JP2000009785A - プリント基板検査装置 - Google Patents

プリント基板検査装置

Info

Publication number
JP2000009785A
JP2000009785A JP10178205A JP17820598A JP2000009785A JP 2000009785 A JP2000009785 A JP 2000009785A JP 10178205 A JP10178205 A JP 10178205A JP 17820598 A JP17820598 A JP 17820598A JP 2000009785 A JP2000009785 A JP 2000009785A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
printed circuit
circuit board
probe
inspection
probe holding
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10178205A
Other languages
English (en)
Inventor
Norimori Tachibana
典盛 橘
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
ONISHI DENSHI KK
Original Assignee
ONISHI DENSHI KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ONISHI DENSHI KK filed Critical ONISHI DENSHI KK
Priority to JP10178205A priority Critical patent/JP2000009785A/ja
Publication of JP2000009785A publication Critical patent/JP2000009785A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 プリント基板の各面側において縦横に移動す
るプローブ保持ユニットの移動及び位置決め時間を最小
限度に抑えて、プリント基板の検査能率をアップする。 【解決手段】 プローブ保持ユニット11を、プローブ
保持盤12に、縦横に1インチの設計基準寸法の間隔を
おいて、多数のソレノイド駆動式プローブ13を保持す
るとともに、縦横に各プローブ13に対して設計基準寸
法の1/2ずつずらしてプリント基板21の歪み矯正用
のばね負荷ボール14を多数保持して構成し、コンピュ
ーターからの制御信号に基づいて、プリント基板21の
所望の検査ポイントに対向するプローブ13を電磁的に
駆動して、検査ポイントに当接することにより、設計基
準寸法に従って設計された回路パターンの検査を行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、プリント基板
(配線板)の両面の導通状態及び絶縁状態を検査する装
置、特にクランプを介して保持されるプリント基板の表
面側と裏面側に、それぞれ送り機構を介してプリント基
板沿接(隣接)面上を互いに直交する縦横の方向(X軸
方向とY軸方向)に移動可能な1対のプローブ保持ユニ
ットを設置してなるプリント基板検査装置の改良に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】従来のこの種のプリント基板検査装置に
おいては、プローブ保持ユニットは、送り機構に連なる
ブロック状のプローブ保持部材に、プリント基板に接離
(Z軸方向に移動)可能な1本の電動式プローブを保持
した構造からなっており、コンピューターの制御信号に
基づいて、所望の検査ポイントに対向するプローブを有
するプローブ保持ユニットをプリント基板に沿って移動
して、該プローブが所望の検査ポイントに対向するよう
に位置決めした後、該プローブを駆動して所望の検査ポ
イントに当接させる操作を繰り返すことによって、プリ
ント基板の検査を行っている。
【0003】しかしこのような1本のプローブを保持す
るプローブ保持ユニットを備えたプリント基板の検査装
置では、プローブ保持ユニットの所望の各検査ポイント
部への移動及び位置決めという検査の準備操作に相当の
時間かかるため、全体として検査能率のアップがはかり
にくいという問題がある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】この発明は、従来のプ
ローブ保持ユニットにおける上記のような問題に鑑み、
プローブ保持ユニットの移動及び位置決め操作時間を最
小限度に抑えて、検査能率を一段とアップすることを課
題としている。
【0005】
【課題を解決するための手段】この発明は、プリント基
板の回路パターンの大部分が設計基準寸法(一般には1
インチ)をベースにして設計されており、この結果検査
ポイントの大部分がこれの整数倍の位置にあると想定さ
れることに着目してなしたもので、クランプを介して保
持されるプリント基板の表面側と裏面側に、それぞれ送
り機構を介してプリント基板沿接面上を互いに直交する
縦横の方向に移動可能な1対のプローブ保持ユニットを
設置してなるプリント基板検査装置において、プローブ
保持ユニットを、送り機構に連なるプローブ保持盤に、
縦横方向にプリント基板の回路設計基準寸法の間隔をお
いて、プリント基板に接離可能な多数本の電動式プロー
ブを保持した構成にすることを特徴としている。
【0006】上記の特徴構成において、各プローブ保持
ユニットのプローブ保持盤のプローブ保持ユニット並設
側外縁部に保持する少なくとも1本の電動式プローブ
は、ローブ保持ユニット並設側に向かって傾斜させるこ
とができる。
【0007】プローブの電動駆動は、周知のように、ソ
レノイドやモーター(リニアモーターなど)等を用いて
行うことができる。
【0008】なおプリント基板の回路設計基準寸法とし
ては、一般には、慣用的な1インチを用いるが、場合に
よっては1/2インチなどを用いることもできる。
【0009】この発明のプリント基板検査装置は、プリ
ント基板の表裏の各面側に並設した各プローブ保持ユニ
ットを、それぞれの送り機構により各プローブ保持盤の
縦横方向の移動を介して、各プローブがプリント基板の
所定の範囲における検査ポイントに対向するように位置
決めした後、コンピューターからの制御信号に基づい
て、順次所望の検査ポイントに対向するプローブを電動
駆動して、所望の検査ポイントに当接させるという形
で、設計基準寸法により設計されたプリント基板の検査
を行うもので、プリント保持ユニットのプリント基板に
対する移動及び位置決め操作は、検査当初だけである。
【0010】またプローブ保持盤のプローブ保持ユニッ
ト並設側外縁部における少なくとも1本のプローブを、
プローブ保持ユニット並設側の外方に向かって傾斜させ
るプローブ保持ユニットは、検査ポイント間の間隔とし
て設計基準寸法未満のものが含まれるプリント基板の検
査に用いるもので、設計基準寸法未満の検査ポイント間
の検査を行う場合には、並設する両プローブ保持ユニッ
トを送り機構を介して接近を含めた移動をして、外方に
傾斜してのびる両プローブを各検査ポイントに対向させ
た後、該検査ポイントに当接させる操作を行う。
【0011】
【発明の実施の形態】以下図面に基づいて、このに発明
に係るプリント基板検査装置の実施態様を説明する。
【0012】図示したプリント基板検査装置は、設計基
準寸法未満の検査ポイント間隔を有するプリント基板を
検査するもので、各プローブ保持ユニット11は、方形
で中空のプローブ保持盤12に、それぞれ縦横に1イン
チの設計基準寸法の間隔をおいて、多数のソレノイド駆
動式プローブ13を保持するとともに、縦横に各プロー
ブ13に対して設計基準寸法の1/2ずつずらしてプリ
ント基板21の歪み(そり)矯正用のばね15負荷(押
圧)ボール14を多数保持した構造からなっており、横
送りモーター21から横送りねじ22を介して横方向に
移動可能なクランプ24に保持したプリント基板21の
表側と裏側のそれぞれに、送り機構を形成する横送りモ
ーター16、縦送りモーター18から横送りねじ17、
縦送りねじ19を介して縦横に移動可能に1対ずつ並設
されている。
【0013】ただし各プローブ保持ユニット11のプロ
ーブ保持盤12に保持した多数のプローブ13のうち、
それぞれプリント基板21の表側と裏側において並設す
るプローブ保持ユニット11対の並設側の前隅部(前角
部)に位置するプローブ13a(図1にはプリント基板
21の裏側に位置するプローブ保持ユニット11につい
てのみ示してある)は、図3に示すように並設側の外側
に向かって傾斜してのびるように保持してあり、その他
は真直ぐにのびるように保持してある。
【0014】この検査装置における各プローブ保持ユニ
ット11は、大半を占める設計基準寸法に従って設計し
た回路パターンの検査ポイント間を検査する際には、縦
横の送りモーター16、18から縦横の送りねじ17、
19を介して及び場合によってはプリント基板21用の
横送りモーター22、横送りねじ23を介して、プリン
ト基板21に対する位置決めを行った後、コンピュータ
ーからの制御信号に基づいて、プリント基板21の所望
の検査ポイントに対向するプローブ13を電磁的に駆動
して当接する(図2参照)という形で、検査に供する。
【0015】他方設計基準寸法未満の間隔の検査ポイン
ト間について検査を行う場合には、並設した両プローブ
保持ユニット11を、それぞれの送りモーター16また
は18から送りねじ17または19を介して、両プロー
ブ13aが所定の各検査ポイントに対向するまで移動す
るとともに該位置に位置決めした後、制御信号により検
査ポイントに当接させる(図3参照)。
【0016】この発明のプリント基板検査装置は、この
ほか、図3のようなプローブの傾斜保持構成を、各保持
盤のプローブ保持ユニット並設側の外縁部に保持する他
のプローブについても採用するなど、種々の態様で実施
することができるもので、図示の態様に限定されるもの
ではない。
【0017】
【発明の効果】この発明のプリント基板検査装置によれ
ば、設計基準寸法に従って設計された回路パターンのみ
からなるプリント基板の場合はもちろん、少しではある
が設計基準寸法未満の検査ポイント間隔の回路パターン
を含むプリント基板の場合でも、プローブ保持ユニット
をプリント基板に対して移動して、位置決めする操作の
回数はきわめて少ないので、プリント基板の検査能率を
大幅にアップすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明に係るプリント基板検査装置の実施態
様の要部の略示的な分解斜視図である。
【図2】プリント基板の設計基準寸法に従って設計され
た部分の検査態様を示す部分拡大断面図である。
【図3】プリント基板の設計基準寸法未満の検査ポイン
ト間隔を含む部分の検査態様を示す部分拡大断面図であ
る。
【符号の説明】
11 プローブ保持ユニット 12 プローブ保持盤 13 ソレノイド駆動式プローブ 13a ソレノイド駆動式プローブ 14 ボール 15 ばね 16 横送りモーター 17 横送りねじ 18 縦送りモーター 19 縦送りねじ 21 プリント基板 22 横送りモーター 23 横送りねじ 24 クランプ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 クランプを介して保持されるプリント基
    板の表面側と裏面側に、それぞれ送り機構を介してプリ
    ント基板沿接面上を互いに直交する縦横の方向に移動可
    能な1対のプローブ保持ユニットを設置してなるプリン
    ト基板検査装置であって、プローブ保持ユニットが、送
    り機構に連なるプローブ保持盤に、縦横方向にプリント
    基板の回路設計基準寸法の間隔をおいて、プリント基板
    に接離可能な多数本の電動式プローブを保持した構成か
    らなる、プリント基板検査装置。
  2. 【請求項2】 各プローブ保持ユニットのプローブ保持
    盤のプローブ保持ユニット並設側外縁部に保持する少な
    くとも1本の電動式プローブを、プローブ保持ユニット
    並設側に向かって傾斜してなる、請求項1記載のプリン
    ト基板検査装置。
JP10178205A 1998-06-25 1998-06-25 プリント基板検査装置 Pending JP2000009785A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10178205A JP2000009785A (ja) 1998-06-25 1998-06-25 プリント基板検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10178205A JP2000009785A (ja) 1998-06-25 1998-06-25 プリント基板検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000009785A true JP2000009785A (ja) 2000-01-14

Family

ID=16044424

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10178205A Pending JP2000009785A (ja) 1998-06-25 1998-06-25 プリント基板検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2000009785A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7145351B2 (en) 2003-01-23 2006-12-05 Yamaha Fine Technologies Co., Ltd Electrical inspection apparatus
WO2006132243A1 (ja) * 2005-06-08 2006-12-14 Nhk Spring Co., Ltd. 検査装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7145351B2 (en) 2003-01-23 2006-12-05 Yamaha Fine Technologies Co., Ltd Electrical inspection apparatus
WO2006132243A1 (ja) * 2005-06-08 2006-12-14 Nhk Spring Co., Ltd. 検査装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2656744B2 (ja) 開フレーム門形プローブ探査システム
CA2174784C (en) Automatic multi-probe pwb tester
KR100707686B1 (ko) 패널의 검사장치
TW201712346A (zh) 用於測試電路板之平行測試器的定位裝置及用於測試電路板的平行測試器
JP7049157B2 (ja) プローブ組立体及びプローブユニット
JP3110984B2 (ja) 回路パターンの電気的特性を測定する装置
JP6084140B2 (ja) 電気検査装置
JP2000009785A (ja) プリント基板検査装置
KR100729008B1 (ko) 다수의 단자를 가진 기판의 전기 테스트용 장치
JP4163435B2 (ja) 被検査基板の検査装置
TW381180B (en) Scan test machine for densely spaced test sites
JP4726606B2 (ja) プリント基板の電気検査装置、検査治具および検査治具の固定確認方法
KR100767298B1 (ko) 표시기판 또는 회로기판의 검사장치
JP2008017571A (ja) リニアモータ及び部品搭載装置
KR100371665B1 (ko) 인쇄회로기판 검사장비용 검사핀 유닛
JP2000338161A (ja) 基板検査装置
JP2000340925A (ja) プリント配線基板検査装置
JP3214319B2 (ja) 導電性ボールの搭載方法
JP2000258125A (ja) 測定装置
JP3013658B2 (ja) リードフレームの保持具
JPH09211054A (ja) 基板検査用プローブ装置
JP2009063342A (ja) 配線板検査装置及び方法
JPH07311005A (ja) マグネットスタンド
JPH10282147A (ja) 平板状被検査体の試験用ヘッド
GB2312519A (en) Multiple probe printed circuit board test arrangement