ITMI20071203A1 - Procedimento e dispositivo per testare un circuito integrato - Google Patents

Description

STATO DELLA TECNICA

La presente invenzione riguarda un procedimento per testare un circuito integrato conformemente alla definizione introduttiva della rivendicazione 1 ed un corrispondente dispositivo per testare conformemente alla definizione introduttiva della rivendicazione 4.

Per un tale procedimento per testare, riconosciuto dalla Automotive Electronics Council come standard nella sicurezza della qualità, per un circuito integrato, che presenta almeno una connessione di massa e più connessione di segnalazione, in corrispondenza di una connessione di segnalazione viene applicato un potenziale di segnalazione ed in corrispondenza di almeno una connessione di massa viene applicato un potenziale di massa (messa a terra). A tutte le ulteriori connessioni di segnalazione in particolare viene applicato un potenziale di massa, A tale riguardo connessione di segnalazione significa ogni connessione, che per il funzionamento del circuito non è destinata ad essere collegata con massa.

Un inconveniente di questo procedimento per Test consiste nel fatto che la caratteristica risultante dipende pochissimo dalla struttura del circuito integrato. Sperimentalmente si è trovato che questo procedimento di test pertanto non è adatto ad individuare determinati difetti di cristallini ed Alu-Spiking. Pertanto può verificarsi che determinati circuiti integrati difettosi vengono messi in commercio, il che specialmente per l'elettronica degli autoveicoli rilevante a livello di sicurezza rappresenta un rischio per la sicurezza.

DESCRIZIONE DELL'INVENZIONE

La presente invenzione si pone il compito di realizzare un procedimento per testare un circuito integrato, adatto a rilevare ulteriori difetti, ed un corrispondente dispositivo di test.

Il compito alla base dell'invenzione viene risolto mediante un procedimento per testare avente le caratteristiche della parte caratterizzante della rivendicazione 1 ed un dispositivo per testare avente le caratteristiche della parte caratterizzante della rivendicazione 4.

L'invenzione riguarda un procedimento per testare, in cui ad ogni ulteriore connessione di segnalazione viene applicato un potenziale di oscillazione.

Vantaggiosamente il procedimento di test secondo l'invenzione presenta un'elevata stabilità e nei confronti dello stato della tecnica elevata indipendenza di sollecitazioni dipendenti dal Hardware. Il procedimento per testare inoltre è indipendente da stati interni ai Chi (ad esempio nodi circuitali caricati) ed influenze esterne.

In una forma dì realizzazione si utilizza un unico valore del potenziale dì segnalazione per la valutazione e l'unico valore del potenziale di segnalazione è stato definito mediante una simulazione prima della misurazione.

Vantaggiosamente ciò consente una semplice valutazione.

In un'ulteriore forma di realizzazione ad un'ulteriore connessione di massa viene applicato un potenziale di massa.

Vantaggiosamente le misurazioni in tal modo risultano ancora più significative.

L'invenzione riguarda inoltre un dispositivo per testare un circuito·integrato, predisposto per applicare ad ogni ulteriore connessione di segnalazione un potenziale di oscillazione.

In una forma di realizzazione preferita il dispositivo per testare è predisposto per applicare un potenziale di massa ad un'ulteriore connessione di massa.

BREVE DESCRIZIONE DEI DISEGNI

In seguito l'invenzione viene descritta più dettagliatamente con riferimento ai disegni.

In particolare·.

la figura 1 mostra una vista schematica di un circuito integrato, e

la figura 2 mostra un confronto delle caratteristiche per il procedimento di test standard dell'Automotive Electronics Councìl ed un procedimento di test secondo 1'invenzione.

FORME DI REALIZZAZIONE DELL'INVENZIONE

La figura 1 mostra una vista schematica di un circuito integrato 1, relativamente al quale si tratta tipicamente di un ASIC. Il circuito integrato presenta più connessioni elettriche 2 fino a 13. queste sono collegate internamente con componenti come diodi, transistori bi-polari, transistori ad effetto di campo, resistenze e capacità. Fra le connessioni 2 fino a 13 esistono collegamenti interni tramite componenti integrati.

Per controllare la funzionalità ad ognuna delle connessioni di massa 2, 3 viene applicato un potenziale di massa (messa a terra) ed alla connessione di segnalazione 4 viene applicato un ulteriore potenziale variabile. Alle ulteriori connessioni di segnalazione 5 fino a 13 non viene applicato potenziale (potenziale di oscillazione). Fra le connessioni di massa 2 rispettivamente 3 e la connessione dì segnalazione 4 esiste ad esempio un collegamento interno tramite uno oppure più componenti integrati oppure è realizzata una giunzione pn (diodo), come ad esempio fra il sub-strato e il Source oppure il Drain di un transistore ad effetto di campo. Per un controllo della funzionalità del circuito integrato a riguardo s'impiegano preferibilmente due connessioni, per le quali si prevede una caratteristica definita essenzialmente mediante un diodo.

Una misurazione di tali connessioni, specialmente nella zona di blocco del diodo, è particolarmente sensibile per gli errori. A riguardo la suscettibilità ad errori del circuito integrato risulta dallo scostamento della caratteristica misurata da un andamento atteso. Alternativamente la suscettibile ad errori risulta anche dallo scostamento di un punto di misurazione (valore di tensione e relativo valore di corrente) da un punto di misurazione atteso. Il punto di misurazione a riguardo viene determinato preventivamente mediante simulazioni e si trova nella zona di blocco attesa. Il procedimento per test può essere effettuato per controllare completamente rispettivamente un'ulteriore connessione di segnalazione 5 fino a 13. Si misurano quindi da ultimo pin di alimentazione e un'esistente riserva energetica (capacità) per impedire una carica.

La figura 2 è un confronto di una caratteristica 14 per il procedimento di test standard dell'Automotive Electronics Council ed una caratteristica 15 per un procedimento di test secondo l'invenzione. Il circuito integrato è difettoso, per cui entrambe le caratteristiche si scostano decisamente dalla caratteristica di diodo atteso. A riguardo le caratteristiche 14 e 15 si scostano anche decisamente reciprocamente. Per testare si utilizza un dispositivo con il più possibile poca connessione, ad esempio grandi capacità. A riguardo singoli elementi del dispositivo di test possono essere separati ad esempio mediante un circuito a Relè. Come rilevabile dalla figura 2 la corrente massima può essere limitata a ± 100 μΆ, per evitare un danneggiamento del circuito integrato..

Claims (5)

1. RIVENDICAZIONI 1. Procedimento per testare un circuito integrato (1), presentante almeno una connessione di massa {2} e piu connessioni di segnalazione (4, 13), laddove ad una connessione di segnalazione (4} viene applicato un potenziale dì segnalazione e ad almeno una connessione di massa (2) viene applicato un potenziale di massa, ad ogni ulteriore connessione di segnalazione viene applicato un potenziale di oscillazione (5 - 13).
2. 2. Procedimento di test secondo la rivendicazione 1, caratterizzato dal fatto che riutilizza un unico valore del potenziale di segnalazione per la valutazione, nonché dal fatto che l'unico valore del potenziale di segnalazione è stato determinato mediante una simulazione prima della misurazione.
3. 3. Procedimento di test secondo una delle rivendicazioni precedenti, caratterizzato dal fatto che su un'ulteriore connessione di massa (3) viene applicato un potenziale di massa.
4. 4. Dispositivo di test per un circuito integrato presentante almeno una connessione di massa (2) e più connessioni di segnalazione (4 -13), laddove il dispositivo di test è predisposto per applicare ad un connessione di segnalazione (4) un potenziale di segnalazione e ad almeno una connessione di massa (2) un potenziale di massa, caratterizzato dal fatto che il dispositivo di test è inoltre predisposto per applicare su ogni ulteriore connessione di segnalazione (5 - 13) un potenziale di oscillazione.
5. 5. Dispositivo di test secondo la rivendicazione 4, caratterizzato dal fatto che il dispositivo di test è predisposto per applicare un potenziale di massa ad un'ulteriore connessione di massa (3).