EA202092309A1 - Рентгеновский флуоресцентный анализатор с несколькими каналами детектирования и способ выполнения флуоресцентного анализа - Google Patents

Рентгеновский флуоресцентный анализатор с несколькими каналами детектирования и способ выполнения флуоресцентного анализа

Info

Publication number
EA202092309A1
EA202092309A1 EA202092309A EA202092309A EA202092309A1 EA 202092309 A1 EA202092309 A1 EA 202092309A1 EA 202092309 A EA202092309 A EA 202092309A EA 202092309 A EA202092309 A EA 202092309A EA 202092309 A1 EA202092309 A1 EA 202092309A1
Authority
EA
Eurasian Patent Office
Prior art keywords
crystal
fluorescent
rays
processing unit
radiation
Prior art date
Application number
EA202092309A
Other languages
English (en)
Inventor
Томми Коскинен
Антти Пелли
Хейкки Сипиля
Original Assignee
Оутотек (Финлэнд) Ой
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Оутотек (Финлэнд) Ой filed Critical Оутотек (Финлэнд) Ой
Publication of EA202092309A1 publication Critical patent/EA202092309A1/ru

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/22Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
    • G01N23/223Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B03SEPARATION OF SOLID MATERIALS USING LIQUIDS OR USING PNEUMATIC TABLES OR JIGS; MAGNETIC OR ELECTROSTATIC SEPARATION OF SOLID MATERIALS FROM SOLID MATERIALS OR FLUIDS; SEPARATION BY HIGH-VOLTAGE ELECTRIC FIELDS
    • B03BSEPARATING SOLID MATERIALS USING LIQUIDS OR USING PNEUMATIC TABLES OR JIGS
    • B03B13/00Control arrangements specially adapted for wet-separating apparatus or for dressing plant, using physical effects
    • B03B13/06Control arrangements specially adapted for wet-separating apparatus or for dressing plant, using physical effects using absorption or reflection of radioactive emanation
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C22METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
    • C22BPRODUCTION AND REFINING OF METALS; PRETREATMENT OF RAW MATERIALS
    • C22B3/00Extraction of metal compounds from ores or concentrates by wet processes
    • C22B3/02Apparatus therefor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/20Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G01T1/202Measuring radiation intensity with scintillation detectors the detector being a crystal
    • G01T1/2023Selection of materials
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K1/00Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
    • G21K1/06Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K1/00Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
    • G21K1/06Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators
    • G21K1/067Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators using surface reflection, e.g. grazing incidence mirrors, gratings
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/07Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
    • G01N2223/076X-ray fluorescence
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/60Specific applications or type of materials
    • G01N2223/616Specific applications or type of materials earth materials
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/1603Measuring radiation intensity with a combination of at least two different types of detector
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K2201/00Arrangements for handling radiation or particles
    • G21K2201/06Arrangements for handling radiation or particles using diffractive, refractive or reflecting elements
    • G21K2201/062Arrangements for handling radiation or particles using diffractive, refractive or reflecting elements the element being a crystal
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K2201/00Arrangements for handling radiation or particles
    • G21K2201/06Arrangements for handling radiation or particles using diffractive, refractive or reflecting elements
    • G21K2201/064Arrangements for handling radiation or particles using diffractive, refractive or reflecting elements having a curved surface
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K2201/00Arrangements for handling radiation or particles
    • G21K2201/06Arrangements for handling radiation or particles using diffractive, refractive or reflecting elements
    • G21K2201/067Construction details

Abstract

Рентгеновский флуоресцентный анализатор содержит рентгеновскую трубку (402) для испускания падающего рентгеновского излучения (206) в направлении первой оптической оси (204). Блок (201) обработки пульпы выполнен с возможностью поддержания постоянного расстояния между пробой (202) пульпы и указанной рентгеновской трубкой. Первый кристаллический дифрактор (601, 1501) расположен в первом направлении от указанного блока (201) обработки пульпы. Он содержит первый кристалл (603, 1502) и первый детектор (602, 1505) излучения, выполненный с возможностью детектирования флуоресцентного рентгеновского излучения, дифрагированного указанным первым кристаллом (603, 1502), с первым энергетическим разрешением. Второй кристаллический дифрактор (1511) расположен во втором направлении от указанного блока (201) обработки пульпы. Он содержит второй кристалл (1512) и второй детектор (1515) излучения, выполненный с возможностью детектирования флуоресцентного рентгеновского излучения, дифрагированного указанным вторым кристаллом (1512), со вторым энергетическим разрешением. Первый кристалл (603, 1502) представляет собой кристалл пиролитического графита, второй кристалл (1512) изготовлен из материала, отличного от пиролитического графита, а первый и второй кристаллические дифракторы выполнены с возможностью направления на их соответствующие детекторы излучения характеристического флуоресцентного излучения одного и того же элемента.
EA202092309A 2018-04-20 2018-04-20 Рентгеновский флуоресцентный анализатор с несколькими каналами детектирования и способ выполнения флуоресцентного анализа EA202092309A1 (ru)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/FI2018/050283 WO2019202199A1 (en) 2018-04-20 2018-04-20 X-ray fluorescence analyzer with a plurality of measurement channels, and a method for performing x-ray fluorescence analysis

Publications (1)

Publication Number Publication Date
EA202092309A1 true EA202092309A1 (ru) 2021-02-05

Family

ID=68239963

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
EA202092309A EA202092309A1 (ru) 2018-04-20 2018-04-20 Рентгеновский флуоресцентный анализатор с несколькими каналами детектирования и способ выполнения флуоресцентного анализа
EA202092310A EA202092310A1 (ru) 2018-04-20 2019-02-18 Система рентгеновского флуоресцентного анализатора и способ выполнения флуоресцентного анализа представляющего интерес элемента в пульпе

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
EA202092310A EA202092310A1 (ru) 2018-04-20 2019-02-18 Система рентгеновского флуоресцентного анализатора и способ выполнения флуоресцентного анализа представляющего интерес элемента в пульпе

Country Status (12)

Country Link
US (1) US11199513B2 (ru)
CN (1) CN112313506A (ru)
AU (2) AU2018419253B2 (ru)
BR (2) BR112020021453A2 (ru)
CA (1) CA3097467A1 (ru)
DK (2) DK181068B1 (ru)
EA (2) EA202092309A1 (ru)
FI (1) FI20206179A1 (ru)
MX (1) MX2020011066A (ru)
SE (1) SE544472C2 (ru)
WO (1) WO2019202199A1 (ru)
ZA (1) ZA202007014B (ru)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AU2018419251B2 (en) 2018-04-20 2022-02-17 Outotec (Finland) Oy X-ray fluorescence analyser, and a method for performing X-ray fluorescence analysis
CA3151147A1 (en) * 2018-08-17 2020-02-20 Microtrace Pty Limited Apparatus for the measurement of mineral slurries
AU2019361327B2 (en) * 2018-10-18 2023-11-09 Security Matters Ltd. System and method for detection and identification of foreign elements in a substance
JP7380421B2 (ja) * 2020-05-27 2023-11-15 株式会社島津製作所 X線分析装置およびx線分析方法
CN113294150B (zh) * 2021-06-11 2023-05-23 中国石油天然气股份有限公司 一种元素分类的方法及系统

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3198944A (en) * 1961-11-06 1965-08-03 Gen Electric X-ray emission analyzer with standardizing system and novel switch means
NL289708A (ru) * 1962-03-05
US3354308A (en) * 1965-04-30 1967-11-21 Philips Electronic Pharma Apparatus with means to measure the characteristic X-ray emission from and the density of a material
GB2219394B (en) * 1988-05-06 1992-09-16 Gersan Ets Sensing a narrow frequency band of radiation and examining objects or zones
US7298817B2 (en) 2003-12-01 2007-11-20 X-Ray Optical Systems, Inc. Portable and on-line arsenic analyzer for drinking water
JP3950156B1 (ja) * 2006-04-11 2007-07-25 理学電機工業株式会社 蛍光x線分析装置
EP2438431A4 (en) * 2009-06-03 2013-10-23 Thermo Scient Portable Analytical Instr Inc METHODS AND X-RAY SYSTEM IMPERATING A DETECTOR CONTENT IN A FOCUSING ELEMENT
CN101614684B (zh) * 2009-07-27 2011-06-29 北京矿冶研究总院 一种x射线荧光激发检测装置
GB2476255B (en) * 2009-12-17 2012-03-07 Thermo Fisher Scient Ecublens Sarl Method and apparatus for performing x-ray analysis of a sample
US8208602B2 (en) * 2010-02-22 2012-06-26 General Electric Company High flux photon beams using optic devices
GB201213789D0 (en) * 2012-08-02 2012-09-12 Commw Scient Ind Res Org An X-ray fluorescence analyser
RU137951U1 (ru) * 2013-06-18 2014-02-27 Российская Федерация, от имени которой выступает Федеральное государственное казенное учреждение "Войсковая часть 68240" Устройство для рентгеновского микроанализа
JP6305247B2 (ja) * 2014-06-13 2018-04-04 株式会社日立ハイテクサイエンス 蛍光x線分析装置
CN105628720B (zh) * 2015-03-10 2019-01-25 深圳市禾苗分析仪器有限公司 连续衍射分光与探测装置及顺序式x射线荧光光谱仪
CN204556542U (zh) * 2015-04-24 2015-08-12 北京邦鑫伟业技术开发有限公司 一种用于x荧光光谱分析仪的热解石墨晶体分光器
RU2594646C1 (ru) * 2015-06-29 2016-08-20 Совместное предприятие в форме закрытого акционерного общества "Изготовление, внедрение, сервис" Автоматический рентгеновский анализатор пульп и растворов в потоке

Also Published As

Publication number Publication date
WO2019202199A1 (en) 2019-10-24
EA202092310A1 (ru) 2021-03-11
BR122023023754A2 (pt) 2023-12-26
MX2020011066A (es) 2021-01-15
US20210255122A1 (en) 2021-08-19
AU2018419253B2 (en) 2022-03-03
AU2018419253A1 (en) 2020-12-03
DK202270431A1 (en) 2022-09-15
SE544472C2 (en) 2022-06-14
ZA202007014B (en) 2021-09-29
CN112313506A (zh) 2021-02-02
SE2051352A1 (en) 2020-11-19
FI20206179A1 (en) 2020-11-20
BR112020021453A2 (pt) 2021-01-19
DK202070771A1 (en) 2020-12-01
US11199513B2 (en) 2021-12-14
CA3097467A1 (en) 2019-10-24
DK181068B1 (en) 2022-11-08
AU2021102216A4 (en) 2021-06-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EA202092309A1 (ru) Рентгеновский флуоресцентный анализатор с несколькими каналами детектирования и способ выполнения флуоресцентного анализа
KR100690457B1 (ko) X선 측정 및 검사용 복합체
Gianoncelli et al. Simultaneous soft X-ray transmission and emission microscopy
EA202092311A1 (ru) Рентгеновский флуоресцентный анализатор и способ выполнения рентгеновского флуоресцентного анализа
US20160041110A1 (en) X-ray transmission inspection apparatus and extraneous substance detecting method
MX2020011105A (es) Sistema analizador de fluorescencia de rayos-x y un metodo para ejecutar analisis de fluorescencia de rayos-x de un elemento de interes en suspension.
RU2361194C2 (ru) Многоканальный рентгеновский спектрометр
EA202092348A1 (ru) Рентгеновский флуоресцентный анализатор и способ выполнения флуоресцентного анализа
SU1045094A1 (ru) Устройство дл рентгенофлуоресцентного анализа вещества
Landheer et al. Synchrotron-based coherent scatter x-ray projection imaging using an array of monoenergetic pencil beams
Hildebrandt et al. Detection of thermal neutrons using ZnS (Ag): 6LiF neutron scintillator read out with WLS fibers and SiPMs
Muralithar et al. A charged particle detector array for detection of light charged particles from nuclear reactions
Malo et al. A dedicated system for in situ testing of gamma ray induced optical absorption and emission in optical materials
Jimenez et al. Developing imaging capabilities of multi-channel detectors comparable to traditional x-ray detector technology for industrial and security applications
RU2367978C1 (ru) Способ калибровки сцинтилляционного тракта
RU109364U1 (ru) Устройство для получения рентгеновского излучения
KR102053928B1 (ko) X-선 분석 시스템 및 x-선 분석 방법
RU2612051C1 (ru) Анализатор тяжелых элементов
RU2288466C1 (ru) Устройство для радиографии и томографии
RU2680849C1 (ru) Способ гамма-радиографической интроскопии
Gascón et al. Characterization of Large Frustum CsI (Tl) Crystals for the ${\rm R}^{3}{\rm B} $ Calorimeter
RU161079U1 (ru) Устройство для контрастного анализа элементного состава вещества с помощью рентгеновского излучения
Saro et al. Performance of LYSO and BC420 coupled with Ketek and Sensl SiPM for needs of PALS
Junior et al. Application of Optical Fiber in Radiation Detection Systems
RU2158447C1 (ru) Способ радиационной диагностики оборудования ядерных установок