ES2207090T3 - Capa revestida y metodo de revestimiento de una capa. - Google Patents
Capa revestida y metodo de revestimiento de una capa.Info
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Abstract
Substrato con un sistema de capas a base de varias capas, caracterizado porque el sistema de capas contiene tres capas superpuestas, estando compuesta la primera de las tres capas esencialmente de NiCrxOy (siendo x = 2-4 e y = 3-6), la segunda capa esencialmente de un material dieléctrico y la tercera capa esencialmente de SiOxNy (siendo x = 1-3 e y = 2-4).
Description
Capa revestida y método de revestimiento de una
capa.
La invención se refiere a un substrato con un
sistema de capas a base de capas múltiples.
La invención se refiere además a un procedimiento
para recubrir un substrato.
Los substratos recubiertos tienen aplicación en
amplios sectores de la tecnología. Los recubrimientos sirven para
mejorar las propiedades ópticas y/o químicas o mecánicas de los
substratos.
La invención se refiere en particular a
substratos transparentes, que estén dotados de un sistema de capas
al menos parcialmente transparente a la luz.
Los substratos transparentes pueden ser por
ejemplo láminas de plástico o de cristal. El concepto de cristal se
utiliza aquí en su sentido general e incluye también materiales
vítreos y sustancias vítreo cristalinas.
Es sabido cómo obtener una reducida capacidad de
emisión y/o unos valores deseados de transmisión y/o reflexión del
substrato recubierto mediante la elección adecuada de capas
múltiples. De esta manera, por ejemplo, se pueden reducir las
pérdidas de calor en los locales provistos de tales substratos, o se
puede reducir la entrada de calor solar a los locales, mientras que
el paso de la luz, en ambos sentidos, se ve obstaculizado en
pequeña medida.
Para lograr las propiedades ópticas deseadas se
emplea generalmente por lo menos una capa de un material
reflectante, en particular de plata. La capa de material
reflectante es suficientemente delgada para permitir el paso de la
mayoría de los rayos del espectro visible, mientras que se refleja
la mayor parte de la radiación infrarroja.
Se conocen diversas capas para proteger la capa
de material reflectante contra efectos químicos o mecánicos.
Las capas adicionales protegen la capa
reflectante físicamente contra la erosión y químicamente contra la
corrosión.
Un substrato conforme a la especie se conoce por
la memoria descriptiva alemana DE 39 41 027 A1. En este substrato
recubierto hay encima de la lámina de cristal una capa de dióxido
de titanio, otra capa de óxido de estaño y otra capa de dióxido de
titanio.
Los sistemas de capas conocidos presentan el
inconveniente de que los valores cromáticos en el sistema L*, a*, b*
son desfavorables. Además no está garantizada la resistencia a los
arañazos. Por ejemplo, en el ensayo de Taber, en el que se mide la
abrasión del recubrimiento superficial, aparecen en las probetas
unos arañazos continuos si se exponen, en un aparato de ensayo que
contiene dos discos giratorios recubiertos de papel abrasivo, a una
carga de 20 g de acuerdo con la Norma DIN 53799.
La invención tiene como objetivo desarrollar un
sistema de capas que tenga unos parámetros ópticos convenientes y
que presente una resistencia lo más alta posible a los
arañazos.
De acuerdo con la invención este objetivo se
consigue conformando un substrato conforme a la especie de tal
manera que el sistema de capas contenga tres capas superpuestas,
donde la primera de las tres capas es esencialmente de
NiCr_{x}O_{y} (siendo x = 2-4 e y =
3-6), siendo la segunda capa esencialmente de un
material dieléctrico y la tercera capa esencialmente de
SiO_{x}N_{y} (siendo x = 1-3 e y =
2-4).
La invención prevé además que por lo menos una
capa del sistema de capas sea de NiCr_{x}O_{y} y otra capa de
SiO_{x}N_{y}. El recubrimiento contiene además por lo menos una
capa dieléctrica.
La capa dieléctrica está dispuesta
preferentemente entre la capa consistente esencialmente de
NiCr_{x}O_{y} y la capa consistente esencialmente de
SiO_{x}N_{y}.
De acuerdo con la invención se lleva a cabo
además un procedimiento conforme a la especie de tal manera que
sobre el substrato se aplican varias capas, donde por lo menos tres
de las capas tienen la siguiente composición:
1 capa: NiCr_{x}O_{y} (siendo x =
2-4 e y = 3-6)
2 capa: material dieléctrico
3 capa: SiO_{x}N_{y} (siendo x =
1-3 e y = 2-4).
Una realización preferida del substrato y/o del
procedimiento se caracteriza porque las tres capas se encuentran
directamente superpuestas.
Es conveniente realizar el substrato de tal
manera y/o llevar a cabo el procedimiento de tal manera que la
primera capa sea la que esté más próxima al substrato.
Una realización preferida del substrato y/o del
procedimiento se caracteriza porque las tres capas se encuentran
encima de una capa que es esencialmente de plata.
Para esto se prefiere que debajo de la capa de
plata haya una capa inferior de un material dieléctrico.
El material dieléctrico es en particular un óxido
metálico, siendo especialmente ventajoso el óxido de zinc (ZnO).
Es conveniente realizar el substrato de tal
manera y/o llevar a cabo el procedimiento de tal manera que debajo
de la capa inferior haya otra capa.
La capa situada debajo de la capa inferior es
preferentemente también de un material dieléctrico. Como material
para la capa situada debajo de la capa inferior resulta
especialmente adecuado el óxido de estaño (SnO_{2}).
Una realización preferida del substrato y/o del
procedimiento se caracteriza porque encima de las capas de
protección hay una capa metálica.
Se puede conseguir una resistencia química
especialmente buena por el hecho de que la capa metálica sea de una
aleación que contenga por lo menos dos componentes de aleación del
grupo Zn, Sn, Al.
La capa metálica contiene por ejemplo una
aleación de Sn/Zn/Al, con una proporción preferida del 35%/50%/5%,
pero también otras proporciones de aleación resultan igualmente
ventajosas, como por ejemplo 30%/68%/2%.
Es conveniente realizar el substrato de tal
manera y/o llevar a cabo el procedimiento de tal manera que encima
de la capa metálica haya una capa de cubierta ("top
coating").
Para mejorar aún más la resistencia a los
arañazos es conveniente que la capa de cubierta tenga esencialmente
la misma composición química que una capa de protección situada más
próxima a la capa metálica.
Se ha acreditado especialmente que la capa de
cubierta sea esencialmente de SiO_{x}N_{y} ó de TiO_{2} ó de
Si_{3}N_{4}.
Se pueden conseguir unas propiedades ópticas
especialmente ventajosas si la capa de protección que contenga
SiO_{x}N_{y} tiene un espesor entre 2 nm y 20 nm, en particular
entre 5 nm y 15 nm.
Otra mejora de las propiedades ópticas se puede
conseguir porque la capa de cubierta tiene un espesor entre 2 nm y
15 nm, en particular entre 3 nm y 10 nm.
Una realización preferida del substrato y/o del
procedimiento se caracteriza porque por lo menos una de las capas
se aplica mediante pulverización catódica.
Se pueden conseguir unas tasas de segregación
elevadas y unos espesores de capa uniformes porque la pulverización
catódica está apoyada al menos por un campo magnético.
Es conveniente realizar el substrato de tal
manera y/o llevar a cabo el procedimiento de tal manera que el
campo magnético tenga una frecuencia entre 30 y 40 kHz.
Una realización preferida del substrato y/o del
procedimiento se caracteriza porque el apoyo del campo magnético
tiene lugar por medio de un sistema Twin-Mag.
Es conveniente realizar el substrato de tal
manera y/o llevar a cabo el procedimiento de tal manera que durante
la pulverización por lo menos uno de los cátodos esté girando.
La elección de una frecuencia entre 30 y 40 kHz,
de un sistema Twin-Mag y/o de la rotación del cátodo
son especialmente adecuados para aplicar las capas de
SiO_{x}N_{y}.
Otras ventajas, particularidades y
perfeccionamientos convenientes de la invención se deducen de las
sub-reivindicaciones y de la siguiente
representación de ejemplos de realización preferidos, sirviéndose
para ello de los dibujos.
El dibujo muestra un substrato con un sistema de
recubrimiento con una primera estructura de capas.
La Fig. 1 muestra en una representación extendida
perpendicularmente a la superficie del substrato, un substrato 10,
en particular de un material transparente tal como el cristal, que
lleva dispuesto encima un sistema de capas 20.
El sistema de capas 20 presenta ocho capas.
En una superficie 30 del substrato 10 orientada
hacia el sistema de capas 20, hay una primera capa 40 de un
material dieléctrico, en particular de un óxido metálico,
preferentemente de SnO_{2}. La primera capa 40 presenta un espesor
de 15 nm a 30 nm.
Sobre la primera capa 40 hay una capa inferior 50
de un material dieléctrico, en particular de un óxido metálico,
preferentemente de ZnO. La capa inferior 50 tiene un espesor de 2
nm a 10 nm. Si se prepara la capa inferior con pulverizadores
iónicos de media frecuencia, pulverizadores iónicos
Twin-Mag o pulverizadores con cátodo rotativo, se
puede elegir un espesor sumamente reducido.
Sobre la capa inferior 50 hay una capa metálica
60, que se compone preferentemente y principalmente de plata. La
capa metálica 60 presenta un espesor preferido de 8 nm a 16 nm.
Sobre la capa metálica 60 hay una primera capa de
protección 70, preferentemente de óxidos metálicos, en particular de
NiCr_{x}O_{y} siendo 2 \leq x \leq 4 y 3 \leq y \leq
6.
La capa de protección 70 tiene un espesor
preferentemente de 1 nm a 6 nm.
Sobre la primera capa de protección 70 hay una
capa de agente adherente 80. La capa de agente adherente 80 es
preferentemente de un material dieléctrico tal como un óxido
metálico o Si_{3}N_{4}. Los óxidos metálicos preferidos son
ZnO_{2} ó S_{n}O_{2}, donde los valores de dimensiones
indicados a continuación se refieren al caso de que la capa de
agente adherente consista esencialmente de S_{n}O_{2}. La capa
de agente adherente puede presentar diversos espesores, que van de
2 nm a 50 nm. En el caso representado y preferido especialmente, la
capa de agente adherente 80 presenta un espesor entre 20 nm y 25
nm.
Sobre la capa de agente adherente 80 hay otra
capa de protección 90. La capa de protección 90 es preferentemente
de SiO_{x}N_{y}. Un espesor preferido de la capa de protección
90 representa entre 5 nm y 15 nm.
Encima de la capa de protección 90 hay una capa
metálica 100, en particular de una aleación metálica, donde la
aleación metálica contiene preferentemente por lo menos dos
componentes de aleación del grupo Sn, Zn, Al. La capa 100 presenta
preferentemente un espesor inferior a 20 nm, prefiriéndose valores
entre 2 nm y 15 nm, en particular entre 5 nm y 15 nm.
Otro aumento de la resistencia a los arañazos se
puede conseguir porque encima de la capa metálica 100 hay una capa
de cubierta 110. En una forma de realización conveniente, la capa de
cubierta 110 es de SiO_{x}N_{y}, TiO_{2} ó Si_{3}N_{4}.
En el caso ventajoso expuesto, la capa de cubierta 110 es de
SiO_{x}N_{y}, con un espesor preferido entre 3 nm y 10 nm,
siendo convenientes valores de aproximadamente 5 nm.
Otros ejemplos para la composición de sistemas de
capas especialmente ventajosos, son los siguientes, comenzando en
cada caso sobre un substrato de cristal:
- a)
- una capa de SnO_{2} con un espesor preferido de 30 nm, una capa de ZnO con un espesor conveniente de 5 nm, una capa de Ag con un espesor preferido de 13 nm, una capa de NiCr_{x}O_{y} con un espesor conveniente de 5 nm, una capa de SnO_{2} con un espesor preferido de 20 nm, una capa de SiO_{x}N_{y} con un espesor conveniente de 8 nm, una capa de Zn:Sn:Al con un espesor preferido de 10 nm y una capa de SiO_{x}N_{y} con un espesor conveniente de 8 nm.
- b)
- una capa de SnO_{2} con un espesor preferido de 32 nm, una capa de ZnO con un espesor conveniente de 3 nm, una capa de Ag con un espesor preferido de 13 nm, una capa de NiCr_{x}O_{y} con un espesor conveniente de 5 nm, una capa de Si_{3}N_{4} con un espesor preferido de 20 nm, una capa de SiO_{x}N_{y} con un espesor conveniente de 10 nm, una capa de Zn:Sn:Al con un espesor preferido de 10 nm y una capa de TiO_{2} con un espesor conveniente de 8 nm;
- c)
- una capa de SnO_{2} con un espesor preferido de 33 nm, una capa de ZnO con un espesor conveniente de 4 nm, una capa de Ag con un espesor preferido de 13 nm, una capa de NiCr_{x}O_{y} con un espesor conveniente de 5 nm, una capa de ZnO con un espesor preferido de 20 nm, una capa de SiO_{x}N_{y} con un espesor conveniente de 10 nm, una capa de Zn:Sn:Al con un espesor preferido de 10 nm y una capa de Si_{3}N_{4} con un espesor conveniente de 6 nm.
- d)
- una capa de SnO_{2} con un espesor preferido de 33 nm, una capa de ZnO con un espesor conveniente 4 nm, una capa de Ag con un espesor preferido de 13 nm, una capa de NiCr_{x}O_{y} con un espesor conveniente de 5 nm, una capa de SnO_{2} con un espesor preferido de 20 nm, una capa de SiO_{x}N_{y} con un espesor conveniente de 8 nm, una capa de Zn:Sn:Al con un espesor preferido de 10 nm y una capa de TiO_{2} con un espesor conveniente de 5 nm.
- e)
- una capa de SnO_{2} con un espesor preferido de 33 nm, una capa de ZnO con un espesor conveniente de 4 nm, una capa de Ag con un espesor preferido de 13 nm, una capa de NiCr_{x}O_{y} con un espesor conveniente de 5 nm, una capa de SnO_{2} con un espesor preferido de 20 nm, una capa de SiO_{x}N_{y} con un espesor conveniente de 8 nm, una capa de Zn:Sn:Al con un espesor preferido de 10 nm y una capa TiO_{2} con un espesor preferido de 8 nm.
\newpage
- 10
- Substrato
- 20
- Sistema de capas
- 30
- Superficie
- 40
- Primera capa
- 50
- Capa inferior
- 60
- Capa metálica
- 70
- Capa de protección
- 80
- Capa de agente adherente
- 90
- Capa de protección
- 100
- Capa metálica
- 110
- Capa de cubierta
Claims (19)
1. Substrato con un sistema de capas a base de
varias capas, caracterizado porque el sistema de capas
contiene tres capas superpuestas, estando compuesta la primera de
las tres capas esencialmente de NiCr_{x}O_{y} (siendo x =
2-4 e y = 3-6), la segunda capa
esencialmente de un material dieléctrico y la tercera capa
esencialmente de SiO_{x}N_{y} (siendo x = 1-3 e
y = 2-4).
2. Substrato según la reivindicación 1,
caracterizado porque las tres capas están inmediatamente
superpuestas.
3. Substrato según una o varias de las
reivindicaciones 1 ó 2, caracterizado porque la primera capa
es la que está más próxima al substrato.
4. Substrato según una o varias de las
reivindicaciones 1 a 3, caracterizado porque las tres capas
se encuentran por encima de una capa compuesta esencialmente de
plata.
5. Substrato según la reivindicación 4,
caracterizado porque debajo de la capa de plata hay una capa
inferior de un material dieléctrico.
6. Substrato según la reivindicación 5,
caracterizado porque debajo de la capa inferior hay otra
capa más.
7. Substrato según una o varias de las
reivindicaciones 1 a 6, caracterizado porque encima de las
capas de protección hay una capa metálica.
8. Substrato según la reivindicación 7,
caracterizado porque la capa metálica es de una aleación que
contiene por lo menos dos componentes de aleación del grupo Zn, Sn,
Al.
9. Substrato según una o varias de las
reivindicaciones 1 ó 7, caracterizado porque encima de la
capa metálica hay una placa de cubierta.
10. Substrato según la reivindicación 9,
caracterizado porque la capa de cubierta presenta
esencialmente la misma composición química que la capa de protección
que está más próxima a la capa metálica.
11. Substrato según una o varias de las
reivindicaciones 9 ó 10, caracterizado porque la capa de
cubierta es esencialmente de SiO_{x}N_{y} ó de TiO_{2} ó de
Si_{3}N_{4}.
12. Substrato según una o varias de las
reivindicaciones 1 a 11, caracterizado porque la capa de
protección que contiene SiO_{x}N_{y} presenta un espesor entre 2
nm y 20 nm, en particular entre 5 nm y 15 nm.
13. Substrato según una o varias de las
reivindicaciones 11 ó 12, caracterizado porque la capa de
cubierta presenta un espesor entre 2 nm y 15 nm, en particular entre
3 nm y 10 nm.
14. Procedimiento para recubrir un substrato,
caracterizado porque sobre el substrato se aplican varias
capas, de las que por lo menos tres capas presentan la siguiente
composición:
1 capa: NiCr_{x}O_{y} (siendo x =
2-4 e y = 3-6)
2 capa: material dieléctrico
3 capa: SiO_{x}N_{y} (siendo x =
1-3 e y = 2-4)
15. Procedimiento según la reivindicación 14,
caracterizado porque por lo menos una de las placas se
aplica mediante pulverización catódica.
16. Procedimiento según la reivindicación 15,
caracterizado porque la pulverización catódica está apoyada
por lo menos por un campo magnético.
17. Procedimiento según la reivindicación 15,
caracterizado porque el campo magnético tiene una frecuencia
entre 30 y 40 kHz.
18. Procedimiento según una o varias de las
reivindicaciones 16 ó 17, caracterizado porque el apoyo
mediante el campo magnético tiene lugar por medio de un sistema
Twin-Mag.
\newpage
19. Procedimiento según una o varias de las
reivindicaciones 15 a 18, caracterizado porque durante la
pulverización por lo menos uno de los cátodos está girando.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP99115178A EP1077203B1 (de) | 1999-08-16 | 1999-08-16 | Beschichtetes Substrat und Verfahren zur Beschichtung eines Substrats |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
ES2207090T3 true ES2207090T3 (es) | 2004-05-16 |
Family
ID=8238703
Family Applications (1)
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