JP2000022504A - 高周波低周波混在信号の計測サンプリング方法 - Google Patents
高周波低周波混在信号の計測サンプリング方法Info
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- JP2000022504A JP2000022504A JP10181300A JP18130098A JP2000022504A JP 2000022504 A JP2000022504 A JP 2000022504A JP 10181300 A JP10181300 A JP 10181300A JP 18130098 A JP18130098 A JP 18130098A JP 2000022504 A JP2000022504 A JP 2000022504A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 高周波と低周波信号を同一の計測系で計測し
て、計測系を単純にする高周波低周波混在信号の計測サ
ンプリング方法を提供する。 【解決手段】 １周期内に高周波信号と低周波信号が順
次生ずる混在信号の計測サンプリング方法において、１
周期内の高周波信号の存在する高周波期間と低周波信号
の存在する低周波期間を定め、１周期毎に発生する基準
周期信号に基づき、高周波期間信号と低周波期間信号を
生成して、各期間信号により各期間内の高周波信号また
は低周波信号をサンプリングホールドする。
て、計測系を単純にする高周波低周波混在信号の計測サ
ンプリング方法を提供する。 【解決手段】 １周期内に高周波信号と低周波信号が順
次生ずる混在信号の計測サンプリング方法において、１
周期内の高周波信号の存在する高周波期間と低周波信号
の存在する低周波期間を定め、１周期毎に発生する基準
周期信号に基づき、高周波期間信号と低周波期間信号を
生成して、各期間信号により各期間内の高周波信号また
は低周波信号をサンプリングホールドする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、１周期内に高周波
信号と低周波信号が順次生ずる混在信号の計測サンプリ
ング方法に関する。
信号と低周波信号が順次生ずる混在信号の計測サンプリ
ング方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】加速器に大電力マイクロ波を発生するク
ライストロンなどの電子管にパルスを供給するパルス発
生回路などにおいて、パルスを発生する際の高周波と低
周波の信号の計測が行われる。従来は高周波と低周波の
計測系は分離され、２系統以上の計測系を設けて、高電
圧、大電流の高周波および低周波の計測が行われてい
た。
ライストロンなどの電子管にパルスを供給するパルス発
生回路などにおいて、パルスを発生する際の高周波と低
周波の信号の計測が行われる。従来は高周波と低周波の
計測系は分離され、２系統以上の計測系を設けて、高電
圧、大電流の高周波および低周波の計測が行われてい
た。
【０００３】図３は高電圧，大電流のパルスを発生する
パルス発生回路と計測系を示す図である。１は直流電源
である。２はインダクタンスであり、３はインダクタン
ス３ａとコンデンサ３ｂとから構成されるブルームライ
ン型のＰＦＮ（パルス・フォーミング・ネットワーク）
である。４はサイラトロンでこのスイッチング作用によ
りパルスを発生する。パルストランス５はこのパルス電
圧を増幅してクライストロン６に供給する。クライスト
ロン６はこのパルスを入力して大電力のパルスを発生
し、加速器に供給して電子などを加速する。
パルス発生回路と計測系を示す図である。１は直流電源
である。２はインダクタンスであり、３はインダクタン
ス３ａとコンデンサ３ｂとから構成されるブルームライ
ン型のＰＦＮ（パルス・フォーミング・ネットワーク）
である。４はサイラトロンでこのスイッチング作用によ
りパルスを発生する。パルストランス５はこのパルス電
圧を増幅してクライストロン６に供給する。クライスト
ロン６はこのパルスを入力して大電力のパルスを発生
し、加速器に供給して電子などを加速する。
【０００４】このようなパルス発生回路では、サイラト
ロン４のスイッチング周期で１周期に高周波信号と低周
波信号が順次発生する。
ロン４のスイッチング周期で１周期に高周波信号と低周
波信号が順次発生する。
【０００５】このようにして発生した高周波電圧および
低周波電圧をサイラトロン４の＋極側で計測するため、
高周波電圧計測系７と、低周波電圧計測系８が設けられ
ている。各電圧計測系７，８は電圧を計器用の電圧まで
下げるプローブ７ａ，８ａ、下げた電圧を所定の値に増
幅する増幅器７ｂ，８ｂ、この電圧をサンプリングして
ホールドするサンプルホールド器７ｃ，８ｃが設けられ
ている。
低周波電圧をサイラトロン４の＋極側で計測するため、
高周波電圧計測系７と、低周波電圧計測系８が設けられ
ている。各電圧計測系７，８は電圧を計器用の電圧まで
下げるプローブ７ａ，８ａ、下げた電圧を所定の値に増
幅する増幅器７ｂ，８ｂ、この電圧をサンプリングして
ホールドするサンプルホールド器７ｃ，８ｃが設けられ
ている。
【０００６】また、高周波電流および低周波電流はサイ
ラトロン４の−極側で計測するため、高周波電流計測系
９と、低周波電流計測系１０が設けられている。高周波
電流計測系９には、電流トランス９ａ，電流増幅器９
ｂ，サンプルホールド器９ｃが設けられ、低周波電流計
測系１０には、１Ωとか０．５Ωの低抵抗で電流を通す
計測用のシャント抵抗１０ａ、電流増幅器１０ｂ，サン
プルホールド器１０ｃが設けられている。
ラトロン４の−極側で計測するため、高周波電流計測系
９と、低周波電流計測系１０が設けられている。高周波
電流計測系９には、電流トランス９ａ，電流増幅器９
ｂ，サンプルホールド器９ｃが設けられ、低周波電流計
測系１０には、１Ωとか０．５Ωの低抵抗で電流を通す
計測用のシャント抵抗１０ａ、電流増幅器１０ｂ，サン
プルホールド器１０ｃが設けられている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】電圧および電流の計測
にそれぞれ高周波用と低周波用の４系統の計測系を設け
ているので、この計測回路が複雑になり、ノイズが進入
し易い。また信号を高電圧や大電流から取り出すため、
多系統の計測系はそれぞれへのオフセットやｄＶ／ｄｔ
等を合わせたりしなければならないという問題がある。
にそれぞれ高周波用と低周波用の４系統の計測系を設け
ているので、この計測回路が複雑になり、ノイズが進入
し易い。また信号を高電圧や大電流から取り出すため、
多系統の計測系はそれぞれへのオフセットやｄＶ／ｄｔ
等を合わせたりしなければならないという問題がある。
【０００８】本発明は、上述の問題点に鑑みてなされた
もので、高周波と低周波信号を同一の計測系で計測し
て、計測系を単純にする高周波低周波混在信号の計測サ
ンプリング方法を提供することを目的する。
もので、高周波と低周波信号を同一の計測系で計測し
て、計測系を単純にする高周波低周波混在信号の計測サ
ンプリング方法を提供することを目的する。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項１の発明では、１周期内に高周波信号と低周
波信号が順次生ずる混在信号の計測サンプリング方法に
おいて、１周期内の高周波信号の存在する高周波期間と
低周波信号の存在する低周波期間を定め、１周期毎に発
生する基準周期信号に基づき、高周波期間信号と低周波
期間信号を生成して、各期間信号により各期間内の高周
波信号または低周波信号をサンプリングホールドする。
め、請求項１の発明では、１周期内に高周波信号と低周
波信号が順次生ずる混在信号の計測サンプリング方法に
おいて、１周期内の高周波信号の存在する高周波期間と
低周波信号の存在する低周波期間を定め、１周期毎に発
生する基準周期信号に基づき、高周波期間信号と低周波
期間信号を生成して、各期間信号により各期間内の高周
波信号または低周波信号をサンプリングホールドする。
【００１０】電圧と電流は計測器や計測位置が異なるの
で、それぞれの計測系を設けて計測する。各計測系では
１周期内に高周波信号と低周波信号が順次入力されるの
で、高周波信号が入ってくる期間と低周波信号が入って
くる期間を１周期ごとに発生する基準周期信号に基づき
指定し、高周波信号が入ってくる期間では高周波信号を
計測する装置で計測させ、低周波信号が入ってくる期間
では低周波信号を計測する装置で計測させる。このよう
に高周波と低周波信号が１周期内で順次入ってくる場
合、高周波または低周波信号の入ってくる期間を設定す
ることにより、１つの計測系で高周波と低周波信号を計
測することができる。
で、それぞれの計測系を設けて計測する。各計測系では
１周期内に高周波信号と低周波信号が順次入力されるの
で、高周波信号が入ってくる期間と低周波信号が入って
くる期間を１周期ごとに発生する基準周期信号に基づき
指定し、高周波信号が入ってくる期間では高周波信号を
計測する装置で計測させ、低周波信号が入ってくる期間
では低周波信号を計測する装置で計測させる。このよう
に高周波と低周波信号が１周期内で順次入ってくる場
合、高周波または低周波信号の入ってくる期間を設定す
ることにより、１つの計測系で高周波と低周波信号を計
測することができる。
【００１１】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面を
参照して説明する。図１は実施形態の高周波低周波混在
信号の計測サンプリング系を備えたパルス発生回路を示
す。１は直流電源で、例えば２５ｋＶとか４０ｋＶであ
る。２はインダクタンスであり、３はインダクタンス３
ａとコンデンサ３ｂとから構成されるブルームライン型
のＰＦＮ（パルス・フォーミング・ネットワーク）であ
る。４はサイラトロンでこのスイッチング作用とＰＦＮ
３によりパルスを発生する。発生したパルス電圧は 前
記直流電源１の電圧の場合、５０ｋＶとか８０ｋＶで、
電源電圧の２倍になる。パルストランス５はこのパルス
電圧を例えば７倍程度に増大してクライストロン６に供
給する。クライストロン６はこのパルス、例えば、５６
０ｋＶ，５００Ａ，１．５μｓを入力して６０ＭＷ程度
のパルス電力を発生し、加速器に供給して電子などを加
速する。
参照して説明する。図１は実施形態の高周波低周波混在
信号の計測サンプリング系を備えたパルス発生回路を示
す。１は直流電源で、例えば２５ｋＶとか４０ｋＶであ
る。２はインダクタンスであり、３はインダクタンス３
ａとコンデンサ３ｂとから構成されるブルームライン型
のＰＦＮ（パルス・フォーミング・ネットワーク）であ
る。４はサイラトロンでこのスイッチング作用とＰＦＮ
３によりパルスを発生する。発生したパルス電圧は 前
記直流電源１の電圧の場合、５０ｋＶとか８０ｋＶで、
電源電圧の２倍になる。パルストランス５はこのパルス
電圧を例えば７倍程度に増大してクライストロン６に供
給する。クライストロン６はこのパルス、例えば、５６
０ｋＶ，５００Ａ，１．５μｓを入力して６０ＭＷ程度
のパルス電力を発生し、加速器に供給して電子などを加
速する。
【００１２】このようなパルス発生回路では、サイラト
ロン４のスイッチング周期で発生する低周波信号と高周
波信号が存在し、低周波信号はスイッチが接続されコン
デンサ３ｂに充電されることにより発生し、高周波信号
はスイッチが切断されたときに発生する。図２は発生す
るパルスを示す。サイラトロン４に対して周期Ｔでパル
ス発生信号ａが与えられ、この立ち上がり信号でサイラ
トロン４を接続し、立ち下がり信号で切断する。接続さ
れるとサイラトロン４は短絡するのでその電圧は０に向
かうが０を越え振動して高周波を発生する。立ち下がり
信号で切断されると電圧は上昇し、ＰＦＮ３で決まる一
定電圧に達する。この信号がパルスを形成し、これを低
周波信号とする。このようにサイラトロン４に与えられ
るパルス発生信号ａの周期Ｔ内で高周波信号と低周波信
号が順次発生する。
ロン４のスイッチング周期で発生する低周波信号と高周
波信号が存在し、低周波信号はスイッチが接続されコン
デンサ３ｂに充電されることにより発生し、高周波信号
はスイッチが切断されたときに発生する。図２は発生す
るパルスを示す。サイラトロン４に対して周期Ｔでパル
ス発生信号ａが与えられ、この立ち上がり信号でサイラ
トロン４を接続し、立ち下がり信号で切断する。接続さ
れるとサイラトロン４は短絡するのでその電圧は０に向
かうが０を越え振動して高周波を発生する。立ち下がり
信号で切断されると電圧は上昇し、ＰＦＮ３で決まる一
定電圧に達する。この信号がパルスを形成し、これを低
周波信号とする。このようにサイラトロン４に与えられ
るパルス発生信号ａの周期Ｔ内で高周波信号と低周波信
号が順次発生する。
【００１３】このような高周波電圧および低周波電圧を
サイラトロン４の＋極側で計測するため、電圧計測系１
１が設けられている。この電圧計測系１１には、電圧を
計器用の電圧まで下げるプローブ１１ａ、下げた電圧を
所定の値に増幅する増幅器１１ｂ、この電圧をサンプリ
ングしてホールドするサンプルホールド器１１ｃ，１１
ｄが設けられ、１１ｃは高周波電圧用サンプルホールド
器であり、１１ｄは低周波電圧用サンプルホールド器で
ある。
サイラトロン４の＋極側で計測するため、電圧計測系１
１が設けられている。この電圧計測系１１には、電圧を
計器用の電圧まで下げるプローブ１１ａ、下げた電圧を
所定の値に増幅する増幅器１１ｂ、この電圧をサンプリ
ングしてホールドするサンプルホールド器１１ｃ，１１
ｄが設けられ、１１ｃは高周波電圧用サンプルホールド
器であり、１１ｄは低周波電圧用サンプルホールド器で
ある。
【００１４】また、高周波電流および低周波電流をサイ
ラトロン４の−極側で計測するため、電流計測系１２が
設けられている。電流計測系１２には、電流トランス１
２ａ，電流増幅器１２ｂ，サンプルホールド器１２ｃ，
１２ｄが設けられ、１２ｃは高周波電流用サンプルホー
ルド器であり、１２ｄは低周波電流用サンプルホールド
器である。
ラトロン４の−極側で計測するため、電流計測系１２が
設けられている。電流計測系１２には、電流トランス１
２ａ，電流増幅器１２ｂ，サンプルホールド器１２ｃ，
１２ｄが設けられ、１２ｃは高周波電流用サンプルホー
ルド器であり、１２ｄは低周波電流用サンプルホールド
器である。
【００１５】タイミング制御回路１３は高周波期間と低
周波期間を発生する回路で、高周波期間で高周波電圧用
サンプルホールド器１１ｃと高周波電流用サンプルホー
ルド器１２ｃを作動させ、低周波期間で低周波電圧用サ
ンプルホールド器１１ｄと低周波電流用サンプルホール
ド器１２ｄを作動させる。
周波期間を発生する回路で、高周波期間で高周波電圧用
サンプルホールド器１１ｃと高周波電流用サンプルホー
ルド器１２ｃを作動させ、低周波期間で低周波電圧用サ
ンプルホールド器１１ｄと低周波電流用サンプルホール
ド器１２ｄを作動させる。
【００１６】タイミング制御回路１３は、図２に示すよ
うにサイラトロン４により発生するパルス波形に基づき
高周波期間と低周波期間を生成し、この期間に対応する
サンプルホールド器１１ｃ，１１ｄ，１２ｃ，１２ｄを
作動させる。高周波期間は高周波の発生している期間
で、パルス発生信号ａの立ち上がりから立ち下がりの期
間Ｔａであり、低周波期間は高周波の発生していない期
間Ｔｂとしている。これらの期間Ｔａ，Ｔｂはサイラト
ロン４に指示されるパルス発生信号ａとその周期Ｔに基
づき生成される。
うにサイラトロン４により発生するパルス波形に基づき
高周波期間と低周波期間を生成し、この期間に対応する
サンプルホールド器１１ｃ，１１ｄ，１２ｃ，１２ｄを
作動させる。高周波期間は高周波の発生している期間
で、パルス発生信号ａの立ち上がりから立ち下がりの期
間Ｔａであり、低周波期間は高周波の発生していない期
間Ｔｂとしている。これらの期間Ｔａ，Ｔｂはサイラト
ロン４に指示されるパルス発生信号ａとその周期Ｔに基
づき生成される。
【００１７】
【発明の効果】以上の説明より明らかなように、本発明
は、１周期に高周波信号と低周波信号が順次生ずる混在
信号を高周波期間と低周波期間とを設定して計測するよ
うにしたので、従来のように、高周波と低周波の信号を
得るために、別々の計測系を必要としない。この高周波
期間と低周波期間との設定は、計測対象のパルスを生成
するのに用いるパルス発生信号に基づき生成することが
できる。このように測定期間を設定することで、同一計
測系から複数種類の信号をサンプルホールドすることが
できる。
は、１周期に高周波信号と低周波信号が順次生ずる混在
信号を高周波期間と低周波期間とを設定して計測するよ
うにしたので、従来のように、高周波と低周波の信号を
得るために、別々の計測系を必要としない。この高周波
期間と低周波期間との設定は、計測対象のパルスを生成
するのに用いるパルス発生信号に基づき生成することが
できる。このように測定期間を設定することで、同一計
測系から複数種類の信号をサンプルホールドすることが
できる。
【図１】本発明の実施形態の構成を示す図である。
【図２】パルス発生、高周波期間、低周波期間を説明す
る図である。
る図である。
【図３】従来の高周波信号と低周波信号を別々に計測す
る回路図である。
る回路図である。
１ 直流電源 ２ インダクタンス ３ ＰＦＮ ３ａ インダクタンス ３ｂ コンデンサ ４ サイラトロン ５ パルストランス ６ クライストロン ７ 高周波電圧計測系 ８ 低周波電圧計測系 ９ 高周波電流計測系 １０ 低周波電流計測系 １１ 電圧計測系 １１ａ プローブ １１ｂ 増幅器 １１ｃ 高周波電圧用サンプルホールド器 １１ｄ 低周波電圧用サンプルホールド器 １２ 電流計測系 １２ａ 電流トランス １２ｂ 増幅器 １２ｃ 高周波電流用サンプルホールド器 １２ｄ 低周波電流用サンプルホールド器 １３ タイミング制御回路
Claims (1)
- 【請求項１】 １周期内に高周波信号と低周波信号が順
次生ずる混在信号の計測サンプリング方法において、１
周期内の高周波信号の存在する高周波期間と低周波信号
の存在する低周波期間を定め、１周期毎に発生する基準
周期信号に基づき、高周波期間信号と低周波期間信号を
生成して、各期間信号により各期間内の高周波信号また
は低周波信号をサンプリングホールドすることを特徴と
する高周波低周波混在信号の計測サンプリング方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10181300A JP2000022504A (ja) | 1998-06-29 | 1998-06-29 | 高周波低周波混在信号の計測サンプリング方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10181300A JP2000022504A (ja) | 1998-06-29 | 1998-06-29 | 高周波低周波混在信号の計測サンプリング方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000022504A true JP2000022504A (ja) | 2000-01-21 |
Family
ID=16098277
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10181300A Pending JP2000022504A (ja) | 1998-06-29 | 1998-06-29 | 高周波低周波混在信号の計測サンプリング方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000022504A (ja) |
-
1998
- 1998-06-29 JP JP10181300A patent/JP2000022504A/ja active Pending
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