JP2000034123A - 高純度酸化チタン粉末 - Google Patents
高純度酸化チタン粉末Info
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Abstract
線遮蔽材料等汎用的に利用しうる高純度酸化チタン粉末
を提供する。 【解決手段】 電気泳動を利用したレーザードップラー
法によるゼータ電位の等電点がpH2.0〜pH4.5
であり、且つpH5.5におけるゼータ電位の絶対値が
15mV以上である高純度酸化チタン粉末。
Description
し、焼結材料あるいは紫外線遮蔽材料等汎用的に利用し
うる高純度酸化チタン粉末に関する。
から利用されており、近年はコンデンサ、サーミスタの
構成材料、チタン酸バリウムの原料等の電気・電子材料
に用いられる焼結材料に広く利用されている。また、酸
化チタンは可視光付近の波長領域において大きな屈折率
を示すため、可視光領域では殆ど光吸収は起こらない。
このことから、最近、化粧料、医薬あるいは塗料等の紫
外線遮蔽が要求されるような材料にも広く使用されてい
る。さらに、酸化チタンにそのバンドギャップ以上のエ
ネルギーを持つ光を照射することによって酸化チタンが
励起されて、伝導帯に電子、価電帯に正孔が生じるが、
この電子による還元力及び正孔による酸化力を利用した
光触媒反応の用途開発が盛んに行われている。この酸化
チタン光触媒の用途は非常に多岐に渡っており、水の分
解による水素の発生、排ガス処理、空気清浄、防臭、殺
菌、抗菌、水処理、照明機器等の汚れ防止等、数多くの
用途開発が行われている。
が、顔料、塗料あるいは焼結材料などに酸化チタン粉末
を利用する場合、水あるいは有機溶剤等に懸濁し分散さ
せて使用する場合が多く、その場合酸化チタン粉末の溶
媒への分散性が問題となる。上記のような用途、特に電
子材料用酸化チタンは、近年の電子材料の超小型化に対
応するため酸化チタン粒子を1μm 以下、さらには0.
1μm 以下の超微粒にする必要がある。また、光触媒用
酸化チタンについては、その光触媒活性を向上させ、さ
らに光触媒材に利用するとき酸化チタンを基材にコーテ
ィングするが、そのときの酸化チタン被膜の透明性を向
上させるために、酸化チタン粒子を数nm〜数十nmという
ような超微粒子にする必要がある。このように、酸化チ
タンを微粒化するにともない、溶媒への分散性が悪くな
り、溶媒に懸濁すると凝集が起こり、逆に電子材料や光
触媒の特性に悪影響を与え、また紫外線遮蔽材において
は酸化チタン粒子の凝集により紫外線の遮蔽特性が悪く
なるという問題が生じる。
に分散させ、粒子同士の凝集を防ぐ方法としては、塩
酸、硫酸あるいは有機酸などの酸を存在させ、懸濁液の
pHを酸性側に調整するか、あるいは水酸化ナトリウム
等のアルカリを存在させ懸濁液のpHをアルカリ側に調
整する方法がある。これは、酸化チタン粒子表面に存在
する水酸基に起因するもので、従来の酸化チタン粉末
は、酸性側では酸化チタン粉末のゼータ電位(界面電
位)がプラスとなり、またアルカリ性側ではマイナスの
電位を帯びるため粒子同士の凝集を防ぎ分散性が向上す
る。
は、酸化チタンの懸濁液をボールミル等の粉砕機や分級
機を用い調整する方法、懸濁液中に例えばヘキサメタリ
ン酸ナトリウム等の分散剤を存在させ、酸化チタン懸濁
液を調製する方法がある。さらに、シリカ、アルミナの
ような元来分散性の高い疎水性物質を、酸化チタンの粒
子表面にコーティングし、分散性の問題を解決する試み
もなされている。例えば特開平5-28672 号公報では、ア
ルミニウム塩基性塩の水溶液に酸を添加することにより
pHを10.5〜12.0に調節し、これに二酸化チタ
ンスラリーを混合し、次いでこれを酸にて中和し二酸化
チタン粒子表面に酸化アルミニウム水和物を均一に析出
させる方法が開示されている。
来技術のような酸化チタン粒子の分散性を向上させる方
法は、酸、アルカリ、分散剤あるいは酸化チタン粒子表
面の異物質によるコーティングというような酸化チタン
以外の成分を用いるため、酸化チタン本来の特性が変化
したり、また電子材料、顔料、紫外線遮蔽材あるいは光
触媒等に利用した場合、このような他成分が混入するた
め、その利用材に悪影響を及ぼすという問題があった。
酸やアルカリに調整する必要がなく、また、分散剤の添
加やコーティング処理をする必要のない、それ自体が優
れた分散性を有する高純度酸化チタン粉末を提供するこ
とにある。
発明者は、鋭意検討を行った結果、ゼータ電位の等電点
が特定のpH範囲であり、且つpH5.5のゼータ電位
の絶対値が特定範囲にある高純度酸化チタンが、水中で
の分散性に優れ、焼結材料あるいは紫外線遮蔽材料等汎
用的に利用し得ることを見出し、本発明を完成するに至
った。
レーザードップラー法によるゼータ電位の等電点がpH
2.0〜pH4.5であり、且つpH5.5におけるゼ
ータ電位の絶対値が15mV以上であることを特徴とす
る高純度酸化チタン粉末を提供するものである。
する。本発明の高純度酸化チタン粉末は、電気泳動を利
用したレーザードップラー法によるゼータ電位の等電点
がpH2.0〜pH4.5であり、且つpH5.5にお
けるゼータ電位の絶対値が15mV以上であり、好まし
くは、前記の同法によるゼータ電位の等電点がpH2.
5〜pH4.0であり、且つpH5.5におけるゼータ
電位の絶対値が20mV以上、60mV以下である。ゼ
ータ電位は固体と液体の界面に生じる電位差であり、物
質によりその値は異なり、酸化チタンのような金属酸化
物においては、その粒子表面の水酸基の酸・アルカリ特
性を示す一つの指標である。酸化チタンの表面は酸・ア
ルカリの両性を示す代表的な物質であり、酸化チタン粉
末についてのゼータ電位について多くの報告がなされて
いる。それらの報告の値を平均すると、酸化チタン粉末
のゼータ電位の等電点は、アナターゼ型酸化チタンがp
H6.1、ルチル型酸化チタンがpH5.6である[参
考文献:清野 学著「酸化チタン」(技報堂出版)4.4.
4 、 60-62頁、およびG.D. Parfitt, Prog. Surface Me
mbrane Sci. 11, 181 (1976)]。このように、従来の酸
化チタン粉末のゼータ電位の等電点はpH5〜6程度で
あり、通常使用される水のpHと同様のほぼ中性の領域
にある。
粉末は、ゼータ電位の等電点がpH2.0〜pH4.5
と酸性側にあり、且つpH5.5におけるゼータ電位の
絶対値が15mV以上と、酸性あるいはアルカリ性側に
pH調整していない通常の水中においてゼータ電位を示
すものである。さらに、本発明の高純度酸化チタン粉末
のpH5.5におけるゼータ電位は、マイナス側の電位
を示す。すなわち、pH5.5というpH領域であって
も絶対値で15mV以上のゼータ電位を示すので、焼結
材料、顔料、紫外線遮蔽材料あるいは光触媒など溶媒に
懸濁して利用される場合、溶媒のpHを調整することな
く、あるいは従来のようにpH調整した場合においても
優れた分散性を示す。
えて3分間超音波分散させたものについて、電気泳動ゼ
ータ電位計を用い、10m規定の塩化ナトリウム水溶液
中、25℃で安定させた後、測定したものを示す。
として酸化チタン粉末中に含まれるFe、Al、Siお
よびNaが各々20ppm以下であり、かつClが20
0ppm以下であるような不純物の少ない高純度のもの
であることが、酸化チタン本来の焼結特性、紫外線遮蔽
特性あるいは光触媒活性を発現させるために望ましい。
さらに望ましくは、酸化チタン粉末中に含まれるFe、
Al、SiおよびNaが各々10ppm以下であり、ま
たClが100ppm以下である。このように本発明の
酸化チタン粉末は、従来技術に見られるようなシリカあ
るいはアルミナのごとき疎水性物質を表面コーティング
するなどの他成分による処理を施しておらず、酸化チタ
ン以外の他成分を殆ど含有していない高純度の酸化チタ
ン粉末であるので、各分野に利用した際、酸化チタン本
来の特性が変化せず作用するため、優れた効果を得るこ
とができる。
などの粒子性状については、その用途により異なり、一
概には特定はできないが、平均粒径は好ましくは0.0
1〜10μm 、より好ましくは0.05〜5μm 、さら
に好ましくは0.1〜3μmである。表面積は好ましく
は0.5〜500m2/ g 、より好ましくは1〜300m2
/ g 、さらに好ましくは0.5〜100m2/ g である。
また、結晶型についても一概に特定はできず、その用途
により調整すればよいが、例えば、焼結材料、顔料ある
いは紫外線遮蔽材料用ではルチル化率10〜100%の
ルチル型が好ましく、一方、光触媒用としてはアナター
ゼ型が好ましい。
より製造することができ、例えば(1)硫酸チタニル、
硫酸チタンなどの含チタン溶液の加水分解法、(2)チ
タンアルコキシドなどの有機チタン化合物の加水分解
法、(3)三塩化チタンあるいは四塩化チタンなどのハ
ロゲン化チタン水溶液の中和法又は加水分解法、(4)
四塩化チタンを気相中で酸素及び/又は水蒸気と接触さ
せ酸化させる気相法あるいは(5)燃焼して水を生成す
る水素ガス等の可燃性ガスと酸素を燃焼バーナーに供給
し火炎を形成し、この中に四塩化チタンを導入する火炎
加水分解法などの方法により製造できる。このなかで
も、より高純度の酸化チタン粉末を得る方法としては
(4)の気相法あるいは(5)の火炎加水分解法が有効
である。
四塩化チタンを予め加熱し、気化させ反応炉に導入す
る。四塩化チタンの導入と同時に、酸素ガスを反応炉に
導入し、酸化反応を行うが反応温度は通常500〜12
00℃、好ましくは800〜1100℃である。本発明
の高純度の酸化チタン粉末を得るためにはこのように比
較的高温で酸化反応を行うことが望ましい。また、酸化
反応の際、第三成分として、ルチル化率あるいは粒径の
制御のため水素ガスあるいは水蒸気を上記四塩化チタン
および酸素と同時に反応炉に供給し、酸化反応を行うこ
ともできる(酸化工程)。
成させ、その後酸化チタン粉末を冷却する。この冷却方
法についは種々の方法が取り得るが、通常冷却ジャケッ
トを具備した冷却槽等が用いられ、空気あるいは窒素ガ
ス等の不活性ガスを生成酸化チタン粉末と接触させ冷却
する(冷却工程)。その後生成した酸化チタン粉末を捕
集し、酸化チタン粉末中に残留する塩素ガスを、真空加
熱、空気あるいは窒素ガス雰囲気中での加熱あるいはス
チーム処理等の加熱処理により除去し、本発明の高純度
酸化チタン粉末を得ることができる(加熱工程)。ここ
で、酸化チタン粉末が生成した後は、水分をなるべく接
触させないことが望ましく、また得られた酸化チタン粉
末の保存または貯蔵においてもチッソ雰囲気に保持する
など、湿気を避けた状態で保存、貯蔵することが望まし
い。
末を得ることができるが、さらに得られた酸化チタン粉
末を解砕あるいは粉砕することも有効である。この解砕
あるいは粉砕は、ボールミル、振動ミル、ピンミル、タ
ワーミル、ターボミル、ペイントシェーカー等を用い、
乾式方法または溶媒を存在させる湿式方法により行われ
る(解砕工程)。上記の加熱工程後に得られた酸化チタ
ン粉末は一次粒子が凝集し二次粒子を形成しているが、
この凝集した二次粒子をある程度崩すことにより水酸基
の少ない酸化チタン粒子表面を発現させる。従って、解
砕又は粉砕は、得られる酸化チタンのゼータ電位の等電
点がpH2.0〜pH4.5と酸性側にあり、且つpH
5.5におけるゼータ電位の絶対値が15mV以上とな
るような条件を適宜選択することにより行われる。
有しており、この水酸基がゼータ電位に影響することは
前に述べたが、従来の酸化チタン粉末はこの粒子表面の
水酸基が多く含まれるため、ゼータ電位の等電点がほぼ
中性の領域にあり、水中での分散性が悪くなる。これに
対し、本発明の高純度酸化チタンは、従来の酸化チタン
よりも粒子表面の水酸基が極めて少ないため、従来にな
いpH−ゼータ電位曲線を示し、その結果、非常に優れ
た分散性を示す。
料、紫外線遮蔽材料あるいは光触媒などの溶媒に分散し
て使用するあらゆる用途に利用可能であり、特にコンデ
ンサなどの電子材料用や紫外線遮蔽材としての顔料用、
塗料用また化粧料用として有効である。
らに具体的に説明する。また、高純度酸化チタン粉末の
ゼータ電位、平均粒径、粒度分布、比表面積、不純物の
定量および分散度は以下の方法により測定した。
法によるゼータ電位)試料を予め蒸留水に懸濁させた
後、超音波で3分振動分散させ、ゼータ電位測定装置
(型式「DELSA 440SX」コールター社製)の
セルに注入する。その後25℃で安定させた後、ゼータ
電位を測定する。 (水中に分散させたときの粒度分布)レーザー光散乱法
粒度測定機(型式「LA700」堀場製作所製)を用い
て測定する。 (比表面積及び平均粒径)BET法により測定する。 (不純物の定量)Fe、Al、SiおよびNa成分につ
いては、原子吸光法により測定する。酸化チタン中のC
l成分については、吸光光度法により測定する。 (分散度)目開き45μmのステンレス製フィルター付
濾過容器に、酸化チタン粉末試料を入れ、その上から水
を10分間流す。その後フィルター上に残留した試料を
乾燥してその重量を計測し、下記式により分散度を算出
する。従って、分散度は数値が小さい程、分散性に優れ
ることを示す。分散度(%)=(フィルター上に残留し
た試料重量/試料投入重量)×100
法により酸化チタン粉末を調製した。まず、内径400
mmの多重管バーナーを上部に具備した気相反応管におい
て、多重管バーナーに、約1000℃に予熱し気化させ
た四塩化チタン、酸素ガスおよび水蒸気を供給し、気相
反応管内で約1000℃にて酸化反応させ、酸化チタン
粉末を生成させた。その後、気相反応管の底部から空気
を導入し、生成した酸化チタン粉末を冷却した後、得ら
れた酸化チタン粉末をロータリーキルンに移送し、窒素
雰囲気中で300℃〜400℃で2時間加熱処理した。
次いで得られた酸化チタン粉末120kgを、振動ミル
にて3時間の解砕を施した。このようにして得られた高
純度酸化チタン粉末Aのゼータ電位、比表面積、不純物
の含量、分散度および粒度分布を表1に示した。
と同様に酸化反応させ、高純度酸化チタン粉末を得た。
このようにして得られた高純度酸化チタン粉末Bの各物
性を表1に示した。
と同様に高純度酸化チタン粉末を調製した。得られた酸
化チタン粉末Cの各物性を表1に示した。
と同様に酸化チタン粉末を調製した。得られた高純度酸
化チタン粉末Dの各物性を表1に示した。
ンA及びBは電気泳動を利用したレーザードップラー法
によるゼータ電位の等電点がpH2.0〜pH4.5と
酸性側にあり、且つpH5.5におけるゼータ電位の絶
対値が15mV以上であるため分散性に優れる。一方、
高純度酸化チタンC及びDはゼータ電位の等電点が各々
pH5.1及び5.7であり、pH5.5におけるゼー
タ電位の絶対値が11.1及び2.85mVであるた
め、それぞれ分散性で劣る。
化チタン粉末は、従来の酸化チタンとは異なり、電気泳
動を利用したレーザードップラー法によるゼータ電位の
等電点がpH2.0〜pH4.5と酸性側にあり、且つ
pH5.5におけるゼータ電位の絶対値が15mV以上
という特性をもち、水、有機溶媒等の溶媒に懸濁した際
に優れた分散性を示すという効果が得られる。従って、
本発明の高純度酸化チタン粉末は、電子材料用、顔料
用、紫外線遮蔽材用あるいは光触媒用として好適であ
る。
Claims (2)
- 【請求項1】 電気泳動を利用したレーザードップラー
法によるゼータ電位の等電点がpH2.0〜pH4.5
であり、且つpH5.5におけるゼータ電位の絶対値が
15mV以上であることを特徴とする高純度酸化チタン
粉末。 - 【請求項2】 前記酸化チタン粉末中に不純物成分とし
て含まれるFe、Al、SiおよびNaが各々20ppm
以下であり、且つClが200ppm 以下であることを特
徴とする請求項1記載の高純度酸化チタン粉末。
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JP20163898A JP4177920B2 (ja) | 1998-07-16 | 1998-07-16 | 高純度酸化チタン粉末の製造方法 |
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