FI98662C - Kannettavat hiukkasanalysaattorit - Google Patents
Kannettavat hiukkasanalysaattorit Download PDFInfo
- Publication number
- FI98662C FI98662C FI902326A FI902326A FI98662C FI 98662 C FI98662 C FI 98662C FI 902326 A FI902326 A FI 902326A FI 902326 A FI902326 A FI 902326A FI 98662 C FI98662 C FI 98662C
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- radiation
- reflector
- concave reflector
- sample
- particle analyzer
- Prior art date
Links
- 239000002245 particle Substances 0.000 title claims abstract description 45
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 65
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims abstract description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 6
- 239000000443 aerosol Substances 0.000 claims description 4
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 239000012798 spherical particle Substances 0.000 description 3
- 230000005670 electromagnetic radiation Effects 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
- G01N15/1429—Signal processing
- G01N15/1431—Signal processing the electronics being integrated with the analyser, e.g. hand-held devices for on-site investigation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
- G01N15/1434—Optical arrangements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/02—Investigating particle size or size distribution
- G01N15/0205—Investigating particle size or size distribution by optical means
- G01N2015/0238—Single particle scatter
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/02—Investigating particle size or size distribution
- G01N2015/0294—Particle shape
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
- G01N15/1404—Handling flow, e.g. hydrodynamic focusing
- G01N2015/1413—Hydrodynamic focussing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
- G01N2015/1493—Particle size
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
- G01N2021/6463—Optics
- G01N2021/6469—Cavity, e.g. ellipsoid
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Pathology (AREA)
- Immunology (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Investigating Or Analysing Biological Materials (AREA)
- Steroid Compounds (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Description
98662
Kannettavat hiukkasanalysaattorit 5 Tämä keksintö liittyy laitteeseen juoksevassa aineessa olevien hiukkasten analysoimiseksi. Tutkittaessa esimerkiksi aerosoleja, aerosolien dispersioita ja ilman sisältämän hiukkasmaisen saasteen valvonnassa vaaditaan hiukkaa koko jakautuman nopeata määrittämistä erityisesti 10 halkaisija-alueella 1...10 mikrometriä, sekä erillisten hiukkasten muodon ja symmetrian jonkinasteista tuntemista. Viimeksimainitun tiedon avulla voitaisiin esimerkiksi tunnistaa pallosymmetrisiä hiukkasia ja siten laskea/val-voa pieniä nestepisaroita ympäristössä, joka sisältää muita 15 kiinteitä, ei-pallomaisia hiukkasia. Esillä olevan selityksen yhteydessä termi hiukkanen on tarkoitettu kattamaan sekä kiinteät kappaleet että nestepisarat.
On toivottavaa, että sellaisilla menetelmillä voitaisiin 20 laskea näytteessä olevia yksilöllisiä hiukkasia nopeuksilla, jotka ovat tyypillisesti 20.000 hiukkasta sekunnissa, ja että voitaisiin erottaa näytteessä olevat pallomaiset ja ei-pallomaiset hiukkaset sekä laskea molemmat tyypit. Toisena tavoiteltavana ominaisuutena on halkaisijaltaan 25 0,5 - 15 mikrometriä olevien pallomaisten hiukkasten luokitteleminen eri kokoalueisiin sekä tässä yhteydessä hiukkasten luokitteleminen "ei-pallomaisiksi", jolloin ne voidaan jättää huomiotta kokojakautumaa laskettaessa, olettaen että hiukkanen on pallomainen.
30
Useissa kaupallisisesti saatavissa mittalaitteissa ta- % vanomaiset hiukkasten tarkastelumenetelmät käyttävät hiukkasten siroaman sähkömagneettisen säteilyn ilmaisua ja analyysia. Kaikissa sellaisissa mittalaitteissa käytetään 35 mekaanista mekanismia ilmanäytteen pakottamiseksi "il-maisutilavuuden" läpi, jossa mukana seuraavat hiukkaset valaistaan niihin kohdistetulla sähkömagneettisella sätei- 98662 2 lyllä. Hiukkasten siroama säteily vastaanotetaan yhdellä tai useammalla ilmaisimella, jotka muuttavat energian sähkösignaaleiksi, joista voidaan saada informaatiota sopivilla sähköpiireillä.
5
Hiukkasanalysaattoreita tunnetaan, esimerkiksi patenttihakemuksissa UK 8619050 ja 2044951A sekä US-patentissa 3946239 kuvatut. Näissä kuvataan analysaattoreita, jotka käsittävä koveran heijastimen sirontakammiossa, sekä juok-10 sevaa ainetta olevan näytevirtauksen, joka leikkaa säteilyn säteen. Juoksevassa aineessa olevista erillisistä hiukkasista sironnut valo kohdistetaan heijastimen kautta säteilyn kokoojiin ja analysoidaan sen jälkeen. Kaikissa näissä on haittana, että ne ovat tilaa vieviä, arkoja, eivätkä 15 siten helposti kannettavia. Lisäksi näytteessä olevista hiukkasista pienessä kulmassa sironnutta valoa ei ilmaista missään edellä mainitussa tekniikan tason järjestelmässä.
UK-patentissa 2041516 kuvataan toinen edellä mainittua 20 tyyppiä oleva hiukkasanalysaattori, jossa kuitenkin lisäpiirteenä koverassa heijastimessa on läpinäkyvä ikkuna, jota käytetään takaisin sironneen valon kokoamiseksi linssejä ja fotomonistimia käyttäen. Tällä laitteella saavutetun takaisinaironneen valon voimakkuus on hyvin 25 alhainen ja kulkee kollimointivälineen läpi ennen sen kokoamista fotomonistimilla. Tämä tarkoittaa sitä, ettei kaikkea takaisinsironnutta valoa ilmaista, ja että valon kokamiseksi vaadittu laite on monimutkainen, kömpelö ja suhteellisen kallis. Lisäksi laite ei ole kannettava.
30 Tämän vuoksi tarvitaan hiukkasanalysaattoria, joka on kannettava, pienikokoinen ja suhteellisen halpa, ja joka määrittää juoksevassa näyteaineessa olevien hiukkasten koon, muodon ja lukumäärän, ja joka lisäksi tehokkaasti 35 pystyy ilmaisemaan ja analysoimaan näytteen yksilöllisistä hiukkasista pienessä kulmassa sironneen valon.
98662 3
Esillä olevan keksinnön erään näkökohdan mukaisesti hiuk-kasanalysaattori sisältää ensimmäisen sirontakammion, välineet juoksevaa ainetta olevan näytteen järjestämiseksi laminaarisen virtauksen muodossa ensimmäisen sirontakam-5 mion läpi, säteilyn säteen, joka on sovitettu leikkaamaan näytteen suorassa kulmassa näytteen virtaussuuntaan nähden ensimmäisen koveran heijastimen polttopisteessä, jolloin ensimmäistä koveraa heijastinta käytetään näytteessä olevien yksilöllisten hiukkasten siroaman säteilyn suuntaa-10 miseksi kohti ainakin yhtä säteilyn kokoojaa, välineet kootun säteilyn muuntamiseksi sähkösignaaleiksi käsittelyä ja analyysia varten, sekä välineet siroamattoman säteilyn poistamiseksi, jolle on tunnusomaista, että ensimmäisessä koverassa heijastimessa oleva aukko johtaa toiseen siron-15 takammioon, joka käsittää toisen koveran heijastimen lähellä sen polttopistettä sijaitsevalla säteilyn kokoojalla ja sekä siten sijoitettuna, että sen etäinen polttopiste on säteilyn säteen ja näytteen leikkauspisteessä.
20 Säteilyn säde voidaan aikaansaada laserilla, joka voidaan järjestää lukuisilla tavoilla siten, että säde leikkaa näytteen suorassa kulmassa. Se voidaan esimerkiksi järjestää linjassa ensimmäisen koveran heijastimen pääakselin kanssa; sellainen järjestely tuottaa tukevamman ja pieni-25 kokoisemman laitteen.
Ensimmäinen heijastin voi olla parabolinen peili tai vaihtoehtoisesti ellipsoidipeili, joka heijastaa sironneen valon yhteen ainoaan ilmaisupisteeseen.
30
Asentamalla toinen kammio samankeskeisesti ensimmäisen kammion kanssa saadaan etuna, että näytteen yksilöllisistä hiukkasista pienessä kulmassa sironnut valo myös voidaan ilmaista ja analysoida. Tämä tieto on erityisen hyödyllinen 35 määritettäessä hiukkasten kokoa. Toinen kammio sisältää myös toisen koveran heijastimen. Toinen kovera heijastin on edullisesti ellipsoidipeili ja sillä on lähipolttopiste 98662 4 sekä etäällä oleva polttopiste, joka sijaitsee säteen ja näytteen leikkauspisteessä. Siten pienessä kulmassa siron-nut valo heijastuu ellipsoidipeilin avulla lähipolttopis-teeseen ja koottaan siinä säteilyn kokoojalla.
5
Esillä olevassa keksinnössä voidaan käyttää mitä tahansa sopivan tyyppisiä säteilyn kokoojia, ja ne voivat käsittää fotomonistinyksiköitä, valokuituja jotka johtavat sellaisiin yksiköihin, tai linssejä valon suuntaamiseksi kuitui-10 hin tai yksiköihin.
Esillä olevan keksinnön toisen näkökohdan mukaisesti menetelmä hiukkasten analyysia varten sisältää vaiheet, joissa: 15 johdetaan juoksevan aineen näyte laminaarisena virtauksena ensimmäisen sirontakammion läpi; johdetaan säteilyn säde ensimmäisen sirontakammion läpi näytteen leikkaamiseksi suorassa kulmassa virtaussuuntaan nähden ensimmäisen koveran heijastimen polttopisteessä, 20 jolloin ensimmäistä koveraa heijastinta käytetään säteilyn suuntaamiseksi kohti ainakin yhtä säteilyn kokoojaa; jolle on tunnusomaista, että takaisinsironnut säteily kootaan toiseen kammioon, joka sisältää toisen koveran heijastimen ja johon on yhteys ensimmäisen koveran heijastimen aukosta, 25 käyttämällä toisen koveran heijastimen lähipolttopisteen lähellä olevaa säteilyn kokoojaa, jolloin toinen heijastin myös on järjestetty siten, että sen etäinen polttopiste sijaitsee säteilyn säteen ja näytteen leikkauspisteessä; muunnetaan koottu säteily sähkösignaaleiksi, käsitellään 30 ja analysoidaan sähkösignaalit; sekä kootaan pois siroama-ton säteily.
Näyte voi olla aerosoli.
35 Seuraavassa selitetään keksinnön eräitä suoritusmuotoja pelkästään esimerkin muodossa ja viitaten oheisiin piirustuksiin, joissa: 98662 5 kuvio 1 on keksinnön edullisen suoritusmuodon leikkaus sivulta päin nähtynä; kuvio la on kuvanto pitkin kuvion 1 viivaa; 5 kuvio 2 on keksinnön toisen suoritusmuodon leikkaus sivulta nähtynä.
Kuten kuviossa la on esitetty, ensimmäinen sirontakammio 10 10 sisältää ensimmäisen koveran heijastimen parabolisen peilin 11 muodossa, linssejä 12 ja säteilyn kokoojia 13.
Laser 14 on järjestetty linjaan parabolisen peilin 11 pääakselin kanssa ja se suuntaa säteilyn säteen 15 kohti parabolisen peilin 11 polttopistettä 16, jossa se leikkaa 15 laminaarisen virtauksen muodossa olevan juoksevan aineen näytteen 17. Aukko 18 johtaa toiseen kammioon 19, joka sisältää toisen koveran heijastimen ellipsoidiheijastimen 20 muodossa sekä säteilyn kokoojan 21, joka sijaitsee ellipsoidiheijastimen 20 lähipolttopisteen lähellä, ja 20 ellipsoidiheijastin on sijoitettu siten, että sen etäinen polttopiste sijaitsee ensimmäisen parabolisen heijastimen 11 polttopisteessä. Säteilyn poistoelin, tyypillisesti Rayleigh-torvi, sijaitsee elipsoidipeilin 20 aukossa si-roamattoman säteilyn kokoamiseksi. Säteilyn kokoajat 13 ja 25 21 on kytketty fotomonistinputkiin 23. Kuvio la esittää kokoojien 13 mahdollisen järjestelyn laserin 14 ympärillä.
Vaikka tässä on esitetty vain kolme kokoojaa, laserin 14 ympärille voidaan sijoittaa kuinka monta ilmaisinta tahansa.
30 Kuviossa 2 esitetään keksinnön toinen suoritusmuoto. Tässä suoritusmuodossa sekä ensimmäinen heijastin 50 että toinen heijastin 51 ovat kummatkin ellipsoidipeilejä. Laser 14 on jälleen 90° kulmassa heijastimien pääakseleiden suhteen, niin että peili 41 suuntaa säteen 15 pääakselia pitkin. Näyte 35 suunnataan suorassa kulmassa lasersäteeseen 15 ja leikkaa sen lähellä ensimmäisen ellipsoidiheijastimen 50 lähipolt-topistettä, Toinen ellipsoidihei jastin 51 sijoitetaan siten, 98662 6 että sen etäinen polttopiste yhtyy pisteeseen 16. Foto-monistinputket 23 sijaitsevat ensimmäisen ellipsoidiheijas-timen 11 etäisessä polttopisteessä ja lähellä toisen ellipsoidihei j astimen 20 polttopistettä sironneen säteilyn 5 kokoamiseksi. Säteen poistoväline 22 sijaitsee toisessa sirontakammiossa 19 siroamattoman säteilyn poistamiseksi.
Kuviossa 2 on säteilyn kokooja 23 sijoitettu ensimmäisen kammion 10 aukkoa 18 kohti, sen sijaan että se olisi 90° 10 kulmassa tähän suuntaan nähden kuten kuviossa 1. Viimek-simainitussa järjestelyssä koottaisiin enemmän säteilyä pienellä poikkeutuskulmalla, mutta vähemmän säteilyä yhteensä, koska ainoastaan kokoojan suuntaiset heijastukset talletetaan.
15 Käytön aikan juoksevaa näyteainetta 17 syötetään laminaa-risena virtauksena näytteen ympärille syötettävän va-kionopeuksisen ilmavaipan avulla, kuten esitetään kuvioissa 1 ja 2. Näin tehdään jotta näytevirran ulommilla osilla 20 olisi sama nopeus kuin sisäosilla. Näytevirran ulommat osa virtaisiva muutoin hitaammin johtuen näytevirran rinnalla paikallaan pysyvän ilman kitkasta johtuen. Lisäksi ilma-vaippaa syöttävä samankeskeinen putki on suunniteltu kohdistamaan näytteessä olevan hiukkaset dynaamisesti 25 hiukkasten laminaarisen virtauksen aikaansaamiseksi. Lasersäde 15 leikkaa suorassa kulmassa juoksevan aineen virtauksen 17 ja valoa siroaa näytteessä olevista yksilöllisistä hiukkasista. Sironnut säteily jeijastuu ensimmäisen heijastimen seinämistä ensimmäisessä sirontakammiossa.
30 Jos ensimmäinen kovera heijastin on parabolinen peili 11 (kuvio 1), niin säteily heijastuu samansuuntaisena sen pääakselin kanssa, ja jos se on ellipsoidipeili 40 ja 50 (kuviossa 2), niin säteily suuntautuu kohti peilin etäistä polttopistettä. Tämä heijastunut säteily suunnataan sitten 35 kohti fotomonistinputkea 23 joko suoraan kuten kuviossa 2, tai käyttäen linssejä 12 kuten kuviossa 1, säteilyn suuntaamiseksi kohti fotomonistinyksikköjä 23.
7 98662
Hiukkasten pienessä kulmassa siroama säteily kootaan toisessa kammiossa 19, joka voi sisältää ellipsoidipeilin 20 ja 51 kuvioissa 1 ja 2 sekä säteilyn kokoojat, jotka voivat olla fotomonistinputki 23 kuten kuviossa 2, tai 5 sellaiseen putkeen 23 johtava linssi 21 kuten kuviossa 1.
Koottu säteily muunnetaan sitten sähkösignaaleiksi, käsitellään ja analysoidaan, ja tieto voidaa johtaa sopivilla elektonisilla piireillä.
10
Vaikka tätä keksintöä on selitetty esimerkin avulla ja viitaten sen mahdollisiin suoritusmuotoihin, on ymmärrettävä että muunnelmia ja parannuksia voidaan tehdä poikkeamatta keksinnön suoja-alalta, kuten se määritellään 15 oheisissa patenttivaatimuksissa.
20 25 30 « 35
Claims (13)
1. Hiukkasanalysaattori, joka sisältää ensimmäisen si-rontakammion (10) , välineet juoksevaa ainetta olevan näytteen (17) järjestämiseksi laminaarisen virtauksen 5 muodossa ensimmäisen sirontakammion (10) läpi, säteily-säteen (15), joka on sovitettu leikkaamaan näyte (17) suorassa kulmassa näytteen virtaussuuntaan nähden ensimmäisen koveran heijastimen (11) polttopisteessä (16) , jolloin ensimmäistä koveraa heijastinta (11) käytetään 10 näytteessä olevien yksilöllisten hiukkasten siroaman säteilyn suuntaamiseksi kohti ainakin ensimmäistä heijas-tinsäteilynkokoojaa (13), välineet (23) kootun säteilyn muuntamiseksi sähkösignaaleiksi käsittelyä ja analyysia varten, sekä välineet (22) siroamattoman säteilyn poista-15 miseksi, tunnettu siitä, että ensimmäisessä koverassa heijastimessa (8) oleva aukko (18) johtaa toiseen siron-takammioon (19), joka käsittää toisen koveran heijastimen (20), jossa on toinen heijastinsäteilynkokooja (21), joka sijaitsee lähipolttopisteessä siten, että sen etäispolt-20 topiste on säteilyn säteen ja näytteen leikkauspisteessä, ja että toinen heijastinsäteilynkokooja (21) on yhdistetty välineeseen (23) kootun säteilyn muuntamiseksi sähkö-signaaleiksi käsittelyä ja analysointia varten.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen hiukkasanalysaattori, tunnettu siitä, että säteilyn säde syötetään laserilla (14) .
3. Patenttivaatimuksen 2 mukainen hiukkasanalysaattori, 30 tunnettu siitä, että laser (14) on järjestetty ensimmäi sen koveran heijastimen (11) pääakselille ja linjaan sen kanssa.
4. Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen hiukkasanaly-35 saattori, tunnettu siitä, että koveran heijastimen (11) pääakselille on järjestetty pieni heijastin (41) laserin (14) säteen heijastamiseksi kulmaan pääakselin suhteen. 98662 9
5. Patenttivaatimuksen 4 mukainen hiukkasanalysaattori, tunnettu siitä, että kulma on 90°.
6. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen hiuk- 5 kasanalysaattori, tunnettu siitä, että ensimmäinen kovera heijastin (11) on parabolinen heijastin.
7. Patenttivaatimusten 1-5 mukainen hiukkasanalysaattori, tunnettu siitä, että ensimmäinen kovera heijastin 10 (11) on ellipsoidi, jolloin leikkauspiste on lähempänä olevassa polttopisteessä, ja jolloin etäisessä polttopisteessä tai sen lähellä on säteilyn kokooja (13).
8. Patenttivaatimuksen 1 mukainen hiukkasanalysaattori, 15 tunnettu siitä, että toinen kovera heijastin (20) on el- lipsoidiheijastin.
9. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen hiukkasanalysaattori, tunnettu siitä, että jokainen säteilyn 20 kokooja (13, 21) on fotomonistinyksikkö (23).
10. Jonkin patenttivaatimuksen 1-9 mukainen hiukkasanalysaattori, tunnettu siitä, että jokainen säteilyn kokooja (13, 21) on valokuitu, joka johtaa fotomonistinyksi- 25 kölle (23).
11. Jonkin patenttivaatimuksen 1-9 mukainen hiukkasana lysaattori, tunnettu siitä, että jokainen säteilyn kokooja (13, 21) on linssi, joka suuntaa säteilyn fotomonis- 30 tinyksikköön (23) tai valokuituun.
12. Menetelmä hiukkasten analyysia varten, joka sisältää vaiheet, joissa: johdetaan juoksevan aineen näyte (17) laminaarisena virtauksena ensimmäisen sirontakammion (10) 35 läpi; johdetaan säteilyn säde (15) ensimmäisen sironta- kammion (10) läpi näytteen (17) leikkaamiseksi suorassa kulmassa virtaussuuntaan nähden ensimmäisen koveran heijastimen (11) polttopisteessä (16), jolloin ensimmäistä 98662 10 koveraa heijastinta käytetään säteilyn suuntaamiseksi kohti ainakin yhtä ensimmäistä heijastinsäteilynkokoojaa (13) ; sallitaan pienessä kulmassa sirotun säteilyn kulkea ensimmäisessä koverassa heijastimessa (11) olevan aukon 5 (18) kautta toiseen kammioon (19), joka sisältää toisen koveran heijastimen (20) sekä toisen heijastinsäteilynko-koojan (21), joka sijaitsee toisen koveran heijastimen (20) lähipolttopisteessä; jolloin toinen heijastin on järjestetty siten, että sen etäinen polttopiste sijaitsee 10 säteilyn säteen (15) ja näytteen (17) leikkauspisteessä; muunnetaan koottu säteily sähkösignaaleiksi (23) , käsitellään ja analysoidaan sähkösignaalit; sekä johdetaan siroamaton säteily (23) pois.
13. Patenttivaatimuksen 12 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että näyte (17) on aerosoli.
Applications Claiming Priority (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB878726305A GB8726305D0 (en) | 1987-11-10 | 1987-11-10 | Portable particle analysers |
| GB8726305 | 1987-11-10 | ||
| PCT/GB1988/000974 WO1989004472A1 (en) | 1987-11-10 | 1988-11-10 | Portable particle analysers |
| GB8800974 | 1988-11-10 | ||
| CA000585847A CA1323996C (en) | 1987-11-10 | 1988-12-14 | Portable particle analysers |
| CA585847 | 1988-12-14 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FI902326A0 FI902326A0 (fi) | 1990-05-09 |
| FI98662B FI98662B (fi) | 1997-04-15 |
| FI98662C true FI98662C (fi) | 1997-07-25 |
Family
ID=25672304
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FI902326A FI98662C (fi) | 1987-11-10 | 1990-05-09 | Kannettavat hiukkasanalysaattorit |
Country Status (16)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5043591A (fi) |
| EP (2) | EP0386063A1 (fi) |
| JP (1) | JP2771206B2 (fi) |
| AT (1) | ATE78923T1 (fi) |
| AU (1) | AU608667B2 (fi) |
| CA (1) | CA1323996C (fi) |
| DE (1) | DE3873269T2 (fi) |
| DK (1) | DK174197B1 (fi) |
| ES (1) | ES2034259T3 (fi) |
| FI (1) | FI98662C (fi) |
| GB (2) | GB8726305D0 (fi) |
| GR (1) | GR3005619T3 (fi) |
| NO (1) | NO300907B1 (fi) |
| NZ (1) | NZ226896A (fi) |
| PT (1) | PT88981B (fi) |
| WO (1) | WO1989004472A1 (fi) |
Families Citing this family (37)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2264556A (en) * | 1992-02-21 | 1993-09-01 | Hatfield Polytechnic Higher Ed | Diffraction analysis of particle size, shape and orientation |
| JP3248910B2 (ja) * | 1992-02-21 | 2002-01-21 | イギリス国 | 粒子特性の分析 |
| US5467189A (en) * | 1993-01-22 | 1995-11-14 | Venturedyne, Ltd. | Improved particle sensor and method for assaying a particle |
| JP3436539B2 (ja) * | 1993-09-27 | 2003-08-11 | ヴェンチュアダイン，リミテッド | 粒子分析のための改良型粒子センサ及び方法 |
| EP0871858B1 (en) | 1995-04-06 | 2006-09-13 | DeLaval Holding AB | Method and apparatus for quantitative particle determination in fluids |
| US5767967A (en) * | 1997-01-02 | 1998-06-16 | Yufa; Aleksandr L. | Method and device for precise counting and measuring the particulates and small bodies |
| CA2279574C (en) | 1997-01-31 | 2007-07-24 | The Horticulture & Food Research Institute Of New Zealand Ltd. | Optical apparatus |
| DE19724228A1 (de) * | 1997-06-03 | 1998-12-10 | Holger Dyja | Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Größenverteilung, optischen Eigenschaften und/oder Konzentration von Partikeln |
| AU753282B2 (en) | 1997-11-19 | 2002-10-17 | Otsuka Electronics Co., Ltd. | Apparatus for measuring characteristics of optical angle |
| US6149867A (en) | 1997-12-31 | 2000-11-21 | Xy, Inc. | Sheath fluids and collection systems for sex-specific cytometer sorting of sperm |
| US7208265B1 (en) | 1999-11-24 | 2007-04-24 | Xy, Inc. | Method of cryopreserving selected sperm cells |
| US7713687B2 (en) | 2000-11-29 | 2010-05-11 | Xy, Inc. | System to separate frozen-thawed spermatozoa into x-chromosome bearing and y-chromosome bearing populations |
| CA2468772C (en) | 2000-11-29 | 2013-10-29 | George E. Seidel | System to separate frozen-thawed spermatozoa into x-chromosome bearing and y-chromosome bearing populations |
| EP1545203B1 (en) | 2002-08-01 | 2016-10-19 | Xy, Llc | Low pressure sperm cell separation system |
| US8486618B2 (en) | 2002-08-01 | 2013-07-16 | Xy, Llc | Heterogeneous inseminate system |
| AU2003265471B2 (en) | 2002-08-15 | 2009-08-06 | Xy, Llc. | High resolution flow cytometer |
| US7169548B2 (en) | 2002-09-13 | 2007-01-30 | Xy, Inc. | Sperm cell processing and preservation systems |
| DK2305171T3 (da) | 2003-03-28 | 2022-03-21 | Inguran Llc | Apparat og fremgangsmåder til tilvejebringelse af kønssorteret dyresæd |
| DK1625203T3 (en) | 2003-05-15 | 2015-07-06 | Xy Llc | EFFECTIVE SEPARATION OF haploid cells FOR FLOWCYTOMETRISYSTEMER |
| BRPI0509485A (pt) | 2004-03-29 | 2007-09-11 | Monsanto Technology Llc | suspensões de esperma para uso em inseminação |
| MX2007000888A (es) | 2004-07-22 | 2007-04-02 | Monsanto Technology Llc | Procedimiento para enriquecer una poblacion de celulas de esperma. |
| DE102007031244B3 (de) * | 2007-07-05 | 2009-01-02 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Vorrichtung und Verfahren zur Durchführung statischer und dynamischer Streulichtmessungen in kleinen Volumina |
| US7631568B2 (en) | 2007-08-28 | 2009-12-15 | Quest Technologies | Particulate monitor |
| MX2011004164A (es) * | 2008-10-23 | 2011-06-24 | Mi Llc | Metodo y aparato para medir la distribucion del tamaño de la particula en un fluido de perforacion. |
| US9007580B2 (en) | 2011-04-11 | 2015-04-14 | Schlumberger Norge As | Method and apparatus for measuring particle size distribution in drilling fluid |
| FR2938649B1 (fr) | 2008-11-18 | 2012-03-30 | Centre Nat Rech Scient | Procede et systeme d'analyse de particules solides dans un milieu |
| TWI457715B (zh) * | 2008-12-27 | 2014-10-21 | Ushio Electric Inc | Light source device |
| US20110277679A1 (en) * | 2010-05-14 | 2011-11-17 | Access Business Group International Llc | Hand held particle sensor device |
| US9304117B2 (en) | 2011-10-26 | 2016-04-05 | Research Triangle Institute | Aerosol exposure monitoring |
| CN104359804B (zh) * | 2013-07-22 | 2017-10-17 | 南通大学 | 简洁、方便地检测微粒大小及形状的光学系统 |
| CN103364318B (zh) * | 2013-07-22 | 2015-09-23 | 南通大学 | 用旋转对称椭腔镜检测微粒大小及形状的光学系统 |
| GB201506335D0 (en) | 2015-04-14 | 2015-05-27 | Alphasense Ltd | Optical particle counter |
| JP2017116287A (ja) | 2015-12-21 | 2017-06-29 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 粒子検出センサ |
| US20180217044A1 (en) * | 2017-02-02 | 2018-08-02 | Honeywell International Inc. | Forward scatter in particulate matter sensor |
| CN112673247A (zh) * | 2018-07-10 | 2021-04-16 | 杰里特·扬·范登恩格 | 用于流式细胞术中的离轴照射的系统、设备以及方法 |
| US10935480B1 (en) * | 2018-09-26 | 2021-03-02 | Airviz Inc. | Optical-particle sensor head |
| GB202001397D0 (en) | 2020-01-31 | 2020-03-18 | Odx Innovations Ltd | Apparatus, system and method for measuring properties of a sample |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS549685A (en) * | 1977-06-23 | 1979-01-24 | Rion Co | Light scattering type fine particle measuring device |
| CA1136883A (en) * | 1979-01-02 | 1982-12-07 | Walter R. Hogg | Method and apparatus for measurement of reradiation in particle flow cell systems |
| US4341471A (en) * | 1979-01-02 | 1982-07-27 | Coulter Electronics, Inc. | Apparatus and method for measuring the distribution of radiant energy produced in particle investigating systems |
| US4286876A (en) * | 1979-01-02 | 1981-09-01 | Coulter Electronics, Inc. | Apparatus and method for measuring scattering of light in particle detection systems |
| US4200802A (en) * | 1979-03-28 | 1980-04-29 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Parabolic cell analyzer |
| FR2535051A1 (fr) * | 1982-10-22 | 1984-04-27 | Saint Etienne Universite | Appareil de mesure en flux continu des proprietes rheologiques individuelles de particules deformables |
| US4606636A (en) * | 1983-10-25 | 1986-08-19 | Universite De Saint-Etienne | Optical apparatus for identifying the individual multiparametric properties of particles or bodies in a continuous flow |
| JPS60190835A (ja) * | 1985-02-22 | 1985-09-28 | Hitachi Ltd | 微粒子検出器 |
-
1987
- 1987-11-10 GB GB878726305A patent/GB8726305D0/en active Pending
-
1988
- 1988-11-09 NZ NZ226896A patent/NZ226896A/xx unknown
- 1988-11-10 WO PCT/GB1988/000974 patent/WO1989004472A1/en active IP Right Grant
- 1988-11-10 ES ES198888310596T patent/ES2034259T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1988-11-10 PT PT88981A patent/PT88981B/pt active IP Right Grant
- 1988-11-10 EP EP88909599A patent/EP0386063A1/en active Pending
- 1988-11-10 DE DE8888310596T patent/DE3873269T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1988-11-10 JP JP63508857A patent/JP2771206B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1988-11-10 AT AT88310596T patent/ATE78923T1/de not_active IP Right Cessation
- 1988-11-10 EP EP88310596A patent/EP0316172B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-11-10 AU AU26266/88A patent/AU608667B2/en not_active Ceased
- 1988-11-10 US US07/476,397 patent/US5043591A/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-12-14 CA CA000585847A patent/CA1323996C/en not_active Expired - Fee Related
-
1990
- 1990-04-06 GB GB9007802A patent/GB2229526B/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-05-08 DK DK199001134A patent/DK174197B1/da not_active IP Right Cessation
- 1990-05-09 FI FI902326A patent/FI98662C/fi not_active IP Right Cessation
- 1990-05-10 NO NO902069A patent/NO300907B1/no unknown
-
1992
- 1992-09-07 GR GR920401946T patent/GR3005619T3/el unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| AU608667B2 (en) | 1991-04-11 |
| CA1323996C (en) | 1993-11-09 |
| JPH03500815A (ja) | 1991-02-21 |
| DK113490A (da) | 1990-05-08 |
| GB2229526B (en) | 1991-07-17 |
| NO902069L (no) | 1990-05-10 |
| DE3873269T2 (de) | 1993-03-11 |
| WO1989004472A1 (en) | 1989-05-18 |
| EP0316172A1 (en) | 1989-05-17 |
| GB8726305D0 (en) | 1987-12-16 |
| AU2626688A (en) | 1989-06-01 |
| ES2034259T3 (es) | 1993-04-01 |
| PT88981B (pt) | 1993-12-31 |
| GB2229526A (en) | 1990-09-26 |
| JP2771206B2 (ja) | 1998-07-02 |
| ATE78923T1 (de) | 1992-08-15 |
| DK174197B1 (da) | 2002-09-16 |
| EP0386063A1 (en) | 1990-09-12 |
| NO300907B1 (no) | 1997-08-11 |
| NO902069D0 (no) | 1990-05-10 |
| FI98662B (fi) | 1997-04-15 |
| PT88981A (pt) | 1989-09-14 |
| GR3005619T3 (fi) | 1993-06-07 |
| EP0316172B1 (en) | 1992-07-29 |
| US5043591A (en) | 1991-08-27 |
| FI902326A0 (fi) | 1990-05-09 |
| GB9007802D0 (en) | 1990-06-20 |
| DE3873269D1 (de) | 1992-09-03 |
| DK113490D0 (da) | 1990-05-08 |
| NZ226896A (en) | 1990-07-26 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| FI98662C (fi) | Kannettavat hiukkasanalysaattorit | |
| JP2862253B2 (ja) | 粒子の非対称性の分析装置 | |
| EP0316190A1 (en) | Bush | |
| US3989381A (en) | Optical chamber with spherical reflective portion and apparatus employing same | |
| JP3138278B2 (ja) | 粒子による光散乱を測定する装置 | |
| EP1063512B1 (en) | Method and apparatus for particle assessment using multiple scanning beam reflectance | |
| US3462608A (en) | Method and apparatus for detecting suspended particles | |
| GB2193570A (en) | Analyser for airborne particles | |
| US6005662A (en) | Apparatus and method for the measurement and separation of airborne fibers | |
| WO2000063673A1 (en) | Apparatus to detect shape, size and fluorescence of fluidborne particles | |
| KR0125916B1 (ko) | 휴대용 입자 분석기 | |
| GB2231951A (en) | Detection apparatus and methods | |
| CN215931597U (zh) | 一种激光扫描粒度仪装置 | |
| KR0125917B1 (ko) | 비대칭 입자 분석기 | |
| KR102634304B1 (ko) | 나노파티클 검출장치 | |
| US20030142311A1 (en) | Method and apparatus for measuring the size distribution and concentration of particles in a fluid | |
| JPS6093944A (ja) | 光散乱粒子測定装置 | |
| CA2239857A1 (en) | Device for measuring the concentration of airborne fibers | |
| JPH0498145A (ja) | 流体中の微粒子計数装置 | |
| Ludlow et al. | Portable Particle Analysers | |
| MINI et al. | Consolidated with 88909599.8/0386063 (European application No./publication No.) by decision dated 09.04. 91. | |
| JPH0612943U (ja) | 微粒子測定装置 | |
| GB2283316A (en) | Method and apparatus for detecting fibrous particles | |
| JPH08323841A (ja) | プラスチック押出機の異物検査装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| BB | Publication of examined application | ||
| FG | Patent granted |
Owner name: THE SECRETARY OF STATE FOR DEFENCE IN HER BRITANNI |
|
| MA | Patent expired |