JP2000065734A - 表面プラズモン共鳴角検出装置におけるガラス基板取付け構造及びその方法 - Google Patents
表面プラズモン共鳴角検出装置におけるガラス基板取付け構造及びその方法Info
- Publication number
- JP2000065734A JP2000065734A JP23756598A JP23756598A JP2000065734A JP 2000065734 A JP2000065734 A JP 2000065734A JP 23756598 A JP23756598 A JP 23756598A JP 23756598 A JP23756598 A JP 23756598A JP 2000065734 A JP2000065734 A JP 2000065734A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- prism
- glass substrate
- support
- substrate holder
- prism support
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
Landscapes
- Optical Measuring Cells (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
に位置決めして共鳴角検出精度を向上することができる
SPR検出装置のガラス基板取付け構造及びその方法の
提供。 【解決手段】プリズム5を支持するプリズム支持体3の
支持凹所周縁の上面に少なくとも1個の被係合凹部3b
を形成する。プリズム上面に相対して設けられる基板ホ
ルダ27の開口内に、上面に金属薄膜が成膜されたガラ
ス基板25を取付けると共に該開口周縁に被係合凹部に
相対する係合凸部を設ける。プリズム支持体3に対して
ガラス基板25の金属薄膜に相対してフローセル9aが
設けられたセルブロック9を移動可能に支持する。プリ
ズム支持体3及びセルブロック9相互を弾性部材により
常に圧接する方向へ付勢する。
Description
上の試料溶液に対する光の吸光度が最大になる共鳴角に
より試料成分を特定する表面プラズモン共鳴角検出装置
(以下、SPR検出装置という)におけるガラス基板取
付け構造及びその方法に関する。
サーチップは、光源からの光を収束させるプリズムと、
該プリズムに密着配置され、プリズムと反対側の面に金
属薄膜が成膜されたガラス基板と、金属薄膜側のガラス
基板に密着され、金属薄膜箇所に試料溶液を溜めるフロ
ーセルを有したセルブロックとから構成されている。そ
の内、ガラス基板の金属薄膜には試料溶液中の特定の物
質を検出するための抗体や試薬(以下、抗体等という)
が予め固定化されているが、この抗体等は共鳴角検出後
に金属薄膜に付着した試料溶液を洗浄する塩酸等により
洗い流されたりしている。このため、適宜の共鳴角検出
作業数毎にガラス基板を交換する必要があった。
R検出装置のフレームに固定されたプリズム支持体に対
し、セルブロックに固定されたガイドロッドを摺動可能
に支持すると共にガイドロッドの端部に圧縮ばねを取付
け、常には圧縮ばねの弾性力によりセルブロックをプリ
ズム支持体側へ付勢する一方、プリズム支持体に対して
セルブロックを押し上げた際には両者の間隙内にガラス
基板を装着可能にしていたが、上記構造のセンサーチッ
プにあっては、プリズム支持体にガラス基板を差し込ん
で取付ける際に、プリズムとガラス基板に成膜された金
属薄膜とを一致させるのに手間がかかって作業効率が悪
いと共に正確に位置決めできなかった。
基板を差し込む際に、ガラス基板がプリズム、プリズム
支持体やセルブロックが接触してガラス基板が汚れて屈
折率が変化するおそれがあった。プリズムとガラス基板
との間の屈折率が変化した場合には、試料溶液の共鳴角
を正確に検出できなかった。
ために発明されたものであり、その課題とする処は、簡
易な作業によりプリズムとガラス基板を正確に位置決め
して共鳴角検出精度を向上することができるSPR検出
装置のガラス基板取付け構造及びその方法を提供するこ
とにある。
ガラス基板の汚れを防止し、共鳴角検出を正確に行うこ
とを可能にするSPR検出装置のガラス基板取付け構造
及びその方法を提供することにある。
ガラス基板に成膜された金属薄膜上の試料溶液にプリズ
ムを介して光を照射して金属薄膜からの反射光強度によ
り共鳴角を検出して試料成分を特定する表面プラズモン
共鳴角検出装置において、プリズムを支持する支持凹所
周縁の上面に少なくとも1個の被係合凹部が形成された
プリズム支持体と、プリズム上面に相対して設けられた
開口内に、上面に金属薄膜が成膜されたガラス基板が取
付けられると共に該開口周縁に被係合凹部に相対する係
合凸部が設けられた基板ホルダと、プリズム支持体に対
して移動可能に支持され、ガラス基板の金属薄膜に相対
してフローセルが設けられたセルブロックと、プリズム
支持体及びセルブロック相互を常に圧接する方向へ付勢
する弾性部材とからガラス基板の取付け構造を構成す
る。
間に基板ホルダを差し込む際にはプリズム支持体の上面
に当接する係合凸部によりプリズム支持体及びプリズム
にガラス基板が直接接触するのを回避する。又、差し込
み時においては係合凸部を被係合凹部に係合させてプリ
ズムにガラス基板を位置決めして取り付ける。
金属薄膜上の試料溶液にプリズムを介して光を照射して
金属薄膜からの反射光強度により共鳴角を検出して試料
成分を特定する表面プラズモン共鳴角検出装置におい
て、プリズムを支持するプリズム支持体上面の支持凹所
周縁に少なくとも1個の被係合凹部を設けると共にプリ
ズム支持体の上面に差し込まれ、プリズム上面に相対す
る開口内に、プリズムと反対側の面に金属薄膜が成膜さ
れたガラス基板が取付けられた基板ホルダの開口周縁に
被係合凹部に相対する係合凸部を設け、プリズム支持体
に対し、弾性部材の弾性力により常に圧接する方向へ移
動可能に支持する。
ローセルが設けられたセルブロックとプリズム支持体と
の間に基板ホルダを差し込む際にはプリズム支持体上面
に当接する係合凸部によりガラス基板とプリズム支持体
及びプリズムの接触を回避すると共に差し込み時におい
ては被係合凹部に対する係合凸部の係合によりプリズム
及びガラス基板相互を位置決め可能にする。
って説明する。図1はSPR検出装置の概略を示す断面
図である。図2はセンサーチップ箇所の拡大断面図であ
る。図3はガラス基板の取付け構造を示す斜視図であ
る。
と、SPR検出装置1のフレーム(図示せず)には金属
製又は合成樹脂製の四角柱形状のプリズム支持体3が取
付けられ、該プリズム支持体3には図示する上下方向に
軸線を有した軸支孔3aが形成されている。又、プリズ
ム支持体3の上部には半割り円筒形状のプリズム5が取
付けられる支持凹所3bが形成され、該支持凹所3aの
光入射側及び出射側のプリズム支持体3には光通路3c
・3dが外部と連通して対称に形成されている。各光通
路3c・3dの通路幅はプリズム5に対する光の入射及
び出射の角度が夫々35〜80度、100〜145度の
範囲となるように設定される。
には少なくとも1個の被係合凹部3eが形成されてい
る。図2に示す実施形態にあっては、後述するガラス基
板25の差込方向上手側に1個、又下手側に2個の被係
合凹部3eを設けた構造からなる。
下方が開口した支持体7が取付けられ、該支持体7内に
はセルブロック9が上下方向へ摺動可能に支持されてい
る。支持体7における下方の開口形状は後述する基板ホ
ルダ27に一致する形状からなり、該開口に対する基板
ホルダ27の係合により位置決め可能な構造になってい
る。セルブロック9の下面には軸支孔3aに軸支される
ガイドロッド11が固定され、プリズム支持体3下面か
ら突出したガイドロッド11の端部には固定板13が取
付けられると共に該固定板13とプリズム支持体3下面
の間に位置する各ガイドロッド11には圧縮ばね等の弾
性部材15が装着されている。そしてセルブロック9は
弾性部材15の弾性力により常にプリズム支持体3上面
に圧接するように付勢される。
ぼ楕円形のフローセル9aが形成され、該フローセル9
aの長軸側端部に応じたセルブロック9には供給流路9
b及び排出流路9cが夫々形成されている。そしてセル
ブロック9の供給流路9bには供給アダプター17が、
又排出流路9cには回収アダプター19がパイプ21・
23を介して夫々接続されている。供給アダプター17
及び回収アダプター19は合成樹脂材料又は金属材料か
らなり、夫々のアダプター17・19には分析作業にお
いて試料を分注する器具として使用される公知のマイク
ロピペット(図示せず)のチップを装着する装着部17
a・19aが夫々のパイプ21・23と連通して形成さ
れている。
9の下面の間にはガラス基板25が相互間内へ差し込み
可能で、かつ密着可能に取付けられる。該ガラス基板2
5はプリズム5の上面とほぼ一致する大きさで、基板ホ
ルダ27の中央部に形成された開口27aに挿嵌して取
り付けられる。又、開口27a周縁の基板ホルダ27下
面には3個の係合凸部27bが、夫々の被係合凹部3e
に相対して形成される。尚、プリズム5と反対側のガラ
ス基板25上面には金属薄膜(図示せず)がイオンプレ
ーティング法、スパッタ法及び蒸着法の何れかにより成
膜され、該金属薄膜の表面には試料溶液中の特定物質を
検出するための抗体や試薬等が予め固定化されている。
凹部3e及び基板ホルダ27に設けられた係合凸部27
bは図2に示す3組に限定されるものではなく、少なく
とも1組であればよい。被係合凹部3e及び係合凸部2
7bを1組とする場合にあっては、これら被係合凹部3
e及び係合凸部27bを基板ホルダ27の挿入方向後部
に設けると共に支持体7を規制部材とし、基板ホルダ2
7の挿入方向前端部の少なくとも一方角部を支持体7に
おける開口角部に当接するようにして位置決め可能にし
ても良い(図4参照)。
27bを基板ホルダ27の挿入方向前部及び後部に夫々
設け、基板ホルダ27の挿入方向前端面を支持体7にお
ける開口面に当接するようにして位置決め可能にしても
良い(図5参照)。又、係合凸部27bの高さは被係合
凹部3eの深さ以下となるように設定される。
光源29が、又出射側の光通路3dに応じたフレームに
は受光部材31が夫々配置されている。光源29はプリ
ズム5に対し、上記した所要の入射角度幅でガラス基板
25の金属薄膜境界面にて収束する光を照射したり、プ
リズム5の外周に沿った円弧上を所要の角度幅で回動し
てスポット光をガラス基板25の金属薄膜境界面に照射
する。又、受光部材31は、例えば上記角度幅の光を受
光可能に幅のCCDやフォトダイオードアレイ等からな
り、上記境界からの反射光強度を夫々の角度毎に検出す
る。
板25の取付け作用を説明する。図6はセルブロックを
押し上げた状態を示す断面図である。図7はガラス基板
の装着途中の状態を示す縦断面図である。
てセルブロック9を、各弾性部材1
ズム支持体3とセルブロック9の間に、ガラス基板25
差し込み用の室隙33を形成する。
を図7に実線矢印で示すように差し込むと、差し込み途
中においてはプリズム支持体3上面やプリズム5の上面
に対して係合凸部27bが当接し、ガラス基板25とプ
リズム支持体3やプリズム5とが直接接触して汚れるの
を防止することができる。そしてプリズム支持体3とセ
ルブロック9との間に基板ホルダ27を差し込んだ際に
は、図2に示すように各係合凸部27bを被係合凹部3
eに係合させてガラス基板25の金属薄膜をセルブロッ
ク9のフローセル9a下方に相対するように位置決めさ
せる。
上げを解除して各弾性部材15の弾性力によりガラス基
板25の上面に圧接させると共に該ガラス基板25下面
をプリズム5上面に密着させる。尚、プリズム5の上面
若しくはガラス基板25の下面に、屈折率がプリズム5
及びガラス基板25とほぼ一致する透明な油脂や、例え
ばシリコンゴムシート(何れも図示せず)等を介在させ
ることによりプリズム5とガラス基板25とを密着させ
ることができる。
ら試料溶液を供給してガラス基板25に対するセルブロ
ック9の圧接により閉鎖されたフローセル9a内に充満
させた状態で、プリズム5の入射側に対し、光源29か
ら光を所要の角度幅で照射すると共にガラス基板25の
金属薄膜境界面からの反射光を受光部材31により受光
し、反射光の強度が最小、従ってフローセル9a内に充
満された試料溶液に対する光の吸光度が最大になる反射
角度(共鳴角)を検出し、この共鳴角により試料成分を
特定する。
薄膜に固着された抗体等が脱離した際には、ガラス基板
25を交換する必要がある。この場合にあっては、各弾
性部材15の弾性力に抗してセルプロック9を上方へ押
し上げてプリズム支持体3上面とセルブロック9下面と
の間に空隙33を形成した後、使用済みのガラス基板2
5の基板ホルダ27を取り出した後、新たなガラス基板
25が取付けられた基板ホルダ27を上記と同様に装着
して交換する。
ロック9の空隙33内にガラス基板25が取付けられた
基板ホルダ27を差し込んで装着する際には基板ホルダ
27の係合凸部27bによりプリズム支持体3及びプリ
ズム5に対してガラス基板25が直接接触して汚れるの
を防止し、ガラス基板25の屈折率が汚れにより変化す
るのを防止することができる。又、プリズム支持体3及
びセルブロック9の間にガラス基板25を差し込んだ際
には各係合凸部27bを各被係合凹部3eに係合させる
ことによりガラス基板25の金属薄膜とフローセル9a
とを簡易に相対させることができ、位置決め作業を簡易
化することができる。
リズムとガラス基板を正確に位置決めして共鳴角検出精
度を向上することができる。又、本発明は、装着時にお
けるガラス基板の汚れを防止し、共鳴角検出を正確に行
うことができる。
である。
である。
ある。
ある。
合凹部、5 プリズム、9 セルブロック、9a フロ
ーセル、25 ガラス基板、27 基板ホルダ、27b
係合凸部、29 光源、31 受光装置
Claims (10)
- 【請求項1】ガラス基板に成膜された金属薄膜上の試料
溶液にプリズムを介して光を照射して金属薄膜からの反
射光強度により共鳴角を検出して試料成分を特定する表
面プラズモン共鳴角検出装置において、プリズムを支持
する支持凹所周縁の上面に少なくとも1個の被係合凹部
が形成されたプリズム支持体と、プリズム上面に相対し
て設けられた開口内に、上面に金属薄膜が成膜されたガ
ラス基板が取付けられると共に該開口周縁に被係合凹部
に相対する係合凸部が設けられた基板ホルダと、プリズ
ム支持体に対して移動可能に支持され、ガラス基板の金
属薄膜に相対してフローセルが設けられたセルブロック
と、プリズム支持体及びセルブロック相互を常に圧接す
る方向へ付勢する弾性部材とからなり、プリズム支持体
とセルブロックとの間に基板ホルダを差し込む際にはプ
リズム支持体の上面に当接する係合凸部によりガラス基
板とプリズム支持体及びプリズムの接触を回避すると共
に差し込み時においては被係合凹部に対する係合凸部の
係合によりプリズム及びガラス基板相互を位置決め可能
にしたガラス基板取付け構造。 - 【請求項2】請求項1において、1組の被係合凹部及び
係合凸部をプリズム支持体及び基板ホルダの挿入方向後
端部に設けると共にプリズム支持体に基板ホルダの挿入
方向前端部における少なくとも一方の角部に当接する規
制部材を設けたガラス基板取付け構造。 - 【請求項3】請求項1において、2組の被係合凹部及び
係合凸部をプリズム支持体及び基板ホルダの挿入方向前
端部及び後端部に夫々設けると共にプリズム支持体に基
板ホルダの挿入方向前端に当接する規制部材を設けたガ
ラス基板取付け構造。 - 【請求項4】請求項1において、少なくとも3組の被係
合凹部及び係合凸部をプリズム支持体及び基板ホルダに
設けたガラス基板取付け構造。 - 【請求項5】請求項1において、被係合凹部の深さD1
と係合凸部の高さH1とを、D1≧H1に設定したガラス
基板取付け構造。 - 【請求項6】ガラス基板に成膜された金属薄膜上の試料
溶液にプリズムを介して光を照射して金属薄膜からの反
射光強度により共鳴角を検出して試料成分を特定する表
面プラズモン共鳴角検出装置において、プリズムを支持
するプリズム支持体上面の支持凹所周縁に少なくとも1
個の被係合凹部を設けると共にプリズム支持体の上面に
差し込まれ、プリズム上面に相対する開口内に、プリズ
ムと反対側の面に金属薄膜が成膜されたガラス基板が取
付けられた基板ホルダの開口周縁に被係合凹部に相対す
る係合凸部を設け、プリズム支持体に対し、弾性部材の
弾性力により常に圧接する方向へ移動可能に支持され、
ガラス基板の金属薄膜に相対してフローセルが設けられ
たセルブロックとプリズム支持体との間に基板ホルダを
差し込む際にはプリズム支持体上面に当接する係合凸部
によりガラス基板とプリズム支持体及びプリズムの接触
を回避すると共に差し込み時においては被係合凹部に対
する係合凸部の係合によりプリズム及びガラス基板相互
を位置決め可能にしたガラス基板の取付け方法。 - 【請求項7】請求項6において、1組の被係合凹部及び
係合凸部をプリズム支持体及び基板ホルダの挿入方向後
端部に設けると共にプリズム支持体に基板ホルダの挿入
方向前端部における少なくとも一方の角部に当接する規
制部材を設け、該規制物材に対する角部の当接によりプ
リズム支持体に対して基板ホルダを位置決め可能にした
ガラス基板の取付け方法。 - 【請求項8】請求項6において、2組の被係合凹部及び
係合凸部をプリズム支持体及び基板ホルダの挿入方向前
端部及び後端部に夫々設けると共にプリズム支持体に基
板ホルダの挿入方向前端部に当接する規制部材を設け、
該規制物材に対する前端部の当接によりプリズム支持体
に対して基板ホルダを位置決め可能にしたガラス基板の
取付け方法。 - 【請求項9】請求項6において、少なくとも3組の被係
合凹部及び係合凸部をプリズム支持体及び基板ホルダに
設け、プリズム支持体に対して基板ホルダを位置決め可
能にしたガラス基板の取付け方法。 - 【請求項10】請求項6において、被係合凹部の深さD
1と係合凸部の高さH1とを、D1≧H1に設定したガラス
基板の取付け方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23756598A JP2000065734A (ja) | 1998-08-24 | 1998-08-24 | 表面プラズモン共鳴角検出装置におけるガラス基板取付け構造及びその方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23756598A JP2000065734A (ja) | 1998-08-24 | 1998-08-24 | 表面プラズモン共鳴角検出装置におけるガラス基板取付け構造及びその方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000065734A true JP2000065734A (ja) | 2000-03-03 |
Family
ID=17017206
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23756598A Ceased JP2000065734A (ja) | 1998-08-24 | 1998-08-24 | 表面プラズモン共鳴角検出装置におけるガラス基板取付け構造及びその方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2000065734A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000162124A (ja) * | 1998-12-01 | 2000-06-16 | Nippon Laser Denshi Kk | 表面プラズモン共鳴角検出装置のセンサーチップ |
JP2009168594A (ja) * | 2008-01-16 | 2009-07-30 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 表面プラズモン共鳴現象測定装置の試料セル固定構造 |
JP2010276489A (ja) * | 2009-05-29 | 2010-12-09 | Hitachi High-Technologies Corp | 計測装置、及び計測方法 |
CN102466624A (zh) * | 2010-11-05 | 2012-05-23 | 优志旺电机株式会社 | 表面等离子共振测量用微芯片及表面等离子共振测量装置 |
JP2014211320A (ja) * | 2013-04-17 | 2014-11-13 | タツタ電線株式会社 | 表面プラズモン共鳴センサチップ固定ホルダ |
JP2016070862A (ja) * | 2014-10-01 | 2016-05-09 | 三浦工業株式会社 | 測定治具 |
-
1998
- 1998-08-24 JP JP23756598A patent/JP2000065734A/ja not_active Ceased
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000162124A (ja) * | 1998-12-01 | 2000-06-16 | Nippon Laser Denshi Kk | 表面プラズモン共鳴角検出装置のセンサーチップ |
JP2009168594A (ja) * | 2008-01-16 | 2009-07-30 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 表面プラズモン共鳴現象測定装置の試料セル固定構造 |
JP2010276489A (ja) * | 2009-05-29 | 2010-12-09 | Hitachi High-Technologies Corp | 計測装置、及び計測方法 |
CN102466624A (zh) * | 2010-11-05 | 2012-05-23 | 优志旺电机株式会社 | 表面等离子共振测量用微芯片及表面等离子共振测量装置 |
JP2012098246A (ja) * | 2010-11-05 | 2012-05-24 | Ushio Inc | 表面プラズモン共鳴測定用マイクロチップ及び表面プラズモン共鳴測定装置 |
JP2014211320A (ja) * | 2013-04-17 | 2014-11-13 | タツタ電線株式会社 | 表面プラズモン共鳴センサチップ固定ホルダ |
JP2016070862A (ja) * | 2014-10-01 | 2016-05-09 | 三浦工業株式会社 | 測定治具 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10495530B2 (en) | Prism-coupling systems and methods for characterizing curved parts | |
JP2505710B2 (ja) | テストストリップ分析システム | |
JP5042371B2 (ja) | 測定チップ着脱装置、spr測定システム及び測定チップ着脱方法 | |
EP0863395A2 (en) | Surface plasmon sensor | |
JP6424890B2 (ja) | 表面プラズモン増強蛍光測定方法、表面プラズモン増強蛍光測定装置および分析チップ | |
JP4516477B2 (ja) | 全反射減衰を利用した測定装置及びその測定方法 | |
US5569607A (en) | Slide for the microscopic evaluation of liquid specimens | |
JP2000065734A (ja) | 表面プラズモン共鳴角検出装置におけるガラス基板取付け構造及びその方法 | |
EP0154167A3 (en) | Holder for a sample cell, particularly for use in liquid chromatography | |
JP2000065733A (ja) | 表面プラズモン共鳴角検出装置及び検出方法 | |
JP2007271361A (ja) | 測定装置及びセンサユニットの保持方法 | |
JP2002257837A (ja) | 試薬パッドの位置及び厚みを検出することによる尿試料供試用ノズル位置の制御方法 | |
US7842242B2 (en) | Optical coupling device and method | |
JP4647415B2 (ja) | 測定セル保持機構、及び、バイオセンサー | |
JP2007093443A (ja) | プレート位置調整装置、分注装置、及び、バイオセンサー | |
JP6091306B2 (ja) | 表面プラズモン共鳴センサチップ固定ホルダ | |
JP2003075337A (ja) | 集積型表面プラズモン共鳴センサ | |
US7027369B1 (en) | Optical pickup apparatus for simultaneously reading data from a plurality of tracks of an optical disc | |
EP2320232B1 (en) | Liquid sample analysis device | |
JP2007155403A (ja) | 全反射減衰を利用した測定装置及び方法 | |
EP1865304A1 (en) | Microcell and microcell holder | |
JP2006226841A (ja) | 全反射減衰を利用したセンサユニット,測定方法及び装置 | |
JP2000162124A (ja) | 表面プラズモン共鳴角検出装置のセンサーチップ | |
JP2006284350A (ja) | 分注装置及びそのピペットチップ取付方法並びに全反射減衰を利用した測定装置 | |
JP2639497B2 (ja) | 尿試験紙クランパー |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20050318 |
|
RD01 | Notification of change of attorney |
Effective date: 20050318 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050819 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Effective date: 20061013 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 |
|
A977 | Report on retrieval |
Effective date: 20070314 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Effective date: 20070417 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A045 | Written measure of dismissal of application |
Effective date: 20070821 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A045 |