FI59170B - Jaemfoerelsefoerfarande och anordning foer maetning av maengden av en substans som transporteras av en loepande materialbana - Google Patents

Jaemfoerelsefoerfarande och anordning foer maetning av maengden av en substans som transporteras av en loepande materialbana Download PDF

Info

Publication number
FI59170B
FI59170B FI761672A FI761672A FI59170B FI 59170 B FI59170 B FI 59170B FI 761672 A FI761672 A FI 761672A FI 761672 A FI761672 A FI 761672A FI 59170 B FI59170 B FI 59170B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
substance
filter
radiation
specific
measuring
Prior art date
Application number
FI761672A
Other languages
English (en)
Other versions
FI59170C (fi
FI761672A (fi
Inventor
John Joseph Howarth
Original Assignee
Measurex Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Measurex Corp filed Critical Measurex Corp
Publication of FI761672A publication Critical patent/FI761672A/fi
Publication of FI59170B publication Critical patent/FI59170B/fi
Application granted granted Critical
Publication of FI59170C publication Critical patent/FI59170C/fi

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/314Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

RdSF^l ΓβΙ (11)KUULUTUSjULKAISU ς O >1 ? Γ>
MIA lJ ^ ' UTLÄGGNI NGSSKRIFT 3 ~ > 'U
(51) Kv.ik?/int.ci.3 G 01 N 21/25 SUOMI —FINLAND (21) PitenttJhtJMmu» — P»t*f»t*n»eknlng 76l672 (22) Htkamltplhrl — An*ökning«d*g 10.06.76 (23) AlkupUvt—GIMfh«t*dtf 10.06.76 (41) Tulhit julklttktl — Blivlt offtntlig 13.12.76
Htwnttl·· )« r«ki*t«rihalita» (44) Nlhtftvftksl panon }· kuuLJulluJ*un pvm. — taa» «dl raglaCaratyiraltan ' ' AiwMcm utlagd odi ut!.»krlft*n puMfenrad 27.02.81
(32)(33)(31) Fjrydattjf atuotkaus—Saglrd prioritat 12.06.75 USA(US) 5863VT
(71) Measurex Corporation, One Results Way, Cupertino, California 95011+, USA(US) (72) John Joseph Howarth, Monte Sereno, California, USA(US') • (7*0 Berggren Oy Ah (5*0 Vertailumenetelmä ja laite liikkuvan ainesradan kuljettaman ainemäärän mittaamiseksi - Jämförelseförfarande och anordning för mätning av mängden av en substans som transporteras av en löpande materialbana
Esillä oleva keksintö kohdistuu patenttivaatimuksen 1 johdannon mukaiseen vertailumenetelmään liikkuvan ainesradan kuljettaman ainemäärän mittaamiseksi. Keksintö kohdistuu myös menetelmän suorittamiseksi tarkoitettuun laitteeseen.
Paperiratojen kosteuden mittaamiseksi on esim. US-patenttien n:o 3 6i+l 3I49 ja 3 675 019 perusteella tunnettua soveltaa kaksoisaal-lonpituustekniikkaa. Normaalisti tällainen mittari sisältää infra-punasäteilylähteen, joka lähettää säteilyä kahdella kirjovyöhyk-keellä. Ensimmäinen 1,7 /Um vyöhyke törmää paperiin ja paperin läpi kulkeva sekä siitä heijastunut säteilymäärä riippuu tietyistä parametreista. On tunnettua, että 1,7 tai 1,8 ^um käsittävän kir-jovyöhykkeen yhteydessä tämä aallonpituusalue on suhteellisen tunteeton paperin sisältämälle kosteudelle. Kuitenkin 1,9*+ ^um kirjo-vyöhykkeen ollessa veden tai paperin sisältämän kosteuden imualu-een rajojen sisäpuolella, on tämä aallonpituus suhteellisen herkkä kosteudelle. Siten näiden kahden kirjovyöhykkeen välinen suhde on riippuvainen paperissa olevan veden määrästä.
2 59170
Kuten mainituissa julkaisuissa on esitetty, vaikuttavat useat tekijät normaalisti mittauksen epätarkkuuksiin. Näihin tekijöihin sisältyy sähköinen ryömintä sekä niistä likaisista olosuhteista aiheutuvat vaikutukset, joissa kosteusmittari toimii. Nämä tekijät tekivät välttämättömäksi erilaisten standardisointi- ja/tai kali-brointikaavioiden käytön. Niitäkin käyttämällä jäi virhe yhä jäljelle kosteuspitoisuuden mittaamisen suhteen.
Esillä olevan keksinnön tarkoituksena on siten saada aikaan olennaisesti parannettu tarkkuus liikkuvan ainesradan kuljettaman ainemäärän mittaamisen yhteydessä sekä erityisesti eliminoida häiriöitä, jotka aiheutuvat käytön aikana lisääntyvästä mittauslaitteen likaantumisesta .
Tämän tarkoituksen täyttämiseksi on keksinnön mukaiselle menetelmälle tunnusomaista se, mikä on esitetty oheisessa patenttivaatimuksessa 1. Keksinnön mukaisen laitteen tunnusmerkit selviävät vastaavasti patenttivaatimuksesta 2.
Kuvio 1 on toisaalta lohkokaavion muodossa oleva kaaviomainen esitys esillä olevan keksinnön mukaisen laitteen eräästä osasta esittäen toisaalta poikkileikkausta tästä; kuvio IA on tasokuva kuvion 1 eräästä elementistä; kuviot 2A - 2C ovat ominaiskäyriä esittäen aallonpituuden vaimenemista, ja ne ovat hyödyllisiä esillä olevan keksinnön ymmärtämisessä; ja kuviot 3A ja 3B ovat esillä olevan keksinnön mukaisen menetelmän yhteydessä käytettyjä käyriä.
Kuvion 1 mukainen optinen järjestelmä on samanlainen kuin mainitussa US-patentissa 3 64l 3H9 lukuunottamatta vettä stimuloivaa suodatinta, josta keskustellaan yksityiskohtaisemmin seuraavassa. Yleensä ylempään mittauspäähän, joka tutkii paperikoneessa olevan liikkuvan aineradan, sisältyvät komponentit on esitetty hakasen 17 sisällä ja alempi mittauspää hakasen 18 sisällä. Alempi pää 18 sisältää volframivalolähteen 21, jossa on lankajännitelähde, joka puolestaan saa aikaan säteilyn sekä 1,7 ^um että 1,9^ /Um sisältäville kirjo-vyöhykeille. Säteilylähteestä tuleva säteily yhdensuuntaistetaan numerolla 23 merkityn optisen järjestelmän avulla säteiden kulku-radan ollessa merkittynä katkoviivoin 2*1 ja kulkiessa aukon läpi ja sen jälkeen kuparipyörän 27 kautta.
3 59170 Säteiden rata 24 menee liikkuvan paperiarkin eli -radan 14 läpi, joka tällä alalla sinänsä tunnetulla tavalla ja osapuilleen Beer'in lain mukaisesti vaimentaa lähteestä 21 tulevan infrapunasäteilyn. Kuten edellä on mainittu, on aallonpituudeltaan 1,94 mikronia oleva säteily paljon herkempää paperin sisältämälle kosteudelle kuin 1,7 mikronin säteily. Sen jälkeen kun säteily on siirtynyt paperiarkin 14 läpi sen ilmaisee ylempi ilmaisinyksikkö 17, joka sisältää säteen kulkuradalla 24 olevan kollimaatiolinssin 31. Olisi tietysti otettava huomioon, että infrapunasäteilyn ei tarvitse siirtyä paperin yhdeltä puolelta sen toiselle puolelle ja että sekä lähde- että säteilyilmai-sija voivat olla liikkuvan paperin samalla puolella heijastusteknii-kan ollessa käytössä. Lisäksi mittausten tekemiseksi tarkemmaksi erityyppisten papereiden yhteydessä voidaan käyttää diffuusioikkunoita, jotka on selostettu ja kuvattu US-patentissa n:o 3 793 524.
Ilmaisinyksikköön 17 yhä viitaten kulkee säteen radalla 24 oleva vaimennettu säteily suodatinyhdistelmän 32 kautta, jossa normaalikäytön yhteydessä on avoin ikkuna 30 säteen vapaata kulkua varten jako-laitteeseen 34. Tällöin yksi osa 36 jaetusta säteestä kulkee kaista-suodattimen 37 läpi, jonka taajuusalue on keskitetty 1,94 mikroniin lyijysulfidikennon 38 ilmaistessa tällöin säteen. Jaetun säteen 39 toinen osa kulkee kaistasuodattimen 4l kautta, jonka aallonpituus on keskitetty 1,7 mikroniin, ja sen jälkeen toiseen lyijysulfidi-ilmaisinkennoon 42.
Kuviossa IA tasokuvana esitetty suodatinyhdistelmä 32 sisältää avoimien ikkunoiden 30 lisäksi suodattimen 33, joka, kuten myöhemmin yksityiskohtaisesti selostetaan, simuloi veden kirjo-ominaisuuksia. Sen kiertoliike saadaan aikaan solenoidin 43 avulla. Vaihtoehtoisesti voidaan suodatinpyörä korvata kiertävällä solenoidilla, joka valikoivaan tapaan liikuttaa suodatinta 33 sisään ja ulos säteen kulku-radan suhteen.
Keksinnön mukaisen suodattimen 33 halutut kirjo-ominaisuudet selostetaan tarkemmin yhdessä kuvioiden 2A - 2C kanssa. Kuten kuviosta 2A näkyy, ilmaisee kiinteä käyrä 46 kuivan paperin absorption infrapunasäteilyn aallonpituuden vyöhykkeessä ja katkoviivoilla merkityt käyrät 47 muutosta tässä ominaiskäyrässä kun vettä lisätään kuivaan paperiin. Kuten tällä alalla on hyvin tunnettua, on näiden käyrien alin, so. voimakkainta veden imeytymistä merkitsevä kohta pääasiassa 1,94 mikronia. Puolikorkeudet (so. 50 % läpäisy) vesikäyrissä esiin- ί 59170 vät lähinnä 1,895 mikronin kohdalla olevaa pystysuoraa linjaa pitkin. Tästä syystä suodattimeen 55 on valittu, kuten kuvion 2C suodattimen ominaiskäyrästä 55’ näkyy, puoliläpäisykohdaksi 1,895 + 0,1 mikronia. Muut hieman vähemmän tarkat yksityiskohdat ovat 90 % läpäisy 1,85 mikronin kohdalla ja 10 % läpäisy 1,95 mikronin kohdalla, so. suoda-tinkäyrän jyrkkyys on osapuilleen oikea.
Kuvio 2C esittää lyhytaaltotyyppistä suodatinkäyrää 55’, jonka uskotaan olevan ihanteellinen ja jonka 1,7 mikronin kohdalla oleva alue on tasainen. Vaihtoehtoisesti voitaisiin käyttää kaistasuodatinta, kuten käyrästä 53” ja kuviosta 2B näkyy, sillä 1,7 mikronin kaista-suodattimen 57 (katso kuviot 1 ja 2B) johdosta lyhyemmät aallonpituudet eivät tule kysymykseen. 1,7 mikronin suodattimen 57 kaista-ominaiskäyrä 57' ai ole luonteeltaan kriittinen. Kuitenkin kaista-käyrä 4lT 1,94 mikronin suodatinta varten on kriittinen, sillä suodattimen matalataajuisen ja pitemmän aallonpituuden puoleisen pään tehokkaan leikkauksen tulisi sopia yhteen lyhytaaltosuodattimen omi-naiskäyrän 55’ leikkauksen kanssa. Täten kuviossa 2C numerolla 48 ilmaistun vesikäyrän vastakkainen jyrkkä osa eli puolisko on asiaankuulumaton, sillä 1,94 kaistavyöhyke ulottuu vain pääosiltaan vesi-käyrän pohjimmaiseen minimikohtaan 49. Täten vain vesikäyrän yhden puoliskon tulee olla tehokkaalla tavalla yhteensopiva.
Suodattimen 55 1,7 mikronin läpäisykohdan suhteen voidaan helposti sallia + 10 % vaihteluita. Lisäksi olisi sangen tehokkaan läpäisyn tapahduttava tässä kohdassa, yleensä suuruudeltaan 80-90 %. Täten kuviossa 2C esittävät kaistaleet 51 ja 52 niitä kahta suodatinkais-taa, joiden olisi sovittava yhteen.
Suodattimen 53 käyttö esillä olevan keksinnön sisältämän standardi-sointimenetelmän yhteydessä käy parhaiten ilmi kuvioista 3A ja 3B. Kuvion 3A esittämien käyrien laatimiseksi on käytetty useita näytteitä levymäisestä aineksesta, joissa on erilaisia tunnettu.a kosteus-määriä. Kuten paperinvalmistuksen yhteydessä on hyvin tunnettua, valmistetaan tällaiset näytteet käyttämällä läpinäkyviä muovisia vedenpitäviä pusseja, niin että näytteet pysyvät samassa kosteudessa huomattavan pitkän aikaa. Sen jälkeen kun mainitut näytteet on asetettu säteilylähteen ja ilmaisimien väliin mitataan läpäisysyhde 1,7 kirjokaistan ja 1,9 kirjokaistan välillä kutakin näytettä varten ja tällöin saadaan käyrä, jota nimitetään "puhtaaksi mittarikäyräksi".
5 Tämä suhde on merkitty pystysuoralle akselille ja veden paino vaakasuoralle akselille. Seuraavaksi ja pääasiallisesti samanaikaisesti veden simulointisuodatin 33 asetetaan säteen kulkuradalle ja otetaan suhdelukema PR . Tällöin oletetaan, että tämä suhdeluku sijaitsee puhtaalla mittErikäyrällä. Koska tämä käyrä on lineaarinen ja alkaa nollapisteestä, tarvitsee käyttää vain yhtä ainoaa kosteusnäytettä.
Kuvion 3A esittämä puhdas mittarikäyrä on myös standardisoitu stan-dardisointisuhteella Rg ilman näytteitä tai suodatinta tyypillisen ei-levymittauksen avulla, joka on tällä alalla hyvin tunnettu.
Kosteaa kudosta sisältävä kerros, joka edustaa kostean lian yhtä kerrosta, on kiinnitetty liimanauhan avulla alemman pään aukkoon (katso US-patentti 3 793 524) arkin 14 viereen, ja sen sallitaan stabiloitua kosteuspitoisuudeltaan. Eri näytteiden ja suodattimen 33 standardisuhteet mitataan tämän jälkeen käyrän 1 muodostamiseksi kostean lian mainittua kerrosta varten. Käyräarvot standardisoidaan myös standardisointisuhteen Rg avulla. Nämä arvot piirretään näkyviin kuvion 3A mukaisesti.
Yllä olevat vaiheet toistetaan tämän jälkeen kostean lian kahta kerrosta ja sitten kolmea kerrosta varten, jolloin saadaan kuviossa näkyvät käyrät. Kukin likakerros muodostaa yleensä ottaen sopivan alustan (kudosaineen) ja sisältää kiinteän määrän mitattavaa ainesta (kosteutta). Vesisuodatinsuhteiden kärkikohdat samoin kuin eri näytteiden sisältämät suhteet sijaitsevat pystysuorilla linjoilla, sillä niiden vesipaino ei määritelmän mukaan ole muuttunut. Olisi kuitenkin otettava huomioon, että kuvion 3A sisältämät käyrät esittävät sen tosiasian, että normaali standardisointi ei ole täysin tehokas kos-teusmittarijärjestelmässä. Standardisoinnin perusongelmana, jonka esillä oleva keksintö ratkaisee, on valolähteen muutoksista aiheutuvien mittausvirheiden erottaminen ja ilmaisimien tai sähkölaitteiden käyttö virheitten yhteydessä, jotka aiheutuvat vesikalvon muodostumisesta itse mittausyksikköön. Kostean lian kerrokset edustavat tietenkin tällaista kalvoa.
Kuviota 3A tarkastelemalla voidaan havaita, että mittarin tehosuhteet (1,7/1,9) alkavat tietyltä tasolta ja kasvavat lineaarisesti vesipai-nojen alkaessa nollasta. On ilmeistä, että vesipainon asteettaiset yksikkölisäykset imevät itseensä jatkuvasti vähenevän määrän jäljel- 6 59170 lä olevaa säteilyenergiaa; so energian absorptio ei ole samanlainen yhtäläistenvesiyksikköjen ollessa kyseessä. Täten kostea lika vähentää optisia signaaleja ja tavallinen standardisointi normalisoi signaalin suorittaakseen nollapisteen korjauksen, mutta ei oikaise aikaisemmin tapahtunutta epäyhtenäistä absorptiota. Tämä taas saadaan aikaan kuvion 3B esittämän uuden kalibrointilinjan avulla.
Keksinnön mukaisesti on kuvion 3A sisältämiä tietoja, jotka on saatu tehdaskalibroinnin avulla, käytetty kuvion 3B käyrien laatimiseen. Toisin sanoen suodatinsuhteissa tapahtuva muutos Rp , joka johtuu kostean lian päällekkäisistä kerroksista, johtaa samanlaiseen muutokseen näytesuhteiden yhteydessä. Erityisesti kuviossa 3B ilmaisee pystysuora akseli Rp puhtaan mittarin käyrän jyrkkyyden ja likaisen mittarin käyrän jyrkkyyden välisen suhteen useiden kostean ilman muodostamien kerrosten esiintyessä. Samalla tavoin merkitsee suodatinsuh-de Rp suhdetta puhtaan ja likaisen mittarin välillä. Käyrät 1, 2, 3 on siten normalisoitu puhtaan mittarin käyrän kanssa. Täten kuvion 3B alkuperänä on todellisuudessa puhdas mittarin käyrä, esittäen suhteen sekä pysty- että vaakasuoran akselin välillä. Tämän jälkeen voidaan numeroilla 0, 1, 2 ja 3 merkittyjä erilaisia likakerroksia varten muodostaa kuvion 3B esittämä käyrä, mikä yksinkertaistaa suuresti sen käyttöä lopullisten ja korjattujen suodatinsuhteiden määrittämisessä. Mittarijärjestelmästä riippuen sen ei kuitenkaan välttämättä tarvitse olla lineaarinen.
Joka tapauksessa kuvion 3B lineaarisen käyrän yhteydessä, jolla on vakiosuuruinen jyrkkyys A, tällaiset tiedot voivat mahdollistaa oikaistun läpäisysuhteen määrittämisen tarkan kosteusmittauksen aikaansaamiseksi. Matemaattiselta kannalta katsottuna tämä tehdään seuraavalla tavalla. Jyrkkyys A lasketaan yhtälön (1) mukaisesti.
. .ji . ^ , CgJ)-· ÄRp rf * 1 /PRC - 1\
'PRT V
jossa, Sp^ = puhdas näytesuhde 1 SRT = mitattu näytesuhde A = Anäyte/Asuodatin - suhteen jyrkkyys FRC = suodatinsuhde puhtaassa mittarissa - aika nollassa
Eptj, = suodatinsuhde viimeisessä standardisoinnissa 7 591 70 Täten siis voidaan kaikista R :n ja RR:n arvoista vähentää 1 ja määrittää jyrkkyys, sillä origo on (1,1). Korjattu näytesuhde on sRC = i + (sRT - l) i + a · Arc ~ Λ -ι (2) ^ \Frt
Korjatun näytesuhteen SR(-, avulla kuvion 3A mukainen puhdas mittari-käyrä antaa tarkan vesipainon.
Yhteenvetona voidaan sanoa, että esillä olevan keksinnön mukainen kosteusmittari kalibroidaan ensin tehtaassa siten, että kuvion 3B käyrän jyrkkyys A vastaa alkuperäistä suodatinsuhdetta RRq· Kun mittari asetetaan paikoilleen määritetään levyaineksen mitattavana oleva standardisoitu läpäisysuhde SRlj esillä olevan suodatinsuhteen KRT mukaisesti ja käyttämällä yhtälön (2) mukaista yksinkertaista vastaavuutta SR(^ saadaan selville. Lopuksi määritetään todellinen vesipaino kuvion 3A puhtaasta mittarikäyrästä, joka voidaan varastoida tietokoneeseen.
Esillä olevan keksinnön mukaisen menetelmän avulla mitattiin kudosnäyte, jonka peruspaino oli noin 12 #/3000 ja joka sisälsi vaihtele-via määriä vettä, alla olevin tuloksin.
VANHA UUSI
Puhdas Likainen Korjattu mittari- mittari- Lukema- vesisuoda- Lukema-Vesi % suhde suhde virhe % tinsuhde virhe % 2 1,14313 1,12765 10,81 1,1412 1,35 4 1,19229 1,18494 7,20 1,20457 2,65 6 1,28107 1,25308 9,96 1,27993 4,06 8 1,36166 1,32332 10,60 1,35763 1,11 10 1,42862 1,38159 10,97 1,42209 1,52
Merkinnällä "UUSI" varustettu sarake esittää miltei suuruusluokkaa olevan parannuksen merkinnällä ’’VANHA" varustetun aikai;·,emmin käytetyn tekniikan avulla saadut tulokset sisältävään sarakkeeseen verrattuna. Kaikki lukemat ovat standardisoituja.
Esillä olevan keksinnön mukainen tekniikka on myös käyttökelpoinen mitattaessa paperissa olevien päällysteiden, esim. polyteenin, painoa.
8 591 70 Näiden päällysteiden ominaiskäyrä on normaalisti kuvion 2Λ esittämän veden ominaiskäyrän kaltainen. Siten siinä esiintyy samanlaisia virheitä eräiden päällysteiden sisältämän lian johdosta kuin kostean lian yhteydessä.
Koska päällysteaine on kiinteämpää kuin vesi, voidaan suodattimen avulla simuloida tätä ainetta käyttämällä todellisuudessa vastaavanlaista ainespalaa, esim. polyteeniä.

Claims (8)

  1. 591 70 9
  2. 1. Vertailumenetelmä mittauslaitteessa liikkuvan ainesradan kuljettaman ainemäärän mittaamiseksi optisen säteilyn absorption perusteella, jossa ainakin yksi tunnetun määrän ainetta sisältävä vertailunäyte ainesradasta saatetaan mittauslaitteen sellaiseen säteilytiehen, joka sisältää aineesta riippumattomia ja aineelle ominaisia aallonpituuksia ja jossa mitataan aineelle ominaisen ja aineesta riippumattoman heijastuneen tai läpitunkeutuneen säteilyn intensiteettien suhdetta vastaava ensimmäinen sähköinen suhdesig-naali ja jossa aikaansaadaan vastaava toinen suhdesignaali käyttämällä säteilytiessä määrättyä ainesisältöä simuloivaa suodatinta, tunnettu siitä, että suodattimen ominaisuudet valitaan aineen absorptio-ominaisuuksille sopiviksi, että ensimmäisen ja toisen suhdesignaalin mittaus toistetaan aina kun esiintyy erilaisia lukumääriä ainetta sisältäviä kannatusainekerroksia, ja että kannatusainekerroksien lukumäärästä riippuen todetuista ensimmäisen ja toisen suhdesignaalin muutoksista johdetaan korjaussuure tuntemattomalla ainesradalla saadulla, aineelle ominaisten ja aineesta riippumattomien aallonpituuksien suhdesignaalille.
  3. 2. Laite patenttivaatimuksen 1 mukaisen menetelmän suorittamiseksi, johon kuuluvat mittauslaitteeseen sisältyvä optinen säteilylähde aineelle ominaisia ja aineesta riippumattomia aallonpituuksia sisältävän säteilyn synnyttämiseksi mittaustiehen, valosähköinen muunnin aineelle ominaisen ja aineesta riippumattoman, mittaus-tiestä tulevan säteilyn vastaanottamiseksi, muuntimeen liitetty tulkintakytkentä aineelle ominaisen ja aineesta riippumattoman säteilyn intensiteettien suhdetta vastaavien suhdesignaalien synnyttämiseksi, sekä määrättyä ainesisältöä simuloiva suodatin, tunnettu siitä, että suodatin (33) omaa aineen absorptio-ominaiskäyrää (49) vastaavan absorptiokäyrän (33’, 33") sekä on sovitettu aineelle ominaiselle ja aineesta riippumattomalle säteilylle yhteiseen säteilytien (24) osaan.
  4. 3. Patenttivaatimuksen 2 mukainen laite, tunnettu siitä, että suodatin (33) on ylipäästösuodatin (33f), jonka reuna ainakin osittain yhtyy aineen absorptiokäyrän (49) toiseen reunaan.
  5. 4. Patenttivaatimuksen 2 mukainen laite, tunnettu siitä, että suodatin (33) on kaistanpäästösuodatin (33"), jonka alemman 10 591 70 taajuuden reuna yhtyy aineen absorptiokäyrän (^9) ylemmän taajuuden reunaan.
  6. 5. Jonkin patenttivaatimuksen 2-H mukainen laite, tunnet- t u siitä, että ainesradan kuljettamaa vesimäärää mitattaessa suodattimen (33) reunan keskikohta on 1,895 ^um.
  7. 6. Patenttivaatimuksen 2 mukainen laite, tunnettu siitä, että suodatin (33) muodostuu ylipäästösuodattimen (33’) ja kaistan-päästösuodattimen (33”) yhdistelmästä.
  8. 1. Jämförelseförfarande för en mätapparat för mätning av mängden av en av en löpande materialbana transporterad substans frän ab-sorptionen av optisk straining, vid vilket förfarande ätminstone ett med en känd mängd av substansen försett jämförelseprov av ma-terialbanan införes i mätapparatens strälvägs straining, son inne-häller icke substansspecifikä och substansspecifika väglängder, och en mot förhällandet mellan de reflekterade eller transmitterade intensiteterna av den substansspecifika och den icke substansspecifika strälningen uppmätes, och vid vilket en motsvarande andra förhällandesignal utvinnes vid närvaro i strälningsvägen av ett filter som simulerar ett bestämt substansinnehS.il, k ä n n e -tecknat av att filtrets karakteristik väljes anpassat tili substansens absorptionskarakteristik, att mätningen av den förs-ta och den andra förhällandesignalen städse upprepas vid närvaro av olika antal av substansen innehällande bärmaterialskikt och att frän de i beroende av antalet av bärmaterialskikt fastaställda ändringarna i den första och den andra förhällandesignalen härle-des en korrektionsstorhet för den vid en okänd materialbana för de substansspecifika och de icke substansspecifika väglängderna erhallna förhällandesignalen. ?. Anordning för utförande av förfarandet enligt patentkravet 1, omfattande en tili mätapparaten hörande optiskt strälningskälla för att i en mätsträcka ästadkomma en strälning innehällande substansspecifika och icke substansspecifika väglängder, städse en fotoelektrisk omvandlare för mottagande av den substansspecifika respektive icke substansspecifika, frän mätsträckan utgäende strälningen, en tili omvandlarna ansluten utfärderingskoppling
FI761672A 1975-06-12 1976-06-10 Jaemfoerelsefoerfarande och anordning foer maetning av maengden av en substans som transporteras av en loepande materialbana FI59170C (fi)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US58634775 1975-06-12
US05/586,347 US4006358A (en) 1975-06-12 1975-06-12 Method and apparatus for measuring the amount of moisture that is associated with a web of moving material

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI761672A FI761672A (fi) 1976-12-13
FI59170B true FI59170B (fi) 1981-02-27
FI59170C FI59170C (fi) 1981-06-10

Family

ID=24345369

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI761672A FI59170C (fi) 1975-06-12 1976-06-10 Jaemfoerelsefoerfarande och anordning foer maetning av maengden av en substans som transporteras av en loepande materialbana

Country Status (8)

Country Link
US (1) US4006358A (fi)
JP (1) JPS51151598A (fi)
CA (1) CA1038193A (fi)
DE (1) DE2626144C3 (fi)
FI (1) FI59170C (fi)
FR (1) FR2314493A1 (fi)
GB (1) GB1511418A (fi)
SE (1) SE416497B (fi)

Families Citing this family (42)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4121103A (en) * 1976-11-05 1978-10-17 Industrial Dynamics Company, Ltd. Caustic detection system
US4171918A (en) * 1976-12-27 1979-10-23 Sentrol Systems Ltd. Infrared moisture measuring apparatus
JPS5387281A (en) * 1977-01-11 1978-08-01 Toshiba Electronic Systems Optical moisture meter
US4158769A (en) * 1977-10-20 1979-06-19 Westinghouse Electric Corp. Determination of uranium content in material
GB2013881B (en) * 1978-02-03 1982-06-16 Measurex Corp Method of measuring the amount of substance associated with a material in the presence of a contaminant
JPS5853303B2 (ja) * 1979-01-19 1983-11-28 横河電機株式会社 光吸収形分析計用標準サンプル
JPS5598334A (en) * 1979-01-19 1980-07-26 Yokogawa Hokushin Electric Corp Standard sample for light absorbing type analytical device
US4363968A (en) * 1979-07-19 1982-12-14 Owens-Corning Fiberglas Corporation Method and apparatus for determining the binder content in a fibrous mat
US4300049A (en) * 1980-02-27 1981-11-10 Accuray Corporation Dynamically standardized radiant energy method and apparatus for plural channel gain independent material property measurement
AT368734B (de) * 1981-01-09 1982-11-10 Tann Papier Verfahren und vorrichtung zum regeln von perforiereinrichtungen mittels elektrischem funkendurchschlag fuer streifen aus papier od.dgl.
JPS59501755A (ja) * 1982-09-20 1984-10-18 オ−ウェンズ−コ−ニング・ファイバ−グラス・コ−ポレイション 繊維質マツト内のバインダ含有量を決定するための方法
US4569589A (en) * 1983-05-25 1986-02-11 University Of Pennsylvania Lung water computer system
GB8325691D0 (en) * 1983-09-26 1983-10-26 Wiggins Teape Group Ltd Measuring water content
FI78356C (fi) * 1985-09-16 1989-07-10 Puumalaisen Tutkimuslaitos Oy Metod foer maetning av fuktighet.
JP2512423B2 (ja) * 1985-12-27 1996-07-03 新日本製鐵株式会社 気体の濃度および分圧測定方法およびその装置
US4767935A (en) * 1986-08-29 1988-08-30 Measurex Corporation System and method for measurement of traveling webs
US4786817A (en) * 1986-08-29 1988-11-22 Measurex Corporation System and method for measurement of traveling webs
EP0271602A1 (en) * 1986-12-19 1988-06-22 Shimadzu Corporation Spectroscopic measurement system
US4957770A (en) * 1989-01-27 1990-09-18 Measurex Corporation Coating weight measuring and control apparatus and method
JPH0518896A (ja) * 1990-02-22 1993-01-26 Heinrich Hertz Inst Nachrichtentech Berlin Gmbh 小さな吸光量の検出用測定方法
GB2243679B (en) * 1990-05-01 1994-05-25 Pirelli General Plc Measuring apparatus and method
US5084620A (en) * 1991-01-04 1992-01-28 Eastman Kodak Company Method of detecting pre-spotting when dispensing sample
US5338361A (en) * 1991-11-04 1994-08-16 Measurex Corporation Multiple coat measurement and control apparatus and method
US5276327A (en) * 1991-12-09 1994-01-04 Measurex Corporation Sensor and method for mesaurement of select components of a material
US5250811A (en) * 1991-12-20 1993-10-05 Eastman Kodak Company Method for determining compositional information of a multilayer web
US5619038A (en) * 1995-02-21 1997-04-08 Temple-Inland Forest Products Corporation Method and apparatus for determining the polymer content of a cellulose/polymer mixture and associated calibration
US5708278A (en) * 1996-05-13 1998-01-13 Johnson & Johnson Clinical Diagnostics, Inc. Reflective wetness detector
US5697385A (en) * 1996-06-06 1997-12-16 R. J. Reynolds Tobacco Company On-line basis measurement system for control of tobacco cast sheet
GB9624035D0 (en) * 1996-11-19 1997-01-08 Infrared Eng Infrared measuring gauge
US6179918B1 (en) 1998-11-20 2001-01-30 Honeywell International Inc. Silicone coat weight measuring and control apparatus
US6183561B1 (en) 1998-12-15 2001-02-06 Honeywell International Inc Coat weight measuring and control apparatus
US7291856B2 (en) * 2005-04-28 2007-11-06 Honeywell International Inc. Sensor and methods for measuring select components in moving sheet products
US8107812B2 (en) * 2005-09-23 2012-01-31 Honeywell International Inc. Dynamic range measurement and calculation of optical keyless entry sensor
US7859668B2 (en) 2005-12-15 2010-12-28 Honeywell International Inc. Apparatus and method for illuminator-independent color measurements
US8017927B2 (en) * 2005-12-16 2011-09-13 Honeywell International Inc. Apparatus, system, and method for print quality measurements using multiple adjustable sensors
US7688447B2 (en) 2005-12-29 2010-03-30 Honeywell International Inc. Color sensor
US7573575B2 (en) 2005-12-29 2009-08-11 Honeywell International Inc. System and method for color measurements or other spectral measurements of a material
US8049892B2 (en) * 2008-01-22 2011-11-01 Honeywell International Inc. Apparatus and method for camera-based color measurements
US7592608B2 (en) * 2008-01-22 2009-09-22 Honeywell International Inc. Apparatus and method for measuring and/or controlling ultraviolet-activated materials in a paper-making process
US8401809B2 (en) 2010-07-12 2013-03-19 Honeywell International Inc. System and method for adjusting an on-line appearance sensor system
US9891164B2 (en) 2015-08-27 2018-02-13 Honeywell Limited Holmium oxide glasses as calibration standards for near infrared moisture sensors
US20190162672A1 (en) * 2016-08-10 2019-05-30 Sharp Kabushiki Kaisha Image forming apparatus and determination method

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3614450A (en) * 1969-02-17 1971-10-19 Measurex Corp Apparatus for measuring the amount of a substance that is associated with a base material
US3641349A (en) * 1969-09-29 1972-02-08 Measurex Corp Method for measuring the amount of substance associated with a base material
US3790796A (en) * 1972-06-05 1974-02-05 Infra Systems Inc Method and apparatus for measurement of sheet opacity
US3803414A (en) * 1972-07-26 1974-04-09 Infra Systems Inc Standardization of infrared measuring system
CA1000406A (en) * 1972-10-27 1976-11-23 Measurex Corporation Moisture gauge with opacity type compensation

Also Published As

Publication number Publication date
DE2626144B2 (de) 1978-05-11
GB1511418A (en) 1978-05-17
SE416497B (sv) 1981-01-05
JPS51151598A (en) 1976-12-27
US4006358A (en) 1977-02-01
CA1038193A (en) 1978-09-12
FR2314493A1 (fr) 1977-01-07
FI59170C (fi) 1981-06-10
DE2626144C3 (de) 1979-01-25
FR2314493B1 (fi) 1978-11-17
SE7606652L (sv) 1976-12-13
FI761672A (fi) 1976-12-13
DE2626144A1 (de) 1976-12-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI59170B (fi) Jaemfoerelsefoerfarande och anordning foer maetning av maengden av en substans som transporteras av en loepande materialbana
US3641349A (en) Method for measuring the amount of substance associated with a base material
FI95841B (fi) Paperirainan kosteusanturi sekä menetelmä paperirainan kosteuden säätämiseksi
KR102172593B1 (ko) 다공성 필름의 측정
KR970707435A (ko) 원소의 함량을 측정하는 방법 및 장치(method and equipment for determining the content of an element)
EP0171413A1 (en) INFRARED METER FOR DETERMINING THE MOISTURE CONTENT IN PAPER.
US4371785A (en) Method and apparatus for detection and analysis of fluids
US3675019A (en) Apparatus for measuring the amount of a substance that is associated with a base material
WO1997009605A1 (en) Calibration standard for infrared absorption gauge
US3879607A (en) Method of measuring the amount of substance associated with a base material
JPH11237377A (ja) 紙やシートの品質測定装置
US10088416B2 (en) Method and device for determining gas component inside a transparent container
CN102187201B (zh) 确定淀粉的量
FI110638B (fi) Menetelmä ja laite liikkuvalla alustalla olevan silikonipäällysteen määrän mittaamiseksi
FI56592C (fi) Foerfarande foer maetning av fukthalten hos ett roerligt pappersark
Strong Investigations in the spectral region between 20 and 40μ
FI62420C (fi) Foerfarande foer att maeta belaeggningsmaengd
FI108811B (fi) Menetelmä ja laite liikkuvalla alustalla olevan päällysteen määrän mittaamiseksi
CN111257259A (zh) 水质检测方法及设备
JP2618897B2 (ja) 2波長吸光光度計の校正方法
KR102233557B1 (ko) 굴절률을 통해 수분량을 측정하는 토양 수분 센서
FI116319B (fi) Ilmaisin ja menetelmä valittujen materiaalikomponenttien mittaamiseksi
GB2121168A (en) X-ray device
JP3205084B2 (ja) コート材の膜厚測定方法および装置
JPS59214768A (ja) 血液検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
MM Patent lapsed
MM Patent lapsed

Owner name: MEASUREX CORPORATION