FR2974450A1 - Intégration d'une couche 2d d'oxyde métallique sur un substrat plastique conducteur - Google Patents

Intégration d'une couche 2d d'oxyde métallique sur un substrat plastique conducteur Download PDF

Info

Publication number
FR2974450A1
FR2974450A1 FR1153398A FR1153398A FR2974450A1 FR 2974450 A1 FR2974450 A1 FR 2974450A1 FR 1153398 A FR1153398 A FR 1153398A FR 1153398 A FR1153398 A FR 1153398A FR 2974450 A1 FR2974450 A1 FR 2974450A1
Authority
FR
France
Prior art keywords
layer
metal oxide
plastic substrate
zno
conductive plastic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
FR1153398A
Other languages
English (en)
Other versions
FR2974450B1 (fr
Inventor
Solenn Berson
Stephane Guillerez
Valentina Ivanova-Hristova
Sylvia Sanchez
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA
Original Assignee
Commissariat a lEnergie Atomique CEA
Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Commissariat a lEnergie Atomique CEA, Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA filed Critical Commissariat a lEnergie Atomique CEA
Priority to FR1153398A priority Critical patent/FR2974450B1/fr
Priority to KR1020137027198A priority patent/KR20140033353A/ko
Priority to DE212012000087U priority patent/DE212012000087U1/de
Priority to JP2014505693A priority patent/JP2014512684A/ja
Priority to PCT/FR2012/050600 priority patent/WO2012143632A1/fr
Publication of FR2974450A1 publication Critical patent/FR2974450A1/fr
Priority to US14/041,163 priority patent/US20140060644A1/en
Application granted granted Critical
Publication of FR2974450B1 publication Critical patent/FR2974450B1/fr
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01GCOMPOUNDS CONTAINING METALS NOT COVERED BY SUBCLASSES C01D OR C01F
    • C01G9/00Compounds of zinc
    • C01G9/02Oxides; Hydroxides
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K30/00Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation
    • H10K30/80Constructional details
    • H10K30/81Electrodes
    • H10K30/82Transparent electrodes, e.g. indium tin oxide [ITO] electrodes
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D5/00Electroplating characterised by the process; Pretreatment or after-treatment of workpieces
    • C25D5/54Electroplating of non-metallic surfaces
    • C25D5/56Electroplating of non-metallic surfaces of plastics
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D9/00Electrolytic coating other than with metals
    • C25D9/04Electrolytic coating other than with metals with inorganic materials
    • C25D9/08Electrolytic coating other than with metals with inorganic materials by cathodic processes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G9/00Electrolytic capacitors, rectifiers, detectors, switching devices, light-sensitive or temperature-sensitive devices; Processes of their manufacture
    • H01G9/20Light-sensitive devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0224Electrodes
    • H01L31/022466Electrodes made of transparent conductive layers, e.g. TCO, ITO layers
    • H01L31/022483Electrodes made of transparent conductive layers, e.g. TCO, ITO layers composed of zinc oxide [ZnO]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/18Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
    • H01L31/1884Manufacture of transparent electrodes, e.g. TCO, ITO
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K30/00Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation
    • H10K30/10Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation comprising heterojunctions between organic semiconductors and inorganic semiconductors
    • H10K30/15Sensitised wide-bandgap semiconductor devices, e.g. dye-sensitised TiO2
    • H10K30/152Sensitised wide-bandgap semiconductor devices, e.g. dye-sensitised TiO2 the wide bandgap semiconductor comprising zinc oxide, e.g. ZnO
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/10Deposition of organic active material
    • H10K71/12Deposition of organic active material using liquid deposition, e.g. spin coating
    • H10K71/125Deposition of organic active material using liquid deposition, e.g. spin coating using electrolytic deposition e.g. in-situ electropolymerisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G9/00Electrolytic capacitors, rectifiers, detectors, switching devices, light-sensitive or temperature-sensitive devices; Processes of their manufacture
    • H01G9/20Light-sensitive devices
    • H01G9/2027Light-sensitive devices comprising an oxide semiconductor electrode
    • H01G9/204Light-sensitive devices comprising an oxide semiconductor electrode comprising zinc oxides, e.g. ZnO
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K30/00Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation
    • H10K30/50Photovoltaic [PV] devices
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/549Organic PV cells

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)

Abstract

L'invention vise un procédé de réalisation d'une couche 2D à base d'oxyde métallique sur un substrat plastique conducteur, selon lequel la couche 2D est réalisée par dépôt électrochimique de l'oxyde métallique.

Description

INTEGRATION D'UNE COUCHE 2D D'OXYDE METALLIQUE SUR UN SUBSTRAT PLASTIQUE CONDUCTEUR
DOMAINE TECHNIQUE La présente invention s'inscrit dans la recherche d'architectures et de couches constitutives de dispositifs photovoltaïques permettant d'améliorer les rendements et la stabilité des dispositifs actuels.
10 Plus précisément, l'invention concerne le dépôt, par voie électrochimique, d'oxyde transparent semi-conducteur (n et p), en particulier d'oxyde de zinc (ZnO), sur un substrat plastique recouvert d'un matériau conducteur.
Ce dépôt peut alors être intégré dans un dispositif optoélectronique, tel qu'une diode 15 électroluminescente organique (OLED pour l'acronyme anglo-saxon « Organic Light-Emitting Diode »), une diode électroluminescente à polymère (PLED pour l'acronyme anglo-saxon «Polymer Light-Emitting Diode ») flexible, un dispositif photovoltaïque (PV) flexible, ou un OPD (« Organic Photo Detector ») flexible.
2 0 ETAT ANTERIEUR DE LA TECHNIQUE
Les cellules photovoltaïques (PV) organiques sont des dispositifs capables de convertir l'énergie solaire en énergie électrique grâce à l'utilisation de matériaux semi-conducteurs, pour produire un effet photovoltaïque. Les matériaux actifs, ainsi 25 que les architectures de ces dispositifs, sont encore en évolution afin de répondre aux critères de performances et de durée de vie permettant d'élargir le champ d'application de ces technologies.
Pour rappel, les structures classique et inverse des cellules PV organiques sont 30 schématisées à la figure lA et à la figure lB, respectivement. De manière classique, un substrat 1 est recouvert des couches successives suivantes : - une couche conductrice 2 faisant fonction de première électrode ; - une couche 3 semi-conductrice p ; - une couche active 4 ; 35 - une couche 5 semi-conductrice n ; et - une couche conductrice 6 faisant fonction de seconde électrode.5 Dans une structure inverse, l'empilement a la séquence suivante : - substrat 1 ; - une couche conductrice 6 faisant fonction de première électrode ; - une couche 5 semi-conductrice n ; - une couche active 4 ; - une couche 3 semi-conductrice p ; - une couche conductrice 2 faisant fonction de seconde électrode.
L'utilisation d'oxydes métalliques en tant que semi-conducteurs 3, 5 pour jouer l'interface entre la couche active 4 et l'électrode 2, 6, est bien connue. En particulier, l'oxyde de zinc (ZnO) est connu pour son utilisation en tant que couche n (5).
Ainsi et pour des applications photovoltaïques, le document Hames et al. (Solar Energy 84 (2010) 426-43) décrit le dépôt de fils de ZnO élaborés sur une couche 2D de ZnO, par voie électrochimique, sur un substrat en verre recouvert d'une couche de ITO (anglicisme pour «Indium-Tin-Oxide » ou oxyde d'indium dopé à l'étain). Après recuit à 100°C pour la couche 2D, puis à 200°C pour la couche 2D + 3D, il est rapporté des rendements de conversion de 2,44 %. Plus précisément, ce document décrit différentes structures à base de ZnO élaborées sur un substrat verre conducteur : une couche 2D, des fils de ZnO constituant une structure 3D, ou une combinaison des deux, à savoir des fils de ZnO élaborés sur une couche 2D de ZnO. Cette combinaison apparaît comme la plus prometteuse avec un rendement de conversion de 2,44 %. L'obtention de ces structures nécessite toutefois au final un recuit, à 200°C pour la structure complète.
En revanche et dans le contexte des cellules PV, aucune antériorité n'a décrit la réalisation de couches de ZnO 2D ou de structures 3D par voie électrochimique sur des substrats plastiques. Or, ce type de substrats a un avenir prometteur.
Par ailleurs et dans un contexte plus général, il n'a jamais été rapporté l'intégration de couches de ZnO cristallines planes (2D), préparées par voie électrochimique. Seule l'obtention de tapis de fil de ZnO (et donc de structures ZnO 3D) a été décrite en rapport avec la technique de dépôt par voie électrochimique.
La présente invention s'inscrit donc dans la recherche de solutions techniques permettant de réaliser des couches 2D par exemple en ZnO, sur des substrats en plastique, dans le but notamment de les intégrer dans des dispositifs photovoltaïques.
OBJET DE L'INVENTION
La présente invention concerne un procédé de réalisation d'une couche 2D à base d'oxyde métallique sur un substrat plastique conducteur, selon lequel la couche est réalisée par dépôt électrochimique de l'oxyde métallique.
Ainsi, la présente invention propose, pour la première fois, un moyen de réaliser une couche 2D à base d'un oxyde métallique tel que le ZnO, sur un substrat plastique conducteur. Le procédé selon l'invention met en oeuvre la technique du dépôt électrochimique, qui présente l'avantage d'être relativement simple et peu coûteuse.
Certes, le document Hames et al., avait déjà rapporté la possibilité d'utiliser cette technique de dépôt pour obtenir une couche 2D de ZnO sur un substrat en verre recouvert d'une couche conductrice. Toutefois, la nécessité d'un recuit à température élevée (au moins 100°C), pour une technique donnant en outre des résultats peu satisfaisants (rendement de conversion de 1,64 %), aurait dissuadé l'homme du métier de mettre en oeuvre cette technique pour réaliser des dépôts de couches 2D en oxydes métalliques sur des substrats en plastique, se détériorant à la chaleur.
2 0 De manière distincte par rapport à l'art antérieur, le procédé selon l'invention se caractérise donc par l'absence de toute étape de recuit, recuit généralement réalisé à une température supérieure ou égale à 100°C, voire à 200°C. En d'autres termes, le procédé se déroule à basse température, avantageusement inférieure à l00°C.
25 Dans le cadre de l'invention, on appelle une couche 2D, une couche continue à la surface du substrat. Avantageusement, cette couche présente une épaisseur uniforme (par exemple dont les variations ne dépassent pas 10% de l'épaisseur) et constitue donc une couche plane et homogène. Dans le cadre de l'invention, l'épaisseur de la couche est avantageusement comprise entre 15 nm et 400 nm. 30 En d'autres termes, la couche 2D obtenue à l'aide du procédé selon l'invention se caractérise par l'absence notamment de nanoparticules, de billes, de bâtonnets, ou de fils, caractéristiques des structures 3D.
35 Par ailleurs, l'épaisseur faible des couches 2D obtenues, liée à une charge faible de dépôt, se traduit par une augmentation de la conduction et de la stabilité. 3 De manière encore plus avantageuse, la couche 2D réalisée dans le cadre de l'invention est transparente pour le spectre solaire, avec une transmittance avantageusement supérieure à 80%. Cette qualité est liée à la faible épaisseur de la couche et à son homogénéité et résulte donc du procédé mis en oeuvre dans le cadre de la présente invention.
Comme mentionnée, la couche 2D est réalisée à base d'oxyde métallique, voire uniquement faite d'oxyde métallique pur ou en mélange. Par ailleurs, cette couche contient avantageusement de l'oxyde métallique cristallin. On parle ici de matériau cristallin lorsque la largeur à mi-hauteur (FWHM) du pic de diffraction est inférieure à 3°.
De manière avantageuse et notamment pour l'application photovoltaïque, l'oxyde métallique mis en oeuvre dans le cadre de l'invention est un semi-conducteur, encore 15 plus avantageusement de l'oxyde de zinc (ZnO).
Toutefois, d'autres oxydes métalliques présentant également des propriétés de semi-conducteur peuvent être utilisés. Il peut s'agir d'un OMSCT (acronyme pour Oxyde Métallique Semi-Conducteur Transparent) de type p ou n. Il s'agit par exemple d'un 2 0 oxyde métallique choisi dans le groupe suivant : oxyde de nickel (NiO) (p), oxyde de cuivre (CuO) (p), Cu2O (p) ou SnO2 (n).
Par ailleurs, l'oxyde métallique mis en oeuvre peut être conducteur, et pas seulement semi-conducteur. C'est par exemple le cas des oxydes métalliques semi-conducteurs 25 dopés, tels que l'oxyde de zinc dopé à l'aluminium (ZnO dopé Al ou AZO).
Selon l'invention, le substrat sur lequel est réalisé le dépôt est un substrat plastique, par exemple en PET (polyéthylène téréphtalate), en PEN (polyéthylène naphtalate) ou en polycarbonates. Certains substrats mis en oeuvre dans le cadre de l'invention 30 (notamment en PET et PEN) sont en outre flexibles.
Selon l'invention, le substrat est également conducteur. En particulier dans le cadre des dispositifs photovoltaïques, le substrat est recouvert d'une couche conductrice servant d'électrode, avantageusement réalisé à l'aide d'un TCO (pour l'anglicisme 35 « Transparent Conductive Oxide »), par exemple de l'ITO (pour l'anglicisme « Indium Tin Oxide » ou « tin-doped indium oxide »), du GZO (pour l'anglicisme « Gallium-doped Zinc Oxide »), de l'AZO (à base d'aluminium), de l'YZO (à base d'Yttrium), de l'IZO (à base d'indium) ou du FTO (SnO2 :F).
Comme illustré à la figure 2, la couche conductrice en ITO, obtenue sur un substrat en PET (Fig. 2B), est plus rugueuse, moins bien cristallisée que sur du verre (Fig. 2A). Malgré cela, le dépôt de l'oxyde métallique à l'aide du procédé selon l'invention permet d'obtenir une couche 2D plane, homogène et cristalline, et cela même en l'absence de recuit.
Le dépôt électrochimique selon l'invention est avantageusement réalisé dans un bain électrolytique classique, avec une source 02 standard.
Comme déjà dit, la température du bain électrolytique est basse, avantageusement inférieure à l00°C. Dans le cas particulier d'un dépôt de ZnO, la température du bain est avantageusement comprise entre 50°C et 85°C, préférentiellement comprise entre 55°C et 65°C, encore plus avantageusement égale à 60°C.
2 0 Le dépôt de ZnO est en outre avantageusement réalisé à faible charge, entre 0.05 et 0.4 C/cm2, préférentiellement entre 0.1 et 0.2 C/cm2.
Comme déjà dit, le procédé visé présente un intérêt tout particulier dans le domaine du photovoltaïque. 25 Ainsi et selon un autre aspect, la présente invention concerne un procédé de fabrication d'un dispositif photovoltaïque organique sur substrat plastique conducteur, selon lequel le dépôt du semi-conducteur (p ou n) est réalisé à l'aide du procédé décrit ci-dessus. Pour l'essentiel, le dépôt du semi-conducteur (p ou n) 30 servant d'interface entre la couche active et l'électrode est réalisé par voie électrolytique et la réalisation de cette couche semi-conductrice ne nécessite pas de recuit.
Selon un mode de réalisation particulier, il s'agit d'un procédé de fabrication d'une 35 cellule photovoltaïque organique sur plastique recouvert d'une couche de TCO, selon lequel le dépôt du semi-conducteur (p ou n), avantageusement du ZnO, se fait par bain électrochimique.15 Cette étape de dépôt se déroule à basse température et à faible charge. Dans des conditions optimisées pour le dépôt de ZnO, cette étape se déroule à une température comprise entre 50 et 85°C et à une charge comprise entre 0.05 et 0.4 C/cm2.
Par ailleurs, la présente invention offre, pour la première fois et grâce au procédé décrit ci-dessus, un dispositif photovoltaïque organique comprenant un substrat plastique conducteur recouvert d'une couche 2D d'oxyde métallique.
Il s'avère qu'une telle couche, par exemple en ZnO, est de très bonne qualité cristalline, est relativement plane, homogène voire transparente. Il en résulte de bonnes qualités électriques et une bonne tenue au vieillissement.
Les avantages de la présente invention ressortiront mieux des exemples de réalisation qui suivent. LEGENDES DES FIGURES
La figure 1 représente un schéma de la structure classique (A) et inverse (B) de cellules PV organiques. 2 0 La figure 2 représente des images obtenues en microscopie électronique à balayage (MEB) d'un substrat en verre recouvert d'une couche d'ITO (A) et d'un substrat en PET recouvert d'une couche d'ITO (B). La figure 3 représente un schéma d'une cellule électrochimique permettant la mise en oeuvre du procédé selon l'invention. 25 La figure 4 représente des images réalisées par microscopie électronique à balayage (MEB) de couches de ZnO obtenues par voie électrochimique sur substrat plastique conducteur à différents taux de charge et différentes températures :
A/ substrat PET/ITO ; 60°C et 0,2 C/cm2 ; 3 0 B/ substrat PET/ITO ; 60°C et 0,1 C/cm2 ; C/ substrat PET/ITO ; 60°C et 0,6 C/cm2 ; D/ substrat PEN/GZO ; 60°C et 0,1 C/cm2.
La figure 5 représente des images réalisées par microscopie électronique à balayage 35 (MEB) de couches de ZnO obtenues par voie électrochimique sur substrat verre conducteur à 70°C et à différents taux de charge :15 A/ 0,2 C/cm2 ; B/ 0,4 C/cm2 ; C/ 0,6 C/cm2.
La figure 6 représente un spectre XRD (X-ray diffraction) d'une couche de ZnO obtenue à 60°C d'un électrolyte de 5.10-3 M ZnC12 et 0.1 M KC1 à potentiel -1.0 vs SCE, déposé sur un substrat PET recouvert d'ITO.
EXEMPLES DE REALISATION Les exemples de réalisation qui suivent, à l'appui des figures annexées, ont pour but d'illustrer l'invention mais ne sont en aucun cas limitatifs. La présente invention va être illustrée plus avant en rapport avec l'oxyde de zinc (ZnO).
15 1/ Electro-dépôt de la couche de ZnO :
L'électro-dépôt de ZnO s'effectue dans une cellule électrochimique standard à trois électrodes, où un fil de Pt est utilisé comme contre-électrode et une électrode calomel saturée (SCE) comme électrode de référence (Fig. 3). L'électrode de travail est un substrat de plastique PET, couvert d'un oxyde conducteur et transparent d'In203 et SnO2 (ITO), avec une résistance carré d'environ 15 Ç carré. La surface active est fixée à 1,7 cm2.
25 Les couches 2D de ZnO sont électro-déposées à potentiel constant de -1 V vs SCE, à partir d'une solution aqueuse contenant 5 mM de ZnC12 et 0.1 M de KC1. Le contrôle de potentiel est assuré avec un potentiostat/galvanostat PARSTAT 2273 (Princeton Applied Research).
30 Toutes les expériences sont effectuées avec des électrolytes saturés avec de l'oxygène moléculaire.
La température du bain peut varier entre 50°C et 85°C. La densité de charge peut également varier entre 0,05 C.cm2 et 0,8 C.cm2. La densité de charge est utilisée 35 pour contrôler l'épaisseur du film. 7 20 / Analyse des couches de ZnO :
La morphologie des couches est étudiée à l'aide d'un microscope électronique à balayage S-4100 (Figure 4). La structure cristalline est analysée par un diffractomètre de rayon X brucker D5000, en utilisant la radiation Kat du cuivre (X =1,5406 µm) en mode 0-20.
La Figure 4 montre des couches 2D obtenues à 60°C et à faibles charges déposées (0,1 ou 0,2 C.cm2).
A titre de comparaison, sur la figure 5 à la même échelle, qui correspond à un substrat verre conducteur, il est nécessaire de monter à 70°C et les structures obtenues ne correspondent pas à des couches 2D au sens de l'invention, à savoir planes et homogènes.
Les pics (002) et (101) de la figure 6 montrent que le film déposé à 60°C sur un substrat plastique est bien du ZnO cristallin. Le tableau 1 ci-dessous liste les pics de diffraction correspondant à la signature du ZnO cristallin :
2 0 Tableau 1 pic 20 (°) FWHM (°) ZnO (002) 34.325 0.175 ZnO (101) 36.588 0.120 25 3/ Inté ation des dé s ôts de ZnO dans un dis s ositif s hotovoltaïs ue : Ces dépôts de ZnO par voie électrochimique sur substrat plastique conducteur ou verre conducteur ont été intégrés dans des dispositifs photovoltaïques organiques. Les résultats obtenus en cellules photovoltaïques apparaissent dans le tableau 30 suivant : 8 15 Substrat T°C Charge Qualité Voc Jsc FF% PCE% C.cm2 ZnO mV mA. cm 2 PET/ITO 60 0.1 Homogène 2D 572 9.7 51.9 2.91 PET/ITO 60 0.2 Homogène 2D 568 9.3 54.5 3.29 PET/ITO 60 0.4 Homogène 2D 565 8.6 51.1 2.61 Verre/ITO 70 0.2 Non homogène 538 9.7 43.2 2.25 3D Verre/ITO 70 0.4 Non homogène 546 10.1 44.4 2.47 3D Voc Jsc FF PCE tension en circuit ouvert densité de courant en court-circuit « Fil/ Factor » « Power Conversion Efficiency ». Dans des conditions optimisées, les rendements de conversion obtenus sont de 3,29 % sur PET/ITO, ce qui témoigne de la qualité de la couche de ZnO, à comparer à la référence par « spin coating » de 3.3%.
Dans les mêmes conditions sur verre/ITO, il n'a pas été possible d'obtenir une couche homogène 2D : une certaine augmentation de l'homogénéité a été observée en montant en température et en charge déposée mais sans atteindre la structure d'une couche 2D. Même à plus haute température et avec plus de matière déposée, les résultats sont moins bons sur verre/ITO que sur PET/ITO.
Dans la littérature, on trouve de meilleurs rendements à 3.9 % pour le système verre/ITO/nanofils de ZnO, où la couche mince de ZnO est réalisée par voie humide avec des recuits à 500°C. Aucun résultat sur substrat plastique n'est rapporté.

Claims (8)

  1. REVENDICATIONS1. Procédé de réalisation d'une couche 2D à base d'oxyde métallique sur un substrat plastique conducteur, selon lequel la couche 2D est réalisée par dépôt 5 électrochimique de l'oxyde métallique.
  2. 2. Procédé de réalisation d'une couche 2D à base d'oxyde métallique sur un substrat plastique conducteur selon la revendication 1, caractérisé en ce que l'oxyde métallique est de l'oxyde de zinc (ZnO).
  3. 3. Procédé de réalisation d'une couche 2D à base d'oxyde métallique sur un substrat plastique conducteur selon la revendication 1 ou 2, caractérisé en ce que le substrat plastique conducteur est un substrat en plastique recouvert d'une couche de TCO. 15
  4. 4. Procédé de réalisation d'une couche 2D à base d'oxyde métallique sur un substrat plastique conducteur selon l'une des revendications 2 et 3, caractérisé en ce que le dépôt est réalisé dans un bain électrochimique à une température comprise entre 50 °C et 85 °C, avantageusement comprise entre 55 °C et 65 °C, 2 0 encore plus avantageusement égale à 60°C.
  5. 5. Procédé de réalisation d'une couche 2D à base d'oxyde métallique sur un substrat plastique conducteur selon l'une des revendications 2 à 4, caractérisé en ce que le dépôt est réalisé avec une charge comprise entre 0.05 et 0.4 C/cm , 25 préférentiellement comprise entre 0.1 et 0.2 C/cm .
  6. 6. Procédé de fabrication d'un dispositif photovoltaïque organique sur substrat plastique conducteur, selon lequel le dépôt du semi-conducteur (p ou n) est réalisé à l'aide du procédé selon l'une des revendications 1 à 5.
  7. 7. Dispositif photovoltaïque organique comprenant un substrat plastique conducteur recouvert d'une couche 2D d'oxyde métallique susceptible d'être réalisée à l'aide du procédé selon l'une des revendications 1 à 5. 35
  8. 8. Dispositif photovoltaïque organique selon la revendication 7 caractérisé en ce que la couche est transparente. 10 30
FR1153398A 2011-04-19 2011-04-19 Intégration d'une couche 2d d'oxyde métallique sur un substrat plastique conducteur Active FR2974450B1 (fr)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR1153398A FR2974450B1 (fr) 2011-04-19 2011-04-19 Intégration d'une couche 2d d'oxyde métallique sur un substrat plastique conducteur
KR1020137027198A KR20140033353A (ko) 2011-04-19 2012-03-22 전도성 플라스틱 기판 상에서의 zno 통합에 기반한 2d 결정성 필름
DE212012000087U DE212012000087U1 (de) 2011-04-19 2012-03-22 Eine kristalline 2D-Schicht auf der Grundlage von ZnO auf einem leitfähigen Kunststoffsubstrat
JP2014505693A JP2014512684A (ja) 2011-04-19 2012-03-22 導電性プラスチック基板へのZnOの一体化をベースにした2D結晶質被膜
PCT/FR2012/050600 WO2012143632A1 (fr) 2011-04-19 2012-03-22 Integration d'une couche 2d cristalline a base de zno sur un substrat plastique conducteur
US14/041,163 US20140060644A1 (en) 2011-04-19 2013-09-30 2d crystalline film based on zno integration of onto a conductive plastic substrate

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR1153398A FR2974450B1 (fr) 2011-04-19 2011-04-19 Intégration d'une couche 2d d'oxyde métallique sur un substrat plastique conducteur

Publications (2)

Publication Number Publication Date
FR2974450A1 true FR2974450A1 (fr) 2012-10-26
FR2974450B1 FR2974450B1 (fr) 2013-12-20

Family

ID=46017923

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FR1153398A Active FR2974450B1 (fr) 2011-04-19 2011-04-19 Intégration d'une couche 2d d'oxyde métallique sur un substrat plastique conducteur

Country Status (6)

Country Link
US (1) US20140060644A1 (fr)
JP (1) JP2014512684A (fr)
KR (1) KR20140033353A (fr)
DE (1) DE212012000087U1 (fr)
FR (1) FR2974450B1 (fr)
WO (1) WO2012143632A1 (fr)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9648738B2 (en) 2015-09-02 2017-05-09 Samsung Electronics Co., Ltd. Electrical conductors, production methods thereof, and electronic devices including the same

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103147130B (zh) * 2013-01-27 2016-05-11 浙江大学 过渡金属元素掺杂的ZnO纳米阵列的制备方法及包括该纳米阵列的半导体器件
KR101812698B1 (ko) * 2015-08-28 2018-01-30 전북대학교산학협력단 금속 산화물이 성장된 탄소섬유 제조 방법

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20080236658A1 (en) * 2007-03-29 2008-10-02 Tdk Corporation Electrode, manufacturing method of the same, and dye-sensitized solar cell
US20100200408A1 (en) * 2009-02-11 2010-08-12 United Solar Ovonic Llc Method and apparatus for the solution deposition of high quality oxide material
US20110030789A1 (en) * 2008-02-18 2011-02-10 The Technical University Of Denmark Air stable photovoltaic device

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2578556B1 (fr) * 1985-03-05 1989-12-22 Popescu Francine Bain galvanique pour l'electrodeposition d'alliage zinc-cobalt brillant
US6106689A (en) * 1997-01-20 2000-08-22 Canon Kabushiki Kaisha Process for forming zinc oxide film and processes for producing semiconductor device substrate and photo-electricity generating device using the film
US6576112B2 (en) * 2000-09-19 2003-06-10 Canon Kabushiki Kaisha Method of forming zinc oxide film and process for producing photovoltaic device using it
JP4622075B2 (ja) * 2000-10-03 2011-02-02 凸版印刷株式会社 透明導電性材料およびその製造方法
JP4222466B2 (ja) * 2001-06-14 2009-02-12 富士フイルム株式会社 電荷輸送材料、それを用いた光電変換素子及び光電池、並びにピリジン化合物
JP3883120B2 (ja) * 2002-03-29 2007-02-21 財団法人名古屋産業科学研究所 色素増感太陽電池基体用の多孔質酸化亜鉛薄膜及び色素増感太陽電池の光電極材料用の酸化亜鉛/色素複合薄膜並びにこれらの製造方法、酸化亜鉛/色素複合薄膜を光電極材料に用いる色素増感太陽電池
EP1548157A1 (fr) * 2003-12-22 2005-06-29 Henkel KGaA Protection contre la corrosion par des couches d'oxide de métal électrochimiquement déposées sur des substrats métalliques
JP2009016179A (ja) * 2007-07-04 2009-01-22 Kaneka Corp 透明導電膜とその製造方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20080236658A1 (en) * 2007-03-29 2008-10-02 Tdk Corporation Electrode, manufacturing method of the same, and dye-sensitized solar cell
US20110030789A1 (en) * 2008-02-18 2011-02-10 The Technical University Of Denmark Air stable photovoltaic device
US20100200408A1 (en) * 2009-02-11 2010-08-12 United Solar Ovonic Llc Method and apparatus for the solution deposition of high quality oxide material

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
GAO Y F ET AL: "Electrochemical deposition of ZnO film and its photoluminescence properties", JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH, ELSEVIER, AMSTERDAM, NL, vol. 286, no. 2, 15 January 2006 (2006-01-15), pages 445 - 450, XP025156644, ISSN: 0022-0248, [retrieved on 20060115], DOI: 10.1016/J.JCRYSGRO.2005.10.072 *
HAMES Y ET AL: "Electrochemically grown ZnO nanorods for hybrid solar cell applications", SOLAR ENERGY, PERGAMON PRESS. OXFORD, GB, vol. 84, no. 3, 1 March 2010 (2010-03-01), pages 426 - 431, XP026921555, ISSN: 0038-092X, [retrieved on 20100210], DOI: 10.1016/J.SOLENER.2009.12.013 *
YANFENG GAO ET AL: "Morphology Evolution of ZnO Thin Films from Aqueous Solutions and Their Application to Solar Cells", LANGMUIR, vol. 22, no. 8, 1 April 2006 (2006-04-01), pages 3936 - 3940, XP055011456, ISSN: 0743-7463, DOI: 10.1021/la053042f *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9648738B2 (en) 2015-09-02 2017-05-09 Samsung Electronics Co., Ltd. Electrical conductors, production methods thereof, and electronic devices including the same

Also Published As

Publication number Publication date
DE212012000087U1 (de) 2013-11-26
KR20140033353A (ko) 2014-03-18
WO2012143632A1 (fr) 2012-10-26
US20140060644A1 (en) 2014-03-06
FR2974450B1 (fr) 2013-12-20
JP2014512684A (ja) 2014-05-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
McGott et al. 3D/2D passivation as a secret to success for polycrystalline thin-film solar cells
Liu et al. Transparent conducting oxides for electrode applications in light emitting and absorbing devices
FR2991999A1 (fr) Methode de fabrication de nanofils de cuscn par voie electrochimique
US10043922B2 (en) Back contact layer for photovoltaic cells
WO2018057419A1 (fr) Cellule solaire comprenant une couche tampon à oxyde métallique et procédé de fabrication
KR101219948B1 (ko) 태양광 발전장치 및 제조방법
KR101154786B1 (ko) 태양전지 및 이의 제조방법
CN1214469C (zh) 制造光伏箔的方法
EP2318572B1 (fr) Elaboration de couche d'oxyde transparente et conductrice pour utilisation dans une structure photovoltaïque
US20150357502A1 (en) Group iib-via compound solar cells with minimum lattice mismatch and reduced tellurium content
FR2974450A1 (fr) Intégration d'une couche 2d d'oxyde métallique sur un substrat plastique conducteur
KR101219835B1 (ko) 태양전지 및 이의 제조방법
US20130146133A1 (en) Thin film photovoltaic solar cell device
US9640685B2 (en) Solar cell and method of fabricating the same
US9935229B2 (en) Solar cell and method of fabricating the same
KR20130030122A (ko) 태양전지 및 이의 제조방법
KR101091361B1 (ko) 태양광 발전장치 및 이의 제조방법
KR101180998B1 (ko) 태양전지 및 이의 제조방법
RU2501121C2 (ru) Фотоэлектрический элемент и способ изготовления фотоэлектрического элемента
Ourahmoun et al. Dependence of the characteristics of organic solar cells on cathode polymer interface
Madani Investigation of charge transport metal oxides for efficient and stable perovskite solar cells
KR101814814B1 (ko) 태양전지 및 이의 제조방법
KR101814813B1 (ko) 태양전지 및 이의 제조방법
KR20110050008A (ko) 태양전지 및 이의 제조방법
WO2014028526A2 (fr) Couche de contact arrière pour cellules photovoltaïques

Legal Events

Date Code Title Description
PLFP Fee payment

Year of fee payment: 6

PLFP Fee payment

Year of fee payment: 7

PLFP Fee payment

Year of fee payment: 8

PLFP Fee payment

Year of fee payment: 9

PLFP Fee payment

Year of fee payment: 10

PLFP Fee payment

Year of fee payment: 11

PLFP Fee payment

Year of fee payment: 12

PLFP Fee payment

Year of fee payment: 13

PLFP Fee payment

Year of fee payment: 14