JP2000000996A - 位置検出方法および位置検出装置 - Google Patents
位置検出方法および位置検出装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 発光素子位置を正確に検出できかつ作業性が
向上する、位置検出方法および位置検出装置を提供す
る。 【解決手段】 ＰＬＺＴシャッタアレイ１８の一次元配
列された発光素子２０を発光させ、受光素子搬送系２４
によって受光素子２２をＰＬＺＴシャッタアレイ１８の
結像面に沿って一定速度で走査させる。受光素子２２に
よって取り込まれたアナログデータをＡ／Ｄ変換部４６
によってサンプリングして光量を示すデータ系列を得
る。データ系列の極小値を閾値とし、閾値とデータ系列
とを先頭から順に比較して、閾値以上となった最初の位
置を検出する。この最初の位置から１周期分の検索範囲
内で極大値を検出し、その極大値の位置を、発光した発
光素子２０の中での先頭の発光素子位置とする。その後
の各発光素子位置を検出するときには、直前の発光素子
位置より１／２周期後から１周期分の検索範囲内で極大
値を検出し、検出した極大値の位置を発光素子位置とす
る。
向上する、位置検出方法および位置検出装置を提供す
る。 【解決手段】 ＰＬＺＴシャッタアレイ１８の一次元配
列された発光素子２０を発光させ、受光素子搬送系２４
によって受光素子２２をＰＬＺＴシャッタアレイ１８の
結像面に沿って一定速度で走査させる。受光素子２２に
よって取り込まれたアナログデータをＡ／Ｄ変換部４６
によってサンプリングして光量を示すデータ系列を得
る。データ系列の極小値を閾値とし、閾値とデータ系列
とを先頭から順に比較して、閾値以上となった最初の位
置を検出する。この最初の位置から１周期分の検索範囲
内で極大値を検出し、その極大値の位置を、発光した発
光素子２０の中での先頭の発光素子位置とする。その後
の各発光素子位置を検出するときには、直前の発光素子
位置より１／２周期後から１周期分の検索範囲内で極大
値を検出し、検出した極大値の位置を発光素子位置とす
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、位置検出方法お
よび位置検出装置に関し、特にたとえばアレイ状プリン
トヘッドの各発光素子の発光量を補正して画像を形成す
る画像形成装置に用いられる、発光素子の位置検出方法
および位置検出装置に関する。
よび位置検出装置に関し、特にたとえばアレイ状プリン
トヘッドの各発光素子の発光量を補正して画像を形成す
る画像形成装置に用いられる、発光素子の位置検出方法
および位置検出装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、高解像度の画像を高速で形成する
画像形成装置には、微細な発光素子を所定ピッチで配列
してなるアレイ状プリントヘッドが用いられるが、一般
に各発光素子の発光量にはばらつきがある。発光量のば
らつきはそのまま画像の濃淡のむらとして記録され、画
質劣化の決定的な要因となってしまうため、各発光素子
の発光量が均一になるよう光量補正が施される。光量補
正を施すためには、各発光素子ごとの発光量を検出する
必要がある。
画像形成装置には、微細な発光素子を所定ピッチで配列
してなるアレイ状プリントヘッドが用いられるが、一般
に各発光素子の発光量にはばらつきがある。発光量のば
らつきはそのまま画像の濃淡のむらとして記録され、画
質劣化の決定的な要因となってしまうため、各発光素子
の発光量が均一になるよう光量補正が施される。光量補
正を施すためには、各発光素子ごとの発光量を検出する
必要がある。
【０００３】そこで、従来では、一次元配列された複数
の発光素子の結像面に沿って受光素子をパルスモータに
よって走査させ、発光素子からの発光量を検出してい
た。このとき、パルスモータに与えるパルス数と発光素
子位置とを予め対応付けておき、パルス数のカウント値
に基づいて各発光素子の位置を擬似的に検出し、その位
置での受光量を対応する発光素子の発光量として認識し
ていた。
の発光素子の結像面に沿って受光素子をパルスモータに
よって走査させ、発光素子からの発光量を検出してい
た。このとき、パルスモータに与えるパルス数と発光素
子位置とを予め対応付けておき、パルス数のカウント値
に基づいて各発光素子の位置を擬似的に検出し、その位
置での受光量を対応する発光素子の発光量として認識し
ていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、パルス数と発
光素子位置との対応付けに誤差の発生は避けられず、パ
ルス数のカウント値に基づいて発光素子位置を誤差なく
検出することは困難であった。したがって、一次元配列
された複数の発光素子が短尺ならば必要な精度は得られ
るが、長尺になると誤差によるずれが無視できなくな
り、パルス数に基づいて擬似的に検出した発光素子位置
と実際の発光素子位置とにずれが生じてしまい、正確に
発光素子位置を検出できなかった。
光素子位置との対応付けに誤差の発生は避けられず、パ
ルス数のカウント値に基づいて発光素子位置を誤差なく
検出することは困難であった。したがって、一次元配列
された複数の発光素子が短尺ならば必要な精度は得られ
るが、長尺になると誤差によるずれが無視できなくな
り、パルス数に基づいて擬似的に検出した発光素子位置
と実際の発光素子位置とにずれが生じてしまい、正確に
発光素子位置を検出できなかった。
【０００５】また、パルス数のカウント値と発光素子位
置とを極力小さな誤差で対応付けるには、受光素子の基
準位置と発光素子の基準位置からの移動量とを正確に設
定する必要があるため、装置の加工および組み立てに非
常に高い精度が要求され、作業性が悪かった。
置とを極力小さな誤差で対応付けるには、受光素子の基
準位置と発光素子の基準位置からの移動量とを正確に設
定する必要があるため、装置の加工および組み立てに非
常に高い精度が要求され、作業性が悪かった。
【０００６】それゆえに、この発明の主たる目的は、発
光素子位置を正確に検出できかつ作業性が向上する、位
置検出方法および位置検出装置を提供することである。
光素子位置を正確に検出できかつ作業性が向上する、位
置検出方法および位置検出装置を提供することである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項１に記載の位置検出方法は、一次元配列され
た複数の発光素子を有するプリントヘッドの各発光素子
の位置を検出する位置検出方法であって、一次元配列さ
れた複数の発光素子のうち所望の発光素子を発光させる
第１ステップ、受光手段を発光素子の配列方向に走査さ
せることによって発光素子から出射される光量を測定す
る第２ステップ、受光手段による測定結果に基づいて光
量を示すデータ系列を得る第３ステップ、データ系列と
閾値とを比較して、データ系列の先頭から閾値以上の値
をとる最初の位置を検出する第４ステップ、最初の位置
から最も近い極大値の位置を、発光した発光素子の中で
の先頭の発光素子位置とする第５ステップ、および先頭
の発光素子位置より後の発光素子位置については極大値
となる位置を発光素子位置とする第６ステップを備え
る。
に、請求項１に記載の位置検出方法は、一次元配列され
た複数の発光素子を有するプリントヘッドの各発光素子
の位置を検出する位置検出方法であって、一次元配列さ
れた複数の発光素子のうち所望の発光素子を発光させる
第１ステップ、受光手段を発光素子の配列方向に走査さ
せることによって発光素子から出射される光量を測定す
る第２ステップ、受光手段による測定結果に基づいて光
量を示すデータ系列を得る第３ステップ、データ系列と
閾値とを比較して、データ系列の先頭から閾値以上の値
をとる最初の位置を検出する第４ステップ、最初の位置
から最も近い極大値の位置を、発光した発光素子の中で
の先頭の発光素子位置とする第５ステップ、および先頭
の発光素子位置より後の発光素子位置については極大値
となる位置を発光素子位置とする第６ステップを備え
る。
【０００８】請求項２に記載の位置検出方法は、請求項
１に記載の位置検出方法において、第１ステップでは、
一次元配列された複数の発光素子は一発光素子おきに発
光するものである。
１に記載の位置検出方法において、第１ステップでは、
一次元配列された複数の発光素子は一発光素子おきに発
光するものである。
【０００９】請求項３に記載の位置検出方法は、請求項
１または２に記載の位置検出方法において、第５ステッ
プでは、最初の位置から１周期分の検索範囲内で極大値
を検出できないときには検索範囲を広げて極大値を検出
するものである。
１または２に記載の位置検出方法において、第５ステッ
プでは、最初の位置から１周期分の検索範囲内で極大値
を検出できないときには検索範囲を広げて極大値を検出
するものである。
【００１０】請求項４に記載の位置検出方法は、請求項
１ないし３のいずれかに記載の位置検出方法において、
第６ステップでは、先頭の発光素子位置より後の各発光
素子位置を検出するとき、直前の発光素子位置より１／
２周期後から１周期分の検索範囲内で極大値が検出され
るものである。
１ないし３のいずれかに記載の位置検出方法において、
第６ステップでは、先頭の発光素子位置より後の各発光
素子位置を検出するとき、直前の発光素子位置より１／
２周期後から１周期分の検索範囲内で極大値が検出され
るものである。
【００１１】請求項５に記載の位置検出方法は、請求項
４に記載の位置検出方法において、第６ステップでは、
１周期分の検索範囲の中央から一定以上離れて極大値が
検出されたときには、発光素子位置を１周期分の検索範
囲の中央とするものである。
４に記載の位置検出方法において、第６ステップでは、
１周期分の検索範囲の中央から一定以上離れて極大値が
検出されたときには、発光素子位置を１周期分の検索範
囲の中央とするものである。
【００１２】請求項６に記載の位置検出方法は、請求項
１ないし５のいずれかに記載の位置検出方法において、
閾値は、受光手段からのデータ系列に含まれるいずれか
の極小値であるものである。
１ないし５のいずれかに記載の位置検出方法において、
閾値は、受光手段からのデータ系列に含まれるいずれか
の極小値であるものである。
【００１３】請求項７に記載の位置検出方法は、請求項
１ないし５のいずれかに記載の位置検出方法において、
閾値は任意の値であるものである。
１ないし５のいずれかに記載の位置検出方法において、
閾値は任意の値であるものである。
【００１４】請求項８に記載の位置検出方法は、請求項
１ないし７のいずれかに記載の位置検出方法において、
プリントヘッドはＰＬＺＴシャッタアレイを含むもので
ある。
１ないし７のいずれかに記載の位置検出方法において、
プリントヘッドはＰＬＺＴシャッタアレイを含むもので
ある。
【００１５】請求項９に記載の位置検出装置は、一次元
配列された複数の発光素子を有するプリントヘッドの各
発光素子の位置を検出する位置検出装置であって、発光
素子から出射される光量を測定する受光手段、受光手段
を複数の発光素子の配列方向に走査させる走査手段、受
光手段による測定結果に基づいて光量を示すデータ系列
を得る手段、データ系列と閾値とを比較して、データ系
列の先頭から閾値以上の値をとる最初の位置を検出する
検出手段、最初の位置から最も近い極大値の位置を、発
光した発光素子の中での先頭の発光素子位置とする手
段、および先頭の発光素子位置より後の発光素子位置に
ついては極大値となる位置を発光素子位置とする手段を
備える。
配列された複数の発光素子を有するプリントヘッドの各
発光素子の位置を検出する位置検出装置であって、発光
素子から出射される光量を測定する受光手段、受光手段
を複数の発光素子の配列方向に走査させる走査手段、受
光手段による測定結果に基づいて光量を示すデータ系列
を得る手段、データ系列と閾値とを比較して、データ系
列の先頭から閾値以上の値をとる最初の位置を検出する
検出手段、最初の位置から最も近い極大値の位置を、発
光した発光素子の中での先頭の発光素子位置とする手
段、および先頭の発光素子位置より後の発光素子位置に
ついては極大値となる位置を発光素子位置とする手段を
備える。
【００１６】請求項１に記載の位置検出方法では、一次
元配列された複数の発光素子の結像面に沿って受光素子
を走査させて受光量が測定され、その測定結果に基づい
て一定周期のデータ系列が得られる。そして、データ系
列の先頭から閾値以上の値をとる最初の位置が検出さ
れ、その位置から最も近い極大値が検出され、その極大
値の位置が、発光した発光素子の中での先頭の発光素子
位置とされる。その後は極大値となる位置が発光素子位
置とされ、最後の発光素子位置まで同様の処理が繰り返
されて発光素子位置が検出される。
元配列された複数の発光素子の結像面に沿って受光素子
を走査させて受光量が測定され、その測定結果に基づい
て一定周期のデータ系列が得られる。そして、データ系
列の先頭から閾値以上の値をとる最初の位置が検出さ
れ、その位置から最も近い極大値が検出され、その極大
値の位置が、発光した発光素子の中での先頭の発光素子
位置とされる。その後は極大値となる位置が発光素子位
置とされ、最後の発光素子位置まで同様の処理が繰り返
されて発光素子位置が検出される。
【００１７】ここで、結像面のうち各発光素子からの光
が垂直に照射される位置の受光量がその周辺部の受光量
より大きくなり、光量を示すデータ系列は垂直照射され
る位置において極大値を有する。この極大値を有する位
置は発光素子位置に対応する。したがって、データ系列
の極大値を検出すれば発光素子位置を検出することがで
きるので、たとえ長尺になっても誤差が生じにくく、正
確に発光素子位置を検出できる。また、極大値を検出す
ることによって位置検出を行うので、機械的な加工およ
び組立てに高精度は要求されない。
が垂直に照射される位置の受光量がその周辺部の受光量
より大きくなり、光量を示すデータ系列は垂直照射され
る位置において極大値を有する。この極大値を有する位
置は発光素子位置に対応する。したがって、データ系列
の極大値を検出すれば発光素子位置を検出することがで
きるので、たとえ長尺になっても誤差が生じにくく、正
確に発光素子位置を検出できる。また、極大値を検出す
ることによって位置検出を行うので、機械的な加工およ
び組立てに高精度は要求されない。
【００１８】請求項９に記載の位置検出装置についても
同様である。
同様である。
【００１９】また、たとえば発光素子間隔が緊密で、極
大値を検出可能なデータ系列が得られない場合には、請
求項２に記載の位置検出方法のように、一発光素子おき
に発光させることによって、極大値を検出可能なデータ
系列が得られるようになり、このデータ系列に基づいて
発光素子位置が検出される。
大値を検出可能なデータ系列が得られない場合には、請
求項２に記載の位置検出方法のように、一発光素子おき
に発光させることによって、極大値を検出可能なデータ
系列が得られるようになり、このデータ系列に基づいて
発光素子位置が検出される。
【００２０】請求項３に記載の位置検出方法では、閾値
以上となる最初の位置から１周期分の検索範囲内に最初
の極大値を検出できないときには、検索範囲を広げて極
大値を検出する。したがって、検索範囲内での最大値が
検索範囲の端に位置するときその最大値を極大値と判断
して極大値を誤検出してしまうということはなくなり、
発光素子位置の検出精度を向上できる。
以上となる最初の位置から１周期分の検索範囲内に最初
の極大値を検出できないときには、検索範囲を広げて極
大値を検出する。したがって、検索範囲内での最大値が
検索範囲の端に位置するときその最大値を極大値と判断
して極大値を誤検出してしまうということはなくなり、
発光素子位置の検出精度を向上できる。
【００２１】請求項４に記載の位置検出方法では、デー
タ系列には通常１周期に１つの極大値が存在することに
鑑み、極大値の検索範囲を、直前の発光素子位置より１
／２周期後から１周期分の範囲内に設定したものであ
る。
タ系列には通常１周期に１つの極大値が存在することに
鑑み、極大値の検索範囲を、直前の発光素子位置より１
／２周期後から１周期分の範囲内に設定したものであ
る。
【００２２】請求項５に記載の位置検出方法では、１周
期分の検索範囲の中央から一定以上離れて極大値が検出
されたときには、発光素子の故障等が原因と考えられ、
この場合それ以降の発光素子位置の検出に影響を及ぼす
ことに鑑み、検索範囲の中央から一定以上離れたところ
で極大値が検出された場合、発光素子が故障しているも
のとみなして、検索範囲の中央を発光素子位置として扱
う。これによって、以降の発光素子位置の検出に影響が
及ばないようにできる。
期分の検索範囲の中央から一定以上離れて極大値が検出
されたときには、発光素子の故障等が原因と考えられ、
この場合それ以降の発光素子位置の検出に影響を及ぼす
ことに鑑み、検索範囲の中央から一定以上離れたところ
で極大値が検出された場合、発光素子が故障しているも
のとみなして、検索範囲の中央を発光素子位置として扱
う。これによって、以降の発光素子位置の検出に影響が
及ばないようにできる。
【００２３】なお、閾値は、データ系列に含まれるいず
れかの極小値（請求項６）であっても、任意の値（請求
項７）であってもよい。また、プリントヘッドとして
は、たとえばＰＬＺＴシャッタアレイ（請求項８）が適
用される。
れかの極小値（請求項６）であっても、任意の値（請求
項７）であってもよい。また、プリントヘッドとして
は、たとえばＰＬＺＴシャッタアレイ（請求項８）が適
用される。
【００２４】
【発明の実施の形態】以下、この発明を画像形成装置１
０に適用した場合の実施の形態について図面を参照して
説明する。
０に適用した場合の実施の形態について図面を参照して
説明する。
【００２５】図１および図２を参照して、この発明の実
施の形態の画像形成装置１０は、露光部１２を含む。露
光部１２には、ハロゲンランプ等からなる光源１４、光
ファイバ束１６、プリントヘッドであるＰＬＺＴシャッ
タアレイ１８が含まれ、光源１４から出射された光は光
ファイバ束１６によってＰＬＺＴシャッタアレイ１８の
各発光素子２０に伝えられる。ＰＬＺＴシャッタアレイ
１８には複数の発光素子２０が一次元配列されており、
それぞれ独立に開口時間が制御されることによって、各
発光素子２０の単位時間当たりの発光量が独立に制御さ
れる。
施の形態の画像形成装置１０は、露光部１２を含む。露
光部１２には、ハロゲンランプ等からなる光源１４、光
ファイバ束１６、プリントヘッドであるＰＬＺＴシャッ
タアレイ１８が含まれ、光源１４から出射された光は光
ファイバ束１６によってＰＬＺＴシャッタアレイ１８の
各発光素子２０に伝えられる。ＰＬＺＴシャッタアレイ
１８には複数の発光素子２０が一次元配列されており、
それぞれ独立に開口時間が制御されることによって、各
発光素子２０の単位時間当たりの発光量が独立に制御さ
れる。
【００２６】ＰＬＺＴシャッタアレイ１８の結像面に沿
って、たとえばフォトマルチプライヤからなる受光素子
２２を受光素子搬送系２４によって走査させ、各発光素
子２０からの発光量が測定される。受光素子搬送系２４
は、ボールねじ２６、ボールねじ２６の一端を支持する
支持部材２８、ボールねじ２６を回転させるモータ３
０、ボールねじ２６によって直線的に移動する台３２を
含む。受光素子搬送系２４のモータ３０によってボール
ねじ２６を回転させ、ボールねじ２６の回転によって台
３２を直線運動させて、台３２上に固定された受光素子
２２を、ＰＬＺＴシャッタアレイ１８の一次元配列され
た発光素子２０の結像面に沿って走査させる。図２から
わかるように、受光素子２２には、隣り合う発光素子２
０からの光を検出しないように走査方向Ｘと垂直にスリ
ット３４が設けられている。また、受光素子搬送系２４
の支持部材２８近傍には、受光素子２２が基準位置にあ
るか否かを判断するためのホームセンサ３６が配置され
る。ホームセンサ３６はたとえばフォトカプラを含み、
台３２の一端３８を検出すると、受光素子２２は基準位
置にあると判断される。
って、たとえばフォトマルチプライヤからなる受光素子
２２を受光素子搬送系２４によって走査させ、各発光素
子２０からの発光量が測定される。受光素子搬送系２４
は、ボールねじ２６、ボールねじ２６の一端を支持する
支持部材２８、ボールねじ２６を回転させるモータ３
０、ボールねじ２６によって直線的に移動する台３２を
含む。受光素子搬送系２４のモータ３０によってボール
ねじ２６を回転させ、ボールねじ２６の回転によって台
３２を直線運動させて、台３２上に固定された受光素子
２２を、ＰＬＺＴシャッタアレイ１８の一次元配列され
た発光素子２０の結像面に沿って走査させる。図２から
わかるように、受光素子２２には、隣り合う発光素子２
０からの光を検出しないように走査方向Ｘと垂直にスリ
ット３４が設けられている。また、受光素子搬送系２４
の支持部材２８近傍には、受光素子２２が基準位置にあ
るか否かを判断するためのホームセンサ３６が配置され
る。ホームセンサ３６はたとえばフォトカプラを含み、
台３２の一端３８を検出すると、受光素子２２は基準位
置にあると判断される。
【００２７】図３に、画像形成装置１０の電気的なブロ
ック図を示す。
ック図を示す。
【００２８】図３を参照して、画像形成装置１０はＣＰ
Ｕ４０を含み、ＣＰＵ４０はＲＯＭ４２に記憶されたプ
ログラムにしたがって各部を制御する。ＣＰＵ４０から
は画像出力部４４に測定用の画像データが転送され、露
光部１２による露光準備が行われる。画像データの転送
が終了し露光準備が整うと、ＣＰＵ４０は受光素子搬送
系２４とホームセンサ３６とによって受光素子２２を基
準位置に移動させた後、発光素子２０を発光させ、受光
素子搬送系２４によって、受光素子２２をＰＬＺＴシャ
ッタアレイ１８の結像面に沿って一定速度で走査させ
る。受光素子２２が一定速度になったことを確認する
と、ＣＰＵ４０はＡ／Ｄ変換部４６にデータの取り込み
開始を指示する。Ａ／Ｄ変換部４６は受光素子２２から
取込まれたアナログデータをサンプリングし光量を示す
データ系列に変換して保持する。受光素子２２の移動が
停止したことをＣＰＵ４０が受光素子搬送系２４の動作
に基づいて確認すると、ＣＰＵ４０はＡ／Ｄ変換部４６
で保持された光量を示すデータ系列を必要に応じて処理
した後、ＲＡＭ４８に転送する。そして、ＲＯＭ４２に
記憶されたプログラムにしたがって、発光素子２０の位
置検出を行い、各発光素子位置での光量に基づいて光量
補正を行う。
Ｕ４０を含み、ＣＰＵ４０はＲＯＭ４２に記憶されたプ
ログラムにしたがって各部を制御する。ＣＰＵ４０から
は画像出力部４４に測定用の画像データが転送され、露
光部１２による露光準備が行われる。画像データの転送
が終了し露光準備が整うと、ＣＰＵ４０は受光素子搬送
系２４とホームセンサ３６とによって受光素子２２を基
準位置に移動させた後、発光素子２０を発光させ、受光
素子搬送系２４によって、受光素子２２をＰＬＺＴシャ
ッタアレイ１８の結像面に沿って一定速度で走査させ
る。受光素子２２が一定速度になったことを確認する
と、ＣＰＵ４０はＡ／Ｄ変換部４６にデータの取り込み
開始を指示する。Ａ／Ｄ変換部４６は受光素子２２から
取込まれたアナログデータをサンプリングし光量を示す
データ系列に変換して保持する。受光素子２２の移動が
停止したことをＣＰＵ４０が受光素子搬送系２４の動作
に基づいて確認すると、ＣＰＵ４０はＡ／Ｄ変換部４６
で保持された光量を示すデータ系列を必要に応じて処理
した後、ＲＡＭ４８に転送する。そして、ＲＯＭ４２に
記憶されたプログラムにしたがって、発光素子２０の位
置検出を行い、各発光素子位置での光量に基づいて光量
補正を行う。
【００２９】以下、画像形成装置１０の動作について説
明する。
明する。
【００３０】図４を参照して、まず、一次元配列された
発光素子２０を発光させ、受光素子搬送系２４によって
受光素子２２をＰＬＺＴシャッタアレイ１８の結像面に
沿って一定速度で走査させながら、発光素子２０からの
光量を十分に短い時間間隔でサンプリングする（ステッ
プＳ１）。受光素子２２の走査速度は、Ａ／Ｄ変換部４
６による所定のサンプリング間隔、１発光素子当たりの
サンプリング数、および信号種数から計算され、所望の
データが得られるように設定される。信号種はＰＬＺＴ
シャッタアレイ１８の発光パターンであり、偶数番目の
発光素子２０のみＯＮ、奇数番目の発光素子２０のみＯ
Ｎ、全発光素子２０をＯＮのいずれかのパターンであ
る。受光素子２２の走査中、ＰＬＺＴシャッタアレイ１
８の発光パターンはサンプリング間隔と同期して周期的
に切り替わり、それに応じてＡ／Ｄ変換部４６では、図
６（ａ）に示すような、サンプリング順に配列された光
量を示すデータ系列が保持される。
発光素子２０を発光させ、受光素子搬送系２４によって
受光素子２２をＰＬＺＴシャッタアレイ１８の結像面に
沿って一定速度で走査させながら、発光素子２０からの
光量を十分に短い時間間隔でサンプリングする（ステッ
プＳ１）。受光素子２２の走査速度は、Ａ／Ｄ変換部４
６による所定のサンプリング間隔、１発光素子当たりの
サンプリング数、および信号種数から計算され、所望の
データが得られるように設定される。信号種はＰＬＺＴ
シャッタアレイ１８の発光パターンであり、偶数番目の
発光素子２０のみＯＮ、奇数番目の発光素子２０のみＯ
Ｎ、全発光素子２０をＯＮのいずれかのパターンであ
る。受光素子２２の走査中、ＰＬＺＴシャッタアレイ１
８の発光パターンはサンプリング間隔と同期して周期的
に切り替わり、それに応じてＡ／Ｄ変換部４６では、図
６（ａ）に示すような、サンプリング順に配列された光
量を示すデータ系列が保持される。
【００３１】このデータ系列はＡ／Ｄ変換部４６からＣ
ＰＵ４０に与えられ、ＣＰＵ４０によって信号種別に分
割され、図６（ｂ）〜（ｄ）に示すようなデータ系列が
得られる（ステップＳ３）。図６（ｂ）〜（ｄ）に示す
データ系列はＲＡＭ４８に格納される。その中から検出
用のデータ系列が選択され、選択されたデータ系列を用
いて発光素子位置が検出される（ステップＳ５）。
ＰＵ４０に与えられ、ＣＰＵ４０によって信号種別に分
割され、図６（ｂ）〜（ｄ）に示すようなデータ系列が
得られる（ステップＳ３）。図６（ｂ）〜（ｄ）に示す
データ系列はＲＡＭ４８に格納される。その中から検出
用のデータ系列が選択され、選択されたデータ系列を用
いて発光素子位置が検出される（ステップＳ５）。
【００３２】そして、図６（ｂ）に示すような全発光素
子２０をＯＮしたときのデータ系列を用いて発光素子位
置を検出したか否かが判断され（ステップＳ７）、全発
光素子２０をＯＮしたときのデータ系列を用いて発光素
子位置を検出したならば、各発光素子位置でのデータに
基づいて周知の方法で光量補正を行う（ステップＳ
９）。
子２０をＯＮしたときのデータ系列を用いて発光素子位
置を検出したか否かが判断され（ステップＳ７）、全発
光素子２０をＯＮしたときのデータ系列を用いて発光素
子位置を検出したならば、各発光素子位置でのデータに
基づいて周知の方法で光量補正を行う（ステップＳ
９）。
【００３３】ステップＳ７において、全発光素子２０を
ＯＮしたときのデータ系列を用いて発光素子位置を検出
していないならば、ステップＳ１１に進む。ステップＳ
１１では、図６（ｃ）に示すような偶数番目の発光素子
２０のみをＯＮしたときのデータ系列を用いて発光素子
位置を検出しているときには、奇数番目の発光素子２０
の位置を偶数番目の発光素子２０の中点とするか否かが
判断される。また、図６（ｄ）に示すような奇数番目の
発光素子２０のみをＯＮしたときのデータ系列を用いて
発光素子位置を検出しているときには、偶数番目の発光
素子２０の位置を奇数番目の発光素子２０の中点とする
か否かが判断される。ステップＳ１１がＹＥＳであれ
ば、奇数番目の発光素子位置を検出するときには、偶数
番目の発光素子２０の中点を計算して奇数番目の発光素
子位置とし、一方、偶数番目の発光素子位置を検出する
ときには、奇数番目の発光素子２０の中点を計算して偶
数番目の発光素子位置とし（ステップＳ１３）、ステッ
プＳ９に進む。
ＯＮしたときのデータ系列を用いて発光素子位置を検出
していないならば、ステップＳ１１に進む。ステップＳ
１１では、図６（ｃ）に示すような偶数番目の発光素子
２０のみをＯＮしたときのデータ系列を用いて発光素子
位置を検出しているときには、奇数番目の発光素子２０
の位置を偶数番目の発光素子２０の中点とするか否かが
判断される。また、図６（ｄ）に示すような奇数番目の
発光素子２０のみをＯＮしたときのデータ系列を用いて
発光素子位置を検出しているときには、偶数番目の発光
素子２０の位置を奇数番目の発光素子２０の中点とする
か否かが判断される。ステップＳ１１がＹＥＳであれ
ば、奇数番目の発光素子位置を検出するときには、偶数
番目の発光素子２０の中点を計算して奇数番目の発光素
子位置とし、一方、偶数番目の発光素子位置を検出する
ときには、奇数番目の発光素子２０の中点を計算して偶
数番目の発光素子位置とし（ステップＳ１３）、ステッ
プＳ９に進む。
【００３４】また、ステップＳ１１がＮＯであれば、他
方のデータ系列を用いて発光素子位置が検出される（ス
テップＳ１５）。すなわち、ステップＳ５において偶数
番目の発光素子２０のみをＯＮしたときのデータ系列を
用いて発光素子位置を検出しているときには、ステップ
Ｓ１５では、奇数番目の発光素子２０のみをＯＮしたと
きのデータ系列を用いて発光素子位置が検出され、一
方、ステップＳ５において奇数番目の発光素子２０のみ
をＯＮしたときのデータ系列を用いて発光素子位置を検
出しているときには、ステップＳ１５では、偶数番目の
発光素子２０のみをＯＮしたときのデータ系列を用いて
発光素子位置が検出される。そして、ステップＳ９に進
む。
方のデータ系列を用いて発光素子位置が検出される（ス
テップＳ１５）。すなわち、ステップＳ５において偶数
番目の発光素子２０のみをＯＮしたときのデータ系列を
用いて発光素子位置を検出しているときには、ステップ
Ｓ１５では、奇数番目の発光素子２０のみをＯＮしたと
きのデータ系列を用いて発光素子位置が検出され、一
方、ステップＳ５において奇数番目の発光素子２０のみ
をＯＮしたときのデータ系列を用いて発光素子位置を検
出しているときには、ステップＳ１５では、偶数番目の
発光素子２０のみをＯＮしたときのデータ系列を用いて
発光素子位置が検出される。そして、ステップＳ９に進
む。
【００３５】ついで、図５を参照して、ステップＳ５お
よびＳ１５の詳細な動作について説明する。なお、図７
〜図１３に示す波形は、データ系列の包絡線を示す。
よびＳ１５の詳細な動作について説明する。なお、図７
〜図１３に示す波形は、データ系列の包絡線を示す。
【００３６】まず、閾値が決定される（ステップＳ２
１）。たとえば、図７に示すように、選択されたデータ
系列全体の中央付近の、必ずデータが存在する部分での
極小値を閾値とする。ここでは、極小値は、矢印Ａに示
すように、データ系列全体の中央から１周期分の検索範
囲における最小値となる。最小値の位置がこの検索範囲
の端ならば、さらに小さい値が存在する可能性があるの
で、検索範囲を広げて必ず極小値を探し、その極小値を
閾値とする。
１）。たとえば、図７に示すように、選択されたデータ
系列全体の中央付近の、必ずデータが存在する部分での
極小値を閾値とする。ここでは、極小値は、矢印Ａに示
すように、データ系列全体の中央から１周期分の検索範
囲における最小値となる。最小値の位置がこの検索範囲
の端ならば、さらに小さい値が存在する可能性があるの
で、検索範囲を広げて必ず極小値を探し、その極小値を
閾値とする。
【００３７】ついで、閾値を用いて先頭の発光素子位置
が検索される（ステップＳ２３）。図８に示すように、
検出された閾値とデータ系列とが先頭から順に比較さ
れ、閾値以上となった最初の位置が検出される。ここで
は、矢印Ｂが最初の位置となる。この最初の位置から１
周期分の検索範囲内すなわち先頭の発光素子位置検索範
囲内で最初の極大値が検出され、検出された極大値の位
置が先頭の発光素子位置とされる。
が検索される（ステップＳ２３）。図８に示すように、
検出された閾値とデータ系列とが先頭から順に比較さ
れ、閾値以上となった最初の位置が検出される。ここで
は、矢印Ｂが最初の位置となる。この最初の位置から１
周期分の検索範囲内すなわち先頭の発光素子位置検索範
囲内で最初の極大値が検出され、検出された極大値の位
置が先頭の発光素子位置とされる。
【００３８】このとき、たとえば図９に示すように、先
頭の発光素子位置検索範囲内に極大値が存在しない（た
とえば検索範囲の端に最大値がある）場合には、検索範
囲が広げられ最初の極大値が検出される。これによっ
て、先頭の発光素子位置の検出精度が向上する。
頭の発光素子位置検索範囲内に極大値が存在しない（た
とえば検索範囲の端に最大値がある）場合には、検索範
囲が広げられ最初の極大値が検出される。これによっ
て、先頭の発光素子位置の検出精度が向上する。
【００３９】そして、次の発光素子位置が検出される。
このとき、データ系列には通常１周期に１つの極大値が
存在することに鑑み、直前の発光素子位置より１／２周
期後から１周期分の検索範囲内、すなわち次の発光素子
位置検索範囲内で極大値となる位置が検出される（ステ
ップＳ２５）。
このとき、データ系列には通常１周期に１つの極大値が
存在することに鑑み、直前の発光素子位置より１／２周
期後から１周期分の検索範囲内、すなわち次の発光素子
位置検索範囲内で極大値となる位置が検出される（ステ
ップＳ２５）。
【００４０】検出された発光素子位置と予想発光素子位
置（直前の発光素子位置から１周期後の位置）との差、
すなわち誤差が、予め設定された一定値以上か否かが判
断される（ステップＳ２７）。誤差が一定値未満であれ
ば、検出された発光素子位置が次の発光素子位置として
扱われる（ステップＳ２９）。たとえば図１０に示すよ
うに、次の発光素子位置検索範囲に含まれる誤差許容範
囲内で極大値が検出されたときには、検出された極大値
の位置が次の発光素子位置として扱われる。
置（直前の発光素子位置から１周期後の位置）との差、
すなわち誤差が、予め設定された一定値以上か否かが判
断される（ステップＳ２７）。誤差が一定値未満であれ
ば、検出された発光素子位置が次の発光素子位置として
扱われる（ステップＳ２９）。たとえば図１０に示すよ
うに、次の発光素子位置検索範囲に含まれる誤差許容範
囲内で極大値が検出されたときには、検出された極大値
の位置が次の発光素子位置として扱われる。
【００４１】一方、ステップＳ２７において、誤差が一
定値以上であれば、予想発光素子位置が次の発光素子位
置として扱われる（ステップＳ３１）。次の発光素子位
置検索範囲の中央から大きく離れた位置（誤差許容範囲
外）で極大値が検出された場合には、発光素子２０の故
障等が原因と考えられ、それ以降の発光素子位置検出に
影響を及ぼす。そこで、次の発光素子位置検索範囲の中
央から一定以上離れたところで極大値が検出された場
合、発光素子２０が故障しているものとみなし、次の発
光素子位置検索範囲の中央すなわち予想発光素子位置を
次の発光素子位置として扱う。なお、図１１に示すよう
に、次の発光素子位置検索範囲の端が最大値の位置とな
る場合も同様に処理される。これによって、以降の発光
素子位置の検出に影響が及ばないようにできる。
定値以上であれば、予想発光素子位置が次の発光素子位
置として扱われる（ステップＳ３１）。次の発光素子位
置検索範囲の中央から大きく離れた位置（誤差許容範囲
外）で極大値が検出された場合には、発光素子２０の故
障等が原因と考えられ、それ以降の発光素子位置検出に
影響を及ぼす。そこで、次の発光素子位置検索範囲の中
央から一定以上離れたところで極大値が検出された場
合、発光素子２０が故障しているものとみなし、次の発
光素子位置検索範囲の中央すなわち予想発光素子位置を
次の発光素子位置として扱う。なお、図１１に示すよう
に、次の発光素子位置検索範囲の端が最大値の位置とな
る場合も同様に処理される。これによって、以降の発光
素子位置の検出に影響が及ばないようにできる。
【００４２】そして、ステップＳ２９またはＳ３１の処
理後、ステップＳ３３に進む。
理後、ステップＳ３３に進む。
【００４３】ステップＳ３３では、すべての発光素子位
置が検出されたか否かが判断され、すべての発光素子位
置が検出済であれば終了し、まだ検出されていない発光
素子位置があれば、ステップＳ２５に戻る。そして、最
後の発光素子位置まで上述の処理が繰り返され、一次元
配列された発光素子２０の位置が検出される。
置が検出されたか否かが判断され、すべての発光素子位
置が検出済であれば終了し、まだ検出されていない発光
素子位置があれば、ステップＳ２５に戻る。そして、最
後の発光素子位置まで上述の処理が繰り返され、一次元
配列された発光素子２０の位置が検出される。
【００４４】たとえば、図６（ｃ）に示すデータ系列を
用いればすべての偶数番目の発光素子位置を、図６
（ｄ）に示すデータ系列を用いればすべての奇数番目の
発光素子位置を、それぞれ検出することができる。
用いればすべての偶数番目の発光素子位置を、図６
（ｄ）に示すデータ系列を用いればすべての奇数番目の
発光素子位置を、それぞれ検出することができる。
【００４５】このように動作する画像形成装置１０によ
れば、極大値を有する位置は発光素子位置に対応すると
いう点に着目し、データ系列の極大値を検出することに
よって発光素子位置を検出するので、たとえ長尺になっ
ても誤差が生じにくく、正確に発光素子位置を検出でき
る。そして、各発光素子位置での光量に基づいて、適切
な光量補正が可能となる。また、極大値を検出すること
によって位置検出を行うので、機械的な加工および組立
てに高精度は要求されず、作業性が向上する。
れば、極大値を有する位置は発光素子位置に対応すると
いう点に着目し、データ系列の極大値を検出することに
よって発光素子位置を検出するので、たとえ長尺になっ
ても誤差が生じにくく、正確に発光素子位置を検出でき
る。そして、各発光素子位置での光量に基づいて、適切
な光量補正が可能となる。また、極大値を検出すること
によって位置検出を行うので、機械的な加工および組立
てに高精度は要求されず、作業性が向上する。
【００４６】なお、画像形成装置１０において、発光素
子２０の間隔が緊密であれば、図１２に示すように、全
発光素子２０がＯＮしたときのデータ系列では、極大値
位置と発光素子位置とが一致せず発光素子位置を検出で
きない場合がある。したがってこの場合には、偶数番目
の発光素子２０のみがＯＮしたときのデータ系列と奇数
番目の発光素子２０のみがＯＮしたときのデータ系列と
について上述の検出処理を施してそれぞれ発光素子位置
を検出し、検出した発光素子位置を交互に配列すること
によって、すべての発光素子位置を検出することができ
る（図１３参照）。または、偶数番目の発光素子２０の
みがＯＮしたときのデータ系列あるいは奇数番目の発光
素子２０のみがＯＮしたときのデータ系列のいずれかに
基づいて発光素子位置を検出し、検出した発光素子位置
の中点を計算することによって、すべての発光素子位置
を検出することもできる。このように、発光素子２０の
間隔が緊密な場合には、発光素子２０を一発光素子おき
に発光させたときのデータ系列を用いることによって極
大値を容易に検出でき、すべての発光素子位置を容易に
検出できる。
子２０の間隔が緊密であれば、図１２に示すように、全
発光素子２０がＯＮしたときのデータ系列では、極大値
位置と発光素子位置とが一致せず発光素子位置を検出で
きない場合がある。したがってこの場合には、偶数番目
の発光素子２０のみがＯＮしたときのデータ系列と奇数
番目の発光素子２０のみがＯＮしたときのデータ系列と
について上述の検出処理を施してそれぞれ発光素子位置
を検出し、検出した発光素子位置を交互に配列すること
によって、すべての発光素子位置を検出することができ
る（図１３参照）。または、偶数番目の発光素子２０の
みがＯＮしたときのデータ系列あるいは奇数番目の発光
素子２０のみがＯＮしたときのデータ系列のいずれかに
基づいて発光素子位置を検出し、検出した発光素子位置
の中点を計算することによって、すべての発光素子位置
を検出することもできる。このように、発光素子２０の
間隔が緊密な場合には、発光素子２０を一発光素子おき
に発光させたときのデータ系列を用いることによって極
大値を容易に検出でき、すべての発光素子位置を容易に
検出できる。
【００４７】また、閾値としては、データ系列全体の中
央付近の極小値に限定されず、データ系列に含まれるい
ずれかの極小値、または任意の値を用いることができ
る。
央付近の極小値に限定されず、データ系列に含まれるい
ずれかの極小値、または任意の値を用いることができ
る。
【００４８】さらに、上述の実施の形態では、プリント
ヘッドとしてＰＬＺＴシャッタアレイを用いたが、これ
に限定されず、プリントヘッドとしては、液晶シャッタ
アレイ、ＬＥＤアレイ、ＤＭＤアレイ等、一次元配列さ
れた複数の発光素子を用いるすべてのデバイスを適用で
きる。
ヘッドとしてＰＬＺＴシャッタアレイを用いたが、これ
に限定されず、プリントヘッドとしては、液晶シャッタ
アレイ、ＬＥＤアレイ、ＤＭＤアレイ等、一次元配列さ
れた複数の発光素子を用いるすべてのデバイスを適用で
きる。
【００４９】
【発明の効果】この発明によれば、プリントヘッドの発
光素子の結像面のうち各発光素子からの光が垂直に照射
される位置において光量を示すデータ系列が極大とな
り、極大値を有する位置は発光素子位置に対応するとい
う点に着目し、データ系列の極大値を検出することによ
って発光素子位置を検出する。したがって、たとえ長尺
になっても誤差が生じにくく、正確に発光素子位置を検
出でき、適切な光量補正が可能となる。
光素子の結像面のうち各発光素子からの光が垂直に照射
される位置において光量を示すデータ系列が極大とな
り、極大値を有する位置は発光素子位置に対応するとい
う点に着目し、データ系列の極大値を検出することによ
って発光素子位置を検出する。したがって、たとえ長尺
になっても誤差が生じにくく、正確に発光素子位置を検
出でき、適切な光量補正が可能となる。
【００５０】また、極大値を検出することによって発光
素子位置を検出するので、モータのパルス数に基づいて
発光素子位置を検出する従来とは異なり、機械的な加工
および組立てに高精度は要求されず、作業性が向上す
る。
素子位置を検出するので、モータのパルス数に基づいて
発光素子位置を検出する従来とは異なり、機械的な加工
および組立てに高精度は要求されず、作業性が向上す
る。
【図１】この発明の一実施形態を示す概略構成図であ
る。
る。
【図２】この発明の一実施形態の要部を示す概略構成図
である。
である。
【図３】この発明の一実施形態のブロック図である。
【図４】この発明の動作の一例を示すフロー図である。
【図５】図４のステップＳ５およびＳ１５の詳細な動作
の一例を示すフロー図である。
の一例を示すフロー図である。
【図６】（ａ）は光量に関するデータ系列、（ｂ）は全
発光素子をＯＮしたときのデータ系列、（ｃ）は偶数番
目の発光素子のみをＯＮしたときのデータ系列、（ｄ）
は奇数番目の発光素子のみをＯＮしたときのデータ系列
を、それぞれ示すグラフである。
発光素子をＯＮしたときのデータ系列、（ｃ）は偶数番
目の発光素子のみをＯＮしたときのデータ系列、（ｄ）
は奇数番目の発光素子のみをＯＮしたときのデータ系列
を、それぞれ示すグラフである。
【図７】閾値を検出する動作を説明するためのグラフで
ある。
ある。
【図８】先頭の発光素子位置を検出する動作を説明する
ためのグラフである。
ためのグラフである。
【図９】検索範囲を広げて極大値を検出する動作を説明
するためのグラフである。
するためのグラフである。
【図１０】２番目の発光素子位置を検出する動作を説明
するためのグラフである。
するためのグラフである。
【図１１】極大値が誤差許容範囲内になく予想発光素子
位置を次の発光素子位置として扱う動作を説明するため
のグラフである。
位置を次の発光素子位置として扱う動作を説明するため
のグラフである。
【図１２】発光素子間隔が緊密な場合における、全発光
素子ＯＮ、偶数番目の発光素子のみＯＮ、奇数番目の発
光素子のみＯＮの、それぞれのデータ系列の包絡線の一
例を示すグラフである。
素子ＯＮ、偶数番目の発光素子のみＯＮ、奇数番目の発
光素子のみＯＮの、それぞれのデータ系列の包絡線の一
例を示すグラフである。
【図１３】偶数番目の発光素子のみＯＮ、奇数番目の発
光素子のみＯＮの、それぞれのデータ系列の包絡線の一
例を示すグラフである。
光素子のみＯＮの、それぞれのデータ系列の包絡線の一
例を示すグラフである。
１０ 画像形成装置 １２ 露光部 １４ 光源 １８ ＰＬＺＴシャッタアレイ ２０ 発光素子 ２２ 受光素子 ２４ 受光素子搬送系 ３６ ホームセンサ ４０ ＣＰＵ ４２ ＲＯＭ ４６ Ａ／Ｄ変換部 ４８ ＲＡＭ
Claims (9)
- 【請求項１】 一次元配列された複数の発光素子を有す
るプリントヘッドの各発光素子の位置を検出する位置検
出方法であって、 一次元配列された前記複数の発光素子のうち所望の発光
素子を発光させる第１ステップ、 受光手段を前記発光素子の配列方向に走査させることに
よって前記発光素子から出射される光量を測定する第２
ステップ、 前記受光手段による測定結果に基づいて光量を示すデー
タ系列を得る第３ステップ、 前記データ系列と閾値とを比較して、前記データ系列の
先頭から前記閾値以上の値をとる最初の位置を検出する
第４ステップ、 前記最初の位置から最も近い極大値の位置を、発光した
発光素子の中での先頭の発光素子位置とする第５ステッ
プ、および前記先頭の発光素子位置より後の発光素子位
置については極大値となる位置を発光素子位置とする第
６ステップを備える、位置検出方法。 - 【請求項２】 前記第１ステップでは、一次元配列され
た前記複数の発光素子は一発光素子おきに発光する、請
求項１に記載の位置検出方法。 - 【請求項３】 前記第５ステップでは、前記最初の位置
から１周期分の検索範囲内で極大値を検出できないとき
には前記検索範囲を広げて極大値を検出する、請求項１
または２に記載の位置検出方法。 - 【請求項４】 前記第６ステップでは、前記先頭の発光
素子位置より後の各発光素子位置を検出するとき、直前
の発光素子位置より１／２周期後から１周期分の検索範
囲内で極大値が検出される、請求項１ないし３のいずれ
かに記載の位置検出方法。 - 【請求項５】 前記第６ステップでは、前記１周期分の
検索範囲の中央から一定以上離れて極大値が検出された
ときには、発光素子位置を前記１周期分の検索範囲の中
央とする、請求項４に記載の位置検出方法。 - 【請求項６】 前記閾値は、前記受光手段からの前記デ
ータ系列に含まれるいずれかの極小値である、請求項１
ないし５のいずれかに記載の位置検出方法。 - 【請求項７】 前記閾値は任意の値である、請求項１な
いし５のいずれかに記載の位置検出方法。 - 【請求項８】 前記プリントヘッドはＰＬＺＴシャッタ
アレイを含む、請求項１ないし７のいずれかに記載の位
置検出方法。 - 【請求項９】 一次元配列された複数の発光素子を有す
るプリントヘッドの各発光素子の位置を検出する位置検
出装置であって、 前記発光素子から出射される光量を測定する受光手段、 前記受光手段を前記複数の発光素子の配列方向に走査さ
せる走査手段、 前記受光手段による測定結果に基づいて光量を示すデー
タ系列を得る手段、 前記データ系列と閾値とを比較して、前記データ系列の
先頭から前記閾値以上の値をとる最初の位置を検出する
検出手段、 前記最初の位置から最も近い極大値の位置を、発光した
発光素子の中での先頭の発光素子位置とする手段、およ
び前記先頭の発光素子位置より後の発光素子位置につい
ては極大値となる位置を発光素子位置とする手段を備え
る、位置検出装置。
Priority Applications (5)
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|---|---|---|---|
| JP18694998A JP2000000996A (ja) | 1998-06-16 | 1998-06-16 | 位置検出方法および位置検出装置 |
| US09/332,936 US6337738B1 (en) | 1998-06-16 | 1999-06-15 | Method and apparatus for detecting positions of light emitting elements |
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| EP99111064A EP0965456B1 (en) | 1998-06-16 | 1999-06-16 | Method and apparatus for detecting positions of light emitting elements |
Applications Claiming Priority (1)
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| JP18694998A JP2000000996A (ja) | 1998-06-16 | 1998-06-16 | 位置検出方法および位置検出装置 |
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|---|---|
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Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
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