FR2544746A1 - Procede de placage ionique pur utilisant des champs magnetiques - Google Patents

Procede de placage ionique pur utilisant des champs magnetiques Download PDF

Info

Publication number
FR2544746A1
FR2544746A1 FR8318945A FR8318945A FR2544746A1 FR 2544746 A1 FR2544746 A1 FR 2544746A1 FR 8318945 A FR8318945 A FR 8318945A FR 8318945 A FR8318945 A FR 8318945A FR 2544746 A1 FR2544746 A1 FR 2544746A1
Authority
FR
France
Prior art keywords
substrate
plating
chamber
source
printed circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
FR8318945A
Other languages
English (en)
Other versions
FR2544746B1 (fr
Inventor
Gerald Wayne White
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
White Engineering Corp
Original Assignee
White Engineering Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by White Engineering Corp filed Critical White Engineering Corp
Publication of FR2544746A1 publication Critical patent/FR2544746A1/fr
Application granted granted Critical
Publication of FR2544746B1 publication Critical patent/FR2544746B1/fr
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32431Constructional details of the reactor
    • H01J37/32623Mechanical discharge control means
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/24Vacuum evaporation
    • C23C14/32Vacuum evaporation by explosion; by evaporation and subsequent ionisation of the vapours, e.g. ion-plating
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32431Constructional details of the reactor
    • H01J37/3266Magnetic control means
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/10Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
    • H05K3/14Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using spraying techniques to apply the conductive material, e.g. vapour evaporation

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
  • Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)

Abstract

L'INVENTION CONCERNE LES TECHNIQUES DE DEPOT DE MATIERE. UN PROCEDE DE PLACAGE IONIQUE D'UN SUBSTRAT 40 AVEC UNE MATIERE DE PLACAGE 20 CONSISTE A EVAPORER LA MATIERE DE PLACAGE DANS UNE CHAMBRE A VIDE 52. UN CHAMP MAGNETIQUE 30 SATURE D'ELECTRONS EST PLACE A PROXIMITE DU SUBSTRAT POUR IONISER POSITIVEMENT LES ATOMES DE LA MATIERE DE PLACAGE QUI EST EVAPOREE. UNE POLARISATION NEGATIVE 61, 62 EST APPLIQUEE AU SUBSTRAT POUR ATTIRER LES IONS POSITIFS DE LA MATIERE DE PLACAGE. APPLICATION A LA FABRICATION DE CIRCUITS IMPRIMES.

Description

a 54 h 74 e
La présente invention concerne le dépôt de matiè-
re de placage par placage ionique à haut niveau d'énergie,
et elle porte plus particulièrement sur un procédé de pla-
cage ionique utilisant des champs magnétiques.
La technologie du vide a été utilisée dans diver- ses applications pour procurer un procédé efficace et de haute qualité pour le dépôt de matières de revêtement sur
divers substrats.
Dans l'application de revêtements sur des subs-
trats, on a utilisé dans le passé, avec des degrés de suc cès variables, des dispositifs d'évaporation sous vide, la pulvérisation cathodique et le placage ionique A l'ôrigine,
on utilisait des dispositifs à vide pour le dépôt de matiè-
res en évaporant simplement la matière et en la laissant se condenser sur la surface du substrat L'évaporation sous vide procure des vitesses de dépôt élevées, mais elle a l'inconvénient d'être un processus "en vision directe" En
outre, du fait qu'aucune accélération des particules n'in-
tervient dans le dép 8 t en phase vapeur, l'adhérence peut
fréquemment être un problème L'utilisation d'un bombarde-
ment cathodique dans les techniques de pulvérisation catho-
dique résout dans une certaine mesure le problème de la "vision directe", et offre une grande variété de matières et généralement une meilleure adhérence que le dépôt en
phase vapeur.
Le brevet US 3 329 601 décrit une technique de placage supplémentaire dans laquelle des ions d'une matière de placage sont formés dans un plasma de gaz inerte et sont extraits de manière électrostatique pour arriver sur le
substrat avec un niveau d'énergie potentielle très élevé.
l'utilisation du procédé du brevet précité conduit à une
bonne adhérence de la matière déposée; cependant, ce pro-
cédé ne fonctionne pas bien pour le placage d'isolants et
conduit à des couches contaminées par l'argon.
Le brevet US Re 30 401 décrit encore un autre pro-
cédé de placage ionique, dans lequel le substrat est polari-
sé simultanément avec des signaux continu et radiofréquence.
Le urocédé de ce brevet produit une ionisation et une attrac-
tion statique de la matière évaporée, ce qui conduit à un dispositif permettant deplaquerà la fois des conducteurs et
des isolants avec des couches pures, exemptes de gaz.
Il existe toujours un besoin portant sur un proces-
sus de placage ionique capable de revêtir une grande variété
d'articles ayant ime forme irrégulière, avec des creux irré-
guliers, et qui produise une surface de revêtement lisse sur de telles irrégularités Il existe en outre un besoin portant sur un procédé de placage ionique par lequel des matières conductrices, comme par exemple l'or, l'argent ou le cuivre, puissent être déposées sur des substrats, comme par exemple des substrats en céramique, avec un niveau d'énergie tel
qu'on obtienne un niveau d'adhérence rendant inutile l'uti-
lisation d'une couche d'adhérence en une matière étrangère
telle que le nickel ou le chrome.
L'invention procure un procédé pour le placage ionique d'un substrat qui élimine pratiquement les problèmes
associés jusqu'à présent aux procédés de placage ionique.
L'invention procure un procédé pour le placage io-
nique d'un substlat à l'intérieur d'une chambre, avec une
matière de placage Le procédé comprend les opérations con-
sistant à faire le vide dans la chambre et à évaporer la ma-
tière de placage dans la chambre dans laquelle on a fait le
vide On place un champ magnétiaue saturé d'électrons en po-
sition adjacente au substrat, poufr ioniser de façon positive
les atomes évaporés de la matière de placage soumise à l'éva-
porationo On applique une polarisation négative continue à des substrats conducteurs pour attirer les ions positifs de
la rmatière de placage évaporée et/ou on applique une polari-
sation radiofréquence à des substrats en matiè es isolantes, tour uroduire ainsi une auto-oolarisation négative sur la surface du substrat, afin d'attirer les ions positifs de la
matière de placage.
L'invention sera mieux comprise à la lecture de
la description qui va suivre de modes de réalisation et en
se référant aux dessins annexés sur lesquels: la figure, est un schéma montrant une structure destinée à la mise en oeuvre du procédé de l'invention; la figure 2 est un schéma agrandi montrant un substrat à plaquer par le procédé de l'invention;
La figure 3 est une vue agrandie d'un substrat re-
présentant une carte de circuit imprimé qui illustre le pro-
cédé de l'invention; et la figure 4 est un schéma montrant une structure destinée à la mise en oeuvre du procédé de l'inventions
Un dispositif destiné à la mise en oeuvre du pro-
cédé de placage ionique de l'invention est représenté sur la figure 1 qui montre un dispositif de placage sous vides désigné de façon générale par la référence 10 Le dispositif comprend une source de matière d'évaporation, désignée de façon générale par la référence 20 les atomes de matière
d'évaporation sont ionisés par des collisions avec des élec-
trons lorsqu'ils traversent un champ magnétique, désigné de
façon générale par la référence 50, en direction d'un subs-
trat, désigné de façon générale par la référence 40, dans le but de faire passer à l'état de plasma, dans la zone du
substrat 40, la matière à plaquer sur le substrat 40.
Le dispositif 10 comprend une enceinte de chambre 52 dans laquelle on peut établir le vide L'enceinte de chambre 52 peut être verticale ou horizontale et elle peut être constituée par n'importe quelle matière appropriée pour maintenir une pression correspondant à un certain niveau de vide L'enceinte de chambre 52 comprend un orifice de sortie
54 commandé par une valve 56 qui mène à une pompe (non re-
présentée) destinée à faire le vide dans l'enceinte de cham-
bre 520 On peut ramener le dispositif 10 à la pression at-
mosphérique en utilisant une valve 57.
Une structure de montage 58 est placée dans l'en-
ceinte de chambre 52 pour maintefnir un ou plusieurs articles ou substrats 40 à revêtiro Le substrat 40 peu consister par exemple en un substrat prévu pour l'utilisation en tant que composant de circuit électrique, qui peut être par exemple
en matière plastique, en céramique, en métal revêtu de céra-
mique ou en silicium Sur la représentation de la figure 1, le substrat 40 consiste en cartes de circuit imprimé 60 On notera que le procédé de l'invention peut 4 tre utilisé pour
revêtir n'importe quel type d'article, et les cartes de cir-
cuit imprimé 60 ne sont utilisées ici qu'à titre d'exemple.
Il existe une source d'alimentation continue 61
et une source d'alimentation radiofréquence 62, et celles-
ci sont connectées à la structure de montage 58 pour attirer vers les cartes de circuit imprimé 60 les ions positifs qui proviennent d'mune source d'évaporation de matière 20 La source d'évaporation 20 peut être constituée par n'importe quelle source appropriée capable d'évaporer une matière de placage, comme par exemple un creuset réfractaire, un canon à faisceau d'électrons, un creuset chauffé par induction, un arc électrique ou, comme le montre la figure 1, un ou plusieurs filaments électriques 64 et 66 qui sont à leur tour connectés à des sources d'alimentation respectives 68 et 70 La matière de placage qui est évaporée par la source 20, peut être par exemple l'une des matières suivantes: l'or, le cuivre, l'argent ou l'aluminium On peut utiliser
deux filaments 64 et 66 pour le dépôt de matières différen-
tes et pour le dépôt pendant des durées différentes.
Un conduit d'alimentation en gaz 72, commandé par une valve de régulation de débit 74,est branché à l'enceinte de chambre 52, ce qui permet d'injecter un gaz d'entrée dans l'enceinte de chambre 52 Le gaz d'entrée peut être un gaz inerte ou d'autres gaz se prêtant à l'accomplissement de fonctions spécifiques, comme par exemple le nettoyage par
bombardement ionique avec un gaz inerte des cartes de cir-
cuit imprimé 60, avant le processus de placage, ou la diffu-
sion par collision des atomes de matière d'évaporation, pour
améliorer l'uniformité du revêtement d'objets tridimension-
nels, La source radiofréquence 62 est prévue dans ce dernier but, du fait que la pulvérisation cathodique radiofréquence a généralement une action de nettoyage meilleure que celle
d'une source continue.
De plus, le gaz d'entrée peut 4 tre un plasma con-
tenant un métal, pour produire une grande pénétration de mé-
tal Si on désire chauffer le substrat, un gaz d'entrée ri-
che en hydrogène, comme l'ammoniac, fera circuler un courant
élevé, du fait du potentiel d'ionisation élevé de l'hydro-
gène. La structure de montage 58 comprend des aimants 76
et 78 qui peuvent consister par exemple en aimants perma-
nents ou en électro-aimants, destinés à établir le champ ma-
gnétique 30 en position adjacente aux cartes de circuit im-
primé 60 Des atomes de matière d'évaporation qui passent à travers les électrons décrivant des trajectoires en spirale dans le champ magnétique 30 sont ionisés par collision avec
les électrons et sont immédiatement attirés vers le poten-
tiel négatif élevé que produit la charge négative de la source d'alimentation continue 60 Toutes les connexions
établies avec l'intérieur de l'enceinte de chambre 52 tra-
versent des isolateurs 82.
Dans la mise en oeuvre du procédé de l'invention, on fait le vide, par la sortie 54, dans le dispositif de
placage ionique à haut niveau d'énergie 10 qui est représen-
té sur la figure 1, jusqu'à l'obtention d'un vide approprié, comme par exemple environ 0,013 Pa Si on désire disposer
d'une procédure de nettoyage pour des cartes de circuit im-
primé 60, pour des raisons chimiques ou physiques, on peut introduire un gaz dans l'enceinte de chambre 52, par le conduit 72, par exemple, à une pression de 1,3 à 2,6 Pa,
et un plasma radiofréquence formé par le gaz peut avantageu-
sement bombarder la surface des cartes de circuit z:srimé pour effectuer le nettoyage Après le nettoyage, le gaz est extrait de l'enceinte de chambre à vide 52 avant de
ccmmencer le processus de placage.
Une polarisation négative continue, par exemple 3 à 5 k V, provenant de la scumrce d'alimentation continue 60, peut être appliquée à la strucue de montage 58 qui fait fonction de cathode, pour attirer les ions positifs vers les cartes de circuit imprimé 60, par attraction sous l'effet d'une chute de tension élevée, dans le cas o les cartes de circuit imprimé 60 sont conductrices Lorsque les cartes de circuit imprimé sont isolantes, la source radiofréquence 62
constitue la source de polarisation pour le procédé de l'in-
vention Le placage commence lorsque l'un des filaments électriques de matière à évaporer, 64 ou 66, ou les deux, sont chauffés à une température suffisamment élevée pour évaporer la matière de placage Lorsque les filaments 64 et 66 sont des sources chauffées par résistance, on utilise des sources d'alimentation alternatives à faible tension et
2 Q à courant élevé, 68 et 70.
Les aimants 76 et 78 appliquent un champ magnéti-
que 30 aux électrons émis par effet thermoélectronique par
la source d'évaporation 20, ce qui communique à ces élec-
trons des trajectoires en spirale, et offre ainsi une sec-
tion efficace d'ionisation élevée aux atomes de matière d'évaporation qui traversent le nuage électronique sur leur chemin vers les cartes de circuit izp-rimé 60 L'ionisation
est ainsi maximale dans la région des cartes de circuit im-
primé 60, o on en a le plus besoin On peut utiliser l'um ou l'autre des filaments électriques à résistance 64 ou 66, ou les deux, en faisant varier la puissance que les sources
d'alimentation 68 et 70 appliquent respectivement aux fila-
ments 64 et 66, pour plaquer une ou plusieurs pellicules ou
couches de matière sua les cartes de circuit imprimé C 60.
la "capacité de projection"l, ou capacité de reve-
tement tridimensionnel de processus de placage à faible pression résulte du fait que des ions de matière de placage sont extraits uniformément d'un plasma, accélérés sur une distance relativement courte dans l'espace sombre de Crookes, c'est-à-dire une région qui entoure immédiatement et unifor-
mément le substrat chargé négativement, et ils arrivent en-
suite sur le substrat en provenant d'une source diffuse au lieu d'une source ponctuelle Des procédés antérieurs ont
utilisé une chambre emplie de plasma On peut voir que l'ob-
tention de bons résultats nécessite seulement la présence du plasma dans la région qui entoure immédiatement le substrat,
de façon que le plasma puisse émettre des ions dans "l'espa-
ce sombre", pour revêtir ultérieurement le substrat.
On va maintenant considérer la figure 2 qui mon-
tre une représentation plus détaillée du procédé de placage de l'invention, dans lequel la structure de montage 58 est
polarisée électriquement par des sources 61 ou 62 (figure 1).
La structure de montage 58 supporte une carte de circuit im-
primé 60, en présence du champ magnétique 30 produit par
l'aimant 76 Les atomes 90 de la matière d'évaporation tra-
versent le champ magnétique 30 sur leur chemin vers la carte de circuit imprimé 60, et ces atomes sont produits par la
source de matière d'évaporation, comme par exemple le fila-
ment électrique 64, qui peut également comprendre un émet-
teur d'électrons par effet thermoélectronique Les électrons émis sont capturés et dirigés de force sur des trajectoires en spirale dans le champ magnétique 30, dans lequel les électrons offrent une section efficace d'ionisation élevée aux atomes de matière d'évaporation et convertissent ainsi
ces atomes en ions positifs Les ions positifs sont immédia-
tement accélérés vers la cathode chargée négativement, c'est-
à-dire la structure de support 58, et ils arrivent sur cette dernière avec une énergie de particules élevée O Si les cartes de circuit imprimé 60 sont également des isolants, la source de polarisation constituée par la source radiofréquence 62
doit être utilisée de façon qu'une auto-polarisation négati-
ve apparaisse sur la surface de la carte de circuit imprimé L'autopolarisation négative se produit du fait que des électrons sont emprisonnés dans le demi-cycle négatif du cycle radiofréquence et ne peuvent pas s'échapper pendant
le demi-cycle positif.
Bien que la figure 2 montre une carte de circuit imprimé 60 qui est séparée de l'aimant 76 par la structure
de montage 58, il faut noter que les cartes de circuit im-
primé 60 peuvent également se trouver en position immédia-
tement adjacente à l'aimant 76, de façon que la structure
de montage 58 supporte à la fois les cartes de circuit im-
primé 60 et l'aimant 76 du même coté.
On vra maintenant considérer la figure 3, sur la-
quelle on utilise des références semblables pour les élé-
ments semblables et correspondants identifiés précédemment en relation avec les figures 1 et 2, et sur laquelle le processus de l'invention est représenté pour l'utilisation dans le dépôt d'un motif 92 pour fabriquer une carte de circuit imprimé 60 Sur la figure 3, l'aimant 76 remplit également la fonction de la structure de montage polarisée
électriquement (structure de montage 58 des figures 1 et 2).
La carte de circuit imprimé 60 est fixée en contact serré par un masque à trous 94 en KOVAR, en acier ou en une autre matière donnant lieu à une attraction magnétique, pour faire apparaître le motif 92 qui doit être plaqué sur la carte de circuit imprimé 60 la partie restante 96 de la carte de circuit imprimé 60 demeurera non plaquée à la fin
du processus de dépôt.
Le processus de dépôt dépose ainsi un motif qui était produit jusqu'à présent par l'utilisation de produits chimiques d'attaque Si la carte de circuit imprimé 60 n'est pas conductrice, la polarisation électrique appliquée à l'aimant 76 est appliquée par la source radiofréquence 62
(figure 1) On peut également utiliser le procédé de l'in-
vention pour le placage de trous métallisés 98 qui traver-
sent la carte de circuit imprimé 60 L'adhérence et la qua-
lité électrique de ces couches déposées permet d'effectuer
un placage ultérieur par des techniques de placage ordinai-
res par voie humide jusqu'à des épaisseurs de plusieurs dizaines de microns.
On va maintenant considérer la figure -4 qui mon-
tre une structure supplémentaire pour la mise en oeuvre du procédé de l'invention Dans certaines applications, il peut ne pas être pratique de monter directement l'aimant 76 sur un substrat 40, comme le montrent les figures 1 et 2 La
figure 4 représente le dispositif de la figure 1, en utili-
sant des références semblables pour des composants sembla-
bles et correspondant à ceux identifiés sur la figure 1, pour le placage d'un substrat dans lequel l'aimant ne peut pas être monté directement sur ce substrat La figure 4 montre l'utilisation du procédé de l'invention pour plaquer l'intérieur d'un raccord de tuyaux 100 le raccord de tuyaux 100 est polarisé négativement par la source continue 61 La source de matière d'évaporation 20 dirige des atomes de matière d'évaporation 102 dans un champ magnétique 104 que produit un aimant 106 Pour contribuer à l'accélération des ions dans le but d'obtenir un placage adhérent, on peut
utiliser une alimentation 108 pour maintenir une polarisa-
tion positive sur l'aimant 106 L'utilisation de la polari-
sation positive sur l'aimant 106 établit un gradient de champ qui dirige les ions positifs 102 vers le raccord de
tuyaux 100.
On notera que dans la description précédente du
processus, il n'est pas nécessaire qu'un gaz soit présent pour l'ionisation Il y a cependant des cas dans lesquels la nécessité de l'uniformité de la couche sur des surfaces très irrégulières rend souhaitable l'addition d'une faible
quantité de gaz inerte, dans le but d'effectuer une diffu-
sion de la matière pour améliorer l'uniformité de la couche.
Il faut noter que cette utilisation d'un gaz inerte, comme
par exemple de l'argon à une pression inférieure a 2 pres-
sion caractéristiqaue de 1,3 à 2,6 Pa qui est nécessaire
pour l'ionisation, est sufiisarnent faible pour ne pas af-
fecter défavorablement les propriétés de la couche, par l'inclusion du gaz dans la couche déposée.
On eet donc voir oue l'ivention procure un pro-
cessus de placage ionîique permettant de revêtir mune grande variété d'articles qui ont des formes irrégulières, avec des creux irrlguliers, fe façon a -roduire une surface de revêtement lisse sur de telles irrégularités Le procédé de
l'invention peut en outre être utilisé pour déposer une ma-
tire 'de placage de fa on à produire une carte de circuit imprimé qui était produite précédermment par des procédures
d'attaque chimique.
Il va de soi que de nombreuses modifications peuvent être apportées au procédé décrit et représenté,
sans sortir du cadre de l'invention.
RENDICATIONS
1 Procédé pour le placage ionique duil substrat ( 40) à l'intérieur d'une chambre ( 52) avec une matière de placage ( 20), caractérisé en ce que: on fait le vide dans la chambre ( 52); on évapore la matière de placage ( 20) dans la chambre dans laquelle on a fait le vide; on place un champ magnétique ( 30) saturé d'électrons en position
adjacente au substrat ( 40) pour ioniser les atomes de la ma-
tière de placage ( 20) évaporée; et on applique une polari-
sation négative au substrat ( 40) pour attirer les ions posi-
tifs de la matière de placage ( 20) évaporée.
2 Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce que le champ magnétique ( 30) est produit par un aimant
permanent ( 76, 78).
3 Procédé selon la revendication 1, caractérisé
en ce que le champ magnétique est produit par -un électro-
aimant ( 76, 78).
4 Procédé selon la revendication 1, caractérisé
en ce que l'opération d'application d'une polarisation né-
gative au substrat ( 40) comprend l'application d'une polari-
sation continue négative au substrat ( 40) lorsque ce subs-
trat est en une matière conductrice.
Procédé selon la revendication 1, dans lequel le substrat est maintenu par une structure de montage ( 58)
à l'intérieur de la chambre, caractérisé en ce qu'il com-
prend en outre l'opération consistant à appliquer un signal radiofréquence à la structure de montage ( 58) du substrat, pour produire une auto-polarisation négative de la surface du substrat ( 40), afin d'attirer les ions positifs de la
matière de placage évaporée, lorsque le substrat est en ma-
tières non conductrices.
6 Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce que le champ magnétique attire un masque de dépôt ( 94) destiné à fixer le substrat ( 40) pendant le processus de
placage, ainsi qu'à produire un motif ( 92) sur le substrat.
7 Procédé selon la revendication 5, caractérisé
en ce que le substrat consiste en une carte de circuit im-
primé ( 60).
8 Procédé selon la revendication 6, caractérisé en ce qu'il comprend en outre l'opération consistant à pla-
quer des trous ( 98) contenus dans la carte de circuit impri-
mé ( 60).
9 Procédé selon la revendication 1 caractérisé
en ce qu'il comprend en outre l'opération consistant à ap-
pliquer une charge positive dans la zone du champ magnéti-
que saturé ( 30), dans le but de diriger le flux d'ions po-
sitifs. Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce que le substrat ( 40) est une matière céramique et la
matière de placage ( 20) est du cuivre.
11 Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce que le substrat ( 40) est une matière céramique et la
matière de placage ( 20) est de l'or.
12 Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce que le substrat ( 40) est une matière céramique et la
matière de placage ( 20) est de l'argent.
13 Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce que le substrat ( 40) est en silicium et la matière de
placage ( 20) est de l'aluminium.
14 o Procédé selon la revendication 1, caractérisé
en ce qu'il comprend en outre l'opération consistant à in-
jecter dans la chambre un gaz consistant en argon ayant
une pression partielle inférieure à environ 0,65 Pa.
FR8318945A 1983-04-22 1983-11-28 Procede de placage ionique pur utilisant des champs magnetiques Expired FR2544746B1 (fr)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US06/487,748 US4420386A (en) 1983-04-22 1983-04-22 Method for pure ion plating using magnetic fields

Publications (2)

Publication Number Publication Date
FR2544746A1 true FR2544746A1 (fr) 1984-10-26
FR2544746B1 FR2544746B1 (fr) 1988-12-16

Family

ID=23936963

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FR8318945A Expired FR2544746B1 (fr) 1983-04-22 1983-11-28 Procede de placage ionique pur utilisant des champs magnetiques

Country Status (9)

Country Link
US (1) US4420386A (fr)
JP (1) JPH0641628B2 (fr)
AU (1) AU552239B2 (fr)
DE (1) DE3340585A1 (fr)
FR (1) FR2544746B1 (fr)
GB (1) GB2138449B (fr)
HK (1) HK67587A (fr)
MY (1) MY104370A (fr)
SG (1) SG42287G (fr)

Families Citing this family (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0644543B2 (ja) * 1984-01-18 1994-06-08 株式会社日立製作所 磁性膜デバイスの製造方法
US4990233A (en) * 1985-06-14 1991-02-05 Permian Research Corporation Method for retarding mineral buildup in downhole pumps
GB2182350B (en) * 1985-07-01 1989-04-26 Atomic Energy Authority Uk Coating improvements
EP0207768A3 (fr) * 1985-07-01 1987-08-05 United Kingdom Atomic Energy Authority Revêtement
JPH0639684B2 (ja) * 1986-02-05 1994-05-25 忠信 大久保 金属表面加工方法
JPS62213195A (ja) * 1986-03-13 1987-09-19 横河電機株式会社 導体パタ−ン形成方法
US4885070A (en) * 1988-02-12 1989-12-05 Leybold Aktiengesellschaft Method and apparatus for the application of materials
US4826365A (en) * 1988-01-20 1989-05-02 White Engineering Corporation Material-working tools and method for lubricating
AU632269B2 (en) * 1988-01-28 1992-12-24 Australian Nuclear Science & Technology Organisation Plasma ion implantation
JP2604853B2 (ja) * 1989-05-25 1997-04-30 松下電工株式会社 回路板のスルーホール形成方法
JP2604855B2 (ja) * 1989-05-25 1997-04-30 松下電工株式会社 回路板のスルーホール形成方法
US5105879A (en) * 1991-03-20 1992-04-21 Baker Hughes Incorporated Method and apparatus for sealing at a sliding interface
US5482611A (en) * 1991-09-30 1996-01-09 Helmer; John C. Physical vapor deposition employing ion extraction from a plasma
US5252365A (en) * 1992-01-28 1993-10-12 White Engineering Corporation Method for stabilization and lubrication of elastomers
US5302266A (en) * 1992-03-20 1994-04-12 International Business Machines Corporation Method and apparatus for filing high aspect patterns with metal
US5670415A (en) * 1994-05-24 1997-09-23 Depositech, Inc. Method and apparatus for vacuum deposition of highly ionized media in an electromagnetic controlled environment
US5550398A (en) * 1994-10-31 1996-08-27 Texas Instruments Incorporated Hermetic packaging with optical
US6355571B1 (en) 1998-11-17 2002-03-12 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for reducing copper oxidation and contamination in a semiconductor device
US20010049181A1 (en) 1998-11-17 2001-12-06 Sudha Rathi Plasma treatment for cooper oxide reduction
US6821571B2 (en) 1999-06-18 2004-11-23 Applied Materials Inc. Plasma treatment to enhance adhesion and to minimize oxidation of carbon-containing layers
SE514666C2 (sv) * 1999-07-05 2001-04-02 Sandvik Ab Metod för fixering av skär vid PVD-beläggning
US7250196B1 (en) 1999-10-26 2007-07-31 Basic Resources, Inc. System and method for plasma plating
US6503379B1 (en) 2000-05-22 2003-01-07 Basic Research, Inc. Mobile plating system and method
US6521104B1 (en) * 2000-05-22 2003-02-18 Basic Resources, Inc. Configurable vacuum system and method
US6794311B2 (en) 2000-07-14 2004-09-21 Applied Materials Inc. Method and apparatus for treating low k dielectric layers to reduce diffusion
US6524431B1 (en) * 2000-11-10 2003-02-25 Helix Technology Inc. Apparatus for automatically cleaning mask
ITRM20010060A1 (it) * 2001-02-06 2001-05-07 Carlo Misiano Perfezionamento di un metodo e apparato per la deposizione di film sottili, soprattutto in condizioni reattive.
US20030180450A1 (en) * 2002-03-22 2003-09-25 Kidd Jerry D. System and method for preventing breaker failure
US20040018715A1 (en) * 2002-07-25 2004-01-29 Applied Materials, Inc. Method of cleaning a surface of a material layer
US20050126497A1 (en) * 2003-09-30 2005-06-16 Kidd Jerry D. Platform assembly and method
US20050181177A1 (en) * 2004-02-18 2005-08-18 Jamie Knapp Isotropic glass-like conformal coatings and methods for applying same to non-planar substrate surfaces at microscopic levels
US7229911B2 (en) 2004-04-19 2007-06-12 Applied Materials, Inc. Adhesion improvement for low k dielectrics to conductive materials
US7883632B2 (en) * 2006-03-22 2011-02-08 Tokyo Electron Limited Plasma processing method
JP5787917B2 (ja) * 2013-02-21 2015-09-30 中外炉工業株式会社 成膜方法及び成膜装置

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3371649A (en) * 1960-09-23 1968-03-05 Technical Ind Inc Means for controlled deposition and growth of polycrystalline films in a vacuum
FR2036831A1 (en) * 1969-04-03 1970-12-31 Isofilm International Reconstituting matter from ionised vapour - state
FR2066947A1 (fr) * 1969-11-03 1971-08-13 Rca Corp
GB1474358A (en) * 1974-12-03 1977-05-25 Seiko Instr & Electronics Method of plating a substrate with a precious metal
DE2612098A1 (de) * 1976-03-22 1977-09-29 Siemens Ag Verfahren zum gleichmaessigen metallisieren eines substrats
JPS5594472A (en) * 1979-01-09 1980-07-17 Citizen Watch Co Ltd Forming method for coating
USRE30401E (en) * 1978-07-07 1980-09-09 Illinois Tool Works Inc. Gasless ion plating
JPS5677379A (en) * 1979-11-28 1981-06-25 Fujitsu Ltd Metal film depositing apparatus
JPS56116871A (en) * 1980-02-15 1981-09-12 Jeol Ltd High frequency ionization plating apparatus
EP0047456A1 (fr) * 1980-09-08 1982-03-17 Ayao Wada Le placage ionique sans l'introduction d'un gaz

Family Cites Families (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US30401A (en) * 1860-10-16 Improvement in evaporation of cane-juice
US3353895A (en) * 1962-04-16 1967-11-21 Polaroid Corp Light polarizer comprising filamentous particles on surface of transparent sheet and method of making same
US3329601A (en) * 1964-09-15 1967-07-04 Donald M Mattox Apparatus for coating a cathodically biased substrate from plasma of ionized coatingmaterial
GB1263279A (en) * 1968-05-02 1972-02-09 Ricoh Kk Improvements in and relating to photosensitive arrangements
GB1249452A (en) * 1970-01-07 1971-10-13 Inst Kib Akademii Nauk Uk Ssr Improvements in and relating to anisotropic films
GB1334051A (en) * 1970-03-12 1973-10-17 Electrical Research Ass Sputtering
US3711398A (en) * 1971-02-18 1973-01-16 P Clarke Sputtering apparatus
US3913520A (en) * 1972-08-14 1975-10-21 Precision Thin Film Corp High vacuum deposition apparatus
US4210701A (en) * 1972-08-14 1980-07-01 Precision Thin Film Corporation Method and apparatus for depositing film on a substrate, and products produced thereby
CA1000803A (en) * 1973-08-08 1976-11-30 Robert L. Shrader Vapor source heated by an electron beam
JPS5064182A (fr) * 1973-10-11 1975-05-31
US3974059A (en) * 1974-10-03 1976-08-10 Yoichi Murayama High vacuum ion plating device
DD115364A1 (fr) * 1975-02-17 1975-09-20
US4016389A (en) * 1975-02-21 1977-04-05 White Gerald W High rate ion plating source
JPS51103879A (ja) * 1975-03-12 1976-09-14 Hitachi Ltd Ionpureeteingusochi
US4039416A (en) * 1975-04-21 1977-08-02 White Gerald W Gasless ion plating
FR2324755A1 (fr) * 1975-09-19 1977-04-15 Anvar Dispositif de pulverisation cathodique de grande vitesse de depot
CH611938A5 (fr) * 1976-05-19 1979-06-29 Battelle Memorial Institute
CH631743A5 (de) * 1977-06-01 1982-08-31 Balzers Hochvakuum Verfahren zum aufdampfen von material in einer vakuumaufdampfanlage.
GB1544612A (en) * 1978-01-04 1979-04-25 Dmitriev J Apparatus for ion plasma coating of articles
JPS5591971A (en) * 1978-12-28 1980-07-11 Seiko Epson Corp Thin film forming method
CH624817B (de) * 1979-09-04 Balzers Hochvakuum Verfahren zur herstellung goldfarbener ueberzuege.
CH643421B (fr) * 1980-04-10 Asu Composants Sa Procede de depot d'un revetement dur d'un compose d'or, cible de depot pour un tel procede et piece de joaillerie comportant un tel revetement.
US4342631A (en) * 1980-06-16 1982-08-03 Illinois Tool Works Inc. Gasless ion plating process and apparatus

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3371649A (en) * 1960-09-23 1968-03-05 Technical Ind Inc Means for controlled deposition and growth of polycrystalline films in a vacuum
FR2036831A1 (en) * 1969-04-03 1970-12-31 Isofilm International Reconstituting matter from ionised vapour - state
FR2066947A1 (fr) * 1969-11-03 1971-08-13 Rca Corp
GB1474358A (en) * 1974-12-03 1977-05-25 Seiko Instr & Electronics Method of plating a substrate with a precious metal
DE2612098A1 (de) * 1976-03-22 1977-09-29 Siemens Ag Verfahren zum gleichmaessigen metallisieren eines substrats
USRE30401E (en) * 1978-07-07 1980-09-09 Illinois Tool Works Inc. Gasless ion plating
JPS5594472A (en) * 1979-01-09 1980-07-17 Citizen Watch Co Ltd Forming method for coating
JPS5677379A (en) * 1979-11-28 1981-06-25 Fujitsu Ltd Metal film depositing apparatus
JPS56116871A (en) * 1980-02-15 1981-09-12 Jeol Ltd High frequency ionization plating apparatus
EP0047456A1 (fr) * 1980-09-08 1982-03-17 Ayao Wada Le placage ionique sans l'introduction d'un gaz

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
PATENTS ABSTRACTS OF JAPAN, vol. 4, no. 144 (C-27)[626], 11 octobre 1980, page 137 C27; & JP-A-55 94 472 (CITIZEN TOKEI K.K.) 17-07-1980 *
PATENTS ABSTRACTS OF JAPAN, vol. 5, no. 144 (C-71)[818], 11 septembre 1981; & JP-A-56 77 379 (FUJITSU K.K.) 25-06-1981 *
PATENTS ABSTRACTS OF JAPAN, vol. 5, no. 195 (C-83)[867], 11 décembre 1981; & JP-A-56 116 871 (NIPPON DENSHI K.K.) 12-09-1981 *

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0641628B2 (ja) 1994-06-01
JPS59200755A (ja) 1984-11-14
SG42287G (en) 1987-07-17
AU552239B2 (en) 1986-05-22
GB8329742D0 (en) 1983-12-14
AU2688684A (en) 1984-10-25
FR2544746B1 (fr) 1988-12-16
GB2138449A (en) 1984-10-24
GB2138449B (en) 1986-11-26
HK67587A (en) 1987-09-25
DE3340585C2 (fr) 1992-11-05
DE3340585A1 (de) 1984-10-25
MY104370A (en) 1994-03-31
US4420386A (en) 1983-12-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FR2544746A1 (fr) Procede de placage ionique pur utilisant des champs magnetiques
Rossnagel et al. Metal ion deposition from ionized mangetron sputtering discharge
US7411352B2 (en) Dual plasma beam sources and method
US7405415B2 (en) Ion source with particular grid assembly
US7327089B2 (en) Beam plasma source
US5306407A (en) Method and apparatus for coating substrates
US6238537B1 (en) Ion assisted deposition source
FR2490399A1 (fr) Procede et appareil pour la pulverisation ou vaporisation utilisant une source d'ions amelioree
JPH0153350B2 (fr)
US20140117120A1 (en) Coating packaged showerhead performance enhancement for semiconductor apparatus
USH566H (en) Apparatus and process for deposition of hard carbon films
US4747922A (en) Confined ion beam sputtering device and method
EP0546006A1 (fr) Methode de plaquage ionique
US20080248215A1 (en) Device and a process for depositing a metal layer on a plastic substrate
GB2534021A (en) Metal coated fibre forming apparatus and method of forming a metal coated fibre
US3492215A (en) Sputtering of material simultaneously evaporated onto the target
Anders et al. A plasma lens for magnetron sputtering
FR2596775A1 (fr) Revetement dur multicouches elabore par depot ionique de nitrure de titane, carbonitrure de titane et i-carbone
JP2007297712A (ja) プラズマを利用して堆積された薄いシード層を介してのメタライゼーション
US20210134571A1 (en) Improvements in and relating to coating processes
JPS6350463A (ja) イオンプレ−テイング方法とその装置
Beilis et al. Evolution of a plasma plume from a shower anode in a vacuum arc with a black-body electrode configuration
Williams Gold ion plating: A recently developed coating process
RU2285742C2 (ru) Способ нанесения металлического покрытия на диэлектрическую подложку и устройство для его осуществления
US526147A (en) Art of plating one material with another

Legal Events

Date Code Title Description
ST Notification of lapse