FI98160C - Hiukkasten epäsymmetrian analysaattori - Google Patents
Hiukkasten epäsymmetrian analysaattori Download PDFInfo
- Publication number
- FI98160C FI98160C FI902327A FI902327A FI98160C FI 98160 C FI98160 C FI 98160C FI 902327 A FI902327 A FI 902327A FI 902327 A FI902327 A FI 902327A FI 98160 C FI98160 C FI 98160C
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- radiation
- particles
- collectors
- particle
- sample
- Prior art date
Links
- 239000002245 particle Substances 0.000 title claims abstract description 88
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 13
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 54
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 7
- 238000011387 Li's method Methods 0.000 claims 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 abstract description 5
- 238000002356 laser light scattering Methods 0.000 abstract 1
- 239000012798 spherical particle Substances 0.000 description 7
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 5
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 4
- 239000000443 aerosol Substances 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000005670 electromagnetic radiation Effects 0.000 description 3
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
- G01N15/1456—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry without spatial resolution of the texture or inner structure of the particle, e.g. processing of pulse signals
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
- G01N15/1434—Optical arrangements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/02—Investigating particle size or size distribution
- G01N15/0205—Investigating particle size or size distribution by optical means
- G01N2015/0238—Single particle scatter
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
- G01N15/1404—Handling flow, e.g. hydrodynamic focusing
- G01N2015/1413—Hydrodynamic focussing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
- G01N2015/1497—Particle shape
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Description
mum
Hiukkasten epäsymmetrian analysaattori
Keksintö liittyy menetelmiin juoksevan aineen sisältämien 5 hiukkasten analysoimiseksi ja erityisesti sellaisten hiukkasten epäsymmetrian havaitsemiseksi. Tutkittaessa esimerkiksi aerosoleja, aerosolien dispersioita ja ilman sisältämän hiukkasmaisen saasteen valvonnassa vaaditaan hiuk-kaskokojakautuman nopeata määrittämistä erityisesti hal-10 kaisija-alueella 1-10 mikrometriä, sekä erillisten hiukkasten geometrian ja symmetrian jonkinasteista tuntemista. Viimeksimainitun tiedon avulla voitaisiin esimerkiksi tunnistaa pallosymmetrisiä hiukkasia ja siten laskea/valvoa pieniä nestepisaroita ympäristössä, joka sisältää muita 15 kiinteitä, ei-pallomaisia hiukkasia. Esillä olevan selityksen yhteydessä termi hiukkanen on tarkoitettu kattamaan sekä kiinteät kappaleet että nestepisarat.
On toivottavaa, että sellaisilla menetelmillä voitaisiin 20 laskea näytteessä olevia yksilöllisiä hiukkasia nopeuksilla, jotka ovat tyypillisesti 20 000 hiukkasta sekunnissa, ja että voitaisiin erottaa näytteessä olevat pallomaiset ja ei-pallomaiset hiukkaset sekä laskea molemmat tyypit. Toisena tavoiteltavana ominaisuutena on halkaisijaltaan • 25 0,5-15 mikrometriä olevien pallomaisten hiukkasten luokit- teleminen eri kokoalueisiin sekä tässä yhteydessä hiukkas- *·· ten luokitteleminen "ei-pallomaisiksi", jolloin ne voidaan • · » : jättää huomiotta kokojakautumaa laskettaessa.
: 30 Useissa kaupallisisesti saatavissa mittalaitteissa tavan- • · · omaiset hiukkasten tarkastelumenetelmät käyttävät hiukkas-• < ten siroaman sähkömagneettisen säteilyn ilmaisua ja ana lyysia. Kaikissa sellaisissa mittalaitteissa käytetään mekaanista mekanismia ilmanäytteen pakottamiseksi "ilmaisu-35 tilavuuden" läpi, jossa mukana seuraavat hiukkaset valaistaan niihin kohdistetulla sähkömagneettisella säteilyllä. Hiukkasten siroama säteily vastaanotetaan yhdellä tai useammalla ilmaisimella, jotka muuttavat energian sähkö- 98165) 2 signaaleiksi, joista voidaan saada informaatiota sopivilla sähköpiireillä.
Eräs kaupallisesti saatavien mittalaitteiden ryhmä sallii 5 sironneen säteilyn keräämisen samanaikaisesti suuresta hiukkasmäärästä, ja siinä tätä tietoa käytetään hiukkas-massan keskiarvon määrittämiseksi kaasun tai ilman tila-vuusyksikköä kohti. Nämä mittalaitteet eivät pysty tutkimaan yksilöllisiä hiukkasia, ja sen vuoksi ne eivät voi 10 tuottaa tarkkoja hiukkasten lukumääriä tai hiukkasten morfologiaan liittyvää tarkkaa tietoa.
Toisessa mittalaitteiden ryhmässä käytetään kaasujen lami-naarivirtauksen ominaisuuksia rajoittamaan hiukkaset pie-15 nempään ilmaisutilavuuteen ja sitten niillä, kohdistamalla sähkömagneettinen säteily jollakin tavalla, pystytään tutkimaan yksilöllisiä hiukkasia, ja tuottamaan hiukkasten lukumäärä ja mahdollisesti likimääräinen kokojakautuma.
20 Tekniikan tason mittalaitteet tuottavat siten, määrätyssä määrin, tietoa hiukkasten koosta ja lukumäärästä. Mitään mittalaitetta ei kuitenkaan ole saatavilla, joka pystyisi tuottamaan tietoa juoksevassa aineessa olevien erillisten hiukkasten epäsymmetriasta.
25
Julkaisussa GB-2 041 516 keräimet ovat prismojen tai Fres- ;·'* nel-linssien muodossa, jotka poikkeuttavat niiden pintojen • * *·' * eri kohtiin osuvat yhdensuuntaiset valonsäteet eri suun tiin, joissa säteet ilmaistaan ilmaisimilla, jotka on jär- « *,·.* 3 0 jestetty niiden ympärille. Kuhunkin detektoriin osuvan va- •I i ·,· ! lon määrä riippuu siitä, kuinka valo on sironnut hiukkas- ten vaikutuksesta ja kuinka linssit ovat jakaneet sitä.
* * • Tämän vuoksi tarvitaan hiukkasanalysaattoria, joka pystyy 35 analysoimaan juoksevassa aineessa olevia yksilöllisiä hiukkasia ja tuottamaan tietoa hiukkasten epäsymmetriasta, esimerkiksi määrittämällä yksilöllisille hiukkasille epä-symmetriakerroin.
9816® 3
Keksinnön erään näkökohdan mukaisesti aikaansaadaan hiuk-kasanalysaattori käytettäväksi hiukkasten symmetria-asteen määrittämiseen, jossa on: välineet ilmassa olevien hiuk-kasaineiden näytteen tuottamiseksi laminaarivirtauksena; 5 välineet näytteen valaisemiseksi lasersäteellä; välineet yksittäisistä hiukkasista sironneen säteilyn suuntaamiseksi vähintään kolmeen ennalta määrättyyn taaksepäin olevaan suuntaan ja yhteen ennalta määrättyyn eteenpäin olevaan suuntaan kohti vastaavia säteilykeräimiä; kuhunkin keräi-10 meen liittyvät välineet niiden keräämän säteilyn ilmaisemiseksi; välineet detektoreilta saadun tiedon johtamiseksi kuvaamaan hiukkasia; ja välineet tiedon vertaamiseksi tunnetun muotoisista hiukkasista olevaan tietoon yksilöllisen hiukkassymmetrian asteen määrittämiseksi. Tunnusomaista 15 on, että säteilykeräimien muotorakennetta voidaan haluttaessa muuttaa ennalta määrättyihin eri kulmiin sironneen säteilyn keräämisen mahdollistamiseksi.
Sironnut säteily heijastetaan koveralla heijastimella, 20 edullisesti ellipsoidipeilillä, joka suuntaa säteilyn kohti säteilyn kokoojia. Pienessä kulmassa sironnut säteily ilmaistaan toisessa kammiossa, johon on yhteys ellipsoidi-peilin aukosta, säteilyn kokoojilla, edullisesti valokui-: duilla, jotka on järjestetty samankeskeisesti siroamatto- 25 man säteen ympärille. Koottu säteily muunnetaan sitten sähkösignaaleiksi, käsitellään ja analysoidaan, ja vertaa-maila tunnettujen hiukkasmuotojen tietoon hiukkasille mää- t · .*··. ritetään epäsymmetriakerroin.
»M • · · • · · 30 Lisäksi voidaan epäsymmetriakertoimen lisäksi määrittää . myös hiukkasen koko. Suurelle hiukkasjoukolle voidaan mää- • · · rittää epäsymmetriakerroin, ja tämän toiminnan kumulatii- • · · *·* * visia tuloksia kytkettynä kyseiseen koko jakautumaan voi taisiin käyttää ympäristön hiukkasten topografisen "sor-35 menjäljen" kehittämiseksi, joka saattaisi olla arvokkaampi kuin pelkästään erillisten hiukkasten tiedot.
Pali omaisuutta etsittäessä voidaan pallomaisten hiukkasten luokituskriteeri määritellä yksinkertaisesti symmetrisenä 4 sirontana satunnais- tai kiertopolaroidun säteilyn kohdistuvan säteen akselin ympärille. Tämän johdosta sijoitetaan joukko säteilyn kokoojia säteissymmetrisesti koveran heijastimen heijastusakselin ympärille.
5
Epäsymmetria-astetta etsittäessä ei voida olettaa, että kokoojien järjestely olisi optimaalinen hiukkasten epäsymmetria-analyysia varten. Sirontakammion rakenteen tulee sallia erityisesti vaadittavien kokoojarakenteiden jousta-10 vuus sekä sijoitukset, joita haluttaessa voidaan muuttaa.
Tämän menetelmän etuna on, että valokuitu-kokoojaoptiikkaa käyttäen voidaan helposti simuloida vaikutusta, joka saadaan sijoittamalla lähes mikä tahansa määrä kokoojia mihin 15 tahansa kohtiin sirontapallon suurimmassa osassa, eli tehtävää, joka muutoin mekaanisesti olisi erittäin vaikea. Siten voidaan suurella joustavuudella kokeilla erilaisia ilmaisugeometrioita tarvitsematta tehdä mekaanisia muutoksia varsinaiseen kammioon.
20
Keksinnön toisen näkökohdan mukaisesti menetelmä hiukkasten symmetria-asteen määrittämiseksi käsittää vaiheet, joissa muodostetaan ilmassa olevien hiukkasaineiden näyte laminaarivirtauksen muodossa; valaistaan näyte lasersä-25 teellä, heijastetaan yksittäisistä hiukkasista sironnut • .· säteily vähintään yhteen eteenpäin olevaan sirontakeräi- • · ·.*·· meen ja vähintään kolmeen taaksepäin olevaan sirontakeräi- • · ♦ ϊ.,.ί meen ja ilmaistaan kunkin keräimen keräämä säteily; johde- :T: taan tulos ilmaistusta hiukkasia kuvaavasta säteilytiedos- 30 ta; ja verrataan tietoa tunnetun muotoisista hiukkasista . olevaan tietoon hiukkassymmetrian asteen määrittämiseksi.
• ·
Tunnusomaista on se, että säteilykeräimien muotorakennetta • * » voidaan haluttaessa muuttaa eri kulmiin sironneen säteilyn keräämisen mahdollistamiseksi.
35 Näyte voi olla aerosolia.
Seuraavassa selitetään keksinnön kahta suoritusmuotoa pelkästään esimerkin muodossa ja viitaten oheisiin piirustuk- 5 9§m siin, joissa: kuvio 1 on kaaviollinen sivukuvanto leikkauksena hiuk-kasanalysaattorista pallomaisten hiukkasten analysoimiseksi; 5 kuvio 2 on leikkaus kuvion 1 analysaattorista pitkin viivaa x - x; ja kuvio 3 on kaaviollinen sivukuvanto leikkauksena epäsymmetria-analyysi järjestelmästä.
10 Kuvio 1 havainnollistaa keksinnön perusmuotoa, jossa analysoidaan vain pallomaisia hiukkasia ja jossa parabolinen kovera heijastin 1 sijaitsee sirontakammion 2 toisessa päässä. Sirontakammion 2 toiseen päähän on asennettu linjaan heijastimen 1 pääakselin kanssa laser 3, joka suuntaa 15 säteilyn säteen 4 kohti heijastimessa 1 ja kammiossa 2, heijastimen pääakselilla olevaa reikää 5. Kun säde 4 on kulkenut reiän 5 läpi, se tulee säteilyn poistolaittee-seen, tyypillisesti Rayleigh-torveen.
20 Ilman laminaarivirtauksena tuleva näyte 7 johdetaan kammioon 2 niin, että se parabolisen heijastimen 1 polttopisteessä leikkaa lasersäteen 4 suorassa kulmassa.
Näytteessä 7 oleva hiukkanen heijastaa säteilyä säteestä 25 4 heijastimeen 1, joka heijastaa se pääakselin kanssa sa- : · : mansuuntaisena lähellä laseria 3 oleville säteilyn kokoo- jille 8. Säteilyn kokoojat 8 voivat olla fotomonistinyksi- • · .***. köitä, valokuituja, jotka johtavat sellaisiin yksiköihin, tai linssejä valon suuntaamiseksi kuituihin tai yksiköi- • * · 30 hin.
• · «
Kuten kuviossa 2 esitetään on säteen 4 ympärille säteen • · · *·* suunnassa järjestetty kolme säteilyn kokoojaa 8. Sellai sessa järjestelyssä voidaan suunnata symmetristä sirontaa, 35 joka ilmaisee pallomaisia hiukkasia. Itse asiassa voidaan säteilyn säteen 4 ympärille järjestää säteen suunnassa kuinka monta säteilyn kokoojaa 8 tahansa.
Kuvio 3 esittää esillä olevan keksinnön mukaisen hiukkas-40 analysaattorin edullisen suoritusmuodon, jolla voidaan 6 98160 analysoida yksilöllisiä hiukkasia ja määrittää niille epäsymmetriakerroin. Tässä suoritusmuodossa laser 3 on järjestetty kammion 2 alapuolelle ja 90° kulmaan heijastimen pääakselin suhteen. Säde 4 heijastetaan heijastimen 5 pääakselille prismalla tai peilillä 9, joka sopivasti on järjestetty akselille. Itse asiassa laser 3 voidaan järjestää lähes mihin tahansa sirontakammion 2 ympärille, kun akselille järjestetään peili 9 sopivaan kulmaan.
10 Kuvio 3 havainnollistaa myös miten sirontakammiossa 2 on ellipsoidiheijastin 10, jolloin säteen 4 ja näytteen 7 leikkauspiste on ellipsin toinen polttopiste, ja jolloin toisen polttopisteen lähelle on järjestetty kokoojalinssi 11 saattamaan heijastunee säteilyn samansuuntaisena kam-15 mion 2 päässä oleville säteilyn kokoojille 8. Tässä kohdassa säteilyn voimakkuusjakautuma edustaa tilan suhteen muunnettua kopiota siitä, jonka hiukkanen on sironnut likimain pallon 0,84 osaan. Kuviossa 1 havainnollistetaan juoksevan aineen näytteen syöttämistä laminaarivirtauksena 20 vaipassa olevan ilman sisäänoton 12 avulla, josta syötetään ilmakerros vakionopeudella.
Määrättyjä ongelmia kohdataan vangittaessa ja analysoitaessa pieneen kulmaan säteen 4 suuntaan sironnutta säteilyä. 25 Hyvin pienillä kulmilla (välillä 1° - 3°) se hukkuu säteen ;fokusointioptiikasta siroavaan valoon. Tämän voittamiseksi • · · järjestetään pääsirontakammioon 2 toinen sirontakammio 13 samankeskeisesti koveran heijastimen 1 pääakselin kanssa. Tähän kammioon sijoitetaan sopivasti säteilyn kokoojia 8 30 pienen kulman heijastuksia.
Ml I * ···’ Kuviossa 3 esitetään tämän johdosta toinen kammio 13, johon
• M
' * * on järjestetty valokuituja 14 säteen 4 ympärille. Valo kuidut 14 voidaan järjesteää samankeskeisiksi renkaiksi 35 säteen 4 ympärille. Kuidut 14 toimivat säteilyn kokoojina kootun säteilyn muuntamiseksi sähkösignaaleiksi käsittelyä ja analyysia varten.
7 mm
Kuten kuviossa 1 esitetään, voi toisessa kammiossa vaih-teohtoisesti olla toinen kovera heijastin 14, joka normaalisti olisi ellipsoidin muotoinen, ja jolla olisi säteen 4 ja näytteen 7 välinen leikkauspiste toisessa polttopis-5 teessään ja säteilyn kokooja 15 toisessa eli lähempänä olevassa polttopisteessään. Siten pienessä kulmassa heijastunut säteily osuu ellipsoidiheijastimeen ja suunnataan kohti säteilyn kokoojaa 15.
10 Säteilyn kokooja 15 voidaan sijoittaa ensimmäisen kammion aukkoa 5 kohti, tai se voidaan sijoittaa 90° kulmaan tähän suuntaan nähden, kuten kuviossa 1 esitetään. Viimeksi mainittu järjestely kokoaisi suhteessa enemmän pienen heijastuskulman säteilyä, mutta kaiken kaikkeaan vähemmän 15 säteilyä, koska ainoastaan kokoojan etupintaa kohti suuntautuvat heijastukset tallettuisivat.
Kuviossa 1 havainnollistetaan miten käytön aikana näytettä 7 syötetään laminaarivirtauksena vakionopeuksisen suoda-20 tetun ilman vaipan avulla, jota syötetään näytteen ympärille. Siten näytteen ulommat osat virtaavat samalla . . nopeudella kuin sisemmät osat. Näytteen ulommat osat virtaisivat muutoin hitaammin, johtuen näytevirran rinnal-' \ la paikallaan pysyvän ilman kitkasta. Lisäksi ja tärkeäm- 25 pänä, ilmavaippaa syöttävä samankeskeinen putki on suun-niteltu kohdistamaan näytteessä olevat hiukkaset # · · ·.· · dynaamisesti, niin että muodostuu hiukkasten laminaarivir taus . Siten hiukkasvirtaus helpommin voidaan kohdistaa heijastimen polttopisteeseen.
30 .·**. Hiukkasten epäsymmetria-analysaattori toimii seuraavalla ♦ · · tavalla. Kaasulaserin tuottama lasersäde tulee kammioon • · · suorassa kulmassa heijastimen akseliin nähden ja heijastuu 90°:ssa pitkin heijastimen pääakselia. Yksilöllisten hiuk-35 kasten siroama säteily välillä noin 19° - 145° säteen akseliin nähden heijastuu siten asfääriselle kokoojalins-sille kammion takaosassa. Tämä linssi saattaa lähtevän ?§160 8 valon samansuuntaiseksi, ja tämän lähtöikkunan yli vaikuttava voimakkuuden jakautuma vastaa tilan suhteen muunnettua kopiota siitä, jonka hiukkanen on sironnut likimain pallon 0,84 osaan.
5
Kun koottu valo on edellä mainitussa muodossa, voidaan valon jakautuman mittaamiseen käytettyjen valokuitujen asemaa muuttaa haluttaessa.
10 Hiukkasten pallomaisuuden määrittämiseksi ilmaisimet sijoitettaisiin symmetrisesti lähtöikkuna akselin ympärille.
Tällä tavalla voidaan valokuituja käyttäen helposti simuloida vaikutusta, joka saadaan sijoittamalla lähes kuinka 15 monta ilmaisinta tahansa mihin tahansa kohtiin suurimmassa osassa koko sirontapalloa.
Tunnettujen kuviomuotojen teoreettisten mallien tulosten ja kokeellisten tulosten perusteella käytetään algoritmeja 20 epäsymmetriakertoimien määrittämiseksi hiukkasille.
Hiukkastietoja voitaisiin käsitellä niiden epäsymmetrian määrittämistä varten transputerilla, kuten esim. britti- • Iäisten Inmos-sirujen valmistajien tuottamalla.
;· 25 '...· Jokaista ilmaisinkanavaa varten käytetään yhtä transpute- • · · ·,· ·' ria. Tällä tavalla tähän saakka sarjamuodossa suoritetut tehtävät kanavilta tulevan tiedon osalta voitaisiin suorittaa samanaikaisesti, jolloin saadaan merkittävä kasvu 30 tiedon käsittelytehossa.
• » · • « » · • · ·
Vaikka tätä keksintöä on selitetty esimerkin avulla ja # · · viitaten sen mahdollisiin suoritusmuotoihin, on ymmärrettävä että muunnelmia ja parannuksia voidaan tehdä poik-35 keamatta keksinnön suoja-alalta, kuten se määritellään oheisissa patenttivaatimuksissa.
Claims (15)
- 91110
- 1. Hiukkasanalysaattori käytettäväksi hiukkasten symmetria-asteen määrittämiseen, jossa on: välineet ilmassa olevien hiukkasaineiden näytteen (7) tuottamiseksi laminaari-5 virtauksena; välineet näytteen valaisemiseksi lasersäteellä (4) ; välineet yksittäisistä hiukkasista sironneen säteilyn suuntaamiseksi vähintään kolmeen ennalta määrättyyn taaksepäin olevaan suuntaan ja yhteen ennalta määrättyyn eteenpäin olevaan suuntaan kohti vastaavia säteilykeräimiä 10 (8, 15); kuhunkin keräimeen liittyvät välineet niiden ke räämän säteilyn ilmaisemiseksi; välineet detektoreilta saadun tiedon johtamiseksi (SI, S2) kuvaamaan hiukkasia; ja välineet tiedon vertaamiseksi tunnetun muotoisista hiukkasista olevaan tietoon yksilöllisen hiukkassymmetrian 15 asteen määrittämiseksi, tunnettu siitä, että säteilykeräi-mien muotorakennetta voidaan haluttaessa muuttaa ennalta määrättyihin eri kulmiin sironneen säteilyn keräämisen mahdollistamiseksi.
- 2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen hiukkasanalysaattori, tunnettu siitä, että lasersäde (4) on satunnais- tai kier-topolaroitu.
- 3. Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen hiukkasanaly-25 saattori, tunnettu siitä, että yhdessä muotorakenteessa säteilykeräimet (8, 15) voidaan sijoittaa säteittäin sym- • · · *· ’* metrisesti lasersäteen (4) määrittämän keskiakselin ympä- ’·' rille. • · • · · • · · • · • « ·
- 4. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen hiuk- • · · · kasanalysaattori, tunnettu siitä, että väline säteilyn suuntaamiseksi on kovera heijastin (1, 10). • « ·
- 5. Patenttivaatimuksen 4 mukainen hiukkasanalysaattori, 35 tunnettu siitä, että kovera heijastin on ellipsoidiheijas-tin. 91160
- 6. Patenttivaatimuksen 4 tai 5 mukainen hiukkasanaly-saattori, tunnettu siitä, että keskiakseli on koveran heijastimen (1, 10) heijastusakseli.
- 7. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen hiuk- kasanalysaattori, tunnettu siitä, että ilmaisimet ovat valomonistimia.
- 8. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen hiuk-10 kasanalysaattori, tunnettu siitä, että keräimet ovat valokuituja (14) .
- 9. Menetelmä hiukkasten symmetria-asteen määrittämiseksi, menetelmän käsittäessä vaiheet: 15. muodostetaan ilmassa olevien hiukkasaineiden näyte (7) laminaarivirtauksen muodossa; - valaistaan näyte lasersäteellä (4), heijastetaan yksittäisistä hiukkasista sironnut säteily vähintään yhteen eteenpäin olevaan sirontakeräimeen (14, 15) ja vähintään 20 kolmeen taaksepäin olevaan sirontakeräimeen (8) ja ilmaistaan kunkin keräimen keräämä säteily; - johdetaan tulos ilmaistusta hiukkasia kuvaavasta säteily tiedosta; ja - verrataan tietoa tunnetun muotoisista hiukkasista ole- 25 vaan tietoon hiukkassymmetrian asteen määrittämiseksi, \ ’ tunnettu siitä, että säteilykeräimien muotorakennetta voi- • · · *· ” daan haluttaessa muuttaa eri kulmiin sironneen säteilyn • · · ^ : .* keräämisen mahdollistamiseksi. • · • · · • · · • · • · · • · 30 10. Patenttivaatimuksen 9 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että lasersäde (4) on satunnais- tai kiertopolaroi-tua. • · ·
- 11. Patenttivaatimuksen 9 tai 10 mukainen menetelmä, tun-35 nettu siitä, että yksittäisten hiukkasten sirottama säteily heijastetaan koveralla heijastimella (1, 10) kohti va-lonkerääjiä. 98160 li
- 12. Patenttivaatimuksen 11 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että koveralla heijastimella on ellipsoidin muotoinen sisäpinta.
- 13. Patenttivaatimuksen 11 tai 12 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että taaksepäin olevat sirontakeräimet (8) on sijoitettu säteittäin symmetrisesti heijastimen (1, 10) heijastusakselin ympärille.
- 14. Jonkin patenttivaatimuksista 9-13 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että ilmaisimet ovat valomonistimia.
- 15. Jonkin patenttivaatimuksista 9-14 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että keräimet ovat optisia kuituja (14). 15
Applications Claiming Priority (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB8726304 | 1987-11-10 | ||
| GB878726304A GB8726304D0 (en) | 1987-11-10 | 1987-11-10 | Particle asymmetry analyser |
| GB8800975 | 1988-11-10 | ||
| PCT/GB1988/000975 WO1989004471A1 (en) | 1987-11-10 | 1988-11-10 | Particle asymmetry analyser |
| CA000585846A CA1323995C (en) | 1987-11-10 | 1988-12-14 | Particle asymmetry analyser |
| CA585846 | 1988-12-14 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FI902327A0 FI902327A0 (fi) | 1990-05-09 |
| FI98160B FI98160B (fi) | 1997-01-15 |
| FI98160C true FI98160C (fi) | 1997-04-25 |
Family
ID=25672303
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FI902327A FI98160C (fi) | 1987-11-10 | 1990-05-09 | Hiukkasten epäsymmetrian analysaattori |
Country Status (16)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5089714A (fi) |
| EP (2) | EP0316171B1 (fi) |
| JP (1) | JP2862253B2 (fi) |
| AT (1) | ATE81203T1 (fi) |
| AU (1) | AU612205B2 (fi) |
| CA (1) | CA1323995C (fi) |
| DE (1) | DE3875069T2 (fi) |
| DK (1) | DK174059B1 (fi) |
| ES (1) | ES2035318T3 (fi) |
| FI (1) | FI98160C (fi) |
| GB (2) | GB8726304D0 (fi) |
| GR (1) | GR3006253T3 (fi) |
| NO (1) | NO301671B1 (fi) |
| NZ (1) | NZ226895A (fi) |
| PT (1) | PT88980B (fi) |
| WO (1) | WO1989004471A1 (fi) |
Families Citing this family (44)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3248910B2 (ja) * | 1992-02-21 | 2002-01-21 | イギリス国 | 粒子特性の分析 |
| GB2264556A (en) * | 1992-02-21 | 1993-09-01 | Hatfield Polytechnic Higher Ed | Diffraction analysis of particle size, shape and orientation |
| NL9301446A (nl) * | 1993-08-20 | 1995-03-16 | Univ Delft Tech | Werkwijze en inrichting voor het meten van vormeigenschappen van deeltjes. |
| US6049381A (en) * | 1993-10-29 | 2000-04-11 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Real time suspended particle monitor |
| EP0871858B1 (en) | 1995-04-06 | 2006-09-13 | DeLaval Holding AB | Method and apparatus for quantitative particle determination in fluids |
| US5767967A (en) * | 1997-01-02 | 1998-06-16 | Yufa; Aleksandr L. | Method and device for precise counting and measuring the particulates and small bodies |
| CA2279574C (en) | 1997-01-31 | 2007-07-24 | The Horticulture & Food Research Institute Of New Zealand Ltd. | Optical apparatus |
| US6731100B1 (en) | 1997-05-05 | 2004-05-04 | Chemometec A/S | Method and a system for determination of somatic cells in milk |
| DE69812928T2 (de) | 1997-05-05 | 2004-03-04 | Chemometec A/S | Bestimmung von partikeln in einer flüssigen probe |
| US6149867A (en) | 1997-12-31 | 2000-11-21 | Xy, Inc. | Sheath fluids and collection systems for sex-specific cytometer sorting of sperm |
| US6071689A (en) * | 1997-12-31 | 2000-06-06 | Xy, Inc. | System for improving yield of sexed embryos in mammals |
| US7208265B1 (en) | 1999-11-24 | 2007-04-24 | Xy, Inc. | Method of cryopreserving selected sperm cells |
| US6184990B1 (en) * | 1999-12-22 | 2001-02-06 | Beckman Coulter, Inc. | Miniature multiple wavelength excitation and emission optical system and method for laser-induced fluorescence detectors in capillary electrophoresis |
| US6721049B1 (en) * | 2000-03-22 | 2004-04-13 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Device for efficient light collection from a sample |
| US20040031071A1 (en) * | 2000-10-05 | 2004-02-12 | Xy, Inc. | System of hysteroscopic insemination of mares |
| US7713687B2 (en) | 2000-11-29 | 2010-05-11 | Xy, Inc. | System to separate frozen-thawed spermatozoa into x-chromosome bearing and y-chromosome bearing populations |
| CA2468772C (en) | 2000-11-29 | 2013-10-29 | George E. Seidel | System to separate frozen-thawed spermatozoa into x-chromosome bearing and y-chromosome bearing populations |
| US7260483B2 (en) * | 2001-10-25 | 2007-08-21 | The Regents Of The University Of California | Real-time detection method and system for identifying individual aerosol particles |
| US6784988B2 (en) * | 2002-07-17 | 2004-08-31 | Hamilton Associates, Inc. | Apparatus and process for analyzing a stream of fluid |
| MXPA05000865A (es) * | 2002-07-22 | 2005-04-28 | Xy Inc | Sistema para el proceso de celulas espermaticas. |
| US8486618B2 (en) | 2002-08-01 | 2013-07-16 | Xy, Llc | Heterogeneous inseminate system |
| EP1545203B1 (en) * | 2002-08-01 | 2016-10-19 | Xy, Llc | Low pressure sperm cell separation system |
| AU2003265471B2 (en) | 2002-08-15 | 2009-08-06 | Xy, Llc. | High resolution flow cytometer |
| US7169548B2 (en) | 2002-09-13 | 2007-01-30 | Xy, Inc. | Sperm cell processing and preservation systems |
| DK2305171T3 (da) | 2003-03-28 | 2022-03-21 | Inguran Llc | Apparat og fremgangsmåder til tilvejebringelse af kønssorteret dyresæd |
| JP2006522833A (ja) * | 2003-04-11 | 2006-10-05 | バー・ラボラトリーズ，インコーポレイテッド | エストロゲンおよびプロゲスチンの投与法 |
| DK1625203T3 (en) | 2003-05-15 | 2015-07-06 | Xy Llc | EFFECTIVE SEPARATION OF haploid cells FOR FLOWCYTOMETRISYSTEMER |
| BRPI0509485A (pt) | 2004-03-29 | 2007-09-11 | Monsanto Technology Llc | suspensões de esperma para uso em inseminação |
| KR100600923B1 (ko) * | 2004-03-31 | 2006-07-13 | 주식회사 디지탈바이오테크놀러지 | 광학부를 구비한 미세입자 분석 장치 |
| MX2007000888A (es) | 2004-07-22 | 2007-04-02 | Monsanto Technology Llc | Procedimiento para enriquecer una poblacion de celulas de esperma. |
| GB2422897A (en) * | 2005-02-02 | 2006-08-09 | Pcme Ltd | A monitor for monitoring particles flowing in a stack |
| WO2009021123A1 (en) * | 2007-08-07 | 2009-02-12 | Tsi Incorporated | A size segregated aerosol mass concentration measurement device |
| US8047055B2 (en) | 2007-08-08 | 2011-11-01 | Tsi, Incorporated | Size segregated aerosol mass concentration measurement with inlet conditioners and multiple detectors |
| US7631568B2 (en) | 2007-08-28 | 2009-12-15 | Quest Technologies | Particulate monitor |
| EP2380001B1 (en) * | 2008-12-18 | 2015-02-11 | Azbil Corporation | Compact detector for simultaneous particle size and fluorescence detection |
| US8589851B2 (en) * | 2009-12-15 | 2013-11-19 | Memoir Systems, Inc. | Intelligent memory system compiler |
| EP2694668A4 (en) * | 2011-04-06 | 2015-04-15 | Instant Bioscan Llc | DEVICE AND METHOD FOR DETECTING MICROBES |
| CN104931471A (zh) * | 2015-06-08 | 2015-09-23 | 北京大学 | 大气活性自由基的激光诱导荧光检测系统 |
| US10151682B2 (en) * | 2015-07-14 | 2018-12-11 | Teilch Llc | Airborne particle measuring device |
| JP2017116287A (ja) | 2015-12-21 | 2017-06-29 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 粒子検出センサ |
| JP6602211B2 (ja) * | 2016-01-22 | 2019-11-06 | 株式会社堀場製作所 | 粒子分析装置、粒子分析方法及び粒子分析プログラム |
| US10809174B2 (en) * | 2016-06-14 | 2020-10-20 | Pinssar Holdings Pty Ltd | Particulate matter measuring apparatus |
| US10935480B1 (en) * | 2018-09-26 | 2021-03-02 | Airviz Inc. | Optical-particle sensor head |
| WO2023139741A1 (ja) * | 2022-01-21 | 2023-07-27 | 株式会社日立ハイテク | 粒子計測装置 |
Family Cites Families (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3431423A (en) * | 1965-09-27 | 1969-03-04 | Bausch & Lomb | Forward scatter photometer |
| US3457407A (en) * | 1966-07-27 | 1969-07-22 | Us Navy | Apparatus for quantitatively detecting foreign particles present in atmospheric air |
| US3781552A (en) * | 1972-08-02 | 1973-12-25 | K Kadrmas | Self-calibrating multiple field of view telescope for remote atmospheric electromagnetic probing and data acquisition |
| US4251733A (en) * | 1978-06-29 | 1981-02-17 | Hirleman Jr Edwin D | Technique for simultaneous particle size and velocity measurement |
| CA1136883A (en) * | 1979-01-02 | 1982-12-07 | Walter R. Hogg | Method and apparatus for measurement of reradiation in particle flow cell systems |
| US4523841A (en) * | 1979-03-15 | 1985-06-18 | Coulter Electronics, Inc. | Radiant energy reradiating flow cell system and method |
| US4273443A (en) * | 1979-11-21 | 1981-06-16 | Coulter Electronics, Inc. | Method and apparatus for measurement of reradiation in particle flow cell systems |
| US4422761A (en) * | 1981-09-28 | 1983-12-27 | Frommer Joseph C | Photo-electric particle sensing system |
| FR2535051A1 (fr) * | 1982-10-22 | 1984-04-27 | Saint Etienne Universite | Appareil de mesure en flux continu des proprietes rheologiques individuelles de particules deformables |
| US4606636A (en) * | 1983-10-25 | 1986-08-19 | Universite De Saint-Etienne | Optical apparatus for identifying the individual multiparametric properties of particles or bodies in a continuous flow |
| JPS60190835A (ja) * | 1985-02-22 | 1985-09-28 | Hitachi Ltd | 微粒子検出器 |
| US4890920A (en) * | 1986-02-12 | 1990-01-02 | Combustion Engineering, Inc. | In situ particle size measuring device |
| US4850707A (en) * | 1986-06-06 | 1989-07-25 | Massachusetts Institute Of Technology | Optical pulse particle size analyzer |
-
1987
- 1987-11-10 GB GB878726304A patent/GB8726304D0/en active Pending
-
1988
- 1988-11-09 NZ NZ226895A patent/NZ226895A/xx unknown
- 1988-11-10 DE DE8888310595T patent/DE3875069T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1988-11-10 JP JP63508858A patent/JP2862253B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1988-11-10 US US07/476,396 patent/US5089714A/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-11-10 ES ES198888310595T patent/ES2035318T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1988-11-10 AT AT88310595T patent/ATE81203T1/de not_active IP Right Cessation
- 1988-11-10 EP EP88310595A patent/EP0316171B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-11-10 EP EP88909594A patent/EP0389512A1/en active Pending
- 1988-11-10 PT PT88980A patent/PT88980B/pt active IP Right Grant
- 1988-11-10 WO PCT/GB1988/000975 patent/WO1989004471A1/en active IP Right Grant
- 1988-11-10 AU AU26262/88A patent/AU612205B2/en not_active Ceased
- 1988-12-14 CA CA000585846A patent/CA1323995C/en not_active Expired - Fee Related
-
1990
- 1990-04-06 GB GB9007803A patent/GB2229527B/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-05-08 DK DK199001133A patent/DK174059B1/da not_active IP Right Cessation
- 1990-05-09 FI FI902327A patent/FI98160C/fi not_active IP Right Cessation
- 1990-05-10 NO NO902068A patent/NO301671B1/no unknown
-
1992
- 1992-11-16 GR GR920402592T patent/GR3006253T3/el unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5089714A (en) | 1992-02-18 |
| FI98160B (fi) | 1997-01-15 |
| EP0316171B1 (en) | 1992-09-30 |
| DE3875069T2 (de) | 1993-03-25 |
| CA1323995C (en) | 1993-11-09 |
| NZ226895A (en) | 1990-07-26 |
| DK174059B1 (da) | 2002-05-13 |
| ATE81203T1 (de) | 1992-10-15 |
| GB9007803D0 (en) | 1990-06-20 |
| ES2035318T3 (es) | 1993-04-16 |
| EP0389512A1 (en) | 1990-10-03 |
| NO301671B1 (no) | 1997-11-24 |
| GR3006253T3 (fi) | 1993-06-21 |
| DK113390D0 (da) | 1990-05-08 |
| WO1989004471A1 (en) | 1989-05-18 |
| AU612205B2 (en) | 1991-07-04 |
| DK113390A (da) | 1990-05-08 |
| JPH03500816A (ja) | 1991-02-21 |
| EP0316171A1 (en) | 1989-05-17 |
| PT88980B (pt) | 1995-03-01 |
| FI902327A0 (fi) | 1990-05-09 |
| GB2229527A (en) | 1990-09-26 |
| PT88980A (pt) | 1989-09-14 |
| NO902068L (no) | 1990-05-10 |
| NO902068D0 (no) | 1990-05-10 |
| JP2862253B2 (ja) | 1999-03-03 |
| GB8726304D0 (en) | 1987-12-16 |
| GB2229527B (en) | 1991-10-16 |
| AU2626288A (en) | 1989-06-01 |
| DE3875069D1 (de) | 1992-11-05 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| FI98160C (fi) | Hiukkasten epäsymmetrian analysaattori | |
| FI98662C (fi) | Kannettavat hiukkasanalysaattorit | |
| EP0316190A1 (en) | Bush | |
| US3788744A (en) | Method and apparatus for photoanalysis | |
| US4273443A (en) | Method and apparatus for measurement of reradiation in particle flow cell systems | |
| EP2264428B1 (en) | Optical apparatus with focussing reflector for converging radiation onto a flow of particles | |
| JP2825644B2 (ja) | 粒子寸法分析方法および装置 | |
| US6449042B1 (en) | Method and apparatus for particle assessment using multiple scanning beam reflectance | |
| US4523841A (en) | Radiant energy reradiating flow cell system and method | |
| US3819270A (en) | Blood cell analyzer | |
| US3873204A (en) | Optical extinction photoanalysis apparatus for small particles | |
| US5565984A (en) | Re-entrant illumination system for particle measuring device | |
| EP0627073A1 (en) | Analysis of particle characteristics | |
| GB2125181A (en) | Flow cells for particle study | |
| JP3436539B2 (ja) | 粒子分析のための改良型粒子センサ及び方法 | |
| WO2000063673A1 (en) | Apparatus to detect shape, size and fluorescence of fluidborne particles | |
| GB2041516A (en) | Methods and apparatus for measurement of reradiation in particle flow cell systems | |
| KR0125917B1 (ko) | 비대칭 입자 분석기 | |
| KR0125916B1 (ko) | 휴대용 입자 분석기 | |
| US7139075B2 (en) | Method and apparatus for measuring the size distribution and concentration of particles in a fluid | |
| CA2413343A1 (en) | Method and apparatus for testing optical components | |
| US20230168178A1 (en) | Methods, apparatus, and systems for an optical fiber forward scatter channel in flow cytometers |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| BB | Publication of examined application | ||
| FG | Patent granted |
Owner name: THE SECRETARY OF STATE FOR DEFENCE IN HER BRITANNI |
|
| MA | Patent expired |