FI98160B - Hiukkasten epäsymmetrian analysaattori - Google Patents

Hiukkasten epäsymmetrian analysaattori Download PDF

Info

Publication number
FI98160B
FI98160B FI902327A FI902327A FI98160B FI 98160 B FI98160 B FI 98160B FI 902327 A FI902327 A FI 902327A FI 902327 A FI902327 A FI 902327A FI 98160 B FI98160 B FI 98160B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
radiation
particles
collectors
particle
particle analyzer
Prior art date
Application number
FI902327A
Other languages
English (en)
Swedish (sv)
Other versions
FI98160C (fi
FI902327A0 (fi
Inventor
Ian Keith Ludlow
Paul Henry Kaye
Original Assignee
Secr Defence Brit
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Secr Defence Brit filed Critical Secr Defence Brit
Publication of FI902327A0 publication Critical patent/FI902327A0/fi
Application granted granted Critical
Publication of FI98160B publication Critical patent/FI98160B/fi
Publication of FI98160C publication Critical patent/FI98160C/fi

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume, or surface-area of porous materials
    • G01N15/10—Investigating individual particles
    • G01N15/14—Electro-optical investigation, e.g. flow cytometers
    • G01N15/1456—Electro-optical investigation, e.g. flow cytometers without spatial resolution of the texture or inner structure of the particle, e.g. processing of pulse signals
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume, or surface-area of porous materials
    • G01N15/10—Investigating individual particles
    • G01N15/14—Electro-optical investigation, e.g. flow cytometers
    • G01N15/1434—Electro-optical investigation, e.g. flow cytometers using an analyser being characterised by its optical arrangement
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume, or surface-area of porous materials
    • G01N15/02—Investigating particle size or size distribution
    • G01N15/0205—Investigating particle size or size distribution by optical means, e.g. by light scattering, diffraction, holography or imaging
    • G01N2015/0238—Single particle scatter
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume, or surface-area of porous materials
    • G01N15/10—Investigating individual particles
    • G01N15/14—Electro-optical investigation, e.g. flow cytometers
    • G01N15/1404—Fluid conditioning in flow cytometers, e.g. flow cells; Supply; Control of flow
    • G01N2015/1413—Hydrodynamic focussing
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume, or surface-area of porous materials
    • G01N15/10—Investigating individual particles
    • G01N15/14—Electro-optical investigation, e.g. flow cytometers
    • G01N2015/1497—Particle shape

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)
  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Description

mum
Hiukkasten epäsymmetrian analysaattori
Keksintö liittyy menetelmiin juoksevan aineen sisältämien 5 hiukkasten analysoimiseksi ja erityisesti sellaisten hiukkasten epäsymmetrian havaitsemiseksi. Tutkittaessa esimerkiksi aerosoleja, aerosolien dispersioita ja ilman sisältämän hiukkasmaisen saasteen valvonnassa vaaditaan hiuk-kaskokojakautuman nopeata määrit-ämistä erityisesti hal-1G kaisija-alueella 1-10 mikrometriä, sekä erillisten hiukkasten geometrian ja symmetrian jonkinasteista tuntemista. Viimeksimainitun tiedon avulla voitaisiin esimerkiksi tunnistaa pallosymmetrisiä hiukkasia ja siten laskea/valvoa pieniä nestepisaroita ympäristössä, joka sisältää muita 15 kiinteitä, ei-pallomaisia hiukkasia. Esillä olevan selityksen yhteydessä termi hiukkanen on tarkoitettu kattamaan sekä kiinteät kappaleet että nestepisarat.
On toivottavaa, että sellaisilla menetelmillä voitaisiin 20 laskea näytteessä olevia yksilöllisiä hiukkasia nopeuksilla, jotka ovat tyypillisesti 20 000 hiukkasta sekunnissa, ja että voitaisiin erottaa näytteessä olevat pallomaiset ja ei-pallomaiset hiukkaset sekä laskea molemmat tyypit. Toisena tavoiteltavana ominaisuutena on halkaisijaltaan 25 0,5-15 mikrometriä olevien pallomaisten hiukkasten luokit teleminen eri kokoalueisiin sekä tässä yhteydessä hiukkasten luokitteleminen "ei-pallomaisiksi", jolloin ne voidaan jättää huomiotta kokojakautumaa laskettaessa.
30 Useissa kaupallisisesti saatavissa mittalaitteissa tavanomaiset hiukkasten tarkastelumenetelmät käyttävät hiukkasten siroaman sähkömagneettisen säteilyn ilmaisua ja analyysia. Kaikissa sellaisissa mittalaitteissa käytetään mekaanista mekanismia ilmanäytteen pakottamiseksi "ilmaisu-35 tilavuuden" läpi, jossa mukana seuraavat hiukkaset valaistaan niihin kohdistetulla sähkömagneettisella säteilyllä. Hiukkasten siroama säteily vastaanotetaan yhdellä tai useammalla ilmaisimella, jotka muuttavat energian sähkö- 2 9816(11 signaaleiksi, joista voidaan saada informaatiota sopivilla sähköpiireillä.
Eräs kaupallisesti saatavien mittalaitteiden ryhmä sallii 5 sironneen säteilyn keräämisen samanaikaisesti suuresta hiukkasmäärästä, ja siinä tätä tietoa käytetään hiukkas-massan keskiarvon määrittämiseksi kaasun tai ilman tila-vuusyksikköä kohti. Nämä mittalaitteet eivät pysty tutkimaan yksilöllisiä hiukkasia, ja sen vuoksi ne eivät voi 10 tuottaa tarkkoja hiukkasten lukumääriä tai hiukkasten morfologiaan liittyvää tarkkaa tietoa.
Toisessa mittalaitteiden ryhmässä käytetään kaasujen lami-naarivirtauksen ominaisuuksia rajoittamaan hiukkaset pie-15 nempään ilmaisutilavuuteen ja sitten niillä, kohdistamalla sähkömagneettinen säteily jollakin tavalla, pystytään tutkimaan yksilöllisiä hiukkasia, ja tuottamaan hiukkasten lukumäärä ja mahdollisesti likimääräinen kokojakautuma.
2G Tekniikan tason mittalaitteet tuottavat siten, määrätyssä määrin, tietoa hiukkasten koosta ja lukumäärästä. Mitään mittalaitetta ei kuitenkaan ole saatavilla, joka pystyisi .J tuottamaan tietoa juoksevassa aineessa olevien erillisten hiukkasten epäsymmetriasta.
25 • ·
Julkaisussa GB-2 041 516 keräimet ovat prismojen tai Fres-nel-linssien muodossa, jotka poikkeuttavat niiden pintojen eri kohtiin osuvat yhdensuuntaiset valonsäteet eri suuntiin, joissa säteet ilmaistaan ilmaisimilla, jotka on jär- * 30 jestetty niiden ympärille. Kuhunkin detektoriin osuvan va-lon määrä riippuu siitä, kuinka valo on sironnut hiukkas-ten vaikutuksesta ja kuinka linssit ovat jakaneet sitä.
* · Tämän vuoksi tarvitaan hiukkasanalysaattoria, joka pystyy l 35 analysoimaan juoksevassa aineessa olevia yksilöllisiä : hiukkasia ja tuottamaan tietoa hiukkasten epäsymmetriasta, esimerkiksi määrittämällä yksilöllisille hiukkasille epä symmetriakerroin.
3
Keksinnön erään näkökohdan mukaisesti aikaansaadaan hiuk-kasanalysaattori käytettäväksi hiukkasten symmetria-asteen määrittämiseen, jossa on: välineet ilmassa olevien hiuk-kasaineiden näytteen tuottamiseksi laminaarivirtauksena; 5 välineet näytteen valaisemiseksi lasersäteellä; välineet yksittäisistä hiukkasista sironneen säteilyn suuntaamiseksi vähintään kolmeen ennalta määrättyyn taaksepäin olevaan suuntaan ja yhteen ennalta määrättyyn eteenpäin olevaan suuntaan kohti vastaavia säteilykeräimiä; kuhunkin keräi-10 meen liittyvät välineet niiden keräämän säteilyn ilmaisemiseksi; välineet detektoreilta saadun tiedon johtamiseksi kuvaamaan hiukkasia; ja välineet tiedon vertaamiseksi tunnetun muotoisista hiukkasista olevaan tietoon yksilöllisen hiukkassymmetrian asteen määrittämiseksi. Tunnusomaista 15 on, et^ä säteilykeräimien muotorakennetta voidaan haluttaessa muuttaa ennalta määrättyihin eri kulmiin sironneen säteilyn keräämisen mahdollistamiseksi.
Sironnut säteily heijastetaan koveralla heijastimella, 20 edullisesti ellipsoidipeilillä, joka suuntaa säteilyn kohti säteilyn kokoojia. Pienessä kulmassa sironnut säteily ilmaistaan toisessa kammiossa, johon on yhteys ellipsoidi-peilin aukosta, säteilyn kokoojilla, edullisesti valokui- • duilla, jotka on järjestetty samankeskeisesti siroamatto- f 25 man säteen ympärille. Koottu säteily muunnetaan sitten : sähkösignaaleiksi, käsitellään ja analysoidaan, ja vertaa- • maila tunnettujen hiukkasmuotojen tietoon hiukkasille mää- • . ritetään epäsymmetriakerroin.
30 Lisäksi voidaan epäsymmetriakertoimen lisäksi määrittää myös hiukkasen koko. Suurelle hiukkasjoukolle voidaan mää- » rittää epäsymmetriakerroin, ja tämän toiminnan kumulatii- » visia tuloksia kytkettynä kyseiseen kokojakautumaan voi-: täisiin käyttää ympäristön hiukkasten topografisen "sor- | 35 menjäljen" kehittämiseksi, joka saattaisi olla arvokkaampi kuin pelkästään erillisten hiukkasten tiedot.
Pallomaisuutta etsittäessä voidaan pallomaisten hiukkasten luokituskriteeri määritellä yksinkertaisesti symmetrisenä 4 y<y i«cyv sirontana satunnais- tai Jciertopolaroidun säteilyn kohdistuvan säteen akselin ympärille. Tämän johdosta sijoitetaan joukko säteilyn kokoojia säteissymmetrisesti koveran heijastimen heijastusakselin ympärille.
5
Epäsymmetria-astetta etsittäessä ei voida olettaa, että kokoojien järjestely olisi optimaalinen hiukkasten epäsymmetria-analyysia varten. Sirontakammion rakenteen tulee sallia erityisesti vaadittavien kokoojarakenteiden jousta-10 vuus sekä sijoitukset, joita haluttaessa voidaan muuttaa.
Tämän menetelmän etuna on, että valokuitu-kokoojaoptiikkaa käyttäen voidaan helposti simuloida vaikutusta, joka saadaan sijoittamalla lähes mikä tahansa määrä kokoojia mihin 15 tahansa kohtiin sirontapallon suurimmassa osassa, eli tehtävää, joka muutoin mekaanisesti olisi erittäin vaikea. Siten voidaan suurella joustavuudella kokeilla erilaisia ilmaisugeometrioita tarvitsematta tehdä mekaanisia muutoksia varsinaiseen kammioon.
20
Keksinnön toisen näkökohdan mukaisesti menetelmä hiukkasten symmetria-asteen määrittämiseksi käsittää vaiheet, joissa muodostetaan ilmassa olevien hiukkasaineiden näyte * laminaarivirtauksen muodossa; valaistaan näyte lasersä- • 25 teellä, heijastetaan yksittäisistä hiukkasista sironnut * säteily vähintään yhteen eteenpäin olevaan sirontakeräi- • * meen ja vähintään kolmeen taaksepäin olevaan sirontakeräi- meen ja ilmaistaan kunkin keräimen keräämä säteily; johdetaan tulos ilmaistusta hiukkasia kuvaavasta säteilytiedos-30 ta; ja verrataan tietoa tunnetun muotoisista hiukkasista olevaan tietoon hiukkassymmetrian asteen määrittämiseksi. Tunnusomaista on se, että säteilykeräimien muotorakennetta voidaan haluttaessa muuttaa eri kulmiin sironneen säteilyn keräämisen mahdollistamiseksi.
35 Näyte voi olla aerosolia.
Seuraavassa selitetään keksinnön kahta suoritusmuotoa pelkästään esimerkin muodossa ja viitaten oheisiin piirustuk- 5 siin, joissa: kuvio 1 on kaaviollinen sivukuvanto leikkauksena hiuk-kasanalysaattorista pallomaisten hiukkasten analysoimiseksi; 5 kuvio 2 on leikkaus kuvion 1 analysaattorista pitkin viivaa x - x; ja kuvio 3 on kaaviollinen sivukuvanto leikkauksena epäsymmetria- analyysi j ärj estelmästä.
10 Kuvio 1 havainnollistaa keksinnön perusmuotoa, jossa analysoidaan vain pallomaisia hiukkasia ja jossa parabolinen kovera heijastin 1 sijaitsee sirontakammion 2 toisessa päässä. Sirontakammion 2 toiseen päähän on asennettu linjaan heijastimen 1 pääakselin kanssa laser 3, joka suuntaa 15 säteilyn säteen 4 kohti heijastimessa 1 ja kammiossa 2, heijastimen pääakselilla olevaa reikää 5. Kun säde 4 on kulkenut reiän 5 läpi, se tulee säteilyn poistolaittee-seen, tyypillisesti Rayleigh-torveen.
20 Ilman laminaarivirtauksena tuleva näyte 7 johdetaan kammioon 2 niin, että se parabolisen heijastimen 1 polttopisteessä leikkaa lasersäteen 4 suorassa kulmassa.
Näytteessä 7 oleva hiukkanen heijastaa säteilyä säteestä 25 4 heijastimeen 1, joka heijastaa se pääakselin kanssa sa mansuuntaisena lähellä laseria 3 oleville säteilyn kokoojille 8. Säteilyn kokoojat 8 voivat olla fotomonistinyksi-köitä, valokuituja, jotka johtavat sellaisiin yksiköihin, tai linssejä valon suuntaamiseksi kuituihin tai yksiköi-30 hin.
Kuten kuviossa 2 esitetään on säteen 4 ympärille säteen suunnassa järjestetty kolme säteilyn kokoojaa 8. Sellaisessa järjestelyssä voidaan suunnata symmetristä sirontaa, 35 joka ilmaisee pallomaisia hiukkasia. Itse asiassa voidaan säteilyn säteen 4 ympärille järjestää säteen suunnassa kuinka monta säteilyn kokoojaa 8 tahansa.
Kuvio 3 esittää esillä olevan keksinnön mukaisen hiukkas-40 analysaattorin edullisen suoritusmuodon, jolla voidaan 6 96-160 * · analysoida yksilöllisiä hiukkasia ja määrittää niille epäsymmetriakerroin. Tässä suoritusmuodossa laser 3 on järjestetty kammion 2 alapuolelle ja 90° kulmaan heijastimen pääakselin suhteen. Säde 4 heijastetaan heijastimen 5 pääakselille prismalla tai peilillä 9, joka sopivasti on järjestetty akselille. Itse asiassa laser 3 voidaan järjestää lähes mihin tahansa sirontakammion 2 ympärille, kun akselille järjestetään peili 9 sopivaan kulmaan.
10 Kuvio 3 havainnollistaa myös miten sirontakammiossa 2 on ellipsoidiheijastin 10, jolloin säteen 4 ja näytteen 7 leikkauspiste on ellipsin toinen polttopiste, ja jolloin toisen polttopisteen lähelle on järjestetty kokoojalinssi 11 saattamaan heijastunee säteilyn samansuuntaisena kam-15 mion 2 päässä oleville säteilyn kokoojille 8. Tässä kohdassa säteilyn voimakkuusjakautuma edustaa tilan suhteen muunnettua kopiota siitä, jonka hiukkanen on sironnut likimain pallon 0,84 osaan. Kuviossa 1 havainnollistetaan juoksevan aineen näytteen syöttämistä laminaarivirtauksena 20 vaipassa olevan ilman sisäänoton 12 avulla, josta syötetään ilmakerros vakionopeudella.
Määrättyjä ongelmia kohdataan vangittaessa ja analysoitaessa pieneen kulmaan säteen 4 suuntaan sironnutta säteilyä. 25 Hyvin pienillä kulmilla (välillä 1° - 3°) se hukkuu säteen fokusointioptiikasta siroavaan valoon. Tämän voittamiseksi järjestetään pääsirontakammioon 2 toinen sirontakammio 13 samankeskeisesti koveran heijastimen 1 pääakselin kanssa. Tähän kammioon sijoitetaan sopivasti säteilyn kokoojia 8 30 pienen kulman heijastuksia.
Kuviossa 3 esitetään tämän johdosta toinen kammio 13, johon on järjestetty valokuituja 14 säteen 4 ympärille. Valokuidut 14 voidaan järjesteää samankeskeisiksi renkaiksi 35 säteen 4 ympärille. Kuidut 14 toimivat säteilyn kokoojina kootun säteilyn muuntamiseksi sähkösignaaleiksi käsittelyä ja analyysia varten.
7
Kuten kuviossa 1 esitetään, voi toisessa^ tnn_n—f5" teohtoisesti olla toinen kovera heijastin £^4, juJfc»' ‘^seeeiiiii listi olisi ellipsoidin muotoinen, ja joesta 4 ja näytteen 7 välinen leikkauspiste toi.%ea^s»aL· 3P**-4 -S^aä* 5 teessään ja säteilyn kokooja 15 toises»^-^ «XS. olevassa polttopisteessään. Siten pienes%$j^i jastunut säteily osuu ellipsoidihei jastimeeesn Jaa. 3Β***βιΙ!βΒ1,>1·** kohti säteilyn kokoojaa 15.
10 Säteilyn kokooja 15 voidaan sijoittaa enat£)Mi||»3£a£R£feL· ^·**·|ΐ aukkoa 5 kohti, tai se voidaan sijoittaa )oei££m^0*0E==r~2M· suuntaan nähden, kuten kuviossa 1 r~n tefri/iffili mainittu järjestely kokoaisi suhteessa ^arr-r-^a heijastuskulman säteilyä, mutta kaiken ka^kä^QeAjNBks. ''·ΒΒ4·«ι&ββ 15 säteilyä, koska ainoastaan kokoojan etupxetfes%aai -τ tautuvat heijastukset tallettuisivat.
Kuviossa 1 havainnollistetaan miten käytön ^ttilrrmamL 7 syötetään laminaarivirtauksena ti H rrnt^uiu> \ f—tn 20 tetun ilman vaipan avulla, jota syötetään __ rille. Siten näytteen ulommat osat ^ nopeudella kuin sisemmät osat. Näytteen virtaisivat muutoin hitaammin, johtuen nayt^yji la paikallaan pysyvän ilman kitkasta. LiaS&a^sx 25 pänä, ilmavaippaa syöttävä samankeskeinea.
niteltu kohdistamaan näytteessä ·ΐ|_ι_ dynaamisesti, niin että muodostuu hiukkast*^^ lasasÖErn^m^---taus. Siten hiukkasvirtaus helpommin vo>kfe^f«i»· heijastimen polttopisteeseen.
30
Hiukkasten epäsymmetria-analysaattori 4— tavalla. Kaasulaserin tuottama lasersäde^ suorassa kulmassa heijastimen akseliin nähd^sgn 90°:ssa pitkin heijastimen pääakselia. Ykax-lc^^i ^ 35 kasten siroama säteily välillä noin 19^ —_ akseliin nähden heijastuu siten as£äärisol^^e ^ ^ ^ '· sille kammion takaosassa. Tämä linssi 8
AthlWin " . SBIBPi valon samansuuntaiseksi, ja tämän lähtöikkunan yli vaikuttava voimakkuuden jakautuma vastaa tilan suhteen muunnettua kopiota siitä, jonka hiukkanen on sironnut likimain pallon 0,84 osaan.
5
Kun koottu valo on edellä mainitussa muodossa, voidaan valon jakautuman mittaamiseen käytettyjen valokuitujen asemaa muuttaa haluttaessa.
10 Hiukkasten pallomaisuuden määrittämiseksi ilmaisimet sijoitettaisiin symmetrisesti lähtöikkuna akselin ympärille.
Tällä tavalla voidaan valokuituja käyttäen helposti simuloida vaikutusta, joka saadaan sijoittamalla lähes kuinka 15 monta ilmaisinta tahansa mihin tahansa kohtiin suurimmassa osassa koko sirontapaIloa.
Tunnettujen kuviomuotojen teoreettisten mallien tulosten ja kokeellisten tulosten perusteella käytetään algoritmeja 20 epäsymmetriakertoimien määrittämiseksi hiukkasille.
Hiukkastietoja voitaisiin käsitellä niiden epäsymmetrian määrittämistä varten transputerilla, kuten esim. brittiläisten Inmos-sirujen valmistajien tuottamalla.
25
Jokaista ilmaisinkanävaa varten käytetään yhtä transpute-ria. Tällä tavalla tähän saakka sarjamuodossa suoritetut tehtävät kanavilta tulevan tiedon osalta voitaisiin suorittaa samanaikaisesti, jolloin saadaan merkittävä kasvu 30 tiedon käsittelytehossa.
Vaikka tätä keksintöä on selitetty esimerkin avulla ja viitaten sen mahdollisiin suoritusmuotoihin, on ymmärrettävä että muunnelmia ja parannuksia voidaan tehdä poik-35 keamatta keksinnön suoja-alalta, kuten se määritellään oheisissa patenttivaatimuksissa.

Claims (15)

1. Hiukkasanalysaattori käytettäväksi hiukkasten symmetria-asteen määrittämiseen, jossa on: välineet ilmassa olevien hiukkasaineiden näytteen (7) tuottamiseksi laminaari-5 virtauksena; välineet näytteen valaisemiseksi lasersäteellä (4); välineet yksittäisistä hiukkasista sironneen säteilyn suuntaamiseksi vähintään kolmeen ennalta määrättyyn taaksepäin olevaan suuntaan ja yhteen ennalta määrättyyn eteenpäin olevaan suuntaan kohti vastaavia säteilykeräimiä 10 (8, 15); kuhunkin keräimeen liittyvät välineet niiden ke räämän säteilyn ilmaisemiseksi; välineet detektoreilta saadun tiedon johtamiseksi (SI, S2) kuvaamaan hiukkasia; ja välineet tiedon vertaamiseksi tunnetun muotoisista hiukkasista olevaan tietoon yksilöllisen hiukkassymmetrian 15 asteen määrittämiseksi, tunnettu siitä, että säteilykeräi-mien muotorakennetta voidaan haluttaessa muuttaa ennalta määrättyihin eri kulmiin sironneen säteilyn keräämisen mahdollistamiseksi.
2. Patenttivaatimuks'i 1 mukainen hiukkasanalysaattori, tunnettu siitä, että lasersäde (4) on satunnais- tai kier-topolaroitu.
3. Patenttivaatimuksen l tai 2 mukainen hiukkasanaly-25 saattori, tunnettu siitä, että yhdessä muotorakenteessa säteilykeräimet (8, 15) voidaan sijoittaa säteittäin symmetrisesti lasersäteen (4) määrittämän keskiakselin ympärille.
4. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen hiuk kasanalysaattori, tunnettu siitä, että väline säteilyn suuntaamiseksi on kovera heijastin (1, 10).
5. Patenttivaatimuksen 4 mukainen hiukkasanalysaattori, 35 tunnettu siitä, että kovera heijastin on ellipsoidiheijas-tin. mm
6. Patenttivaatimuksen 4 tai 5 mukainen hiukkasanaly-saattori, tunnettu siitä, että keskiakseli on koveran heijastimen (1, 10) heijastusakseli.
7. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen hiuk- kasanalysaattori, tunnettu siitä, että ilmaisimet ovat valomonistimia.
8. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen hiuk-10 kasanalysaattori, tunnettu siitä, että keräimet ovat valokuituja (14) .
9. Menetelmä hiukkasten symmetria-asteen määrittämiseksi, menetelmän käsittäessä vaiheet: 15. muodostetaan ilmassa olevien hiukkasaineiden näyte (7) laminaarivirtauksen muodossa; - valaistaan näyte lasersäteellä (4) , heijastetaan yksittäisistä hiukkasista sironnut säteily vähintään yhteen eteenpäin olevaan sirontakeräimeen (14, 15) ja vähintään 20 kolmeen taaksepäin olevaan sirontakeräimeen (8) ja ilmaistaan kunkin keräimen keräämä säteily; - johdetaan tulos ilmaistusta hiukkasia kuvaavasta säteily tiedosta; ja - verrataan tietoa tunnetun muotoisista hiukkasista ole-25 vaan tietoon hiukkassymmetrian asteen määrittämiseksi, tunnettu siitä, että säteilykeräimien muotorakennetta voidaan haluttaessa muuttaa eri kulmiin sironneen säteilyn keräämisen mahdollistamiseksi.
10. Patenttivaatimuksen 9 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että lasersäde (4) on satunnais- tai kiertopolaroi-tua.
11. Patenttivaatimuksen 9 tai 10 mukainen menetelmä, tun-35 nettu siitä, että yksittäisten hiukkasten sirottama säteily heijastetaan koveralla heijastimella (1, 10) kohti va-lonkerääjiä. vötöo
12. Patenttivaatimuksen 11 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että koveralla heijastimella on ellipsoidin muotoinen sisäpinta.
13. Patenttivaatimuksen 11 tai 12 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että taaksepäin olevat sirontakeräimet (8) on sijoitettu säteittäin symmetrisesti heijastimen {1, 10) he.ijastusakselin ympärille.
14. Jonkin patenttivaatimuksista 9-13 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että ilmaisimet ovat valomonistimia.
15. Jonkin patenttivaatimuksista 9-14 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että keräimet ovat optisia kuituja (14). 15
FI902327A 1987-11-10 1990-05-09 Hiukkasten epäsymmetrian analysaattori FI98160C (fi)

Applications Claiming Priority (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB878726304A GB8726304D0 (en) 1987-11-10 1987-11-10 Particle asymmetry analyser
GB8726304 1987-11-10
GB8800975 1988-11-10
PCT/GB1988/000975 WO1989004471A1 (en) 1987-11-10 1988-11-10 Particle asymmetry analyser
CA585846 1988-12-14
CA000585846A CA1323995C (en) 1987-11-10 1988-12-14 Particle asymmetry analyser

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI902327A0 FI902327A0 (fi) 1990-05-09
FI98160B true FI98160B (fi) 1997-01-15
FI98160C FI98160C (fi) 1997-04-25

Family

ID=25672303

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI902327A FI98160C (fi) 1987-11-10 1990-05-09 Hiukkasten epäsymmetrian analysaattori

Country Status (16)

Country Link
US (1) US5089714A (fi)
EP (2) EP0389512A1 (fi)
JP (1) JP2862253B2 (fi)
AT (1) ATE81203T1 (fi)
AU (1) AU612205B2 (fi)
CA (1) CA1323995C (fi)
DE (1) DE3875069T2 (fi)
DK (1) DK174059B1 (fi)
ES (1) ES2035318T3 (fi)
FI (1) FI98160C (fi)
GB (2) GB8726304D0 (fi)
GR (1) GR3006253T3 (fi)
NO (1) NO301671B1 (fi)
NZ (1) NZ226895A (fi)
PT (1) PT88980B (fi)
WO (1) WO1989004471A1 (fi)

Families Citing this family (43)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2264556A (en) * 1992-02-21 1993-09-01 Hatfield Polytechnic Higher Ed Diffraction analysis of particle size, shape and orientation
CA2130343C (en) * 1992-02-21 2003-02-11 The Secretary Of State For Defence In Her Britannic Majesty's Government Of The United Kingdom Of Great Britain And Northern Ireland Analysis of particle characteristics
NL9301446A (nl) * 1993-08-20 1995-03-16 Univ Delft Tech Werkwijze en inrichting voor het meten van vormeigenschappen van deeltjes.
US6049381A (en) * 1993-10-29 2000-04-11 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Real time suspended particle monitor
RU2205382C2 (ru) 1995-04-06 2003-05-27 Альфа Лаваль Агри Аб Способ и устройство для количественного определения частиц в жидких средах
US5767967A (en) * 1997-01-02 1998-06-16 Yufa; Aleksandr L. Method and device for precise counting and measuring the particulates and small bodies
CA2279574C (en) 1997-01-31 2007-07-24 The Horticulture & Food Research Institute Of New Zealand Ltd. Optical apparatus
US6731100B1 (en) 1997-05-05 2004-05-04 Chemometec A/S Method and a system for determination of somatic cells in milk
EP1935983B1 (en) 1997-05-05 2011-06-22 ChemoMetec A/S Method for determination of biological particles in blood
US6149867A (en) * 1997-12-31 2000-11-21 Xy, Inc. Sheath fluids and collection systems for sex-specific cytometer sorting of sperm
US6071689A (en) * 1997-12-31 2000-06-06 Xy, Inc. System for improving yield of sexed embryos in mammals
US7208265B1 (en) * 1999-11-24 2007-04-24 Xy, Inc. Method of cryopreserving selected sperm cells
US6184990B1 (en) * 1999-12-22 2001-02-06 Beckman Coulter, Inc. Miniature multiple wavelength excitation and emission optical system and method for laser-induced fluorescence detectors in capillary electrophoresis
US6721049B1 (en) * 2000-03-22 2004-04-13 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Device for efficient light collection from a sample
US20040031071A1 (en) * 2000-10-05 2004-02-12 Xy, Inc. System of hysteroscopic insemination of mares
WO2002043486A1 (en) 2000-11-29 2002-06-06 Xy, Inc. System for in-vitro fertilization with spermatozoa separated into x-chromosome and y-chromosome bearing populations
US7713687B2 (en) * 2000-11-29 2010-05-11 Xy, Inc. System to separate frozen-thawed spermatozoa into x-chromosome bearing and y-chromosome bearing populations
US7260483B2 (en) * 2001-10-25 2007-08-21 The Regents Of The University Of California Real-time detection method and system for identifying individual aerosol particles
US6784988B2 (en) * 2002-07-17 2004-08-31 Hamilton Associates, Inc. Apparatus and process for analyzing a stream of fluid
MXPA05000865A (es) * 2002-07-22 2005-04-28 Xy Inc Sistema para el proceso de celulas espermaticas.
US8486618B2 (en) 2002-08-01 2013-07-16 Xy, Llc Heterogeneous inseminate system
MXPA05001100A (es) * 2002-08-01 2005-04-28 Xy Inc Sistema de separacion de baja presion para celulas de esperma.
MXPA05001654A (es) 2002-08-15 2005-10-18 Xy Inc Citometro de flujo de alta resolucion.
US7169548B2 (en) 2002-09-13 2007-01-30 Xy, Inc. Sperm cell processing and preservation systems
MX347048B (es) 2003-03-28 2017-04-07 Inguran Llc * Aparato de muestreo digital y métodos para separar partículas.
WO2004091535A2 (en) * 2003-04-11 2004-10-28 Barr Laboratories, Inc. Methods of administering estrogens and progestins
ES2541121T3 (es) 2003-05-15 2015-07-16 Xy, Llc Clasificación eficiente de células haploides por sistemas de citometría de flujo
CA2561661C (en) 2004-03-29 2015-11-24 Monsanto Technology Llc Sperm suspensions for sorting into x or y chromosome-bearing enriched populations
KR100600923B1 (ko) * 2004-03-31 2006-07-13 주식회사 디지탈바이오테크놀러지 광학부를 구비한 미세입자 분석 장치
AR049732A1 (es) 2004-07-22 2006-08-30 Monsanto Co Proceso para enriquecer una poblacion de celulas de esperma
GB2422897A (en) * 2005-02-02 2006-08-09 Pcme Ltd A monitor for monitoring particles flowing in a stack
US7932490B2 (en) * 2007-08-07 2011-04-26 Tsi, Inc. Size segregated aerosol mass concentration measurement device
US8047055B2 (en) 2007-08-08 2011-11-01 Tsi, Incorporated Size segregated aerosol mass concentration measurement with inlet conditioners and multiple detectors
US7631568B2 (en) * 2007-08-28 2009-12-15 Quest Technologies Particulate monitor
US8427641B2 (en) * 2008-12-18 2013-04-23 Azbil BioVigilant, Inc. Compact detector for simultaneous particle size and fluorescence detection
US8589851B2 (en) * 2009-12-15 2013-11-19 Memoir Systems, Inc. Intelligent memory system compiler
CN103492585A (zh) * 2011-04-06 2014-01-01 即时生物检测有限公司 微生物检测装置和方法
CN104931471A (zh) * 2015-06-08 2015-09-23 北京大学 大气活性自由基的激光诱导荧光检测系统
US10151682B2 (en) * 2015-07-14 2018-12-11 Teilch Llc Airborne particle measuring device
JP2017116287A (ja) 2015-12-21 2017-06-29 パナソニックＩｐマネジメント株式会社 粒子検出センサ
JP6602211B2 (ja) * 2016-01-22 2019-11-06 株式会社堀場製作所 粒子分析装置、粒子分析方法及び粒子分析プログラム
US10935480B1 (en) * 2018-09-26 2021-03-02 Airviz Inc. Optical-particle sensor head
WO2023139741A1 (ja) * 2022-01-21 2023-07-27 株式会社日立ハイテク 粒子計測装置

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3431423A (en) * 1965-09-27 1969-03-04 Bausch & Lomb Forward scatter photometer
US3457407A (en) * 1966-07-27 1969-07-22 Us Navy Apparatus for quantitatively detecting foreign particles present in atmospheric air
US3781552A (en) * 1972-08-02 1973-12-25 K Kadrmas Self-calibrating multiple field of view telescope for remote atmospheric electromagnetic probing and data acquisition
US4251733A (en) * 1978-06-29 1981-02-17 Hirleman Jr Edwin D Technique for simultaneous particle size and velocity measurement
DE3000033A1 (de) * 1979-01-02 1980-07-31 Coulter Electronics Verfahren und vorrichtung zum messen der richtungsverteilung der von einem teilchen zurueckgestrahlten strahlungsenergie zur teilchencharakterisierung
US4523841A (en) * 1979-03-15 1985-06-18 Coulter Electronics, Inc. Radiant energy reradiating flow cell system and method
US4273443A (en) * 1979-11-21 1981-06-16 Coulter Electronics, Inc. Method and apparatus for measurement of reradiation in particle flow cell systems
US4422761A (en) * 1981-09-28 1983-12-27 Frommer Joseph C Photo-electric particle sensing system
FR2535051A1 (fr) * 1982-10-22 1984-04-27 Saint Etienne Universite Appareil de mesure en flux continu des proprietes rheologiques individuelles de particules deformables
US4606636A (en) 1983-10-25 1986-08-19 Universite De Saint-Etienne Optical apparatus for identifying the individual multiparametric properties of particles or bodies in a continuous flow
JPS60190835A (ja) * 1985-02-22 1985-09-28 Hitachi Ltd 微粒子検出器
US4890920A (en) * 1986-02-12 1990-01-02 Combustion Engineering, Inc. In situ particle size measuring device
US4850707A (en) * 1986-06-06 1989-07-25 Massachusetts Institute Of Technology Optical pulse particle size analyzer

Also Published As

Publication number Publication date
GR3006253T3 (fi) 1993-06-21
CA1323995C (en) 1993-11-09
JP2862253B2 (ja) 1999-03-03
EP0316171A1 (en) 1989-05-17
NZ226895A (en) 1990-07-26
EP0316171B1 (en) 1992-09-30
ES2035318T3 (es) 1993-04-16
US5089714A (en) 1992-02-18
DK174059B1 (da) 2002-05-13
DE3875069D1 (de) 1992-11-05
AU2626288A (en) 1989-06-01
GB2229527B (en) 1991-10-16
AU612205B2 (en) 1991-07-04
NO301671B1 (no) 1997-11-24
FI98160C (fi) 1997-04-25
DE3875069T2 (de) 1993-03-25
JPH03500816A (ja) 1991-02-21
DK113390A (da) 1990-05-08
FI902327A0 (fi) 1990-05-09
GB8726304D0 (en) 1987-12-16
NO902068D0 (no) 1990-05-10
WO1989004471A1 (en) 1989-05-18
EP0389512A1 (en) 1990-10-03
GB9007803D0 (en) 1990-06-20
GB2229527A (en) 1990-09-26
PT88980A (pt) 1989-09-14
ATE81203T1 (de) 1992-10-15
PT88980B (pt) 1995-03-01
DK113390D0 (da) 1990-05-08
NO902068L (no) 1990-05-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI98160B (fi) Hiukkasten epäsymmetrian analysaattori
FI98662C (fi) Kannettavat hiukkasanalysaattorit
EP0316190A1 (en) Bush
US5471299A (en) Apparatus and method for the analysis of particle characteristics using monotonically scattered light
JP2825644B2 (ja) 粒子寸法分析方法および装置
US4737648A (en) Apparatus for detecting fibrous particle sizes by detecting scattered light at different angles
JP2001033384A (ja) 多走査ビーム反射率を用いる粒子評価のための方法および装置
WO1991002236A1 (en) Multiport parallel flow particle sensor
JP2001500247A (ja) 流体媒体中に浮遊した粒子を実時間で特徴付けする方法および装置
GB2125181A (en) Flow cells for particle study
CN114279920A (zh) 激光颗粒物传感器
WO2000063673A1 (en) Apparatus to detect shape, size and fluorescence of fluidborne particles
GB2264556A (en) Diffraction analysis of particle size, shape and orientation
US7139075B2 (en) Method and apparatus for measuring the size distribution and concentration of particles in a fluid
KR0125917B1 (ko) 비대칭 입자 분석기
KR0125916B1 (ko) 휴대용 입자 분석기
CN209911182U (zh) 基于光散射原理的空气总悬浮颗粒物浓度测量装置
CA2413343A1 (en) Method and apparatus for testing optical components
Kaye et al. Apparatus and Method for the Analysis of Particle Characteristics using Monotonically Scattered light.

Legal Events

Date Code Title Description
BB Publication of examined application
FG Patent granted

Owner name: THE SECRETARY OF STATE FOR DEFENCE IN HER BRITANNI

MA Patent expired