JP2000037366A - 超電導磁石装置 - Google Patents
超電導磁石装置Info
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Abstract
変化による磁場補正用磁性体シムへの影響をなくし、高
均一磁場を変動することなく安定性良く発生することが
できる超電導磁石装置を得る。 【解決手段】 測定空間に配された被測定物Sに印加す
る主磁場を発生する円筒状の超電導磁石7と、超電導磁
石7を囲繞して保冷するクライオスタット1と、超電導
磁石7に対して測定空間側に配置され、前記主磁場の不
均一を補正する磁場補正用の磁性体シム8’とを備えた
超電導磁石装置において、前記磁性体シム8’はクライ
オスタット1の内部に配置されている。
Description
を画像化するNMR−CT(核磁気共鳴イメージング装
置)や、有機化合物の結合状態解析装置などのような核
磁気共鳴現象(NMR:Nuclear Magnetic Resonance)
を観測・測定する装置である。本発明は、NMR装置の
主要構成要素であって、被測定物に印加する静磁場を発
生させる超電導磁石装置に係り、詳しくは、超電導磁石
による主磁場の磁場均一度を調整するための磁性体シム
(磁性体片、シム:shim)を備えた超電導磁石装置の改
良に関するものである。
定空間の磁場均一度が極めて高いこと、つまり磁束密度
が一様で勾配がなく、磁束密度の空間的変化が極めて小
さいことが要求される。そこで、このような磁場の高均
一化を実現するために、設計段階では主磁場を発生する
超電導磁石のコイル形状や電流密度等に工夫が施されて
いる。しかし、設計通りの製作精度が得られ難いこと
や、装置設置場所に存在する例えば鉄筋コンクリート建
屋の鉄筋のような外乱となる強磁性体の影響を受けるこ
となどにより、所望の磁場均一度が得られないことがあ
る。このため、超電導磁石装置は、超電導磁石による主
磁場の不均一を補正し高い磁場均一度を得るための磁場
補正用の磁性体シムを備えている。
を示す断面図である。同図において、2は内部に極低温
媒体である液体ヘリウム3が収容された液体ヘリウム容
器(例えば銅製)であって、本例では立体円環状(中空
円柱状)をなしている。7は被測定物Sに印加する主磁
場を発生する本例では円筒状をなす超電導磁石であり、
この超電導磁石7が液体ヘリウム容器2内に該磁石7を
超電導の作動温度まで冷却して運転するための液体ヘリ
ウム3中に浸漬されて配置されている。4は本例では立
体円環状をなし、超電導磁石7を収容した前記液体ヘリ
ウム容器2を囲繞する液体窒素容器(例えばステンレス
鋼製)であり、この液体窒素容器4内の外側円筒状壁寄
りの部位に熱流入防止用の液体窒素5が収容されてい
る。また、6は本例では立体円環状をなし、液体窒素容
器4を囲繞する真空容器(例えばステンレス鋼製)であ
る。この真空容器6と液体窒素容器4との間に形成され
た真空断熱空間、及び、液体窒素容器4と液体ヘリウム
容器2との間に形成された真空断熱空間により、液体ヘ
リウム3に対する室温からの熱放射を防ぐようになされ
ている。
4及び真空容器6は、多重構造の立体円環状をなし、超
電導磁石7を囲繞して保冷するクライオスタット(極低
温恒温装置)1を構成しており、本例では超電導磁石7
の軸心線CLを中心として同軸心状に設けられている。超
電導磁石7は磁場の方向が軸心線CLに平行となる磁場を
発生し、本例では、超電導磁石7の内側(軸心線CL側)
に位置する室温の測定空間に被測定物Sが配されるよう
になっている。
磁石7に対して測定空間側の位置に、この例では真空容
器6の内側円筒状壁6aの容器6外部側の面に配置され
ている。これらの磁性体シム8は、超電導磁石7による
主磁場の不均一を補正するためのもので、電磁軟鉄,ニ
ッケル,コバルトなどの磁性体よりなり、一例として電
磁軟鉄では厚み3mm×幅10mm×長さ10mm程度
の大きさのもので、エポキシ樹脂などの接着剤によって
貼り付けることで内側円筒状壁6aに取り付けられてい
る。
真空容器6:内径φ680mm×外径φ1400mm×
長さ1600mm、液体窒素容器4:内径φ720mm
×外径φ1160mm×長さ1450mm、液体ヘリウ
ム容器2:内径φ800mm×外径φ1100mm×長
さ1370mm、超電導磁石7:内径φ840mm×外
径φ1000mm×長さ1300mm、である。
定物Sに印加する主磁場を発生する超電導磁石7と、こ
の超電導磁石7を囲繞して保冷するクライオスタット1
と、超電導磁石7に対して測定空間側であって、クライ
オスタット1の室温空間面に配置された複数個の磁性体
シム8とを備えたNMR装置用の超電導磁石装置が構成
されている。
では、被測定物S自体の温度を変化させての測定がしば
しば行われる。このため、前述した従来の超電導磁石装
置では、磁場補正用の磁性体シム8を室温空間面に配置
したものであるから、被測定物Sの温度変化や、また、
装置設置室の室温変化に伴って磁性体シム8の温度が変
化する。このため、磁性体シム8の磁化特性が前記の温
度変化に起因して変化し、その結果、測定空間での磁場
均一性が乱され、高均一磁場を変動なく安定して保持す
ることが難しかった。
定空間の温度変化による磁場補正用磁性体シムへの影響
をなくし、高均一磁場を変動することなく安定性良く発
生することができる超電導磁石装置を提供することを目
的としている。
測定空間に配された被測定物に印加する主磁場を発生す
る超電導磁石と、該超電導磁石を囲繞して保冷するクラ
イオスタットと、前記超電導磁石に対して測定空間側に
配置され、前記主磁場の不均一を補正する磁場補正用の
磁性体シムとを備えた超電導磁石装置において、前記ク
ライオスタットの内部に前記磁性体シムを配置したこと
を特徴とするものである。
電導磁石装置において、前記クライオスタットが液体ヘ
リウム容器とこれを囲繞した液体窒素容器とを有してお
り、該液体ヘリウム容器または該液体窒素容器の前記測
定空間側の壁面に、前記磁性体シムを取り付けたことを
特徴とするものである。
オスタットの内部に磁場補正用の磁性体シムを配置する
ようにしたものであるから、被測定物の温度変化や室温
の測定空間の温度変化に影響されることなく磁性体シム
の温度を略一定に保つことができ、よって、磁性体シム
の磁化特性を略一定に保つことができるので、測定空間
に高均一磁場をこれが変動することなく安定性良く発生
することができる。
シムをクライオスタット内部に配置したので、磁性体シ
ムの温度は、当然ながら室温よりも低温の状態で略一定
に保持される。例えば、液体ヘリウム容器の測定空間側
に位置する該容器壁の該容器内部側面に磁性体シムを取
り付けたものでは(図2参照)、該磁性体シムの温度は
液体ヘリウム容器の温度と等しくなり、結局、液体ヘリ
ウム温度である4.2Kとなる。また、液体窒素容器の
測定空間側に位置する該容器壁の該容器内部側面に磁性
体シムを取り付けたものでは(図1参照)、磁性体シム
の温度は液体窒素容器の温度と等しくなり、結局、液体
窒素温度である77Kとなる。
磁性体シムを配置すると、後述するように、室温域に配
置した場合に比べて、磁性体シムの飽和磁化Isの温度
変化に対する変化割合が極めて小さくなり、磁性体シム
の磁化特性を略一定に保つことができるので、高均一磁
場の安定性を高めることができる。
ニッケル)の飽和磁化の温度依存性を示したグラフであ
る。同図において、Tcはキュリー温度、Tは磁性体の
温度、Is0は絶対零度における飽和磁化、Isは温度T
における飽和磁化である。磁性体シムとして用いられる
鉄,コバルト,ニッケルなどの磁性体の飽和磁化は、図
4に示すように、温度の上昇とともに減少し、キュリー
温度Tcでゼロとなる。なお、キュリー温度Tcは、鉄
で1040K、コバルトで1395K、ニッケルで62
8Kである。磁性体の代表である鉄の飽和磁化Isの温
度変化に対する変化割合は、室温である300K(27
℃)で約70ppm/K、液体窒素温度である77Kで
約9ppm/K、液体ヘリウム温度である4.2Kで
0.1ppm/Kと、温度低下に伴いその値が急激に小
さくなる。したがって、室温の測定空間より低温の温度
域に磁性体シムを配置することにより、磁性体シムの飽
和磁化Isの温度変化に対する変化割合が大幅に小さく
なり、これにより高均一磁場の安定性を高めることがで
きる。
て図面を参照して説明する。図1は本発明の一例による
超電導磁石装置の構成を示す断面図である。この例で
は、磁性体シム8’の配置位置が異なる点以外は、図3
に示した従来の超電導磁石装置と同一構成なので、従来
と同一部分には図3と同一の符号を付して説明を省略
し、異なる点についてのみ説明する。
装置では、複数個の磁性体シム8’は、液体窒素容器4
の内側円筒状壁4aの該容器内部側の面に配置されてい
る。よって、磁性体シム8’の温度は液体窒素容器4の
温度と等しくなり、該容器4の温度は収容している液体
窒素5の温度である77Kとなることから、結局、磁性
体シム8’の温度は77Kで略一定となる。この例の各
磁性体シム8’は、電磁軟鉄からなり、厚み3mm×幅
10mm×長さ10mm程度の大きさのもので、エポキ
シ樹脂などの接着剤によって貼り付けることで内側円筒
状壁4aに取り付けられている。
いて、磁性体シム8’を配置することにより、室温測定
空間の中心付近の磁場均一度を0.01ppm/10m
m球以下となるように補正・調整した。なお、調整前の
磁場均一度は約100ppm/10mm球であった(1
00ppm/10mm球とは、直径10mmの球空間に
おける磁束密度の変化割合が100ppmという意味で
ある)。
容器6の室温空間面(内側円筒状壁6aの容器外部側の
面)に配置した装置では、測定空間中心付近の磁場均一
度の変動は、約0.01ppm/10mm球/Kであ
り、磁性体シム8’で補正して得られた前記の磁場均一
度0.01ppm/10mm球以下と同レベルの値で変
動してしまった。これに対して本例の超電導磁石装置に
よると、磁性体シム8’を液体窒素容器4の内側円筒状
壁4aの該容器内部側の面に配置し、被測定物Sの温度
変化や測定空間の温度変化による磁性体シム8’への影
響をなくし、磁性体シム8’の温度を略一定で、かつ室
温より低温(77K)に保つようにすることにより、測
定空間中心付近の磁場均一度の変動は測定されず、高均
一磁場を安定性良く発生することができた。
置の構成を示す断面図である。この例では、磁性体シム
8”の配置位置が異なる点以外は、図3に示した従来の
超電導磁石装置と同一構成なので、従来と同一部分には
図3と同一の符号を付して説明を省略し、異なる点につ
いてのみ説明する。
装置では、複数個の磁性体シム8”は、液体ヘリウム容
器2の内側円筒状壁2aの該容器内部側の面に配置され
ている。よって、磁性体シム8”の温度は液体ヘリウム
容器2内に収容されている液体ヘリウム3の温度である
4.2Kで、かつ略一定となる。この例の各磁性体シム
8”は、ニッケルからなり、厚み1mm×幅5mm×長
さ5mm程度の大きさのもので、エポキシ樹脂などの接
着剤によって貼り付けることで内側円筒状壁2aに取り
付けられている。
8”を真空容器6の室温空間面に配置した装置では、測
定空間中心付近の磁場均一度の変動は、約0.04pp
m/10mm球/Kであった。これに対して本例の超電
導磁石装置によると、磁性体シム8”を液体ヘリウム容
器2の内側円筒状壁2aの容器内部側の面に配置し、被
測定物Sの温度変化や測定空間の温度変化による磁性体
シム8”への影響をなくし、磁性体シム8”の温度を略
一定で、かつ室温より低温(4.2K)に保つようにす
ることにより、測定空間中心付近の磁場均一度の変動は
測定されず、高均一磁場を変動することなく安定性良く
発生することができた。
クライオスタットとして、液体ヘリウム容器、液体窒素
容器及び真空容器とにより構成されるものについて前記
実施の形態で例示したが、これに限定されず、例えば、
真空容器と冷凍機とを有するいわゆる無冷媒式のもので
もよく、該無冷媒式クライオスタットの内部に磁性体シ
ムを配置するようにしたものにおいても、測定空間に高
均一磁場を変動することなく安定性良く発生することが
できる。また、本発明による超電導磁石装置に備えられ
る超電導磁石としては、前記実施の形態では単一のもの
を例示したが、これに限定されず、複数個に分離してそ
れらを近接配置した形態のいわゆるオープン型の構造も
のでもよい。
磁石装置によると、クライオスタットの内部に磁場補正
用の磁性体シムを配置するようにしたものであるから、
被測定物の温度変化や測定空間の温度変化に影響される
ことなく磁性体シムの温度を略一定に保つことができ、
これにより磁性体シムの磁化特性を略一定に保つことが
できるので、測定空間に高均一磁場を変動することなく
安定性良く発生することができ、NMR装置に適用され
ることで、NMRの良質で安定した観測・測定に寄与す
ることができる。
す断面図である。
示す断面図である。
図である。
の飽和磁化の温度依存性を示したグラフである。
液体ヘリウム容器の内側円筒状壁 3…液体ヘリウム
4…液体窒素容器 4a…液体窒素容器の内側円筒状壁
5…液体窒素 6…真空容器 6a…真空容器の内側
円筒状壁 7…超電導磁石 8,8’,8”…磁性体シ
ム S…被測定物
Claims (2)
- 【請求項1】 測定空間に配された被測定物に印加する
主磁場を発生する超電導磁石と、該超電導磁石を囲繞し
て保冷するクライオスタットと、前記超電導磁石に対し
て測定空間側に配置され、前記主磁場の不均一を補正す
る磁場補正用の磁性体シムとを備えた超電導磁石装置に
おいて、前記クライオスタットの内部に前記磁性体シム
を配置したことを特徴とする超電導磁石装置。 - 【請求項2】 前記クライオスタットが液体ヘリウム容
器とこれを囲繞した液体窒素容器とを有しており、該液
体ヘリウム容器または該液体窒素容器の前記測定空間側
の壁面に、前記磁性体シムを取り付けたことを特徴とす
る請求項1記載の超電導磁石装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP20766498A JP3737636B2 (ja) | 1998-07-23 | 1998-07-23 | 超電導磁石装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20766498A JP3737636B2 (ja) | 1998-07-23 | 1998-07-23 | 超電導磁石装置 |
Publications (2)
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ID=16543520
Family Applications (1)
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JP20766498A Expired - Lifetime JP3737636B2 (ja) | 1998-07-23 | 1998-07-23 | 超電導磁石装置 |
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- 1998-07-23 JP JP20766498A patent/JP3737636B2/ja not_active Expired - Lifetime
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