EP0780871A1 - Strukturierte Oberfläche mit spitzenförmigen Elementen - Google Patents
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- H—ELECTRICITY
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- H01J9/02—Manufacture of electrodes or electrode systems
- H01J9/022—Manufacture of electrodes or electrode systems of cold cathodes
- H01J9/025—Manufacture of electrodes or electrode systems of cold cathodes of field emission cathodes
Definitions
- the present invention relates to a structured surface, comprising a carrier layer and tip-shaped elements electrically connected to it.
- the invention further relates to the use of this structured surface and a method for its production.
- thermal cathodes have been used for this purpose, which are heated to temperatures of, for example, 1000 ° C. and higher, so that the electrons on the cathode surface receive so much thermal energy that they can overcome the potential barrier on the cathode surface.
- the surfaces of thermal cathodes are selected such that the work function of the electrons is as deep as possible by selecting appropriate surface layers in order to achieve a high electron emission.
- Another possibility for producing electron-emitting cathode surfaces is to apply high electric field strengths to a cold, i.e. not specially heated, cathode.
- Such cold electron-emitting cathode surfaces are referred to as field emission surfaces.
- Very high electric field strengths on the cathode surface are necessary to achieve significant field emission currents.
- the cathode surfaces are expediently provided with finely structured tips.
- Such field emission surfaces are used for example for field emission screens (FED or field emission display).
- LCD liquid crystal screens
- Such LCD screens only allow a slow switching speed in the case of rapidly moving images, and the color rendering generally does not meet the high quality required in conventional tube screens.
- FED field emission display technology
- FED screens usually consist of a conventional, but not curved, phosphor screen with a mask.
- a plate-shaped cathode is arranged at a distance of, for example, 0.2 mm and carries a matrix of fine and sharp tips. These peaks can be provided or addressed in groups with high voltage, as a result of which, due to the field effect, they emit electrons, which are then accelerated and thus activate the opposite phosphor spot on the phosphor screen.
- a picture element of an FED screen expediently consists of three dots which are provided with red, green or blue emitting phosphor. Each of these points is assigned around a thousand micro-tips on the cathode side, which together provide such a high yield of field-effect electrons that the FED screen shows a significantly lower power consumption compared to conventional tube screens with the same brightness.
- the FED screen offers the advantage of inertia-free control of every pixel.
- the image quality is independent of the viewing angle.
- a known method for producing cold-emitting cathode surfaces consists in microstructuring the cathode surface by using photolithographic techniques, such as have long been known for the production of semiconductor components.
- a photoresist mask with an array of rectangular or circular openings is produced on the cathode surface by means of photolithography.
- the substrate, which is not protected by the masks is etched, so that pyramidal or conical emitter tips are formed after the remaining photoresist mask has been removed.
- a further possibility for producing field emission surfaces consists in the anisotropic etching of a crystalline material, such as for example Si, whereby fine peaks arise which are coated, for example, with an electron-emitting material.
- semiconductor surfaces, such as Si can also be structured by means of photolithographic methods and subsequently coated, for example, with an electron-emitting material.
- US 459 17 17 describes a photoelectric detector based on a field emission surface, containing a light-sensitive layer with a plurality of tips made of electrically conductive material.
- the manufacture of the tips is done by anodic Oxidation of a substrate surface, whereby pores lying vertically to the substrate surface are created, into which metal is deposited in such a way that metal tips arise which protrude above the oxide layer.
- EP 0 351 110 describes a method for producing cold cathode emitter surfaces, according to which an aluminum oxide surface is provided with a plurality of elongated pores lying essentially orthogonal to the main surface of the aluminum oxide layer, the pores being filled with an electron-emitting material, at least some of them this aluminum oxide layer is removed, a surface with exposed electron-emitting tips being formed and the tips being inclined towards one another.
- the field emission surfaces known from the prior art which are produced by forming a surface layer containing pores, the deposition of electron-emitting material on the surface layer and in the pore cavities, and the final removal of the layer containing the pores, always have a maximum of as many electrons -emitting tips on how pores were present in the surface layer for their production.
- the object of the present invention is to provide a field emission surface which can be produced inexpensively and which has a higher number of electron-emitting tips per unit area than the field emission surfaces known from the prior art.
- each point-shaped element has a cylindrical or truncated-cone-shaped trunk area lying against the carrier layer and at least two, preferably 2 to 4, terminal tips molded onto the free end of the trunk area
- the carrier layer surface of the structured surface can represent a flat or curved surface, for example a plane, the surface of an ellipsoid, in particular a sphere, a single-shell or double-shell hyperboloid, a paraboloid or an elliptical, hyperbolic or parabolic cylinder.
- the part of the carrier layer lying between the point-shaped elements is expediently essentially flat, as a result of which a well-defined surface structure is formed with the point-shaped elements clearly differentiating therefrom.
- the tip-shaped elements of the surface structured according to the invention are evenly distributed over the carrier layer
- the tip-shaped elements of the structured surface preferably have a trunk area lying orthogonally to the carrier layer, at least in a part projecting from the carrier layer.
- Point-shaped elements are particularly preferred, the entire trunk area of which is orthogonal to the surface of the carrier layer.
- the tip-shaped elements and / or the carrier layer consist of Ni, Al, Pd, Pt, W, Fe, Ta, Rh, Cd, Cu, Au, Ag, In, Co, Sn, Si, Ge, Te, Se, or a chemical compound containing at least one of these substances, such as Sn or InSn oxide, or an alloy of the aforementioned metals.
- the tip-shaped elements and the carrier layer preferably consist of the same material.
- the carrier layer between the tip-shaped elements has a mechanical support layer which consists of an electrically insulating material, preferably an oxide and in particular aluminum oxide.
- the layer thickness of the mechanical support layer expediently measures less than the height of the trunk areas of all the tip-shaped elements averaged over the entire structured surface.
- Structured surfaces whose tip-shaped elements have a substantially uniform height are further preferred, the height of a tip-shaped element being the maximum dimension of the tip-shaped element measured orthogonally to the surface of the carrier layer, i.e. the root area and the terminal tips.
- the height of each point-shaped element very preferably varies by no more than ⁇ 5% of the height averaged over all point-shaped elements.
- the surfaces of the surfaces structured according to the invention are particularly suitable for use as field emission surfaces for cold cathode emitter elements, in particular as cold cathode electron emission sources for super-flat screens, for electron lithography or for scanning or transmission microscopy.
- the terminal tips of the tip-shaped elements serve as emitter tips.
- the part of the field emission surface lying between the tip-shaped elements is preferably essentially flat, i.e. the part of the field emission surface lying between the pointed elements does not contribute to the field emission. Due to the high number of emitter tips required for the implementation of field emission surfaces, field emission surfaces with curved carrier layers are also essentially flat in the area lying between the tip-shaped elements.
- the tip-shaped elements of the structured surface are further preferably designed such that when an operating voltage of less than 2000 V, suitably less than 1800 V, preferably less than 900 V and in particular less than 100 V is applied, an electric field strength is produced at the terminal tips of more than 10 9 V / m results.
- the operating voltage here means the voltage applied by an external voltage source to the structured surface, for example its carrier layer.
- the molded article necessary for the production of the structured surface according to the invention with a molded body surface essentially mirror-image of the desired structured surface expediently consists of a substrate body and a molded layer, the latter containing the surface structure essentially mirror-image of the desired structured surface
- the substrate body preferably represents a part of a piece good, for example a profile, bar or another form of pieces, a plate, a strip, sheet or a foil made of aluminum, or an aluminum cover layer of a composite material, in particular as an aluminum cover layer of a composite plate, or relates to an aluminum layer applied to any material - for example electrolytically - such as a plated aluminum layer. More preferably, the substrate body relates to a workpiece made of aluminum, which e.g. is produced by a rolling, extrusion, forging or extrusion process. The substrate body can also be formed by bending, deep drawing, cold extrusion or the like.
- the substrate body expediently consists of pure aluminum with a degree of purity equal to or greater than 98.3% by weight or aluminum alloys with at least one of the elements from the series of Si, Mg, Mn, Cu, Zn or Fe.
- the substrate body made of pure aluminum can, for example, be made of aluminum with a purity of 98.3% by weight and higher, expediently 99.0% by weight and higher, preferably 99.9% by weight and higher and in particular 99.95% by weight and higher, and the rest commercially available There are impurities.
- the substrate body can also consist of an aluminum alloy containing 0.25% by weight to 5% by weight, in particular 0.5 to 2% by weight, magnesium or containing 0.2 to 2% by weight of manganese or containing 0.5 to 5% by weight of magnesium and 0.2 to 2% by weight of manganese, in particular for example 1% by weight of magnesium and 0.5% by weight of manganese or containing 0.1 to 12% by weight, preferably 0.1 to 5% by weight, Copper or containing 0.5 to 5% by weight of zinc and 0.5 to 5% by weight of magnesium or containing 0.5 to 5% by weight of zinc, 0.5 to 5% by weight of magnesium and 0.5 to 5% by weight of copper or containing 0.5 to 5% by weight of iron and 0.2 to 2% by weight of manganese, in particular, for example, 1.5% by weight of iron and 0.4% by weight of manganese.
- an aluminum alloy containing 0.25% by weight to 5% by weight, in particular 0.5 to 2% by weight, magnesium or containing 0.2 to 2% by weight
- the molded layer preferably consists of aluminum oxide.
- a molding layer required for the method according to the invention is preferably produced by anodic oxidation of the substrate body surface in an electrolyte under conditions which form pores. It is essential to the invention that the pores are open towards the free surface. The pore distribution over the surface is advantageously uniform.
- the layer thickness of the molded layer is expediently 50 nm to 20 ⁇ m and preferably 0.5 to 3 ⁇ m.
- the vertical extension of the pores has a trunk area directed against the surface of the molding layer and a branching area directed against the substrate body, ie each pore lying essentially vertically to the surface of the molding layer consists of an elongated pore which is open to the free surface of the molding layer. which is divided into at least two, preferably 2 to 4 depressions or pore branches in the branching area.
- the pores in the trunk area expediently have a diameter of 1 to 250 nm, preferably between 10 and 230 nm and in particular between 80 and 230 nm.
- the number of pores ie the number of pores in the trunk area, is expediently 10 8 pores / cm 2 and higher, preferably 10 8 to 10 12 pores / cm 2 and in particular 10 9 to 10 11 pores / cm 2 .
- the average density of the molded layer is preferably 2.1 to 2.7 g / cm 3 .
- the molded layer more preferably has a dielectric constant between 5 and 7.5.
- the molded layer is produced, for example, by anodic oxidation of the substrate body surface in an electrolyte that redissolves the aluminum oxide.
- the electrolyte temperature is expediently between -5 and 85 ° C, preferably between 15 and 80 ° C and in particular between 30 and 55 ° C.
- the substrate body or at least its surface layer or at least the part of the substrate body surface which is to be provided with a shaped layer can be placed in a corresponding electrolyte and switched as a positive electrode (anode).
- the substrate body surface is usually subjected to a pretreatment before the process according to the invention, for example the substrate body surface first being degreased, then rinsed and finally pickled.
- the pickling is carried out, for example, with a sodium hydroxide solution with a concentration of 50 to 200 g / l at 40 to 60 ° C. for one to ten minutes.
- the surface can then be rinsed and treated with an acid, such as, for example, nitric acid, in particular at a concentration of 25 to 35% by weight at room temperature, ie typically in the temperature range 20-25 ° C., neutralized for 20 to 60 s and rinsed again.
- an oxide layer produced by means of anodic oxidation such as, for example, the pore density and the pore diameter, largely depend on the anodizing conditions, such as, for example, electrolyte composition, electrolyte temperature, current density, anodizing voltage and anodizing time, and on the anodized base material.
- anodizing conditions such as, for example, electrolyte composition, electrolyte temperature, current density, anodizing voltage and anodizing time, and on the anodized base material.
- the thickness of the oxide layer reaches its maximum value if growth and redissolution are balanced, which depends, for example, on the applied anodizing voltage, the electrolyte composition, the current density, the electrolyte temperature, the anodizing time, and on the anodized base material.
- Electrolytes which contain one or more inorganic and / or organic acids are preferably used to carry out the process according to the invention.
- Anodizing voltages from 10 to 100 V and current densities from 100 to 3000 A / m 2 are further preferred.
- the anodizing time is typically 1 to 300 s.
- the anodic oxidation of the substrate body surface preferably takes place in such a way that the anodizing voltage for forming cylindrical or truncated-cone-shaped long pores is set to a first value (U 1 ), preferably between 12 and 80 V, and subsequently to form at least two pore branches on the opposite the aluminum layer-oriented end of each long pore is set to a second value (U 2 ), the second value being lower than the first value and preferably being between 10 and 20 V.
- U 1 first value
- U 2 second value
- the anodizing voltage is applied, for example, by continuously increasing the applied voltage to the respective predetermined, time-constant value.
- the current density also increases as a function of the applied anodizing voltage, reaches a maximum value in time after the respectively predetermined constant voltage is reached and then coincides with a lower value.
- the layer thickness of the barrier layer is voltage-dependent and is, for example, in the range 8 to 16 angstroms / V and in particular between 10 and 14 angstroms / V.
- the pore diameter of the porous outer layer is also voltage-dependent and is, for example, between 8 and 13 angstroms / V and in particular 10 to 12 angstroms / V.
- the electrolyte can contain, for example, a strong organic or inorganic acid or a mixture of strong organic and / or inorganic acids.
- Typical examples of such acids are sulfuric acid (H 2 SO 4 ) or phosphoric acid (H 3 PO 4 ).
- Other acids that can be used are, for example, chromic acid, oxalic acid, sulfamic acid, malonic acid, maleic acid or sulfosalycilic acid. Mixtures of the acids mentioned can also be used.
- sulfuric acid is used in amounts of 40 to 350 g / l and preferably 150 to 200 g / l (sulfuric acid based on 100% acid).
- Phosphoric acid can also be used as an electrolyte in an amount of 60 to 300 g / l and in particular 80 to 150 g / l, the amount of acid being based on 100% pure acid.
- Another preferred electrolyte is sulfuric acid in a mixture with oxalic acid, an amount of 150 to 200 g / l sulfuric acid in particular being mixed with, for example, 5 to 25 g / l oxalic acid.
- Electrolytes containing, for example, 250 to 300 g / l of maleic acid and for example 1 to 10 g / l of sulfuric acid are further preferred.
- Another electrolyte contains, for example, 130 to 170 g / l sulfosalycilic acid mixed with 6 to 10 g / l sulfuric acid.
- the surface of the molding layer can be subjected to further treatments such as e.g. chemical or electrolytic etching, plasma etching, rinsing or impregnation.
- the finished molded layer is coated over the entire surface in such a way that the pore cavities present in the surface layer of the molded body are completely filled with the coating material, and a carrier layer which electrically connects the tip-shaped elements is formed, and the carrier layer is a coherent, mechanically load-bearing layer
- Ni, Al, Pd, Pt, W, Fe, Ta, Rh, Cd, Cu, Au, Ag, In, Co, Sn, Si, Ge, Se, Te, or containing a chemical compound are preferably used for coating the molded body surface at least one of these elements, or an alloy of the metals listed above is used.
- the surface of the molded article can be coated, for example, by chemical or electrolytic methods, or by PVD (Physical Vapor Deposition) or CVD (Chemical Vapor Deposition). Chemical and / or electrolytic deposition of the coating material is preferred, the pore cavities being expediently activated chemically beforehand.
- the tip-like elements in particular their terminal tips, are exposed by completely or partially removing the molded layer.
- the full exposure of the lacy elements, i.e. the structured surface layer can be separated from the shaped body, for example by completely etching away the shaped body. In a preferred embodiment, however, only the molded layer is chemically etched away, so that the structured surface layer is completely separated from the molded body and is therefore in the form of a structured surface.
- only a part of the molded layer is etched away, so that the molded layer remains on the carrier layer between the trunk areas of the pointed elements and forms a mechanical support layer. This is done, for example, by chemically etching away the substrate body, the barrier layer and part of the porous layer.
- the porous part of the molded layer must be removed in such a way that the terminal tips of the tip-shaped elements are completely exposed.
- the exposed tip-shaped elements are subjected to a further etching process, for example by plasma etching or by wet-chemical or electrolytic etching.
- a further etching process for example by plasma etching or by wet-chemical or electrolytic etching.
- the shape of the terminal tips can be optimized with regard to their use as electron emission tips.
- Post-treatment of the surface structured according to the invention by deposition of an additional, thin metal layer, which improves the electron-emitting properties of the tip-shaped elements, is further preferred.
- This additional, thin metal layer preferably consists of a noble metal, in particular of Au, Pt, Rh or Pd, or an alloy containing at least one of these noble metals.
- This additional metal layer can be deposited, for example, by chemical or electrolytic methods, by PVD (Physical Vapor Deposition), such as sputtering or electron beam evaporation, or by CVD (Chemical Vapor Deposition).
- An aluminum sheet made of 99.9% by weight A1 with a glossy surface serves as the substrate body.
- the aluminum sheet is cleaned in a mild alkaline degreasing solution, rinsed in water, decapitated in nitric acid, rinsed in water, briefly immersed in acetone and dried.
- a suitable masking varnish is then applied to the back of the sheet and the substrate body pretreated in this way in a phosphoric acid electrolyte with a concentration of 150 g / l H 3 PO 4 at an electrolyte temperature of 35 ° C. with direct current with a current density of 100 A / m 2 anodized for 3 minutes, continuously increasing the anodizing voltage from 0 to 50 V.
- the anodizing voltage is reduced in 5 to 6 steps to approx. 15 V, the voltage lowering steps being initially small and gradually increasing. After the anodizing voltage of approx. 15 V has been reached, this is maintained for approx. 40 seconds.
- the resulting layer thickness of the aluminum oxide layer is typically 1 ⁇ m.
- the molded layer now has pores which have a trunk region which projects upwards against the free surface of the aluminum oxide layer and a branch region which is directed towards the substrate body.
- the molding in particular the free surface of the molding layer, is then rinsed with water and in an activation bath containing nickel salt (100 g / l NiSO 4 .7 H 2 O and 40 g / l boric acid, pH 4.0 to 5.0) with an applied AC voltage of 16 V treated for 5 seconds and then rinsed again with water.
- nickel salt 100 g / l NiSO 4 .7 H 2 O and 40 g / l boric acid, pH 4.0 to 5.0
- the pores of the shaped layer prepared in this way have nickel particles embedded on the pore base, which preferably serve as nuclei for a further selective nickel deposition.
- the selective deposition of nickel ie the further deposition of nickel on the nickel particles already in the pores, is initially carried out chemically in a nickel bath at a temperature of 85 ° C and a pH of 5.0, which contains a sodium hypophosphite solution as a reducing agent .
- the selective nickel deposition takes 1 hour, whereby a layer of nickel-phosphorus with 10 to 12 wt .-% phosphorus and a layer thickness of about 10 microns is generated.
- the nickel-coated mold layer is then rinsed again with water and then the nickel layer is in a commercially available, galvanic nickel bath ("Watt" bath, which for example 300 g / l nickel sulfate, 60 g / l nickel chloride, 40 g / l boric acid and organic Contains additives such as wetting agents) with a current density of 400 A / m 2 measured at the cathode for 20 minutes.
- the electrolyte temperature is 50 to 60 ° C, the electroplated nickel layer reaching a thickness of about 16 microns.
- the covering lacquer is removed, for example, chemically or by plasma etching.
- the molded body is now chemically dissolved in sodium hydroxide solution (50 g / l NaOH). At a NaOH bath temperature of 20 ° C, this process takes several hours, for example 1 to 5 hours.
- the desired structured nickel foil with tip-shaped elements remains, the tip-shaped elements having a trunk area lying against the Ni carrier layer and, as a vertical continuation, a branching area containing at least two terminal tips.
- the structured nickel foil is rinsed again with water, picked up in 5% citric acid at 20 ° C. for 30 minutes, rinsed again with water, placed in ethanol and finally dried.
- the tip-shaped elements represent an exact replica of the pore cavity present in the aluminum oxide layer, since the aluminum oxide layer serves as a mask for its exposure to Ni.
- the structured nickel foil has many closely spaced tips with a length of approx. 1 ⁇ m, the largest diameter of which is typically less than 0.2 ⁇ m.
- An aluminum sheet serving as a substrate body, as described in the first exemplary embodiment, is cleaned and anodized in accordance with the method described in the first exemplary embodiment.
- the shaped body surface formed in this way is activated according to the first exemplary embodiment.
- the selective nickel deposition now takes place in a chemical nickel bath at a temperature of 70 ° C. and a pH of 6.0, the nickel bath containing dimethylamine borane as a reducing agent.
- the selective nickel deposition lasts 1 hour, whereby a nickel-boron deposition of a layer thickness of approx. 5 ⁇ m and a boron content of less than 1% is formed.
- the nickel layer initially only grows on the pore base due to the special activation method.
- the covering lacquer is removed in accordance with the first exemplary embodiment, the molded body is dissolved and a structured nickel foil is thus exposed.
- the tip-shaped elements of the structured nickel foil are then subjected to an electrolytic aftertreatment, the radius of curvature of the terminal tips being reduced, so that a field emission surface with better electron-emitting properties is produced.
- the electrolyte used for this contains 638 ml / l 96% sulfuric acid and 9 g / l glycerin.
- the electrolytic aftertreatment is carried out for 5 to 10 seconds at an electrolyte temperature of 20 ° C., with a cathode made of pure lead, a current density of 500 to 1000 A / m 2 and an electrolysis voltage of 6 V.
- the structured nickel foil is again rinsed with water and dried.
- a structured nickel foil produced according to the first or second exemplary embodiment is subsequently gold-plated in a commercially available, electroless gold bath for 60 seconds, the gold bath having a gold concentration of 2 g / l, a bath temperature of 85 ° C. and a pH of 4.2 to 4.8 .
- a gold layer of approx. 0.05 ⁇ m is formed by charge exchange.
- the gold-plated nickel foil is then rinsed with water, treated with ethanol and dried.
- Refining the structured nickel foil in this way significantly improves its properties as a field emission surface.
- FIG. 1 schematically shows a cross section through a not yet finished molded body 22, the pores of which lie vertically to the molded body surface 23 and are open at the top only an elongated cavity 32 without pore branches, ie the trunk area 32 of the Pores.
- the molded body shown in FIG. 1 consists on the one hand of the substrate body 24 and on the other hand of the molded layer 26, which in turn is formed from a barrier layer 28 and a porous layer 30.
- a body formed according to FIG. 1 is formed, for example, after anodic oxidation with a constant or continuously or gradually increasing anodizing voltage of a substrate body 24 made of aluminum in an electrolyte that redissolves the aluminum oxide.
- FIG. 2 schematically shows a cross section of a molded body 22 that can be used for the method according to the invention.
- the molded body 22 is formed from the substrate body 24 and the molded layer 26.
- the cavity 36 of the pores contains a pore trunk area 32 and a pore branching area 33, each pore cavity 36 in the branching area 33 having two pore branches 34.
- a shaped body 22 designed according to FIG. 2 is formed, for example, if - starting from a not yet finished shaped body 22 according to FIG. 1 - the anodic oxidation is continued with a lower anodizing voltage.
- the anodizing voltage can be reduced step by step or continuously. Since the pore diameter which forms during the anodic oxidation and the layer thickness of the barrier layer 28 which is formed depend on the size of the anodizing voltage, the thickness of the barrier layer 28 decreases during such a second process stage, the layer thickness of the porous oxide layer 30 increasing further.
- a plurality of pore branches 34 with a smaller diameter than the trunk area 32 subsequently form at the pore trunk area 32.
- FIG. 3 schematically shows the cross section of a shaped body 22 coated with electron-emitting material.
- the shaped body 22 consists of a substrate body 24 and a shaped layer 26.
- the shaped layer 26 contains pores, the cavity 36 of which has a trunk area 32 and a branching area 33 with at least two pore branches 34.
- the cavity 36 is completely filled with electron-emitting material, and the tip-shaped elements 14 thereby created, made of electron-emitting material, are connected to one another in an electrically conductive manner by a carrier layer 12.
- a shaped body 22 formed according to FIG. 3 and coated with electron-emitting material is produced, for example, when - starting from a shaped body 22 according to FIG. 2 - the shaped body surface 23 is chemically activated, at least in the pores, the pore cavities 36 with chemical and / or electrochemical processes are subjected to electron-emitting material, and an electron-emitting layer 12 made of, for example, metal or semimetal is deposited on the tip-shaped elements 14 formed thereby, and on the molded body surface 23 lying between the pore cavities 36.
- FIG. 4 schematically shows the cross section of a surface structured according to the invention.
- This consists of a carrier layer 12 with tip-shaped elements 14 connected to it in an electrically conductive manner, for example made of metal or semimetal, ie of electron-emitting material.
- the tip-shaped elements have a trunk area 16 and a branching area 18, the tip-shaped elements 14 in the branching area 18 having two terminal tips 20, the longitudinal axes a 1 , a 2 of which form an acute angle ⁇ .
- the trunk areas 16 of the tip-shaped elements 14 are mechanically supported by a support layer 15 lying between them, a portion of the trunk areas 16 and the terminal tips 20 being exposed.
- a structured surface according to FIG. 4 is formed, for example, when - starting from a shaped body 22 coated with electron-emitting material according to FIG. 3 - the substrate body 24 and part of the shaped layer 26 are chemically etched away.
Landscapes
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Abstract
Description
- Vorliegende Erfindung betrifft eine strukturierte Oberfläche, enthaltend eine Trägerschicht und mit dieser elektrisch leitend verbundene spitzenförmige Elemente. Die Erfindung betrifft weiter die Verwendung dieser strukturierten Oberfläche, sowie ein Verfahren zu dessen Herstellung.
- Jedes Bauelement der Vakuumelektronik, wie beispielsweise eine Bildschirmröhre, benötigt eine Kathode zur Emission von Elektronen ins Vakuum. Bislang werden zu diesem Zweck überwiegend thermische Kathoden eingesetzt, welche auf Temperaturen von beispielsweise 1000 °C und höher aufgeheizt werden, so dass die Elektronen an der Kathodenoberfläche so viel thermische Energie erhalten, dass sie die Potentialbarriere an der Kathodenoberfläche überwinden können. Die Oberflächen von thermischen Kathoden werden dahingehend gewählt, dass zur Erreichung einer hohen Elektronenemission die Austrittsarbeit der Elektronen durch Wahl entsprechender Oberflächenschichten möglichst tief wird.
- Eine weitere Möglichkeit zur Herstellung von elektronenemittierenden Kathodenoberflächen besteht im Anlegen hoher elektrischer Feldstärken an eine kalte, d.h. nicht speziell aufgeheizte, Kathode. Solche kalt-elektronenemittierende Kathodenoberflächen werden als Feldemissionsoberflächen bezeichnet. Zur Erreichung nennenswerter Feldemissionsströme sind sehr hohe elektrische Feldstärken an der Kathodenoberfläche notwendig. Um die an die Kathode angelegte Betriebsspannung auf einem möglichst tiefen Niveau zu halten und trotzdem lokal hohe elektrische Feldstärken zu erreichen, werden die Kathodenoberflächen zweckmässigerweise mit feinstrukturierten Spitzen versehen. Solche Feldemissionsoberflächen werden beispielsweise für Feldemissionsbildschirme (FED oder field emission display) verwendet.
- Die heute beispielsweise in Laptop-Computern oder tragbaren Fernsehgeräten eingesetzten Flachbildschirme arbeiten üblicherweise als Flüssigkristallbildschirme (LCD oder liquid cristal display). Solche LCD-Bildschirme lassen jedoch bei rasch bewegten Bildern nur eine geringe Schaltgeschwindigkeit zu und die Farbwiedergabe erfüllt im allgemeinen nicht die bei konventionellen Röhrenbildschirmen geforderte hohe Qualität.
- Die Technik der Feldemissionsbildschirme (FED oder field emission display) überwindet die bei LCD-Bildschirmen auftretenden Nachteile.
- FED-Bildschirme bestehen üblicherweise aus einem konventionellen, aber nicht gewölbten Phosphorbildschirm mit Maske. In einem Abstand von beispielsweise 0.2 mm ist eine plattenförmige Kathode angeordnet, die eine Matrize von feinen und scharfen Spitzen trägt. Diese Spitzen können gruppenweise mit Hochspannung versehen bzw. adressiert werden, wodurch sie auf Grund des Feldeffekts Elektronen emittieren, welche dann beschleunigt werden und so den gegenüberliegenden Leuchtstoffpunkt auf dem Phosphorbildschirm aktivieren.
- Ein Bildelement eines FED-Bildschirmes besteht zweckmässigerweise aus drei Punkten, die mit rot, grün oder blau emittierendem Leuchtstoff versehen sind. Jedem dieser Punkte sind auf der Kathodenseite etwa tausend Mikrospitzen zugeordnet, die zusammen eine derart hohe Ausbeute von Feldeffekt-Elektronen liefern, dass der FED-Bildschirm im Vergleich zu herkömmlichen Röhren-Bildschirmen bei gleicher Helligkeit einen wesentlich kleineren Stromverbrauch zeigt.
- Gegenüber den LCD-Bildschirmen bietet der FED-Bildschirm den Vorteil einer trägheitslosen Ansteuerung jedes Bildpunktes. Zudem ist die Bildqualität vom Betrachtungswinkel unabhängig.
- Ein bekanntes Verfahren zur Herstellung kalt-emittierender Kathodenoberflächen besteht in der Mikrostrukturierung der Kathodenoberfläche durch Anwendung photolithographischer Techniken, wie sie beispielsweise zur Herstellung von Halbleiterbauelementen seit langem bekannt sind. Dabei wird in einem ersten Verfahrensschritt mittels Photolithographie eine Photolackmaske mit einem Feld von rechteckigen oder kreisförmigen Öffnungen auf der Kathodenoberfläche erzeugt. In einem zweiten Schritt wird das nicht durch die Masken geschützte Substrat geätzt, so dass nach dem Ablösen der stehengebliebenen Photolackmaske pyramiden- oder kegelförmige Emitterspitzen entstehen.
- Eine weitere Möglichkeit zur Herstellung von Feldemissionsoberflächen besteht im anisotropen Aetzen eines kristallinen Materials, wie beispielsweise Si, wobei feine Spitzen entstehen, die beispielsweise mit einem Elektronen-emittierenden Material beschichtet werden. Im weiteren können auch Halbleiteroberflächen, wie Si, mittels photolithographischer Methoden strukturiert und beispielsweise nachfolgend mit einem Elektronen-emittierenden Material beschichtet werden.
- Die US 459 17 17 beschreibt einen photoelektrischen Detektor auf der Basis einer Feldemissionsoberfläche, enthaltend eine lichtempfindliche Schicht mit einer Vielzahl von Spitzen aus elektrisch leitendem Material. Die Herstellung der Spitzen geschieht dabei durch anodische Oxidation einer Substratoberfläche, wobei zur Substratoberfläche vertikal liegende Poren geschaffen werden, in die Metall in der Weise abgeschieden wird, dass Metallspitzen entstehen, welche die Oxidschicht überragen.
- Die EP 0 351 110 beschreibt ein Verfahren zur Herstellung von Kaltkathoden-Emitteroberflächen, wonach eine Aluminiumoxidoberfläche mit einer Vielzahl von länglichen, im wesentlichen orthogonal zur Hauptoberfläche der Aluminiumoxidschicht liegenden Poren versehen wird, die Poren mit einem Elektronen-emittierenden Material gefüllt werden, wenigstens ein Teil dieser Aluminiumoxidschicht entfernt wird, wobei eine Oberfläche mit freigelegten Elektronen-emittierenden Spitzen ensteht und die Spitzen gegeneinander geneigt sind.
- Die aus dem Stand der Technik bekannten Feldemissionsoberflächen, die durch Bildung einer Poren enthaltenden Oberflächenschicht, der Deposition von Elektronen-emittierendem Material auf die Oberflächenschicht und in die Porenkavitäten, und dem abschliessenden Entfernen der die Poren enthaltenden Schicht hergestellt werden, weisen immer maximal so viele Elektronen-emittierende Spitzen auf wie zu deren Herstellung Poren in der Oberflächenschicht vorhanden waren.
- Aufgabe vorliegender Erfindung ist es eine kostengünstig herzustellende Feldemissionsoberfläche zu schaffen, die gegenüber den aus dem Stand der Technik bekannten Feldemissionsoberflächen eine höhere Zahl von Elektronen-emittierenden Spitzen pro Flächeneinheit aufweist.
- Erfindungsgemäss wird diese Aufgabe dadurch gelöst, dass jedes spitzenförmige Element einen an die Trägerschicht anliegenden, zylinder- oder kegelstumpfförmigen Stammbereich und wenigstens zwei, vorzugsweise 2 bis 4, an das freie Ende des Stammbereiches angeformte, endständige Spitzen aufweist
- Die Trägerschicht-Oberfläche der strukturierten Oberfläche kann eine ebene oder gekrümmte Fläche, beispielsweise eine Ebene, die Oberfläche eines Ellipsoids, speziell einer Kugel, eines ein- oder zweischaligen Hyperboloids, eines Paraboloids oder eines elliptischen, hyperbolischen oder parabolischen Zylinders darstellen.
- Zweckmässigerweise ist der zwischen den spitzenförmigen Elementen liegende Teil der Trägerschicht im wesentlichen eben, wodurch eine gut definierte Oberflächenstruktur mit sich deutlich davon abhebenden spitzenförmigen Elementen gebildet wird.
- In einer bevorzugten Ausführungsform sind die spitzenförmigen Elemente der erfindungsgemäss strukturierten Oberfläche gleichmässig über die Trägerschicht verteilt
- Die spitzenförmigen Elemente der strukturierten Oberfläche weisen bevorzugt wenigstens in einem von der Trägerschicht abragenden Teil einen orthogonal zur Trägerschicht liegenden Stammbereich auf. Besonders bevorzugt werden spitzenförmige Elemente, deren ganzer Stammbereich orthogonal zur Trägerschicht-Oberfläche liegt. Ganz besonders bevorzugt sind spitzenförmige Elemente mit orthogonal zur Trägerschicht-Oberfläche liegendem Stammbereich, deren endständige Spitzen dergestalt sind, dass ihre Längsachsen mit der durch ihre freien Enden führenden Flächennormalen der Trägerschicht einen spitzen Winkel, bevorzugt einen Winkel von 5 bis 40° (bezogen auf einen Vollkreis von 360°), einschliessen.
- In einer bevorzugten Ausführungsform bestehen die spitzenförmigen Elemente und/oder die Trägerschicht aus Ni, Al, Pd, Pt, W, Fe, Ta, Rh, Cd, Cu, Au, Ag, In, Co, Sn, Si, Ge, Te, Se, oder einer chemischen Verbindung enthaltend wenigstens einen dieser Stoffe, wie beispielsweise Sn- oder InSn-Oxid, oder einer Legierung der vorgenannten Metalle. Bevorzugt bestehen die spitzenförmigen Elemente und die Trägerschicht aus demselben Material.
- Weiter bevorzugt sind erfindungsgemäss strukturierte Oberflächen, deren Oberfläche wenigstens teilweise mit einem der vorstehend genannten Materialien beschichtet ist.
- In einer weiteren bevorzugten Ausführungsform weist die Trägerschicht zwischen den spitzenförmigen Elementen eine mechanische Stützschicht auf, welche aus einem elektrisch isolierenden Material, bevorzugt aus einem Oxid und insbesondere aus Aluminiumoxid besteht. Zweckmässigerweise misst die Schichtdicke der mechanischen Stützschicht weniger als die über die ganze strukturierte Oberfläche gemittelte Höhe der Stammbereiche aller spitzenförmigen Elemente.
- Weiter bevorzugt werden strukturierte Oberflächen, deren spitzenförmige Elemente eine im wesentlichen gleichmässige Höhe aufweisen, wobei unter der Höhe eines spitzenförmigen Elementes die maximale, orthogonal zur Oberfläche der Trägerschicht gemessene Abmessung des spitzenförmigen Elementes, d.h. des Stammbereiches und der endständigen Spitzen, verstanden wird. Ganz bevorzugt variiert die Höhe jedes spitzenförmigen Elementes um nicht mehr als ± 5% der über alle spitzenförmigen Elemente gemittelten Höhe.
- Weitere vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung finden sich in den Unteransprüchen.
- Die Oberflächen der erfindungsgemäss strukturierten Oberflächen eignen sich besonders zur Verwendung als Feldemissionsoberflächen für Kaltkathoden-Emitterelemente, insbesondere als Kaltkathoden-Elektronenemissionsquellen für superflache Bildschirme, für die Elektronenlithographie oder für die Raster- oder Transmissionsmikroskopie. Die endständigen Spitzen der spitzenförmigen Elemente dienen dabei als Emitterspitzen. Um eine gut definierte Emitterstruktur zu erreichen, ist der zwischen den spitzenförmigen Elementen liegende Teil der Feldemissionsoberfläche bevorzugt im wesentlichen eben, d.h. der zwischen den spitzenförmigen Elementen liegende Teil der Feldemissionsoberfläche trägt nicht zur Feldemission bei. Durch die für die Realisierung von Feldemissionsoberflächen benötigte hohe Zahl von Emitterspitzen sind auch Feldemissionsoberflächen mit gekrümmten Trägerschichten im zwischen den spitzenförmigen Elementen liegenden Bereich im wesentlichen eben.
- Weiter bevorzugt sind die spitzenförmigen Elemente der strukturierten Oberfläche derart ausgebildet, dass bei Anlegen einer Betriebsspannung von weniger als 2000 V, zweckmässigerweise von weniger als 1800 V, bevorzugt von weniger als 900 V und insbesondere von weniger als 100 V an den endständigen Spitzen eine elektrische Feldstärke von mehr als 109 V/m resultiert. Die Betriebsspannung bedeutet dabei die von einer externen Spannungsquelle an die strukturierte Oberfläche, beispielsweise dessen Trägerschicht, angelegte Spannung.
- Die auf das Verfahren gerichtete Aufgabe wird erfindungsgemäss dadurch gelöst, dass
- a) in einem ersten Schritt ein Formkörper (22) mit einer zur gewünschten strukturierten Oberfläche spiegelbildlichen Formkörperoberfläche (23) dadurch geschaffen wird, dass ein Substratkörper (24) aus Aluminium anodisch in einem Aluminiumoxid rücklösenden Elektrolyten oxidiert wird, wobei die Anodisierspannung in einem ersten Anodisierschritt kontinuierlich oder schrittweise von 0 auf einen ersten Wert U1 erhöht wird, und in einem zweiten Anodisierschritt die Anodisierspannung kontinuierlich oder schrittweise auf einen zweiten, gegenüber U1 kleineren Wert U2 reduziert wird.
- b) in einem zweiten Schritt die Formkörperoberfläche (23) ganzflächig derart beschichtet wird, dass die in der Oberflächenschicht (23) des Formkörpers (22) vorhandenen Poren-Kavitäten (36) vollständig mit dem Beschichtungsmaterial ausgefüllt werden, und eine die spitzenförmigen Elemente (14) elektrisch verbindende Trägerschicht (12) gebildet wird, und die Trägerschicht (12) eine zusammenhängende, mechanisch tragende Schicht darstellt;
- c) und in einem dritten Schritt wenigstens ein Teil des Formkörpers (22) derart entfernt wird, dass die endständigen Spitzen (20) frei liegen.
- Der für die erfindungsgemässe Herstellung der strukturierten Oberfläche notwendige Formkörper mit einer zur gewünschten strukturierten Oberfläche im wesentlichen spiegelbildlichen Formkörperoberfläche besteht zweckmässigerweise aus einem Substratkörper und einer Formschicht, wobei letztere die zur gewünschten strukturierten Oberfläche im wesentlichen spiegelbildliche Oberflächenstruktur enthält
- Der Substratkörper stellt bevorzugt einen Teil eines Stückgutes, beispielsweise eines Profiles, Balkens oder eine andere Form von Stücken, einer Platte, eines Bandes, Bleches oder einer Folie aus Aluminium dar, oder eine Aluminium-Deckschicht eines Verbundwerkstoffes, insbesondere als Aluminiumdeckschicht einer Verbundplatte, oder betrifft eine auf einen beliebigen Werkstoff -- beispielsweise elektrolytisch -- aufgebrachte Aluminiumschicht, wie beispielsweise eine plattierte Aluminiumschicht. Weiter bevorzugt betrifft der Substratkörper ein Werkstück aus Aluminium, welches z.B. durch ein Walz-, Extrusions-, Schmiede- oder Fliesspressverfahren hergestellt wird. Der Substratkörper kann auch durch Biegen, Tiefziehen, Kaltfliesspressen oder dergleichen umgeformt sein.
- Mit dem Werkstoff Aluminium sind in vorliegendem Text Aluminium aller Reinheitsgrade, sowie alle handelsüblichen Aluminiumlegierungen umfasst. Beispielsweise umfasst der Begriff Aluminium alle Walz-, Knet-, Guss-, Schmiede- und Presslegierungen aus Aluminium. Zweckmässigerweise besteht der Substratkörper aus Reinaluminium mit einem Reinheitsgrad von gleich oder grösser 98.3 Gew.-% oder Aluminiumlegierungen mit wenigstens einem der Elemente aus der Reihe von Si, Mg, Mn, Cu, Zn oder Fe. Der Substratkörper aus Reinaluminium kann beispielsweise aus Aluminium einer Reinheit von 98.3 Gew.-% und höher, zweckmässig 99.0 Gew.-% und höher, bevorzugt 99.9 Gew.-% und höher und insbesondere 99.95 Gew.-% und höher, und dem Rest handelsübliche Verunreinigungen bestehen.
- Neben Aluminium genannter Reinheiten kann der Substratkörper auch aus einer Aluminiumlegierung bestehen, enthaltend 0.25 Gew.-% bis 5 Gew.-%, insbesondere 0.5 bis 2 Gew.-%, Magnesium oder enthaltend 0.2 bis 2 Gew.-% Mangan oder enthaltend 0.5 bis 5 Gew.-% Magnesium und 0.2 bis 2 Gew.-% Mangan, insbesondere z.B. 1 Gew.-% Magnesium und 0.5 Gew.-% Mangan oder enthaltend 0.1 bis 12 Gew.-%, vorzugsweise 0.1 bis 5 Gew.-%, Kupfer oder enthaltend 0.5 bis 5 Gew.-% Zink und 0.5 bis 5 Gew.-% Magnesium oder enthaltend 0.5 bis 5 Gew.-% Zink, 0.5 bis 5 Gew.-% Magnesium und 0.5 bis 5 Gew.-% Kupfer oder enthaltend 0.5 bis 5 Gew.-% Eisen und 0.2 bis 2 Gew.-% Mangan, insbesondere z.B. 1.5 Gew.-% Eisen und 0.4 Gew.-% Mangan.
- Die Formschicht besteht bevorzugt aus Aluminiumoxid. Die Herstellung einer für das erfindungsgemässe Verfahren erforderlichen Formschicht erfolgt bevorzugt durch anodische Oxidation der Substratkörperoberfläche in einem Elektrolyten unter Poren bildenden Bedingungen. Erfindungswesentlich ist dabei, dass die Poren gegen die freie Oberfläche hin offen sind. Vorteilhaft ist die Porenverteilung über die Oberfläche gleichmässig. Die Schichtdicke der Formschicht beträgt zweckmässigerweise 50 nm bis 20 µm und bevorzugt 0.5 bis 3 µm.
- Die Poren weisen in ihrer vertikalen Ausdehnung einen gegen die Oberfläche der Formschicht gerichteten Stamm bereich und einen gegen den Substratkörper gerichteten Verzweigungsbereich auf, d.h. jede im wesentlichen vertikal zur Oberfläche der Formschicht liegende Pore besteht aus einer länglichen, gegen die freie Oberfläche der Formschicht offenen Pore, die sich im Verzweigungsbereich in wenigstens zwei, vorzugsweise 2 bis 4 Vertiefungen oder Porenverzweigungen aufteilt. Zweckmässigerweise weisen die Poren im Stammbereich einen Durchmesser von 1 bis 250 nm, bevorzugt zwischen 10 und 230 nm und insbesondere zwischen 80 und 230 nm auf. Die Porenzahl, d.h. die Zahl der Poren im Stammbereich, beträgt zweckmässigerweise 108 Poren/cm2 und höher, bevorzugt 108 bis 1012 Poren/cm2 und insbesondere 109 bis 1011 Poren/cm2. Die mittlere Dichte der Formschicht beträgt bevorzugt 2.1 bis 2.7 g/cm3. Weiter bevorzugt weist die Formschicht eine Dielektrizitätskonstante zwischen 5 und 7.5 auf.
- Die Herstellung der Formschicht geschieht beispielsweise durch anodische Oxidation der Substratkörperoberfläche in einem das Aluminiumoxid rücklösenden Elektrolyten. Die Elektrolyttemperatur beträgt zweckmässigerweise zwischen - 5 und 85 °C, bevorzugt zwischen 15 und 80 °C und insbesondere zwischen 30 und 55 °C. Zur Durchführung der anodischen Oxidation kann der Substratkörper oder wenigstens dessen Oberflächenschicht oder zumindest der Teil der Substratkörperoberfläche, der mit einer Formschicht versehen werden soll, in einen entsprechenden Elektrolyten gegeben und als positive Elektrode (Anode) geschaltet werden. Als negative Elektrode (Kathode) dient eine weitere in denselben Elektrolyten gegebene Elektrode aus beispielsweise rostfreiem Stahl, Blei, Aluminium oder Graphit.
- Üblicherweise wird die Substratkörperoberfläche vor dem erfindungsgemässen Verfahren einer Vorbehandlung unterzogen, wobei beispielsweise die Substratkörperoberfläche zuerst entfettet, dann gespült und schliesslich gebeizt wird. Das Beizen wird beispielsweise mit einer Natriumhydroxidlösung mit einer Konzentration von 50 bis 200 g/l bei 40 bis 60 °C während einer bis zehn Minuten durchgeführt. Anschliessend kann die Oberfläche gespült und mit einer Säure, wie beispielsweise Salpetersäure, insbesondere einer Konzentration von 25 bis 35 Gew.-% bei Raumtemperatur, d.h. typischerweise im Temperaturbereich 20 - 25 °C, während 20 bis 60 s neutralisiert und erneut gespült werden.
- Die Eigenschaften einer mittels anodischer Oxidation hergestellten Oxidschicht, wie beispielsweise die Porendichte und der Porendurchmesser, hängen weitgehend von den Anodisierbedingungen wie beispielsweise Elektrolytzusammensetzung, Elektrolyttemperatur, Stromdichte, Anodisierspannung und Anodisierdauer, sowie vom anodisierten Grundwerkstoff ab. Während der anodischen Oxidation in sauren Elektrolyten bildet sich an der Substratkörperoberfläche eine im wesentlichen porenfreie Grund- oder Sperrschicht und eine poröse Aussenschicht, die während der anodischen Oxidation an ihrer freien Oberfläche durch Rücklösung zum Teil chemisch wieder aufgelöst wird. Dadurch entstehen in der Aussenschicht Poren, die im wesentlichen vertikal zur Substratkörperoberfläche liegen und gegen die freie Oberfläche der Oxidschicht hin offen sind. Die Dicke der Oxidschicht erreicht ihren Maximalwert, wenn sich Wachstum und Rücklösung die Waage halten, was beispielsweise von der angelegten Anodisierspannung, der Elektrolytzusammensetzung, der Stromdichte, der Elektrolyttemperatur, Anodisierdauer, sowie vom anodisierten Grundwerkstoff abhängt.
- Für die Durchführung des erfindungsgemässen Verfahrens werden bevorzugt Elektrolyte verwendet, welche eine oder mehrere anorganische und/oder organische Säuren enthalten. Weiter bevorzugt werden Anodisierspannungen von 10 bis 100 V und Stromdichten von 100 bis 3000 A/m2. Die Anodisierdauer beträgt typischerweise 1 bis 300 s.
- Bevorzugt geschieht die anodische Oxidation der Substratkörperoberfläche in der Weise, dass die Anodisierspannung zur Bildung von zylinder- oder kegelstumpfförmigen, langen Poren auf einen ersten Wert (U1), bevorzugt zwischen 12 und 80 V, eingestellt und nachfolgend zur Bildung wenigstens zweier Porenverzweigungen am gegen die Aluminiumschicht gerichteten Ende jeder langen Pore auf einen zweiten Wert (U2) eingestellt wird, wobei der zweite Wert gegenüber dem ersten Wert tiefer liegt und bevorzugt zwischen 10 und 20 V beträgt.
- Das Anlegen der Anodisierspannung geschieht beispielsweise durch kontinuierliche Erhöhung der angelegten Spannung bis zum jeweiligen vorbestimmten, zeitlich konstanten Wert. Die Stromdichte erhöht sich dabei ebenfalls in Funktion der angelegten Anodisierspannung, erreicht zeitlich nach dem Erreichen der jeweils vorbestimmten konstanten Spannung einen Maximalwert und fällt dann auf einen geringeren Wert zusammen.
- Die Schichtdicke der Sperrschicht ist spannungsabhängig und liegt beispielsweise im Bereich 8 bis 16 Angström/V und insbesondere zwischen 10 und 14 Angström/V. Der Porendurchmesser der porösen Aussenschicht ist ebenfalls spannungsabhängig und beträgt beispielsweise zwischen 8 und 13 Angström/V und insbesondere 10 bis 12 Angström/V.
- Der Elektrolyt kann beispielsweise eine starke organische oder anorganische Säure oder ein Gemisch starker organischer und/oder anorganischer Säuren enthalten. Typische Beispiele solcher Säuren sind Schwefelsäure (H2SO4), oder Phosphorsäure (H3PO4). Weitere Säuren, die angewendet werden können sind beispielsweise Chromsäure, Oxalsäure, Sulfaminsäure, Malonsäure, Maleinsäure oder Sulfosalycilsäure. Auch Gemische genannter Säuren können verwendet werden. Für das erfindungsgemässe Verfahren werden beispielsweise Schwefelsäure in Mengen von 40 bis 350 g/l und bevorzugt 150 bis 200 g/l eingesetzt (Schwefelsäure bezogen auf 100% Säure). Es kann als Elektrolyt auch Phosphorsäure in einer Menge von 60 bis 300 g/l und insbesondere 80 bis 150 g/l angewendet werden, wobei die Säuremenge auf 100 % reine Säure bezogen ist. Ein anderer bevorzugter Elektrolyt ist Schwefelsäure in Mischung mit Oxalsäure, wobei insbesondere eine Menge von 150 bis 200 g/l Schwefelsäure mit beispielsweise 5 bis 25 g/l Oxalsäure gemischt wird. Weiter bevorzugt werden Elektrolyte enthaltend beispielsweise 250 bis 300 g/l Maleinsäure und beispielsweise 1 bis 10 g/l Schwefelsäure. Ein weiterer Elektrolyt enthält beispielsweise 130 bis 170 g/l Sulfosalycilsäure in Mischung mit 6 bis 10 g/l Schwefelsäure.
- Nach dem Anodisierverfahren kann die Oberfläche der Formschicht weiteren Behandlungen, wie z.B. chemisch oder elektrolytisch Ätzen, Plasmaätzen, Spülen oder Imprägnieren, zugeführt werden.
- Die fertiggestellte Formschicht wird ganzflächig derart beschichtet, dass die in der Oberflächenschicht des Formkörpers vorhandenen Poren-Kavitäten vollständig mit dem Beschichtungsmaterial ausgefüllt werden, und eine die spitzenförmigen Elemente elektrisch verbindende Trägerschicht gebildet wird, und die Trägerschicht eine zusammenhängende, mechanisch tragende Schicht darstellt
- Für die Beschichtung der Formkörperoberfläche werden bevorzugt Ni, Al, Pd, Pt, W, Fe, Ta, Rh, Cd, Cu, Au, Ag, In, Co, Sn, Si, Ge, Se, Te, oder eine chemische Verbindung enthaltend wenigstens eines dieser Elemente, oder eine Legierung vorstehend aufgeführter Metalle verwendet.
- Die Beschichtung der Formkörperoberfläche kann beispielsweise durch chemische oder elektrolytische Methoden, oder durch PVD (Physical Vapour Deposition) oder CVD (Chemical Vapour Deposition) geschehen. Bevorzugt wird eine chemische und/oder elektrolytische Abscheidung des Beschichtungsmaterials, wobei zweckmässigerweise die Porenkavitäten zuvor chemisch aktiviert werden.
- Als letzten erfindungswesentlichen Verfahrensschritt werden die spitzenförmigen Elemente, insbesondere deren endständige Spitzen, durch vollständiges oder teilweises Entfernen der Formschicht freigelegt.
- Das vollständige Freilegen der spitzenförmigen Elemente, d.h. das Trennen der strukturierten Oberflächenschicht vom Formkörper, kann beispielsweise durch vollständiges Wegätzen des Formkörpers geschehen. In einer bevorzugten Ausführung wird jedoch nur die Formschicht chemisch weggeätzt, so dass die strukturierte Oberflächenschicht vom Formkörper vollständig getrennt wird und damit in Form einer strukturierten Oberfläche vorliegt.
- In einer weiteren bevorzugten Ausführung wird nur ein Teil der Formschicht weggeätzt, so dass auf der Trägerschicht zwischen den Stamm bereichen der spitzenförmigen Elemente die Formschicht stehen bleibt und eine mechanische Stützschicht bildet. Dies geschieht beispielsweise durch chemisches Wegätzen des Substratkörpers, der Sperrschicht und eines Teils der porösen Schicht. Der poröse Teil der Formschicht muss jedoch derart entfernt werden, dass die endständigen Spitzen der spitzenförmigen Elemente vollständig freiliegen.
- In einer weiteren bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemässen Verfahrens werden die freigelegten spitzenförmigen Elemente einem weiteren Ätzprozess unterworfen, beispielsweise durch Plasmaätzen, oder durch nass-chemisches oder elektrolytisches Ätzen. Damit kann beispielsweise die Form der endständigen Spitzen hinsichtlich deren Verwendung als Elektronenemissionsspitzen optimiert werden.
- Weiter bevorzugt wird eine Nachbehandlung der erfindungsgemäss strukturierten Oberfläche durch Deposition einer zusätzlichen, dünnen Metallschicht, welche die elektronenemittierenden Eigenschaften der spitzenförmigen Elemente verbessert. Diese zusätzliche, dünne Metallschicht besteht bevorzugt aus einem Edelmetall, insbesondere aus Au, Pt, Rh oder Pd, oder einer wenigstens eines dieser Edelmetalle enthaltenden Legierung. Die Deposition dieser zusätzlichen Metallschicht kann beispielsweise durch chemische oder elektrolytische Methoden, durch PVD (Physical Vapour Deposition), wie beispielsweise Sputtern oder Elektronenstrahlverdampfen, oder durch CVD (Chemical Vapour Deposition) geschehen.
- Nachfolgend werden Ausführungsbeispiele für die Herstellung der erfindungsgemäss strukturierten Oberfläche beschrieben. Alle Angaben in Teilen oder Prozenten beziehen sich auf das Gewicht, sofern nichts anderes angegeben.
- Als Substratkörper dient ein Aluminiumblech aus 99.9 Gew.-% A1 mit glänzender Oberfläche. Das Aluminiumblech wird in einer milden alkalischen Entfettungslösung gereinigt, in Wasser gespült, in Salpetersäure dekapiert, in Wasser gespült, kurz in Aceton getaucht und getrocknet.
- Anschliessend wird auf der Rückseite des Bleches ein geeigneter Abdecklack aufgebracht und der derart vorbehandelte Substratkörper in einem Phosphorsäure-Elektrolyten mit einer Konzentration von 150 g/l H3PO4 bei einer Elektrolyttemperatur von 35 °C mit Gleichstrom einer Stromdichte von 100 A/m2 während 3 Minuten anodisiert, wobei die Anodisierspannung kontinuierlich von 0 auf 50 V erhöht wird. Direkt anschliessend wird die Anodisierspannung in 5 bis 6 Stufen auf ca. 15 V gesenkt, wobei die Spannungs-Absenkstufen anfänglich klein sind und allmählich vergrössert werden. Nach Erreichen der Anodisierspannung von ca. 15 V wird diese während ca. 40 Sekunden aufrechterhalten. Die resultierende Schichtdicke der Aluminiumoxidschicht beträgt typischerweise 1 µm.
- Die Formschicht weist nun Poren auf, die einen gegen die freie Oberfläche der Aluminiumoxidschicht ragenden, nach oben offenen Stammbereich und einen gegen den Substratkörper gerichteten Verzweigungsbereich aufweisen.
- Der Formkörper, d.h. insbesondere die freie Oberfläche der Formschicht, wird nun mit Wasser gespült und in einem nickelsalzhaltigen Aktivierungsbad (100 g/l NiSO4.7 H2O und 40 g/l Borsäure, pH 4.0 bis 5.0) mit einer angelegten Wechselspannung von 16 V während 5 Sekunden behandelt und danach erneut mit Wasser gespült.
- Die Poren der derart vorbereitete Formschicht weisen am Porengrund eingelagerte Nickelpartikel auf, welche bevorzugt als Keime für eine weitere selektive Nickelabscheidung dienen. Die selektive Nickelabscheidung, d.h. die weitere Ablagerung von Nickel an die bereits in den Poren befindlichen Nickelpartikel, geschieht vorerst auf chemischem Weg in einem Nickelbad mit einer Temperatur von 85 °C und einem pH-Wert von 5.0, das als Reduktionsmittel eine Natriumhypophosphit-Lösung enthält. Die selektive Nickel-Abscheidung dauert 1 Stunde, wobei eine Schicht aus Nickel-Phosphor mit 10 bis 12 Gew.-% Phosphor und einer Schichtdicke von ca. 10 µm erzeugt wird. Die mit Nickel beaufschlagte Formschicht wird nun wieder mit Wasser gespült und anschliessend wird die Nickelschicht in einem handelsüblichen, galvanischen Nickelbad ("Watt"-Bad, welches beispielsweise 300 g/l Nickelsulfat, 60 g/l Nickelchlorid, 40 g/l Borsäure und organische Zusätze, wie beispielsweise Netzmittel, enthält) mit einer an der Kathode gemessenen Stromdichte von 400 A/m2 während 20 Minuten verstärkt. Die Elektrolyttemperatur beträgt dabei 50 bis 60 °C, wobei die galvanisch erzeugte Nickelschicht eine Dicke von ca. 16 µm erreicht.
- Nach erneutem Spülen des mit Nickel beschichteten Formkörpers mit Wasser wird der Abdecklack beispielsweise chemisch oder durch Plasmaätzen entfernt. Der Formkörper wird nun chemisch in Natronlauge (50 g/l NaOH) aufgelöst. Bei einer NaOH-Badtemperatur von 20 °C dauert dieser Vorgang mehrere Stunden, beispielsweise 1 bis 5 Stunden.
- Nach dem Entfernen des Formkörpers verbleibt die gewünschte strukturierte Nickelfolie mit spitzenförmigen Elementen, wobei die spitzenförmigen Elemente einen an die Ni-Trägerschicht anliegenden Stammbereich und als vertikale Fortsetzung einen Verästelungsbereich, enthaltend wenigstens zwei endständige Spitzen, aufweist.
- Die strukturierte Nickelfolie wird erneut mit Wasser gespült, in 5 %-ige Citronensäure bei 20 °C während 30 Minuten dekapiert, wieder mit Wasser gespült, in Ethanol gegeben und schlussendlich getrocknet.
- Die spitzenförmigen Elemente stellen ein genaues Abbild der in der Aluminiumoxidschicht vorhandenen Porenkavität dar, da die Aluminiumoxidschicht als Maske für dessen Ni-Beaufschlagung dient. Die strukturierte Nickelfolie weist viele nahe beieinanderliegende Spitzen einer Länge von ca. 1 µm auf, dessen grösster Durchmesser typischerweise unter 0.2 µm liegt.
- Ein als Substratkörper dienendes Aluminiumblech, wie im ersten Ausführungsbeispiel beschrieben, wird entsprechend dem im ersten Ausführungsbeispiel beschriebenen Verfahren gereinigt und anodisiert. Die derart gebildete Formkörperoberfläche wird gemäss dem ersten Ausführungsbeispiel aktiviert.
- Die selektive Nickelabscheidung geschieht nun in einem chemischen Nickelbad mit einer Temperatur von 70 °C und einem pH-Wert von 6.0, wobei das Nickelbad als Reduktionsmittel Dimethylaminboran enthält. Die selektive Nickelabscheidung dauert 1 Stunde, wobei eine Nickel-Bor Deposition einer Schichtdicke von ca. 5 µm und einem Borgehalt von unter 1 % gebildet wird. Entsprechend dem ersten Ausführungsbeispiel wächst die Nickelschicht aufgrund der speziellen Aktivierungsmethode vorerst nur am Porengrund.
- Nach einem Spülvorgang mit Wasser wird entsprechend dem ersten Ausführungsbeispiel der Abdecklack entfernt, der Formkörper aufgelöst und somit eine strukturierte Nickelfolie freigelegt.
- Die spitzenförmigen Elemente der strukturierten Nickelfolie werden nun einer elektrolytischen Nachbehandlung unterzogen, wobei der Krümmungsradius der endständigen Spitzen verkleinert wird, so dass eine Feldemissionsoberfläche mit besseren Elektronen-emittierenden Eigenschaften entsteht. Der dazu verwendete Elektrolyt enthält 638 ml/l 96%-ige Schwefelsäure und 9 g/l Glycerin. Die elektrolytische Nachbehandlung erfolgt während 5 bis 10 Sekunden bei einer Elektrolyttemperatur von 20 °C, mit einer Kathode aus reinem Blei, einer Stromdichte von 500 bis 1000 A/m2 und einer Elektrolysespannung von 6 V. Danach wird die strukturierte Nickelfolie wiederum mit Wasser gespült und getrocknet.
- Eine gemäss dem ersten oder zweiten Ausführungsbeispiel hergestellte strukturierte Nickelfolie wird nachträglich während 60 Sekunden in einem handelsüblichen, stromlosen Goldbad vergoldet, wobei das Goldbad eine Goldkonzentration von 2 g/l, eine Badtemperatur von 85 °C und einen pH-Wert von 4.2 bis 4.8 aufweist. Dabei wird durch Ladungsaustausch eine Goldschicht von ca. 0.05 µm gebildet. Die vergoldete Nickelfolie wird anschliessend mit Wasser gespült, mit Ethanol behandelt und getrocknet.
- Eine derartige Veredelung der strukturierten Nickelfolie verbessert wesentlich deren Eigenschaften als Feldemissionsoberfläche.
- Vorliegende Erfindung wird beispielhaft anhand der Figuren 1 bis 4 weiter erläutert.
- Figur 1 zeigt schematisch einen Querschnitt durch einen noch nicht fertiggestellten Formkörper 22, dessen vertikal zur Formkörperoberfläche 23 liegenden und nach oben offenen Poren erst eine längliche Kavität 32 ohne Porenverzweigungen, d.h. den Stammbereich 32 der Poren, enthalten. Der in Fig. 1 dargestellte Formkörper besteht einerseits aus dem Substratkörper 24 und andererseits aus der Formschicht 26, die ihrerseits aus einer Sperrschicht 28 und einer porösen Schicht 30 gebildet wird.
- Ein gemäss Fig. 1 gebildeter Körper entsteht beispielsweise nach einer anodischen Oxidation mit einer konstanten oder kontinuierlich oder stufenweise steigenden Anodisierspannung eines Substratkörpers 24 aus Aluminium in einem das Aluminiumoxid rücklösenden Elektrolyten.
- Figur 2 zeigt schematisch einen Querschnitt eines für das erfindungsgemässe Verfahren verwendbaren Formkörpers 22. Der Formkörper 22 wird aus dem Substratkörper 24 und der Formschicht 26 gebildet. Die Kavität 36 der Poren enthält einen Poren-Stammbereich 32 und einen Poren-Verzweigungsbereich 33, wobei jede Poren-Kavität 36 im Verzweigungsbereich 33 zwei Porenverzweigungen 34 aufweist.
- Ein gemäss Fig. 2 ausgebildeter Formkörper 22 entsteht beispielsweise, wenn -- ausgehend von einem noch nicht fertiggestellten Formkörper 22 gemäss Fig. 1 -- die anodische Oxidation mit einer tieferen Anodisierspannung weitergeführt wird. Dazu kann die Anodisierspannung stufenweise oder kontinuierlich abgesenkt werden. Da der sich während der anodischen Oxidation bildende Porendurchmesser, sowie die sich ausbildende Schichtdicke der Sperrschicht 28 von der Grösse der Anodisierspannung abhängen, verringert sich während einer solchen zweiten Verfahrensstufe die Dicke der Sperrschicht 28, wobei die Schichtdicke der porösen Oxidschicht 30 weiter wächst. Da die Bildung der Oxidschicht 28, 30 an der Grenzschicht zwischen Aluminium-Substratkörper 24 und Sperrschicht 28 stattfindet, und der Porendurchmesser Anodisierspannungs-abhängig ist, bilden sich anschliessend an den Poren-Stammbereich 32 mehrere Porenverzweigungen 34 mit einem gegenüber dem Stammbereich 32 kleineren Durchmesser.
- Figur 3 zeigt schematisch den Querschnitt eines mit elektronenemittierendem Material beschichteten Formkörpers 22. Der Formkörper 22 besteht aus einem Substratkörper 24 und einer Formschicht 26. Die Formschicht 26 enthält Poren, deren Kavität 36 einen Stammbereich 32 und einen Verzweigungsbereich 33 mit wenigstens zwei Porenverzweigungen 34 aufweist. Die Kavität 36 ist vollständig mit elektronenemittierendem Material ausgefüllt, und die dadurch geschaffenen spitzenförmigen Elemente 14 aus elektronenemittierendem Material sind durch eine Trägerschicht 12 miteinander elektrisch leitend verbunden.
- Ein gemäss Fig. 3 ausgebildeter, mit elektronenemittierendem Material beschichteter Formkörper 22 entsteht beispielsweise, wenn -- ausgehend von einem Formkörper 22 gemäss Fig. 2 -- die Formkörperoberfläche 23, wenigstens in den Poren, chemisch aktiviert wird, die Porenkavitäten 36 mit chemischen und/oder elektrochemischen Verfahren mit elektronenemittierendem Material beaufschlagt werden, und auf die dadurch entstandenen spitzenförmigen Elemente 14, sowie auf die zwischen den Porenkavitäten 36 liegende Formkörperoberfläche 23 eine elektronenemittierende Schicht 12 aus beispielsweise Metall- oder Halbmetall deponiert wird.
- Figur 4 zeigt schematisch den Querschnitt einer erfindungsgemäss strukturierten Oberfläche. Diese besteht aus einer Trägerschicht 12 mit damit elektrisch leitend verbundenen, spitzenförmigen Elementen 14 aus beispielsweise Metall- oder Halbmetall, d.h. aus elektronenemittierendem Material. Die spitzenförmigen Elemente weisen einen Stammbereich 16 und einen Verästelungsbereich 18 auf, wobei die spitzenförmigen Elemente 14 im Verästelungsbereich 18 zwei endständige Spitzen 20 aufweisen, deren Längsachsen a1, a2 einen spitzen Winkel α einschliessen. Die Stammbereiche 16 der spitzenförmigen Elemente 14 werden von einer zwischen diesen liegenden Stützschicht 15 mechanisch gestützt, wobei ein Teil der Stammbereiche 16 und die endständigen Spitzen 20 freiliegen.
- Eine gemäss Fig. 4 ausgebildete strukturierte Oberfläche entsteht beispielsweise, wenn -- ausgehend von einem mit elektronenemittierendem Material beschichteten Formkörper 22 gemäss Fig. 3 -- der Substratkörper 24 und ein Teil der Formschicht 26 chemisch weggeätzt wird.
Claims (15)
- Strukturierte Oberfläche, enthaltend eine Trägerschicht (12) und mit dieser elektrisch leitend verbundene spitzenförmige Elemente (14),
dadurch gekennzeichnet, dass
jedes spitzenförmige Element (14) einen an die Trägerschicht (12) anliegenden, zylinder- oder kegelstumpfförmigen Stammbereich (16) und wenigstens zwei, vorzugsweise 2 bis 4, an das freie Ende des Stammbereiches (16) angeformte, endständige Spitzen (20) aufweist. - Strukturierte Oberfläche nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die spitzenförmigen Elemente (14) und/oder die Trägerschicht (12) aus einem oder mehrerer der Elemente Ni, Al, Pd, Pt, W, Fe, Ta, Rh, Cd, Cu, Au, Ag, In, Co, Sn, Si, Ge, Se, Te, oder einer chemischen Verbindung enthaltend wenigstens eines dieser Elemente, oder einer Legierung vorstehend aufgeführter Metalle besteht.
- Strukturierte Oberfläche nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass sich auf der Trägerschicht (12), zwischen den spitzenförmigen Elementen (14) eine mechanische Stützschicht (15) befindet, die aus einem elektrisch isolierenden Material, bevorzugt aus einem Oxid und insbesondere aus Aluminiumoxid besteht.
- Strukturierte Oberfläche nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Längsachsen (a1, a2) der endständigen Spitzen (20) einen spitzen Winkel α von 10 bis 80° und insbesondere von 20 bis 60°, bezogen auf einen Vollkreis von 360°, einschliessen.
- Strukturierte Oberfläche nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Dichte der endständigen Spitzen 108/cm2 und höher beträgt.
- Strukturierte Oberfläche nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass der grösste Querschnittsdurchmesser jedes spitzenförmigen Elementes (14) 250 nm oder weniger, vorzugsweise 10 bis 230 nm, insbesondere 80 bis 230 nm beträgt.
- Strukturierte Oberfläche nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass die spitzenförmigen Elemente (14) eine Höhe von 50 nm bis 20 µm, bevorzugt 0.5 bis 3 µm, aufweisen.
- Strukturierte Oberfläche nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass die freien Enden der endständigen Spitzen (20) einen Krümmungsradius von 200 nm oder kleiner, bevorzugt 50 bis 100 nm, aufweisen.
- Verwendung der strukturierten Oberfläche nach einem der Ansprüche 1 bis 8 als Feldemissionsoberfläche von Kaltkathoden-Emitterelementen, insbesondere als Elektronenemissionsquelle für superflache Bildschirme, für die Elektronenlithographie oder für die Raster- oder Transmissionsmikroskopie.
- Verfahren zur Herstellung von strukturierten Oberflächen nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dassa) in einem ersten Schritt ein Formkörper (22) mit einer zur gewünschten strukturierten Oberfläche spiegelbildlichen Formkörperoberfläche (23) dadurch geschaffen wird, dass ein Substratkörper (24) aus Aluminium anodisch in einem Aluminiumoxid rücklösenden Elektrolyten oxidiert wird, wobei die Anodisierspannung in einem ersten Anodisierschritt kontinuierlich oder schrittweise von 0 auf einen ersten Wert U1 erhöht wird, und in einem zweiten Anodisierschritt die Anodisierspannung kontinuierlich oder schrittweise auf einen zweiten, gegenüber U1 kleineren Wert U2 reduziert wird.b) in einem zweiten Schritt die Formkörperoberfläche (23) ganzflächig derart beschichtet wird, dass die in der Oberflächenschicht (23) des Formkörpers (22) vorhandenen Poren-Kavitäten (36) vollständig mit dem Beschichtungsmaterial ausgefüllt werden, und eine die spitzenförmigen Elemente (14) elektrisch verbindende Trägerschicht (12) gebildet wird, und die Trägerschicht (12) eine zusammenhängende, mechanisch tragende Schicht darstellt;c) und in einem dritten Schritt wenigstens ein Teil des Formkörpers (22) derart entfernt wird, dass die endständigen Spitzen (20) frei liegen.
- Verfahren nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, dass der erste Wert U1 der Anodisierspannung zur Bildung von zylinder- oder kegelstumpfförmigen, langen Poren zwischen 12 und 80 V liegt, und der zweite Wert U2 der Anodisierspannung zur Bildung wenigstens zweier Porenverzweigungen am gegen die Aluminiumschicht gerichteten Ende jeder Pore zwischen 10 und 20 V beträgt.
- Verfahren nach Anspruch 10 oder 11, dadurch gekennzeichnet, dass für die Beschichtung der Formkörperoberfläche (23) eines der Elemente Ni, Al, Pd, Pt, W, Fe, Ta, Rh, Cd, Cu, Au, Ag, In, Co, Sn, Si, Ge, Se, Te, oder eine chemische Verbindung enthaltend wenigstens eines dieser Elemente, oder eine Legierung vorstehend aufgeführter Metalle verwendet wird.
- Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 12, dadurch gekennzeichnet, dass die Beschichtung der Formkörperoberfläche (23) durch chemische und/oder elektrolytische Methoden geschieht.
- Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 13, dadurch gekennzeichnet, dass das wenigstens teilweise Entfernen des Formkörpers (22) durch chemisches Wegätzen des Substratkörpers (24) und wenigstens eines Teils der Formschicht (26) geschieht.
- Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 14, dadurch gekennzeichnet, dass die wenigstens teilweise freigelegten spitzenförmigen Elemente (14) einem chemischen oder elektrolytischen Ätzprozess unterworfen werden.
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US6810575B1 (en) * | 1998-04-30 | 2004-11-02 | Asahi Kasai Chemicals Corporation | Functional element for electric, electronic or optical device and method for manufacturing the same |
US20040023046A1 (en) * | 1998-08-04 | 2004-02-05 | Falko Schlottig | Carrier substrate for Raman spectrometric analysis |
US6056864A (en) * | 1998-10-13 | 2000-05-02 | Advanced Micro Devices, Inc. | Electropolishing copper film to enhance CMP throughput |
US7018521B2 (en) * | 2001-09-27 | 2006-03-28 | General Motors Corporation | Method of producing bright anodized finishes for high magnesium, aluminum alloys |
EP1444718A4 (de) * | 2001-11-13 | 2005-11-23 | Nanosciences Corp | Photokathode |
AU2003304068A1 (en) * | 2002-08-28 | 2004-11-23 | University Of Pittsburgh | Self-organized nanopore arrays with controlled symmetry and order |
US7713849B2 (en) * | 2004-08-20 | 2010-05-11 | Illuminex Corporation | Metallic nanowire arrays and methods for making and using same |
WO2006138671A2 (en) * | 2005-06-17 | 2006-12-28 | Illuminex Corporation | Photovoltaic wire |
US20100193768A1 (en) * | 2005-06-20 | 2010-08-05 | Illuminex Corporation | Semiconducting nanowire arrays for photovoltaic applications |
US20090050204A1 (en) * | 2007-08-03 | 2009-02-26 | Illuminex Corporation. | Photovoltaic device using nanostructured material |
KR100856746B1 (ko) | 2007-03-20 | 2008-09-04 | 명지대학교 산학협력단 | 티타니아 박막의 제조방법 |
US8008213B2 (en) * | 2008-09-30 | 2011-08-30 | Sandisk 3D Llc | Self-assembly process for memory array |
US8703546B2 (en) * | 2010-05-20 | 2014-04-22 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Activation treatments in plating processes |
CN103030106B (zh) | 2011-10-06 | 2015-04-01 | 清华大学 | 三维纳米结构阵列 |
RU2658304C2 (ru) * | 2016-10-10 | 2018-06-20 | Акционерное общество "Научно-производственное предприятие "Алмаз" (АО "НПП "Алмаз") | Способ изготовления автоэмиссионного катода из углеродного материала |
KR20180040743A (ko) * | 2016-10-12 | 2018-04-23 | 주식회사 넥스트이앤엠 | 가지 형태의 나노기공을 포함하는 이온다이오드막 및 그 제조 방법 |
US10782014B2 (en) | 2016-11-11 | 2020-09-22 | Habib Technologies LLC | Plasmonic energy conversion device for vapor generation |
JP6474878B1 (ja) * | 2017-11-28 | 2019-02-27 | 株式会社Uacj | アルミニウム部材及びその製造方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3783325A (en) * | 1971-10-21 | 1974-01-01 | Us Army | Field effect electron gun having at least a million emitting fibers per square centimeter |
EP0351110A1 (de) | 1988-07-13 | 1990-01-17 | THORN EMI plc | Verfahren zur Herstellung einer kalten Kathode, einer Vorrichtung zur Feldemission und eine nach diesem Verfahren hergestellte Feldemissionseinrichtung |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3921022A (en) * | 1974-09-03 | 1975-11-18 | Rca Corp | Field emitting device and method of making same |
DE3007452C2 (de) * | 1980-02-28 | 1984-09-20 | Kleinewefers Gmbh, 4150 Krefeld | Verfahren zum Regeln des in einem Kalander ausgeübten Druckes sowie Kalander zur Durchführung dieses Verfahrens |
DE3316027C2 (de) * | 1983-05-03 | 1987-01-22 | Dornier System Gmbh, 7990 Friedrichshafen | Photodetektor und Verfahren zu seiner Herstellung |
US5203731A (en) * | 1990-07-18 | 1993-04-20 | International Business Machines Corporation | Process and structure of an integrated vacuum microelectronic device |
US5211707A (en) * | 1991-07-11 | 1993-05-18 | Gte Laboratories Incorporated | Semiconductor metal composite field emission cathodes |
US5499938A (en) * | 1992-07-14 | 1996-03-19 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Field emission cathode structure, method for production thereof, and flat panel display device using same |
US5608283A (en) * | 1994-06-29 | 1997-03-04 | Candescent Technologies Corporation | Electron-emitting devices utilizing electron-emissive particles which typically contain carbon |
-
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Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3783325A (en) * | 1971-10-21 | 1974-01-01 | Us Army | Field effect electron gun having at least a million emitting fibers per square centimeter |
EP0351110A1 (de) | 1988-07-13 | 1990-01-17 | THORN EMI plc | Verfahren zur Herstellung einer kalten Kathode, einer Vorrichtung zur Feldemission und eine nach diesem Verfahren hergestellte Feldemissionseinrichtung |
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