ES2340148T3 - Plataforma de soporte para ensayos de vibracion de tarjetas de circuitos impresos. - Google Patents
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Abstract
Dispositivo de ensayo para ensayos vibratorios de tarjetas de circuito impresas (35) que comprende una tarjeta de circuito (35) con un primer y un segundo borde (37, 71) separados por una longitud de tarjeta de circuito y una plataforma (10) que soporta la tarjeta de circuito (35), incluyendo la plataforma (10): - un marco (11); - una plataforma de acoplamiento de la tarjeta (29) montada en el marco (11) y acoplada con el primer eje (37). - un elemento de retención de la tarjeta (39) separado de la plataforma de acoplamiento (29) por una primera distancia (D1); - un primer mecanismo de ajuste (47) actuando junto con el marco (11) y el elemento de retención de la tarjeta (39) para proporcionar el ajuste de la primera distancia y para mantener la primera distancia; y - un segundo mecanismo de ajuste (63) conectado con el elemento de retención de la tarjeta (39) e incluyendo un elemento de retención del borde (67) para acoplar el segundo eje (71); y en el que la plataforma de acoplamiento de la tarjeta (29) y el elemento de retención del borde están separados por una distancia operativa igual a la longitud de la tarjeta de circuito de tal modo que la plataforma (29) y el elemento de retención del borde ejercen una fuerza compresiva sobre la tarjeta (35) al entrar en contacto con el primer y el segundo borde opuesto (37, 71), respectivamente.
Description
Plataforma de soporte para ensayos de vibración
de tarjetas de circuitos impresos.
La invención se refiere generalmente al campo de
las plataformas de soporte y, más particularmente, a plataformas
utilizadas para soportar tarjetas de circuitos impresos.
Son pocos los productos que los fabricantes
venden sin haber pasado por algún tipo de ensayo. Tales ensayos
pueden ser tan simples como comprobar manualmente de que ciertas
partes están fijadas de forma segura, o tan complejo como un
"ensayo de tensión". En el ensayo de esfuerzo (o "esfuerzo
térmico", como se denomina en ocasiones), los productos muestran
son pocos los productos que se descartarán durante el ensayo. O
como resultado de tal ensayo, un producto puede mostrar la
posibilidad de un fallo prematuro en el entorno operativo. Y
algunos aspectos del ensayo de esfuerzo implican un ensayo hasta la
destrucción y al mismo tiempo miden ciertos parámetros de
comportamiento y/o el tiempo transcurrido hasta el fallo.
El ensayo de esfuerzo se utiliza más
frecuentemente en productos utilizados en aplicaciones exigentes y
en los que se requiere una confianza excepcionalmente alta. Algunos
ejemplos incluyen productos utilizados en equipamiento militar de
transporte por tierra y productos (p. ej., productos electrónicos y
electromecánicos) utilizados en aeronaves de prácticamente todos
los tipos.
El ensayo de esfuerzo se puede realizar de
muchas formas diferentes. Un tipo de ensayo implica la exposición a
cambios de temperatura rápidos y extremos en el producto. Por
ejemplo, se puede utilizar una cámara de ensayo para cambiar la
temperatura de un producto a un ritmo de, p. ej., 10 grados
(aproximadamente 18 grados F) por minuto. Ejemplos de cámaras de
ensayo medioambientales para tales ensayos se describen en las
patentes de Estados Unidos n.º 5.072.177 (Liken et al.) y
5.191.282 (Liken et al.).
Otro tipo de ensayo de esfuerzo implica probar
un producto sujetándolo a vibraciones del tipo que podría
encontrarse el producto durante su utilización real. Los esfuerzos
de vibración del tipo de diez veces la fuerza de gravedad ("10
Gs") son frecuentes. El ensayo de vibración se lleva a cabo
montando el producto que se va a probar en algún tipo de plataforma
o mesa y después se hace vibrar la mesa utilizando un excéntrico
rotativo o un vibrador lineal. Un ejemplo de aparato de mesa
accionado por vibración para tales ensayos se describe en la
patente de Estados Unidos n.º 5.804.732 (Wetzel et al.).
También se conoce otro tipo de ensayo de
esfuerzo como ensayo de esfuerzo altamente acelerado (HAST, del
inglés Highly Accelerated Stress Testing) e implica sujetar a
los productos, p. ej., tarjetas de circuitos impresos (PCBs, del
inglés, Printed Circuit Boards), a fuerzas vibratorias de 50
Gs. Tales fuerzas se aplican de forma aleatoria al producto a lo
largo de y en seis ejes de movimiento (como lo describe la
industria), es decir, a lo largo de los ejes lineales X, Y, Z y en
ejes rotacionales alrededor de tales ejes lineales. Tales ensayos
vibratorios se pueden realizar aislados o mientras los PCBs también
están expuestos al esfuerzo térmico extremo que implica cambios de
temperatura a un ritmo de, p. ej., 60 grados (aproximadamente 110
grados F) por minuto. En el último ejemplo, la mesa de vibración
con PCBs en la misma se coloca dentro de una cámara. Tal cámara
está configurada con capacidades de calentamiento y enfriamiento
para permitir cambios de temperatura rápidos y extremos dentro de
la cámara al mismo tiempo que el ensayo de vibración. Un fabricante
líder de equipamientos de ensayos vibratorios es Thermotron
Industries, Inc. de Holland, Michigan.
Al configurar plataformas de soporte de PCB para
tales ensayos, se presenta un número de consideraciones. Una de
ellas es la circulación de aire alrededor de los PCBs (para
facilitar los cambios rápidos de temperatura mencionados
anteriormente de las tarjetas) y la transferencia de fuerzas
vibratorias a los PCBs.
Aunque las plataformas de soporte de PCB de la
técnica anterior (como por ejemplo, el portador descrito en la
patente de Estados Unidos n.º 5.268.637 (Linken et al.)
generalmente son satisfactorias para los objetivos propuestos, no
son adecuadas para ensayos vibratorios, especialmente para el tipo
HAST descrito anteriormente. Un motivo se refiere a la
transferencia de fuerzas vibratorias desde la mesa de vibración a
los PCBs. El portador mostrado en la patente de Linken et
al. 637 mencionada anteriormente contempla el montaje de la
tarjeta deslizante y conectable. Tal montaje no transfiriere
adecuadamente las fuerzas vibratorias.
Una plataforma de soporte mejorada para ensayos
térmicos y de vibración de tarjetas de circuitos impresos sería una
ventaja obvia en la técnica.
Es un objeto de la presente invención
proporcionar una plataforma de tarjeta de circuito que supere
algunos de los problemas e inconvenientes de las plataformas
anteriores.
Otro objeto de la presente invención es
proporcionar una plataforma de soporte para tarjetas de circuito
que se pueda utilizar para ensayos de esfuerzo altamente
acelerados.
Otro objeto más de la invención es proporcionar
una plataforma de soporte para tarjetas de circuitos con rigidez y
capacidad de sujeción de la tarjeta seleccionada para provocar la
transmisión de la energía de vibración desde una mesa vibratoria a
las tarjetas que pasan el ensayo.
Otro objeto de la invención es proporcionar una
plataforma de soporte para tarjetas de circuito que se ajuste a una
amplia gama de tamaños de tarjetas de circuitos impresos.
Otro objeto más de la invención es proporcionar
una plataforma de soporte para tarjetas de circuito configurada
para permitir un flujo de aire amplio alrededor y a través de las
tarjetas del ensayo de esfuerzo térmico. La consecución de estos y
otros objetos se clarificará a partir de la siguiente descripción y
de los dibujos.
\vskip1.000000\baselineskip
La invención como se define en la reivindicación
1 implica una plataforma para soportar tarjetas de circuitos
impresos durante ensayos de vibración (y opcionalmente térmicos) que
a menudo implican probar las tarjetas hasta su destrucción. El
propósito de tales ensayos es comprobar la solidez del diseño y la
fabricación de las tarjetas y grado de rigurosidad del servicio que
deben soportar antes de fallar.
La nueva plataforma de soporte para tarjetas de
circuitos comprende un marco que generalmente tiene una
configuración ortogonal e incluye un par de paneles finales
verticales separados longitudinalmente que tienen un par de raíles
inferiores separados lateralmente extendiéndose entre ellos. Se fija
una plataforma de acoplamiento de la tarjeta al marco y está
"enmarcada" por los paneles y raíles. Tal plataforma incluye
varios elementos de acoplamiento de borde que se extienden
lateralmente entre los raíles. Cada uno de tales elementos tiene
una ranura de acoplamiento para recibir y sujetar el borde inferior
de una tarjeta de circuito impreso respectiva.
Hay un elemento de retención de la tarjeta
separado por encima de la plataforma en alguna dimensión y
orientado generalmente de forma paralela a la misma. La dimensión
por la que este elemento está separado de la plataforma de
acoplamiento se puede seleccionar mediante un primer mecanismo de
ajuste. En una realización específica, cada panel tiene dos filas
verticales de aberturas. Tales filas están separadas lateralmente
entre sí y las aberturas que definen una fila están preferiblemente
separadas verticalmente entre sí.
Cuando el elemento de retención de la tarjeta
está ubicado en la dimensión deseada aproximada por encima de la
plataforma de acoplamiento (es decir, deseada en vista de la
medición borde-a-borde de las
tarjetas que se van a soportar), se insertan tornillos de resalto
respectivos a través de aberturas correspondientes en cada una de
las cuatro filas verticales de aberturas y se enroscan cómodamente
en el elemento de retención. Las aberturas y los tornillos de
resalto actúan junto con el marco y el elemento de retención e
incluyen el primer mecanismo de ajuste. Tal mecanismo permite
ajustar en pequeños incrementos predeterminados la dimensión entre
la plataforma y el elemento de retención. Si los paneles finales,
los raíles, la plataforma de acoplamiento y el elemento de
retención están muy fijados de forma segura entre sí, la plataforma
transmitirá la vibración procedente de la mesa vibratoria a las
tarjetas de circuito sujetas al ensayo.
La plataforma también incluye al menos un
segundo mecanismo de ajuste (y preferiblemente una pluralidad de
los mismos) en el elemento de retención. Cada uno de tales
mecanismos de ajuste está montado para moverse hacia y a lo lejos
de la plataforma de acoplamiento, mientas que la dimensión del
elemento plataforma-a-retención se
mantiene substancialmente constante. En una realización específica,
muy preferida, la plataforma tiene al menos primeras y segundas
pluralidades de segundos mecanismos de ajuste. Más preferiblemente,
cada pluralidad incluye tres mecanismos de ajuste separados
lateralmente.
Simplemente como ejemplo, la primera pluralidad
de segundos mecanismos de ajuste incluye primeros, segundos y
terceros mecanismos de ajuste. Además, cada uno de los últimos
mecanismos incluye un tornillo de sujeción respectivo (es decir,
primero, segundo y tercer tornillo de sujeción), teniendo cada uno
su propio pasador de posicionamiento (es decir, primer, segundo y
tercer tornillo de posicionamiento). Cuando el primer o inferior y
segundo o superior eje de una tarjeta de circuito impreso se
insertan entre, respectivamente, un elemento de acoplamiento de
borde particular y el segundo mecanismo de ajuste (o pluralidad de
tales mecanismos) inmediatamente por encima, los pasadores de
posicionamiento de los mecanismos individuales se orientan de tal
modo que las muescas del mismo se acoplan con el borde superior de
la tarjeta de circuito impreso. Los segundos mecanismos de ajuste
se aprietan para sujetar de forma segura la tarjeta durante el
ensayo de vibración. Cuando tales mecanismos están apretados, la
plataforma de acoplamiento y el elemento de retención ejercen una
fuerza compresiva sobre las tarjetas Se puede considerar que tal
fuerza se ejerce substancialmente paralela o substancialmente
coincidente con una superficie plana de la tarjeta de circuito
impreso.
A partir de lo anterior y, particularmente, de
los dibujos y la descripción detallada que sigue, se pondrán de
manifiesto ciertas relaciones dimensionales de una realización
específica preferida. La primera dimensión, es decir, la dimensión
entre la plataforma de acoplamiento y la parte inferior del elemento
de retención de la tarjeta, se puede seleccionar en incrementos que
están predeterminados por el espacio entre las aberturas del primer
mecanismo de ajuste. Cabe destacar que esta configuración permite un
ajuste de algún modo "tosco".
Se debe comprender que los pasadores de
posicionamiento sobresalen por debajo del elemento de retención.
Por tanto, los pasadores de posicionamiento (o al menos un ejemplo
de pasador) están separados de la plataforma de acoplamiento por
una segunda dimensión que es de algún modo inferior que la primera
dimensión. La configuración arriba mencionada del segundo mecanismo
de ajuste permite que se seleccione la segunda dimensión en
incrementos continuos y no diferenciados. Resulta apropiado
mencionar que tal configuración permite un buen ajuste para obtener
una sujeción segura de cada una de las tarjetas sujetas al
ensayo.
Para efectuar tal ensayo, el marco (y más
específicamente, cada uno de los raíles de dicho marco) incluyen
diversas aberturas a lo largo del mismo. El espacio entre tales
aberturas se selecciona preferiblemente para que se ajuste al
espacio de los orificios de la mesa vibratoria. Para sujetar la
plataforma, las tarjetas y la mesa vibratoria entre sí, se colocan
pernos a través de tales aberturas y se enroscan en los orificios
de la mesa.
Otros detalles de la invención se incluyen en la
siguiente descripción y en los dibujos.
La figura 1 es una vista en perspectiva de la
nueva plataforma de soporte conectada con una mesa vibratoria.
La figura 2 es una vista en alza de uno de los
paneles finales de la plataforma de la figura 1, tomada a lo largo
de los ejes de vista VA2.
La figura 3 es una vista lateral en alzado de la
plataforma de la figura 1 tomada a lo largo de los ejes de vista
VA3 y con la mesa vibratoria omitida y con dos tarjetas de circuito
montadas en la plataforma incluidas.
La figura 4 es una vista aumentada de un ejemplo
de segundo mecanismo de ajuste. Se muestra una porción del elemento
de retención de la tarjeta en líneas discontinuas.
La figura 5 es una vista en alzado de tres de
los segundos mecanismos de ajuste fijados a un ejemplo de barra de
sujeción.
La figura 6 es una representación de seis ejes
de movimiento (tres lineales y tres rotativos) que se pueden
aplicar a tarjetas de circuitos montadas en la plataforma.
La figura 7 es una vista en perspectiva de una
cámara de ensayo medioambiental con la que se puede utilizar la
plataforma.
En referencia primero a las figuras 1, 2 y 3, la
plataforma de soporte 10 de la invención incluye un marco 11 que
generalmente es ortogonal e incluye primeros y segundos paneles
finales verticales, generalmente planos 13, 15, respectivamente,
que son paralelos y están separados longitudinalmente entre sí. Cada
panel 13, 15 tiene una ventana de circulación de aire 17 formada en
el mismo. Extendiéndose entre los paneles 13, 15, y generalmente
perpendicular a los mismos, se encuentran los primeros y segundos
raíles laterales y espaciados lateralmente 19, 21,
respectivamente.
Cada raíl 19, 21 tiene una pluralidad de
aberturas 23 a lo largo del mismo. Tales aberturas 23 están
preferiblemente conformadas y espaciadas en relación con el tamaño y
el espacio de las aberturas 25 de la parte superior de la mesa
vibratoria 27. De este modo, la plataforma 10 se puede unir
fácilmente a la mesa 27. Una plataforma de acoplamiento de la
tarjeta 29 está fijada de forma rígida entre los paneles finales
13, 15 y entre los raíles 19, 21 y tiene al menos un
(preferiblemente una pluralidad de) elemento de acoplamiento 31,
teniendo cada uno una ranura de acoplamiento lineal 33 formada en el
mismo. Como se describe con más detalle anteriormente, las tarjetas
de circuito 35, para pasar el ensayo, reciben sus bordes inferiores
o primeros 37 en sus ranuras respectivas 33.
La plataforma 10 también incluye un elemento de
retención de la tarjeta 39 que generalmente es paralelo a la
plataforma y está separado por encima de dicha plataforma por la
dimensión D1. El elemento 39 tiene primeras y segundas barras de
soporte alargadas y espaciadas lateralmente 41, 43, respectivamente.
El elemento 39 también incluye varias barras de sujeción 45 como
las barras 45a y 45b. Las barras 45 son alargadas, se extienden
lateralmente entre y están fijadas de forma rígida a las barras de
soporte 41, 43.
En referencia particularmente a las figuras 1 y
2, la plataforma 10 incluye un primer mecanismo de ajuste 47
mediante el que se puede seleccionar la dimensión D1 en incrementos
predeterminados. Tal mecanismo 47 incluye primeras y segundas filas
de aberturas 49, 51, respectivamente, en el primer panel final 13 y
terceras y cuartas filas de aberturas 53, 55, respectivamente, en
el segundo panel final 15. Mientras que cada una de tales filas 49,
51, 53 y 55 puede tener un solo componente de fila 57 de aberturas,
se facilitan menores incrementos de ajuste cuando cada fila 49, 51,
53 y 55 incluye un par paralelo de tales componentes 57 con
aberturas particulares de un componente, p. ej., el componente 57a,
estando ligeramente extendido en vertical desde las aberturas
correspondientes del componente adyacente 57b. Independientemente de
si se utilizan las filas o componentes de fila, las aberturas 59 de
un componente de fila 57 están dispuestas entre sí preferiblemente
de forma substancialmente vertical.
El primer mecanismo de ajuste 47 también incluye
una pluralidad de tornillos de resalto 61, cuatro en la realización
preferida. Cada tornillo 61 se extiende a través de una abertura
respectiva 59 en una de las cuatro filas 49, 51, 53 y 55, y se
enrosca en el elemento de retención 39. Las aberturas 59 están
preferiblemente localizadas y seleccionadas de tal modo que en
cualquier posición vertical del elemento de retención 39, tal
elemento de retención 39 es paralelo a la plataforma de acoplamiento
29 cuando la plataforma 10 está montada para ser utilizada.
En referencia a las figuras 4 y 5, la plataforma
10 también incluye al menos un segundo mecanismo de ajuste 63 (y
preferiblemente primer, segundo y tercer mecanismo 63a, 63b, 63c,
respectivamente) separados lateralmente entre sí en cada barra de
sujeción 45 del elemento de retención 39. Ciertas partes de cada
dicho segundo mecanismo de ajuste 63 están montadas para moverse
hacia y a lo lejos de la plataforma de acoplamiento 29, mientras
que la dimensión D1 del elemento de retención de la plataforma se
mantiene substancialmente constante.
Cada uno de los segundos mecanismos de ajuste 63
comprende un tornillo de sujeción 65 con su propio pasador de
posicionamiento 67. Cada pasador 67 tiene una muesca 69 formada en
el mismo. Cuando el inferior o primer borde 37 y el superior o
segundo borde 71 de una tarjeta de circuito impreso 35 se insertan
entre, respectivamente, un elemento de acoplamiento de borde
particular 31 y el segundo mecanismo de ajuste 63 inmediatamente
por encima, los pasadores de posicionamiento 67 de los mecanismos
individuales 63 se orientan de tal modo que las muescas del pasador
69 se acoplan con el borde superior de la tarjeta de circuito
impreso 71. Los segundos mecanismos de ajuste 63 se aprietan para
mantener de forma segura las tarjetas 35 del ensayo vibratorio.
Cuando tales mecanismos 63 están apretados, la plataforma de
acoplamiento 29 y el elemento de retención 39 ejercen una fuerza
compresiva sobre las tarjetas 35. Como representan las flechas 73,
75, se puede considerar que tal fuerza se ejerce substancialmente
paralela a o substancialmente coincidente con una superficie plana
de la tarjeta de circuito impreso 35. (La figura 4 muestras que cada
mecanismo de ajuste 63 tiene un tornillo de sujeción 63, una tuerca
77, un par de arandelas resistentes a la vibración 79 y un pie de
tornillo 81 que está fijado a presión dentro del pasador de
posicionamiento 67. La línea discontinua 83 muestra la ubicación de
una barra de sujeción 45 respecto a los componentes del mecanismo
63).
En referencia a las figuras 2 y 3, la dimensión
D1 se mide a lo largo de un primer eje 85 y de cada fila de
aberturas (es decir, fila 55), se extiende a lo largo de un segundo
eje 87 substancialmente paralelo al primer eje 85. Cada una de las
ranuras de acoplamiento lineales se extiende a lo largo de un tercer
eje 89 que es substancialmente perpendicular al primer eje 85. (Se
debe apreciar que la dimensión D1 no se puede medir en ningún lugar
a lo largo del elemento de acoplamiento 31 y entre los paneles 13,
15).
Se debe comprender que los pasadores de
posicionamiento 67 sobresalen por debajo del elemento de retención
39. Por tanto, los pasadores de posicionamiento 67 (o al menos un
ejemplo de pasador 67a) están separados de la plataforma de
acoplamiento 29 por una segunda dimensión D2 que es de algún modo
inferior que la primera dimensión D1. La configuración arriba
mencionada del segundo mecanismo de ajuste 63 permite que se
seleccione la segunda dimensión D2 en incrementos continuos y no
diferenciados.
Durante el uso, un operador del equipo de ensayo
puede cargar tarjetas de circuito 35 "fuera de línea", es
decir, utilizando una plataforma 10 en lugar de la plataforma 10
atornillada a la mesa vibratoria 27 como se muestra en la figura 1.
La carga de las tarjetas se realiza insertando de forma deslizante
el borde inferior 37 de una tarjeta 35 dentro de y a lo largo de una
de las ranuras 33 en la plataforma 29, manteniendo la tarjeta 35
verticalmente, alineando
la(s) muesca(s) 69 de el/los mecanismo(s) de ajuste correspondiente(s) 63 con el borde superior 71 de la tarjeta 35 y apretando el/los mecanismo(s) 63. Aunque se puede construir la plataforma 10 para mantener una sola tarjeta 35, el ensayo será más rápido si la plataforma 10 mantiene varias tarjetas 35, p. ej., más o menos doce.
la(s) muesca(s) 69 de el/los mecanismo(s) de ajuste correspondiente(s) 63 con el borde superior 71 de la tarjeta 35 y apretando el/los mecanismo(s) 63. Aunque se puede construir la plataforma 10 para mantener una sola tarjeta 35, el ensayo será más rápido si la plataforma 10 mantiene varias tarjetas 35, p. ej., más o menos doce.
Si una plataforma 10 que contiene tarjetas 35
está pasando el ensayo durante una carga fuera de línea de otra
plataforma 10, la plataforma de ensayo 10 se retira al final del
ensayo retirando los pernos (no mostrados) de las aberturas 23, 25.
La plataforma 10 que se ha cargado recientemente con tarjetas 35 se
atornilla a la mesa 27 en vez de la primera plataforma 10.
Normalmente las tarjetas de circuito 35 que pasan el ensayo se
hacen funcionar (o al menos se supervisan electrónicamente) durante
tal ensayo. Las conexiones eléctricas a tales tarjetas 35 pueden
ser conectores de bordes, por ejemplo.
El material seleccionado para la construcción de
la plataforma debe ser suficientemente duro y rígido para
transmitir eficientemente la mesa vibratoria a las tarjetas 35 que
pasan el ensayo. Magnesio y aluminio son adecuados; plomo y
plástico no.
En referencia también a la figura 6, la nueva
plataforma 10 resulta adecuada para las tarjetas de circuito
impresas 35 por lo que se conoce en la industria como seis ejes
(tres lineales y tres rotativos) de movimiento. Tales ejes incluyen
tres ejes lineales 91, 93, 95, respectivamente, y tres ejes
rotativos 97, 99, 101, respectivamente.
La figura 7 muestra una cámara de ensayo
medioambiental 103 representativa en la que se monta la plataforma
10 que contiene tarjetas 35. La mesa vibratoria 27 (así como el
mecanismo de activación para la misma) están en la cámara 103 y la
plataforma 10 está atornillada a la mesa 27 como se describe
anteriormente. Los conductos 105 se utilizan para dirigir aire
caliente y frío por las tarjetas 35 durante el ensayo de
vibración.
En esta descripción, los términos como superior,
inferior, vertical, paralelo y similares se utilizan para facilitar
la comprensión y no está destinados a limitar el ámbito de la
invención. Y mientras que los principios de la invención se han
mostrado y descrito en conexión con realizaciones preferidas, se
debe comprender que tales realizaciones se proporcionan a modo de
ejemplo y no son limitativas.
\vskip1.000000\baselineskip
Esta lista de referencias citadas por el
solicitante está prevista únicamente para ayudar al lector y no
forma parte del documento de patente europea. Aunque se ha puesto
el máximo cuidado en su realización, no se pueden excluir errores u
omisiones y la OEP declina cualquier responsabilidad al
respecto.
\bullet US 5072177 A, Liken [0004]
\bullet US 5191282 A, Liken [0004]
\bullet US 5804732 A, Wetzel [0005]
\bullet US 5268637 A, Liken [0008]
Claims (7)
1. Dispositivo de ensayo para ensayos
vibratorios de tarjetas de circuito impresas (35) que comprende una
tarjeta de circuito (35) con un primer y un segundo borde (37, 71)
separados por una longitud de tarjeta de circuito y una plataforma
(10) que soporta la tarjeta de circuito (35), incluyendo la
plataforma (10):
- -
- un marco (11);
- -
- una plataforma de acoplamiento de la tarjeta (29) montada en el marco (11) y acoplada con el primer eje (37).
- -
- un elemento de retención de la tarjeta (39) separado de la plataforma de acoplamiento (29) por una primera distancia (D1);
- -
- un primer mecanismo de ajuste (47) actuando junto con el marco (11) y el elemento de retención de la tarjeta (39) para proporcionar el ajuste de la primera distancia y para mantener la primera distancia; y
- -
- un segundo mecanismo de ajuste (63) conectado con el elemento de retención de la tarjeta (39) e incluyendo un elemento de retención del borde (67) para acoplar el segundo eje (71); y
en el que la plataforma de acoplamiento de la
tarjeta (29) y el elemento de retención del borde están separados
por una distancia operativa igual a la longitud de la tarjeta de
circuito de tal modo que la plataforma (29) y el elemento de
retención del borde ejercen una fuerza compresiva sobre la tarjeta
(35) al entrar en contacto con el primer y el segundo borde opuesto
(37, 71), respectivamente.
2. Dispositivo de ensayo de la reivindicación 1,
en el que el segundo mecanismo de ajuste (63) incluye:
- -
- un tornillo de sujeción (65) atornillado al elemento de retención de la tarjeta (39); y
- -
- un pasador de posicionamiento (67) montado en el tornillo de sujeción (65) para obtener un movimiento relativo respecto a dicho tornillo (65), incluyendo el pasador (67) una muesca (69) que funciona como el elemento de retención del borde que se acopla al segundo eje (71) de la tarjeta de circuito (35).
3. Dispositivo de ensayo de la reivindicación 1,
en el que:
- -
- el elemento de retención de la tarjeta (39) incluye una pluralidad de segundos mecanismos de ajuste (63),
- -
- cada segundo mecanismo de ajuste (63) tiene un tornillo de sujeción (65) respectivo;
- -
- cada tornillo de sujeción (65) está atornillado al elemento de retención de la tarjeta (39); y
- -
- cada tornillo de sujeción (65) tiene un pasador de posicionamiento (67) montado en el mismo.
4. Dispositivo de ensayo de la reivindicación 3,
en el que:
- -
- cada segundo mecanismo de ajuste (63) tiene un primer, segundo y tercer tornillo de sujeción (65);
- -
- el primer, segundo, y tercer pasador de posicionamiento (67) están montados en el primer, segundo y tercer tornillo de sujeción (65), respectivamente; y
- -
- cada pasador de posicionamiento (67) puede moverse rotativamente respecto al tornillo de sujeción (65) respectivo.
5. Dispositivo de ensayo de la reivindicación 1,
en el que la tarjeta (35) tiene una superficie substancialmente
plana; y la fuerza compresiva se ejerce de forma substancialmente
paralela a la superficie plana.
6. Dispositivo de ensayo de la reivindicación 1,
en el que la tarjeta (35) tiene una superficie substancialmente
plana; y la fuerza compresiva se ejerce de forma substancialmente
coincidente con la superficie plana.
7. Dispositivo de ensayo de la reivindicación 1
incluyendo además una mesa vibratoria (27) que soporta la
plataforma (10) y la tarjeta (35), y en la que:
- -
- la mesa (27) incluye una superficie de montaje que tiene una pluralidad de orificios formados en la misma;
- -
- la plataforma (10) incluye un marco (11) que tiene una pluralidad de aberturas formadas en la misma; y
- -
- los fijadores se extienden por las aberturas dentro de los orificios, sujetando así la plataforma (10) y las tarjetas (35) a la mesa (27).
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