JP2000068761A - 半導体増幅回路 - Google Patents

半導体増幅回路

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 理想的な特性を有する積分器が構成可能なO
TA回路を得る。 【解決手段】 相互コンダクタンス制御端子にそのゲー
トを接続したMOSトランジスタ1、そのゲートを差動
入力端子に接続した一対のMOSトランジスタ2、3、
バイアス入力端子にそのゲートを接続した一対のMOS
トランジスタ4、5、MOSトランジスタ1のソース、
ドレインに接続された電流源6、7およびMOSトラン
ジスタ4、5のドレインに接続された電流源8、9によ
って構成されるOTA回路において、第4、第5のMO
Sトランジスタのソースに第1、第2の容量を付加し
て、半導体増幅器を構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体集積回路に
搭載する半導体増幅回路に関するものであり、特にMO
Sトランジスタを使用したOTA(Operational Transco
nductance Amplifier)構造を有する半導体増幅器に関す
る。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体集積回路の集積度の向上に
伴い、従来は外付け部品であった信号処理のためのフィ
ルタ等を集積回路に搭載することが望まれている。集積
回路に搭載するアクティブフィルタとして積分器が用い
られるが、クオリティファクター(以下、Q値と略す)
の高いフィルタを実現するためには、理想に近い積分器
が望まれる。
【0003】アクティブフィルタに用いる積分器の回路
構成には種々のものがあるが、Gm−C構成の積分器は
より高周波数まで扱えると言う点で有利な特性を有して
いる。Gm−C構成の積分器は、GmアンプであるOT
A回路と容量負荷Cによって構成される。OTA回路と
しては、線形領域で動作するMOSトランジスタを用い
たものが、その良好な線形特性により優れている。
【0004】図1に従来の一般的なOTAの回路構成を
示す。このOTA回路は、線形領域で動作する第1のM
OSトランジスタ1と、そのゲートを差動入力端子In
+、In−に接続しかつそのソースをMOSトランジス
タ1のソース・ドレイン間に接続した第2、第3のMO
Sトランジスタ2、3を有している。このMOSトラン
ジスタ2、3のドレインには、一定のバイアス電圧信号
を入力するための第4、第5のMOSトランジスタ4、
5のソースが接続されている。なお、このバイアス信号
は、MOSトランジスタ4、5のゲートに入力される。
【0005】更に、第1のMOSトランジスタ1のソー
ス、ドレインに第1、第2の電流源6、7が、第4、第
5のMOSトランジスタ4、5のドレインに第3、第4
の電流源8、9が接続されている。差動出力端子Out
+、Out−は、第4、第5のMOSトランジスタ4、
5のドレインと各電流源8、9間に設けられる。なお、
図1に示すOTA回路の相互コンダクタンスGmは、G
m制御端子である第1のトランジスタ1のゲートに入力
される電圧によって制御される。またバイアス信号が入
力される第4、第5のMOSトランジスタ4、5は、こ
のOTA回路の出力抵抗Roを増大させるためのもので
ある。
【0006】以上のような一般的なOTA回路におい
て、その各出力端子Out+、Out−に負荷容量CL
を接続することにより、積分器が構成される。このよう
にして構成された積分器のゲイン・位相特性図を図2に
示す。また図2の特性図を基にしてこの積分器の等価回
路を構成すると、図3に示すものが得られる。なお図3
の等価回路は、シングルエンドとして簡略化して示して
いる。
【0007】図3において、RO は出力抵抗、CL は積
分器を構成するための負荷容量である。バイアス端子が
接続される図1のMOSトランジスタ対4、5は、この
出力抵抗RO を増大させるためのものである。GO は出
力コンダクタンスであって、図1のMOSトランジスタ
対4、5によって決まる値である。CM は、第4、第5
のMOSトランジスタ対4、5に起因する寄生容量(主
にチャネルおよびジャンクション容量)であり、第2、
第3のMOSトランジスタ対2、3のドレイン端子に付
くものである。
【0008】さらにGI は入力コンダクタンスを示し、
図1のMOSトランジスタ対2、3によって決まる値で
ある。Rc は線形領域で動作するMOSトランジスタ1
のオン抵抗、Cc は第1、第2および第3のMOSトラ
ンジスタ1、2、3に起因する寄生容量である。なおM
OSトランジスタ1のオン抵抗Rc は、Gm制御端子の
電圧によってその値が制御される。
【0009】以上の様な回路構成を有する積分器におい
て、その特性角周波数は、ゲインが0dBとなる1/
(Rc L )である。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】OTA回路を用いた従
来の積分器では、図2に示す様に、寄生容量Cc によっ
て角周波数1/(Rc c )に寄生の零点、および角周
波数GO /CM に寄生の極が形成される。寄生の零点1
/(Rc c )の存在によって、使用帯域で積分器の位
相が進むと、図2の位相特性図に示すように位相曲線が
−90°より持ち上がってしまい、積分器としての特性
を劣化させる。その結果フィルタのQ値も小さくなり、
高Q値のフィルタの設計が困難となる。
【0011】従って、理想的な特性を有する積分器を得
るためには、積分器の動作範囲を狭めるこのような零点
は存在しない方が良いが、MOSトランジスタを使用す
る限りこのような零点および極は避けえない。寄生容量
c を小さくすると、この寄生の零点1/(Rc c
は高周波数側に移動し、そのため図2の位相の持ち上が
り点も高周波数側に移動するので、この零点による悪影
響は小さくなる。寄生容量Cc を小さくするためには線
形領域で動作するMOSトランジスタ1、2および3の
サイズを小さくする必要がある。ところが、MOSトラ
ンジスタのサイズを小さくすると、Gm値の相対精度が
悪化する。従って、寄生容量を小さくすることによって
積分器の周波数特性を改善しようとする試みは、あまり
実現性がない。
【0012】本発明は、従来のOTA回路における上記
の問題を解決すべくなされたものであり、線形領域で動
作するMOSトランジスタのサイズを小さくすることな
く、寄生容量Cc によって生じる零点を補償し、高Q値
のフィルタを実現することが可能な半導体増幅回路を提
供する目的でなされたものである。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記課題は、一対の差動
入力端子と、そのゲートを相互コンダクタンス制御端子
に接続した第1のMOSトランジスタと、そのゲートを
差動入力端子に接続しそのソースを前記第1のMOSト
ランジスタのソース、ドレインの何れかに接続した一対
の第2、第3のMOSトランジスタと、そのゲートを一
定のバイアス信号入力端子に接続しそのソースを第2、
第3のMOSトランジスタのそれぞれのドレインに接続
した一対の第4、第5のMOSトランジスタと、第1の
MOSトランジスタのソース、ドレインにそれぞれ接続
した第1、第2の電流源と、第4および第5のMOSト
ランジスタのドレインにそれぞれ接続した第3、第4の
電流源と、第4、第5のMOSトランジスタのドレイン
と第3、第4の電流源間に設けた一対の差動出力端子
と、更に第4、第5のMOSトランジスタのそれぞれの
ソースに一端を接続し他端を固定電位に接続した第1、
第2の容量とを具備する、半導体増幅回路によって達成
される。
【0014】以上の構成を有する半導体増幅回路では、
第1、第2の容量の値を選択することによって、第4、
第5のMOSトランジスタに起因する寄生容量の値を見
かけ上制御することができる。従って、この回路の差動
出力端子に負荷容量を接続して積分器を構成した場合、
第4、第5のMOSトランジスタに起因する寄生容量に
よって生じるゲイン・位相特性上の寄生の極を、第1、
第2の容量の選択によって移動させることができる。そ
のため、第1、第2および第3のMOSトランジスタに
起因する寄生容量によって発生する寄生の零点方向へ、
前記の極を移動させることにより、寄生の零点が存在す
ることによる悪影響を補償し、理想に近い特性を有する
積分器を構成することが可能となる。
【0015】
【発明の実施の形態】本発明では、寄生容量Cc を小さ
くすることによって図2に示す寄生の零点1/(Rc
c )を高周波数側に移動させる代わりに、寄生の極GO
/CM を寄生の零点方向、即ち低周波数側に移動させる
ことによって、この零点が存在することによる位相特性
への悪影響を補償しようとするものである。図2に示す
特性図において、寄生の極GO /CM よりも角周波数が
進むと、ゲインは再び減少を開始し、その結果零点の影
響で一旦持ち上がった位相曲線も、再び−90°に向か
って低下を始める。
【0016】従って、理想的には寄生の極GO /CM
寄生の零点1/(Rc c )まで低周波数側に移動させ
ると、この零点における影響が補償され、位相はより高
周波数側まで−90°近くを維持するようになり、積分
器としての特性が向上する。GO はバイアス端子が接続
されたMOSトランジスタ対4、5で決まる出力コンダ
クタンスであり、あまり変化させることはできない。
【0017】そのため本発明では、トランジスタ対2、
3のドレインに付く容量CM の値を調整することによっ
て、寄生の極GO /CM を低周波数側に移動させ、零点
の悪影響を補償する構成を取る。以下に本発明の実施例
を図面を参照して説明する。なお、以下に示す図面にお
いて、図1と同じ符号は同一または類似の構成要素を示
し、従ってその説明は重複しない。
【0018】図4は本発明の第1の実施例にかかるOT
A回路の回路図である。図示するようにこの実施例で
は、図1に示す従来のOTA回路に対して、MOSトラ
ンジスタ対4、5のソースに、新たに容量10、11を
付加した構成を特徴とする。図4では、容量10、11
の一端は接地されているが、必ずしも接地する必要はな
く、固定電位であれば良い。
【0019】容量10、11の大きさは、MOSトラン
ジスタ4、5に起因する寄生容量C M との合成値CM
が、GO /CMの値を出来るだけ1/(Rc c )の値
に近づける様に選択する。この様にすることによって、
Gm値の相対バラツキを増大させることなく、寄生容量
c による零点の積分器特性に与える悪影響を低減でき
るので、Gm−C構成の積分器が理想的な積分器の特性
に近くなる。
【0020】なお、このOTA回路によって積分器を構
成する場合は、出力端子Out+およびOut−に、図
に点線で示すように負荷容量CL を接続する。図5は本
発明の第2の実施例のOTA回路を示す。この実施例で
は、上記容量10、11を、MOSトランジスタ12、
13で構成したことを特徴とする。なお、MOSトラン
ジスタ12、13は図5に示すようにそのソースおよび
ドレインを接続しかつゲートを固定電位に接続して容量
として動作するように構成されている。
【0021】この実施例では、実際の半導体装置の製造
に当たって、他のMOSトランジスタと同一の製造工程
においてMOSトランジスタ12、13を製造すること
が可能である。これによって、零点を発生させるMOS
トランジスタの寄生容量Ccと、極を生み出すMOSト
ランジスタ12、13の容量とが比例関係となり、容量
c の変動による寄生零点の移動と容量CMの変動によ
る極の移動が同じとなる。その結果容量CMは製造工程
の変動に伴う容量Cc の変動の影響を受けず、設計通り
の結果を得ることができる。
【0022】図6は本発明の第3の実施例のOTA回路
を示す。この実施例では、図5に示す容量10、11の
値を出来るだけ小さくしようとするものであり、そのた
めに、MOSトランジスタ対4、5のソース間に、無極
性の容量14を接続した構成を取る。この構成によっ
て、図4、5に示した各実施例の場合に比べて、その必
要な容量は1/4となる。
【0023】
【発明の効果】以上、実施例を挙げて説明したように、
本発明によればOTA回路のGm値の相対バラツキを増
大させることなく、寄生容量による零点の影響を出来る
だけ低減することが可能である。そのため、このOTA
回路をGm−C構成の積分器として用いた場合、その角
周波数−位相特性は理想的な積分器の特性に近くなるの
で、半導体集積回路に搭載可能な高Q値のフィルタを得
ることができる。これによって、フィルタを用いる装置
全体の小型化に寄与するところが大きい。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来のOTA回路の回路構成を示す図。
【図2】図1のOTA回路を積分器として使用した場合
のゲイン・位相特性を示すグラフ。
【図3】図2の特性を示す積分器の等価回路図。
【図4】本発明の第1の実施例にかかるOTA回路の回
路図。
【図5】本発明の第2の実施例にかかるOTA回路の回
路図。
【図6】本発明の第3の実施例にかかるOTA回路の回
路図。
【符号の説明】
1、2、3、4、5…MOSトランジスタ 6、7、8、9…電流源 10、11…容量 12、13…MOSトランジスタ 14…容量

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一対の差動入力端子と、そのゲートを相
    互コンダクタンス制御端子に接続した第1のMOSトラ
    ンジスタと、そのゲートを前記差動入力端子に接続しそ
    のソースを前記第1のMOSトランジスタのソース、ド
    レインの何れかに接続した一対の第2、第3のMOSト
    ランジスタと、そのゲートを一定のバイアス信号入力端
    子に接続しそのソースを前記第2、第3のMOSトラン
    ジスタのドレインにそれぞれ接続した一対の第4、第5
    のMOSトランジスタと、前記第1のMOSトランジス
    タのソース、ドレインにそれぞれ接続した第1、第2の
    電流源と、前記第4および第5のMOSトランジスタの
    ドレインにそれぞれ接続した第3、第4の電流源と、前
    記第4、第5のMOSトランジスタのドレインと前記第
    3、第4の電流源間に設けた一対の差動出力端子と、更
    に前記第4、第5のMOSトランジスタのそれぞれのソ
    ースに一端を接続し他端を固定電位に接続した第1、第
    2の容量とを具備する、半導体増幅回路。
  2. 【請求項2】 前記第1、第2の容量は、前記差動出力
    端子に負荷容量を接続して構成する積分器のゲイン・位
    相特性において、前記第1、第2および第3のMOSト
    ランジスタに起因する寄生容量によって生じる寄生の零
    点を、前記第4、第5のMOSトランジスタに起因する
    寄生容量と前記第1、第2の容量との合計の容量で生じ
    る寄生の極によって補償するように、その値が選択され
    るものである、請求項1に記載の半導体増幅回路。
  3. 【請求項3】 前記第1、第2の容量は、そのゲートを
    固定電位に接続し、そのソース、ドレイン間を共通に接
    続しかつ前記第4、第5のMOSトランジスタのソース
    にそれぞれ接続した第6、第7のMOSトランジスタで
    構成されるものである、請求項1または2に記載の半導
    体増幅回路。
  4. 【請求項4】 前記第1、第2の容量は、前記第4およ
    び第5のMOSトランジスタのソース間に接続された一
    個の容量によって構成されるものである、請求項1また
    は2に記載の半導体増幅回路。
  5. 【請求項5】 請求項1乃至4の何れか1項に記載の半
    導体増幅回路の差動出力端子に負荷容量を接続して構成
    した積分器。
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