FI68910C - Foerfarande foer optisk maetning av laongstraeckta stycken - Google Patents

Foerfarande foer optisk maetning av laongstraeckta stycken Download PDF

Info

Publication number
FI68910C
FI68910C FI840174A FI840174A FI68910C FI 68910 C FI68910 C FI 68910C FI 840174 A FI840174 A FI 840174A FI 840174 A FI840174 A FI 840174A FI 68910 C FI68910 C FI 68910C
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
camera
optics
image
mirror
measuring
Prior art date
Application number
FI840174A
Other languages
English (en)
Finnish (fi)
Other versions
FI68910B (fi
FI840174A (fi
FI840174A0 (fi
Inventor
Kimmo Koskenohi
Original Assignee
Kimmo Koskenohi
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kimmo Koskenohi filed Critical Kimmo Koskenohi
Priority to FI840174A priority Critical patent/FI68910C/fi
Publication of FI840174A0 publication Critical patent/FI840174A0/fi
Priority to NO850032A priority patent/NO168271C/no
Priority to US06/689,685 priority patent/US4770537A/en
Priority to DE19853500815 priority patent/DE3500815A1/de
Priority to SE8500204A priority patent/SE456366B/sv
Priority to CA000472237A priority patent/CA1238485A/en
Publication of FI840174A publication Critical patent/FI840174A/fi
Application granted granted Critical
Publication of FI68910B publication Critical patent/FI68910B/fi
Publication of FI68910C publication Critical patent/FI68910C/fi

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/024—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of diode-array scanning

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Claims (3)

1. Anordning för optisk mätning av langsträckta stycken (1), omfa11 ande 5. ett mätunderlag (2) eller liknande för det stycke (1) som skall mätäs, - en kamera (3) eller liknande för fotografering av nämnda stycke (1), - bildbehandlingsanordningar (4), som är koppi ade tili 10 kameran (3), för bearbetning av bildinformationen fran kameran (3) tili styrdata, och - en spegel (5) belägen p a ett avstand fran roätunder-lagets (2) pian och avsedd för reflektering av hiiden av stycket (1) tili kamerans (3) optik (6), var- 15 vid spegelns (5) reflektionsyta uppvisar en olika stor krökning i längd- och tvärriktning sa att den bild av stycket (1), som reflekterats tili kamerans (1) optik (6), är i längdriktning förminskad i för-hallande tili tvärriktning, 20 kännetecknad därav, att tili kamerans (3) optik (6) är en spaltskiva (10) ansluten, vilken uppvisar en smal spa1t1iknande öppning (7), som är sä utbildad, att de kompo-nenter av ljusstralen, som avbildar längden för det stycke som skall mätäs, kan passera optiken (6) endast pa ett omra- 25 de som motsvarar bredden av öppningen (7), medan de korapo- menter av ljusstralen som avbildar bredden för nämnda stycke (1) kan passera optiken (6) pa ett omrade som motsvarar hela längden av öppningen (7). 30
2 . Anordning enligt patentkravet 1, väri underlaget (2) är horisontellt beläget, kännetecknad därav, att den spaltformade öppningen (7) är vagrät och transversell i förhallande tili längdriktningen för det stycke (1) som ska 11 mätäs.
3. Anordning enligt patentkravet 1, kännetecknad därav, att spaltskivan (10) är anordnad utanför kamerans (3) optik (6 ) . 35
FI840174A 1984-01-17 1984-01-17 Foerfarande foer optisk maetning av laongstraeckta stycken FI68910C (fi)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI840174A FI68910C (fi) 1984-01-17 1984-01-17 Foerfarande foer optisk maetning av laongstraeckta stycken
NO850032A NO168271C (no) 1984-01-17 1985-01-04 Anordning for optisk maaling av langstrakte gjenstander.
US06/689,685 US4770537A (en) 1984-01-17 1985-01-08 Apparatus for optical measurement of the shape of oblong objects
DE19853500815 DE3500815A1 (de) 1984-01-17 1985-01-11 Vorrichtung zur optischen messung der form von langgestreckten gegenstaenden
SE8500204A SE456366B (sv) 1984-01-17 1985-01-16 Anordning for optisk metning av langstreckta foremal
CA000472237A CA1238485A (en) 1984-01-17 1985-01-16 Apparatus for optical measurement of the shape of oblong objects

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI840174 1984-01-17
FI840174A FI68910C (fi) 1984-01-17 1984-01-17 Foerfarande foer optisk maetning av laongstraeckta stycken

Publications (4)

Publication Number Publication Date
FI840174A0 FI840174A0 (fi) 1984-01-17
FI840174A FI840174A (fi) 1985-07-18
FI68910B FI68910B (fi) 1985-07-31
FI68910C true FI68910C (fi) 1986-11-25

Family

ID=8518383

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI840174A FI68910C (fi) 1984-01-17 1984-01-17 Foerfarande foer optisk maetning av laongstraeckta stycken

Country Status (6)

Country Link
US (1) US4770537A (sv)
CA (1) CA1238485A (sv)
DE (1) DE3500815A1 (sv)
FI (1) FI68910C (sv)
NO (1) NO168271C (sv)
SE (1) SE456366B (sv)

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2542653B2 (ja) * 1987-12-10 1996-10-09 ファナック株式会社 非接触倣い方法
DE3805455A1 (de) * 1988-02-22 1989-08-31 Linck Masch Gatterlinck Vorrichtung zum fotoelektrischen abtasten und/oder vermessen von holzerzeugnissen
SE467147B (sv) * 1990-08-27 1992-06-01 Soederhamns Verkstaeder Ab Foerfarande och anlaeggning foer positionering av stockar i samband med formning av stamblock
NO178909C (no) * 1993-04-19 1996-06-26 Toni Rydningen Måleanordning
NO180316C (no) * 1993-04-19 1997-04-09 Toni Rydningen Anordning for dimensjonsmåling
FI95078C (sv) * 1993-11-17 1995-12-11 Cimmon Oy Förfarande och anordning för optisk mätning av långsträckta stycken
DE19634881C1 (de) * 1996-08-29 1998-02-12 Basler Gmbh Optische Prüfvorrichtung
DE19705047A1 (de) * 1997-02-03 1998-08-06 Buerger Joachim Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Profiltiefe eines Kraftfahrzeugreifens
FI114743B (sv) 1999-09-28 2004-12-15 Ekspansio Engineering Ltd Oy Apparatur och förfarande fungerande på telecentrisk princip
IT1315680B1 (it) * 2000-10-13 2003-03-14 Expert System Solutions Srl Apparecchiatura per misurare variazioni dimensionali indotte su corpida variazioni di temperatura
CA2545787C (en) 2005-05-05 2009-07-14 Centre De Recherche Industrielle Du Quebec System and method of monitoring the quality of cutting
FI122331B (sv) * 2006-06-30 2011-12-15 Teknosavo Oy Förfarande för mätning av träets volym och kvalitetskontroll
EP4227673A1 (en) 2022-01-27 2023-08-16 Finnos Oy Apparatus for capturing images of elongated timber

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4021119A (en) * 1975-06-24 1977-05-03 Honeywell Inc. Position gauge
SE404964B (sv) * 1977-03-22 1978-11-06 Sarlos Seppo Edvard Anordning for detektering av stralning fran ett foremal for faststellande av avvikelser eller fel hos en yta av detsamma
SE414543C (sv) * 1978-11-10 1982-09-23 Kockums Automation Forfarande vid metverdesuttagning for faststellande av ett forbestemt diameter- och/eller krokningsverde hos ett langstreckt foremal sasom en virkesstock eller dylikt samt anordning for genomforande av forfarandet
US4351437A (en) * 1980-01-18 1982-09-28 Lockwood Graders (Uk) Limited Method and apparatus for examining objects
JPS5822903A (ja) * 1981-08-04 1983-02-10 Sumitomo Metal Ind Ltd 板材の圧延監視装置

Also Published As

Publication number Publication date
NO850032L (no) 1985-07-18
NO168271B (no) 1991-10-21
FI68910B (fi) 1985-07-31
DE3500815A1 (de) 1985-07-18
DE3500815C2 (sv) 1990-02-15
NO168271C (no) 1992-01-29
SE8500204L (sv) 1985-07-18
CA1238485A (en) 1988-06-28
US4770537A (en) 1988-09-13
FI840174A (fi) 1985-07-18
FI840174A0 (fi) 1984-01-17
SE456366B (sv) 1988-09-26
SE8500204D0 (sv) 1985-01-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI68910C (fi) Foerfarande foer optisk maetning av laongstraeckta stycken
KR100615576B1 (ko) 3차원형상 측정장치
US5371951A (en) Two-axis inclinometer
US6088106A (en) Method for the contact-free measurement of the distance of an object according to the principle of laser triangulation
US4861982A (en) Scanning optical microscope with position detection grating
AU2005243045B2 (en) Optical inspection of surfaces open to different directions in a piece of material
KR920003456A (ko) 마스크패턴 투영 장치
CN1459019A (zh) 位置测量装置
US5189493A (en) Moire contouring camera
US6556307B1 (en) Method and apparatus for inputting three-dimensional data
EP1636544A2 (de) Optischer neigungsmesser
KR100295477B1 (ko) 물체의치수를측정하는장치
USRE35350E (en) Method and apparatus for measuring surface distances from a reference plane
US5383025A (en) Optical surface flatness measurement apparatus
JPS63113518A (ja) 光センサ装置および外観検査装置
GB2343944A (en) Multi-axis clinometer for measuring gradients and gradient changes
US4942483A (en) Multi-chip type contact image sensor
US3347130A (en) Optical measuring instruments
FI95078B (sv) Förfarande och anordning för optisk mätning av långsträckta stycken
JPH03218442A (ja) 示差屈折率計
JPS57118105A (en) Detector
RU1464676C (ru) Способ измерени атмосферной рефракции
JPH0411422Y2 (sv)
US4895437A (en) Illumination method and apparatus
JPH071161B2 (ja) 二次元的な対象物を整向、検査及び／または測定するための方法及び装置

Legal Events

Date Code Title Description
MM Patent lapsed

Owner name: KOSKENOHI, KIMMO