JP2000029561A - クロック供給回路 - Google Patents

クロック供給回路

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JP2000029561A
JP2000029561A JP10193448A JP19344898A JP2000029561A JP 2000029561 A JP2000029561 A JP 2000029561A JP 10193448 A JP10193448 A JP 10193448A JP 19344898 A JP19344898 A JP 19344898A JP 2000029561 A JP2000029561 A JP 2000029561A
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lsi
clock
supply circuit
ssram
delay
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Tomoyuki Kanamaru
智幸 金丸
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NEC Computertechno Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 同一周期のクロックを供給される、相互に接
続されたLSIにおいて、データ出力遅延時間が大きい
LSI出力の、他方のLSI到達時のデータ保証時間が
短くなるのを防止する。 【解決手段】 開示されるクロック供給回路は、LSI
1内に設けられたSSRAMI/F部13とSSRAM
2とに、それぞれ同一周期のクロックを供給するクロッ
ク供給回路において、LSI1内にLSI1動作用のク
ロックの周期を変換する分周回路12を設けて、分周ク
ロックをSSRAMI/F部13にその動作用クロック
として供給するとともに、分周クロックをディレイライ
ン4を介して遅延してSSRAM2にその動作用クロッ
クとして供給するように構成されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、クロック供給回
路に係り、詳しくは、相互に接続された異なるLSI
に、同一のクロック源から分周されたクロックを供給す
るとともに、供給するクロックの位相調整が必要な場合
の、クロック供給回路に関する。
【0002】
【従来の技術】例えば、SSRAM(Synchronous Stat
ic RAM)と、そのSSRAMとのインタフェースを持つ
LSI(Large-Scale Integrated Circuit)にクロック
を供給するとともに、この際使用するSSRAMとし
て、多種多様な汎用品のSSRAMを使用できるような
設計を行なう場合がある。この場合、SSRAMが十分
高速で動作可能であって、接続されるLSIと同じ速度
で動作できる場合には、SSRAMとLSIに同じ速度
のクロックを供給して動作させることができる。しかし
ながら、低速なSSRAMも使用できるようにする場合
には、SSRAMとLSIに同じ速度のクロックを供給
することはできない。この際、LSIに供給するクロッ
クも低速にしたのでは、LSIが本来持つ性能を発揮で
きないことになるので、この場合は、LSI内部を、S
SRAMと同じ速度のクロックで動作させる部分と、そ
れ以外のLSIの本来の速度のクロックで動作させる部
分とに分けて設計しなければならない。
【0003】図4は、従来のクロック供給回路の電気的
構成を示すブロック図であって、SSRAMとのインタ
フェースを持つLSIと、SSRAMとにクロックを供
給する際に、LSI内部を高速クロック動作部分と低速
クロック動作部分とに分離するように設計を行なった場
合の、クロック供給回路を例示している。図4におい
て、LSI5は、SSRAM6とのインタフェースを持
つLSIである。LSI5内部は、LSI5動作用のク
ロックCLK10で動作するLSIコア部51と、SS
RAM6の速度と同じ速度のクロックCLK11で動作
するSSRAMI/F(インタフェース)部53とで構
成されているとともに、SSRAMI/F部53にクロ
ックCLK11を供給するための分周回路52が設けら
れている。分周回路52は、クロックCLK10を分周
して、クロックCLK11を生成する。また、LSI5
の外部には、LSI5にクロックCLK10を供給する
オシレータ7があるとともに、クロックCLK10を分
周して、クロックCLK11と同じ速度のクロックCL
K12を生成する分周回路8と、クロックCLK12を
位相調整して、SSRAM6にその動作用のクロックC
LK13として供給する位相調整回路9がある。このよ
うに、SSRAMI/F部53とSSRAM6との間で
は、同じ速度のクロックを供給されることによって、相
互にデータの送受信を行なうことができる。
【0004】この場合、SSRAM6へのクロック供給
のために、位相調整回路9を使用するのは、SSRAM
6の動作が遅く、データ読み出し時間が長い場合には、
これに基づくSSRAM6からLSI5までの信号遅延
時間と、分周回路52と分周回路8等のような、介在す
る回路部分の誤差に基づくスキューと、SSRAM6と
LSI5間の接続線やLSI内部の配線等に基づくメデ
ィアディレィとの総和が、SSRAM6のクロックサイ
クルより大きくなるため、SSRAM6とLSI5に対
する供給クロックに遅延を与えて、LSI5におけるク
ロックCLK11の位相を、SSRAM6のクロックC
LK13の位相よりも遅らせないと、SSRAM6から
LSI5へのデータ転送が失敗することになるためであ
る。
【0005】図5は、LSIとSSRAMとの相互のデ
ータ転送を説明するタイムチャート(1)であって、S
SRAMの読み出し最大遅延時間が長いため、LSI側
のクロックとSSRAMのクロックとに位相差を与えな
いと、データ転送を行なえない場合を例示している。図
5に示すように、LSI5から出力されたデータは、最
大遅延時間が短いため、SSRAM6でデータを取り込
むまでに、SSRAM6に到達したデータが確定してい
るので、SSRAM6では、正常にデータを取り込むこ
とができる。一方、SSRAM6から出力されたデータ
は、最大遅延時間が長いため、LSI5でデータを取り
込むまでに、LSI5に到達したデータが確定していな
いので、LSI5では、正常にデータを取り込むことが
できない。
【0006】この場合、LSI5とSSRAM6に供給
されるクロックの速度を遅くすれば、相互のデータ転送
が可能になるが、これでは、LSI5とSSRAM6間
のデータ転送性能が低下するので、好ましくない。しか
しながら、このような場合でも、LSI5とSSRAM
6に供給されるクロックに位相差を与えれば、転送性能
を低下させることなく、データ転送を行なうことができ
るようになる。
【0007】図6は、LSIとSSRAMとの相互のデ
ータ転送を説明するタイムチャート(2)であって、L
SIのクロックとSSRAMのクロックに位相差を与え
ることによって、SSRAMの読み出し最大遅延時間が
長い場合でも、データ転送が可能になる場合を例示して
いる。図6に示すように、LSI5から出力されたデー
タは、最大遅延時間が短く、SSRAM6でのデータ取
り込みの保証時間が長いため、LSIのクロックとSS
RAMのクロックに位相差を与えたことによって、SS
RAM6でのデータ取り込みタイミングが早まっても、
SSRAM6でデータを取り込むことができる。一方、
SSRAM6から出力されたデータは、最大遅延時間が
長いため、LSI5でデータを取り込むまでに、LSI
5でのデータ取り込みの保証時間が短くなるが、LSI
1のクロックとSSRAM6のクロックとに位相差を与
えたことによって、LSI5でのデータ取り込みタイミ
ングが遅くなるので、LSI5でデータを取り込むこと
ができる。
【0008】このように、図6に示された構成をとるこ
とによって、多種多様なSSRAMを使用することへの
対応が可能になるが、実際には、さらに分周回路52と
分周回路8の生成するクロックにスキューが生じるた
め、図5,図6で示されたタイムチャート中のデータ入
力側のデータ保証時間が、スキューの分だけ短くなる。
そのため、位相調整回路9による位相調整を厳密に行な
う必要が生じたり、また場合によっては、スキューを加
味したことによってデータ保証時間がなくなってしまっ
て、データ転送が不可能になる場合もある。
【0009】図7は、LSIとSSRAMとの相互のデ
ータ転送を説明するタイムチャート(3)であって、ク
ロックのスキューが大きい場合を例示し、LSI5のク
ロックCLK11と、SS−RAM6のクロックCLK
13のスキューを±aとした場合に、スキューaが大き
いケースを示している。このケースでは、LSI5から
の出力データは、スキュー成分が+側,−側のいずれの
方向に影響した場合でも、クロックCLK13は、SS
−RAM6においてデータが保証されたタイミングで有
効になるため、SS−RAM6で、LSI5の出力デー
タを取り込むことができる。一方、SS−RAM6から
出力されるデータは、スキュー成分aの影響によって、
スキュー−aのときは図6の場合よりも早いタイミング
で、スキュー+aのときは図6の場合よりも遅いタイミ
ングで、SS−RAM6から出力されることになる。
【0010】最小遅延時間でのLSI5到達データに−
aのスキュー成分を加え、最大遅延時間でのLSI5到
達データに+aのスキュー成分を加えたケースでは、L
SI5到達時に保証されるデータの幅は、図6の場合
(図中、斜線を施して示す)と比べて、図7に示すよう
に2aだけ狭くなる。図7のケースでは、僅かではある
がデータが保証される時間が存在し、また、その時間中
にクロックCLK11が有効になるため、LSI5にお
いてデータを取り込むことができる。ただし、このケー
スでは、位相調整回路9において厳密に調整して位相差
を与えなければならない。もしも、もう少しスキュー成
分が大きくなれば、データ保証時間がなくなって、デー
タ転送を行なうことができなくなる。また、SS−RA
M6として選択する別の品種のSS−RAMの最小遅延
時間が小さいか、又は最大遅延時間が大きくなれば、同
じくデータ保証時間が小さくなり、データ保証時間がな
くなって、そのSS−RAMは使用できないことにな
る。
【0011】よって、スキュー成分aが小さくなること
は、LSI5におけるデータ保証時間が長くなることに
繋がる。これは、位相調整の精度を下げても、データ転
送が可能となり、その調整も容易に行なえることを意味
している。またスキューが大きいケースでは、使用でき
なかったSS−RAMでも、スキューが小さければ、使
用できることになるので、SS−RAMの選択の幅を広
げることができる。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来のクロック供給回路にあっては、相互に接続された異
なるLSIにクロックを供給する際に、一方のLSI側
のクロック供給用分周回路と、他方のLSI側のクロッ
ク供給用分周回路とが別個に設けられているため、両L
SI間のクロックスキューの発生を避けることが困難で
あって、このため、転送データの受け取り側での、デー
タ到達時の保証時間が短くなる場合が生じることを避け
られないという問題があった。
【0013】この発明は、上述の事情に鑑みてなされた
ものであって、相互にデータの送信と受信を行なうとと
もに、第2のLSIから第1のLSIへのデータ出力遅
延時間が、第1のLSIから第2のLSIへのデータ出
力遅延時間より長い、第1のLSIと第2のLSIとに
同一周期のクロックを供給して動作させる際に、第2の
LSIからのデータ読み出し遅延時間が大きい場合で
も、第1のLSI側で、データ到達時の保証時間が短く
なるのを防止することが可能な、クロック供給回路を提
供することを目的としている。
【0014】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項1記載の発明は、クロック供給回路に係り、
相互にデータの送信と受信を行なうとともに、第2のL
SIから第1のLSIへのデータ出力遅延時間が、第1
のLSIから第2のLSIへのデータ出力遅延時間より
長い、第1のLSIと第2のLSIとに同一周期のクロ
ックを供給するクロック供給回路において、上記第1の
LSIに位相調整手段を設けて該第1のLSIの動作用
クロックの位相を調整して上記第2のLSIにその動作
用クロックとして供給するように構成されていることを
特徴としている。
【0015】請求項2記載の発明は、請求項1記載のク
ロック供給回路に係り、上記第2のLSIが、クロック
によってデータの書き込みと読み出しとを行なうメモリ
回路からなることを特徴としている。
【0016】請求項3記載の発明は、請求項1又は2記
載のクロック供給回路に係り、上記第1のLSIの動作
用クロックが、上記第1のLSIにおける他の部分の動
作用クロックからクロック周波数変換手段を介して生成
されるように構成されていることを特徴としている。
【0017】請求項4記載の発明は、請求3記載のクロ
ック供給回路に係り、上記クロック周波数変換手段が分
周器からなることを特徴としている。
【0018】請求項5記載の発明は、請求項1,2,3
又は4記載のクロック供給回路に係り、上記位相調整手
段が、上記第2のLSIから出力されて上記第1のLS
I到達時に最小遅延時間と最大遅延時間とによって保証
されたデータを、該第1のLSIにおいて取り込むこと
ができるように、該第1のLSIの動作用クロックの位
相を調整して上記第2のLSIに動作用クロックとして
供給するように構成されていることを特徴としている。
【0019】請求項6記載の発明は、請求項5記載のク
ロック供給回路に係り、上記位相調整手段が、上記第2
のLSIから出力されて上記第1のLSI到達時に保証
されたデータを、上記第1のLSIから上記第2のLS
Iに至る配線に基づくスキューを差し引いたタイミング
で、上記第1のLSIにおいて取り込むことができるよ
うに、上記クロック位相の調整を行なうごとく構成され
ていることを特徴としている。
【0020】請求項7記載の発明は、請求項1,2,
3,4,5又は6記載のクロック供給回路に係り、上記
位相調整手段が、上記第1のLSIの外部に設けられ
た、該第1のLSIの動作用クロックを遅延させるため
のディレイラインを含んでなることを特徴としている。
【0021】請求項8記載の発明は、請求項7記載のク
ロック供給回路に係り、上記ディレイラインが交換可能
であって、異なる遅延値を有するディレイラインから選
択して交換することによって、上記第2のLSIに、上
記第1のLSIのクロックとの間に所要の位相差を有す
るクロックを供給するように構成されていることを特徴
としている。
【0022】また、請求項9記載の発明は、請求項1,
2,3,4,5又は6記載のクロック供給回路に係り、
上記位相調整手段が、上記第1のLSIの内部に設けら
れた、それぞれ異なる遅延値を有する複数のディレイラ
インと、該複数のディレイラインからいずれか一つを選
択する選択手段とを含んでなり、該選択手段における選
択によって、上記第2のLSIに、上記第1のLSIの
クロックとの間に所要の位相差を有するクロックを供給
するように構成されていることを特徴としている。
【0023】また、請求項10記載の発明は、請求項9
記載のクロック供給回路に係り、上記選択手段が、制御
入力によって動作するセレクタ制御手段の制御に応じ
て、上記複数のディレイラインから一つのディレイライ
ンを選択するように構成されていることを特徴としてい
る。
【0024】また、請求項11記載の発明は、請求項
1,2,3,4,5,6,7,8,9又は10記載のク
ロック供給回路に係り、上記第1のLSIがフリップ・
フロップを有し、上記クロック周期変換手段から供給さ
れたクロックによってタイミング整形を行なって上記第
2のLSIとの間でデータを送受するように構成されて
いることを特徴としている。
【0025】さらにまた、請求項12記載の発明は、請
求項1,2,3,4,5,6,7,8,9,10又は1
1記載のクロック供給回路に係り、上記第2のLSIが
フリップ・フロップを有し、上記位相調整手段を介して
供給されたクロックによってタイミング整形を行なって
上記第1のLSIとの間でデータを送受するように構成
されていることを特徴としている。
【0026】
【作用】この発明の構成では、相互にデータの送信と受
信を行なうとともに、第2のLSIから第1のLSIへ
のデータ出力遅延時間が、第1のLSIから第2のLS
Iへのデータ出力遅延時間より長い、第1のLSIと第
2のLSIとに同一周期のクロックを供給するクロック
供給回路において、第1のLSI内に位相調整手段を設
けて第1のLSIの動作用クロックの位相を調整して第
2のLSIにその動作用クロックとして供給するように
構成されているので、第2のLSIからのデータ読み出
し遅延時間が大きい場合でも、第1のLSI側で、第2
のLSIからのデータ到達時の保証時間が短くなるのを
防止することができる。
【0027】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、この発明
の実施の形態について説明する。説明は、実施例を用い
て具体的に行なう。 ◇第1実施例 図1は、この発明の第1実施例であるクロック供給回路
の電気的構成を示すブロック図、図2は、この例におけ
るLSIとSSRAMとの相互のデータ転送を説明する
タイムチャートである。この例のクロック供給回路は、
SSRAM2と、SSRAM2とのインタフェースとし
てSSRAMI/F部13を持つLSI1とに対して適
用した場合を示し、図1に示すように、オシレータ3
と、ディレイライン4と、LSI1内に設けられた分周
回路12と、LSI1内部のSSRAMI/F部13内
に設けられたF/F(フリップ・フロップ)14及びク
ロックドライバ15,16,17,18と、SSRAM
2内部に設けられたF/F(フリップ・フロップ)22
とから概略構成されている。
【0028】LSI1は、SSRAM2とのインタフェ
ースを持つLSIであって、その内部には、LSI1動
作用のクロックで動作するLSIコア部11と、SSR
AM2とのインタフェースのための、SSRAM2の速
度と同じ速度で動作するSSRAMI/F部13とを有
するとともに、LSI1動作用のクロックを分周してS
SRAMI/F部13及びSSRAM2動作用のクロッ
クを生成する分周回路12とを有している。SSRAM
2は、LSI1から送出されたデータを書き込み、また
書き込まれたデータを読み出してLSI1に送出する。
オシレータ3は、LSI1動作用のクロックを生成す
る。ディレイライン4は、SSRAMI/F部13から
SSRAM2に供給されるクロックを所定時間遅延させ
る。F/F14は、SSRAMI/F部13が送受信す
るデータを、SSRAMI/F部13内のクロックでタ
イミング整形するために設けられている。クロックドラ
イバ15,17は、分周回路12から入力されたクロッ
クを、F/F14に供給する。クロックドライバ16,
18は、分周回路12から入力されたクロックを、ディ
レイライン4を介して、SSRAM2に供給する。F/
F22は、SSRAM2が送受信するデータを、SSR
AM2内のクロックでタイミング整形するために設けら
れている。
【0029】次に、図1及び図2を参照して、この例の
クロック供給回路の動作について説明する。オシレータ
3は、LSI1動作用のクロックCLK1を生成して、
LSIコア部11に供給し、これによって、LSI1に
おける主要部の動作が行なわれる。分周回路12では、
クロックCLK1から、SSRAM2の動作速度に合わ
せた速度のクロックCLK2を生成して、クロックドラ
イバ15,16に分配する。クロックドライバ15の出
力クロックは、さらにクロックドライバ17を経て、F
/F14にその動作用クロックCLK3として供給され
る。一方、クロックドライバ16の出力クロックは、一
旦、LSI1の外部に出力され、ディレイライン4を経
て遅延されたのち、再びLSI1内部に入力され、クロ
ックドライバ18を経て、SSRAM2に入力されて、
F/F22にその動作用クロックCLK4として供給さ
れる。
【0030】ディレイライン4は、LSI1とSSRA
M2間のクロックの位相調整のために使用される。この
場合のクロック位相調整は、ディレイライン4の遅延値
を変更することによって行なわれる。例えば、遅延値の
異なる何種類かのディレイラインを用意しておき、LS
I1とSSRAM2間のデータ転送条件を満たす位相関
係となるような遅延値のディレイラインを選択して、デ
ィレイライン4として使用する。
【0031】図1に示されたクロック供給回路では、オ
シレータ3からLSI1に供給されるクロックCLK1
は、分周回路12で分周されたのち、クロックドライバ
15,17を経由して、クロックCLK3としてF/F
14に供給されるとともに、クロックドライバ16,1
8を経由して、クロックCLK4としてF/F22に供
給されるので、クロックCLK3とクロックCLK4が
経由するクロックドライバ数は等しい。また、クロック
CLK3に対するSS−RAMI/F部13内の配線に
基づく遅延は極めて小さい。したがって、F/F14に
供給されるクロックCLK3と、F/F22に供給され
るCLKとの位相差は、クロックドライバ16からディ
レイライン4までの配線と、ディレイライン4からクロ
ックドライバ18までの配線と、クロックドライバ18
からSSRAM2までの配線との、それぞれの配線遅延
時間の合計と、ディレイライン4の遅延時間との和に対
応するものとなる。
【0032】この例のクロック供給回路では、SSRA
M2の読み出し最大遅延時間が長いため、分周回路12
から供給されるクロックCLK2を遅延させて、SSR
AM2に動作用CLK4として供給することによって、
SSRAM2から出力されたデータを、LSI1におい
て取り込むことができるようにする。この際、必要なク
ロック遅延時間から、配線の遅延時間を減算することに
よって、ディレイライン4に要求される遅延時間を求め
ることができるので、この値を満たすようなディレイラ
インを選択して使用すればよい。
【0033】図2においては、LSI1のクロックCL
K2に対して、SS−RAM2のクロックCLK4は位
相未調整、すなわちディレイライン4の遅延値が0の状
態で、若干遅れている。これは、分周回路12からSS
−RAM2に至る経路が長いため、ディレイライン4が
0の状態でも遅延があることを示している。LSI1か
ら出力されたデータは、最大遅延時間が短いため、スキ
ューを差し引いたSS−RAM2到達時に保証されたデ
ータによって、SS−RAM2では、常に正常にデータ
を取り込むことができる。一方、SS−RAM2から出
力されたデータは、最大遅延時間が長いため、クロック
CLK4の位相未調整の場合は、スキューを差し引いた
LSI1到達時に保証されるデータによって、LSI1
では、正常にデータを取り込むことができない。しかし
ながら、ディレイライン4の遅延値を調整して、SS−
RAM2のクロックCLK4の位相を調整した後は、ス
キューを差し引いたLSI1到達時に保証されるデータ
によって、LSI1では、正常にデータを取り込むこと
ができるようになることが示されている。
【0034】SSRAM2を他のSSRAMと変更した
場合には、同様にして、再びSSRAM2からLSI1
への送出信号が保証される時間を求め、必要なディレイ
ラインの値を求め、この条件を満たすディレイライン
を、ディレイライン4として使用する。
【0035】このように、この例のクロック供給回路に
よれば、SSRAMの機種や仕様が変更されたために、
LSI1とSSRAM2間の位相関係を変更することが
必要になった場合、ディレイライン4のみを変更するこ
とによって、必要な位相調整を実行することができる。
なおこの際、SSRAMI/F部13とSSRAM2と
に対しては、同一の分周回路12からクロックが供給さ
れるため、図4で示された従来回路のように、異なる分
周回路を使用したための、分周回路間でのクロックスキ
ューの問題は生じない。
【0036】◇第2実施例 図3は、この発明の第2実施例であるクロック供給回路
の電気的構成を示すブロック図であって、第1実施例の
場合のディレイライン4に相当する部分のみを詳細に示
している。この例のクロック供給回路は、図3に示すよ
うに、LSI1の外部に設けられたオシレータ3と、L
SI1の内部に設けられた分周回路12と、SSRAM
I/F部13の内部に設けられたクロックドライバ1
6,18,ディレイライン41,42,…,セレクタ4
3と、LSI1の内部又は外部に設けられたセレクタ制
御回路44とから概略構成されている。
【0037】オシレータ3は、図示されないLSIの動
作用のクロックを生成する。分周回路12は、LSI動
作用のクロックを分周して、図示されないSSRAMと
のインタフェース部及びSSRAM動作用のクロックを
生成する。クロックドライバ16は、ディレイライン4
1,42,…に、SSRAM動作用のクロックを供給す
る。ディレイライン41,42,…は、SSRAM動作
用のクロックをそれぞれ所定時間遅延させる。セレクタ
43は、ディレイライン41,42,…のいずれかの出
力クロックを選択して出力する。クロックドライバ18
は、セレクタ43の出力クロックを、図示されないSS
RAMに供給する。セレクタ制御回路44は、制御入力
に応じて、ディレイライン41,42,…のいずれかの
出力を選択して、クロックドライバ18に接続するよう
に、セレクタ43を制御する。
【0038】次に、図3を参照して、この例のクロック
供給回路の動作を説明する。オシレータ3は、図示され
ないLSIの動作用のクロックCLK1を生成し、分周
回路12では、クロックCLK1から、図示されないS
SRAMの動作速度に合わせた速度のクロックCLK2
を生成して、図示されないSSRAMとのインタフェー
ス部及びクロックドライバ16に供給する。クロックド
ライバ16の出力クロックは、ディレイライン41,4
2,…に並列に供給され、セレクタ43によって、ディ
レイライン41,42,…のいずれかの出力を選択する
ことによって、クロックドライバ18を経て、それぞれ
のディレイラインの有する遅延値に相当する遅延を受け
たSSRAM動作用クロックCLK4が、図示されない
SSRAMに供給される。
【0039】ディレイライン41,42,…は、それぞ
れ異なる遅延値を有し、制御入力に応じて、セレクタ制
御回路44によって、LSIとSSRAM間のデータ転
送条件を満たす位相関係となるような遅延値のディレイ
ラインが選択される。
【0040】図3に示されたクロック供給回路では、L
SIの設計時に、予め遅延値の異なる複数のディレイラ
イン41,42,…をLSI内部に組み込んでおき、オ
シレータ3から分周回路12を経て供給されたクロック
CLK2を、組み込まれたすべてのディレイラインに供
給して、セレクタ45によって選択されたディレイライ
ンからのクロック出力を、SSRAMに供給するように
している。したがって、所要の位相関係になるようにク
ロック位相を調整する際に、外部から与える制御入力に
応じてセレクタ制御回路44によって、その条件を満た
すディレイラインを選択することによって、クロックに
所望の遅延値を与えることができる。
【0041】このように、この例のクロック供給回路に
よれば、SSRAMの機種や仕様が変更されたために、
LSIとSSRAM間の位相関係を変更することが必要
になった場合、制御入力の設定のみによって、必要な位
相調整を実行することができるので、位相調整の作業が
容易になる。
【0042】以上、この発明の実施例を図面により詳述
してきたが、具体的な構成はこの実施例に限られたもの
ではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計の変
更等があってもこの発明に含まれる。例えば、クロック
の位相調整を行なうために、第2実施例のように、並列
にクロックを供給された、異なる遅延値を有する複数個
のディレイラインのいずれかの出力をセレクタによって
選択することによって、出力クロックに与える遅延値を
変更する代わりに、多数のタップを有する1個のディレ
イラインを用い、それぞれのタップ出力をスイッチで切
り替えることによって、出力クロックの遅延値を変化さ
せるようにしてもよい。このようにすることによって、
ディレイラインのために必要なLSI上の占有面積を少
なくすることができる。
【0043】また、分周回路12は、LSI1内に設け
る場合に限らず、例えば、LSI1の外部に設けて、こ
れからLSI1とSSRAM2にクロックを供給するよ
うにしてもよく、又は分周回路をSSRAM2内に設け
て、これからLSI1とSSRAM2にクロックを供給
するように構成することも可能である。このようにすれ
ば、分周回路によるLSI内の占有面積を節約できるの
で、LSI設計上有利である。
【0044】また、第2実施例において、セレクタ制御
回路44は、LSI内部に設けてもよく、または、LS
Iの外部に設けるようにしてもよいので、回路設計上の
自由度が与えられる。。さらに、ディレイライン41,
42,…とセレクタ43は、LSI1の内部に設けるこ
とが製作上有利であるが、LSI1の外部に設けること
も可能である。
【0045】
【発明の効果】以上説明したように、この発明のクロッ
ク供給回路によれば、相互にデータの送信と受信を行な
うとともに、第2のLSIから第1のLSIへのデータ
出力遅延時間が、第1のLSIから第2のLSIへのデ
ータ出力遅延時間より長い、第1のLSIと第2のLS
Iとに同一周期のクロックを供給して動作させる際に、
第1のLSI内に位相調整手段を設けて第1のLSIの
動作用クロックの位相を調整して第2のLSIにその動
作用クロックとして供給するようにしたので、第1のL
SI側での、第2のLSIからのデータ到達時の保証時
間が短くなることを防止することができるとともに、ク
ロック周波数の変換を行なう分周回路を共通にしたの
で、装置を構成する部品を一つを節減して、回路構成を
簡略化することができる。
【0046】また、分周回路を別個に持つ場合と比較し
て、LSIとSSRAM間のクロックスキューが小さく
なって、データの受け側での送出信号の保証時間が長く
なるので、ディレイラインの遅延値を調整する際のディ
レィ値の許容範囲が増大し、したがって、ディレイライ
ン調整時の遅延値の精度を低下させることが可能にな
り、クロック位相調整作業が容易になるとともに、作業
時間を短縮することが可能になる。さらに、クロックス
キューが減少した分、動作速度の遅いSSRAMを使用
することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の第1実施例であるクロック供給回路
の電気的構成を示すブロック図である。
【図2】第1実施例におけるLSIとSSRAMとの相
互のデータ転送を説明するタイムチャートである。
【図3】この発明の第2実施例であるクロック供給回路
の電気的構成を示すブロック図である。
【図4】従来のクロック供給回路の電気的構成を示すブ
ロック図である。
【図5】LSIとSSRAMとの相互のデータ転送を説
明するタイムチャート(1)である。
【図6】LSIとSSRAMとの相互のデータ転送を説
明するタイムチャート(2)である。
【図7】LSIとSSRAMとの相互のデータ転送を説
明するタイムチャート(3)である。
【符号の説明】
1 LSI(第1のLSI) 13 SSRAMI/F部(インタフェース手段) 12 分周回路(クロック周期変換手段) 13 SSRAMI/F部(インタフェース手段) 14 F/F(フリップ・フロップ) 2 SSRAM(第2のLSI) 22 F/F(フリップ・フロップ) 3 オシレータ 4 ディレイライン(位相調整手段) 41 ディレイライン 42 ディレイライン 43 セレクタ(選択手段) 44 セレクタ制御回路(セレクタ制御手段)

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 相互にデータの送信と受信を行なうとと
    もに、第2のLSIから第1のLSIへのデータ出力遅
    延時間が、第1のLSIから第2のLSIへのデータ出
    力遅延時間より長い、第1のLSIと第2のLSIとに
    同一周期のクロックを供給するクロック供給回路におい
    て、 前記第1のLSIに位相調整手段を設けて該第1のLS
    Iの動作用クロックの位相を調整して前記第2のLSI
    にその動作用クロックとして供給するように構成されて
    いることを特徴とするクロック供給回路。
  2. 【請求項2】 前記第2のLSIが、クロックによって
    データの書き込みと読み出しとを行なうメモリ回路から
    なることを特徴とする請求項1記載のクロック供給回
    路。
  3. 【請求項3】 前記第1のLSIの動作用クロックが、
    前記第1のLSIにおける他の部分の動作用クロックか
    らクロック周波数変換手段を介して生成されるように構
    成されていることを特徴とする請求項1又は2記載のク
    ロック供給回路。
  4. 【請求項4】 前記クロック周波数変換手段が分周器か
    らなることを特徴とする請求項3記載のクロック供給回
    路。
  5. 【請求項5】 前記位相調整手段が、前記第2のLSI
    から出力されて前記第1のLSI到達時に最小遅延時間
    と最大遅延時間とによって保証されたデータを、該第1
    のLSIにおいて取り込むことができるように、該第1
    のLSIの動作用クロックの位相を調整して前記第2の
    LSIに動作用クロックとして供給するように構成され
    ていることを特徴とする請求項1,2,3又は4記載の
    クロック供給回路。
  6. 【請求項6】 前記位相調整手段が、前記第2のLSI
    から出力されて前記第1のLSI到達時に保証されたデ
    ータを、前記第1のLSIから前記第2のLSIに至る
    配線に基づくスキューを差し引いたタイミングで、前記
    第1のLSIにおいて取り込むことができるように、前
    記クロック位相の調整を行なうごとく構成されているこ
    とを特徴とする請求項5記載のクロック供給回路。
  7. 【請求項7】 前記位相調整手段が、 前記第1のLSIの外部に設けられた、該第1のLSI
    の動作用クロックを遅延させるためのディレイラインを
    含んでなることを特徴とする請求項1,2,3,4,5
    又は6記載のクロック供給回路。
  8. 【請求項8】 前記ディレイラインが交換可能であっ
    て、異なる遅延値を有するディレイラインから選択して
    交換することによって、前記第2のLSIに、前記第1
    のLSIのクロックとの間に所要の位相差を有するクロ
    ックを供給するように構成されていることを特徴とする
    請求項7記載のクロック供給回路。
  9. 【請求項9】 前記位相調整手段が、前記第1のLSI
    の内部に設けられた、それぞれ異なる遅延値を有する複
    数のディレイラインと、該複数のディレイラインからい
    ずれか一つを選択する選択手段とを含んでなり、該選択
    手段における選択によって、前記第2のLSIに、前記
    第1のLSIのクロックとの間に所要の位相差を有する
    クロックを供給するように構成されていることを特徴と
    する請求項1,2,3,4,5又は6記載のクロック供
    給回路。
  10. 【請求項10】 前記選択手段が、制御入力によって動
    作するセレクタ制御手段の制御に応じて、前記複数のデ
    ィレイラインから一つのディレイラインを選択するよう
    に構成されていることを特徴とする請求項9記載のクロ
    ック供給回路。
  11. 【請求項11】 前記第1のLSIがフリップ・フロッ
    プを有し、前記クロック周期変換手段から供給されたク
    ロックによってタイミング整形を行なって前記第2のL
    SIとの間でデータを送受するように構成されているこ
    とを特徴とする請求項1,2,3,4,5,6,7、
    8,9又は10記載のクロック供給回路。
  12. 【請求項12】 前記第2のLSIがフリップ・フロッ
    プを有し、前記位相調整手段を介して供給されたクロッ
    クによってタイミング整形を行なって前記第1のLSI
    との間でデータを送受するように構成されていることを
    特徴とする請求項1,2,3,4,5,6,7,8,
    9,10又は11記載のクロック供給回路。
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