JP2000088717A - 微量有機物捕集装置 - Google Patents
微量有機物捕集装置Info
- Publication number
- JP2000088717A JP2000088717A JP10258717A JP25871798A JP2000088717A JP 2000088717 A JP2000088717 A JP 2000088717A JP 10258717 A JP10258717 A JP 10258717A JP 25871798 A JP25871798 A JP 25871798A JP 2000088717 A JP2000088717 A JP 2000088717A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- carrier gas
- tube
- organic matter
- outer tube
- collecting
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
効率よく離脱させ、ほぼ漏れなく捕集でき、高い感度で
分析することが可能になり、しかも、被測定物の表面の
平坦部のみならず、凹凸面部、段差部などの微量の有機
不純物を支障なく捕集でき、簡便な構成で使い勝手がよ
い微量有機物捕集装置を提供する。 【解決手段】内管11および外管12の各先端面が開放
状態の二重管20と、外管の先端面からキャリアガスを
吹き出すように外管の一端側からキャリアガスを供給す
るキャリアガス供給部13と、内管の先端面から有機物
を含むキャリアガスを吸引するように内管の一端側に連
結されたキャリアガス吸引用のポンプ16と、内管とポ
ンプとの間のキャリアガス吸引経路に挿入された有機物
捕集用の捕集管14とを具備する。
Description
の有機物を捕集するための微量有機物捕集装置に係り、
例えば半導体装置の製造に際して使用されるサンプルと
なる半導体基板の表面の有機不純物を捕集して分析する
ために使用される。
膜中にNa,K,Feなどの金属等の無機不純物が存在
すると、その量が微量であっても半導体基板上に形成さ
れる素子の電気的特性に大きな影響を与えることは周知
である。
めには、半導体薄膜中の不純物の含有量を極力抑える必
要があり、そのためには、基板表面の無機不純物量を正
確に把握して不純物を制御あるいは除去する必要があ
る。
純物の量を把握するために、基板表面の酸化膜を予め弗
化水素酸蒸気中に暴露することにより溶解して疎水性化
した基板表面の中央部に不純物回収液を滴下した後、回
収液滴を走査することにより酸化膜中および前記基板表
面上の不純物を回収液滴に取り込んで回収している。
定半導体基板の表面に存在する有機物等の不純物汚染に
ついても、前記無機不純物と同様に制御あるいは除去す
る必要があることは周知である。
の「付着物検査装置および付着物検査方法」には、「ス
テージ上に非測定部品を載置し、部品表面に吹付けノズ
ルからガス(乾燥空気、不活性ガス)を吹付け、この部
品表面に吹付けられたガスを捕集吸引管により捕集し、
ガスに含まれる付着物をダストカウンタなどの検査手段
により検査する」技術が開示されている。なお、前記吹
付けノズルおよび捕集吸引管捕集の一方端を覆うように
捕集カバーを設けることにより、捕集カバー内のガスを
効率よく捕集する点も開示されている。
物検査方法」は、半導体製造装置に組み込まれている部
品の付着物検査を想定しており、被測定物の表面の微量
の有機不純物を被測定部材の表面から効率よく離脱させ
る具体的手段は開示されていない。また、吹付けノズル
および捕集吸引管捕集の一方端を覆うように捕集カバー
を設ける技術は、捕集カバーを余分に必要とし、被測定
物の表面の凹凸面部、段差部などの付着物を捕集しよう
とする際に捕集カバーが邪魔になることもあり、付着物
検査装置の使い勝手が悪化する場合がある。
付着物検査装置は、被測定物の表面の凹凸面部、段差部
などの付着物を捕集しようとする際に装置の使い勝手が
悪化する場合があり、被測定物の表面の微量の有機不純
物を被測定部材の表面から離脱させる際の効率面で問題
があった。
たもので、被測定物上に存在している微量の有機不純物
を効率よく離脱させ、ほぼ漏れなく捕集でき、高い感度
で分析することが可能になり、しかも、被測定物の表面
の平坦部のみならず、凹凸面部、段差部などの微量の有
機不純物を支障なく捕集でき、簡便な構成で使い勝手が
よい微量有機物捕集装置を提供することを目的とする。
装置は、内管および外管が配設され、それぞれの一方の
先端面が開放状態の二重管と、前記外管の先端面からキ
ャリアガスを吹き出すように前記外管の一端側からキャ
リアガスを供給するキャリアガス供給部と、前記内管の
先端面から有機物を含むキャリアガスを吸引するように
前記内管の一端側に連結されたキャリアガス吸引装置
と、前記内管と前記キャリアガス吸引装置との間のキャ
リアガス吸引経路に挿入された有機物捕集用の捕集管と
を具備することを特徴とする。
施の形態を詳細に説明する。 <第1実施例>図1は、本発明の第1の実施例に係る半
導体基板表面の微量の有機不純物を捕集する微量有機物
捕集装置の一例を示している。
は半導体基板)であり、水平面内で二次元方向(XY方
向)方向に駆動可能なステージ(図示せず)上に水平状
態に載置されて保持される。
を図2に示している。この二重管20は、内管11およ
び外管12が同心的に配設されて一体的に組み立てられ
てなり、内管11および外管12は、それぞれ例えばシ
リコンスチールのように、内面を不活性化処理すること
により有機物の吸着性を抑制した配管からなる。内管1
1の内径は例えば1/16インチ、外管12の内径は例
えば1/4インチである。
はキャリアガス(例えば高純度のヘリウムガス;Heガ
ス)を供給するためのキャリアガス供給部13に連結さ
れており、内管11の一端側は捕集管14および接続配
管15を介してキャリアガス吸引装置(例えばポンプ)
16に連結されている。
比べて吸水性が低い例えばTENAX吸着剤(Buchem B
V 社登録商標)のような固体吸着剤を充填したチューブ
を用いている。
よび接続配管15に対して着脱自在に連結されており、
この連結部には、前記二重管と同様に内面を不活性化処
理したシリコンスチール用ジョイント(図示せず)を用
いている。
は開放状態になっており、外管12の先端面は内管11
の先端面に対してほぼ同一面上あるいは少し突出してい
る。17は前記キャリアガス供給部13を高温に加熱す
る(キャリアガスを例えば300℃程度の加熱する)た
めのヒータであり、18は前記外管12内を通過するキ
ャリアガスを保温するように外管12を加熱するために
外管12の外面部(二重管20の周辺部)を覆うように
設けられたテープヒータである。
二重管20のそれぞれ開放状態の先端を半導体基板10
の任意の被測定領域の表面に対して例えば1〜2mmの
距離に近接させて対向するように配置し、ヒータ17に
より加熱されているキャリアガス供給部13からキャリ
アガスを一定流量(例えば0.5L/min)で供給
し、保温状態の外管12を通して例えば300℃程度の
キャリアガスを基板10上に一定流量で吹き付ける。
ャリアガスを接触させて基板上の有機物を離脱させると
同時に、離脱した有機物をキャリアガスと共に内管11
から一定流量(例えば0.4L/min)でポンプ16
により吸引する。そして、キャリアガスはポンプ16に
より吸引して排出し、キャリアガス中の微量な有機物を
捕集管14で捕集する。
リアガスの流量より内管11から吸引するキャリアガス
の流量を小さく設定しておくことにより、外管12から
流出するキャリアガスの一部は二重管20の外側へ放出
されるので、外気の巻き込みによる有機物の混入を防止
することができる。
吸引を一定時間実施した後、捕集管14を取り外し、捕
集された有機物を例えば280℃程度の加熱脱着により
分離と、ガスクロマトグラフやガスクロマトグラフ質量
分析装置等の有機物検出器に送り、有機物の定性、定量
測定を行う。
させて捕集する処理は、クリーンな空間環境下(例えば
容器内、クリーンルーム内)で実施することが望まし
い。即ち、上記実施例の微量有機物捕集装置において
は、高温のキャリアガスを被測定基板10の表面の被測
定領域に対して部分的に吹き付け、基板上の有機物を昇
温させて離脱させるので、効率よく離脱させることがで
きる。
の場所に付着した有機物を効率よく捕集できるので、表
面の有機汚染の面内分布を容易に測定することが可能に
なる。
端を基板10の被測定領域の表面に近接させて対向する
ように配置し、キャリアガスを外管12から供給して基
板10上の有機物を離脱させると同時に、離脱した有機
物をキャリアガスと共に外管12の中心部に位置する内
管11から吸引して有機物のみを捕集管14で捕集する
ので、離脱した有機物をほぼ漏れなく捕集でき、高い感
度で分析することが可能になる。
端は比較的小径であり、先端付近には捕集カバーのよう
に余分な部材が存在しない簡便な構成であり、被測定物
に対して部分的な有機物捕集が可能になる。
露光用のマスク基板とか液晶ガラス基板の表面のような
平坦部は勿論のこと、凹凸面部、段差部などが存在する
様々な表面形状を有するその他の様々なサンプル(被測
定物)に対しても比較的小さな領域から微量の有機不純
物を支障なく捕集でき、使い勝手がよい。
導体装置製造用のクリーンルームの建築部材(壁材な
ど)の有機汚染についても、試料を切り出すなどの前処
理を行うことなく、有機不純物の測定が可能になる。
純物を捕集するのであれば、壁材の近傍まで微量有機物
捕集装置を運搬すればよく、この際、前記キャリアガス
供給部13と、二重管20と、捕集管14とに分割して
運搬することができる。
び図2に示した二重管20の変形例に係る三重管30の
断面構造の一例を示しており、それを用いた微量有機物
捕集装置の一例を図3(b)に示している。
0の外側に断熱材31を介してさらに外管(最外管)3
2を設けたものであり、最外管32の一端側から冷却し
たキャリアガス(例えば室温のヘリウムガス)を一定流
量(例えば1L/min)で供給し、最外管32の先端
面から低温のキャリアガスを吹き出すようにしたもので
ある。この場合、最外管32内のキャリアガスは最外管
32と二重管の外管12との間に存在する断熱材31に
より低温状態が維持される。
って、二重管の外管12から高温のキャリアガスを被測
定基板10の表面の被測定領域に対して部分的に吹き付
け、基板10上の有機物を昇温させて離脱させ、この有
機物をポンプにより内管11に吸引する際、ポンプによ
り吸引しきれなかった有機物の一部が存在したとして
も、最外管32の先端面から流出する低温のキャリアガ
スによって被測定基板10の表面の被測定領域に再び吸
着させることが可能になる。
アガスの流量を二重管の外管12から流出するキャリア
ガスの流量より大きく設定しておくことにより、ポンプ
により吸引しきれなかった有機物の一部が外管12から
流出するキャリアガスとともに外部へ放出されることを
防止することができる。
装置によれば、被測定物上に存在している微量の有機不
純物を効率よく離脱させ、ほぼ漏れなく捕集でき、高い
感度で分析することが可能になり、しかも、被測定物の
表面の平坦部のみならず、凹凸面部、段差部などの微量
の有機不純物を支障なく捕集でき、簡便な構成で使い勝
手がよい。
面の微量の有機不純物を捕集する微量有機物捕集装置の
一例を示す構成説明図。
管の構造の一例およびそれを用いた微量有機物捕集装置
の一例を示す断面図。
Claims (7)
- 【請求項1】 内管および外管が配設され、それぞれの
一方の先端面が開放状態の二重管と、 前記外管の先端面からキャリアガスを吹き出すように前
記外管の一端側からキャリアガスを供給するキャリアガ
ス供給部と、 前記内管の先端面から有機物を含むキャリアガスを吸引
するように前記内管の一端側に連結されたキャリアガス
吸引装置と、 前記内管と前記キャリアガス吸引装置との間のキャリア
ガス吸引経路に挿入された有機物捕集用の捕集管とを具
備することを特徴とする微量有機物捕集装置。 - 【請求項2】 請求項1記載の微量有機物捕集装置にお
いて、 前記二重管は、それぞれ内面を不活性化処理することに
より有機物の吸着性を抑制した配管からなり、 前記捕集管は、吸水性が低い固体吸着剤を充填したチュ
ーブが用いられていることを特徴とする微量有機物捕集
装置。 - 【請求項3】 請求項1または2記載の微量有機物捕集
装置において、さらに、 前記キャリアガス供給部の内部のキャリアガスを加熱す
るための加熱手段と、 前記外管内を通過するキャリアガスを保温する保温手段
とを具備することを特徴とする微量有機物捕集装置。 - 【請求項4】 請求項1乃至3のいずれか1項に記載の
微量有機物捕集装置において、 前記外管から流出するキャリアガスの流量より前記内管
から吸引するキャリアガスの流量が小さく設定されてい
ることを特徴とする微量有機物捕集装置。 - 【請求項5】 請求項1乃至4のいずれか1項に記載の
微量有機物捕集装置において、 前記二重管の外側に断熱材を介してさらに外管が設けら
れ、前記最も外側の外管の先端面から前記二重管の外管
内のキャリアガスよりも低温のキャリアガスを吹き出す
ように前記最も外側の外管の一端側から低温のキャリア
ガスを供給することを特徴とする微量有機物捕集装置。 - 【請求項6】 請求項5記載の微量有機物捕集装置にお
いて、 前記最も外側の外管から流出するキャリアガスの流量
は、前記二重管の外管から流出するキャリアガスの流量
より大きく設定されていることを特徴とする微量有機物
捕集装置。 - 【請求項7】 請求項1乃至6のいずれか1項に記載の
微量有機物捕集装置において、 前記捕集管は、前記キャリアガス吸引経路に対して着脱
自在に連結されていることを特徴とする微量有機物捕集
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25871798A JP3571930B2 (ja) | 1998-09-11 | 1998-09-11 | 微量有機物捕集装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25871798A JP3571930B2 (ja) | 1998-09-11 | 1998-09-11 | 微量有機物捕集装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000088717A true JP2000088717A (ja) | 2000-03-31 |
JP3571930B2 JP3571930B2 (ja) | 2004-09-29 |
Family
ID=17324122
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25871798A Expired - Fee Related JP3571930B2 (ja) | 1998-09-11 | 1998-09-11 | 微量有機物捕集装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3571930B2 (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7024950B2 (en) * | 2000-11-30 | 2006-04-11 | Texas Instruments Incorporated | Method for intelligent sampling of particulates in exhaust lines |
KR100914704B1 (ko) * | 2007-10-31 | 2009-08-28 | 한국표준과학연구원 | 가스배관용 3-포트형 연결관 및 이를 포함하는가스분석시스템 |
JP2010056011A (ja) * | 2008-08-29 | 2010-03-11 | Jeol Ltd | 粒子線装置 |
JP2010062288A (ja) * | 2008-09-03 | 2010-03-18 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | 基板処理装置及びシリコン基板の不純物分析方法 |
JP2013057510A (ja) * | 2011-09-06 | 2013-03-28 | Ishida Co Ltd | 物品検査装置 |
JP6418586B1 (ja) * | 2017-07-18 | 2018-11-07 | 株式会社 イアス | 基板分析用ノズル及び基板分析方法 |
JP2019519911A (ja) * | 2016-04-29 | 2019-07-11 | トライコーン テック タイワン | 施設モニタリング及び制御のためのリアルタイム移動式キャリアシステム |
-
1998
- 1998-09-11 JP JP25871798A patent/JP3571930B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7024950B2 (en) * | 2000-11-30 | 2006-04-11 | Texas Instruments Incorporated | Method for intelligent sampling of particulates in exhaust lines |
KR100914704B1 (ko) * | 2007-10-31 | 2009-08-28 | 한국표준과학연구원 | 가스배관용 3-포트형 연결관 및 이를 포함하는가스분석시스템 |
JP2010056011A (ja) * | 2008-08-29 | 2010-03-11 | Jeol Ltd | 粒子線装置 |
JP2010062288A (ja) * | 2008-09-03 | 2010-03-18 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | 基板処理装置及びシリコン基板の不純物分析方法 |
JP2013057510A (ja) * | 2011-09-06 | 2013-03-28 | Ishida Co Ltd | 物品検査装置 |
JP2019519911A (ja) * | 2016-04-29 | 2019-07-11 | トライコーン テック タイワン | 施設モニタリング及び制御のためのリアルタイム移動式キャリアシステム |
JP7082575B2 (ja) | 2016-04-29 | 2022-06-08 | トライコーン テック タイワン | 施設モニタリング及び制御のためのリアルタイム移動式キャリアシステム |
US11465854B2 (en) | 2016-04-29 | 2022-10-11 | Tricorniech Taiwan | Real-time mobile carrier system for facility monitoring and control |
JP6418586B1 (ja) * | 2017-07-18 | 2018-11-07 | 株式会社 イアス | 基板分析用ノズル及び基板分析方法 |
WO2019016847A1 (ja) * | 2017-07-18 | 2019-01-24 | 株式会社 イアス | 基板分析用ノズル及び基板分析方法 |
US10688485B2 (en) | 2017-07-18 | 2020-06-23 | Ias, Inc | Substrate analysis nozzle and method for analyzing substrate |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3571930B2 (ja) | 2004-09-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8586916B2 (en) | Adhering matter inspection equipment and method for inspecting adhering matter | |
US6937691B2 (en) | X-ray fluorescence spectrometric system and a program for use therein | |
KR0171651B1 (ko) | 유기물 분석장치 및 유기물 분석방법 | |
KR20210052506A (ko) | 생산 장비 및 표면에서 나노입자 검출 | |
JPH06148198A (ja) | 分析機器の汚染防止装置 | |
JP3571930B2 (ja) | 微量有機物捕集装置 | |
JPH05256749A (ja) | 分析前処理器具及び該器具を用いた前処理方法 | |
JP2001511257A (ja) | 総合粒子収集気化化学モニタリング | |
US20070246065A1 (en) | Ion sampling method for wafer | |
KR100310881B1 (ko) | 가스내에 존재하는 물질의 분석방법 | |
JP2000187027A (ja) | 微量有機化合物分析方法及び装置 | |
JP2003315221A (ja) | 有機化合物分析計 | |
JP2006214877A (ja) | 気相分解装置ならびにそれを用いた試料前処理装置および蛍光x線分析システム | |
JP3584430B2 (ja) | 汚染物検出方法 | |
JPH07174676A (ja) | 気中不純物捕集方法、並びに気中不純物量測定方法、並びに気中不純物捕集装置、並びに気中不純物量測定装置 | |
JP2000304734A (ja) | 空気中の汚染物質の検出方法 | |
JP2004020293A (ja) | 環境監視方法およびシステム | |
JP2001159592A (ja) | 加熱発生ガス評価装置 | |
JP4512505B2 (ja) | 基板搬送容器内空間の汚染状態の評価方法 | |
JP2000266646A (ja) | ガス状物質の分析装置及びガス状物質の分析方法 | |
JP3171633B2 (ja) | 超純水中の不揮発性不純物の分析および定量方法 | |
JP4389078B2 (ja) | 有機材料の有機揮発物測定方法 | |
JP2002214116A (ja) | ケミカルフィルタのガス除去率試験方法および試験装置 | |
JP2002286600A (ja) | 大気の清浄度評価用捕集剤 | |
JP2001083054A (ja) | 排ガス試料採取方法及び採取装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040114 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040224 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040409 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20040622 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20040625 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080702 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090702 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090702 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100702 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110702 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120702 Year of fee payment: 8 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |