FI62420C - Foerfarande foer att maeta belaeggningsmaengd - Google Patents

Foerfarande foer att maeta belaeggningsmaengd Download PDF

Info

Publication number
FI62420C
FI62420C FI811652A FI811652A FI62420C FI 62420 C FI62420 C FI 62420C FI 811652 A FI811652 A FI 811652A FI 811652 A FI811652 A FI 811652A FI 62420 C FI62420 C FI 62420C
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
radiation
coating
detector
base material
measured
Prior art date
Application number
FI811652A
Other languages
English (en)
Other versions
FI62420B (fi
Inventor
Heikki Venaelaeinen
Rauno Rantanen
Original Assignee
Enso Gutzeit Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Enso Gutzeit Oy filed Critical Enso Gutzeit Oy
Priority to FI811652A priority Critical patent/FI62420C/fi
Priority to CA000403859A priority patent/CA1189638A/en
Priority to DE19823219962 priority patent/DE3219962A1/de
Priority to NO821806A priority patent/NO154570C/no
Priority to GB8215776A priority patent/GB2099994B/en
Priority to SE8203315A priority patent/SE449137B/sv
Priority to FR8209514A priority patent/FR2506929B1/fr
Publication of FI62420B publication Critical patent/FI62420B/fi
Application granted granted Critical
Publication of FI62420C publication Critical patent/FI62420C/fi

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B15/00Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
    • G01B15/02Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness
    • G01B15/025Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness by measuring absorption

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
  • Paper (AREA)

Description

1 62420 Tämän keksinnön kohteena on menetelmä päällystemäärien mittaamiseksi paperin, kartongin tms. perusmateriaalin molemmille puolille tuoduissa päällystekerroksissa, jotka sisältävät samaa karateristista fluoresenssisäteilyä lähettävää komponent-5 tia, jossa menetelmässä säteilylähteestä saatavalla primääri-säteilyllä suoritetaan fluoresenssisäteilyn herättäminen ja säteilyn intensiteetti mitataan detektorilla.
Ennestään tunnetaan primäärisäteily1lä herätetyn karakteristisen fluoresenssisäteilyn mittaamiseen perustuvia menetelmiä 10 päällystemäärien mittaamiseksi yhdessä tai useammassa kartongille tms. materiaalille levitetyssä päällekkäisessä päällys-tekerroksessa. Näissä menetelmissä on käytetty hyväksi primäärisätei lyn ja mitattavan päällystekerroksen alla olevassa kerroksessa herätetyn fluoresenssisäteilyn absorptiota mitat-15 tavaan kerrokseen.
Kun perusmateriaali päällystetään molemmilta puoliltaan samaa karakteristista fluoresenssisäteilyä lähettävää kompo-nettia sisältävillä päällystekerroksilla, eivät edellä mainitut tunnetut menetelmät ole enää käyttökelpoisia. Tyypilli-20 senä esimerkkinä tällaisista tapauksista on paperirata, joka on päällystetty molemmilta puoliltaan samalla päällystemassal-la. Tämän keksinnön tarkoituksena on muodostaa näihin tapauksiin soveltuva päällystemäärien mittausmenetelmä, ja keksinnölle on tunnusomaista se, että päällystetty perusmateriaali 25 saatetaan kahden toiminnallisesti toisistaan riippumattoman säteilylähde-detektoriparin väliin ja että näistä säteilylähde-detektoripareista kummallakin erikseen suoritetaan fluoresenssi-säteilyn herättäminen perusmateriaalin molemmilla puolilla olevissa päällystekerroksissa sekä herätetyn säteilyn yhteen-30 lasketun intensiteetin mittaaminen, jolloin päällystemäärät ovat laskettavissa saatujen mittaustulosten sekä perusmateriaalin tunnetun tai erikseen määritettävän neliöpainon perus-teella.
Keksintöä selostetaan seuraavassa yksityiskohtaisesti esimer- 2 62420 kin avulla viittaamalla oheiseen piirustukseen, joka esittää molemmilta puoliltaan päällystetyn paperiradan päällysteker-rosten mittaamista.
Piirustuksen mukainen paperirata käsittää yläpuolisen päällys-5 tekerroksen 1, paperikerroksen 2 sekä alapuolisen päällysteker-roksen 3. Pää 1lystekerrokset 1 ja 3 ovat samaa isotooppi- tai röntgenputkiherätteistä karakteristista fluoresenssisäteilyä lähettävää päällystemassaa ja ne on levitetty paperille 2 samalla päällystysyksiköllä. Päällystemäärien mittaamista var-10 ten on päällystysyksikön edelle sijoitettu primäärisäteilyä 4 lähettävä säteilylähde S ^· Primäärisäteilyn 4 raakapape-rissa herättämä fluoresenssisäteily 5 mitataan detektorilla p0-f
Dfi Ja raakapaperin läpäissyt primäärisäteily 6 mitataan rpf detektorilla 0^ . Päällystysyksikön jälkeen paperiradan mo-
15 lemmin puolin on sijoitettu säteilylähde-detektoriparit S
01 ja S2» O2* jotka on kollimoitu siten, etteivät niillä suoritetut mittaukset häiritse toinen toisiaan. Säteilylähteen S1 lähettämä primäärisäteily 7 herättää päällystekerroksessa I f luoresenssisätei lyn 8, jonka detektori D,j havaitsee. Sa-20 maan aikaan säteilylähteen S lähettämä primäärisätei ly 9 kohdistuu päällystekerrokseen 3, jossa heräävä fluoresenssi - säteily 10 niinikään kulkeutuu detektoriin . Vastaavalla tavalla säteilylähteen S 2 lähettämä primäärisäteily 11, 13 aikaansaa päällystekerroksessa 3 fluoresenssisäteilyn 12 ja 25 päällystekerroksessa 1 fluoresenssisäteilyn 14, ja syntyneet fluoresenssisäteilyt havaitaan detektorilla D2· Päällystetyn paperiradan läpäisevää primäärisäteilyä 15 mitataan lisäksi transmissiodetektori1la D. .
tr
Jos merkitään 30 m^ = yläpuolisen päällystyskerroksen 1 päällystemäärä m2 = paperikerroksen 2 neliöpaino m- = alapuolisen pääl1ystekerroksen 3 päällystemäärä ,ref f = Dr :11a mitatun fluoresenssisäteilyn intensiteetti II - Olilla " " · 35 I2 = D2:lla 3 62420 C1 = yläpuolen mittausanturin tehollinen aktiivisuus Cp = alapuolen " " C* = jollekin täyteainepitoiselle raakapaperilie mitattu 1 ref suhde 11/IJ·! 5 CL = jollekin täyteainepitoiselle raakapaperi11 e mitattu 1 ref suhde yWs = päällysteen "itseabsorptiokerroin" = primääri- ja sekundäärisäteilyjen yhdistetty massa-absorp-tiokerroin päällysteeseen 10^ = primääri- ja sekundäärisäteilyn yhdistetty massa-absorp-tiokerroin paperiin, "Λ,Γη1 on säteilyn Θ intensiteetti · e säteilyn 10 intensiteetti · m^ · e *m1 /4p*m2^ - /V m3 säteilyn 12 intensiteetti Cp * m3 * e , ja 15 säteilyn 14 intensiteetti Cp · m-j · e Päallystemäärät voidaan tällöin käytännössä määrittää helposti kalibroitavista yhtälöistä (1) ja (2).
_ _ f ~f*e* m, -la*.' m., nv,)l ♦ Ci · CD
; ‘^Sfm3 + m1 * 8 m3 7^· m25] 4 c2 * ^ (2) C f % * e ' f 1 •2 — u2 i. 3 20 Kun päällystemäärät määrätään edellä esitetyllä tavalla, määritys edellyttää tietokoneelle annettavaa informaatiota päällystettävän paperin neliöpainosta (= m2), joka voidaan saada esim. erilliseltä raakapaperia mittaavalta pistemäiseltä /2-neliöpainomitta-rilta. Helpommalla ja tarkempiin tuloksiin päästään kuitenkin, kun -5 raakakartongin jatkuva seuranta suoritetaan raakakartonkia mittaa-vaan mittapäähän asennetulla Sre^:n primäärisateilyä mittaavalla 4 62420 transmissiodetektorilla. Vm. tapauksessa tosin ei saavuteta absoluuttisesti tarkkoja neliöpainoja, mutta kun sekä laitteen ka- ppf librointi että myöhemmät mittaukset perustetaan I^r :oon, muutokset raakapaperin täyteainepitoisuudessa ja kokoomuksessa eivät pääse 5 vaikuttamaan merkittävästi raakapaperin vastakkaiselta puolelta mitattavaan fluoresenssituottoon (täyteaineena olevan päällysteen määrävaihtelut eivät aiheuta läheskään niin suurta vaihtelua sekundäärisäteilyyn kuin primäärisäteilyyn). Yhtälöissä (1) ja (2) käytettävä m2 kannattaa täten määrittää yhtälöstä 10 (3) ja raakapaperin todellinen paino erikseen jollain muulla menetelmällä , ,Tref /Tref, n . i» _ 1ΠνΙι θ/Ι» 3
Tref ref " Vm2 · m = tr tr (3) = I. o ' 8 P £ ' m2 - tr tr /c
' P
pgp pgp I. = D, :11a mitattu transmissiointensiteetti tr tr ppf pof pof
Ifcr0= D :11a ilman välissä olevaa paperia mitattu 15 βΐ - paperin massa-absorptiokerroin primäärisäteilylle suunnassa P ref οΓ6Τ tr
Raakapaperin täyteainepitoisuuden ja -kokoomuksen vaihteluiden merkitys mittaustulokseen voidaan eliminoida myös asentamalla päällystettyä aluetta mittaavaan mittapäähän toinen, joko S^m tai S2:n primäärisäteilyä mittaava transmissiodetektori D^r ja 20 määräämällä aluksi kokonaispäällystemäärä (=m^ + m^) kahden transmissiodetektorilukeman avulla yhtälöstä (4) T ^ c ,,ref. . ^ 1 tr“ C3 Xtr ; mi m3 = - (4) /<c I. = D. :11a mitattu intensiteetti tr tr p0-f C3 = Itr/I > kun mi = m3 = 0 62420 5 ftc= päällysteen massa-absorptiokerroin primäärisäteilylle suunnassa Dj.r ja suhde m^/m^ tämän jälkeen suoraan L:n ja
I J A
I9:n pelkistetyistä yhtälöistä I- = C- · m. + Ci . I*,, ja ^ » ref _ 1 1 > 1 fl 5 I2 = ^2 * m3 + ^2 * *fl * jolloin ja voidaan laskea yhtälöistä (5) ja (B): C (i -r i«f, mi - cJaihjhi± . m3 (5) I"ic3.i^/Itr) ij*) m3 = - - ___ . m3 (6) /^c C1^I2“C2 * *fl )
Mikäli paperin z-suunnan täyteainejakauma vaihtelee huomatta-10 vasti, referenssimittapäähän saattaa tarkkoihin tuloksiin pyrittäessä joissakin tapauksissa olla aiheellista asentaa lähde-detektoripari myöskin raakapaperin toiselle puolelle.
Koska kosteus- ja neliöpainovaihteluiden vaikutus mittaustarkkuuteen on erittäin pieni, kun herättävinä säteilylähteinä 15 käytetään esim./"-isotooppeja, referenssilähteen pistemäisyy-destä aiheutuvat virheet ovat yleensä merkityksettömiä. Raskaita raakapapereita tai kartonkeja päällystettäessä transmissioon perustuva kokonaispäällysmäärän määritys kannattaa kuitenkin jättää pois ja suorittaa mittaukset pelkästään fluo-20 resensseihin perustuen johtuen siitä^että raakapaperin vastakkaisen puolen päällysteen fluorensenssi-tuottotekijä yhtälöissä (1) ja (2) pienenee jyrkästi raakapaperin neliöpainon kasvaessa sekä siitä että kosteusvaihteluiden aiheuttama mittausvirhe kohdistuu lähes yksinomaan tähän tekijään.
25 Alan ammattimiehelle on selvää, että keksinnön erilaiset so-vellutusmuodot eivät rajoitu edellä esitettyyn esimerkkiin vaan voivat vaihdella oheisten patenttivaatimusten puitteissa.

Claims (3)

6 62420
1. Menetelmä päällystemäärien mittaamiseksi paperin, kartongin tms. perusmateriaalin (2) molemmille puolille tuoduissa päällystekerroksissa (1,3), jotka sisältävät samaa karakte- 5 rististä fluoresenssisäteilyä lähettävää komponenttia, jossa menetelmässä säteilylähteestä (S^, S2) saatavalla primääri-säteilyllä (7,9,11,13) suoritetaan fluoresenssisäteilyn (8,10, 12,14) herättäminen ja säteilyn intensiteetti mitataan detektorilla (D^, 02)* tunnettu siitä, että päällystetty pe-10 rusmateriaali (2) saatetaan kahden toiminnallisesti toisistaan riippumattoman säteilylähde-detektoriparin (S^ »D^ ja S2, väliin ja että näistä säteilylähde-detektoripareista kummallakin erikseen suoritetaan fluoresenssisäteilyn (8,10,12,14) herättäminen perusmateriaalin molemmilla puolilla olevissa 15 päällystekerroksissa (1,3) sekä herätetyn säteilyn yhteenlasketun intensiteetin mittaaminen, jolloin päällystemäärät ovat laskettavissa saatujen mittaustulosten sekä perusmateriaalin tunnetun tai erikseen määritettävän neliöpainon perusteella.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu 20 siitä, että päällystemäärät mitataan perusmateriaalin (2) päällystysprosessin yhteydessä, jossa perusmateriaaliradan neliöpaino mitataan ennen päällystekerrosten (1,3) levittämistä radan toiselle puolelle sijoitetun säteilylähteen (Sr ^.) ja toiselle puolelle sijoitetun transmissiodetektorin (D^r ) 25 avulla.
3. Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen menetelmä, tunnet-t u siitä, että päällystetyn perusmateriaalin (2) läpäisevän primäärisäteilyn (15) intensiteetti mitataan toisen säteilylähde-detektoriparin (S2.D2) yhteyteen sijoitetulla transmissio- 30 detektorilla (D^r), jolloin mittaustuloksesta on laskettavissa päällystekerrosten (1,3) yhteenlaskettu päällystemäärä.
FI811652A 1981-05-29 1981-05-29 Foerfarande foer att maeta belaeggningsmaengd FI62420C (fi)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI811652A FI62420C (fi) 1981-05-29 1981-05-29 Foerfarande foer att maeta belaeggningsmaengd
CA000403859A CA1189638A (en) 1981-05-29 1982-05-27 Procedure for determining coating rates
DE19823219962 DE3219962A1 (de) 1981-05-29 1982-05-27 Verfahren zum bestimmen von schichtdicken
NO821806A NO154570C (no) 1981-05-29 1982-05-28 Fremgangsmaate for maaling av beleggmengder.
GB8215776A GB2099994B (en) 1981-05-29 1982-05-28 Determining coating thickness
SE8203315A SE449137B (sv) 1981-05-29 1982-05-28 Forfarande for metning av beleggningsmengder
FR8209514A FR2506929B1 (fr) 1981-05-29 1982-06-01 Procede de determination de taux de revetement

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI811652 1981-05-29
FI811652A FI62420C (fi) 1981-05-29 1981-05-29 Foerfarande foer att maeta belaeggningsmaengd

Publications (2)

Publication Number Publication Date
FI62420B FI62420B (fi) 1982-08-31
FI62420C true FI62420C (fi) 1982-12-10

Family

ID=8514438

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI811652A FI62420C (fi) 1981-05-29 1981-05-29 Foerfarande foer att maeta belaeggningsmaengd

Country Status (7)

Country Link
CA (1) CA1189638A (fi)
DE (1) DE3219962A1 (fi)
FI (1) FI62420C (fi)
FR (1) FR2506929B1 (fi)
GB (1) GB2099994B (fi)
NO (1) NO154570C (fi)
SE (1) SE449137B (fi)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FI68320C (fi) * 1982-12-01 1985-08-12 Valtion Teknillinen Foerfarande foer att medelst straolning fraon en radioisotopkaella utan att foerstoera provet maeta foerdelningen av fyll-och/eller belaeggningsmedel i tjockleksriktningen av papp erartong eller liknande och halten av dessa medel anordnin rgafoer tillaempande av foerfarandet samt anvaendningar av erfoarandet och anordningarna
FI68321C (fi) * 1982-12-01 1985-08-12 Valtion Teknillinen Foerfarande foer att medelst straolning utsaend av ett roentgenroer utan att foerstoera provet maeta foerdelningen av fyll- och/eller belaeggningsmedel i tjockleksriktningen av papper kartong eller liknande och halten av dessa medel anordningar foer tillaempande av foerfarandet samt anvaendningar av foerfarandet och anordningarna
DE3890059C2 (fi) * 1987-02-06 1993-07-01 Dai Nippon Insatsu K.K., Tokio/Tokyo, Jp
DE4106313A1 (de) * 1991-02-28 1992-09-03 Heidelberger Druckmasch Ag Verfahren und vorrichtung zur ermittlung der menge beziehungsweise der schichtdicke eines fluids
SE509846C2 (sv) * 1996-12-17 1999-03-15 Toolex Alpha Ab Förfarande för optisk tjockleksmätning av ett limskikt jämte optisk skiva och dess framställning samt limmedel och dess användning
US6508956B1 (en) 2001-07-25 2003-01-21 Lexmark International, Inc Paper coating test method and composition

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE925197C (de) * 1953-11-11 1955-03-14 Exatest Ges Fuer Messtechnik M Verfahren zur beruehrungslosen Dickenmessung von bandfoermigem, vorzugsweise von warmgewalztem Gut mittels harter elektromagnetischer Strahlung
US3405267A (en) * 1964-06-17 1968-10-08 Industrial Nucleonics Corp Inner layer displacement measuring method and apparatus
CH457875A (de) * 1965-09-22 1968-06-15 Atomic Energy Authority Uk Verfahren zur Dickenmessung an sich bewegendem Blattmaterial
FR1495097A (fr) * 1966-09-22 1967-09-15 Atomic Energy Authority Uk Calibres d'épaisseur fonctionnant par transmission
FI40587B (fi) * 1967-04-01 1968-11-30 Valmet Oy
US4037104A (en) * 1976-04-29 1977-07-19 Nucleonic Data Systems, Inc. Dual beam X-ray thickness gauge
FI53757C (fi) * 1976-12-13 1978-07-10 Pertti Puumalainen Foerfarande foer maetning av ytvikterna
US4147931A (en) * 1976-12-13 1979-04-03 Pertti Puumalainen Procedure for measuring unit area weights
US4081676A (en) * 1976-12-17 1978-03-28 Sentrol Systems Ltd. On-line system for monitoring sheet material additives
FI59489C (fi) * 1978-11-21 1981-08-10 Enso Gutzeit Oy Foerfarande foer maetning av belaeggningsmaengder

Also Published As

Publication number Publication date
SE449137B (sv) 1987-04-06
FR2506929A1 (fr) 1982-12-03
FI62420B (fi) 1982-08-31
SE8203315L (sv) 1982-11-30
DE3219962A1 (de) 1982-12-16
NO154570C (no) 1986-10-22
CA1189638A (en) 1985-06-25
NO821806L (no) 1982-11-30
FR2506929B1 (fr) 1986-09-26
NO154570B (no) 1986-07-14
GB2099994B (en) 1985-02-20
GB2099994A (en) 1982-12-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI59489C (fi) Foerfarande foer maetning av belaeggningsmaengder
US3956630A (en) Fluorimetric coat weight measurement
FI59170C (fi) Jaemfoerelsefoerfarande och anordning foer maetning av maengden av en substans som transporteras av en loepande materialbana
AU607081B2 (en) Method and system for transferring calibration data between calibrated measurement instruments
EP0171413A1 (en) INFRARED METER FOR DETERMINING THE MOISTURE CONTENT IN PAPER.
GB2044443A (en) A method of measuring the content of a substance in a film comprising at least one other substance
US6281498B1 (en) Infrared measuring gauges
FI62420C (fi) Foerfarande foer att maeta belaeggningsmaengd
US3210545A (en) Method of compensating a radiation gauge for unwanted changes in measured material
US3879607A (en) Method of measuring the amount of substance associated with a base material
US4147931A (en) Procedure for measuring unit area weights
US4458360A (en) Procedure for determining coating rates
FI59490C (fi) Foerfarande foer att maeta belaeggningsmaengder
US6332351B1 (en) Detection of salt content of water through measurement of radiation attenuation
GB2084314A (en) Determining concentration by x-ray fluorescence
Douglass Volumetric calibration of neutron moisture probes
CA1079414A (en) Procedure for measuring unit area weights
JPH07260680A (ja) 赤外線センサ
US4952054A (en) Correction of blood count tube readings
SU749203A1 (ru) Радиационный способ измерени влагосодержани сыпучих материалов
JPH1114336A (ja) 厚さ及び厚さ換算単重測定方法
CA1154883A (en) Procedure for measuring coating rates
Zakharov et al. Photocolorimeter calibration features
Ziegler et al. Integration of the Wagner moisture meter with the x-ray lumber gauge strength grader
Van der Merwe Determining moisture content and density of wood by radiation techniques-a subject survey

Legal Events

Date Code Title Description
MA Patent expired

Owner name: ROIBOX OY