JP2000083260A - 3次元画像入力装置 - Google Patents

3次元画像入力装置

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JP2000083260A
JP2000083260A JP11104962A JP10496299A JP2000083260A JP 2000083260 A JP2000083260 A JP 2000083260A JP 11104962 A JP11104962 A JP 11104962A JP 10496299 A JP10496299 A JP 10496299A JP 2000083260 A JP2000083260 A JP 2000083260A
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JP11104962A
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Harumi Aoki
晴美 青木
Nobuhiro Tani
信博 谷
Shuzo Seo
修三 瀬尾
Shinichi Kakiuchi
伸一 垣内
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Pentax Corp
Original Assignee
Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 光シャッタを設ける必要がなく小型で安価で
あり、かつ十分に大きい出力を得ることができる3次元
画像入力装置を提供する。 【解決手段】 垂直同期信号S1の出力に同期して電荷
掃出し信号S2を出力する。これによりフォトダイオー
ドに蓄積していた不要電荷が基板方向に掃出される。電
荷掃出し信号S2の出力の終了と同時に、一定のパルス
幅を有するパルス状の測距光S3を出力する。測距光S
3の被計測物体からの反射光S4をCCDによって検出
する。測距光S3の出力から一定時間が経過したとき、
電荷転送信号S5を出力し、フォトダイオードに蓄積さ
れた電荷を垂直転送部に転送する。電荷掃出し信号S2
と電荷転送信号S5を繰り返し出力することにより垂直
転送部において、信号電荷S6が積分される。この信号
電荷S6は被計測物体までの距離情報に対応している。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光伝播時間測定法
を用いて被計測物体の3次元形状等を検出する3次元画
像入力装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来3次元画像入力装置による3次元計
測は、光、電波あるいは音を被計測物体に照射する能動
方式と、光等を照射しない受動方式とに分類される。能
動方式には、光伝播時間測定法、変調した光波を用いる
位相差測定法、三角測量法、モアレ法、干渉法等が知ら
れており、受動方式には、ステレオ視法、レンズの焦点
法等が知られている。
【0003】能動方式は受動方式に比べ、レーザ光等を
照射するための機構が必要なために装置の規模が大きく
なるが、距離分解能、計測時間、計測空間範囲等の点に
おいて優れており、産業応用分野において広く用いられ
てきている。「MeasurementScience and Technology」
(S. Christie 他、vol.6, p1301-1308, 1995 年)に記
載された3次元画像入力装置では、パルス変調されたレ
ーザ光が被計測物体に照射され、その反射光がイメージ
インテンシファイアが取付けられた2次元CCDセンサ
によって受光され、電気信号に変換される。イメージイ
ンテンシファイアはレーザ光のパルス発光に同期したゲ
ートパルスによってシャッタ制御される。この構成によ
れば、遠い被計測物体からの反射光による受光量は近い
被計測物体からの反射光による受光量に比べて小さいの
で、被計測物体の距離に応じた出力がCCDの各画素毎
に得られる。
【0004】一方、国際公開97/01111号公報に開示され
た装置では、パルス変調されたレーザ光等の光が被計測
物体に照射され、その反射光がメカニカル又は液晶素子
等から成る電気光学的シャッタと組み合わされた2次元
CCDセンサによって受光され、電気信号に変換され
る。そのシャッタは、測距光のパルスとは異なるタイミ
ングで制御され、距離情報がCCDの各画素毎に得られ
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】このような従来の能動
方式の装置では、CCDセンサにおける電荷蓄積動作を
制御するためにKDP素子等の光シャッタが設けられて
いる。ところが光シャッタの規模が大きいだけでなく、
光シャッタを駆動するために高電圧を供給する電気回路
が必要であるので、従来装置は大型化せざるを得ないと
いう問題があった。一方、米国特許第 5,081,530号明細
書には、CCDセンサの電荷蓄積動作を制御するために
電子シャッタを用いる構成が開示されているが、従来の
1回の電子シャッタにより得られるCCDセンサの出力
は、被計測物体の距離情報を検出するために十分な大き
さを有していない。
【0006】本発明は、光シャッタを必要とせず小型で
安価であり、しかも十分に大きい出力を得ることのでき
る3次元画像入力装置を得ることを目的としている。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明の3次元画像入力
装置は、被計測物体に測距光を照射する光源と、被計測
物体からの反射光を受け、受光量に応じた電荷が蓄積す
る複数の光電変換素子と、光電変換素子に隣接して設け
られた信号電荷保持部と、光電変換素子に蓄積した不要
電荷を光電変換素子から掃出すことにより、光電変換素
子における信号電荷の蓄積動作を開始する蓄積電荷掃出
手段と、光電変換素子に蓄積した信号電荷を信号電荷保
持部に転送する信号電荷転送手段と、蓄積電荷掃出手段
と信号電荷転送手段とを交互に駆動することにより信号
電荷保持部において信号電荷を積分する信号電荷積分手
段とを備えたことを特徴としている。
【0008】光電変換素子が基板に沿って形成された構
成においては、蓄積電荷掃出手段は不要電荷を基板側に
掃出す。信号電荷保持部は、好ましくは信号電荷を3次
元画像入力装置の外部に出力するための垂直転送部であ
る。
【0009】蓄積電荷掃出手段によって出力され、不要
電荷を掃出すための電荷掃出し信号と、信号電荷転送手
段によって出力され、信号電荷を転送するための電荷転
送信号とは、それぞれ例えばパルス信号である。
【0010】1つの例として、被計測物体の距離情報に
対応した信号電荷は、電荷掃出し信号が出力された後、
光電変換素子による反射光の受光開始から電荷転送信号
の出力まで、光電変換素子において蓄積される。この場
合、被計測物体の距離情報に対応した信号電荷は、電荷
掃出し信号が出力された後、光電変換素子による反射光
の受光開始によって、光電変換素子において蓄積を開始
する。また被計測物体の距離情報に対応した信号電荷
は、電荷転送信号の出力が終了することによって、光電
変換素子における蓄積を終了する。
【0011】他の例では、被計測物体の距離情報に対応
した信号電荷は、電荷掃出し信号の出力が終了してか
ら、光電変換素子による反射光の受光終了まで、光電変
換素子において蓄積される。この場合、被計測物体の距
離情報に対応した信号電荷は、電荷掃出し信号の出力が
終了することによって、光電変換素子において蓄積を開
始する。
【0012】好ましくは、光源によって、パルス状の測
距光が出力され、電荷掃出し信号が出力されてから電荷
転送信号が出力されるまでの第1の電荷蓄積期間中、測
距光のパルスが出力されることによって、距離情報に対
応した信号電荷が信号電荷保持部において積分される。
【0013】この場合好ましくは、電荷掃出し信号が出
力されてから電荷転送信号が出力されるまでの第2の電
荷蓄積期間内に反射光の全てが受光されるように制御す
ることによって、被計測物体の反射率に依存する反射率
情報に対応した信号電荷が信号電荷保持部において積分
され、距離情報を反射率情報によって正規化することに
より、距離情報における反射率の影響が低減される。正
規化は、光源を消灯させた状態で第1の電荷蓄積期間を
用いて距離補正情報を検出し、距離補正情報を補正した
距離情報によって実行してもよい。また正規化は、光源
を消灯させた状態で第2の電荷蓄積期間を用いて反射率
補正情報を検出し、反射率補正情報を補正した反射率情
報によって実行してもよい。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照して説明する。図1は本発明の第1の実施形態で
ある3次元画像入力装置を備えたカメラの斜視図であ
る。
【0015】カメラ本体10の前面において、撮影レン
ズ11の左上にはファインダ窓12が設けられ、右上に
はストロボ13が設けられている。カメラ本体10の上
面において、撮影レンズ11の真上には、測距光である
レーザ光を照射する発光装置(光源)14が配設されて
いる。発光装置14の左側にはレリーズスイッチ15と
液晶表示パネル16が設けられ、また右側にはモード切
替ダイヤル17とV/Dモード切替スイッチ18が設け
られている。カメラ本体10の側面には、ICメモリカ
ード等の記録媒体を挿入するためのカード挿入口19が
形成され、またビデオ出力端子20とインターフェース
コネクタ21が設けられている。
【0016】図2は図1に示すカメラの回路構成を示す
ブロック図である。撮影レンズ11の中には絞り25が
設けられている。絞り25の開度はアイリス駆動回路2
6によって調整される。撮影レンズ11の焦点調節動作
およびズーミング動作はレンズ駆動回路27によって制
御される。
【0017】撮影レンズ11の光軸上には撮像素子(C
CD)28が配設されている。CCD28には、撮影レ
ンズ11によって被写体像が形成され、被写体像に対応
した電荷が発生する。CCD28における電荷の蓄積動
作、電荷の読出動作等の動作はCCD駆動回路30によ
って制御される。CCD28から読み出された電荷信号
すなわち画像信号はアンプ31において増幅され、A/
D変換器32においてアナログ信号からデジタル信号に
変換される。デジタルの画像信号は撮像信号処理回路3
3においてガンマ補正等の処理を施され、画像メモリ3
4に一時的に格納される。アイリス駆動回路26、レン
ズ駆動回路27、CCD駆動回路30、撮像信号処理回
路33はシステムコントロール回路35によって制御さ
れる。
【0018】画像信号は画像メモリ34から読み出さ
れ、LCD駆動回路36に供給される。LCD駆動回路
36は画像信号に応じて動作し、これにより画像表示L
CDパネル37には、画像信号に対応した画像が表示さ
れる。
【0019】また画像メモリ34から読み出された画像
信号はTV信号エンコーダ38に送られ、ビデオ出力端
子20を介して、カメラ本体10の外部に設けられたモ
ニタ装置39に伝送可能である。システムコントロール
回路35はインターフェース回路40に接続され、イン
ターフェース回路40はインターフェースコネクタ21
に接続されている。したがって画像メモリ34から読み
出された画像信号は、インターフェースコネクタ21に
接続されたコンピュータ41に伝送可能である。またシ
ステムコントロール回路35は、記録媒体制御回路42
を介して画像記録装置43に接続されている。したがっ
て画像メモリ34から読み出された画像信号は、画像記
録装置43に装着されたICメモリカード等の記録媒体
Mに記録可能である。
【0020】システムコントロール回路35には、発光
素子制御回路44が接続されている。発光装置14には
発光素子14aと照明レンズ14bが設けられ、発光素
子14aの発光動作は発光素子制御回路44によって制
御される。発光素子14aは測距光であるレーザ光を照
射するものであり、このレーザ光は照明レンズ14bを
介して被計測物体の全体に照射される。被計測物体にお
いて反射した光は撮影レンズ11に入射する。この光を
CCD28によって検出することにより、後述するよう
に被計測物体の3次元画像が計測される。なお、この計
測において、CCD28における転送動作のタイミング
等の制御はシステムコントロール回路35とCCD駆動
回路30によって行なわれる。
【0021】システムコントロール回路35には、レリ
ーズスイッチ15、モード切替ダイヤル17、V/Dモ
ード切替スイッチ18から成るスイッチ群45と、液晶
表示パネル(表示素子)16とが接続されている。
【0022】図3および図4を参照して、本実施形態に
おける距離測定の原理を説明する。なお図4において横
軸は時間tである。
【0023】距離測定装置Bから出力された測距光は被
計測物体Sにおいて反射し、図示しないCCDによって
受光される。測距光は所定のパルス幅Hを有するパルス
状の光であり、したがって被計測物体Sからの反射光
も、同じパルス幅Hを有するパルス状の光である。また
反射光のパルスの立ち上がりは、測距光のパルスの立ち
上がりよりも時間δ・t(δは遅延係数)だけ遅れる。
測距光と反射光は距離測定装置Bと被計測物体Sの間の
2倍の距離rを進んだことになるから、その距離rは r=δ・t・C/2 ・・・(1) により得られる。ただしCは光速である。
【0024】例えば測距光のパルスの立ち上がりから反
射光を検知可能な状態に定め、反射光のパルスが立ち下
がる前に検知不可能な状態に切換えるようにすると、す
なわち反射光検知期間Tを設けると、この反射光検知期
間Tにおける受光量Aは距離rの関数である。すなわち
受光量Aは、距離rが大きくなるほど(時間δ・tが大
きくなるほど)小さくなる。
【0025】本実施形態では上述した原理を利用して、
CCD28に設けられ、2次元的に配列された複数のフ
ォトダイオード(光電変換素子)においてそれぞれ受光
量Aを検出することにより、カメラ本体10から被計測
物体Sの表面の各点までの距離をそれぞれ検出し、被計
測物体Sの表面形状に関する3次元画像のデータを一括
して入力している。
【0026】図5は、CCD28に設けられるフォトダ
イオード51と垂直転送部52の配置を示す図である。
図6は、CCD28を基板53に垂直な平面で切断して
示す断面図である。このCCD28は従来公知のインタ
ーライン型CCDであり、不要電荷の掃出しにVOD
(縦型オーバーフロードレイン)方式を用いたものであ
る。
【0027】フォトダイオード51と垂直転送部(信号
電荷保持部)52はn型基板53の面に沿って形成され
ている。フォトダイオード51は2次元的に格子状に配
列され、垂直転送部52は所定の方向(図5において上
下方向)に1列に並ぶフォトダイオード51に隣接して
設けられている。垂直転送部52は、1つのフォトダイ
オード51に対して4つの垂直転送電極52a、52
b、52c、52dを有している。したがって垂直転送
部52では、4つのポテンシャルの井戸が形成可能であ
り、従来公知のように、これらの井戸の深さを制御する
ことによって、信号電荷をCCD28から出力すること
ができる。なお、垂直転送電極の数は目的に応じて自由
に変更できる。
【0028】基板53の表面に形成されたp型井戸の中
にフォトダイオード51が形成され、p型井戸とn型基
板53の間に印加される逆バイアス電圧によってp型井
戸が完全空乏化される。この状態において、入射光(被
計測物体からの反射光)の光量に応じた電荷がフォトダ
イオード51において蓄積される。基板電圧Vsub を所
定値以上に大きくすると、フォトダイオード51に蓄積
した電荷は、基板53側に掃出される。これに対し、転
送ゲート部54に電荷転送信号(電圧信号)が印加され
たとき、フォトダイオード51に蓄積した電荷は垂直転
送部52に転送される。すなわち電荷掃出し信号によっ
て電荷を基板53側に掃出した後、フォトダイオード5
1に蓄積した信号電荷が、電荷転送信号によって垂直転
送部52側に転送される。このような動作を繰り返すこ
とにより、垂直転送部52において信号電荷が積分さ
れ、電子シャッタ動作が実現される。
【0029】図7は、被計測物体の表面の各点までの距
離に関するデータを検出する距離情報検出動作のタイミ
ングチャートである。図1、図2、図5〜図7を参照し
て距離情報検出動作を説明する。
【0030】垂直同期信号S1の出力に同期して電荷掃
出し信号(パルス信号)S2が出力され、これによりフ
ォトダイオード51に蓄積していた不要電荷が基板53
の方向に掃出される。電荷掃出し信号S2の出力の終了
と略同時に発光装置14が起動され、一定のパルス幅を
有するパルス状の測距光S3が出力される。測距光S3
は被計測物体において反射し、CCD28に入射する。
すなわちCCD28によって被計測物体からの反射光S
4が受光される。測距光S3の出力から一定時間が経過
したとき、電荷転送信号(パルス信号)S5が出力さ
れ、これによりフォトダイオード51に蓄積された電荷
が垂直転送部52に転送される。なお、電荷転送信号S
5の出力は、測距光の出力の終了よりも前に行なわれ
る。
【0031】このように電荷掃出し信号S2の出力の終
了から電荷転送信号S5の出力までの期間TU1の間、フ
ォトダイオード51には、被計測物体までの距離に対応
した信号電荷が蓄積される。すなわち測距光S3が出力
される期間TS と電荷蓄積期間TU1は略同時に開始する
が、電荷蓄積期間TU1の方が早く終了し、反射光S4の
一部のみがCCD28によって検知され、検知された光
によって生じる信号電荷S6は被計測物体までの距離に
対応している。換言すれば、被計測物体からの反射光S
4のうち、電荷蓄積期間TU1内にフォトダイオード51
に到達した光に対応した信号電荷S6がフォトダイオー
ド51に蓄積される。この信号電荷S6は、電荷転送信
号S5によって垂直転送部52に転送される。なお測距
光S3の出力期間TS は電荷蓄積期間TU1よりも早く開
始してもよい。
【0032】電荷転送信号S5の出力から一定時間が経
過した後、再び電荷掃出し信号S2が出力され、垂直転
送部52への信号電荷の転送後にフォトダイオード51
に蓄積された不要電荷が基板53の方向へ掃出される。
すなわち、フォトダイオード51において新たに信号電
荷の蓄積が開始する。そして、上述したのと同様に、電
荷蓄積期間TU1が経過したとき、信号電荷は垂直転送部
52へ転送される。
【0033】このような信号電荷S6の垂直転送部52
への転送動作は、次の垂直同期信号S1が出力されるま
で、繰り返し実行される。これにより垂直転送部52に
おいて、信号電荷S6が積分され、1フィールドの期間
(2つの垂直同期信号S1によって挟まれる期間)に積
分された信号電荷S6は、その期間被計測物体が静止し
ていると見做せれば、被計測物体までの距離情報に対応
している。
【0034】以上説明した信号電荷S6の検出動作は1
つのフォトダイオード51に関するものであり、全ての
フォトダイオード51においてこのような検出動作が行
なわれる。1フィールドの期間の検出動作の結果、各フ
ォトダイオード51に隣接した垂直転送部52の各部位
には、そのフォトダイオード51によって検出された距
離情報が保持される。この距離情報は垂直転送部52に
おける垂直転送動作におよび図示しない水平転送部にお
ける水平転送動作によってCCD28から出力され、被
計測物体の3次元画像データとして、3次元画像入力装
置の外部に取り出される。
【0035】以上のように本実施形態によれば、光シャ
ッタを必要としないので、3次元画像入力装置を小型化
することができ、かつ安価に製造することができる。ま
た本実施形態は、被計測物体までの距離を1回測定する
ために多数の電荷掃出し信号(パルス信号)を出力して
信号電荷S6を積分するように構成されているので、十
分に大きい出力を得ることができ、またノイズを含まな
い高精度な距離情報を検出することができる。
【0036】さらに本実施形態によれば、被計測物体に
対して測距光を走査することなく、被計測物体の表面形
状に関する3次元画像のデータ、すなわち距離情報を一
括して計測することができる。したがって被計測物体の
3次元画像を得るまでの時間を大幅に短縮することが可
能となる。
【0037】さて、本実施形態においてCCD28によ
り検出された反射光は、被計測物体の表面の反射率の影
響を受けている。したがって、この反射光を介して得ら
れた距離情報は反射率に起因する誤差を含んでいる。ま
た、CCD28により検出された反射光には、被計測物
体からの反射光以外に外光等の成分も含まれており、こ
れに起因する誤差も存在する。次に述べる本発明の第2
の実施形態では、これらの誤差を補正することができ
る。
【0038】第2の実施形態において、距離情報検出動
作は図7と同様であり、また機械的および電気的構成は
第1の実施形態と同様である。すなわち、第1の実施形
態との違いは図8〜図10に示される距離補正情報、反
射率情報および反射率補正情報の検出動作である。図1
1と図12は第2の実施形態における距離情報検出動作
のフローチャートである。図1、図2、図7〜図12を
参照して、第2の実施形態における距離情報検出動作を
説明する。
【0039】ステップ101においてレリーズスイッチ
15が全押しされていることが確認されるとステップ1
02が実行され、ビデオ(V)モードと距離測定(D)
モードのいずれが選択されているかが判定される。これ
らのモード間における切替はV/Dモード切替スイッチ
18を操作することによって行なわれる。
【0040】Dモードが選択されているとき、ステップ
103において垂直同期信号S1が出力されるとともに
測距光制御が開始される。すなわち発光装置14が駆動
され、パルス状の測距光S3が断続的に出力される。次
いでステップ104が実行され、CCD28による検知
制御が開始される。すなわち図7を参照して説明した距
離情報検出動作が開始され、電荷掃出し信号S2と電荷
転送信号S5が交互に出力されて、距離情報の信号電荷
S6が垂直転送部52において積分される。
【0041】ステップ105では、距離情報検出動作の
開始から1フィールド期間が終了したか否か、すなわち
新たに垂直同期信号S1が出力されたか否かが判定され
る。1フィールド期間が終了するとステップ106へ進
み、距離情報の信号電荷S6がCCD28から出力され
る。この信号電荷S6はステップ107において画像メ
モリ34に一時的に記憶される。ステップ108では測
距光制御がオフ状態に切換えられ、発光装置14の発光
動作が停止する。
【0042】ステップ109〜112では、距離補正情
報の検出動作が行なわれる。まずステップ109では、
図8に示すように、垂直同期信号S11が出力されると
ともにCCD28による検知制御が開始される。すなわ
ち発光装置14の発光動作が行なわれることなく、光源
が消灯された状態で、電荷掃出し信号S12と電荷転送
信号S15が交互に出力される。電荷蓄積時間TU1は図
7に示す距離情報検出動作と同じであるが、被計測物体
に測距光が照射されないため(符号S13)、反射光は
存在せず(符号S14)、したがって、距離情報の信号
電荷は発生しないが、CCD28には外光等の外乱成分
が入射するため、この外乱成分に対応した信号電荷S1
6が発生する。この信号電荷S16は、外乱成分が距離
情報に及ぼす影響を補正するための、電荷蓄積時間TU1
に対する距離補正情報に対応している。
【0043】ステップ110では、距離補正情報の検出
動作の開始から1フィールド期間が終了したか否か、す
なわち新たに垂直同期信号S11が出力されたか否かが
判定される。1フィールド期間が終了するとステップ1
11において、距離補正情報の信号電荷S16がCCD
28から出力される。距離補正情報の信号電荷S16は
ステップ112において画像メモリ34に一時的に記憶
される。
【0044】ステップ113〜117では、反射率情報
の検出動作が行なわれる。ステップ113では、図9に
示すように、垂直同期信号S21が出力されるとともに
測距光制御が開始され、パルス状の測距光S23が断続
的に出力される。ステップ114では、CCD28によ
る検知制御が開始され、電荷掃出し信号S22と電荷転
送信号S25が交互に出力される。この反射率情報の検
出動作は、電荷掃出し信号S22が出力されてから電荷
転送信号S25が出力されるまでの電荷蓄積期間TU2
に、反射光S24の全てが受光されるように制御され
る。すなわち、CCD28の各フォトダイオード51に
蓄積される信号電荷S26のパルス幅TSは測距光S2
3のパルス幅TS と同じである。
【0045】したがって信号電荷S26は、被計測物体
までの距離とは関係せず、被計測物体の表面の反射率に
依存する反射率情報に対応している。
【0046】ステップ115では、反射率情報検出動作
の開始から1フィールド期間が終了したか否か、すなわ
ち新たに垂直同期信号S21が出力されたか否かが判定
される。1フィールド期間が終了するとステップ116
へ進み、反射率情報の信号電荷S26がCCD28から
出力される。この信号電荷S26はステップ117にお
いて画像メモリ34に一時的に記憶される。ステップ1
18では測距光制御がオフ状態に切換えられ、発光装置
14の発光動作が停止する。
【0047】ステップ119〜122では、反射率補正
情報の検出動作が行なわれる。ステップ119では、図
10に示すように、垂直同期信号S31が出力されると
ともにCCD28による検知制御が開始される。すなわ
ち発光装置14の発光動作が行なわれることなく、光源
が消灯された状態で、電荷掃出し信号S32と電荷転送
信号S35が交互に出力される。電荷蓄積時間TU2は図
9に示す反射率情報検出動作と同じであるが、被計測物
体に測距光が照射されないため(符号S33)、反射光
は存在せず(符号S34)、したがって、反射率情報の
信号電荷は発生しないが、CCD28には外光等の外乱
成分に対応した信号電荷S36が発生する。この信号電
荷S36は、外乱成分が電荷蓄積時間TU2に対する反射
率情報に及ぼす影響を補正するための反射率補正情報に
対応している。
【0048】ステップ120では、反射率補正情報の検
出動作の開始から1フィールド期間が終了したか否か、
すなわち新たに垂直同期信号S31が出力されたか否か
が判定される。1フィールド期間が終了するとステップ
121において、反射率補正情報の信号電荷S36がC
CD28から出力され、ステップ122において画像メ
モリ34に一時的に記憶される。
【0049】ステップ123では、ステップ103〜1
22において得られた距離情報、距離補正情報、反射率
情報および反射率補正情報を用いて距離測定(D)デー
タの演算処理が行なわれ、ステップ124においてDデ
ータが出力されてこの検出動作は終了する。一方、ステ
ップ102においてVモードが選択されていると判定さ
れたとき、ステップ125において測距光制御がオフ状
態に切換えられるとともに、ステップ126においてC
CD28による通常の撮影動作(CCDビデオ制御)が
オン状態に定められ、この検出動作は終了する。
【0050】ステップ123において実行される演算処
理の内容を図7〜図10を参照して説明する。反射率R
の被計測物体が照明され、この被計測物体が輝度Iの2
次光源と見做されてCCDに結像された場合を想定す
る。このとき、電荷蓄積時間tの間にフォトダイオード
に発生した電荷が積分されて得られる出力Snは、 Sn=k・R・I・t ・・・(2) で表される。ここでkは比例定数で、撮影レンズのFナ
ンバーや倍率等によって変化する。
【0051】被計測物体がレーザ等の光源からの光で照
明される場合、輝度Iはその光源による輝度IS と背景
光による輝度IB との合成されたものとなり、 I=IS +IB ・・・(3) と表せる。
【0052】図7に示されるようにパルス状の電荷蓄積
時間をTU1、測距光S3のパルス幅をTS 、距離情報の
信号電荷S6のパルス幅をTD とし、1フィールド期間
中のその電荷蓄積時間がN回繰り返されるとすると、得
られる出力S10は、 S10=Σ(k・R(IS ・TD +IB ・TU1)) =k・N・R(IS ・TD +IB ・TU1) ・・・(4) となる。なお、パルス幅TD は TD =TU1−δ・t =TU1−2r/C ・・・(5) と表せる。
【0053】図9に示されるようにパルス状の電荷蓄積
時間TU2が、測距光S23の期間(パルス幅)TS より
も十分大きく、反射光の単位受光時間を全部含むように
制御された場合に得られる出力S20は、 S20=Σ(k・R(IS ・TS +IB ・TU2)) =k・N・R(IS ・TS +IB ・TU2) ・・・(6) となる。
【0054】図8に示されるように発光を止めて、図7
と同じ時間幅でのパルス状の電荷蓄積を行なった場合に
得られる出力S11は、 S11=Σ(k・R・IB ・TU1) =k・N・R・IB ・TU1 ・・・(7) となる。同様に、図10に示されるような電荷蓄積を行
なった場合に得られる出力S21は、 S21=Σ(k・R・IB ・TU2) =k・N・R・IB ・TU2 ・・・(8) となる。
【0055】(4)、(6)、(7)、(8)式から、 SD =(S10−S11)/(S20−S21) =TD /TS ・・・(9) が得られる。
【0056】上述したように測距光S3と反射光S4に
はそれぞれ外光等の外乱成分(背景光による輝度IB
が含まれている。(9)式のTD /TS は、測距光S3
を照射したときの被計測物体からの反射光S4の光量
を、測距光S3の光量によって正規化したものであり、
これは、測距光S3の光量(図7の信号電荷S6に相
当)から外乱成分(図8の信号電荷S16に相当)を除
去した値と、反射光S4の光量(図9の信号電荷S26
に相当)から外乱成分(図10の信号電荷S36に相
当)を除去した値との比に等しい。
【0057】(9)式の各出力値S10、S11、S20、S
21はステップ107、112、117、122におい
て、距離情報、距離補正情報、反射率情報、反射率補正
情報として格納されている。したがって、これらの情報
に基いて、TD /TS が得られる。パルス幅TS は既知
であるから、(5)式とTD /TS から距離rが得られ
る。
【0058】このように(5)式と(9)式に基いてカ
メラ本体から被計測物体の表面の各点までの距離情報が
補正され、この距離情報の検出精度が向上する。
【0059】なお第2の実施形態では、被計測物体の距
離情報に対して、外光等の影響が除去されていたが、外
光等の影響が無視できるときは、(9)式において外光
等の影響に関する信号電荷の積分値(すなわちS11、S
21)を省略すればよい。これにより、被計測物体の表面
の反射率のみに関する補正が行なわれる。
【0060】また第2の実施形態において、ステップ1
05、110、115、120では、1フィールド期間
の間、信号電荷の蓄積が行なわれているが、これに代え
て、複数フィールド期間、電荷蓄積を行なうようにして
もよい。
【0061】図13〜図17を参照して第3の実施形態
を説明する。なお、第3の実施形態における機械的およ
び電気的構成は第1の実施形態と同様である。
【0062】図13は、被計測物体の表面の各点までの
距離に関するデータを検出する距離情報検出動作のタイ
ミングチャートである。第3の実施形態では、図7に示
される第1の実施形態と比較して、電荷掃出し信号と電
荷転送信号の出力タイミングは測距光の出力タイミング
よりも相対的に遅い。図1、図5、図6および図13を
参照して第3の実施形態の距離情報検出動作を説明す
る。
【0063】垂直同期信号(図示せず)の出力に同期し
て電荷掃出し信号S41が出力される。これによりフォ
トダイオード51に蓄積していた不要電荷が基板53の
方向に掃出され、フォトダイオード51における蓄積電
荷量はゼロになる(符号S42)。電荷掃出し信号S4
1の出力の開始の後、測距光S43が出力される。測距
光S43が出力される期間は調整可能であり、図示例で
は、電荷掃出し信号S41の出力の終了前に測距光S4
3がオフするように調整されている。
【0064】測距光S43は被計測物体において反射
し、CCD28に入射する。すなわちCCD28によっ
て被計測物体からの反射光S44が受光されるが、電荷
掃出し信号S41が出力されている間は、フォトダイオ
ード51において電荷は蓄積されない(符号S42)。
電荷掃出し信号S41の出力が停止されると、フォトダ
イオード51では、反射光S44の受光によって電荷蓄
積が開始され、反射光S44と外光に起因する信号電荷
S45が発生する。反射光S44が消滅すると(符号S
46)フォトダイオード51では、反射光に基づく電荷
蓄積は終了するが(符号S47)、外光のみに起因する
電荷蓄積が継続する(符号S48)。
【0065】その後、電荷転送信号S49が出力される
と、フォトダイオード51に蓄積された電荷が垂直転送
部52に転送される。この電荷転送は、電荷転送信号の
出力の終了(符号S50)によって完了する。すなわ
ち、外光が存在するためにフォトダイオード51では電
荷蓄積が継続するが、電荷転送信号の出力が終了するま
でフォトダイオード51に蓄積されていた信号電荷S5
1が垂直転送部52へ転送される。電荷転送信号の出力
終了後に蓄積している電荷S54は、そのままフォトダ
イオード51に残留する。
【0066】このように電荷掃出し信号S41の出力の
終了から電荷転送信号S49の出力が終了するまでの期
間TU3の間、フォトダイオード51には、被計測物体ま
での距離に対応した信号電荷が蓄積される。なお図7
(第1の実施形態)では、電荷転送信号S5の出力開始
によってフォトダイオード51における電荷蓄積が終了
するように示されているが、厳密には、上述したように
電荷蓄積は電荷転送信号が出力されている間にも行なわ
れ、電荷転送信号の出力終了までにフォトダイオード5
1に蓄積している電荷が垂直転送部52へ転送される。
【0067】このように第3の実施形態では、電荷掃出
し信号S41の出力が終了することによって、フォトダ
イオード51において電荷蓄積が開始する。そして、反
射光S44の受光終了(符号S46)までフォトダイオ
ード51に蓄積している電荷が、外光と被計測物体の距
離情報とに対応した信号電荷S52として垂直転送部5
2へ転送され、その他の信号電荷S53は外光のみに起
因するものである。
【0068】信号電荷S51の垂直転送部52への転送
動作は、第1の実施形態と同様に、次の垂直同期信号が
出力されるまで、繰り返し実行される。これにより垂直
転送部52において、信号電荷S51が積分され、1フ
ィールドの期間に積分された信号電荷S51は、その期
間被計測物体が静止していると見做せれば、被計測物体
までの距離情報に対応している。
【0069】図14を参照して、第1および第3の実施
形態における距離情報検出動作の差異を説明する。この
図において、図7および図13に示された信号に対応す
る信号には同じ符号が付されている。
【0070】第1の実施形態では、電荷掃出し信号S2
の出力の終了と略同時に測距光S3が出力され、測距光
S3の出力終了前に電荷転送信号S5が出力される。電
荷転送信号S5は、反射光S4がCCDによって受光さ
れている間に出力され、これによりフォトダイオードに
蓄積された電荷S6が垂直転送部に転送される。すなわ
ち電荷蓄積期間TU1は、電荷掃出し信号S2の出力の終
了から電荷転送信号S5の出力の終了までである。
【0071】電荷掃出し信号S2の出力終了から反射光
S4の受光開始までの期間Taでは、フォトダイオード
には外光に起因する信号電荷S’6が蓄積される。これ
に対し、反射光S4の受光開始から電荷転送信号S5の
出力終了までの期間Tbでは、反射光S4と外光の両者
に起因する信号電荷S”6が蓄積される。
【0072】第3の実施形態では、測距光S43が出力
された後に電荷掃出し信号S41が出力される。そし
て、反射光S44が終了した後、電荷転送信号S49が
出力されることにより、それまでフォトダイオードに蓄
積されていた信号電荷S55が垂直転送部に転送され
る。すなわち電荷蓄積期間TU3は、電荷掃出し信号S4
1の出力の終了から電荷転送信号S49の出力の終了ま
でである。
【0073】このように、電荷掃出し信号S41の出力
終了から反射光S44の受光終了までの期間Tcでは、
フォトダイオードには反射光S44と外光に起因する信
号電荷S45が蓄積される。これに対し、反射光S44
の受光終了から電荷転送信号S49の出力終了までの期
間Tdでは、外光のみに起因する信号電荷S48が蓄積
される。
【0074】第1の実施形態では、電荷転送信号S5が
出力されている間、フォトダイオードにおいて反射光S
4が受光されるのに対し、第3の実施形態では、電荷転
送信号S49が出力されている間、フォトダイオードに
おいて反射光は受光されない。したがって、1回の電荷
蓄積によりフォトダイオードにおいて蓄積される信号電
荷は、第3の実施形態の方が相対的に少ない。このため
第3の実施形態によれば、フォトダイオードにおいて電
荷がオーバーフローするおそれが少ないので、1フィー
ルドの期間における積分の回数を第1の実施形態よりも
増加させることができ、被計測物体の距離情報をより高
精度に検出することができる。
【0075】第3の実施形態では、第2の実施形態と同
様に、距離補正情報と反射率情報と反射率補正情報とが
検出され、被計測物体の距離情報が補正される。
【0076】図15は距離補正情報の検出動作を示すタ
イミングチャートである。距離補正情報は、光源が消灯
された状態で、電荷掃出し信号S61と電荷転送信号S
62を交互に出力させることにより行なわれる。電荷蓄
積時間TU3は図13に示す距離情報検出動作と同じであ
るが、被計測物体に測距光が照射されないため(符号S
63)、反射光は存在しない(符号S64)。したがっ
て、距離情報の信号電荷は発生しないが、CCDには外
光等の外乱成分が入射するため、この外乱成分に対応し
た信号電荷S65が発生し、電荷転送信号S62の出力
によって、それまでフォトダイオードに蓄積していた信
号電荷S66が垂直転送部へ転送される。この信号電荷
S66は距離補正情報に対応している。
【0077】図16は反射率情報の検出動作を示すタイ
ミングチャートである。電荷掃出し信号S71が出力さ
れることによって、フォトダイオードにおける蓄積電荷
量はゼロになる(符号S72)。電荷掃出し信号S71
の出力が終了すると、測距光S73が出力され、CCD
には反射光S74が入射する。反射光S74が消滅した
後、電荷転送信号S75が出力される。すなわち反射率
情報の検出動作は、電荷掃出し信号S71の出力が終了
してから電荷転送信号S75の出力が終了するまでの電
荷蓄積期間Tu4内に、反射光S75の全てが受光される
ように制御される。
【0078】このようにフォトダイオードでは、反射光
S74を受光している間は反射光S74と外光に起因す
る信号電荷S76が蓄積され、また、反射光S74を受
光していない間は外光のみに起因する信号電荷S77、
S78が蓄積される。そして電荷転送信号S75の出力
により、それまでフォトダイオードに蓄積されていた信
号電荷S79が垂直転送部へ転送される。この信号電荷
S79は反射率情報に対応し、外光に基づく成分S’7
9を含んでいる。
【0079】図17は反射率補正情報の検出動作を示す
タイミングチャートである。反射率補正情報は、光源が
消灯された状態で、電荷掃出し信号S81と電荷転送信
号S82を交互に出力させることにより行なわれる。電
荷蓄積時間TU4は図16に示す反射率情報検出動作と同
じであるが、被計測物体に測距光が照射されないため
(符号S83)、反射光は存在せず(符号S84)、し
たがって、反射率情報の信号電荷は発生しないが、CC
Dには外光等の外乱成分に対応した信号電荷S86が発
生する。そして、電荷転送信号S82の出力によって、
それまでフォトダイオードに蓄積していた信号電荷S8
7が垂直転送部へ転送される。この信号電荷S86は反
射率補正情報に対応している。
【0080】このようにして得られた距離補正情報と反
射率情報と反射率補正情報は、図12のステップ123
に関して説明したのと同様にして、距離情報を補正する
ために用いられる。
【0081】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、光シャッ
タを必要とせず小型で安価であり、しかも十分に大きい
出力を得ることのできる3次元画像入力装置を得ること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態である3次元画像入力装置
を備えたカメラの斜視図である。
【図2】図1に示すカメラの回路構成を示すブロック図
である。
【図3】測距光による距離測定の原理を説明するための
図である。
【図4】測距光、反射光、ゲートパルス、およびCCD
が受光する光量分布を示す図である。
【図5】CCDに設けられるフォトダイオードと垂直転
送部の配置を示す図である。
【図6】CCDを基板に垂直な平面で切断して示す断面
図である。
【図7】被計測物体までの距離に関するデータを検出す
る距離情報検出動作のタイミングチャートである。
【図8】距離補正情報の検出動作のタイミングチャート
である。
【図9】反射率情報の検出動作のタイミングチャートで
ある。
【図10】反射率補正情報の検出動作のタイミングチャ
ートである。
【図11】第2の実施形態における距離情報検出動作の
フローチャートである。
【図12】第2の実施形態における距離情報検出動作の
フローチャートである。
【図13】第3の実施形態における距離情報検出動作の
タイミングチャートである。
【図14】第1および第3の実施形態における距離情報
検出動作を比較して示すタイミングチャートである。
【図15】第3の実施形態における距離補正情報の検出
動作のタイミングチャートである。
【図16】第3の実施形態における反射率情報の検出動
作のタイミングチャートである。
【図17】第3の実施形態における反射率補正情報の検
出動作のタイミングチャートである。
【符号の説明】
10 カメラ本体 14 発光装置 15 レリーズスイッチ 51 フォトダイオード 52 垂直転送部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 瀬尾 修三 東京都板橋区前野町2丁目36番9号 旭光 学工業株式会社内 (72)発明者 垣内 伸一 東京都板橋区前野町2丁目36番9号 旭光 学工業株式会社内

Claims (14)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被計測物体に測距光を照射する光源と、 前記被計測物体からの反射光を受け、受光量に応じた電
    荷が蓄積する複数の光電変換素子と、 前記光電変換素子に隣接して設けられた信号電荷保持部
    と、 前記光電変換素子に蓄積した不要電荷を前記光電変換素
    子から掃出すことにより、前記光電変換素子における信
    号電荷の蓄積動作を開始させる蓄積電荷掃出手段と、 前記光電変換素子に蓄積した信号電荷を前記信号電荷保
    持部に転送する信号電荷転送手段と、 前記蓄積電荷掃出手段と前記信号電荷転送手段とを交互
    に駆動することにより前記信号電荷保持部において前記
    信号電荷を積分する信号電荷積分手段とを備えたことを
    特徴とする3次元画像入力装置。
  2. 【請求項2】 前記光電変換素子が基板に沿って形成さ
    れ、前記蓄積電荷掃出手段が不要電荷を前記基板側に掃
    出すことを特徴とする請求項1に記載の3次元画像入力
    装置。
  3. 【請求項3】 前記信号電荷保持部が前記信号電荷を3
    次元画像入力装置の外部に出力するための垂直転送部で
    あることを特徴とする請求項1に記載の3次元画像入力
    装置。
  4. 【請求項4】 前記光電変換素子と信号電荷保持部が、
    縦型オーバフロードレイン構造のインターライン型CC
    Dとして構成されることを特徴とする請求項1に記載の
    3次元画像入力装置。
  5. 【請求項5】 前記蓄積電荷掃出手段によって出力さ
    れ、前記不要電荷を掃出すための電荷掃出し信号と、前
    記信号電荷転送手段によって出力され、前記信号電荷を
    転送するための電荷転送信号とがそれぞれパルス信号で
    あることを特徴とする請求項1に記載の3次元画像入力
    装置。
  6. 【請求項6】 前記被計測物体の距離情報に対応した信
    号電荷が、前記電荷掃出し信号が出力された後、前記光
    電変換素子による前記反射光の受光開始から前記電荷転
    送信号の出力まで、前記光電変換素子において蓄積され
    ることを特徴とする請求項5に記載の3次元画像入力装
    置。
  7. 【請求項7】 前記被計測物体の距離情報に対応した信
    号電荷が、前記電荷掃出し信号が出力された後、前記光
    電変換素子による前記反射光の受光開始によって、前記
    光電変換素子において蓄積を開始することを特徴とする
    請求項6に記載の3次元画像入力装置。
  8. 【請求項8】 前記被計測物体の距離情報に対応した信
    号電荷が、前記電荷転送信号の出力が終了することによ
    って、前記光電変換素子における蓄積を終了することを
    特徴とする請求項6に記載の3次元画像入力装置。
  9. 【請求項9】 前記被計測物体の距離情報に対応した信
    号電荷が、前記電荷掃出し信号の出力が終了してから、
    前記光電変換素子による前記反射光の受光終了まで、前
    記光電変換素子において蓄積されることを特徴とする請
    求項5に記載の3次元画像入力装置。
  10. 【請求項10】 前記被計測物体の距離情報に対応した
    信号電荷が、前記電荷掃出し信号の出力が終了すること
    によって、前記光電変換素子において蓄積を開始するこ
    とを特徴とする請求項9に記載の3次元画像入力装置。
  11. 【請求項11】 前記光源によって、パルス状の測距光
    が出力され、前記電荷掃出し信号が出力されてから前記
    電荷転送信号が出力されるまでの第1の電荷蓄積期間
    中、前記測距光のパルスが出力されることによって、前
    記被計測物体の距離情報に対応した信号電荷が前記信号
    電荷保持部において積分されることを特徴とする請求項
    5に記載の3次元画像入力装置。
  12. 【請求項12】 前記電荷掃出し信号が出力されてから
    前記電荷転送信号が出力されるまでの第2の電荷蓄積期
    間内に前記反射光の全てが受光されるように制御するこ
    とによって、前記被計測物体の反射率に依存する反射率
    情報に対応した信号電荷が前記信号電荷保持部において
    積分され、前記距離情報を前記反射率情報によって正規
    化することにより、前記距離情報における反射率の影響
    が低減されることを特徴とする請求項11に記載の3次
    元画像入力装置。
  13. 【請求項13】 前記光源を消灯させた状態で前記第1
    の電荷蓄積期間を用いて距離補正情報を検出し、前記距
    離補正情報を補正した前記距離情報によって、前記正規
    化が実行されることを特徴とする請求項12に記載の3
    次元画像入力装置。
  14. 【請求項14】 前記光源を消灯させた状態で前記第2
    の電荷蓄積期間を用いて反射率補正情報を検出し、前記
    反射率補正情報を補正した前記反射率情報とによって、
    前記正規化が実行されることを特徴とする請求項12に
    記載の3次元画像入力装置。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002191554A (ja) * 2000-12-26 2002-07-09 Asahi Optical Co Ltd 3次元画像検出装置を備えた電子内視鏡
JP2011022089A (ja) * 2009-07-17 2011-02-03 Panasonic Electric Works Co Ltd 空間情報検出装置
JP2011022088A (ja) * 2009-07-17 2011-02-03 Panasonic Electric Works Co Ltd 空間情報検出装置
US8102426B2 (en) 1998-09-28 2012-01-24 Microsoft International Holdings B.V. 3D vision on a chip
WO2015025497A1 (ja) * 2013-08-23 2015-02-26 パナソニックIpマネジメント株式会社 測距システム及び信号発生装置

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8102426B2 (en) 1998-09-28 2012-01-24 Microsoft International Holdings B.V. 3D vision on a chip
JP2002191554A (ja) * 2000-12-26 2002-07-09 Asahi Optical Co Ltd 3次元画像検出装置を備えた電子内視鏡
JP2011022089A (ja) * 2009-07-17 2011-02-03 Panasonic Electric Works Co Ltd 空間情報検出装置
JP2011022088A (ja) * 2009-07-17 2011-02-03 Panasonic Electric Works Co Ltd 空間情報検出装置
WO2015025497A1 (ja) * 2013-08-23 2015-02-26 パナソニックIpマネジメント株式会社 測距システム及び信号発生装置
CN105452807A (zh) * 2013-08-23 2016-03-30 松下知识产权经营株式会社 测距系统、以及信号产生装置
JPWO2015025497A1 (ja) * 2013-08-23 2017-03-02 パナソニックIpマネジメント株式会社 測距システム、およびそれに用いる固体撮像素子
US10151835B2 (en) 2013-08-23 2018-12-11 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Distance measurement system and solid-state imaging sensor used therefor
US11422256B2 (en) 2013-08-23 2022-08-23 Nuvoton Technology Corporation Japan Distance measurement system and solid-state imaging sensor used therefor

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