JP2000004260A - 光信号監視方法及び装置 - Google Patents

光信号監視方法及び装置

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JP2000004260A JP10167152A JP16715298A JP2000004260A JP 2000004260 A JP2000004260 A JP 2000004260A JP 10167152 A JP10167152 A JP 10167152A JP 16715298 A JP16715298 A JP 16715298A JP 2000004260 A JP2000004260 A JP 2000004260A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 伝送光信号を伝送信号速度によらず1ビット
単位で監視可能とする。 【解決手段】 光信号品質監視装置203は、所望の光
信号を光受信機202により光電気変換された電気信号
が入力される。光信号品質監視回路203は、電圧振幅
閾値と位相閾値を設定することにより入力電気信号ビッ
トがハイレベルであるかローレベルであるかのビット判
定回路204と205を備えている。このビット判定回
路204と205の出力が出力排他的論理和回路206
で排他的論理和され、誤り数積算回路207であらかじ
め定められた時間内の誤り数が積算される。誤り数積算
回路207は、あらかじめ定められた誤り数に対する閾
値を越えた場合、外部に品質劣化障害警報を通知するこ
とができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、波長多重及び光ネ
ットワークにおける障害監視方式及び装置に関し、特
に、光信号を1ビット毎に監視することにより伝送速度
に依存しない光信号品質の監視方法及び装置に関する。
【0002】
【従来の技術】伝送信号の品質監視方法として、従来、
新同期網では、伝送フレーム内に標準化されたオーバー
ヘッド情報ビットを付加してパリティエラーチェックを
行うことにより符号誤り率を監視する方法が用いられて
いる。
【0003】また、近年の情報伝送容量の拡大により、
波長多重技術を利用した光ネットワークの導入が切望さ
れている。この波長多重技術を用いた光ネットワーク
は、伝送信号速度及びフォーマットに依存しない通信サ
ービスの提供が可能であり、伝送信号速度及びフォーマ
ットに対して透明であるという点で大きな注目を浴びて
いる。
【0004】この光ネットワークにおいても、伝送信号
の品質管理を行うためには、新同期網と同様に、伝送信
号の品質監視方法を光ネットワークに適した方法で実現
する必要がある。その実現方法の一つとして、例えば1
997年のInternational Conference on Communicatio
n("Photonic Transport Network Architecture Employ
ing Optical Path Concept"、Kimio Oguchi and et.al.、
ICC'97 workshop、June8-12 1997)では、光ネットワー
クにおいて、新同期網と同様に、伝送フレーム内に標準
化されたオーバーヘッド情報ビットを付加して、パリテ
ィエラーチェックを行うことにより符号誤り率を監視す
る方法が提案されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たような従来技術においては、以下に記載するような問
題点がある。
【0006】第1の問題点は、標準化されたオーバーヘ
ッド情報ビットを伝送信号に必ず付加する必要があり、
その結果、伝送信号フォーマットが制限されるために、
波長多重技術を用いた光ネットワークの透明性を十分活
かすことができない。
【0007】第2の問題点は、伝送光信号そのものを監
視するのではなく、オーバーヘッド情報ビットのパリテ
ィエラーチェックで代用するために、間接的な監視方法
となってしまうことである。
【0008】本発明の目的は、上述したような従来技術
が有する問題点に鑑みてなされたものであって、高信頼
性の光信号送受信機能を波長多重及び光ネットワークに
提供するため、伝送光信号を伝送信号速度によらず1ビ
ット単位で監視可能とする手段を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、波長多重及び
光ネットワークにおいて、ただ一つの波長の光信号のみ
を同時に受信する光受信機により、該光受信機により光
電気変換された電気信号から抽出された伝送信号クロッ
クと、該電気信号と該伝送信号クロックの位相を位相閾
値1として任意にずらして生成したクロックと該電気信
号に対して任意に設定した電圧振幅閾値1とに基づいて
伝送信号ビットを識別した識別出力1と、該光受信機に
より光電気変換された電気信号から抽出された伝送信号
クロックと、該電気信号と該伝送信号クロックの位相を
位相閾値2として任意にずらして生成したクロックと該
電気信号に対して任意に設定した電圧振幅閾値2とに基
づいて伝送信号ビットを識別した識別出力2と、該光受
信機により光電気変換された電気信号から抽出された伝
送信号クロックと、該電気信号と該伝送信号クロックの
位相を位相閾値Nとして任意にずらして生成したクロッ
クと該電気信号に対して任意に設定した電圧振幅閾値N
とに基づいて伝送信号ビットを識別した識別出力Nと、
該識別出力1、該識別出力2、...該識別出力Nの論
理演算式から光信号品質監視を行うことを特徴とする。
【0010】前記識別出力の数を例えば2とし、論理演
算式として排他的論理和を用いることができる。また、
該排他的論理和演算結果を1ビット毎に積算し該積算結
果があらかじめ定められた閾値を越えた際に外部に対し
て障害警報として通知することにより光信号品質監視を
行うことができる。
【0011】また、この光信号監視手段を、運用系及び
予備系を備えた光伝送装置に適用し、光信号監視手段か
らの障害警報を運用系から予備系への切替信号として用
いることができる。
【0012】つまり、本発明においては、所望の光信号
を、光電気変換してあらかじめ電圧振幅閾値と位相閾値
がそれぞれ定められた2組のビット判定回路に入力し、
AGC(Automatic Gain Control)されたその2組のビ
ット判定回路出力の排他的論理和を1ビット毎に算出す
ることにより、伝送信号フォーマットに依存することな
く、光伝送信号波形劣化と光信号強度劣化に起因する光
伝送信号品質が監視される。
【0013】この場合、2組のビット判定回路に設定さ
れる電圧振幅閾値と位相閾値は、任意に設定することが
可能である。さらに、この2組のビット判定回路には、
位相基準となるクロックがこの光品質監視装置に入力さ
れる光信号からクロック抽出回路により抽出されて入力
されるため、この光信号品質監視装置に入力される光信
号の伝送速度に依存しないで動作可能である。
【0014】
【発明の実施の形態】図2は、本発明の実施の形態を示
すブロック図である。図2において、光信号品質監視装
置203には、光ファイバ201を介して所望の光信号
が入力され、光受信機202により電気信号に変換され
る。
【0015】光信号品質監視装置203は、電圧振幅閾
値と位相閾値を設定することにより入力電気信号ビット
がハイレベルであるかローレベルであるかを判定するビ
ット判定回路204と205を備えている。すなわち、
光受信機202により光電気変換された電気信号は、2
分岐されてこのビット判定回路204、205に入力さ
れると、ビット判定回路204と205はその設定閾値
よりも入力電気信号ビットがハイレベルであるかローレ
ベルであるかを判定し、その結果を出力する。
【0016】この出力は、AGCされて光受信機202
への入力光強度に依存しないで一定の電圧振幅を出力す
る。このビット判定回路204と205の出力が出力排
他的論理和回路206で排他的論理和され、誤り数積算
回路207であらかじめ定められた時間内の誤り数が積
算される。
【0017】この場合、誤り判定点はビット判定回路2
04、205によって定められる2点であるが、判定点
は2点に限らず3点以上定めることも可能である。この
ように誤り判定点は、設定閾値が互いに異なるビット判
定回路の数だけ設けることができる。3点以上判定点を
設けた場合は、例えば判定点1と判定点2の論理和と判
定点3の排他的論理和をとることにより誤り数積算回路
207であらかじめ定められた時間内の誤り数が積算さ
れる。
【0018】監視装置203に入力される光信号ビット
が光信号品質監視装置203に設定される電圧振幅閾値
と位相閾値により、光信号波形劣化を監視することがで
きる仕組みになっている。
【0019】さらに、伝送信号速度に関して見れば、ク
ロック抽出器204−2、205−2にPLL(Phase
Locked Loop)を用いたクロック抽出技術を用いること
で、一つの光信号品質回路を用いるだけで各種の伝送信
号速度に対応することができる。また、予め入力する伝
送信号速度(例えば、新同期網で用いられている600
Mb/s、1.2Gb/s、2.5Gb/s、10Gb
/s等、予め決められた伝送信号速度)が決まっていれ
ば、これに対応した伝送信号速度に対応するように設計
しておくこともできる。
【0020】次に、本発明の光信号品質監視装置の動作
について、図1及び図2を参照して説明する。
【0021】通常、光通信においては、伝送後にデジタ
ル信号を再生する方法として、図1に示すように伝送さ
れる光信号に対して振幅閾値P0、位相閾値T0を設定
する。この位相閾値T0に対して、振幅が閾値を越えて
いるかいないかの2値判定をしている。本発明において
は、伝送される光信号に対して振幅閾値P0、位相閾値
T0を設定する。さらにP0、T0を中心にΔP、ΔT
の幅の判別閾値を設定する。
【0022】通常の光信号伝送では伝送情報ビットが2
値で表されるため、光伝送の際に波形劣化等の伝送信号
品質劣化が生じなければΔP、ΔTで表されるような領
域でビットが検出されることはない。従って、ΔP、Δ
Tでビットが検出された場合これを光伝送による伝送信
号品質劣化による伝送誤りと見なすことができる。
【0023】このΔP、ΔTで形成される四角形の領域
内に情報ビットが検出された場合、あるいは振幅方向の
み、すなわちΔP方向のみ、あるいは位相方向のみ、す
なわちΔT方向のみの範囲内に情報ビットが検出された
場合には、これを符号誤りと見なす。尚、得られた値と
しては、通常の光通信で得られる位相閾値T0に対し
て、振幅が閾値を越えているかいないかの2値判定を行
うこともできるし、得られた値から推定して訂正を加え
て識別値とすることもできる。
【0024】図2においては、光強度振幅の代わりに光
信号を光受信機202で光電気変換された電圧振幅を用
いることにすると、ビット判定回路204におけるP0
はV1、T0はT1に対応する。同様にビット判定回路
205におけるP0はV2、T0はT2に対応すること
になる。
【0025】つまり、ΔP、ΔTはそれぞれV2とV1
の差の絶対値│V2−V1│、T2とT1の差の絶対値
│T2−T1│に対応する。この電圧振幅閾値は、ビッ
ト識別器204−1、205−1に入力する電圧V1、
V2を調整することにより任意に設定することができ
る。位相閾値は、ビット識別器204−1、205−1
に入力するクロックの位相を位相シフタ204−3、2
05−3を調整することにより任意に調整することがで
きる。
【0026】ビット判定回路204、205の出力の排
他的論理和を算出することにより上述したΔP、ΔTで
形成される四角形の領域内に情報ビットが検出されるか
否かの2値判定が可能である。また、この2値判定は情
報ビット1ビット単位で行われるため、新同期網で用い
られるようなフレーム構成を予め設定してパリティチェ
ックを行うように標準化されたオーバーヘッドビットを
品質監視のために必要とせず、伝送信号フォーマットに
依存しない光信号品質の監視が可能である。
【0027】また、伝送信号速度に関して見れば、クロ
ック抽出器204−2、205−2にPLL(Phase Lo
cked Loop)を用いたクロック抽出技術を用いること
で、一つの光信号品質監視回路を用いるだけで各種の伝
送信号速度に対応することができる。また、予め入力す
る伝送信号速度が決まっていれば(例えば、新同期網で
用いられている600Mb/s、1.2Gb/s、2.
5Gb/s、10Gb/s等、予め決められた伝送信号
速度)、これに対応した伝送信号速度に対応するように
動作することもできる。
【0028】図3は、ビット識別器をDフリップフロッ
プによって構成した本発明光信号監視装置の一実施例で
ある。図3において、光信号品質監視装置303には、
光ファイバ301を介して所望の光信号が入力され、光
受信機302により電気信号に変換される。
【0029】光信号品質監視回路303は、電圧振幅閾
値と位相閾値を設定することにより入力電気信号ビット
がハイレベルであるかローレベルであるかを判定するビ
ット判定回路304と305を備えている。ビット判定
回路304と305では、それぞれビット識別器304
−1と305−1としてDフリップフロップを用いてビ
ットの識別を行う。
【0030】光受信機302により光電気変換された電
気信号は、2分岐されてこのビット判定回路304、3
05に入力される。ビット判定回路304と305は、
その設定閾値よりも入力電気信号ビットがハイレベルで
あるかローレベルであるかを判定し、その結果を出力す
る。
【0031】このビット判定回路304と305の出力
が出力排他的論理和回路306で排他的論理和され、誤
り数積算回路307であらかじめ定められた時間内の誤
り数が積算される。誤り数積算回路307は、あらかじ
め定められた誤り数に対する閾値を越えた場合、外部に
品質劣化障害警報を通知することができる。
【0032】すなわち、この光信号品質監視装置303
に入力される光信号ビットが光信号品質監視装置303
に設定される電圧振幅閾値と位相閾値により、光信号波
形劣化を監視することができる仕組みになっている。ま
た、伝送信号速度に関して見れば、クロック抽出器30
4−2、305−2にPLL(Phase Locked Loop)を
用いたクロック抽出技術を用いることで、一つの光信号
品質回路を用いるだけで各種の伝送信号速度に対応する
ことができる。また、予め入力する伝送信号速度が決ま
っていれば(例えば、新同期網で用いられている600
Mb/s、1.2Gb/s、2.5Gb/s、10Gb
/s等、予め決められた伝送信号速度)、これに対応し
た伝送信号速度に対応するように設計しておくこともで
きる。
【0033】次に、ビット識別器をDフリップフロップ
によって構成した本発明における実施例動作について、
図3を参照して説明する。
【0034】まず、光ファイバ301を介して信号品質
監視を行いたい光信号を光受信機302に入力し、光受
信機302により光電気変換を行って光信号監視装置3
03への電気入力信号を得る。この電気信号を、光信号
監視装置303に内蔵される2つのビット判定回路30
4と305に2分岐して入力する。
【0035】ビット判定回路304と305は回路的に
は同等であるが、異なる電圧振幅閾値V1とV2、位相
閾値T1とT2を設定することにより電圧振幅方向にΔ
V(=│V2−V1│)、位相方向にΔT(=│T2−
T1│)の幅をもつ四角形のビット判定領域を実現す
る。
【0036】すなわち、電圧振幅閾値がV1、位相閾値
(クロック立ち上がり検出)がT1に設定されたビット
判定回路304に電気信号が入力された場合、電圧振幅
値がV1以下のときビット判定回路304の出力はロー
レベルとなり、それ以外ではハイレベルとなる。電圧振
幅閾値がV2、位相閾値(クロック立ち上がり検出)が
T2に設定されたビット判定回路305についても同様
に、電圧振幅値がV2以上のときビット判定回路305
の出力がハイレベルとなり、それ以外でローレベルとな
る。
【0037】従って、ビット判定回路304と305の
出力の論理和を出力排他的論理和回路306で演算する
ことにより電圧振幅方向にΔV、位相方向にΔTの領域
内に電気信号が含まれるか否かを判定することができる
仕組みになっている。つまり、ビット判定回路304と
305の出力の組み合わせが(ハイレベル、ローレベ
ル)または(ローレベル、ハイレベル)のとき出力排他
的論理和回路306の出力がハイレベルとなり、それ以
外ではローレベルとなる。
【0038】従って、出力排他的論理和回路306の出
力がハイレベルとなったビット数を誤り数積算回路30
7で積算することにより、図3の光信号品質監視装置へ
入力された光信号が領域ΔV、ΔT内に入ったビット数
を監視することができる。
【0039】通常の光信号伝送では、伝送情報ビットが
2値で表されるため、光伝送の際に波形劣化等の伝送信
号品質劣化が生じなければΔV、ΔTで表されるような
領域でビットが検出されることはない。従って、ΔV、
ΔTでビットが検出された場合これを光伝送による伝送
信号品質劣化による伝送誤りと見なすことができる。図
3の光信号品質監視装置303は、光信号を1ビット単
位で監視することにより、伝送信号フォーマットに依存
することなくこの光信号品質劣化を監視できる仕組みに
なっている。さらに、誤り数積算回路307に最大誤り
許容閾値を設定することにより、外部に対して許容値以
上のビット誤りが生じた際のみ品質劣化障害を告知する
インターフェイスを備えることもできる。
【0040】図4は、本発明の他の実施の形態を示すブ
ロック図であり、光伝送信号の動的消光比を算出する装
置として構成したものである。
【0041】図4において、光信号品質監視装置403
には、所望の光信号を光受信機402により光電気変換
された電気信号が入力される。光信号品質監視回路40
3は、電圧振幅閾値と位相閾値を設定することにより入
力電気信号ビットがハイレベルであるかローレベルであ
るかを判定するビット判定回路404と405を備えて
いる。ビット判定回路404と405は、それぞれビッ
ト識別器404−1と405−1としてDフリップフロ
ップを用いてビットの識別を行う。
【0042】光受信機402により光電気変換された電
気信号は、2分岐されてこのビット判定回路404、4
05に入力されると、ビット判定回路404と405は
その設定閾値よりも入力電気信号ビットがハイレベルで
あるかローレベルであるかを判定し、その結果を出力す
る。このビット判定回路404と405の出力が出力排
他的論理和回路406で排他的論理和されて1ビット毎
に演算結果がハイレベルであるかローレベルであるか判
定される。
【0043】例えば、排他的論理和回路406の出力が
ハイレベルであるときをビット誤りであると定めた場
合、誤り数が誤り数積算回路407で積算されてその結
果が閾値調整回路409へ入力される。閾値調整回路
は、その誤り数積算結果が最小になるようにビット判定
回路404と405の電圧振幅閾値をフィードバック制
御する。
【0044】その結果、ビット判定回路404と405
の電圧振幅閾値が光伝送信号のハイレベルとローレベル
に相当する電圧値に収束する。そのハイレベルとローレ
ベルに相当する電圧値を除算回路408で比をとること
により、光伝送信号の動的消光比を算出することができ
る。
【0045】図5は、図3に示した光信号品質監視装置
を内蔵し、その監視結果に基づいて光信号の経路切替を
行うことができる光ノード装置の一例を示すブロック図
である。本形態は、図5に示すようにN入力N出力の光
スイッチ503と、光スイッチ503のN個ある入力ポ
ート各々に接続された光信号品質監視装置504と、光
スイッチ制御装置502から構成される。
【0046】光信号品質監視装置504は、光スイッチ
503に入力される光信号の品質を監視し、その結果を
光スイッチ制御装置502へ通知することができる。光
スイッチ制御装置502は、光スイッチ503の入出力
の接続状態を任意に設定することができる。
【0047】今、光ノード装置501の入力ポートに接
続された光伝送路505−1が、光スイッチ503によ
り出力ポート505−3に接続されているとする。ま
た、光伝送路505−1が運用系、505−2が予備系
に割り当てられているとする。
【0048】このような状況において、運用系光伝送路
505−1が光ファイバ切断等の不慮の事故により通信
サービスの提供が不可能になった場合、光信号品質監視
装置504により通信サービス切断が品質劣化障害警報
として光スイッチ制御装置502へ通知される。光スイ
ッチ制御回路502は、その障害警報を起点として光伝
送路505−3の接続先を運用系光伝送路505−1か
ら予備系光伝送路505−2へ切り替える。このことに
より、切断された通信サービスを自動的に回復すること
ができる。すなわち、光信号品質監視装置504を光ノ
ード501に内蔵することにより、光伝送路障害回復を
自動的に行うことを可能とし、高信頼な通信路を提供す
ることができる。
【0049】なお、複数のビット判定回路出力を演算す
る論理式に制限はなく、例えば論理和、論理積、排他的
論理和等であってもかまわない。
【0050】また、本光信号品質監視装置は、ビット誤
り監視だけでなく信号波形歪み監視の目的に用いること
もできる。
【0051】また、監視する光信号の受信方法も、主信
号から光分岐器などにより分岐して主信号を終端するこ
となく光信号を受信する方法、あるいは分岐しないで主
信号を終端する方法等、任意の方法を採用することがで
きる。
【0052】さらに、ビット判定回路を複数使用する場
合、ビット判定回路に入力する電気信号の分配方法につ
いても適宜の方法を採用することができ、例えばビット
判定回路を2つ用いる場合、光信号を2分岐してそれぞ
れを2つの光受信機をもちいて光電気変換して2つのビ
ット判定回路の入力としてもよいし、1つの光受信機を
用いて光電気変換し、それを電気的に2分岐して2つの
ビット判定回路の入力としてもよい。
【0053】
【発明の効果】本発明は、所望の光信号を1ビット単位
で直接信号品質を監視しているので、新同期網で利用さ
れているような信号品質監視のための標準化されたオー
バーヘッド情報を必要とすることなく所望の信号波形の
品質監視を行うことができる。すなわち、伝送信号フォ
ーマットと無関係に伝送信号の品質監視を行うことがで
きる。
【0054】また、誤りを検出する最大の電圧振幅閾値
と、誤りを検出する最小の電圧振幅閾値の比を光信号の
動的消光比に対応づけることができるので、設定する電
圧振幅閾値を調節することにより、光信号の動的消光比
を求めることができる。
【0055】また、本発明は、PLLを用いたクロック
抽出技術を用いることで監視する光信号からクロックを
抽出することができ、さらに予め入力する伝送信号速度
が決まっていれば(例えば、新同期網で用いられている
600Mb/s、1.2Gb/s、2.5Gb/s、1
0Gb/s等、予め決められた伝送信号速度)、これに
対応した伝送信号速度に対応するように設計しておくこ
とができるので、一つの光信号品質回路を用いるだけで
各種の伝送信号速度に対応することができる。
【0056】また、誤りを検出する電圧振幅閾値と位相
閾値を調整することにより情報ビットを表す波形のなま
り、ひずみを監視することができるので、伝送波形歪み
の影響をみることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による光信号監視方法を説明するための
波形図である。
【図2】本発明の第1の実施の形態を示すブロック図で
ある。
【図3】本発明の第1の実施の形態における一実施例を
示すブロック図である
【図4】本発明の第2の実施の形態を示すブロック図で
ある。
【図5】本発明の第3の実施の形態を示すブロック図で
ある。
【符号の説明】
201 光ファイバ 202 光受信機 203 光信号品質監視装置 204、205 ビット判定回路 204−1、205−1 ビット識別器 204−2、205−2 クロック抽出器 204−3、205−3 位相シフタ 206 出力排他的論理和回路 207 誤り数積算回路 301 光ファイバ 302 光受信機 304、305 ビット判定回路 304−1、305−1 Dフリップフロップ 304−2、305−2 クロック抽出器 304−3、305−3 位相シフタ 307 誤り数積算回路 402 光受信機 403 光信号品質監視装置 404−1、405−1 ビット識別器 404−2、405−2 クロック抽出器 404−3、405−3 位相シフタ 406 出力排他的論理和回路 407 閾値調整回路 408 除算回路 409 誤り数積算回路 501 光ノード装置 502 光スイッチ制御装置 503 N入力N出力光スイッチ 504 光信号品質監視装置 505−1〜505−4 光伝送路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H04B 10/28 H04B 9/00 K 10/26 Y 10/14 10/04 10/06 H04L 25/08 (72)発明者 白垣 達哉 東京都港区芝五丁目7番1号 日本電気株 式会社内 (72)発明者 逸見 直也 東京都港区芝五丁目7番1号 日本電気株 式会社内 Fターム(参考) 5J039 EE12 KK01 KK09 KK11 MM08 MM11 MM12 NN01 5K002 AA03 BA06 DA02 DA05 DA09 EA05 EA33 FA01 5K021 AA05 AA06 BB01 BB07 CC13 DD02 EE04 FF11 5K029 AA01 CC04 DD02 HH01 HH08 HH14 HH26 JJ01 KK01 KK05 KK11 KK27 LL12 LL15

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 波長多重及び光ネットワークにおける光
    信号監視方法であって、 受信した光信号を電気信号に変換するとともに、該変換
    された電気信号から伝送信号クロックを抽出し、 前記抽出した伝送信号クロックから任意にずらした位相
    閾値を有するN(N≧2)個のクロックをそれぞれ生成
    し、 前記生成したN個のクロックと、該N個のクロックに対
    応してそれぞれ設定された電圧振幅閾値に基づいて、前
    記電気信号のビットを識別してN個のビット識別信号を
    それぞれ出力し、 前記出力されたN個のビット識別信号の論理演算を行う
    ことにより、前記受信した光信号の品質評価を行うこと
    を特徴とする光信号品質監視方法。
  2. 【請求項2】 前記ビット識別信号出力の数を2とし、
    前記論理演算として排他的論理和を用いることを特徴と
    する請求項1記載の光信号品質監視方法。
  3. 【請求項3】 前記論理演算の結果を1ビット毎に積算
    し、該積算結果があらかじめ定められた閾値を越えた際
    に外部に対して障害警報として通知することにより光信
    号品質監視を行うことを特徴とする請求項1記載の光信
    号品質監視方法。
  4. 【請求項4】 請求項3記載の光信号監視方法によって
    通知される障害警報を、波長多重及び光ネットワークに
    おける運用系から予備系への切替信号とすることを特徴
    とする光伝送路障害回復方法。
  5. 【請求項5】 波長多重及び光ネットワークにおける光
    信号の品質を監視する装置において、 入力された光信号を電気信号に変換する光受信機と、 前記光受信機により光電気変換された電気信号を入力し
    て、その信号ビットを判定するN(N≧2)個のビット
    判定回路と、 前記N個のビット判定回路出力の論理演算を行う論理演
    算回路とを含み、 前記N個のビット判定回路の各は、 前記光受信機により光電気変換された電気信号から伝送
    信号クロックを抽出するクロック抽出回路と、 前記クロック抽出回路により抽出された伝送信号クロッ
    クの位相を位相閾値として任意にずらすことができる位
    相シフタと、 任意に設定した電圧振幅閾値を有し、前記入力された電
    気信号を前記位相シフタから出力されるクロックのタイ
    ミングで2値判定することにより伝送信号ビットを識別
    するこビット識別器とによって構成されていることを特
    徴とする光信号品質監視装置。
  6. 【請求項6】 前記ビット識別器は、Dフリップフロッ
    プ回路によって構成されていることを特徴とする請求項
    5記載の光信号品質監視装置。
  7. 【請求項7】 前記ビット判定回路の数Nを2とし、前
    記論理演算回路として排他的論理和回路を用いることを
    特徴とする請求項5記載の光信号品質監視装置。
  8. 【請求項8】 前記排他的論理和回路出力がハイレベル
    であるかローレベルであるかを1ビット毎に積算する回
    路と、該積算結果があらかじめ定められた閾値を越えた
    際に外部に対して障害警報として通知することのできる
    インターフェイスを含むことを特徴とする請求項6記載
    の光信号品質監視装置。
  9. 【請求項9】 請求項7記載の光信号監視装置を備え、
    該光信号監視装置から通知される障害警報を運用系から
    予備系への切替信号として用い、運用系光伝送路から予
    備系光伝送路へ切替を行うことのできる光ノード装置。
  10. 【請求項10】 入力された光信号を電気信号に変換す
    る光受信機と、 それぞれが、前記光受信機により光電気変換された電気
    信号から伝送信号クロックを抽出するクロック抽出回路
    と、前記クロック抽出回路により抽出された伝送信号ク
    ロックの位相を位相閾値として任意にずらすことができ
    る位相シフタと、前記位相シフタから出力されるクロッ
    クのタイミングで前記入力された電気信号を設定された
    電圧振幅閾値と比較して2値判定することにより伝送信
    号ビットを識別するビット識別器とを備え、前記光受信
    機により光電気変換された電気信号を入力して、その信
    号ビットを判定する2組のビット判定回路と、 前記2組のビット判定回路出力の排他的論理和演算を行
    う排他的論理和回路と、 前記排他的論理和回路出力がハイレベルであるかローレ
    ベルであるかを1ビット毎に積算する誤り数積算回路
    と、 前記誤り数積算回路の積算結果が最小になるようにフィ
    ードバック制御して前記各ビット識別器の電圧振幅閾値
    をそれぞれ設定する閾値調整回路と、 前記設定された各電圧振幅閾値を入力して除算すること
    により消光比を求める除算回路と、を備えていることを
    特徴とする消光比判定装置。
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