FI68910B - Foerfarande foer optisk maetning av laongstraeckta stycken - Google Patents

Foerfarande foer optisk maetning av laongstraeckta stycken Download PDF

Info

Publication number
FI68910B
FI68910B FI840174A FI840174A FI68910B FI 68910 B FI68910 B FI 68910B FI 840174 A FI840174 A FI 840174A FI 840174 A FI840174 A FI 840174A FI 68910 B FI68910 B FI 68910B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
camera
optics
image
mirror
measuring
Prior art date
Application number
FI840174A
Other languages
English (en)
Other versions
FI68910C (fi
FI840174A (fi
FI840174A0 (fi
Inventor
Kimmo Koskenohi
Original Assignee
Kimmo Koskenohi
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kimmo Koskenohi filed Critical Kimmo Koskenohi
Priority to FI840174A priority Critical patent/FI68910C/fi
Publication of FI840174A0 publication Critical patent/FI840174A0/fi
Priority to NO850032A priority patent/NO168271C/no
Priority to US06/689,685 priority patent/US4770537A/en
Priority to DE19853500815 priority patent/DE3500815A1/de
Priority to SE8500204A priority patent/SE456366B/sv
Priority to CA000472237A priority patent/CA1238485A/en
Publication of FI840174A publication Critical patent/FI840174A/fi
Application granted granted Critical
Publication of FI68910B publication Critical patent/FI68910B/fi
Publication of FI68910C publication Critical patent/FI68910C/fi

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/024Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of diode-array scanning

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

6391 O
Laitteisto pitkänomaisten kappaleiden muodon optiseksi mitta amiseksi Tämän keksinnön kohteena on patenttivaatimuksen 1 johdannon 5 mukainen laitteisto pitkänomaisten kappaleiden muodon optiseksi mittaamiseksi.
Mitattaessa optisesti pitkänomaisten kappaleiden, esim. lautojen, muotoa on vaikeutena se geometrinen tosiseikka, että 10 mitattavien kappaleiden muoto olennaisesti poikkeaa mittaa-van instrumentin kuva-alan (esim. neliömäisestä) muodosta. Jos mitattava kappale kokonaisuudessaan mahtuu kuva-alaan, sen 1 eveysdimension suhteellinen mittatarkkuus on kertaluokkaa heikompi kuin pituusdimen sion suhteellinen mittatark-15 kuus.
Tämä pulma on pyritty ratkaisemaan mm. siten, että sovitetaan useita kameroita riviin mitattavan kappaleen pituussuunnassa. Tämän ratkaisun hankaluutena on kuitenkin tarvit-20 tavien laitteiden suuri lukumäärä sekä kuvien yhteenliittämisen vaikeus.
Toinen tunnettu keino on kuvata näkökentässä liikkuva kappale useana peräkkäisenä kuvana. Tämän ratkaisun hankaluutena 25 on puolestaan vaikeus järjestää kappaleelle riittävän pitkä häiriötön kulku.
Tämän keksinnön tarkoituksena on poistaa ennestään tunnetuissa ratkaisuissa esiintyvät haitat ja saada aikaan uuden-30 tyyppinen laitteisto pitkänomaisten kappaleiden muodon optiseksi mittaamiseksi.
Keksintö perustuu siihen, että kuva vääristetään eri suunnissa erilaisen kaarevuuden omaavan peilin tai linssin avul-35 la niin, että mittauskamera "näkee" mitattavan kappaleen pituus- ja 1 eveysdimeneiot samaa suuruusluokkaa olevina ja kuvaterävyys säilytetään käyttämällä rakomaista aukkoa kameran mittausoptiikassa.
2 63910 Täsmällisemmin sanottuna keksinnön mukaiselle laitteistolle on tunnusomaista se, mikä on esitetty patenttivaatimuksen 1 tunnusmerkkiosassa.
5 Keksinnön avulla saavutetaan huomattavia etuja. Niinpä pitkä kin kappale saadaan mahtuniaan mittaavan kameran kuva-alaan. Lisäksi suhteellinen mittaustarkkuus saadaan peilin avulla tapahtuvan reduktion ansiosta kappaleen poikittais-suunnassa yhtäsuureksi kuin sen pituussuunnassa (esim. 1 X 10 leveydestä ja 1 % pituudesta, vaikka pituus on 10-kertainen leveyteen verrattuna).
Keksintöä ryhdytään seuraavassa 1 äh emm in tarkastelemaan oheisten piirustusten mukaisen suoritus esiraerkin avulla.
15
Kuvio 1 esittää osittain kaaviollisena perspektiivikuvantona yhtä keksinnön mukaisen laitteiston suoritusmuotoa.
Kuvio 2 esittää kaavio11 is esti osaa kuvion 1 mukaisesta 20 laitteistosta sivuleikkauskuvantona.
Kuvio 3 esittää kaavio 11is esti osaa kuvion 1 mukaisesta laitteistosta yläleikkauskuvantona.
25 Kuvio 4 esittää kameran eteen sovitettavaa rakolevyä edestä katsottuna.
Kuvio 5 esittää mitattavan kappaleen pituussuunnassa redusoitunutta kuvaa kameran kuvatasolla.
30
Kuvio 6 esittää yhtä peilipinnan käytännöllistä profiilia.
Keksinnön mukainen laitteisto käsittää kuvion 1 mukaisesti vaakatasossa olevan mittausalusten 2, jolle mitattavat saha-35 tut puutavarakappaleet 1 syötetään yksi kerrallaan mittaus-alustalle 2. Mittausalusten 2 yläpuolelle on sovitettu peili 5, jonka tarkoituksena on heijastaa mittaus a lueta 1la 2 olevan kappaleen 1 kuva kameran 3 optiikkaan 6. Kamera 3, sopivammin videokamera, on kytketty kuvankäsite ly lai11eisiin 4 3 68910 kamerasta 3 saadun kuva in f ortnaa t ion muokkaamiseksi ohjaustiedoiksi esim. sahausopt iraointia silmällä pitäen. Tarkkai-luraoni torista 8 kappaleen 1 redusoitua muotoa voidaan seurata .
5
Peilin 5 heijastuspinta omaa pituus- ja 1 eveys suunna s s a erisuuren kaarevuuden niin, että kameran 3 optiikkaan 6 heijastunut kappaleen 1 kuva on pituussuunnassa supistunut leveys-10 suuntaan verrattuna (vrt. kuviot 3 ja 5). Tämä perustuu siihen, että peilin 5 heijastuspinnan profiili mitattavan kappaleen 1 pituussuunnassa on mitattavaa kappaletta 1 kohti kupera, kun taas heijastuspinnan profiili mitattavan kappaleen 1 poiki11ais suunnass a on suoraviivainen. Tämä aiheutin taa sen, että mitattavan kappaleen 1 pituus kameran 3 kuvatasolla redusoituu suuruusluokaltaan kappaleen 1 leveyttä vas taavaks i .
Mittaustarkkuuden säilyttämiseksi kameran 3 optiikkaan 6 20 liittyy kapea rakomainen aukko 7, joka esimerkkitapauksessa on vaakasuorassa asennossa ja mitattavan kappaleen 1 pituussuuntaan 1 nähden poikittainen. Tämä aukko 7 vaikuttaa siten, että mitattavan kappaleen 1 pituutta kuvaavat valonsä-dekomponentit voivat läpäistä optiikan 6 vain aukon 7 25 leveyttä vastaavalla alueella. Sensijaan kappaleen 1 leveyttä kuvaavat valonsädekomponentit voivat läpäistä optiikan 6 koko aukon 7 pituutta vastaavalla alueella.
Esim. sahatavaran kan11auks e s s a lauta 1 tulee poikittain 30 tarkastuspaikalle ja jatkaa siitä suuntauksen jälkeen varsinaiseen kanttaukseen. Mittauskameran 3 kuva-ala kattaa kaarevan peilin 5 avulla koko laudan 1. Kuva-ala voi olla esim. 600 mm x 6000 mm, jolloin kamera 3 muodostaa siitä suhteessa 4/3 olevan videokuvan, joka näkyy monitorista 8.
35 Saman tiedon sisältävä videosignaali digitalisoidaan ja siirretään ohjaustietokoneelle, joka analysoi kuvasta kappa-lemuodon,' optimoi s ahausasennon ja antaa tarvittavat suuntaus t iedot.
4 6S910
Kuvan terävyyden säilyttäraisperiaate käy ilmi kuvioista 2 ja 3. Näissä kuvioissa on esitetty mitattavasta kappaleesta 1 joidenkin pisteiden kuvautuminen peilin 5 kautta kameran 3 kuvatasolle 9. Esimerkkinä on selvyyden vuoksi käytetty vain 5 yhdessä pääsuunnassa kaarevaa peiliä 5. Niinpä leikkausta-sossa YZ peili 3 on kaareva ja tasossa XY puolestaan suora.
Kuvion 3 mukaisesti kaikki 1eikkaustas os s a XY kulkevat valonsäteet kohtaavat suoran peilipinnan ja kuvautuvat tunnet-10 tujen optiikan lakien mukaan kuvatasolle terävinä, ts. kaikki yhdestä pisteestä eri reittejä kulkevat valonsäteet tulevat samaan pisteeseen kuvatasolle 9. Kuviossa 3 on esitetty pisteistä AI ja A2 lähtevät säteet, jotka kulkevat seuraavia reittejä: 15 piste AI: AI, Pii, LII, B1 ja AI, P12, L12, B1 piste A2: A2, P21, L21, B2 ja A2, P22, L22, B2. Pisteet A3 ja A4 kuvautuvat vastaavalla tavalla kuvatasolle 9 .
20 YZ-tasossa peilin 5 kaarevuuden vuoksi eri reittiä kulkevat valonsäteet eivät enää kohtaa kuvapintaa 9 samassa paikassa, vaan pisteet kuvautuvat viivoiksi. Kuviossa 2 on esitetty kolmen pisteestä AI tai A2 lähtevän valonsäteen reitit: 25 AI, PII, B1, joka päättyy samaan pisteeseen kuin ku vion 3 YX-tasossa kuvattu valo, sekä sivuun vievät reitit: AI, P13, B13, ja AI, P14, B14.
Estämällä rakolevyllä 10 viimeksi mainittujen säteiden pääsy 30 kuvatasolle 9 kukin piste A saadaan kuvautumaan vain yhteen pisteeseen B, joten peilin 5 kaarevuus ei heikennä terävyyt-t ä.
Voidaan näin ollen sanoa että kysymyksessä on kamera, joka 35 periaatteeltaan on X-suunnassa normaa1i1inssi1lä varustettu kamera ja Y-suunnassa neulanreikäkamera. Näin saavutetaan riittävä herkkyys neulanreikäominaisuudesta huolimatta.
5 68910
Peilin 5 kaarevuuden vaikutus erottelukykyyn on suunnilleen R x_LPA , jossa
HY x LLA
5 R = raon 7 korkeus HY = peilin 5 korkeus (kamerasta 3 katsottuna) LPA = etäisyys peilistä 5 kohteeseen LLA = etäisyys linssistä 6 kohteeseen.
10 Keksinnön puitteissa voidaan ajatella edellä kuvatusta suoritus esimerkistä poikkeaviakin ratkaisuja. Niinpä peili voi tarvittaessa olla molempiin suuntiin kaareva, esim. toiseen suuntaan kovera ja toiseen suuntaan kupera tai molempiin suuntiin kupera. Mitattaessa pienten kappaleiden muo-15 toa voitaisiin ajatella peili sovitettavaksi heijastamaan mitattavan kappaleen kuva poikittaisuunnassa, jolloin videokamera tulisi sijaitsemaan mittausalusten sivussa. Tällöin peili olisi sopivasti esim. toiseen suuntaan kovera ja toiseen suuntaan suora. Mainittakoon, että keksinnön mukaiseen 20 perusideaan sisältyy ekviva1 en11isena ratkaisuna myös se, että peilin asemesta käytetään sellaista linssiä, joka on esim. yhdessä suunnassa kupera ja tätä suuntaa vastaan kohtisuorassa suunnassa kovera.

Claims (2)

6 6891 0 Patenttivaatimukset : 1. Laitteisto pitkänomaisten kappaleiden (1) muodon optiseksi mittaamiseksi, joka laitteisto käsittää 5. mittausalusten (2) tai sentapaisen mitattavaa kap paletta (1) varten, kameran (3) tai sentapaisen mitattavan kappaleen (1) kuvaamiseksi, kameraan (3) kytketyt kuvankäsittelylaitteet (4) 10 kamerasta (3) saadun kuva informaation ohjaustie doiksi muokkaamista varten, ja mittausalusten (2) tasosta välimatkan päässä olevan peilin (5) mittausalusta 1la (2) olevan kappaleen (1) kuvan heijastamiseksi kameran (3) optiikkaan 15 (6), jolloin peilin (3) heijastus pinta omaa pituus- ja leveyssuunnassa erisuuren kaarevuuden niin, että kameran (3) optiikkaan (6) heijastunut kappaleen (1) kuva on pituussuunnassa supistunut levysuuntaan verrat tuna, 20. u n n e t t u siitä, että kameran (3) optiikkaan (6) liittyy rakolevy (10), jossa on kapea rakomainen aukko (7), joka on sovitettu niin, että mitattavan kappaleen (1) pituutta kuvaavat valonsädekomponentit voivat läpäistä optiikan (6) vain aukon (7) leveyttä vastaavalla alueella, kun 25 taas kappaleen (1) leveyttä kuvaavat valonsädekomponentit puolestaan voivat läpäistä optiikan (6) koko aukon (7) pituutta vastaavalla alueella. 2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen laitteisto, jossa alusta 30 (2) sijaitsee vaakatasossa, tunnettu siitä, että rakomainen aukko (7) on vaakasuora ja mitattavan kappaleen (l) pituussuuntaan nähden poikittainen. 1 Patenttivaatimuksen 1 mukainen laitteisto, tunnet-t u siitä, että rakolevy (10) on sovitettu kameran (3) optiikan (6) ulkopuolelle. 7 63910 Paten tkrav:
1. Anordning för optisk mätning av langsträckta stycken (1), omfa11 ande 5. ett mätunderlag (2) eller liknande för det stycke (1) som skall mätäs, - en kamera (3) eller liknande för fotografering av nämnda stycke (1), - bildbehandlingsanordningar (4), som är koppi ade tili 10 kameran (3), för bearbetning av bildinformationen fran kameran (3) tili styrdata, och - en spegel (5) belägen p a ett avstand fran roätunder-lagets (2) pian och avsedd för reflektering av hiiden av stycket (1) tili kamerans (3) optik (6), var- 15 vid spegelns (5) reflektionsyta uppvisar en olika stor krökning i längd- och tvärriktning sa att den bild av stycket (1), som reflekterats tili kamerans (1) optik (6), är i längdriktning förminskad i för-hallande tili tvärriktning, 20 kännetecknad därav, att tili kamerans (3) optik (6) är en spaltskiva (10) ansluten, vilken uppvisar en smal spa1t1iknande öppning (7), som är sä utbildad, att de kompo-nenter av ljusstralen, som avbildar längden för det stycke som skall mätäs, kan passera optiken (6) endast pa ett omra- 25 de som motsvarar bredden av öppningen (7), medan de korapo- menter av ljusstralen som avbildar bredden för nämnda stycke (1) kan passera optiken (6) pa ett omrade som motsvarar hela längden av öppningen (7). 30
2 . Anordning enligt patentkravet 1, väri underlaget (2) är horisontellt beläget, kännetecknad därav, att den spaltformade öppningen (7) är vagrät och transversell i förhallande tili längdriktningen för det stycke (1) som ska 11 mätäs. 1 35 Anordning enligt patentkravet 1, kännetecknad därav, att spaltskivan (10) är anordnad utanför kamerans (3) optik (6 ) .
FI840174A 1984-01-17 1984-01-17 Foerfarande foer optisk maetning av laongstraeckta stycken FI68910C (fi)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI840174A FI68910C (fi) 1984-01-17 1984-01-17 Foerfarande foer optisk maetning av laongstraeckta stycken
NO850032A NO168271C (no) 1984-01-17 1985-01-04 Anordning for optisk maaling av langstrakte gjenstander.
US06/689,685 US4770537A (en) 1984-01-17 1985-01-08 Apparatus for optical measurement of the shape of oblong objects
DE19853500815 DE3500815A1 (de) 1984-01-17 1985-01-11 Vorrichtung zur optischen messung der form von langgestreckten gegenstaenden
SE8500204A SE456366B (sv) 1984-01-17 1985-01-16 Anordning for optisk metning av langstreckta foremal
CA000472237A CA1238485A (en) 1984-01-17 1985-01-16 Apparatus for optical measurement of the shape of oblong objects

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI840174 1984-01-17
FI840174A FI68910C (fi) 1984-01-17 1984-01-17 Foerfarande foer optisk maetning av laongstraeckta stycken

Publications (4)

Publication Number Publication Date
FI840174A0 FI840174A0 (fi) 1984-01-17
FI840174A FI840174A (fi) 1985-07-18
FI68910B true FI68910B (fi) 1985-07-31
FI68910C FI68910C (fi) 1986-11-25

Family

ID=8518383

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI840174A FI68910C (fi) 1984-01-17 1984-01-17 Foerfarande foer optisk maetning av laongstraeckta stycken

Country Status (6)

Country Link
US (1) US4770537A (fi)
CA (1) CA1238485A (fi)
DE (1) DE3500815A1 (fi)
FI (1) FI68910C (fi)
NO (1) NO168271C (fi)
SE (1) SE456366B (fi)

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2542653B2 (ja) * 1987-12-10 1996-10-09 ファナック株式会社 非接触倣い方法
DE3805455A1 (de) * 1988-02-22 1989-08-31 Linck Masch Gatterlinck Vorrichtung zum fotoelektrischen abtasten und/oder vermessen von holzerzeugnissen
SE467147B (sv) * 1990-08-27 1992-06-01 Soederhamns Verkstaeder Ab Foerfarande och anlaeggning foer positionering av stockar i samband med formning av stamblock
NO178909C (no) * 1993-04-19 1996-06-26 Toni Rydningen Måleanordning
NO180316C (no) * 1993-04-19 1997-04-09 Toni Rydningen Anordning for dimensjonsmåling
FI95078C (fi) * 1993-11-17 1995-12-11 Cimmon Oy Menetelmä ja laitteisto pitkänomaisten kappaleiden muodon optiseksi mittaamiseksi
DE19634881C1 (de) * 1996-08-29 1998-02-12 Basler Gmbh Optische Prüfvorrichtung
DE19705047A1 (de) * 1997-02-03 1998-08-06 Buerger Joachim Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Profiltiefe eines Kraftfahrzeugreifens
FI114743B (fi) 1999-09-28 2004-12-15 Ekspansio Engineering Ltd Oy Telesentrisellä periaatteella toimiva laitteisto ja menetelmä
IT1315680B1 (it) * 2000-10-13 2003-03-14 Expert System Solutions Srl Apparecchiatura per misurare variazioni dimensionali indotte su corpida variazioni di temperatura
CA2545787C (en) 2005-05-05 2009-07-14 Centre De Recherche Industrielle Du Quebec System and method of monitoring the quality of cutting
FI122331B (fi) * 2006-06-30 2011-12-15 Teknosavo Oy Menetelmä puun tilavuuden mittaamiseen ja laadun tarkkailuun
EP4227673A1 (en) 2022-01-27 2023-08-16 Finnos Oy Apparatus for capturing images of elongated timber

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4021119A (en) * 1975-06-24 1977-05-03 Honeywell Inc. Position gauge
SE404964B (sv) * 1977-03-22 1978-11-06 Sarlos Seppo Edvard Anordning for detektering av stralning fran ett foremal for faststellande av avvikelser eller fel hos en yta av detsamma
SE414543C (sv) * 1978-11-10 1982-09-23 Kockums Automation Forfarande vid metverdesuttagning for faststellande av ett forbestemt diameter- och/eller krokningsverde hos ett langstreckt foremal sasom en virkesstock eller dylikt samt anordning for genomforande av forfarandet
US4351437A (en) * 1980-01-18 1982-09-28 Lockwood Graders (Uk) Limited Method and apparatus for examining objects
JPS5822903A (ja) * 1981-08-04 1983-02-10 Sumitomo Metal Ind Ltd 板材の圧延監視装置

Also Published As

Publication number Publication date
FI68910C (fi) 1986-11-25
NO850032L (no) 1985-07-18
NO168271B (no) 1991-10-21
DE3500815A1 (de) 1985-07-18
DE3500815C2 (fi) 1990-02-15
NO168271C (no) 1992-01-29
SE8500204L (sv) 1985-07-18
CA1238485A (en) 1988-06-28
US4770537A (en) 1988-09-13
FI840174A (fi) 1985-07-18
FI840174A0 (fi) 1984-01-17
SE456366B (sv) 1988-09-26
SE8500204D0 (sv) 1985-01-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI68910B (fi) Foerfarande foer optisk maetning av laongstraeckta stycken
CN1248058C (zh) 位置测量装置
AU2005243045B2 (en) Optical inspection of surfaces open to different directions in a piece of material
US6088106A (en) Method for the contact-free measurement of the distance of an object according to the principle of laser triangulation
US5371951A (en) Two-axis inclinometer
KR920003456A (ko) 마스크패턴 투영 장치
KR960703227A (ko) 고정밀 부품 얼라인먼트 센서 시스템(a high precision component alignment sensor system)
EP0300571A1 (en) Scanning optical microscope
US20150098090A1 (en) Optical Position-Measuring Device
US5311288A (en) Method and apparatus for detecting surface deviations from a reference plane
US6341014B1 (en) Method of and a system for detecting errors in harmonizing the axis of an optical instrument
JP2756331B2 (ja) 間隔測定装置
US4621924A (en) Optical alignment apparatus
USRE35350E (en) Method and apparatus for measuring surface distances from a reference plane
JP3120885B2 (ja) 鏡面の測定装置
KR100295477B1 (ko) 물체의치수를측정하는장치
JPS63113518A (ja) 光センサ装置および外観検査装置
KR20190084109A (ko) 포커싱 및 레벨링 장치
FI95078B (fi) Menetelmä ja laitteisto pitkänomaisten kappaleiden muodon optiseksi mittaamiseksi
GB2343944A (en) Multi-axis clinometer for measuring gradients and gradient changes
FI100432B (fi) Laite optisten aaltojohtimien tutkimiseksi
US4991959A (en) Opto-electronic sight
JPH03218442A (ja) 示差屈折率計
JPS5837506A (ja) 電子光学的距離計用光学装置
JPS57118105A (en) Detector

Legal Events

Date Code Title Description
MM Patent lapsed

Owner name: KOSKENOHI, KIMMO