ES2293476T3 - Dispositivo de generacion de una tension electrica de referencia de precision mejorada y circuito electronico integrado correspondiente. - Google Patents
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Abstract
Dispositivo de generación de una tensión eléctrica de referencia que comprende un primero y un segundo generadores de corriente que entregan, respectivamente, una corriente proporcional a la temperatura y una corriente complementaria de ella, y medios para sumar dichas corrientes, con el fin de obtener una tensión independiente de dicha temperatura, comprendiendo dicho primer generador de corriente, al menos, un amplificador operacional (14) y dos ramas en paralelo, comprendiendo una primera rama (31) una primera fuente de corriente y un primer transistor bipolar, y comprendiendo una segunda rama (32) una segunda fuente de corriente, una primera resistencia (R1) y un segundo transistor bipolar, caracterizado porque comprende medios de reducción de la dependencia del valor de dicha primera resistencia (R1) en relación con la corriente que circule por dicha primera rama (31), comprendiendo dichos medios de reducción, al menos, una segunda resistencia (R4) de valor no regulable, montada en serie en dicha segunda rama (32), entre dicha segunda fuente de corriente y una fuente de alimentación de dicho dispositivo.
Description
Dispositivo de generación de una tensión
eléctrica de referencia de precisión mejorada y circuito electrónico
integrado correspondiente.
El campo de la invención es el del diseño de
circuitos electrónicos y microelectrónicos. De modo más preciso, la
invención se refiere al campo de la generación de tensiones
eléctricas de referencia, utilizadas en todas las aplicaciones que
necesiten poder disponer de una tensión controlada que presente
variaciones muy pequeñas en función de la temperatura, de las
variaciones de la tensión de alimentación o de las variaciones de
los parámetros tecnológicos de fabricación de los diferentes
componentes.
Tales tensiones eléctricas de referencia son
necesarias, particularmente, en los equipos portátiles alimentados
mediante baterías (radioteléfonos, ordenadores portátiles, etc.),
así como en los sistemas que utilicen circuitos electrónicos
complejos de altas prestaciones, y de modo más general, en los
circuitos integrados a base de microcontroladores.
Con el fin de poder generar una tensión de
referencia que dependa lo menos posible de las variaciones de la
temperatura, se utilizan, generalmente, dos fuentes de corriente que
dependan de modos opuestos de la temperatura:
- una primera fuente de corriente denominada
PTAT (proportional to absolute temperature/proporcional a la
temperatura absoluta), que dependa, positivamente, de las
variaciones de la temperatura;
- una segunda fuente de corriente, denominada
CTAT (complementary to absolute temperature/complementaria de la
temperatura absoluta), que dependa, negativamente, de las
variaciones de temperatura.
Una fuente de tensión de referencia de este tipo
basada en las corrientes PTAT/CTAT se describe, también, en un
artículo de la revista IEEE Journal of Solid-State
Circuits, publicada en mayo de 1.999, titulado "A CMOS bandgap
reference circuit with sub-1-V
operation" ("Circuito de referencia de semiconductor de óxido
de metal complementario de banda prohibida que funciona a tensión
inferior a 1V"), de Hiromeri Bomba et al.
De modo más preciso, el coeficiente de
temperatura positivo de la fuente de corriente PTAT se obtiene,
generalmente, a partir de una diferencia de tensión entre dos
diodos, o entre dos uniones base-emisor de
transistores bipolares polarizadas en sentido directo, y el
coeficiente de temperatura negativo de la fuente de corriente CTAT
se obtiene a partir de la tensión en los terminales de un diodo o
de la unión base-emisor de un transistor bipolar
polarizado en directo.
Para hacer la tensión de referencia generada
independiente de las variaciones de la tensión de alimentación, se
procede, clásicamente, por montaje en cascada o por regulación.
Por ejemplo, el documento de patente
norteamericana US 2002/125938 (Kim Young Hee et al.) presenta
un generador de tensión de referencia que comprende un primer
generador de corriente, que entrega una primera corriente
proporcional a una tensión emisor-base, y un segundo
generador de corriente, que entrega una segunda corriente
proporcional a una tensión térmica. Entonces, el generador de
tensión de referencia suma estas dos corrientes y genera una
tensión de referencia estable.
Un generador de tensión de referencia de este
tipo utiliza un espejo de corriente que presenta una impedancia de
salida grande y una desviación máxima considerable con el fin de
reducir las variaciones de la tensión de referencia, pero no tiene
por objeto reducir la sensibilidad de la tensión de salida a las
variaciones de los valores de los componentes resistivos del
dispositivo.
Además, un generador de este tipo no se basa en
una estructura con amplificadores operacionales.
Puede hacerse referencia a la solicitud de
patente francesa nº FR 2842317 titulada "Source de tension de
référence, capteur de température, détecteur de seuil de
température, puce et système correspondant" ("Fuente de
tensión de referencia, sensor de temperatura, detector de umbral de
temperatura, microchip y sistema correspondiente"), a nombre del
mismo solicitante que la presente solicitud de patente, para una
descripción más detallada de un ejemplo de dispositivo de
generación de tensión de referencia de la técnica anterior.
La figura 1 presenta, de acuerdo con la técnica
anterior, un ejemplo de dispositivo de generación de una tensión de
referencia de tipo de "banda prohibida", susceptible de
funcionar con una tensión de alimentación pequeña, con una
corriente de reposo pequeña. Un dispositivo de este tipo
comprende:
- una fuente de corriente 10 de tipo PTAT que
comprende dos transistores bipolares Q_{2} y Q_{1}, cuya
relación entre las superficies de emisor vale S_{2}/S_{1};
- una fuente de corriente 11 de tipo CTAT;
- una fuente de corriente de polarización 12, no
ilustrada en la figura 1;
- una resistencia R_{s} 13 de suma de las
corrientes.
Un primer amplificador operacional 14 permite
polarizar los componentes bipolares del circuito y generar una
corriente proporcional a la temperatura (PTAT), cuyo valor puede ser
ajustado modificando el valor de la resistencia R_{1}.
Un segundo amplificador operacional 15 se
utiliza con montaje seguidor, y se conecta con el transistor bipolar
más pequeño Q_{1}: se usa para generar una corriente
complementaria de la temperatura (PTAT), cuyo valor puede ser
ajustado modificando la resistencia R_{2}.
Estas dos corrientes, respectivamente,
proporcional a la temperatura (PTAT) y complementaria de ella
(CTAT), son sumadas en una tercera resistencia R_{s} 13 para
generar una tensión ajustable, que puede hacerse independiente de
la temperatura por ajuste de las corrientes PTAT y CTAT.
Un circuito de este tipo comprende, también, una
fuente de corriente, no representada en la figura 1, que comprende
un circuito de arranque, activo a la puesta en tensión, y que
alimenta la corriente de polarización de los dos amplificadores
operacionales 14 y 15.
El dispositivo de la figura 1 entrega una
tensión de referencia V_{REF}, cuya expresión viene dada por
V_{REF}-R_{s}(I_{1}+I_{2}).
Se tiene, para cada uno de los transistores
bipolares Q_{1} y Q_{2}, una tensión
base-emisor, V_{BE} =
\frac{KT}{q}ln\frac{I_{E}}{I_{S}}, (es decir, para Q_{1},
V_{BE1} = \frac{KT}{q}ln\frac{I_{E1}}{I_{S1}}, y para Q_{2},
V_{BE2} = \frac{KT}{q}ln\frac{I_{E2}}{I_{S2}}), representando
I_{E} e I_{S}, respectivamente, las corrientes de emisor y de
saturación de los transistores Q_{1} y Q_{2}, y siendo T la
temperatura absoluta.
Cuando las tensiones en los puntos A y B de
entrada en el amplificador operacional 14 sean idénticas, es
decir,
v(A) = v(B), puede expresarse \DeltaV_{BE} = V_{BE1}-V_{BE2} de la forma siguiente: \DeltaV_{BE} = \frac{KT}{q}ln\frac{I_{S2}}{I_{S1}}, siendo las corrientes I_{S2} e I_{S1} proporcionales al tamaño de los emisores de los transistores bipolares Q_{2} y Q_{1}.
v(A) = v(B), puede expresarse \DeltaV_{BE} = V_{BE1}-V_{BE2} de la forma siguiente: \DeltaV_{BE} = \frac{KT}{q}ln\frac{I_{S2}}{I_{S1}}, siendo las corrientes I_{S2} e I_{S1} proporcionales al tamaño de los emisores de los transistores bipolares Q_{2} y Q_{1}.
Se deducen, entonces, las expresiones
siguientes:
I_{1} =
\frac{DV_{BE}}{R_{1}}=\frac{kT}{qR_{1}}ln\frac{S_{2}}{S_{1}},
proporcional a la temperatura absoluta T, con k y q constantes, y
expresando S_{2}/S_{1} la relación de las superficies de los
emisores de los dos transistores bipolares Q_{2} y Q_{1}, e
I_{2}=\frac{V_{BE1}}{R_{2}}, que es inversamente proporcional a
la temperatura T.
La tensión de referencia V_{REF} se expresa,
entonces, mediante:
V_{REF} =
R_{S}\left(\frac{kT}{qR_{1}}ln\frac{S_{2}}{S_{1}}+
\frac{V_{BE1}}{R_{2}}\right) =
\frac{kTR_{S}}{qR_{1}}ln\frac{S_{2}}{S_{1}}+
\frac{R_{S}V_{BE1}}{R_{2}}
El primer término
\frac{kTR_{S}}{qR_{1}}ln\frac{S_{2}}{S_{1}} de esta ecuación es
proporcional a la temperatura absoluta T, y el segundo término
\frac{R_{S}V_{BE1}}{R_{2}} es inversamente proporcional a ella.
Así, si se llegan a igualar, en valor absoluto, los coeficientes de
temperatura de cada uno de estos dos términos, la tensión V_{REF}
entregada a la salida del dispositivo de la figura 1, teóricamente,
puede hacerse independiente de las variaciones de la temperatura
T.
La figura 2, que no se describirá con más
detalle, presenta un ejemplo de realización del dispositivo
representado, esquemáticamente, en la figura 1. En las figuras 1 y
2, los mismos elementos funcionales se designan mediante las mismas
referencias numéricas.
La fuente de corriente (que comprende un
circuito de arranque, activo a la puesta en tensión, y que alimenta
la corriente de polarización de los dos amplificadores operacionales
14 y 15), no representada en la figura 1, se ilustra en la figura 2
con la referencia numérica 12.
Igualmente, el documento "Predicting the
effects of error sources in bandgap reference circuits and
evaluating their design implications" (Predicción de los efectos
de fuentes de error en circuitos de referencia de banda prohibida y
evaluación de sus implicaciones de diseño) de V. Gupta et
al., 45th Midwest Symposium on Circuits and Systems (XLV
Simposio del Midwest de circuitos y sistemas, Actas de la
Conferencia, volumen 3, año 2.002), propone añadir a los
dispositivos de generación de tensiones de referencia existentes una
resistencia adicional regulable, en serie con el generador PTAT,
que permita ajustar el valor de la corriente proporcional a la
temperatura entregada por el generador. Se habla, entonces, de
"ajuste fino".
Los dispositivos de generación de tensiones de
referencia de la técnica anterior, tales como los ilustrados en las
figuras 1 y 2, por ejemplo, comprenden componentes integrados, tales
como resistencias de polisilicio.
Un inconveniente de estos componentes consiste
en que su valor puede variar en, más o menos, un 20%,
aproximadamente, en función de los parámetros de la tecnología con
la que estén hechos (típicamente, en función de la oblea (wafer) de
silicio en el que estén hechos). Por tanto, estos componentes
presentan una precisión absoluta mediocre, lo que tiene como
consecuencia inducir una dispersión de la tensión de referencia
entregada a la salida, tanto en función de la temperatura como de
los parámetros tecnológicos (variaciones de "proceso").
Por tanto, un inconveniente de las técnicas de
generación de tensiones de referencia de tipo de "banda
prohibida" de la técnica anterior es la imprecisión de la
tensión generada, en función de las variaciones de la temperatura y
de los parámetros tecnológicos.
La adición de otra resistencia, regulable en
serie con el generador PTAT (resistencia de "ajuste fino"),
permite ajustar el valor de la corriente proporcional a la
temperatura entregada por el generador, pero requiere una
regulación de la resistencia cuando se produzcan variaciones de
proceso.
Por tanto, es necesario intervenir en cada
dispositivo con el fin de ajustar el valor de la resistencia de
"ajuste fino" en función de las variaciones del proceso, lo que
es particularmente engorroso.
La invención tiene por objeto, en particular,
paliar estos inconvenientes de la técnica anterior.
Más concretamente, un objetivo de la invención
consiste en ofrecer una técnica de generación de una tensión
eléctrica de referencia que presente una precisión aumentada en
relación con las tensiones de referencia generadas de acuerdo con
la técnica anterior. En particular, la invención tiene por objeto
mejorar la precisión de la tensión de referencia generada en
relación con las variaciones de la temperatura y/o de los parámetros
tecnológicos de fabricación de los componentes (en particular, en
el marco de la utilización de componentes del tipo de resistencias
de polisilicio).
En otros términos, la invención tiene por objeto
ofrecer una técnica de generación de una tensión eléctrica de
referencia que permita reducir la dispersión de la tensión de salida
de un dispositivo de tipo de "banda prohibida".
Otro objeto de la invención consiste en proponer
una técnica de este tipo cuya puesta en práctica sea sencilla y
poco costosa, y que no requiera la regulación de componentes
específicos.
En particular, la invención tiene por objeto
ofrecer una técnica de este tipo que limite las intervenciones de
ajuste del valor de los componentes, una vez montados, cuando se
modifiquen sus condiciones de funcionamiento.
La invención tiene por objeto, también, ofrecer
una técnica de este tipo que no aumente de manera sensible la
complejidad de los dispositivos de generación de tensión de
referencia en relación con la técnica anterior.
La invención tiene por objeto, igualmente,
ofrecer una técnica de este tipo muy apropiada para los dispositivos
de generación de tensiones eléctricas de referencia pequeñas que
funcionen por suma de corrientes.
Estos objetivos, así como otros que se pondrán
de manifiesto en lo que sigue, se consiguen merced a un dispositivo
de generación de una tensión eléctrica de referencia de acuerdo con
la reivindicación 1.
Así, la invención se basa en un enfoque
ciertamente nuevo e inventivo de generación de una tensión de
referencia, independiente de la temperatura y de las variaciones de
los procedimientos de fabricación de los componentes que
constituyen un dispositivo de este tipo. En efecto, la invención
propone una técnica de generación de una tensión de referencia que
presenta una precisión mejorada en relación con la técnica anterior,
merced a la reducción de la sensibilidad a los valores de las
resistencias utilizadas.
Esta técnica se basa en un dispositivo de tipo
de "banda prohibida" con amplificadores operacionales.
En particular, este tipo de banda prohibida
permite entregar una tensión de salida ajustable comprendida entre
0 V y la tensión de alimentación. Puede funcionar, también, a
tensiones inferiores a 1 V.
La introducción nueva de medios de reducción de
la dependencia del valor de las resistencias permite evitar la gran
dispersión de la tensión de referencia generada a la salida,
inducida por las variaciones en, más o menos, un 20% de los valores
de las resistencias (de polisilicio, por ejemplo), en función de los
parámetros tecnológicos de su fabricación.
Si esta segunda resistencia se realiza de
acuerdo con el mismo procedimiento tecnológico que la primera
resistencia, la evolución de su valor será similar a la de la
primera resistencia, lo que permite una compensación precisa de la
dependencia del valor de la primera resistencia de la corriente que
circule por la primera rama.
En particular, la utilización de una resistencia
de valor no regulable de este tipo permite evitar los problemas de
ajuste de los componentes, puesto que el valor de la resistencia
está regulado desde el momento de su integración en el dispositivo
de generación de tensión de referencia.
La invención permite así la supresión de una
etapa de regulación de los componentes, necesaria con la técnica
anterior, cuando se producía una variación de la resistividad.
Ventajosamente, dichos medios de reducción están
destinados a aumentar/reducir la corriente que circule por dicha
primera rama cuando la resistividad de dicha primera resistencia sea
superior/inferior a un valor de referencia.
De ese modo se mantiene un equilibrio relativo
entre las corrientes generadas por cada uno, primero y segundo, de
los generadores de corriente del dispositivo, cuando los parámetros
tecnológicos se modifiquen, lo que permite reducir la dispersión de
la tensión de referencia generada a la salida.
De manera ventajosa, dicha segunda resistencia
está posicionada en dicha segunda rama, en una conexión establecida
entre dichas primera y segunda fuentes de corriente.
Así, esta segunda resistencia está puesta en
serie con el transistor bipolar de la segunda rama.
En particular, la segunda resistencia puede
estar montada en serie entre la segunda fuente de corriente y una
alimentación del dispositivo de generación de tensión.
De manera preferida, dicha segunda resistencia
se selecciona de manera que la relación entre dichas corrientes,
proporcional a la temperatura y complementaria de ella, esté
comprendida en un intervalo de valores predeterminado cuando el
valor de dicha primera resistencia varíe.
Este intervalo de valores tiene que ser lo más
reducido posible, con el fin de asegurar que la relación entre las
corrientes generadas por cada uno de dichos primero y segundo
generadores sea lo más constante posible, en función de la
evolución de los parámetros tecnológicos.
Ventajosamente, la primera y la segunda
resistencias están hechas con una misma tecnología, de manera que
presenten un mismo comportamiento en relación con las variaciones de
las condiciones de funcionamiento de dicho dispositivo.
En particular, la primera y la segunda
resistencias pueden ser resistencias de polisilicio hechas en una
misma oblea.
La invención se refiere, también, a un circuito
electrónico integrado que comprende un dispositivo de generación de
una tensión eléctrica de referencia que comprende un primero y un
segundo generadores de corriente que entregan, respectivamente, una
corriente proporcional a la temperatura y una corriente
complementaria de ella, y medios de suma de dichas corrientes, con
el fin de obtener una tensión independiente de dicha temperatura.
El primer generador de corriente comprende, al menos, un
amplificador operacional y dos ramas en paralelo, a saber, una
primera rama que comprende una primera fuente de corriente,
controlada mediante el amplificador operacional, y un primer
transistor bipolar, y una segunda rama que comprende una segunda
fuente de corriente, controlada mediante el amplificador
operacional, una primera resistencia y un segundo transistor
bipolar.
Un dispositivo de generación de este tipo
comprende medios de reducción de la dependencia del valor de dicha
primera resistencia en relación con la corriente que circule por
dicha primera rama, comprendiendo dichos medios de reducción, al
menos, una segunda resistencia de valor no regulable.
Otras características y ventajas de la invención
se pondrán de manifiesto más claramente a partir de la lectura de
la descripción que sigue de un modo de realización preferido,
ofrecido a título de sencillo ejemplo ilustrativo, y no limitativo,
y de los dibujos adjuntos, en los que:
- la figura 1, ya descrita en lo que antecede en
relación con la técnica anterior, presenta un esquema de un
dispositivo de generación de una tensión de referencia de tipo de
"banda prohibida";
- la figura 2, también descrita anteriormente en
relación con la técnica anterior, ilustra un ejemplo de realización
del dispositivo de la figura 1;
- la figura 3 ilustra los transistores bipolares
y los espejos de corriente utilizados para generar una corriente
PTAT en el dispositivo de la figura 2;
- la figura 4 presenta las curvas de las
tensiones de entrada del amplificador operacional 14 de la figura 2
en función de la corriente I_{1};
- la figura 5 ilustra el desplazamiento de la
curva de tensión de entrada V(IN-M) de la
figura 4, por efecto del cambio de resistividad de los componentes
del dispositivo de la figura 2;
- la figura 6 presenta el esquema general de un
dispositivo de generación de tensión de referencia de "banda
prohibida" de acuerdo con la invención, en el que una resistencia
R_{4} adicional ha sido añadida, en el generador PTAT, para
compensar las variaciones de resistividad de los componentes;
la figura 7 describe, con más detalle, el
generador PTAT del dispositivo de la figura 6;
- la figura 8 presenta las curvas
representativas de la tensión de referencia generada a la salida de
un dispositivo de "banda prohibida" de la técnica anterior y
de un dispositivo de "banda prohibida" de la invención, en
función de la resistividad nominal de los componentes resistivos
utilizados en tales dispositivos;
- la figura 9 presenta las curvas
representativas de la tensión de referencia generada a la salida de
un dispositivo de "banda prohibida" de la técnica anterior y
de un dispositivo de "banda prohibida" de la invención, en
función de la temperatura;
- la figura 10 presenta un histograma de
mediciones de tensiones de referencia V_{REF} a la salida de un
dispositivo conforme a la invención, realizadas a partir de 7 obleas
(wafers) de silicio distintas.
El principio general de la invención se basa en
la introducción de medios que permitan reducir la dependencia del
valor de las resistencias de la corriente de tipo PTAT en un
dispositivo de generación de tensión de referencia por suma de
corrientes.
Se presenta, en relación con las figuras 3 a 5,
el problema de la técnica anterior que la invención permite
resolver.
Para ello, la figura 3 ilustra con detalle el
generador de corriente de tipo PTAT, con referencia 10 en las
figuras 1 y 2. Un generador 10 de este tipo comprende dos ramas 31 y
32 en paralelo:
- la primera rama, 31, comprende un primer
transistor bipolar Q_{1} de tipo pnp y una fuente de corriente
constituida por el transistor pmos M_{1} montado a modo de espejo
de corriente;
- la segunda rama 32 comprende un segundo
transistor bipolar Q_{2} de tipo pnp, una fuente de corriente
constituida por el transistor pmos M_{2} montado a modo de espejo
de corriente y una primera resistencia R_{1}.
Se han añadido un transistor pmos M_{0}
adicional y una fuente de corriente 10 para alimentar con corriente
los transistores bipolares Q_{1} y Q_{2}.
Las tensiones en los puntos in_p e in_m,
designadas V(in_p) y V(in_m), representan las dos
tensiones de entrada en los puntos A y B del amplificador
operacional 14 de las figuras 1 y 2, en función de la corriente
(idéntica) inyectada en estos puntos A y B. Como se muestra en la
figura 4, que representa la evolución de estas dos tensiones
V(in_p) y V(in_m) en función de la corriente I_{1}
en las ramas 31 y 32, se tiene V(in_p) = V(in_m) en
el punto de regulación P ("regulating point"). Se apreciará
que, en la figura 4, la abcisa de las dos curvas corresponde a la
corriente (idéntica) inyectada en los puntos A y B (expresada en
decenas de microamperios \muA, es decir, 10^{-5} A). La
ordenada de estas curvas corresponde a la tensión, expresada en
voltios V, en los puntos A y B.
Cuando el valor de la resistencia R_{1}
disminuya (como consecuencia de las variaciones de los parámetros
tecnológicos de su fabricación, denominadas, también, "variaciones
de proceso"), la corriente I_{1} = \frac{\Delta
V_{BE}}{R_{1}} en la segunda rama 32 aumenta, conforme a la
ecuación: I_{1} = \frac{\Delta V_{BE}}{R_{1}} =
\frac{kT}{qR_{1}}ln\frac{S_{2}}{S_{1}}, de acuerdo con una variante
lineal.
El punto de regulación P del dispositivo de
generación de tipo de "banda prohibida" (es decir, el punto en
que V(in_p) = V(in_m)), se desplaza, entonces, desde
el punto P al punto P', por efecto del desplazamiento de la curva
representativa de la tensión V(in_m), como se ilustra
mediante la figura 5. De nuevo, la abcisa de las dos curvas
corresponde a la corriente (idéntica) inyectada en los puntos A y B
(expresada en decenas de microamperios \muA, es decir, 10^{-5}
A). La ordenada de estas curvas corresponde a la tensión, expresada
en voltios V, en los puntos A y B.
\newpage
\global\parskip0.950000\baselineskip
El punto de regulación P corresponde a un valor
inicial de la resistencia R_{1}, y el nuevo punto de regulación
P' corresponde a una disminución de un 20% del valor de R_{1} en
relación con el punto P.
Paralelamente, la corriente que atraviesa la
resistencia R_{2} del generador 11 de corriente CTAT de las
figuras 1 y 2 aumenta, pues la tensión V_{BE1}, que es la tensión
base-emisor del transistor bipolar Q_{1},
aumenta, también. En efecto, se tiene:
V_{R2} =
V_{BE1} =
log\left(\frac{I_{1}}{IS_{1}}\right),
siendo IS_{1} una constante y
V_{R2} la tensión en los terminales de la resistencia R_{2};
e
I_{2} =
\frac{V_{R2}}{R_{2}} =
\frac{V_{BE1}}{R_{2}}.
En consecuencia, cuando el valor de la
resistencia R_{1} disminuya como consecuencia de variaciones de
proceso (típicamente, en una proporción de, aproximadamente, un
20%), ambas corrientes I_{1} e I_{2} aumentan, conforme al
desplazamiento del punto de regulación P ilustrado en la figura 5, y
la tensión entregada a la salida del dispositivo de generación de
tensión de referencia (de tipo de "banda prohibida") aumenta,
entonces, de acuerdo con la ecuación:
V_{REF} =
R_{S}(I_{1}+I_{2}).
Pero, como se ha indicado en lo que antecede, la
corriente I_{1} aumenta linealmente con R_{1} de acuerdo con la
relación K/R_{1}, siendo K una constante (pues, I_{1} =
\frac{kT}{qR_{1}}ln\frac{S_{2}}{S_{1}}), mientras que la corriente
I_{2} aumenta, por una parte, de manera lineal con R_{2}, de
acuerdo con la relación K'/R_{2}, siendo K' una constante, y, por
otra, de manera logarítmica, de acuerdo con la relación
ln(1/R_{1}).
En la expresión V_{REF} =
\frac{kTR_{S}}{qR_{1}}ln\frac{S_{2}}{S_{1}}+\frac{R_{S}V_{BE1}}{R_{2}},
el primer término de la ecuación, con R_{s}/R_{1}, se mantiene
constante cuando la resistividad de los componentes de polisilicio
varíe, mientras que el segundo término varía en función del valor
absoluto de la resistividad p de estos componentes.
Por tanto, el efecto global resultante es
doble:
- por una parte, se constata un aumento de la
dispersión de la tensión de salida V_{REF};
- por otra, el coeficiente de temperatura de la
tensión V_{REF} se desajusta, pues la corriente I_{2} (de tipo
CTAT, que depende negativamente de la temperatura) aumenta más
rápidamente que la corriente I_{1} (de tipo PTAT, que depende
positivamente de la temperatura).
Con el fin de paliar estos problemas los
inventores de la presente solicitud de patente proponen un nuevo
tipo de dispositivo de generación de tensión de referencia, del que
se ilustra, en la figura 6, un modo de realización particular.
El montaje de la figura 6 corresponde al montaje
de las figuras 1 y 2, con un transistor adicional R_{4} en serie
en la segunda rama de corriente 32 del espejo de corriente del
generador PTAT de corriente 10. Una resistencia adicional R_{4}
de valor no regulable de este tipo, tiene como objetivo reducir la
sensibilidad de la tensión de salida V_{REF} a las variaciones de
los valores de los componentes resistivos del dispositivo.
Más concretamente, el efecto de la resistencia
R_{4} puede ilustrarse a partir del esquema de la figura 7. Se
designa por I_{M1} la corriente que circula en la primera rama 31
del generador PTAT y por I_{M2} la corriente que circula en la
segunda rama 32 del generador PTAT.
La relación entre los valores de las corrientes
I_{M1} e I_{M2} puede expresarse de la forma:
\frac{I_{M1}}{I_{M2}} =
\frac{(V_{gS_{M1}} - V_{T})^{2}}{(V_{gS_{M2}} -
V_{T})^{2}}
y
(V_{gS_{M1}} -
V_{gS_{M2}}) =
R4*I_{M2},
representando V_{gS_{M1}} y
V_{gS_{M2}}, respectivamente, la tensión entre la puerta y la
fuente de los transistores M_{1} y M_{2}, y V_{T} la tensión
de umbral de estos
transistores.
\global\parskip1.000000\baselineskip
Cuando el valor de R_{1} disminuya, la
corriente I_{M2} a través del transistor M_{2} aumenta, como se
ha descrito en lo que antecede en relación con la figura 3. Al mismo
tiempo, el valor de la resistencia R_{4} disminuye también, pues
las resistencias R_{1} y R_{4} están fabricadas con la misma
tecnología: por ejemplo, R_{1} y R_{4} son dos resistencias de
polisilicio hechas en la misma oblea.
Conviene precisar que la resistencia R_{4}
presenta un valor no ajustable. En este caso, las propias
variaciones de proceso modifican, ligeramente, el valor de esta
resistencia. No se requiere intervención alguna para ajustar ("de
modo fino") el valor de R_{4}.
Cuando R_{4} disminuye, disminuyen, también,
(V_{gS_{M1}} - V_{gS_{M2}}) y la relación
I_{M1}/I_{M2}.
- por una parte, el valor de la corriente
I_{M2} aumenta, como consecuencia de la disminución de
R_{1};
- por otra parte, la relación I_{M1}/I_{M2}
disminuye, como consecuencia de la disminución del valor de
R_{4}.
Por tanto, al ajustar la relación
R_{4}/R_{1}, es posible mantener la corriente I_{M1} casi
constante cuando la resistividad de los componentes varíe, en
función de las variaciones de los parámetros tecnológicos. La
tensión V_{BE1} se mantiene entonces constante y la corriente CTAT
I_{2} = \frac{V_{BE1}}{R_{2}} sólo depende de R_{2}.
Así, la invención propone una técnica de
generación de una tensión de referencia que presenta una precisión
mejorada en relación con la técnica anterior, merced a una reducción
de la sensibilidad a los valores de las resistencias, y que no
requiere el reajuste del valor de los componentes en caso de
variaciones de la temperatura, de la alimentación, etc.
Utilizando de nuevo las notaciones de la figura
3, la corriente I_{1} = I_{M2} varía, en función de la
resistividad de los componentes, de acuerdo con una relación lineal
K/R (siendo R un valor de resistencia y K una constante), y la
corriente I_{2} varía, también, en función de la resistividad de
los componentes, de acuerdo con una relación casi lineal. Así, la
tensión de referencia entregada a la salida del dispositivo
V_{REF} = R_{s}(I_{1}+I_{2}) puede presentar un
coeficiente de temperatura más preciso, pues la dispersión de la
relación I_{1}/I_{2} es reducida.
Ello se ilustra en la figura 8, en la que se ha
representado la evolución de la tensión de referencia V_{REF} en
función de las variaciones de la resistividad de los componentes de
un dispositivo de generación de tensión de referencia:
- tal como se ilustra en la figura 2, es decir,
sin resistencia R_{4} adicional (curva 81);
- tal como se ilustra en la figura 7, es decir,
con una resistencia R_{4} adicional de acuerdo con la invención
(curva 82).
La abcisa de las curvas de la figura 8
representa la resistividad del polisilicio en relación con la
resistividad nominal (así, una abcisa 1,2 corresponde, por ejemplo,
a un aumento del 20% de la resistividad), y la ordenada V_{REF}
corresponde a la tensión de salida de la "banda prohibida",
expresada en voltios.
Como puede constatarse, la tensión de referencia
V_{REF} entregada a la salida del dispositivo de "banda
prohibida" de la invención ya casi no depende de las variaciones
de proceso: en efecto, cuando la resistividad de los componentes
del dispositivo evoluciona, la tensión V_{REF} se mantiene casi
constante (curva de referencia 82). En cambio, con la técnica
anterior (curva 81), la tensión V_{REF} disminuye mucho cuando
aumenta la resistividad de los componentes.
La figura 9 presenta la evolución de la tensión
de referencia V_{REF} en función de la temperatura para cada uno
de estos dos casos, con resistencia R_{4} adicional (curva 91) o
sin ella (curva 92), para una resistividad de los componentes de
polisilicio igual a 1,2 veces su resistividad nominal.
En la figura 9, la abcisa de las curvas
representa la temperatura, expresada en grados Celsius (ºC), y su
ordenada representa la tensión de salida V_{REF} de la "banda
prohibida", expresada en voltios (V). En los dos casos, para una
resistividad del polisilicio igual a 1, la variación de la V_{REF}
con la temperatura es casi nula.
Como puede constatarse, la estabilidad, en
función de la temperatura, de la tensión V_{REF} generada a la
salida del dispositivo de "banda prohibida" es mejor en el caso
en que, conforme a la invención, se haya añadido, en serie, una
resistencia R_{4} en la rama 32 del espejo de corriente del
generador PTAT 10.
La figura 10 presenta un histograma de
diferentes mediciones de tensiones de referencia V_{REF} de
"banda prohibida" obtenidas a partir de 7 obleas distintas.
Más concretamente, este histograma corresponde a las mediciones de
la tensión de salida de la "banda prohibida", para una solución
en la que se haya añadido una resistencia R_{4}. Estas mediciones
han sido realizadas a 25ºC. La abcisa del histograma corresponde a
los valores de tensión V_{REF} diferentes medidos (en voltios), y
la ordenada de cada barra del histograma representa la frecuencia
(es decir, el número de piezas) para cada valor de tensión V_{REF}
en abcisas (por tanto, ninguna unidad de medida está asociada con
los valores de ordenadas obtenidos).
Podrían preverse otros modos de realización de
la invención. En efecto, en el ejemplo presentado en lo que
antecede en relación con la figura 6, los medios de reducción de la
dependencia del valor de la resistencia R_{1} en relación con la
corriente que circule por la primera rama 31 del generador de
corriente PTAT consisten en una resistencia R_{4} posicionada en
serie en esta rama.
Pero estos medios podrían consistir, también, en
una corriente adicional inyectada en la primera rama 31 del
generador de corriente PTAT que compense las variaciones de la
corriente I_{M1} debidas al cambio de resistividad de R_{1}. En
particular, estos medios podrían consistir en una fuente de
corriente adicional y proporcional a la corriente I_{1},
posicionada en derivación en el transistor bipolar Q_{1}.
Estos medios podrían consistir, también, en una
o varias resistencias adicionales, externas en relación con el
circuito del generador PTAT de corriente 10.
Se apreciará, por otro lado, que la utilización
de resistencias R_{1}, R_{2} y R_{S}, externas en relación
con el circuito, y precisas, permitirían mejorar la estabilidad de
la resistencia, también, pero aumentarían tanto el número de
entradas/salidas como el número de componentes utilizados, y, por
tanto, llevarían consigo un aumento global del coste del
dispositivo de tipo de "banda prohibida" de la invención.
Claims (7)
1. Dispositivo de generación de una tensión
eléctrica de referencia que comprende un primero y un segundo
generadores de corriente que entregan, respectivamente, una
corriente proporcional a la temperatura y una corriente
complementaria de ella, y medios para sumar dichas corrientes, con
el fin de obtener una tensión independiente de dicha temperatura,
comprendiendo dicho primer generador de corriente, al menos, un
amplificador operacional (14) y dos ramas en paralelo,
comprendiendo una primera rama (31) una primera fuente de corriente
y un primer transistor bipolar, y comprendiendo una segunda rama
(32) una segunda fuente de corriente, una primera resistencia
(R_{1}) y un segundo transistor bipolar,
caracterizado porque comprende medios de
reducción de la dependencia del valor de dicha primera resistencia
(R_{1}) en relación con la corriente que circule por dicha primera
rama (31), comprendiendo dichos medios de reducción, al menos, una
segunda resistencia (R_{4}) de valor no regulable, montada en
serie en dicha segunda rama (32), entre dicha segunda fuente de
corriente y una fuente de alimentación de dicho dispositivo.
2. Dispositivo de generación según la
reivindicación 1, caracterizado porque dichos medios de
reducción están destinados a aumentar/reducir, la corriente que
circule por dicha primera rama (31) cuando la resistividad de dicha
primera resistencia (R_{1}) sea superior/inferior, a un valor de
referencia.
3. Dispositivo de generación según cualquiera de
las reivindicaciones 1 y 2, caracterizado porque dicha
segunda resistencia (R_{4}) está posicionada en dicha segunda
rama (32), en una conexión establecida entre dichas primera y
segunda fuentes de corriente.
4. Dispositivo de generación según cualquiera de
las reivindicaciones 1 a 3, caracterizado porque dicha
segunda resistencia (R_{4}) se selecciona de manera que la
relación entre dichas corrientes proporcional a la temperatura y
complementaria de ella esté comprendida en un intervalo de valores
predeterminado cuando el valor de dicha primera resistencia
(R_{1}) varíe.
5. Dispositivo de generación según cualquiera de
las reivindicaciones 1 a 4, caracterizado porque dichas
primera y segunda resistencias están hechas con la misma
tecnología, de manera que presenten el mismo comportamiento en
relación con las variaciones de las condiciones de funcionamiento de
dicho dispositivo.
6. Dispositivo de generación según la
reivindicación 5, caracterizado porque dichas primera y
segunda resistencias consisten en resistencias de polisilicio
hechas en una misma oblea.
7. Circuito electrónico integrado,
caracterizado porque comprende un dispositivo de generación
de una tensión eléctrica de referencia según la reivindicación
1.
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