ES2558562T3 - Procedimiento y aparato para mejorar el rango dinámico de ultrasonido detectado por láser en materiales atenuantes - Google Patents
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Abstract
Sistema (200) para detectar desplazamientos ultrasónicos (102) en un material sometido a prueba (104), que comprende: una fuente de luz láser simiente que proporciona un primer haz de láser (140) que presenta una trayectoria de propagación; un conjunto de modulador (132) situado en dicha trayectoria de dicho primer haz de láser (140) que puede hacerse funcionar para proporcionar un impulso de salida (P(t)); un sistema de inducción de ultrasonido que induce desplazamientos ultrasónicos (102) en el material sometido a prueba (104); un sistema de detección que aplica dicho impulso de salida de dicho primer haz de láser (140) al material sometido a prueba (104) con el fin de detectar los desplazamientos ultrasónicos (102) y generar por lo menos una señal de salida (142); y un procesador de datos para procesar dicha por lo menos una señal de salida (142) de dicho sistema de detección para obtener datos representativos de dichos desplazamientos ultrasónicos (102); caracterizado por que: el impulso de salida (P(t)) del primer haz de láser (140) presenta un perfil de impulsos dependiente del tiempo que presenta una forma de impulso gaussiana, una forma de impulso lorentziana, una forma de impulso de pendiente lineal/con fijación de ganancia, o una forma de impulso exponencial.
Description
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DESCRIPCION
Procedimiento y aparato para mejorar el rango dinamico de ultrasonido detectado por laser en materiales atenuantes.
Campo tecnico de la invencion
La presente invencion se refiere de manera general al campo de procesamiento de informacion optica y mas particularmente a un procedimiento y sistema para detectar desplazamientos ultrasonicos en un material sometido a prueba utilizando un impulso de salida variable en el tiempo de un haz de laser.
Antecedentes de la invencion
En los ultimos anos, la utilizacion de estructuras de material compuesto avanzadas ha experimentado un tremendo crecimiento en las industrias aeroespacial, del automovil y muchas otras industrias comerciales. Aunque los materiales compuestos ofrecen mejoras significativas en cuanto a rendimiento, requieren procedimientos de control de calidad estrictos en los procedimientos de fabricacion. Especfficamente, se requieren procedimientos de evaluacion no destructiva (“NDE”) para evaluar la integridad estructural de estructuras de material compuesto, por ejemplo, para detectar inclusiones, deslaminaciones y porosidades. Los procedimientos de NDE convencionales, sin embargo, son muy lentos, laboriosos y costosos. Como resultado, los procedimientos de prueba aumentan de manera adversa los costes de fabricacion asociados con estructuras compuestas.
Se han propuesto diversos sistemas y tecnicas para evaluar la integridad estructural de estructuras compuestas. Un procedimiento para generar y detectar ultrasonido utilizando laseres da a conocer la utilizacion de un primer haz de laser modulado, pulsado, para generar ultrasonido sobre una pieza de trabajo y un segundo haz de laser pulsado para detectar el ultrasonido. La luz modulada en fase procedente del segundo haz de laser se demodula entonces para obtener una senal representativa del movimiento ultrasonico en la superficie de la pieza de trabajo.
Otro procedimiento para generar y detectar ultrasonido utilizando laseres da a conocer la utilizacion de un laser para detectar deformaciones de naturaleza oscilatoria o transitoria sobre una superficie de material sometido a prueba. Las deformaciones sobre la superficie de material sometido a prueba pueden producirse por una onda de ultrasonido u otra excitacion. La luz procedente del laser se dispersa por las deformaciones, captandose parte de esta luz por sistemas opticos y transmitiendose a traves de una fibra optica hasta un divisor de haz que desvfa una pequena parte de la luz captada hacia un detector de referencia y suministra la parte restante de la luz a un interferometro confocal de Fabry-Perot, que genera una senal de salida indicativa de las deformaciones sobre la superficie de material sometido a prueba. El detector de referencia mide la intensidad de la luz laser dispersada en la entrada del interferometro para generar una senal de referencia. Un detector de estabilizacion mide la intensidad de la luz laser dispersada en la salida del interferometro para generar una senal de estabilizacion previa. La relacion de la senal de referencia con respecto a la senal de estabilizacion previa se utiliza para generar una senal de estabilizacion final que acciona un impulsor piezoelectrico dentro del interferometro para ajustar su frecuencia resonante.
Las estructuras de material compuesto avanzadas a menudo atenuan el ultrasonido dentro de los materiales compuestos. Serfa deseable disponer de un sistema que pueda expandir el rango dinamico de la deteccion de ultrasonido en un material atenuante tal como materiales compuestos avanzados.
Los procedimientos a los que se ha hecho referencia anteriormente intentan reducir el ruido asociado con los esquemas de deteccion. Sin embargo, los procedimientos dados a conocer no exploran la expansion y mejora del rango dinamico de deteccion de ultrasonido en materiales atenuantes.
Por tanto, existe una necesidad creciente de un procedimiento y sistema de deteccion por laser de ultrasonido que supere las desventajas y deficiencias de la tecnica anterior. Concretamente, un sistema de este tipo deberfa poder extender el rango dinamico de deteccion de ultrasonido en un material atenuante.
La patente US n° 5.672.830 se refiere a un procedimiento para determinar propiedades anisotropicas de una muestra delgada dirigiendo dos impulsos de laser coincidentes en el tiempo sobre una muestra de modo que se superponen en una region de excitacion e interfieren para formar un campo de excitacion.
Sumario de la invencion
La presente invencion proporciona un procedimiento segun la reivindicacion 19 y un sistema segun la reivindicacion 1 para detectar desplazamientos ultrasonicos en un objetivo a distancia sometido a prueba utilizando un haz de laser que elimina o reduce sustancialmente las desventajas y problemas asociados con sistemas de deteccion de ultrasonido desarrollados anteriormente.
Mas especfficamente, la presente invencion proporciona un sistema para detectar desplazamientos ultrasonicos en un objetivo a distancia con un haz de laser que presenta un perfil de impulsos dependiente del tiempo. El sistema y
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el procedimiento para mejorar el rango dinamico de ultrasonido detectado por laser en materiales atenuantes incluyen una fuente de luz laser simiente. Esta fuente de laser produce un laser que se modula mediante un conjunto situado en la trayectoria del haz de laser. El laser modulado presenta un perfil de impulsos dependiente del tiempo. Los ultrasonidos en el objetivo a distancia modulan, reflejan y/o dispersan adicionalmente el haz de laser para producir luz modulada en fase. Los sistemas opticos captan esta luz modulada en fase. Un interferometro acoplado a los sistemas opticos de captacion demodula la luz modulada en fase y proporciona una senal de salida representativa de los ultrasonidos en el objetivo a distancia.
Puede utilizarse un procesador para procesar la senal de salida del interferometro para obtener datos representativos de los ultrasonidos.
La presente invencion implica hacer coincidir el perfil de impulsos dependiente del tiempo del haz de laser de deteccion con las propiedades atenuantes del objetivo a distancia. El perfil de impulsos dependiente del tiempo se hace variar para aumentar la intensidad de senal de los ultrasonidos detectados.
La presente invencion proporciona una ventaja tecnica importante al extender el rango dinamico de un sistema de Laser UT. Los sistemas anteriores sincronizan la generacion del evento ultrasonico con el pico del laser de deteccion para maximizar la relacion senal-ruido sin considerar las mejoras de rango dinamico potenciales basandose en aprovechar perfiles de iluminacion no uniformes, mientras que la presente invencion proporciona que la utilizacion de perfiles de iluminacion del laser de deteccion dependientes del tiempo puede utilizarse tanto para optimizar la relacion senal-ruido como para extender el rango dinamico de los sistemas de Laser UT.
Otra ventaja tecnica de la presente invencion es un rango dinamico extendido con el que detectar ultrasonido en el material sometido a prueba y una relacion senal-ruido mejorada debido a los perfiles de impulsos variables en el tiempo del laser de deteccion.
Aun otra ventaja tecnica de la presente invencion es la capacidad para utilizar un laser de deteccion con una potencia de salida menor. Esto permite la utilizacion de sistemas opticos de captacion y escaneres opticos mas pequenos. De manera adicional, la utilizacion de un laser de deteccion de potencia menor reduce la potencia total aplicada al material sometido a prueba y el dano del material sometido a prueba.
La energfa almacenada en el amplificador puede extraerse de un modo optimo para coincidir con las propiedades del material sometido a prueba.
Breve descripcion de los dibujos
Para una comprension mas completa de la presente invencion y las ventajas de la misma, a continuacion se hace referencia a las siguientes descripciones tomadas junto con los dibujos adjuntos en los que numeros de referencia similares indican caracterfsticas similares, y en los que:
la figura 1 representa una configuracion conocida para detectar desplazamientos ultrasonicos utilizando un haz de laser de deteccion;
la figura 2 ilustra una realizacion de la presente invencion utilizando un perfil de impulsos de salida dependiente del tiempo para proporcionar una relacion senal-ruido mejorada;
la figura 3A ilustra un perfil de impulsos dependiente del tiempo gaussiano o lorentziano;
la figura 3B ilustra una pendiente lineal para un perfil de impulsos dependiente del tiempo con fijacion de ganancia;
la figura 3C ilustra una pendiente exponencial para un perfil de impulsos dependiente del tiempo con fijacion de ganancia; y
la figura 4 ilustra una grafica tfpica de atenuacion de material dependiente de la frecuencia.
Descripcion detallada de la invencion
Las realizaciones preferidas de la presente invencion y sus ventajas se entienden haciendo referencia a las figuras 1 a 6 de los dibujos, utilizandose numeros similares para partes similares y correspondientes de los diversos dibujos.
La figura 1 ilustra un sistema de deteccion 100 para detectar desplazamientos ultrasonicos 102 en un objetivo a distancia 104. El sistema de deteccion 100 utiliza una fuente de laser de deteccion 106 para generar un haz de laser 108. La fuente de laser de deteccion 106 puede incorporar un amplificador optico de paso multiple 110, accionado por sistemas electronicos de accionamiento de fuente de bomba 109 para generar un haz de laser 108 con una potencia P0. Los desplazamientos ultrasonicos 102 en el objetivo a distancia 104 modulan, dispersan y reflejan el haz de laser de deteccion 108. Cuando el haz de laser de deteccion 108 interacciona con los desplazamientos u
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ondas ultrasonicos 102 presentes en el objetivo a distancia 104, el haz de laser de deteccion 108 se refleja o dispersa como luz modulada en fase 112. La luz modulada en fase 112 se refleja y dispersa en todas las direcciones tal como se muestra mediante las flechas 114. Sin embargo, parte de la luz modulada en fase 112 se captura mediante sistemas opticos de captacion 116. Los sistemas opticos de captacion 116 dirigen luz modulada en fase 112 a traves de fibra 118 optica al interior del interferometro 120. El interferometro 120 demodula la luz modulada en fase y dirige una salida al interior del detector 122 que genera una senal analogica para su procesamiento.
La dispersion del haz de laser por el material sometido a prueba incluye todas las reacciones entre el haz de laser 108 y el material sometido a prueba en las que el haz de laser 108 se redirige sin alterar de otro modo el haz de laser; ademas la dispersion de un haz de laser por el material sometido a prueba incluye todas las reacciones entre la luz modulada en fase y el material sometido a prueba con la excepcion de la absorcion del primer haz de laser pulsado.
Los sistemas opticos de captacion 116 presentan un tamano de apertura de f y estan situados a una distancia D del objetivo a distancia 104. La potencia de la luz captada, modulada en fase segun se mida en la salida del colector es Pc. La potencia de la luz captada, modulada en fase en la entrada del interferometro es sustancialmente Pc dado que hay muy poca perdida por transmision asociada con la fibra 118 optica. Debido a que la perdida en el interferometro es minima, la potencia de la senal de entrada al detector (Pdet) es sustancialmente la misma que Pc.
La relacion senal-ruido del detector 122 es directamente proporcional a la raiz cuadrada de la potencia de entrada:
SNR °c VPdet ec (1)
Las formulas anteriores sugieren que SNR puede mejorarse aumentando Po, o f, o disminuyendo D. Aumentar la relacion de f/D disminuye la profundidad de campo del sistema de deteccion 100, lo que no resulta deseable debido a que una disminucion de profundidad de campo es menos flexible.
Alternativamente, Po puede aumentarse. Un enfoque para aumentar la salida del laser de deteccion 106 es utilizar una anchura de impulso mas corta. El impulso del haz de laser de deteccion 108, sin embargo, debe presentar una anchura suficiente para permitir la deteccion de desplazamientos ultrasonicos, y por tanto, disminuir su duracion de impulso empeora su capacidad para detectar tales desplazamientos. Un segundo enfoque es amplificar el laser de deteccion utilizando un amplificador optico de paso multiple. Sin embargo, la ganancia de un amplificador optico convencional depende de la potencia de la senal de entrada.
Donde la Pdet viene dada por la ec (2):
P =$L
1 DET ^
ft
v
(l-xl()cos o-T)
2
^ para una superficie difusa
Donde Pd = potencia incidente A = absorcion
[ = angulo de incidencia
O = eficiencia (perdidas de espejo, perdidas de fibra, etc.)
La figura 2 ilustra una configuracion para generar y detectar desplazamientos ultrasonicos utilizando un haz de laser de deteccion similar al de la figura 1. El sistema de deteccion 200 utiliza un laser de deteccion 130 para detectar desplazamientos ultrasonicos 102 sobre un objetivo a distancia 104. El laser de deteccion 130 puede incorporar un modulador de fase electrooptico 132 para modular el laser basandose en una tension de accionamiento variable en el tiempo. Un aislador optico 134 y una descarga 136 de haz para impedir la retroalimentacion optica en el modulador 132. El amplificador optico 138 amplifica el haz de laser para producir un haz de laser 140 con una potencia P®. Este haz de laser 140 puede presentar un perfil de impulsos dependiente del tiempo P®, este perfil de impulsos puede optimizarse para mejorar la intensidad de la senal. Este perfil de impulsos dependiente del tiempo puede optimizarse para coincidir sustancialmente con las caracteristicas de atenuacion del objetivo a distancia 104. Alternativamente, puede utilizarse un perfil de impulsos dependiente del tiempo que no coincide con las caracteristicas de atenuacion del objetivo a distancia 104 pero si proporciona suficiente variacion en la intensidad del perfil de impulsos para alterar el rango dinamico del proceso de deteccion de ultrasonido. Las figuras 3A a 3C ilustran formas de impulso potenciales, que incluyen una forma de impulso gaussiana o lorentziana tal como se muestra en la figura 3A; una forma de impulso de pendiente lineal/con fijacion de ganancia tal como se muestra en la figura 3B; y una forma de impulso exponencial tal como se muestra en la figura 3C.
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La presente invencion proporciona un sistema para detectar desplazamientos ultrasonicos en un objetivo a distancia. Los desplazamientos ultrasonicos 102 en el objetivo a distancia 104 modulan, dispersan y reflejan el haz de laser de deteccion 140, representado por las flechas 142 dirigidas en sentido contrario al objetivo a distancia 104. Cuando el haz de laser de deteccion 140 interacciona con ondas ultrasonicas 102, el haz de laser de deteccion 140 se refleja y/o dispersa como luz modulada en fase 142. Esta luz modulada en fase contiene informacion representativa de los desplazamientos ultrasonicos 112 en el objetivo a distancia 104.
Los desplazamientos de material ultrasonicos 102 son una funcion tanto del tiempo como de la atenuacion del material a partir del cual se construye el objetivo a distancia 104. Esta funcion se muestra a continuacion en la ecuacion 1.
U(i) = U0e“(f)Et
(EC 1)
Donde a® es la atenuacion de material dependiente de la frecuencia tal como se muestra en la figura 4. La senal medida en el detector viene dada por la ecuacion 2, como sigue:
S(t) - K=P(t)=U(t)
(EC 2)
Donde K es una constante, P® es la potencia del laser de deteccion y U(t) son los desplazamientos ultrasonicos definidos en la ecuacion 1. A lo largo de un intervalo de frecuencia pequeno (ef), la atenuacion del material dependiente de la frecuencia tal como se muestra en la figura 4 puede aproximarse mediante una constante:
a(f) ■ ag
Adicionalmente, el perfil de impulsos dependiente del tiempo P® puede ajustarse de tal manera que el perfil de impulsos del laser 140 coincide sustancialmente con las caracterfsticas de atenuacion del material sometido a prueba, tal como se muestra mediante la aproximacion a continuacion: P® “ e+a0t. Estas aproximaciones asociadas con el perfil de impulsos exponencial de la figura 3C, proporcionan una senal medida descrita por la ecuacion 3 a continuacion:
S(t) = K=Uo=e+a0t=e'a0t = K=U0 (Ec 3)
En este caso, el perfil de impulsos, P®, se ha hecho coincidir exactamente con la perdida de atenuacion, proporcionando una intensidad de senal medida constante a lo largo del tiempo.
De manera similar, los perfiles de impulso proporcionados en las figuras 3A y 3B permiten una respuesta de intensidad de senal mejorada que utiliza una funcion P® diferente.
Mas especfficamente, la presente invencion proporciona un sistema para detectar desplazamientos ultrasonicos en un objetivo a distancia con un haz de laser que presenta un perfil de impulsos dependiente del tiempo. El sistema y el procedimiento para mejorar el rango dinamico de ultrasonido detectado por laser en materiales atenuantes incluyen una fuente de luz laser simiente. Esta fuente de laser produce un laser que se modula mediante un conjunto situado en la trayectoria del haz de laser. El laser modulado presenta un perfil de impulsos dependiente del tiempo. Los ultrasonidos en el objetivo a distancia modulan, reflejan y/o dispersan adicionalmente el haz de laser para producir luz modulada en fase. Los sistemas opticos captan esta luz modulada en fase. Un interferometro esta acoplado a los sistemas opticos de captacion para demodular la luz modulada en fase y proporcionar una senal de salida representativa de los ultrasonidos en el objetivo a distancia.
Puede utilizarse un procesador para procesar la senal de salida del interferometro para obtener datos representativos de los ultrasonidos.
Otra realizacion de la presente invencion implica hacer coincidir el perfil de impulsos dependiente del tiempo del haz de laser de deteccion con las propiedades atenuantes del objetivo a distancia. Alternativamente, el perfil de impulsos dependiente del tiempo puede hacerse variar para aumentar la intensidad de la senal de los ultrasonidos detectados.
La presente invencion proporciona una ventaja tecnica importante al extender el rango dinamico de un sistema de Laser UT. Los sistemas anteriores sincronizan la generacion del evento ultrasonico con el pico del laser de deteccion para maximizar la relacion senal-ruido sin considerar las mejoras de rango dinamico potenciales basadas en aprovechar perfiles de iluminacion no uniformes, mientras que la presente invencion proporciona que la utilizacion de perfiles de iluminacion del laser de deteccion dependiente del tiempo puede utilizarse tanto para optimizar la relacion senal-ruido como para extender el rango dinamico de los sistemas de Laser UT.
Otra ventaja tecnica de la presente invencion es un rango dinamico extendido del sistema para detectar ultrasonido en el material sometido a prueba y una relacion senal-ruido mejorada para el sistema debido a los perfiles de
impulsos variables en el tiempo del laser de deteccion. La senal variable en el tiempo puede hacerse coincidir con las propiedades atenuantes del material, optimizando por tanto la relacion senal-ruido de la senal de salida proporcionada por el laser de deteccion.
5 Aun otra ventaja tecnica de la presente invencion es la capacidad para utilizar un laser de deteccion con una potencia de salida menor que permite la utilizacion de sistemas opticos de captacion y escaneres opticos mas pequenos. De manera adicional, la utilizacion de un laser de deteccion de potencia menor reduce la potencia total aplicada al material sometido a prueba y el dano del material sometido a prueba. Esta reduccion del requisito de potencia se debe a la mejora de la relacion senal-ruido y el rango dinamico conseguido por la aplicacion del impulso 10 de laser variable en el tiempo.
Claims (25)
- 5101520253035404550556065REIVINDICACIONES1. Sistema (200) para detectar desplazamientos ultrasonicos (102) en un material sometido a prueba (104), que comprende:una fuente de luz laser simiente que proporciona un primer haz de laser (140) que presenta una trayectoria de propagacion;un conjunto de modulador (132) situado en dicha trayectoria de dicho primer haz de laser (140) que puede hacerse funcionar para proporcionar un impulso de salida (P(t));un sistema de induccion de ultrasonido que induce desplazamientos ultrasonicos (102) en el material sometido a prueba (104);un sistema de deteccion que aplica dicho impulso de salida de dicho primer haz de laser (140) al material sometido a prueba (104) con el fin de detectar los desplazamientos ultrasonicos (102) y generar por lo menos una senal de salida (142); yun procesador de datos para procesar dicha por lo menos una senal de salida (142) de dicho sistema de deteccion para obtener datos representativos de dichos desplazamientos ultrasonicos (102); caracterizado por que:el impulso de salida (P(t)) del primer haz de laser (140) presenta un perfil de impulsos dependiente del tiempo que presenta una forma de impulso gaussiana, una forma de impulso lorentziana, una forma de impulso de pendiente lineal/con fijacion de ganancia, o una forma de impulso exponencial.
- 2. Sistema segun la reivindicacion 1, en el que dicho conjunto de modulador (132) ademas comprende un cristal electrooptico accionado por un procesador de senales para proporcionar a dicho impulso de salida (P(t)) el perfil de impulsos dependiente del tiempo.
- 3. Sistema segun la reivindicacion 1, en el que dicho perfil de impulsos dependiente del tiempo coincide sustancialmente con una caracterfstica de atenuacion del material sometido a prueba (104).
- 4. Sistema segun la reivindicacion 1, en el que dicho perfil de impulsos dependiente del tiempo proporciona una variacion en intensidad suficiente para alterar un rango dinamico de dicho sistema de deteccion.
- 5. Sistema segun la reivindicacion 1, en el que el sistema de induccion de ultrasonido ademas comprende:un segundo laser para generar un segundo haz de laser pulsado, en el que dicho segundo haz de laser pulsado induce desplazamientos ultrasonicos (102) en el material sometido a prueba (104).
- 6. Sistema segun la reivindicacion 5, en el que dicho segundo haz de laser pulsado se aplica coaxialmente con dicho primer haz de laser pulsado (140) al material sometido a prueba y un perfil de dicho segundo haz de laser pulsado esta sincronizado con dicho perfil de impulsos dependiente del tiempo.
- 7. Sistema segun la reivindicacion 1, que ademas comprende por lo menos un conjunto de aislamiento optico (134) situado en dicha trayectoria de propagacion de dicho primer haz de laser (140) con el fin de impedir la retroalimentacion de luz laser reflejada en dicha fuente de luz laser simiente.
- 8. Sistema segun la reivindicacion 7, que ademas comprende por lo menos una descarga (136) de haz optica colocada con respecto a dicho por lo menos un conjunto de aislamiento optico (134) con el fin de absorber la retroalimentacion de luz laser reflejada aislada por el conjunto de aislamiento optico (134).
- 9. Sistema segun la reivindicacion 1, que ademas comprende por lo menos un conjunto de amplificacion de luz laser (138) situado en dicha trayectoria de propagacion de dicho primer haz de laser (140) para amplificar dicho primer haz de laser (140).
- 10. Sistema segun la reivindicacion 1, en el que dicho procesador de datos convierte por lo menos una senal de salida analogica (124) de dicho sistema de deteccion en por lo menos una senal digital para obtener datos representativos de desplazamientos ultrasonicos (102) en el material sometido a prueba (104).
- 11. Sistema segun la reivindicacion 1, que ademas comprende:un controlador que puede hacerse funcionar para dirigir dicho conjunto de modulador (132);5101520253035404550556065por lo menos un conjunto de aislamiento optico (134) situado en dicha trayectoria de dicho primer haz de laser (140) que impide la retroalimentacion de luz laser reflejada en dicha fuente de luz laser simiente;por lo menos una descarga (136) de haz optica colocada con respecto a dicho por lo menos un conjunto de aislamiento optico (134) con el fin de absorber la retroalimentacion de luz laser reflejada aislada por dicho conjunto de aislamiento optico (134);por lo menos un conjunto de amplificacion de luz laser (138) situado en dicha trayectoria de dicho primer haz de laser (140) con el fin de amplificar dicho primer haz de laser (140).
- 12. Sistema segun la reivindicacion 11, en el que dicho perfil de impulsos dependiente del tiempo coincide sustancialmente con una caracterfstica de atenuacion del material sometido a prueba (104).
- 13. Sistema segun la reivindicacion 11, en el que la intensidad de dicho perfil de impulsos dependiente del tiempo altera un rango dinamico de dicho sistema de deteccion.
- 14. Sistema segun la reivindicacion 11, en el que dicho conjunto de modulador (132) ademas comprende un cristal electrooptico accionado por un procesador para proporcionar dicho perfil de impulsos dependiente del tiempo.
- 15. Sistema segun la reivindicacion 11, en el que dicho sistema de induccion de ultrasonido ademas comprende:una segunda fuente de laser que genera un segundo haz de laser pulsado que induce desplazamientos ultrasonicos (102) cuando se aplica al material sometido a prueba (104).
- 16. Sistema segun la reivindicacion 11, en el que dicho sistema de induccion de ultrasonido ademas comprende:una segunda fuente de laser que genera un segundo haz de laser pulsado que induce desplazamientos ultrasonicos (102) en el material sometido a prueba (104), y en el que dicho segundo haz de laser pulsado se aplica coaxialmente con dicho primer haz de laser pulsado (140) al material sometido a prueba (104), y en el que un perfil de impulsos de dicho segundo haz de laser pulsado esta sincronizado con dicho perfil de impulsos dependiente del tiempo de dicho primer haz de laser (140).
- 17. Sistema segun la reivindicacion 11, en el que dicho procesador de datos convierte dicha por lo menos una senal de salida (124) de dicho sistema de deteccion en por lo menos una senal digital y procesa dicha por lo menos una senal digital para obtener unos datos representativos de desplazamientos ultrasonicos (102) en el material sometido a prueba (104).
- 18. Sistema segun la reivindicacion 11, en el que dicho procesador de datos procesa dicha por lo menos una senal de salida analogica (124) de dicho sistema de deteccion con el fin de determinar una ubicacion de un defecto o discontinuidad dentro del material sometido a prueba (104).
- 19. Procedimiento para detectar desplazamientos ultrasonicos (102) en un material sometido a prueba (104), que comprende las etapas siguientes:generar los desplazamientos ultrasonicos (102) en el material sometido a prueba (104); generar un primer impulso de laser;aplicar dicho primer impulso de laser (P(t)) al material sometido a prueba (104);detectar la luz laser de dicho primer impulso de laser (P(t)) modulada por los desplazamientos ultrasonicos (102) en el material sometido a prueba (104); yconvertir dicha luz laser modulada en por lo menos una senal de salida (142) que contiene unos datos representativos de los desplazamientos ultrasonicos (102) en el material sometido a prueba (104); caracterizado por que:el primer impulso de laser (P(t)) presenta un perfil de impulsos dependiente del tiempo que presenta una forma de impulso gaussiana, una forma de impulso lorentziana, una forma de impulso de pendiente lineal/con fijacion de ganancia, o una forma de impulso exponencial.
- 20. Procedimiento segun la reivindicacion 19, en el que dicha etapa de generar un primer impulso de laser (P(t)) ademas comprende las etapas siguientes:generar un primer haz de laser (140) desde una fuente de luz laser simiente,, en el que dicho primer haz de laser (140) presenta una trayectoria de propagacion; y510152025303540modular dicho primer haz de laser (140) con un conjunto de modulador (132) situado en dicha trayectoria de propagacion de dicho primer haz de laser (140), presentando dicho primer impulso de laser (P(t)), dicho perfil de impulsos dependiente del tiempo.
- 21. Procedimiento segun la reivindicacion 19, que ademas comprende amplificar dicho primer impulso de laser (P(t)) con por lo menos un conjunto de amplificacion de luz laser (138).
- 22. Procedimiento segun la reivindicacion 20, en el que dicha etapa de modulacion de dicho primer haz de laser (140) comprende:modular dicho primer haz de laser (140) con un modulador de fase electrooptico; yutilizar un controlador para accionar el modulador de fase electrooptico (132) para producir dicho perfil de impulsos dependiente del tiempo.
- 23. Procedimiento segun la reivindicacion 22, en el que dicho controlador acciona dicho modulador (132) para producir un perfil para dicho perfil de impulsos dependiente del tiempo seleccionado de entre el grupo constituido por:una forma de impulso gaussiana o lorentziana;un perfil liso con una forma de impulso de pendiente lineal; yuna forma de impulso de ganancia exponencial.
- 24. Procedimiento segun la reivindicacion 19, en el que dicha por lo menos una senal (142) es una senal optica, y en el que la etapa de convertir dicha por lo menos una senal (142) en unos datos representativos de los desplazamientos ultrasonicos (102) en el material sometido a prueba (104) ademas comprende:convertir dicha por lo menos una senal optica (142) en por lo menos una senal analogica (124);convertir dicha por lo menos una senal analogica (124) en por lo menos una senal digital; yconvertir dicha por lo menos una senal digital en unos datos representativos de los desplazamientos ultrasonicos (102) en el material sometido a prueba (104).
- 25. Procedimiento segun la reivindicacion 19, que ademas comprende procesar dicha senal de salida (142) para determinar una ubicacion de defectos o cualquier discontinuidad en el objetivo.
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