KR970707435A - 원소의 함량을 측정하는 방법 및 장치(method and equipment for determining the content of an element) - Google Patents

원소의 함량을 측정하는 방법 및 장치(method and equipment for determining the content of an element)

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Abstract

본 발명은 X-레이 형광성을 이용하여 샘플 유동 물질로부터 채취한 원소의 함량을 측정하기 위한 방법 및 장치에 관한 것인데, 상기 방법은 샘플 물질을 X-레이 또는 감마 광선으로 조사하는 단계와, 상기 샘플 물질로부터 방출되는 상기 광선을 검출하는 단계와, 상기 샘플 물질로부터 방출된 광선의 에너지 분산형 방사선 스펙트럼을 측정하는 단계, 및 상기 원소에 대한 방사선 스펙트럼 윈도우 특성(window characteristic)의 세기를 기초로하여 상기 단계에서 측정한 방사선 스펙트럼으로부터 상기 원소의 함량을 측정하는 단계를 포함한다.
상기 방법과 장치를 현장에서 실제로 이용하기 위해서, 상기 방법은 샘플(1)과 방사선 검출기 사이의 공간내에 있는 공기의 온도를 측정하는 단계와, 측정된 공기 온도에 따라 제1보정계수를 결정하는 단계, 및 상기 샘플(1)과 방사선 검출기(5) 사이의 특성 방사선의 감쇄를 보상하도록 상기 원소의 소정의 함량을 상기 제1보정계수에 의해 보정하는 단계를 더 포함한다.

Description

원소의 함량을 측정하는 방법 및 장치(METHOD AND EQUIPMENT FOR DETERmiNING THE CONTENT OF AN ELEMENT)
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 측정할 유동물질에 대해 측정 장치를 어떻게 배열할 것인가를 도시하는 개략적인 다이어그램이며, 제2도는 보상에 사용되는 측정장치와 센서를 도시하는 개략적인 다이어그램이며, 제3도는 거리 표준화 장치의 제1실시예를 도시하는 개략적인 다이어그램이며, 제4도는 거리 표준화 장치의 제1실시예를 도시하는 개략적인 다이어그램이다.

Claims (14)

  1. X-레이 형광성을 이용하여 유동하는 샘플의 원소 함량을 측정하는 방법으로서, 샘플(1)을 X-레이 또는 감마 방사선으로 조사하는 단계와, 상기 샘플로부터 방출된 방사선에 대한 에너지-분산형 방사선 스펙트럼을 측정하는 단계, 및 측정원소에 대한 방사선 스펙트럼의 윈도우 특성의 세기를 기초로하여 측정한 방사선 스펙트럼으로부터 원소의 함량을 측정하는 단계를 포함하는 유동 샘플의 원소함량 측정방법에 있어서, 샘플(1)과 방사선 검출기 사이의 공간내에 있는 공기의 온도를 측정하는 단계와, 측정된 공기 온도에 따라 제1보정계수를 결정하는 단계, 및 상기 샘플(1)과 방사선 검출기(5) 사이의 특성 방사선의 감쇄를 보상하도록 상기 원소의 소정의 함량을 상기 제1보정계수에 의해 보정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 유동 샘플의 원소함량 측정방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 샘플(1)과 상기 방사선 검출기(5) 사이의 공간내부에 있는 공기의 습도를 측정하는 단계와, 상기 측정된 공기의 습도에 따라 제2보정계수를 결정하는 단계, 및 상기 샘플(1)과 방사선 검출기(5)사이의 특성 방사선의 감쇄를 보상하도록 상기 원소의 소정의 함량을 상기 제2보정계수에 의해 보정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 유동 샘플의 원소함량 측정방법.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 샘플(1)과 상기 방사선 검출기(5) 사이의 공간내부에 잇는 공기의 압력을 측정하는 단계와, 상기 측정된 공기의 압력에 따라 제3보정계수를 결정하는 단계, 및 상기 샘플(1)과 방사선 검출기(5) 사이의 특성 방사선의 감쇄를 보상하도록 상기 원소의 소정의 함량을 상기 제3보정계수에 의해 보정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 유동 샘플의 원소함량 측정방법.
  4. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 샘플(1)과 상기 방사선 검출기(5) 사이의 공간내부에 있는 먼지의 함량을 측정하는 단계와, 상기 측정된 먼지의 함량에 따라 제4보정계수를 결정하는 단계, 및 상기 샘플(1)과 방사선 검출기(5) 사이의 특성 방사선의 감쇄를 보상하도록 상기 원소의 소정의 함량을 상기 제4보정계수에 의해 보정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 유동 샘플의 원소함량 측정방법.
  5. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 샘플(1)과 상기 방사선 검출기(5) 사이의 공간내부에 있는 특정 가스 성분의 함량을 측정하는 단계와, 상기 측정된 가스 성분의 함량에 따라 제5보정계수를 결정하는 단계, 및 상기 샘플(1)과 방사선 검출기(5) 사이의 특성 방사선의 감쇄를 보상하도록 상기 원소의 소정의 함량을 상기 제5보정계수에 의해 보정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 유동 샘플의 원소함량 측정방법.
  6. 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 샘플(1)과 방사선 검출기(5) 사이의 거리(D)는 유동샘플의 표면을 편평화함으로써, 그리고 상기 거리를 측정하고 또한 상기 측정치를 기초로하여 상기 샘플(1)로부터 상기 방사선 검출기(5)까지의 거리를 조절함으로써 표준화되는 것을 특징으로 하는 유동 샘플의 원소함량 측정방법.
  7. X-레이 형광성을 이용하여 유동 샘플로부터 원소의 함량을 측정하는 장치로서, 상기 샘플(1)을 조사하기 위한 하나 이상의 X-레이 또는 감마 방사선원과, 상기 샘플에서 방출된 방사선을 검출하기 위한 검출기(5), 및 상기 샘플에서 방출된 방사선의 에너지 분산형 방사선 스펙트럼을 측정하고 상기 원소에 대한 방사선 스펙트럼 윈도우 특성의 세기를 기초로하여 상기 방사선 스펙트럼으로부터 원소의 함량을 측정하는 수단(27)을 포함하는 유동 샘플의 원소함량 측정장치에 있어서, 샘플(1)과 방사선 검출기 사이의 공간내에 있는 공기의 온도를 측정하는 수단(9)과, 측정된 공기 온도에 따라 제1보정계수를 결정하는 수단, 및 상기 샘플(1)과 방사선 검출기(5) 사이의 특성 방사선의 감쇄를 보상하도록 상기 원소의 소정의 함량을 상기 제1보정계수에 의해 보정하는 수단(27)을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 유동 샘플의 원소함량 측정방법.
  8. 제7항에 있어서, 상기 샘플(1)과 상기 방사선 검출기(5) 사이의 공간내부에 있는 공기의 습도를 측정하는 수단(11)과, 상기 측정된 공기의 습도에 따라 제2보정계수를 결정하는 수단(28), 및 상기 샘플(1)과 방사선 검출기(5) 사이의 특성 방사선의 감쇄를 보상하도록 상기 원소의 소정의 함량을 상기 제2보정계수에 의해 보정하는 수단(27)을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 유동 샘플의 원소함량 측정방법.
  9. 제7항 또는 제8항에 있어서, 상기 샘플(1)과 상기 방사선 검출기(5) 사이의 공간내부에 있는 공기의 압력을 측정하는 수단(10)과, 상기 측정된 공기의 압력에 따라 제3보정계수를 결정하는 수단(28), 및 상기 샘플(1)과 방사선 검출기(5) 사이의 특성 방사선의 감쇄를 보상하도록 상기 원소의 소정의 함량을 상기 제3보정계수에 의해 보정하는 수단(27)을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 유동 샘플의 원소함량 측정방법.
  10. 제7항 내지 제9항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 샘플(1)과 상기 방사선 검출기(5) 사이의 공간내부에 있는 먼지의 함량을 측정하는 수단(12)과, 상기 측정된 먼지의 함량에 따라 제4보정계수를 결정하는 수단(28), 및 상기 샘플(1)과 방사선 검출기(5) 사이의 특성 방사선의 감쇄를 보상하도록 상기 원소의 소정의 함량을 상기 제4보정계수에 의행 보정하는 수단(27)을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 유동 샘플의 원소함량 측정방법.
  11. 제7항 내지 제10항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 샘플(1)과 상기 방사선 검출기(5) 사이의 공간내부에 있는 특정 가스 성분의 함량을 측정하는 수단(13)과, 상기 측정된 가스 성분의 함량에 따라 제5보정계수를 결정하는 수단(28), 및 상기 샘플(1)과 방사선 검출기(5) 사이의 특성 방사선의 감쇄를 보상하도록 상기 원소의 소정의 함량을 상기 제5보정계수에 의해 보정하는 수단(27)을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 유동 샘플의 원소함량 측정방법.
  12. 제7항 내지 제11항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 장치는 상기 샘플(1)과 상기 검출기(5) 사이의 거리를 표준화시키기 위한 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 유동 샘플의 원소함량 측정방법.
  13. 제12항에 있어서, 상기 샘플과 검출기 사이의 거리를 표준화하기 위한 수단은 다음 샘플(16)의 표면을 편평화하기 위한 수단(16)을 포함하는 것을 특징으로 하는 유동 샘플의 원소함량 측정방법.
  14. 제12항 또는 제13항에 있어서, 상기 샘플과 검출기 사이의 거리(D)를 표준화하기 위한 수단은 상기 샘플(1)과 검출기(5) 사이의 거리를 측정하기 위한 수단(15a) 및 상기 측정치를 기초로하여 상기 샘플(1)로부터 검출기(5)까지의 거리(D)를 조절하기 위한 수단(15b)을 포함하는 것을 특징으로 하는 유동 샘플의 원소함량 측정방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019177280A1 (ko) * 2018-03-13 2019-09-19 한국원자력연구원 중성자가 발생되는 시설의 건설 폐기물의 방사화 특성 평가방법, 이의 자체처리 가부 평가방법 및 중성자가 발생되는 시설의 건설을 위한 자재의 인증방법

Families Citing this family (45)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19710420C2 (de) * 1997-03-13 2001-07-12 Helmut Fischer Gmbh & Co Verfahren und Vorrichtung zum Messen der Dicken dünner Schichten mittels Röntgenfluoreszenz
DE19810306A1 (de) * 1998-03-10 1999-10-14 Aumund Foerdererbau Verfahren zur kontinuierlichen Bestimmung der Zusammensetzung eines Materialstromes und dafür geeignete Vorrichtung
JP3062685B2 (ja) * 1998-07-23 2000-07-12 セイコーインスツルメンツ株式会社 蛍光ｘ線分析計
FR2785052B1 (fr) * 1998-10-27 2000-12-01 Commissariat Energie Atomique Dispositif de determination de la concentration d'une substance melangee a un fluorophore et procede de mise en oeuvre de ce dispositif
JP2002529699A (ja) 1998-10-29 2002-09-10 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ Ｘ線光学基準チャネルを有するｘ線回折装置
AUPQ109499A0 (en) * 1999-06-21 1999-07-15 Adelaide Brighton Management Limited Sample presentation for x-ray diffraction
EP1232388A2 (en) 1999-11-19 2002-08-21 Battelle Memorial Institute An apparatus for machine fluid analysis
JP2002031522A (ja) * 2000-07-18 2002-01-31 Seiko Instruments Inc 蛍光ｘ線膜厚計
US6662091B2 (en) * 2001-06-29 2003-12-09 Battelle Memorial Institute Diagnostics/prognostics using wireless links
US6668039B2 (en) 2002-01-07 2003-12-23 Battelle Memorial Institute Compact X-ray fluorescence spectrometer and method for fluid analysis
DE10230990A1 (de) * 2002-07-10 2004-02-05 Elisabeth Katz Vorrichtung zur Durchführung einer Online-Elementanalyse
US7064337B2 (en) * 2002-11-19 2006-06-20 The Regents Of The University Of California Radiation detection system for portable gamma-ray spectroscopy
US6859517B2 (en) * 2003-04-22 2005-02-22 Battelle Memorial Institute Dual x-ray fluorescence spectrometer and method for fluid analysis
DE102004012704B4 (de) * 2004-03-16 2008-01-03 Katz, Elisabeth Vorrichtung zur online-Analyse und Verwendung einer solchen Vorrichtung
DE102004019030A1 (de) * 2004-04-17 2005-11-03 Katz, Elisabeth Vorrichtung für die Elementanalyse
US8173970B2 (en) * 2005-02-04 2012-05-08 Dan Inbar Detection of nuclear materials
US7847260B2 (en) 2005-02-04 2010-12-07 Dan Inbar Nuclear threat detection
US7820977B2 (en) * 2005-02-04 2010-10-26 Steve Beer Methods and apparatus for improved gamma spectra generation
DE102005020567A1 (de) * 2005-04-30 2006-11-09 Katz, Elisabeth Verfahren und Vorrichtung zur Online-Bestimmung des Aschegehalts einer auf einem Födermittel geförderten Substanz und Vorrichtung zur Durchführung einer Online-Analyse
JP4247559B2 (ja) * 2005-06-07 2009-04-02 株式会社リガク 蛍光ｘ線分析装置およびそれに用いるプログラム
US7409037B2 (en) * 2006-05-05 2008-08-05 Oxford Instruments Analytical Oy X-ray fluorescence analyzer having means for producing lowered pressure, and an X-ray fluorescence measurement method using lowered pressure
EP2096431A1 (en) * 2008-02-27 2009-09-02 Oxford Instruments Analytical Oy Portable X-ray fluorescence analyzer
WO2010072029A1 (en) 2008-12-25 2010-07-01 Dow Global Technologies Inc. Surfactant compositions with wide ph stability
US20120236989A1 (en) * 2011-03-16 2012-09-20 Peter John Hardman Portable XRF analyzer for low atomic number elements
DE102012021709B4 (de) * 2011-11-22 2014-09-11 Technische Universität Dresden Verfahren zur qualitativen und quantitativen Bestimmung von Zuschlagstoffen in Papier und papierähnlichen Materialien mit Zellulosematerial
JP6026936B2 (ja) * 2013-03-28 2016-11-16 株式会社日立ハイテクサイエンス 異物検出装置
US20140301530A1 (en) * 2013-04-08 2014-10-09 James L. Failla, JR. Protective shield for x-ray fluorescence (xrf) system
US20140301531A1 (en) * 2013-04-08 2014-10-09 James L. Failla, JR. Protective shield for x-ray fluorescence (xrf) system
CN103278485A (zh) * 2013-05-16 2013-09-04 清华大学 一种固体物料中硫成分的快速检测方法及其检测装置
US9594037B2 (en) * 2014-05-20 2017-03-14 Horiba, Ltd. Analyzing apparatus and calibration method
JP6412340B2 (ja) * 2014-05-20 2018-10-24 株式会社堀場製作所 分析装置及び校正方法
JP6325338B2 (ja) * 2014-05-20 2018-05-16 株式会社堀場製作所 分析装置及び校正方法
JP6528279B2 (ja) * 2015-09-25 2019-06-12 清水建設株式会社 コンクリート中の微量元素の分析方法および分析装置
EP3249394B1 (en) * 2016-05-26 2018-09-12 Malvern Panalytical B.V. X-ray analysis of drilling fluid
JP6423048B1 (ja) * 2017-06-16 2018-11-14 マルバーン パナリティカル ビー ヴィ 掘削流体のｘ線分析
WO2019019042A1 (en) * 2017-07-26 2019-01-31 Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. INTEGRATED X-RAY SOURCE
CN110082816B (zh) * 2018-01-25 2022-12-09 中国辐射防护研究院 一种基于poe的水下伽马谱仪的温度补偿装置和方法
US11592407B2 (en) * 2018-05-18 2023-02-28 Enersoft Inc. Systems, devices, and methods for x-ray fluorescence analysis of geological samples
CN108680592B (zh) * 2018-06-11 2019-09-27 南京航空航天大学 一种钾盐成分在线检测方法
CN109580326A (zh) * 2018-12-05 2019-04-05 西王金属科技有限公司 一种除尘灰中氧化锌及碱金属的测定方法
CN109632854B (zh) * 2019-01-14 2022-10-11 东华理工大学 一种双探测结构的块状铀矿多元素在线x荧光分析仪
CN110427705B (zh) * 2019-08-05 2023-04-07 核工业航测遥感中心 航空放射性测量主标准器单元素模型的设计方法
GB202106959D0 (en) 2021-05-14 2021-06-30 Malvern Panalytical Bv Apparatus and method for x-ray fluorescence analysis
CN113640859A (zh) * 2021-07-22 2021-11-12 中国原子能科学研究院 一种用于辐射剂量仪环境适应性测试的多参数测量系统
GB2617858A (en) * 2022-04-22 2023-10-25 Anglo American Technical & Sustainability Services Ltd System and method for treating mined material

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
ZA741707B (en) * 1974-03-15 1975-07-30 Chamber Of Mines Services Ltd Determining heavy element concentration in ores
GB1494549A (en) * 1975-03-14 1977-12-07 Coal Ind Determining the concentration of sulphur in coal
FI51872C (fi) * 1975-08-12 1977-04-12 Outokumpu Oy Laite liikkeellä olevan kiinteän tai jauhemaisen aineen analysoimiseks i röntgenfluoresenssiperiaatteella.
SU823993A1 (ru) * 1979-07-02 1981-04-23 Предприятие П/Я А-7629 Рентгенофлуоресцентный датчик
JPS58204357A (ja) * 1982-05-24 1983-11-29 Idemitsu Kosan Co Ltd 螢光ｘ線分析方法およびその装置
JPS6061649A (ja) * 1983-09-16 1985-04-09 Rigaku Denki Kogyo Kk 螢光ｘ線分析の補正方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019177280A1 (ko) * 2018-03-13 2019-09-19 한국원자력연구원 중성자가 발생되는 시설의 건설 폐기물의 방사화 특성 평가방법, 이의 자체처리 가부 평가방법 및 중성자가 발생되는 시설의 건설을 위한 자재의 인증방법
KR20190107945A (ko) * 2018-03-13 2019-09-23 한국원자력연구원 중성자가 발생되는 시설의 건설 폐기물 자체처리 가부 평가방법 및 중성자가 발생되는 시설의 건설을 위한 자재의 인증방법

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