器CMP1の出力で
あるCMPOUTは“H”である。
【0030】また、期間(b)では信号PERIINが立下
り、そのレベルが−0.3Vを下回ったため、比較器CM
P1の動作遅延である約5nSの後、CMPOUT=“L”とな
る。これを受け、NOR10が“H”となり、クランプ
用トランジスタNTR1がONする。
【0031】次に、期間(c)に移ると信号PERIINは−
0.3Vを上回るため、再びCMPOUT=“H”となり、N
OR10=“L”、クランプ用のNMOSトランジスタ
NTR1がオフとなる。
【0032】この一連の動作の結果、図11と比較して
わかるようにリンギングのレベルが低減され0.8Vを
下回るようになるのである。
【0033】(2)信号STOP=“H”の時 STOPモードにおいてはNORゲートNOR1の出力は“L”
となり、クランプ用トランジスタNTR1はOFFで、入力
信号のレベルに関わらず、通常の入力バッファとして機
能する。またSTOP=“H”によりCMP1はDC電流パスが
カットされ、停止する。
【0034】上述したように、本発明によれば、入力波
形のリンギングが低減されている。このため、従来、図
11のように、TTLのロー側入力レベルスペックであ
る0.8Vを上回るリンギングが発生し、誤動作を引き
起こしていた問題を解決することができるのである。
【0035】本発明の第2の実施形態が図8に示されて
いる。同図において、アクティブクランプ付き入力バッ
ファは、入力バッファ5と、比較器CMP2と、クランプ用
トランジスタPTR1と、インバータINV1と、2入力NAN
DゲートNAND1 とを含んで構成されている。本実施形態
のバッファは第1の実施形態の場合とは逆に、電源VDD
側にクランプ回路を付加して、波形の立上り側のリンギ
ング低減を行うものである。
【0036】次に、本発明の第3の実施形態が図9に示
されている。同図においては、比較器CMP1、クランプ用
トランジスタNTR1及び2入力NORゲートNOR1より構成
されるグランド(GND)側クランプ回路と、比較器CM
P2、クランプ用トランジスタPTR1、インバータINV1及び
2入力NANDゲートNAND1 より構成される電源(VD
D)側のクランプ回路とが設けられている。この2つの
クランプ回路を設けることにより、入力波形の立上り
側、立下り側の両方のリンギングを低減できるのであ
る。
【0037】以上のように、従来は図10のように、接
続ケーブル3を介してPC側の出力バッファ2と入力バ
ッファ5とが接続されているだけであったが、本発明で
はアクティブクランプ回路を設けているのである。具体
的には、入力信号レベルと基準電位を比較し、比較結果
を出力する1つまたは複数の比較器と、この比較器の出
力結果によりON、OFFのコントロールが行われるプ
ルアップトランジスタ又はプルダウントランジスタとを
設けている。このアクティブクランプ回路は入力バッフ
ァの入力に規定以下の電圧レベルが印加されると、その
レベルを0Vにクランプしようと働く。これにより、入
力波形のアンダーシュートやオーバシュートに起因する
立上り側又は立下り側のリンギングを低減することがで
きるのである。
【0038】請求項の記載に関連して本発明は更に次の
態様をとりうる。
【0039】(1)前記第1の装置は上位装置であり、
前記第2の装置は下位装置であることを特徴とする請求
項1〜4のいずれかに記載のインタフェース回路。
【0040】(2)前記上位装置はパーソナルコンピュ
ータであり、前記下位装置は周辺機器であることを特徴
とする(1)記載のインタフェース回路。
【0041】(3)前記周辺機器は、磁気ディスクドラ
イブ装置であることを特徴とする(2)記載のインタフ
ェース回路。
【0042】(4)前記周辺機器は、フロッピディスク
ドライブ装置であることを特徴とする(2)記載のイン
タフェース回路。
【0043】(5)前記第1の装置は上位装置であり、
前記第2の装置は下位装置であることを特徴とする請求
項5〜9のいずれかに記載の入力バッファ集積回路。
【0044】(6)前記上位装置はパーソナルコンピュ
ータであり、前記下位装置は周辺機器であることを特徴
とする(5)記載の入力バッファ集積回路。
【0045】(7)前記周辺機器は、磁気ディスクドラ
イブ装置であることを特徴とする(6)記載の入力バッ
ファ集積回路。
【0046】(8)前記周辺機器は、フロッピディスク
ドライブ装置であることを特徴とする(6)記載の入力
バッファ集積回路。
【0047】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、所定基準
レベルとの比較結果に応じて入力信号レベルを制御する
ことにより、信号波形のリンギングを有効に防止できる
という効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の第1の形態によるインタフェー
ス回路及びこれを含む入力バッファ集積回路の構成を示
すブロック図である。
【図2】図1中の比較器の回路構成の一例を示す図であ
る。
【図3】図2中のトランジスタM16、M17の動作を
示す図である。
【図4】図2中のトランジスタM18、M19の動作を
示す図である。
【図5】図2中のトランジスタM5、M6、M8、M9
の動作を示す図である。
【図6】図2中の差動比較部及び比較結果出力部のDC
特性を示す図である。
【図7】図1の動作のシミュレーション結果を示す波形
図である。
【図8】本発明の実施の第2の形態によるインタフェー
ス回路及びこれを含む入力バッファ集積回路の構成を示
すブロック図である。
【図9】本発明の実施の第3の形態によるインタフェー
ス回路及びこれを含む入力バッファ集積回路の構成を示
すブロック図である。
【図10】PCと周辺機器とのデータ授受を行う従来の
インターフェースの構成を示す図である。
【図11】図10中の各信号の波形を示す図である。
【符号の説明】
1,6,4 バッファ集積回路 2 出力バッファ 3 ケーブル 5 入力バッファ CMP1,CMP2 比較器 INV1 インバータ NAND1 NANDゲート NOR1 NORゲート NTR1,PTR1 トランジスタ

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1の装置の出力信号を入力とする第2
    の装置に設けられ前記出力信号を入力とする入力バッフ
    ァへの入力信号レベルを制御するインタフェース回路で
    あって、前記出力信号のレベルと所定基準レベルとの比
    較結果に応じて前記入力信号レベルを制御する制御手段
    を含むことを特徴とするインタフェース回路。
  2. 【請求項2】 前記制御手段は、前記出力信号のレベル
    と前記基準レベルとを比較する比較回路と、この比較回
    路の比較結果に応じてオンオフ動作して前記入力信号レ
    ベルを制御するスイッチング素子とを含むことを特徴と
    する請求項1記載のインタフェース回路。
  3. 【請求項3】 前記スイッチング素子は、前記出力信号
    を伝達する信号線と電源との間に接続されたプルアップ
    トランジスタであり、前記信号線と前記電源との電気的
    接続状態を前記比較結果に応じて制御するようにしたこ
    とを特徴とする請求項2記載のインタフェース回路。
  4. 【請求項4】 前記スイッチング素子は、前記出力信号
    を伝達する信号線とグランドとの間に接続されたプルダ
    ウントランジスタであり、前記信号線と前記グランドと
    の電気的接続状態を前記比較結果に応じて制御するよう
    にしたことを特徴とする請求項2記載のインタフェース
    回路。
  5. 【請求項5】 第1の装置の出力信号を入力とする第2
    の装置に設けられ前記出力信号を入力とする入力バッフ
    ァと、前記第2の装置に設けられ前記入力バッファへの
    入力信号レベルを制御するインタフェース回路とが1チ
    ップに集積されてなる入力バッファ集積回路であって、
    前記インタフェース回路は、前記出力信号のレベルと所
    定基準レベルとの比較結果に応じて前記入力信号レベル
    を制御する制御手段を含むことを特徴とする入力バッフ
    ァ集積回路。
  6. 【請求項6】 前記制御手段は、前記出力信号のレベル
    と前記基準レベルとを比較する比較回路と、この比較回
    路の比較結果に応じてオンオフ動作して前記入力信号レ
    ベルを制御するスイッチング素子とを含むことを特徴と
    する請求項5記載の入力バッファ集積回路。
  7. 【請求項7】 前記スイッチング素子は、前記出力信号
    を伝達する信号線と電源との間に接続されたプルアップ
    トランジスタであり、前記信号線と前記電源との電気的
    接続状態を前記比較結果に応じて制御するようにしたこ
    とを特徴とする請求項6記載の入力バッファ集積回路。
  8. 【請求項8】 前記スイッチング素子は、前記出力信号
    を伝達する信号線とグランドとの間に接続されたプルダ
    ウントランジスタであり、前記信号線と前記グランドと
    の電気的接続状態を前記比較結果に応じて制御するよう
    にしたことを特徴とする請求項6記載の入力バッファ集
    積回路。
  9. 【請求項9】 前記インタフェース回路を複数設け、該
    回路の前記基準レベルを互いに異なる値に設定したこと
    を特徴とする請求項5〜8のいずれかに記載の入力バッ
    ファ集積回路。
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