ES2714732T3 - Sistema electrónico para un aparato eléctrico y método relacionado - Google Patents

Sistema electrónico para un aparato eléctrico y método relacionado Download PDF

Info

Publication number
ES2714732T3
ES2714732T3 ES11794445T ES11794445T ES2714732T3 ES 2714732 T3 ES2714732 T3 ES 2714732T3 ES 11794445 T ES11794445 T ES 11794445T ES 11794445 T ES11794445 T ES 11794445T ES 2714732 T3 ES2714732 T3 ES 2714732T3
Authority
ES
Spain
Prior art keywords
active load
candidate signal
energy
predetermined amount
validation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
ES11794445T
Other languages
English (en)
Inventor
Natale Gabriele Valentino De
Maio Luciano Di
Andrea Bianco
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
ABB Schweiz AG
Original Assignee
ABB Schweiz AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ABB Schweiz AG filed Critical ABB Schweiz AG
Application granted granted Critical
Publication of ES2714732T3 publication Critical patent/ES2714732T3/es
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03K—PULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/22—Modifications for ensuring a predetermined initial state when the supply voltage has been applied
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03K—PULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/125—Discriminating pulses
    • H03K5/1252—Suppression or limitation of noise or interference

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • Supply And Distribution Of Alternating Current (AREA)
  • Selective Calling Equipment (AREA)
  • Remote Monitoring And Control Of Power-Distribution Networks (AREA)
  • Emergency Protection Circuit Devices (AREA)

Abstract

Un sistema electrónico (1) para un aparato eléctrico asociado (300), comprendiendo: al menos una entrada binaria (2) adaptada para recibir una o más señales candidatas (Sc); al menos una carga activa electrónica (50) que tiene uno o más dispositivos activos electrónicos (51) y que está conectada operativamente a dicha entrada binaria (2); medios de control (100) que están asociados operativamente a dicha entrada binaria (2) y a dicha carga activa (50), y que están adaptados para: detectar la aplicación de una señal candidata (Sc) a la entrada binaria (2) y activar eléctricamente dicha carga activa (50) tras dicha detección, para que la carga activa (50) absorba al menos una cantidad predeterminada de energía (EV) de la señal candidata (Sc); después de la absorción de dicha cantidad predeterminada de energía (EV), validar la señal candidata (Sc) si su contenido residual de energía excede un valor umbral predeterminado: caracterizado por que dichos medios de control se adaptan además a: activar eléctricamente la carga activa (50) para absorber de dicha señal candidata (Sc) una cantidad predeterminada de potencia (PD) durante un tiempo predeterminado (TD), para absorber dicha cantidad predeterminada de energía (EV); medir al menos un parámetro eléctrico (Vin) de dicha señal candidata (Sc) y controlar una corriente de disipación (ID) generada en la carga activa (50) durante dicho tiempo predeterminado (TD) para absorber dicha cantidad predeterminada de potencia (PD), en donde un punto de calibración (Iset_point) de dicha corriente de disipación (ID) es calculado usando al menos el parámetro eléctrico medido (Vin) de la señal candidata (Sc).

Description

DESCRIPCION
Sistema electronico para un aparato electrico y metodo relacionado
La invencion presente se refiere a un sistema electronico y a un metodo para validar una senal electrica aplicada a dicho sistema.
Hay sistemas electronicos dispuestos en un aparato electrico, por ejemplo, en un aparato para una aplicacion de voltaje bajo o medio, para ejecutar varias tareas, por ejemplo, tareas energeticas o de control.
A los efectos de la descripción presente, la expresion "voltaje medio" se refiere a aplicaciones electricas en el intervalo de voltaje entre 1 kV y algunas decenas de kV, por ejemplo, 50 kV, mientras que la expresion "bajo voltaje" se refiere a aplicaciones electricas que tienen un voltaje inferior a 1 kV.
Un sistema electronico generalmente comprende una o mas entradas binarias, adaptada cada una para recibir en la entrada y detectar al menos una senal o comando electrico. El sistema electronico comprende ademas medios de control asociados a las entradas binarias y adaptados para ejecutar diversas t saeregúans la deteccion de las senales recibidas por cada entrada binaria.
Por ejemplo, los sistemas electronicos con una o mas entradas binarias se usan ampliamente en dispositivos de conmutacion, tal como en dispositivos de conmutacion para circuitos de voltaje bajo o medio, por ejemplo, disyuntores, desconectadores y contactores, o en los equipos de conmutacion o armarios electricos donde se instalan dichos dispositivos de conmutacion. En particular, las entradas binarias de tales sistemas electronicos estan adaptadas para recibir información de estado y/o comandos para el dispositivo de conmutacion asociado.
Por ejemplo, la entrada binaria puede recibir una entrada y detectar un comando de disparo generado en el dispositivo de conmutacion o recibido por control remoto. Segun dicha aplicacion, el sistema electronico puede ser instalado en el circuito de disparo del dispositivo de conmutacion, dicho circuito comprende al menos: un dispositivo de proteccion, o rele, adaptado para generar el comando de disparo debido a la deteccion de una condicion de fallo; y un actuador de apertura, tal como un actuador de bobina. El sistema electronico esta adaptado para activar el actuador de apertura tras la deteccion del comando de disparo aplicado a la entrada binaria, a fin de abrir el dispositivo de conmutacion por medio de la intervencion del actuador de apertura.
Segun otra aplicacion ejemplar, la entrada binaria puede recibir y detectar una senal electrica indicadora de una condicion operativa del dispositivo de conmutacion, tal como una senal indicadora de la posicion acoplada o separada de los contactos del propio dispositivo de conmutacion.
En general, los sistemas electronicos con entradas binarias tienen tambien que superar un gran numero de perturbaciones, y algunas de ellas tienen un nivel de energfa no despreciable.
Por tanto, la entrada binaria puede ser aplicada a y detectada tambien por la entrada binaria como una senal generada para el sistema electronico, en particular para causar la ejecucion de una o mas tareas del sistema electronico.
Por esta razon, los medios de validacion estan asociados a la entrada binaria para validar las senales candidatas aplicadas a ellos (que pueden ser senales de ruido o senales generadas para el sistema electronico).
La inmunidad al ruido del sistema electronico, es decir, la capacidad de discriminar entre una senal de ruido y un comando o una senal generada para ser detectada y validada, depende en gran medida de la absorcion de energfa realizada por el sistema electronico, en particular por la entrada binaria, sobre la senal candidata aplicada a la entrada binaria. En particular, como lo demuestran las mediciones y pruebas electromagneticas en laboratorio, la baja inmunidad al ruido esta asociada a una baja absorcion de energfa realizada por la entrada binaria sobre la senal candidata aplicada.
En el estado actual de la tecnica, las entradas binarias son circuitos electronicos que tienen asociada una alta impedancia de entrada, por lo que solamente pueden absorber una cantidad muy pequena de energfa de la senal candidata que se les aplica. Por tanto, los medios de validacion asociados a una entrada binaria pueden validar una senal de perturbacion o de ruido como un comando o una senal generada para ser detectada, comprometiendo el correcto funcionamiento del aparato electrico asociado.
Por ejemplo, se puede aplicar una senal de perturbacion a la entrada binaria de un sistema electronico instalado en el circuito de disparo de un dispositivo de conmutacion; ya que la entrada binaria absorbe solamente una pequena cantidad de energfa de la perturbacion aplicada, los medios de validacion asociados pueden validar dicha perturbacion como un comando de disparo valido, generado, por ejemplo, por el rele de proteccion.
Segun esta validacion, el sistema electronico activa el actuador de apertura para abrir el dispositivo de conmutacion, incluso si esta operacion de apertura no ha sido realmente solicitada.
En el estado actual de la tecnica, los medios de validacion asociados a una entrada binaria estan adaptados para ejecutar operaciones de filtrado, por ejemplo, usando tecnicas de filtrado digital, para realizar la validacion de la senal; en particular, el tiempo de filtrado es hecho largo para aumentar la inmunidad al ruido del sistema electronico.
La Figura 1 ilustra, por ejemplo, una senal de perturbacion 500 y una senal digital 501 generada para ser detectada y validada, ambas pueden ser una senal de entrada candidata aplicada a una entrada binaria de un sistema electronico conocido en la tecnica. Segun se muestra en la Figura 2, cuando la aplicacion de dicha senal candidata de entrada es detectada en el momento de la deteccion Tdetect, los medios de validacion comienzan a filtrar la senal candidata detectada durante un largo tiempo de filtrado Tf, y al final de dicho filtrado validan la senal.
Establecer un tiempo de filtrado prolongado significa poner en peligro el tiempo de respuesta del sistema en su conjunto, mientras que en algunas aplicaciones, como el control de la apertura de un dispositivo de conmutacion, el sistema electronico debe ejecutar sus tareas tan pronto como sea posible despues de recibir un comando u otra información electrica relevante.
Segun otra solucion conocida, uno o mas dispositivos pasivos, tales como resistencias, estan conectados a la entrada binaria para aumentar la inmunidad al ruido. En particular, los dispositivos pasivos estan conectados a la entrada binaria para realizar una carga pasiva adecuada para disipar de la senal candidata aplicada una cantidad de energfa que depende de la impedancia fija de dicha carga pasiva.
Los dispositivos pasivos disipan continuamente energfa mientras que la senal candidata es aplicada a la entrada binaria, calentandose a sf mismos y a los otros dispositivos electronicos dispuestos en la misma tarjeta electronica; dicho calentamiento se vuelve particularmente cntico cuando la senal candidata permanece aplicada a la entrada binaria durante un largo tiempo, como en las aplicaciones en las que se proporciona continuamente una senal a la entrada binaria.
La solicitud de patente de los EE. UU. N° 2008/0246544 describe un ajuste de compensacion para un circuito amplificador operacional que comprende un circuito de deteccion de encendido que genera una senal de reinicio del encendido cuando el voltaje de las fuentes de energfa aumenta al cargar un condensador.
Por tanto, en el estado actual de la tecnica, aunque las soluciones conocidas funcionan de una manera bastante satisfactoria, existen todavfa razones y deseos de mejoras adicionales.
Tal deseo se cumple mediante un sistema electronico para un aparato electrico aso sceiagdúon la reivindicacion independiente 1
Otro aspecto de la descripción presente es proporcionar un aparato electrico que comprende al menos un sistema electronico como el sistema electro snegicúon r laeivindicación independiente 9.
Otro aspecto de la descripción presente es proporcionar un dispositivo de conmutacion que comprende al menos un aparato electrico y/o al menos un sistema electronico, como el aparato electrico y el sistema electro sengicúon la reivindicacion independiente 10.
Otro aspecto de la descripción presente es proporcionar un metodo para validar una senal candidata aplicada a una entrada binaria de un sistema electronico asociado a un aparato elec sterigcúon r leaivindicación independiente 11.
El metodo esta definido por l raeivindicación independiente 11.
En la descripción siguiente, el sistema electronico y el metodo relacio sneagdúon la descripción presente se describen haciendo referencia particular a su uso en dispositivos de conmutacion, en particular en disyuntores adecuados para ser instalados en un circuito electrico de voltaje bajo o medio. Dicha aplicacion debe ser entendida solamente como un ejemplo ilustrativo y no limitativo, ya que los principios y las soluciones tecnicas introducidas en la descripción siguiente pueden ser aplicados a otros tipos de dispositivos de conmutacion, tales como contactores, desconectadores o dispositivos de conmutacion de alto voltaje (es decir, dispositivos para aplicaciones con voltajes superiores a 50 kV), e incluso a otros tipos de aparatos electricos, como por ejemplo transformadores, motores o generadores.
Otras caractensticas y ventajas seran mas evidentes a partir de la descripción de realizaciones ejemplares, pero no exclusivas, del sistema electronico y el me steogdúon la descripción presente, ilustrados en los dibujos adjuntos, en donde:
La Figura 1 muestra una senal de ruido y una senal digital, respectivamente, que pueden ser aplicadas a y detectadas por un sistema electronico;
La Figura 2 muestra la operacion de validacion realizada por un sistema electro sengicúon el estado de la tecnica actual tras detectar la senal de ruido o la senal digital de la Figura 1;
Las Figuras 3 y 4 son diagramas de bloques que ilustran un primer sistema electronico posible y un segundo sistema electronico posible, respectivam seengtúen, la descripción presente;
Las Figuras 5 y 6 son diagramas de bloques que representan una primera realización y una segunda realizacion, respectivamente, del sistema electronico de la Figura 3;
La Figura 7 es un diagrama de bloques que muestra esquematicamente los componentes de una carga activa electronica adecuada para ser usada en un sistema electro sneigcúon la descripción presente.
La Figura 8 muestra por medio de graficos de tiempos una primera operacion de absorcion posible y la operacion de validacion consiguiente realizada por el sistema electronico de la Figura 3 despues de la deteccion de la senal de ruido o de la senal digital de la Figura 1;
La Figura 9 muestra por medio de un grafico de tiempos una segunda operacion de absorcion posible realizada por el sistema electronico de la Figura 3 despues de la deteccion de la senal de ruido o de la senal digital de la Figura 1;
La Figura 10 muestra por medio de graficos de tiempos una primera operacion de absorcion posible y la operacion de validacion consiguiente realizada por el sistema electronico de la Figura 4 despues de la deteccion de la senal de ruido o de la senal digital de la Figura 1;
La Figura 11 muestra por medio de graficos de tiempos una segunda operacion de absorcion posible y la operacion de validacion consiguiente realizada por el sistema electronico de la Figura 4 despues de la deteccion de la senal de ruido o de la senal digital de la Figura 1;
La Figura 12 es un diagrama de bloques que representa un metodo relacionado con el sistema electronico de la Figura según 3 la descripción presente;
La Figura 13 es un diagrama de bloques que representa un metodo relacionado con el sistema electronico de la Figura según 4 la descripción presente;
La Figura 14 es un diagrama de bloques que ilustra esquematicamente un equipo de conmutacion que comprende al menos un dispositivo de conmutacion y al menos un sistema electro sneigcúon la descripción presente;
La Figura 15 es un diagrama de bloques que muestra un esquema de control adecuado para controlar la operacion de absorcion de la carga activa de un sistema electro sneigcúon la descripción presente.
Cabe senalar que en la descripción detallada que sigue a continuacion, componentes identicos o similares, ya sea desde un punto de vista estructural y/o funcional, tienen los mismos numeros de referencia, independientemente de si son mostrados en diferentes realizaciones de la descripción presente; Tambien se debe tener en cuenta que para describir de manera clara y concisa la descripción presente, los dibujos pueden no estar necesariamente a escala y ciertas caractensticas de la descripción pueden ser mostradas de forma un tanto esquematica.
Con referencia a las Figuras 3 - 7 , la descripción presente esta relacionada con un sistema electronico 1 para un aparato electrico, tal como, por ejemplo, un sistema de control 1 configurado para ejecutar tareas de control y/o energeticas en dicho aparato electrico. Con referencia a las Figuras 12 - 13, se describe ademas un metodo 200 relacionado con dicho sistema de control 1.
El sistema electronico 1 comprende al menos una entrada binaria 2 adaptada para recibir una o mas senales candidatas (indicadas en la descripción siguiente y en las Figuras relacionadas con la referencia "Sc"). En particular, la entrada binaria 2 esta adaptada para recibir al menos una senal electrica o comando generado para ser detectado y validado por el sistema electronico 1, por ejemplo, para causar la ejecucion de una o mas tareas del sistema electronico 1. Un ejemplo de dicha senal es la senal digital 501 mostrada en la Figura 1, que puede ser un comando que solicita una cierta operacion del aparato electrico asociado al sistema electronico 1.
Las senales de perturbacion o ruido, tal como la senal de ruido 500 mostradas en la Figura 1, pueden estar aplicadas tambien a la entrada binaria 2 como senales candidatas Sc; por ejemplo, la senal de ruido 501 puede ser generada debido a perturbaciones electromagneticas o capacitivas. Dependiendo de su fuente de generacion, la senal de ruido puede ser repetitiva o no repetitiva a lo largo del tiempo.
El sistema electronico 1 comprende al menos una carga electronica activa 50, es decir, una carga electronica que tiene uno o mas dispositivos o componentes electronicos activos 51, que esta operativamente conectada a la entrada binaria 2 (paso 201 del metodo se 2g0ú0n la descripción presente). En particular, la carga activa 50 esta conectada operativamente a la entrada binaria asociada 2 y esta adaptada para ser accionada electricamente de tal manera que absorbe energfa de la senal candidata Sc aplicada a la entrada binaria 2 por medio de los dispositivos activos 51 dispuestos en ella.
Segun una realización ejemplar, el uno o mas dispositivos electronicos activos 51 de la carga activa 50 son transistores 51. Los ejemplos no limitadores de transistores 51 que pueden ser usados en la carga activa 50 son MOSFETs (Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistors), o BJT (Bipolar Junction Transistors), o IGBT (Insulated Gate Bipolar Transistors), o JFET (Junction Field Effect Transistors), u OptoMOS, o fototransistores.
El sistema electronico 1 comprende medios de control 100 que estan asociados operativamente a la entrada binaria 2 y a la carga activa 50 y que estan adaptados para:
detectar la aplicacion de la senal candidata Sc a la entrada binaria 2 (paso 202 del metodo 200);
activar electricamente la carga activa 50 tras dicha deteccion, de manera que la carga activa 50 absorbe al menos una cantidad predeterminada de energfa de validacion Ev de la senal candidata Sc (paso 203 del metodo 200);
validar la senal candidata (Sc) despues de la absorcion de dicha cantidad predeterminada de energfa (Ev), si su contenido residual de energfa excede un umbral predeterminado, indicado a continuacion como "umbral de validacion" (paso 204 del metodo 200).
La cantidad predeterminada de energfa de validacion Ev a ser absorbida por la carga activa 50 es un parametro, de preferencia un parametro configurable, establecido en los medios de control 100.
Validar la senal candidata, mediante una operacion de validacion, significa verificar la validez de la senal candidata Sc, a fin de discriminar una senal valida generada para el sistema electronico 1, por ejemplo, para causar que el sistema electronico 1 ejecute una o mas de sus tareas, a partir de una senal de ruido o perturbacion. En particular, la operacion de validacion es realizada determinando si la cantidad de energfa asociada a la senal candidata Sc es mayor que el umbral de validacion predeterminado.
Ventajosamente, despues de la absorcion de la cantidad de energfa de validacion Ev establecida en los medios de control 100 (y, por tanto, absorbida por la carga activa 50), solamente se puede reconocer una senal candidata detectada Sc con un contenido residual de energfa mayor que el umbral de validacion predeterminado, por medio de la operacion de validacion, como una senal valida, mientras que una senal candidata Sc que tiene un contenido residual de energfa menor que el umbral de validacion predeterminado no puede ser reconocida por medio de la operacion de validacion como una senal valida. Por ejemplo, si la senal de ruido tiene una energfa asociada menor que la cantidad predeterminada de energfa de validacion Ev , es eliminada por completo mediante la operacion de absorcion realizada por la carga activa 50, es decir, el contenido residual de energfa es sustancialmente nulo.
De preferencia, los propios medios de control 100 estan adaptados para ejecutar las tareas del sistema electronico 1 en el aparato electrico asociado, debido a las senales candidatas validadas Sc (paso 211 del metodo 200).
Ademas, los medios electronicos 100 estan de preferencia adaptados para medir, directa o indirectamente, un voltaje de entrada Vin aplicado a la entrada binaria 2, es decir, el voltaje aplicado a los terminales de entrada 3 de dicha entrada binaria 2 (veanse, por ejemplo, las Figuras 3 - 6 ) .
Segun una realización ejemplar, los medios de control 100 estan adaptados para detectar cuando el voltaje de entrada medido Vin se eleva por encima de un umbral de deteccion predeterminado Vth (vease, por ejemplo, la Figura 1); el aumento del voltaje medido Vin por encima del umbral de deteccion Vth corresponde a la deteccion de la aplicacion de una senal candidata Sc a la entrada binaria 2.
Segun una realización ejemplar, los medios de control 100 estan adaptados para comparar el voltaje medido Vin asociado a la senal candidata detectada Sc con un umbral (indicador del umbral de validacion del conjunto de energfa para validar la senal Sc), para realizar la operacion de validacion a dicha senal candidata Sc despues de la absorcion de la cantidad predeterminada de energfa de validacion Ev.
Por ejemplo, el umbral asociado al voltaje medido Vin puede ser igual al umbral de deteccion Vth.
Si el voltaje medido Vin esta por encima del umbral asociado (es decir, si el contenido residual de energfa de la senal candidata Sc despues de la absorcion por la carga activa 50 esta por encima del umbral de validacion de la energfa predeterminado), la senal candidata Sc es validada y en consecuencia, el sistema electronico 1 puede ejecutar una o mas tareas.
Si el voltaje medido Vin esta por debajo del umbral asociado (es decir, si el contenido residual de energfa de la senal candidata Sc despues de la absorcion por la carga activa 50 esta por debajo del umbral de validacion de energfa predeterminado asociado), la senal candidata Sc es detectada como una senal de ruido y el sistema electronico 1 no ejecuta ninguna tarea debido a la generacion de dicho ruido.
Segun una realización preferida, los medios de control 100 estan ventajosamente adaptados para activar electricamente la carga activa 50 para continuar absorbiendo energfa de la senal candidata Sc durante al menos el tiempo requerido para realizar la validacion de dicha senal candidata Sc, tiempo que en adelante se indica como "tiempo de validacion Tv". Por consiguiente, el paso 204 del metodo 200 comprende activar electricamente la carga activa 50 para absorber continuamente la energfa de la senal candidata Sc despues de la absorcion de la cantidad predeterminada de energfa de validacion Ev.
De esta manera, los medios de control 100 son adecuados para realizar correctamente la operacion de validacion a la senal candidata Sc, incluso si dicha senal candidata Sc es una senal de ruido repetitiva. De hecho, si los medios de control 100 detienen completamente la absorcion de e n e ^ a de la senal de ruido repetitiva despues de la absorcion de la cantidad de e n e ^a de validacion predeterminada Ev, durante la siguiente operacion de validacion, la e n e ^a del ruido sometido a validacion puede aumentar repentinamente debido a su comportamiento repetitivo, anulando los efectos de la absorcion de energfa previa y alterando el resultado de la validacion. Por ejemplo, durante la absorcion de la cantidad predeterminada de energfa de validacion Ev, la energfa de la senal de ruido repetitivo cae por debajo del umbral de validacion asociado, pero puede elevarse nuevamente por encima de dicho umbral durante la operacion de validacion (debido a su comportamiento repetitivo).
Al continuar con la absorcion de energfa del ruido repetitivo incluso durante el tiempo de validacion Tv, se evita un aumento repentino de la energfa de dicha senal, lo que garantiza una validacion correcta.
Segun una realización preferida, los medios de control 100 estan adaptados para activar electricamente la carga activa asociada 50 despues de la deteccion de la senal candidata Sc para absorber de dicha senal candidata una cantidad predeterminada de potencia Pd durante un penodo de tiempo predeterminado Td, con el fin de absorber la cantidad predeterminada de energfa de validacion Ev (dada por el producto de dicha cantidad de potencia Pd y tiempo Td). En particular, la cantidad predeterminada de potencia Pd y el penodo de tiempo Td son parametros, de preferencia parametros configurables, establecidos en los medios de control se 1g0ú0n la cantidad predeterminada de energfa de validacion Ev a ser absorbida por la carga activa 50.
Por consiguiente, en el paso 203 del metodo 200 que absorbe la cantidad predeterminada de energfa de validacion Ev de la senal candidata Sc comprende absorber de dicha senal candidata Sc la cantidad predeterminada de potencia Pd durante el tiempo predeterminado Td.
Los medios de control 100 estan adaptados para activar electricamente la carga activa asociada 50, de manera que dicha carga activa 50 genera una corriente de disipacion Id que fluye a traves de ella durante el tiempo predeterminado Td. En particular, los medios de control 100 estan adaptados para activar electricamente cada dispositivo activo 51 provisto en la carga activa 50 tras la deteccion de la aplicacion de la senal candidata Sc a la entrada binaria 2, de manera que cada dispositivo activo 51 genera una corriente que fluye a traves de el. La corriente de disipacion global Id de la carga activa 50 viene dada por todas las corrientes generadas por los dispositivos activos 51 provistos en la carga activa 50.
La carga activa 50 esta conectada a la entrada binaria 2 de tal manera que se extrae de la senal candidata Sc aplicada a la entrada binaria 2 el suministro de energfa Vsupply para generar la corriente de disipacion global Id. Por tanto, la cantidad de potencia absorbida por la carga activa 50 durante el tiempo predeterminado Td viene sustancialmente dada por el producto entre la corriente de disipacion Id y el suministro de voltaje Vsupply suministrado por la senal candidata Sc, en donde el valor de corriente de disipacion Id (y por tanto, el valor de la corriente que fluye en cada dispositivo activo 51) es establecido mediante los medios de contro sle 1g0ú0n la cantidad predeterminada establecida de potencia Pd y el suministro de energfa Vsupply.
En la realización ejemplar de la Figura 7, la carga activa 50 comprende un MOSFET 51, en particular un n-MOSFET 51, un circuito de suministro de voltaje 53 y una tierra electrica 54 que estan conectadas electricamente al terminal de drenaje y al terminal de fuente, respectivamente de dicho MOSFET 51.
El terminal de compuerta del MOSFET 51 esta conectado a los medios de control 100 para recibir desde alli una senal de activacion 55 que es generada para causar el flujo en el MOSFET 51 de una corriente correspondiente a la corriente de disipacion Id de la carga activa 50.
El suministro de energfa Vsupply para generar dicha corriente de disipacion Id es extrafdo de la senal candidata Sc y es proporcionado al MOSFET 51 por medio del circuito de suministro de voltaje 53. La cantidad de potencia absorbida por la carga activa 50, en particular por el MOSFET 51, durante el penodo de tiempo predeterminado Td viene dada sustancialmente por el producto entre la corriente de disipacion Id y el suministro de energfa Vsupply, en donde el valor de la corriente de disipacion Id es establecido mediante la senal de activacion 55 de los medios de control 100 segun la cantidad predeterminada de potencia establecida Pd y el suministro de energfa Vsupply extrafda por la senal candidata Sc.
De preferencia, para continuar absorbiendo energfa de la senal candidata Sc durante el tiempo de validacion Tv, los medios de control 100 estan adaptados para activar electricamente la carga activa 50 para continuar absorbiendo la cantidad de potencia predeterminada Pd de la senal candidata Sc durante el tiempo de validacion Tv. En particular, los medios de control 100 estan adaptados para activar electricamente cada dispositivo activo 51 de la carga activa 50, de manera que la carga activa 50 continua generando la corriente de disipacion Id durante el tiempo de validacion Tv. De esta manera, se garantiza una correcta operacion de validacion para la senal candidata Sc, incluso si dicha senal candidata Sc es una senal de ruido repetitiva.
De preferencia, los medios de control 100 del sistema electronico 1 estan adaptados para controlar la cantidad de potencia absorbida de la senal candidata Sc por la carga activa 50 durante el penodo de tiempo predeterminado Td, para mantener dicha potencia absorbida en el valor de la cantidad predeterminada de potencia Pd configurada en los medios de control 100.
Por ejemplo, los medios de control 100 estan adaptados para medir, directa o indirectamente, al menos un parametro electrico de la senal candidata Sc aplicada a la entrada binaria 2 y para controlar la corriente de disipacion Id generada en la carga activa 50 durante el tiempo predeterminado Td para absorber la cantidad predeterminada establecida de potencia Pd. El punto de calibracion Iset_point, es decir, el valor objetivo para la operacion de control, de la corriente de disipacion Id es calculado usando el al menos un parametro electrico medido de la senal candidata.
Por consiguiente, el paso 203 del metodo 200 comprende medir al menos un parametro electrico de la senal candidata Sc y controlar la corriente de disipacion Id generada en la carga activa 50 durante el tiempo predeterminado Td, en donde controlar la corriente de disipacion Id comprende calcular un punto de calibracion Iset_point de la corriente de disipacion Id usando el al menos un parametro electrico medido.
Por ejemplo, los medios de control 100 pueden estar adaptados de manera ventajosa para calcular el punto de calibracion Iset_point de la corriente de disipacion Id usando el voltaje real medido V in de la senal candidata Sc aplicada a la entrada binaria 2, en donde los medios de control 100 ya estan adaptados para medir el voltaje de entrada V in aplicado a la entrada binaria 2, a fin de realizar la deteccion y validacion de la senal candidata Sc, como se ha descrito previamente.
En particular, dado que el suministro de energfa Vsupply extrafda de la senal candidata Sc por la carga activa 50 para generar la corriente de disipacion Id esta asociado al voltaje real medido V in de dicha senal Sc (es decir, se corresponde 0 depende del voltaje medido Vin), el punto de calibracion Iset_point puede ser calculado facilmente mediante los medios de control 100 usando el voltaje real medido V in y la cantidad predeterminada de potencia Pd a ser absorbida.
La Figura 15 muestra un esquema de control de corriente ejemplar 400 adecuado para ser implementado por los medios de control 100. En particular, los medios de control 100 estan adaptados para medir el voltaje V in de la senal candidata Sc por medio de medios de medicion ilustrados esquematicamente en el bloque 401, y para medir la corriente de disipacion Id de la carga activa 50 por medio de medios de medicion ilustrados esquematicamente en el bloque 402.
Los medios de control 100 comprenden un medio de calculo ilustrado esquematicamente por el diagrama de bloques 403 que calcula el punto de calibracion real Iset_point de la corriente de disipacion Id usando el voltaje real medido V in, y la cantidad predeterminada de potencia Pd establecida.
El circuito de control comprende un controlador 404 implementado por los medios de control 100 e ilustrado esquematicamente en el diagrama de bloques 404, en donde dicho controlador 404 activa electricamente la carga activa asociada 50 para minimizar el error e entre el punto de calibracion real calculado Iset_point y el valor real medido de la corriente de disipacion Id que fluye en la carga activa 50.
Por ejemplo, suponiendo que la carga activa 50 insertada en el bucle de control de la Figura 15 es la carga activa 50 ilustrada en la Figura 7, el controlador 404 esta adaptado para generar la senal de activacion 55 para el MOSFET 51 para minimizar el error e.
Segun la realización ejemplar de la Figura 3, la entrada binaria 2 y la carga activa asociada 50 del sistema electronico 1 estan dispuestas en el mismo circuito electronico, por ejemplo, estan montadas o integradas en la misma tarjeta 1000. La Figura 12 muestra un diagrama de bloques que ilustra el metodo 200 relacionado con el funcionamiento de dicho sistema de control 1.
Los medios de control 100 estan dispuestos tambien en el mismo circuito de la entrada binaria asociada 2 y la carga activa 50 (en el ejemplo de la Figura 3 estan montados o integrados en la misma tarjeta electronica 1000) y, por tanto, pueden controlar la entrada binaria 2 y la carga activ saeg 5ú0n la descripción anterior de una manera integrada y coordinada.
El sistema electronico 1 ilustrado en la Figura 5 y el sistema electronico 1 ilustrado en la Figura 6 son dos realizaciones ejemplares del sistema de control 1 ilustrado en la Figura 4. Segun dichas realizaciones ejemplares, los medios de control 100 ilustrados en la Figura 4 comprenden una unidad de control 101 adaptada para integrar toda la logica requerida para controlar la carga activa asociada 50 y la entrada bina srieag 2ú,n la descripción anterior.
Alternativamente, los medios de control 100 ilustrados en la Figura 3 pueden comprender una pluralidad de unidades de control, cada una adaptada para realizar tareas espedficas, en donde dichas unidades de control estan conectadas operativamente y en comunicacion entre sf para realizar sus tareas espedficas de manera coordinada.
En las realizaciones ejemplares de las Figuras 5 - 6 , la entrada binaria 2 comprende al menos un circuito rectificador 4 que esta adaptado para convertir una senal de voltaje de CA recibida en una senal de voltaje de CC; en particular, el circuito rectificador 4 esta conectado a los terminales de entrada 3 de la entrada binaria 2 donde la senal candidata Sc esta aplicada. De esta manera, el circuito rectificador 4 es adecuado para recibir en la entrada el voltaje V in de la senal candidata Sc y para producir un voltaje rectificado correspondiente Vr. La carga activa 50 esta conectada a la salida del circuito rectificador 4 para extraer el suministro de energfa Vsupply para generar su corriente de disipacion Id a partir del voltaje de salida Vr.
En la realización ejemplar de la Figura 5, la entrada binaria 2 comprende la unidad de control 101 que esta conectada a la salida del circuito rectificador 4 y esta adaptada para detectar el voltaje Vr rectificado para medir el voltaje Vin aplicado a los terminales de entrada 3 de la entrada binaria 2. La unidad de control 101 esta adaptada para detectar la aplicacion de la senal candidata Sc a la entrada binaria 2 y para controlar la corriente de disipacion Id que fluye en la carga activa 50 mediante el uso de dicha medicion.
La unidad de control 101 esta conectada tambien al circuito rectificador 4 por medio de un circuito 5 dispuesto para adaptar el voltaje rectificado de salida Vr a un nivel requerido para alimentar la unidad de control 101.
Por tanto, la senal candidata Sc aplicada a la entrada binaria 2 le proporciona a la unidad de control 101 la energfa requerida para operar.
En la realización ejemplar de la Figura 5, los medios de control 100 ilustrados en la Figura 4 comprenden ademas una unidad de control principal 102 que esta conectada, de preferencia por medio de medios de aislamiento galvanico, a la unidad de control 101 y que esta adaptada para ejecutar las tareas (representadas esquematicamente en la Figura 5 por los bloques 103) del sistema electronico 1. Tales tareas 103 estan asociadas a la senal candidata validada Sc, en donde la validacion es realizada por la unidad de control 101.
En la realización ejemplar de la Figura 6, los medios de control 100 ilustrados en la Figura 4 comprenden un circuito de medicion 401. El circuito de medicion 401 esta integrado en la entrada binaria 2; en particular, el circuito de medicion 401 esta conectado a la salida del circuito rectificador 4 y esta adaptado para detectar el voltaje rectificado Vr para medir el voltaje Vin aplicado a los terminales de entrada 3 de la entrada binaria 2.
El circuito de medicion 401 esta conectado tambien al circuito rectificador 4 por medio de un circuito 5 adaptado para adaptar el voltaje rectificado de salida Vr a un nivel requerido para alimentar el circuito de medicion 401. Por tanto, la senal candidata Sc aplicada a la entrada binaria 2 le proporciona al circuito de medicion 401 la energfa necesaria para operar.
La unidad de control 101 esta conectada, de preferencia por medio de medios de aislamiento galvanico, al circuito de medicion 401 para recibir en la entrada el voltaje medido Vin y esta adaptada para detectar la aplicacion de la senal candidata Sc a la entrada binaria 2 y para controlar la corriente de disipacion Id de la carga activa 50 que usa dicha medicion recibida.
Ademas, la unidad de control 101 de la Figura 6 esta adaptada para ejecutar las tareas (representadas esquematicamente por los bloques 103) del sistema electronico 1 que estan asociadas a la senal candidata validada Sc, en donde la validacion es realizada por la propia unidad de control 101.
Los medios de control 100 del sistema electron siceogú 1n la realización ejemplar de la Figura 3 estan adaptados para activar electricamente la carga activa 50 de manera que la carga activa 50 continua absorbiendo la cantidad predeterminada de potencia Pd de la senal candidata Sc durante el tiempo de validacion Tv.
Ademas, los medios de control 100 estan adaptados para al menos reducir la corriente de disipacion Id en la carga activa 50 al final de la operacion de validacion de la senal candidata Sc (paso 209 del metodo 200 de la Figura 12).
Segun una primera solucion, dichos medios de control 100 estan adaptados para interrumpir la corriente de disipacion Id generada en la carga activa 50 (es decir, para detener la generacion de corriente en cada dispositivo activo 51 de la carga activa 50) al final del tiempo de validacion Tv. De esta manera, tan pronto como la absorcion de energfa de la senal candidata Sc ya no sea requerida, la corriente de disipacion Id es interrumpida por los medios de control 100, para detener el calentamiento en la carga activa 50 generado por el flujo de dichas ben curso.
Segun una segunda solucion, los medios de control 100 estan adaptados para reducir la corriente de disipacion Id generada en la carga activa 50 a una pequena corriente de retencion predeterminada Ih, al final del tiempo de validacion Tv. En partic suelagrú,n se muestra, por ejemplo, en las Figuras 3, 5-7, la carga activa 50 esta configurada para estar conectada operativamente a medios de monitorizacion y/o diagnostico 600 que a su vez estan adaptados para monitorizary/o senalar el estado de dicha carga activa 50 y/o la una o mas partes del sistema electrico 1, usando la corriente de retencion Ih (paso 210 del metodo de la Figura 12).
Por ejemplo, los medios de monitorizacion y/o diagnostico 600 estan adaptados para detectar cuando la corriente de retencion Ih cae por debajo de un umbral de corriente predeterminado, debido a un fallo, o defecto, de la carga activa 50 o debido a una condicion, o fallo, cnticos detectados en una o mas partes del sistema electronico 1. Las condiciones cnticas significan condiciones en donde una o mas partes de los sistemas electronicos no funcionan correctamente, debido, por ejemplo, a su fallo o dano.
En particular, tal condicion cntica del sistema electronico 1 es detectada por los medios de control 100 que, en consecuencia, activan electricamente la carga activa 50 para al menos reducir la corriente de retencion Ih para que caiga por debajo del umbral de corriente. De preferencia, los medios de control 100 activan electricamente la carga activa 50 para interrumpir el flujo de la corriente de retencion Ih despues de la deteccion de una condicion cntica del sistema electronico 1.
Cuando la corriente de retencion Ih cae por debajo del umbral de corriente asociado, los medios de monitorizacion y/o diagnostico 600 producen una senal de alarma.
La carga activa 50 y los medios de monitorizacion y/o diagnostico asociados 600 estan conectados entre sf de tal manera que el suministro de energfa necesario para generar la corriente de retencion Ih es extrafdo por la carga activa 50 de los medios de monitorizacion y/o diagnostico 600 mismos (vease, por ejemplo, la Figura 7).
Los medios de monitorizacion y/o diagnostico 600 pueden estar montados o integrados en la tarjeta electronica 1000 o pueden comprender uno o mas dispositivos exteriores conectados a la tarjeta electronica 1000.
De preferencia, los medios de control 100 del sistema electron siceogú 1n la realizacion ejemplar de la Figura 3 estan adaptados para:
detectar al menos una condicion operativa cntica de la carga activa 50 que ocurre durante el tiempo establecido predeterminado Td y que se debe a la absorcion de la cantidad de potencia predeterminada Pd de la senal candidata Sc;
cambiar la cantidad establecida predeterminada de potencia Pd a ser absorbida para detener la condicion cntica detectada, y en consecuencia cambiar la duracion del tiempo establecido predeterminado Td para absorber la cantidad predeterminada deseada de energfa de validacion Ev de la senal candidata Sc.
Dicha al menos una condicion operativa cntica debida a la absorcion de la cantidad predeterminada de potencia Pd podna ser una condicion de fallo o de funcionamiento incorrecto de la carga activa 50, por ejemplo, de sus dispositivos activos 51.
Por consiguiente, el paso 203 del metodo de la Figura 12 comprende:
detectar al menos una condicion operativa cntica de la carga activa 50 que ocurre durante el tiempo predeterminado Td establecido y debido a la absorcion de la senal candidata Sc de la cantidad establecida predeterminada de potencia Pd;
cambiar la cantidad establecida predeterminada de potencia Pd a ser absorbida de la senal candidata Sc para detener la condicion cntica detectada, y
en consecuencia, cambiar la duracion del tiempo establecido predeterminado Td para absorber de la senal candidata Sc la energfa de validacion deseada Ev .
En la practica, si los medios de control 100 detectan una condicion cntica debida, por ejemplo, a una cantidad predeterminada de potencia Pd ajustada demasiado alta, los mismos medios de control 100 intervienen reduciendo la cantidad predeterminada de potencia Pd de una cantidad requerida para detener la condicion cntica detectada.
Los medios de control 100 alargan en consecuencia el tiempo predeterminado Td, en donde la cantidad de dicho aumento temporal es tal que la carga activa 50 ha absorbido la cantidad deseada de energfa de validacion Ev al final del tiempo alargado Td.
Segun una realización ejemplar, los medios de control 100 estan adaptados para:
monitorizar el calentamiento en la carga activa 50 debido a la corriente de disipacion Id generada y detectar una condicion de sobrecalentamiento (debido a una cantidad predeterminada de potencia Pd configurada demasiado alta);
activar electricamente la carga activa 50 para reducir dicha corriente de disipacion Id (y por tanto la cantidad absorbida asociada de potencia Pd) y detener la condicion de sobrecalentamiento; y
aumentar en consecuencia la duracion del tiempo predeterminado Td para absorber la cantidad predeterminada deseada de energfa de validacion Ev de la senal candidata Sc.
Dicha condicion de sobrecalentamiento es, por ejemplo, una condicion en la que la temperatura alcanzada en la carga activa 50 excede un umbral predeterminado y es tan alta que puede danar o causar el funcionamiento incorrecto de la carga activa 50, en particular de sus dispositivos activos 51.
Haciendo referencia a las Figuras 8-9, el funcionamiento del sistema electronico 1 ilustrado en la Figura 3 se describe en esta memoria considerando la situacion inicial en donde una cantidad predeterminada de energfa de validacion Ev a ser absorbida de la senal candidata Sc es establecida en los medios de control 100. En particular, la cantidad predeterminada de potencia Pd y el tiempo Td son establecidos para absorber de la senal candidata Sc la cantidad deseada de energfa de validacion Ev.
Una senal candidata Sc, tal como, por ejemplo, la senal digital 501 o la senal de ruido 500 ilustrada en la Figura 1, es aplicada a los terminales de entrada 3 de la entrada binaria 2. Los medios de control 100 miden el voltaje Vin aplicado a los terminales de entrada 3 de la entrada binaria 2, y detectan la aplicacion de la senal candidata Sc basandose en dicha medicion (paso 202 del metodo 200 de la Figura 12).
En las Figuras 1 y 8 - 9 , dicha deteccion ocurre en un tiempo de deteccion Tdetect. Por ejemplo, los medios de control 100 detectan la aplicacion de la senal candidata Sc a la entrada binaria 2 cuando el voltaje medido V in sube por encima del umbral de deteccion asociado Vth, se ilustra en la s Feigguúrna 1.
En el momento de la deteccion Tdetect, los medios de control 100 comienzan a activar electricamente la carga activa 50 para absorber la cantidad predeterminada de energfa de validacion Ev a partir de la senal candidata Sc aplicada a la entrada binaria 2 (paso 203 del metodo de la Figura 12).
En particular, los medios de control 100 comienzan a activar electricamente la carga activa 50 para absorber la cantidad predeterminada de potencia Pd de la senal candidata Sc (veanse las Figuras 8 - 9), es decir, los medios de control 100 comienzan a activar electricamente cada dispositivo activo 51 de la carga activa 50 para generar la corriente de disipacion Id la canti sdeagdún predeterminada establecida de potencia Pd y el suministro de energfa Vsupply extrafda de la senal candidata Sc, para generar dicha corriente Id.
51 los medios de control 100 no detectan que ocurre una condicion de operacion cntica en la carga activa 50 durante el tiempo predeterminado Td, los medios de control 100 mismos activan electricamente la carga activa 50 para continuar absorbiendo la cantidad establecida predeterminada de potencia Pd durante el tiempo predeterminado asociado Td, según se ilustra en las Figuras 8-9.
Si los medios de control 100 detectan tal condicion de operacion cntica, cambian la cantidad establecida predeterminada de potencia Pd a ser absorbida, para detener la condicion cntica detectada. Ademas, los medios de control 100 cambian en consecuencia la duracion del tiempo predeterminado Td para absorber la cantidad deseada de energfa de validacion Ev de la senal candidata Sc, incluso si la absorcion de potencia ha sido cambiada para detener la condicion cntica detectada.
Por ejemplo, los medios de control 100 monitorizan el calentamiento en la carga activa 50 debido al flujo de corriente de disipacion Id; si los medios de control 100 detectan una condicion de sobrecalentamiento debida a una cantidad predeterminada de potencia Pd ajustada demasiado alta, activan electricamente la carga activa 50 para reducir dicha corriente de disipacion Id (y por tanto la potencia absorbida asociada Pd) y detienen la condicion de sobrecalentamiento. Ademas, los medios de control 100 aumentan en consecuencia la duracion del tiempo predeterminado Td para absorber de la senal candidata Sc la cantidad predeterminada deseada de energfa de validacion Ev, incluso si la absorcion de energfa ha sido reducida.
Los medios de control 100 controlan la corriente de disipacion Id generada en la carga activa 50 durante el tiempo predeterminado Td. En particular, dado que el suministro de energfa Vsupply extrafda por la carga activa 50 para generar la corriente de disipacion Id esta asociado al voltaje medido Vin de la senal candidata Sc, se puede calcular facilmente el punto de calibracion Iset_point de la corriente de disipacion Id por los medios de control 100 usando el voltaje real medido Vin y la cantidad establecida predeterminada de potencia Pd a ser absorbida. Por tanto, si el voltaje V in disminuye o aumenta durante el tiempo predeterminado Td, la corriente de disipacion Id aumenta o disminuye en consecuencia por los medios de control 100, por lo que la carga activa 50 continua absorbiendo de la senal candidata Sc la cantidad establecida predeterminada de potencia Pd.
Segun se ilustra en las Figuras 8 - 9 , al final del tiempo predeterminado Td, la cantidad deseada de energfa de validacion Ev ha sido absorbida de la senal candidata Sc y los medios de control 100 validan la senal candidata Sc, mediante la operacion de validacion, si su contenido residual de energfa excede el umbral de validacion predeterminado (paso 204 del metodo 200 de la Figura 12). En particular, los medios de control 100 activan electricamente la carga activa 50 para continuar absorbiendo la cantidad predeterminada de potencia Pd de la senal candidata Sc (veanse las Figuras 8 - 9 ) durante el tiempo de validacion Tv.
Por ejemplo, los medios de control 100 comparan el voltaje de la senal candidata Sc de la que se ha absorbido la cantidad predeterminada de energfa de validacion Ev con el umbral de deteccion asociado Vth (correspondiente al umbral de validacion predeterminado de energfa de la operacion de validacion). Si la senal candidata Sc excede dicho umbral Vth, es validada, es decir, es detectada como una senal valida generada para causar la ejecucion de una o mas tareas 103 del sistema electronico 1. De lo contrario, la senal candidata Sc es detectada como un ruido o perturbacion, y no se ejecutan tareas 103.
Al final del tiempo de validacion Tv , los medios de control 100 activan electricamente la carga activa 50 para reducir al menos la corriente de disipacion Id (paso 209 del metodo 200 de la Figura 12). En particular, segun el ejemplo de la Figura 8, los medios de control 100 pueden activar electricamente la carga activa 50 para interrumpir la corriente de disipacion que fluye por medio de ella.
Segun el ejemplo de la Figura 9, los medios de control 100 pueden activar electricamente la carga activa 50 para reducir la corriente de disipacion Id que fluye por medio de la pequena corriente de retencion predeterminada Ih (correspondiente a la energfa disipada Ph de la Figura 9). Segun dicho ejemplo, los medios de monitorizacion y/o de diagnostico 600 conectados a la carga activa 50 suministran la carga activa 50 misma para generar la corriente de retencion Ih y usan dicha corriente de retencion Ih para monitorizar y/o senalar el estado de la carga activa 50 (paso 210 del metodo de la Figura 12).
Segun la realización ejemplar de la Figura 4, la entrada binaria 2 y la carga activa asociada 50 del sistema electronico 1 pueden estar dispuestas en diferentes tarjetas o circuitos electronicos. La Figura 13 ilustra un diagrama de bloques que muestra el metodo 200 relacionado con la operacion de dicho sistema de control 1.
El sistema electronico 1 ilustrado en la Figura 4 comprende una primera tarjeta electronica 1002 que tiene al menos la carga activa 50 montada en ella o integrada a ella y una segunda tarjeta electronica 1001 que tiene al menos la entrada binaria 2 montada en ella o integrada a ella. La primera y la segunda tarjetas electronicas 1002, 1001 estan asociadas mediante la conexion electrica entre la entrada binaria 2 y la carga activa 50 (paso 201 del metodo de la Figura 13).
En particular, la carga activa 50 esta conectada electricamente a la entrada binaria 2 para extraer de la senal candidata Sc aplicada a la entrada binaria 2 el suministro de energfa Vsupply para generar su corriente de disipacion Id, para absorber la cantidad predeterminada de energfa de validacion Ev de dicha senal Sc.
Por ejemplo, la primera y la segunda tarjetas electronicas 1002, 1001 ilustradas en la Figura 4 estan asociadas entre sf por medio de la conexion electrica entre la carga activa 50 y los terminales de entrada 3 de la entrada binaria 2.
Los medios de control 100 de dicho sistema electronico 1 comprenden:
una primera unidad de control 111 montada o integrada en la primera tarjeta electronica 1002 que esta asociada operativamente a y controla la carga activa 50
una segunda unidad de control 110 montada o integrada en la segunda tarjeta electronica 1001 que esta operativamente asociada a la entrada binaria 2 para validar la senal candidata Sc aplicada a la entrada binaria 2.
Dado que la primera y la segunda tarjetas electronicas 1002, 1001 estan asociadas solamente por medio de la conexion electrica entre la entrada binaria 2 y la carga activa 50, las unidades de control 110, 111 no pueden comunicarse entre sf. Por consiguiente, tanto la unidad de control 110 y la unidad de control 111 estan adaptadas para detectar la aplicacion de la senal candidata Sc a la entrada binaria 2 (paso 202 del metodo 200 de la Figura 13), midiendo el voltaje de entrada Vin aplicado a los terminales de entrada 3 de la entrada binaria 2.
La unidad de control 111 esta adaptada para activar electricamente la carga activa 50 tras la deteccion de la aplicacion de la senal candidata Sc a la entrada binaria 2, para que la carga activa 50 absorba al menos la cantidad predeterminada de energfa de validacion Ev de la senal candidata Sc (paso 203 del metodo 200 de la Figura 13).
En particular, la unidad de control 111 esta adaptada para activar electricamente la carga activa 50 tras la deteccion de la senal candidata Sc, para que la carga activa 50 absorba de la senal candidata detectada Sc la cantidad predeterminada de potencia Pd durante el tiempo predeterminado Td (veanse las Figuras 10-11) , para absorber la cantidad deseada de energfa de validacion Ev .
La unidad de control 111 causa la absorcion de la cantidad predeterminada de potencia Pd de la senal candidata Sc activando electricamente cada dispositivo activo 51 de la carga activa 50 para generar la corriente de disipacion global Id, en donde el suministro de energfa Vsupply para generar dicha Id es extrafdo de la senal candidata Sc aplicada a la entrada binaria 2.
El valor de la corriente de disipacion Id generada en la carga activa 50 (y, por tanto, el valor de la corriente que fluye en cada dispositivo activo 51) es establecido por los medios de control se 1g0ú0n la cantidad predeterminada de potencia Pd establecida y el suministro de energfa Vsupply.
En particular, la unidad de control 111 esta adaptada para controlar la corriente de disipacion Id, para que la carga activa 50 absorba la cantidad establecida predeterminada de potencia Pd de la senal candidat saeg Súcn el voltaje Vin de la senal candidata Sc. Por ejemplo, la unidad de control 111 esta adaptada para calcular el punto de calibracion Iset_point para controlar la corriente de disipacion Id, usando el voltaje real medido Vin de la senal candidata Sc y la cantidad establecida predeterminada de potencia Pd a ser absorbida.
La unidad electronica 110 asociada a la entrada binaria 2 esta adaptada para validar la senal candidata Sc despues de la absorcion de la cantidad predeterminada de energfa de validacion Ev, si el contenido residual de energfa de dicha senal candidata Sc excede el umbral de validacion predeterminado (paso 204 del metodo 200 de la Figura 13). La unidad de control 110 de la Figura 4 esta adaptada tambien para ejecutar las tareas del sistema electronico 1 (ilustradas esquematicamente en los bloques 103) en el aparato electrico relacionado, si la senal candidata Sc es validada (paso 211 del metodo 200 de la Figura 13).
La unidad de control 111 esta adaptada para activar electricamente la carga activa 50 para continuar absorbiendo energfa de la senal candidata Sc durante el tiempo de validacion Tv requerido por la unidad de control 110 para realizar la operacion de validacion. De esta manera, se garantiza una validacion correcta incluso si la senal candidata Sc aplicada a la entrada binaria 2 es un ruido repetitivo.
La carga activa 50 y la unidad de control asociada 111 pueden ser concebidas, por ejemplo, como un accesorio para un aparato electrico que ya tiene instalada la segunda tarjeta electronica 1001. En particular, la unidad de control 110 de dicha tarjeta electronica preinstalada 1001 esta adaptada para detectar la aplicacion de la senal candidata Sc a la entrada binaria asociada 2 y para validar dicha senal candidata Sc detectada despues de un tiempo, que en lo sucesivo se indica como tiempo de filtrado Tf, que esta configurado como un tiempo largo para garantizar la inmunidad al ruido del sistema implementado por medio de la tarjeta electronica instalada 1001 sola.
La segunda tarjeta electronica 1002 puede estar conectada ventajosamente como accesorio a la tarjeta electronica preinstalada 1001, en particular mediante la conexion de la carga activa 50 a los terminales de entrada 3 de la entrada binaria 2 (paso 201 del metodo 200 de la Figura 13). Las tarjetas electronicas 1001, 1002 estan adaptadas para implementar el sistema electron siceogú 1n la descripción presente despues de su conexion.
Si la unidad de control 110 de la tarjeta electronica preinstalada 1001 es adecuada para que sea configurada por un operador para cambiar la duracion del tiempo de filtrado Tf, dicho operador:
establece en la unidad de control 111 la cantidad deseada de energfa de validacion Ev a ser absorbida de la senal candidata Sc por la carga activa 50; y
en consecuencia, reduce el tiempo de filtrado Tf establecido en la unidad de control 110 para que la unidad de control 110 valide la senal candidata Sc al final de la absorcion de la cantidad predeterminada de energfa de validacion Ev (vease la Figura 11), si dicha senal candidata Sc tiene un contenido residual de energfa que excede el umbral de validacion predeterminado.
En tal caso, la unidad de control 111 esta de preferencia adaptada para activar electricamente la carga activa asociada 50 para continuar absorbiendo energfa de la senal candidata Sc durante un intervalo temporal adicional predeterminado Tadd, despues de la absorcion de la cantidad deseada de energfa de validacion Ev (paso 212 del metodo 200 de la Figura 13).
En parti sceuglaúrn, se ilustra en la Figura 11, la unidad de control 111 puede estar adaptada para activar electricamente la carga activa 50 durante el intervalo temporal adicional Tadd, de manera que la carga activa 50 continua absorbiendo la cantidad predeterminada de potencia Pd.
El intervalo de tiempo adicional Tadd tiene una duracion establecida por el operador para ocuparse de posibles retrasos temporales entre el final de la absorcion de la cantidad de energfa de validacion Ev predeterminada y la siguiente validacion de la senal candidata Sc, debido, por ejemplo, a la aparicion de errores en la unidad de control 100 y/o la 111. En consecuencia, incluso si las unidades de control 100, 111 no pueden comunicarse entre sf para coordinar sus operaciones, el intervalo de tiempo adicional Tadd garantiza que la carga activa 50 continua absorbiendo energfa de la senal candidata Sc durante una operacion de validacion retrasada de dicha senal Sc (vease la Figura 11).
51 la unidad de control 110 de la tarjeta electronica preinstalada 1001 no puede ser configurada por un operador para cambiar la duracion del tiempo de filtrado largo establecido Tf, el operador configura la unidad de control 111 para que active electricamente la carga activa asociada 50 para absorber la cantidad deseada de energfa de validacion Ev de la senal candidata Sc durante el tiempo predeterminado Td, en donde dicho tiempo predeterminado Td esta ajustado sustancialmente igual al tiempo de filtrado Tf de la unidad de control 110 (vease la Figura 10).
Haciendo referencia a las Figuras 10 - 11, el funcionamiento del sistema electronico 1 ilustrado en la Figura 4 se describe en esta memoria, considerando la situacion de inicio en donde un operador conecta, como accesorio, la tarjeta electronica 1002 a la tarjeta electronica preinstalada 1001, conectando la carga activa 50 a los terminales de entrada 3 de la entrada binaria 2 (paso 201 del metodo 200 ilustrado en la Figura 13).
Segun el ejemplo de la Figura 11, el operador establece en la unidad de control 110 una cantidad predeterminada deseada de energfa de validacion Ev para ser absorbida de la senal candidata Sc y, en consecuencia, reduce el tiempo de filtrado Tf establecido en la unidad de control 110, para que la validacion de la senal candidata Sc comience al final de la absorcion de la cantidad predeterminada de energfa de validacion Ev.
Segun el ejemplo de la Figura 10, la unidad de control 110 de la tarjeta electronica preinstalada 1002 no puede estar configurada y el operador establece la cantidad predeterminada de energfa de validacion Ev en la unidad de control 111, asf como el tiempo predeterminado Td durante el que la cantidad de potencia Pd que se absorbe de la senal candidata Sc se corresponde con el tiempo de filtrado sin cambios Tf.
Una senal candidata Sc, como por ejemplo la senal digital 501 o la senal de ruido 500 ilustrada en la Figura 1, es aplicada a los terminales de entrada 3 de la entrada binaria 2. La unidad de control 111 mide el voltaje V in de dicha senal candidata Sc y detecta la aplicacion de la senal candidata Sc a la entrada binaria 2 basandose en dicha medicion (paso 202 del metodo 200 en la Figura 13). En las Figuras 1 y 10-11, dicha deteccion ocurre en un tiempo de deteccion T detect.
En el tiempo de la deteccion Tdetect, las unidades de control 111, 100 comienzan a activar electricamente la carga activa 50 para absorber la cantidad predeterminada de e n e ^a de validacion Ev de la senal candidata Sc aplicada a la entrada binaria 2 (paso 203 del metodo de la Figura 13).
En particular, la unidad de control 111 comienza a activar electricamente la carga activa 50 para absorber la cantidad predeterminada de potencia Pd de la senal candidata Sc (veanse las Figuras 8 - 9), es decir, la unidad de control 111 comienza a activar electricamente cada dispositivo activo 51 de la carga activa 50, para generar la corriente de disipaci soengú Idn la cantidad predeterminada de potencia Pd establecida y el suministro de energfa Vsupply extrafda de la senal candidata Sc.
La unidad de control 111 controla la corriente de disipacion Id generada en la carga activa 50 durante el tiempo predeterminado Td. En particular, dado que el suministro de energfa Vsupply esta asociado al voltaje V in de la senal candidata Sc, el punto de calibracion Iset_point de la corriente de disipacion Id es calculado mediante la unidad de control 111, usando el voltaje real medido Vin y la cantidad establecida predeterminada de potencia Pd a ser absorbida.
Por tanto, si el voltaje V ln disminuye o aumenta durante el tiempo predeterminado Td, la corriente de disipacion Id es aumentada o disminuida consecuentemente por la unidad de control 111, de manera que la carga activa 50 continua absorbiendo la cantidad establecida predeterminada de potencia Pd de la senal candidata Sc.
Tambien la unidad de control 110 detecta la aplicacion de la senal candidata Sc a la entrada binaria 2 en el momento de deteccion Tdetect, midiendo el voltaje de entrada V in aplicado a los terminales de entrada 3 de dicha entrada binaria 2. La unidad de control 110 comienza la operacion de validacion al final del tiempo predeterminado Td (veanse las Figuras 10-11); en particular, la unidad de control 110 valida la senal candidata Sc si su contenido residual de energfa excede el umbral de validacion predeterminado.
En la Figura 11, la unidad de control 111 activa electricamente la carga activa 50 para continuar absorbiendo la cantidad predeterminada de potencia Pd despues del final de la absorcion de la cantidad predeterminada de energfa de validacion Ev, durante el intervalo de tiempo adicional Tadd.
De esta manera, incluso si la operacion de validacion se retrasa un cierto Tdelay con respecto al final de la absorcion de la cantidad predeterminada de energfa de validacion Ev, la carga activa 50 esta absorbiendo energfa todavfa de la senal candidata Sc durante el tiempo de validacion Tv de dicha validacion diferida (vease la Figura 11).
Al final del intervalo de tiempo adicional Tadd, la unidad de control 111 activa electricamente la carga activa 50 para al menos reducir la corriente de disipacion Id (en el ejemplo de la Figura 11 la corriente de disipacion Id esta interrumpida).
En la Figura 10, la unidad de control 110 comienza la operacion de validacion al final del tiempo de filtrado Tf originalmente establecido por ella (antes de la conexion entre la tarjeta electronica preinstalada 1001 y la tarjeta electronica accesoria 1002), es decir, la unidad de control 110 valida la senal candidata Sc si su contenido residual de energfa excede el umbral de validacion. La unidad de control 111 activa electricamente la carga activa 50 para continuar absorbiendo la cantidad predeterminada de potencia Pd de la senal candidata durante el tiempo de validacion TV.
Al final del tiempo de validacion Tv , la unidad de control 111 activa electricamente la carga activa 50 para al menos reducir la corriente de disipacion Id (en el ejemplo de la Figura 10 la corriente de disipacion Id esta interrumpida).
La descripción presente esta relacionada ademas con el aparato electrico que comprende al menos un sistema electron siceogú 1n la descripción presente.
Segun la realización ejemplar de la Figura 14, el sistema electronico 1 es adecuado para ser instalado en un dispositivo de conmutacion 300, como, por ejemplo, un disyuntor 300 para un circuito de voltaje bajo o medio, y/o en el dispositivo de conmutacion 700 donde dicho dispositivo de conmutacion 300 esta instalado.
Por ejemplo, el sistema electronico 1 puede estar instalado en el circuito de disparo 301 del dispositivo de conmutacion 300, en donde dicho circuito de disparo 301 comprende al menos: un actuador de bobina de apertura 302 adecuado para causar con su intervencion la apertura del dispositivo de conmutacion 300; y medios 303 para generar un comando de disparo, tal como, por ejemplo, el comando de disparo 501 ilustrado en la Figura 1, que solicita la intervencion del actuador de bobina 302.
Dichos medios 303 pueden comprender un dispositivo de proteccion 303, o rele 303, que esta configurado para detectar un fallo del circuito electrico donde esta instalado el dispositivo de conmutacion 300 y para generar el comando de disparo 501 tras la deteccion de dicho fallo.
El sistema electronico 1 realiza la interfaz entre los medios 303 y el actuador de apertura de bobina asociado 302; en particular, la entrada binaria 2 recibe el comando de disparo generado 501 como una senal candidata Sc y, tras la validacion de dicho comando 501, el sistema electronico 1 activa electricamente el actuador de bobina 302 para abrir el dispositivo de conmutacion 300.
Un comando de disparo 501 generado desde los medios 305 fuera del dispositivo de conmutacion 300 puede ser enviado tambien por control remoto a la entrada binaria 2, con el fin de causar, tras su validacion, la apertura del dispositivo de conmutacion 300 por medio del actuador de bobina 302.
Segun dicha realización ejemplar, la cantidad predeterminada de e n e ^ a de validacion Ev a ser absorbida de la senal candidata Sc aplicada a la entrada binaria 2 por la carga activa 50 es de preferencia establecida por los medios de control 100 sustancialmente igual a la energfa requerida por el actuador de bobina de apertura 2 para operar y abrir el dispositivo de conmutacion 300.
De h seecghúon, es conocido, una perturbacion o senal, como la senal de ruido 500 ilustrada en la Figura 1, no tiene suficiente energfa para operar el actuador de bobina 302 y abrir el dispositivo de conmutacion 300. Por tanto, el sistema de cont sroelgú 1n la descripción presente actua simulando dicha condicion en la que se aplica un ruido al actuador de bobina 302, porque solamente las senales candidatas Sc que tienen una energfa mayor que la cantidad predeterminada de energfa de validacion Ev (que es establecida igual a la energfa requerida por el actuador de bobina de apertura 302 para operar) pueden tener, despues de la absorcion de energfa por la carga activa 50, un contenido residual de energfa que excede el umbral de validacion, para ser validadas por el sistema electronico 1.
Los medios de monitorizacion y/o diagnostico 600 conectados al sistema electr soengiúcon las realizaciones ejemplares de las Figuras 3 y 5 - 6 pueden comprender al menos un supervisor de circuito de disparo "TCS", que es un dispositivo bien conocido usado en el circuito de disparo 301 de los dispositivos de conmutacion 300 y, por tanto, no se describe mas a fondo en esta memoria.
Ademas del sistema electronico 1 instalado en el circuito de disparo 301, el dispositivo de conmutacion puede comprender otros sistemas electronicos 1, por ejemplo, un sistema de control 1 adaptado para recibir información de estado del dispositivo de conmutacion 300, tal como una senal relativa a la posicion acoplada o separada de los contactos del propio dispositivo de conmutacion 300.
Ademas, uno o mas sistemas electronicos 1 pueden estar instalados en el dispositivo de conmutacion 700, fuera del dispositivo de conmutacion 300, para realizar diversas tareas en los aparatos electricos 300 instalados en el dispositivo de conmutacion 700. Por ejemplo, el sistema electronico 1 ilustrado en la Figura 14 puede estar conectado al dispositivo de conmutacion 300 para recibir o enviar desde el información o comandos generados dentro o fuera del dispositivo de conmutacion 700.
En la practica, se ha visto como el sistema de control 1 y el metodo relacionad soeg 2ú0n la descripción presente permiten conseguir el objetivo deseado ofreciendo algunas mejoras sobre las soluciones conocidas.
En particular, solamente una senal candidata Sc que tiene un contenido residual de energfa (despues de ser absorbida de ella la cantidad predeterminada de energfa de validacion Ev por la carga activa 50) que excede la energfa umbral de validacion, puede ser validada para causar la ejecucion de una o mas tareas del sistema electronico 1. Por tanto, la inmunidad al ruido aumenta en el sistema electronico 1.
Ademas, el tiempo predeterminado Td durante el que la cantidad predeterminada de energfa de validacion Ev es absorbida de la senal candidata Sc puede ser ajustado mas corto que el tiempo de filtrado Tf usado en una solucion conocida para mejorar la inmunidad al ruido (vease el ejemplo de la Figura 2). En dicho caso, el sistema electronico 1 segun la descripción presente es no solamente mas seguro sino tambien mas rapido respecto a soluciones conocidas.
La impedancia asociada a la carga activa electronica 50 puede ser controlada dinamicamente mediante los medios de control asociados 100, por ejemplo, para controlar la operacion de absorcion de energfa de la carga activa 50 a la vista del voltaje de la senal candidata Sc o a la vista de condiciones operativas cnticas de la carga activa 50, tales como una condicion de sobrecalentamiento.
Ademas, todas las partes/componentes del sistema electronico 1 pueden ser sustituidas con otros elementos tecnicamente equivalentes; en la practica, el tipo de materiales y las dimensiones pueden ser cualq sueiegrúan las necesidades y el estado de la tecnica.
La unidad de control 101 ilustrada en las Figuras 5 - 6 o las unidades de control 110, 111 ilustradas en la Figura 4 pueden ser cualquier dispositivo electronico adecuado adaptado para: recibir y ejecutar instrucciones de software, recibir y generar datos y/o senales de entrada y salida por medio de una pluralidad de puertos de entrada y/o salida. Por ejemplo, dichas unidades de control 101, 110, 111 pueden ser: microcontroladores, microordenadores, miniordenadores, procesadores de senales digitales (DSP), ordenadores opticos, ordenadores con conjuntos de instrucciones complejas, circuitos integrados de aplicacion espedfica, ordenadores con conjuntos de instrucciones reducidas, ordenadores analogicos, ordenadores digitales, ordenadores de estado solido, ordenadores de una sola tarjeta o una combinacion de cualquiera de estos.
Por ejemplo, en la realización de la Figura 3, la entrada binaria 2, la carga activa 50 y los medios de control 100 pueden ser realizados en forma de un unico circuito electronico o unidad, integrado o montado en la tarjeta electronica 1000.
Por ejemplo, en la realización de la Figura 4, la entrada binaria 2 y la unidad de control asociada 110 pueden ser realizados en forma de un unico circuito electronico, o unidad, integrada o montada en la tarjeta electronica 1001; ademas, la carga activa 50 y la unidad de control asociada 111 pueden ser realizadas tambien en forma de un unico circuito electronico, o unidad, integrada o montada en la tarjeta electronica 1002.

Claims (16)

REIVINDICACIONES
1. Un sistema electronico (1) para un aparato electrico asociado (300), comprendiendo:
al menos una entrada binaria (2) adaptada para recibir una o mas senales candidatas (Sc);
al menos una carga activa electronica (50) que tiene uno o mas dispositivos activos electronicos (51) y que esta conectada operativamente a dicha entrada binaria (2);
medios de control (100) que estan asociados operativamente a dicha entrada binaria (2) y a dicha carga activa (50), y que estan adaptados para:
detectar la aplicacion de una senal candidata (Sc) a la entrada binaria (2) y activar electricamente dicha carga activa (50) tras dicha deteccion, para que la carga activa (50) absorba al menos una cantidad predeterminada de energfa (Ev) de la senal candidata (Sc);
despues de la absorcion de dicha cantidad predeterminada de energfa (Ev), validar la senal candidata (Sc) si su contenido residual de energfa excede un valor umbral predeterminado:
caracterizado por que dichos medios de control se adaptan ademas a:
activar electricamente la carga activa (50) para absorber de dicha senal candidata (Sc) una cantidad predeterminada de potencia (Pd) durante un tiempo predeterminado (Td), para absorber dicha cantidad predeterminada de energfa (Ev);
medir al menos un parametro electrico (Vin) de dicha senal candidata (Sc) y controlar una corriente de disipacion (Id) generada en la carga activa (50) durante dicho tiempo predeterminado (Td) para absorber dicha cantidad predeterminada de potencia (PD), en donde un punto de calibracion (Iset_point) de dicha corriente de disipacion (Id) es calculado usando al menos el parametro electrico medido (Vin) de la senal candidata (Sc).
2. El sistema (1) de r laeivindicación 1, caracterizado por que dichos medios de control (100) estan adaptados para activar electricamente dicha carga activa (50) para continuar absorbiendo energfa de dicha senal candidata (Sc) durante al menos un tiempo (Tv) requerido para realizar la validacion de la senal candidata (Sc).
3. El sistema (1) s uengaún o mas de las reivindicaciones precedentes, caracterizado por que dichos medios de control (100) estan adaptados para:
detectar al menos una condicion operativa cntica de la carga activa (50) que ocurre durante dicho tiempo predeterminado (TD);
cambiar dicha cantidad predeterminada de potencia (Pd) para detener la condicion cntica detectada; y
en consecuencia, cambiar la duracion del tiempo predeterminado (Td) para que la carga activa (50) absorba de la senal candidata (Sc) dicha cantidad predeterminada de energfa (Ev).
4. El sistema (1) s laeg reúinvindicacion 3, caracterizado por que dichos medios de control (100) estan adaptados para:
monitorizar el calentamiento en la carga activa (50) debido a una corriente de disipacion (Id) generada en la carga activa (50) durante dicho tiempo predeterminado (Td) para absorber dicha cantidad predeterminada de potencia (Pd); detectar una condicion de sobrecalentamiento;
activar electricamente dicha carga activa (50) para reducir dicha corriente de disipacion (Id) y detener la condicion de sobrecalentamiento; y
en consecuencia, aumentar la duracion del tiempo predeterminado (Td) para que la carga activa (50) absorba de la senal candidata (Sc) dicha cantidad predeterminada de energfa (Ev).
5. El sistema (1) s uengaú on mas de las reivindicaciones previas, caracterizado por que comprende una primera tarjeta electronica (1002) que comprende al menos la carga activa (50) y una segunda tarjeta electronica (1001) que comprende al menos la entrada binaria (2), en donde dichas primera y segunda tarjetas electronicas (1002, 1001) estan asociadas operativamente por medio de la conexion entre la entrada binaria (2) y la carga activa (50), y caracterizado por que dichos medios de control (100) comprenden:
una primera unidad de control (111) en la primera tarjeta electronica (1002) que esta operativamente asociada a dicha carga activa (50) para detectar la aplicacion de la senal candidata (Sc) a la entrada binaria (2) y para activar electricamente la carga activa (50) tras dicha deteccion, para que la carga activa (50) absorba dicha al menos una cantidad predeterminada de energfa (Ev); y
una segunda unidad de control (110) en la segunda tarjeta electronica (1001) que esta operativamente asociada a dicha entrada binaria (2) para validar dicha senal candidata (Sc) despues de la absorcion de dicha cantidad predeterminada de energfa (Ev), si su contenido residual de energfa excede dicho umbral predeterminado.
6. El sistema (1) la s reegiúvinndicacion 5, caracterizado por que dicha primera unidad de control (111) esta adaptada para activar electricamente dicha carga activa (50) para continuar absorbiendo energfa de dicha senal candidata (Sc) durante un intervalo de tiempo adicional predeterminado (Tadd) despues de la absorcion de dicha cantidad predeterminada de energfa (Ev).
7. El sistema (1) s uengaún o mas de las reivindicaciones 1 a 5, caracterizado por que dichos medios de control (100) estan adaptados para activar electricamente dicha carga activa (50) para reducir al menos la corriente que fluye en la carga activa (50) al final de la validacion de la senal candidata (Sc).
8. El sistema (1) s laeg reúinvindicacion 7, caracterizado por que dichos medios de control (100) estan adaptados para reducir la corriente que fluye en la carga activa (50) hasta una corriente de retencion (Ih) al final de la validacion de la senal candidata (Sc), y por que dicha carga activa (50) esta configurada para estar operativamente conectada a medios de monitorizacion y/o diagnostico (600), en donde dichos medios de monitorizacion y/o diagnostico (600) estan adaptados para monitorizar y/o senalar el estado de la carga activa (50) y/o una o mas partes de dicho sistema electronico (1) usando dicha corriente de retencion (Ih).
9. Un aparato electrico (300) caracterizado por que comprende al menos un sistema electronico (1) segun una o mas de las reivindicaciones 1 a 8.
10. Un dispositivo de conmutacion (700) comprendiendo al menos un aparato electrico (300) segun r laeivindicación 9 y/o al menos un sistema electronico (1) una o mas de las s reegivúinndicaciones 1 - 8.
11. Un metodo (200) para validar una senal candidata (Sc) aplicada a una entrada binaria (2) de un sistema electronico (1) asociado a un aparato electrico (300), comprendiendo dicho metodo:
conectar operativamente (201) al menos una carga activa electronica (50) que tiene uno o mas dispositivos electronicos activos (51) a dicha entrada binaria (2);
detectar (202) la aplicacion de dicha senal candidata (Sc) a la entrada binaria (2);
activar electricamente (203) dicha carga activa (50) para absorber al menos una cantidad predeterminada de energfa (Ev) de la senal candidata (Sc) tras la deteccion de la aplicacion de dicha senal candidata (Sc);
despues de la absorcion de dicha cantidad predeterminada de energfa (Ev), validar (204) la senal candidata (Sc) si su contenido residual de energfa excede un umbral predeterminado:
el metodo se caracteriza por que:
la absorcion de la cantidad predeterminada de energfa (Ev) comprende absorber una cantidad predeterminada de potencia (Pd) de dicha senal candidata (Sc) durante un tiempo predeterminado (Td);
dicho paso (203) de activar electricamente la carga activa (50) para absorber al menos la cantidad predeterminada de energfa (Ev) comprende medir al menos un parametro electrico (Vin) de la senal candidata (Sc) y controlar una corriente de disipacion (Id) generada en la carga activa (50) durante dicho tiempo predeterminado (Td) para absorber dicha cantidad predeterminada de potencia (Pd), y controlar dicha corriente de disipacion (Id) comprende calcular un punto de calibracion (Iset_point) de dicha corriente de disipacion (Id) usando dicho al menos un parametro electrico medido (v in).
12. El metodo (200) s laeg rúenivindicacion 11, caracterizado por que dicho paso (203) de validacion de la senal candidata,, (Sc) comprende:
activar electricamente la carga activa (50) para que continue absorbiendo energfa de la senal candidata (Sc) durante al menos un tiempo (Tv) requerido para realizar la validacion.
13. El metodo (200) s uengaú on mas de las reivindicaciones 11 a 12, caracterizado por que dicho paso (203) de activar electricamente la carga activa (50) para absorber al menos la cantidad predeterminada de energfa (Ev) comprende ademas:
detectar al menos una condicion operativa cntica de la carga activa (50) que ocurre durante dicho tiempo predeterminado (TD);
cambiar la cantidad predeterminada de potencia (Pd) a ser absorbida de la senal candidata (Sc) para detener la condicion cntica detectada; y
en consecuencia, cambiar la duracion del tiempo predeterminado (Td) para absorber de la senal candidata (Sc) dicha cantidad predeterminada de energfa (Ev).
14. El metodo (200) u sneagú on mas de las reivindicaciones 11 a 13, caracterizado por que comprende: activar electricamente (209) la carga activa (50) para reducir al menos la corriente que fluye por la carga activa (50) al final de la validacion de la senal candidata (Sc).
15. El metodo (200) s leagú renivindicacion 14, caracterizado por que dicho paso (209) de reducir al menos la corriente que fluye en la carga activa comprende:
reducir la corriente que fluye en la carga activa (50) a una corriente de retencion (Ih) al final de la validacion de la senal candidata (Sc),
caracterizado por que comprende ademas:
monitorizar y/o senalar (210) el estado de la carga activa (50) y/o de una o mas partes del sistema electronico (1) usando dicha corriente de retencion (Ih).
16. El metodo (200) u sneagú on mas de las reivindicaciones 11 a 12, caracterizado por que comprende: activar electricamente (212) dicha carga activa (50) para que continue absorbiendo energfa de dicha senal candidata (Sc) durante un intervalo de tiempo adicional predeterminado (Tadd), despues de la absorcion de dicha cantidad predeterminada de energfa (Ev).
ES11794445T 2011-11-30 2011-11-30 Sistema electrónico para un aparato eléctrico y método relacionado Active ES2714732T3 (es)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/EP2011/071426 WO2013079109A1 (en) 2011-11-30 2011-11-30 An electronic system for an electrical apparatus and related method

Publications (1)

Publication Number Publication Date
ES2714732T3 true ES2714732T3 (es) 2019-05-29

Family

ID=45319086

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
ES11794445T Active ES2714732T3 (es) 2011-11-30 2011-11-30 Sistema electrónico para un aparato eléctrico y método relacionado

Country Status (9)

Country Link
US (1) US9755635B2 (es)
EP (1) EP2786488B1 (es)
CN (1) CN103975528B (es)
ES (1) ES2714732T3 (es)
HR (1) HRP20190394T1 (es)
HU (1) HUE043521T2 (es)
IN (1) IN2014CN04798A (es)
PL (1) PL2786488T3 (es)
WO (1) WO2013079109A1 (es)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016201392A1 (en) * 2015-06-12 2016-12-15 Enphase Energy, Inc. Method and apparatus for control of intelligent loads in microgrids
US10565107B2 (en) * 2016-06-10 2020-02-18 Semiconductor Components Industries, Llc Auto addressing using functional connection
DE102017209669A1 (de) * 2016-06-10 2017-12-14 Semiconductor Components Industries, Llc Automatisches Adressieren unter Verwendung einer Funktionsverbindung

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4305091B2 (en) * 1977-01-31 1998-02-10 J Carl Cooper Electronics noise reducing apparatus and method
KR100240423B1 (ko) * 1997-02-05 2000-01-15 윤종용 반도체 장치의 레벨 검출 회로
DE19733733C2 (de) * 1997-08-04 1999-09-02 Siemens Ag Verfahren und Schaltungsanordnung zur Bearbeitung digitaler Signale
CN101127228B (zh) * 2001-02-20 2011-04-13 蒂雅克株式会社 信号处理电路及信号处理方法
JP4234159B2 (ja) * 2006-08-04 2009-03-04 シャープ株式会社 オフセット補正装置、半導体装置および表示装置ならびにオフセット補正方法
CN100546186C (zh) * 2006-10-30 2009-09-30 青岛海信电器股份有限公司 开关机静音电路
US8149027B2 (en) * 2008-07-02 2012-04-03 Motorola Mobility, Inc. Circuit with a voltage dependent resistor for controlling an on/off state of a transistor
JP5522465B2 (ja) * 2010-07-28 2014-06-18 日本電気株式会社 包絡線増幅器

Also Published As

Publication number Publication date
CN103975528B (zh) 2017-06-23
US20140265636A1 (en) 2014-09-18
CN103975528A (zh) 2014-08-06
IN2014CN04798A (es) 2015-09-18
PL2786488T3 (pl) 2019-06-28
HRP20190394T1 (hr) 2019-06-14
WO2013079109A1 (en) 2013-06-06
EP2786488A1 (en) 2014-10-08
HUE043521T2 (hu) 2019-08-28
EP2786488B1 (en) 2019-01-23
US9755635B2 (en) 2017-09-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN107887895B (zh) 检测装置、检测方法和检测系统
TWI428617B (zh) 半導體元件的測試裝置以及測試方法
EP2562937B1 (en) Multi-functional solid state power controller
JP5115829B2 (ja) スイッチング装置
JP2013106464A (ja) 半導体装置
ES2714732T3 (es) Sistema electrónico para un aparato eléctrico y método relacionado
BR112017024930B1 (pt) Aparelho de controle de fonte de alimentação e método do mesmo
US20180048141A1 (en) Power module
CN107664742B (zh) 用于增大器件对过电压瞬变的鲁棒性的方法、系统和设备
JP2019083393A (ja) 半導体リレー故障検出装置
ES2711304T3 (es) Circuito de accionamiento de contactor
CN107872211B (zh) Igbt型晶体管的控制方法及相关控制装置
KR101332842B1 (ko) 차량의 쇼트 판단장치
JP2015027127A (ja) 電力変換器
JP2019198171A (ja) 電力供給装置
JP2013135274A (ja) 車両用電源供給装置
CN110502062B (zh) 用于电压调节器的冗余监测
US10599198B2 (en) Load driving device
JP2020137352A (ja) 電力供給装置
KR20190013477A (ko) 인에이블 애플리케이션의 동작을 감시하기 위해 디스에이블 애플리케이션을 이용하는 워치독 모니터링 시스템
JP6218714B2 (ja) 保護継電装置
US9690643B2 (en) Engine-control computer and method for detecting failures of such a computer
US20150130383A1 (en) Method for discharging energy stored in a stator of an electric motor
CN218123308U (zh) 用于开关设备的线圈的控制模块和开关设备
CN110797836B (zh) 用于电机驱动器中的开关电源的电路、操作方法和电机驱动电路系统