CN101614684B - 一种x射线荧光激发检测装置 - Google Patents

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Abstract

本发明的一种X射线荧光激发检测装置，属于载流X射线荧光品位分析技术领域。该X射线荧光激发检测装置用于检测矿物样品中的矿物品位，其包括安装基架、样品承载装置、X射线发生装置和探测装置；所述的样品承载装置、X射线发生装置和探测装置固定安装于安装基架上，并且X射线发生装置与样品承载装置相通，探测装置与样品承载装置相通。本发明的X射线荧光激发检测装置通过上述的设计，具有结构紧凑简单、可以方便的同时安装多个探测装置、测量的准确度高的优点。

Description

一种X射线荧光激发检测装置
技术领域
本发明涉及载流X射线荧光品位分析技术领域，尤其涉及一种X射线荧光激发检测装置。
背景技术
X射线荧光分析仪在矿石、金属元素分析领域具有广泛的应用空间，尤其在选矿行业，利用X射线荧光分析仪进行矿石品位分析，具有诸多优点。X射线荧光分析仪是一种利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测矿物物质中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行矿物物质成分分析和化学态研究的方法。它主要包括激发、色散、探测、记录及数据处理等单元。
现有的X射线荧光分析仪结构复杂，各个单元分散组合等缺点。
发明内容
鉴于上述现有技术所存在的问题，本发明的目的是提供一种结构紧凑简单、能够方便的同时安装多个探测装置、测量的准确度高的X射线荧光激发检测装置。
本发明的目的是通过以下技术方案实现的：
一种X射线荧光激发检测装置，用于检测矿物样品中的矿物品位，该检测装置包括安装基架、样品承载装置、X射线发生装置和探测装置；所述的样品承载装置、X射线发生装置和探测装置固定安装于安装基架上，并且X射线发生装置与样品承载装置相通，探测装置与样品承载装置相通。
所述的安装基架包括中空孔、安装法兰和探测装置安装件；中空孔设于安装基架轴向中部；安装法兰设于安装基架的一个端面上并与中空孔垂直，安装法兰的外侧面设有样品承载装置安装孔；探测装置安装件设于安装基架与中空孔平行的外表面。
所述的安装基架中空孔包括具有同一中心线的台阶孔，并且靠近两端部的台阶孔直径大于中部的台阶孔；其中，远离安装法兰的端部台阶孔内径与X射线发生装置相适应，设有安装法兰端部台阶孔与探测装置安装件相连通。
所述的探测装置安装件包括与中空孔中心线平行的导槽。
所述的探测装置包括一个或者多于一个。
所述的探测装置包括六个。
所述的探测装置包括分光装置和X射线探测器，其中分光装置与X射线探测器连接。
所述探测装置中的分光装置与安装基架的探测装置安装件相连接。
所述的样品承载装置包括样品进口、样品出口和样品承载盒体；所述的样品进口和样品出口分别设于样品承载盒体的上部和下部；所述的样品承载盒体与安装基架的安装法兰相连接，并且样品承载盒体与X射线发生装置在同一轴线上。
所述的X射线发生装置与样品承载装置相通包括X射线发生装置所发出的X射线直接照射样品承载装置的样品；所述的探测装置与样品承载装置相通包括样品承载装置中的样品受X射线激发后所发出的二次X射线传输到探测装置。
本发明的X射线荧光激发检测装置通过上述的设计，将X射线发生装置和探测装置以及样品承载装置整合到安装基架上，使X射线荧光激发检测装置具有结构紧凑简单、可以方便的同时安装多个探测装置、测量的准确度高等优点。
附图说明
图1为本发明的一种实施方式的结构示意图；
图2为本发明的一种实施方式的右视结构示意图；
图3为本发明的安装基架的一种实施方式的结构示意图；
图4为本发明的安装基架的一种实施方式的左视剖面结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图对于本发明的X射线荧光激发检测装置进行详细说明。
如图1和图2所示，一种X射线荧光激发检测装置，用于检测矿物样品中的矿物品位，该X射线荧光激发检测装置包括安装基架1、样品承载装置、X射线发生装置3和探测装置；所述的样品承载装置、X射线发生装置3和探测装置固定安装于安装基架1上，并且X射线发生装置3与样品承载装置相通，探测装置与样品承载装置相通。
所述的X射线发生装置3与样品承载装置相通包括X射线发生装置3所发出的X射线直接照射样品承载装置的样品；所述的探测装置与样品承载装置相通包括样品承载装置中的样品受X射线激发后所发出的二次X射线传输到探测装置。X射线发生装置3包括X光管。
如图2和图3所示，所述的安装基架1为一回转体，包括中空孔101、安装法兰102和探测装置安装件103；中空孔101设于安装基架1的轴向中部；安装法兰102设于安装基架1的一个端面上并与中空孔101垂直，安装法兰102的外侧面设有样品承载装置安装孔1021；探测装置安装件103设于安装基架1与中空孔101平行的外表面。
所述的安装基架中空孔101包括具有同一中心线的台阶孔，并且靠近两端部的台阶孔直径大于中部的台阶孔1012；其中，远离安装法兰的端部台阶孔1011内径与X射线发生装置3相适应，设有安装法兰端部台阶孔1013与探测装置安装件103相连通。设有安装法兰端部的台阶孔1013与探测装置安装件103通过通孔1032相连通。
所述的安装法兰102既可以设为与整个安装基架1一体的，也可以设为与整个安装基架1分体的。所谓分体的指的是安装法兰102是个独立的单元，其通过连接件固定连接于安装基架1的一个端面上。
所述的探测装置安装件103包括与中空孔101中心线平行的导槽1031。所述的导槽1031用于安装探测装置，在导槽1031的侧壁设有安装孔，通过该安装孔将探测装置固定在安装基架1上。
如图1、图2、图3和图4所示，所述的探测装置包括一个或者多于一个。多个探测装置均匀布置于安装基架1上。
所述的探测装置包括六个。其中三个探测装置安装于安装基架1的一侧，另三个探测装置安装于与上述三个探测装置相对应的安装基架1的另一侧。
所述的探测装置包括分光装置401和X射线探测器402，其中分光装置401与X射线探测器402连接。对矿物样品激发的二次X射线经过分光装置401到达X射线探测器402，由X射线探测器402最终完成对于被测矿物样品的品位分析。
所述探测装置中的分光装置401与安装基架1的探测装置安装件103相连接。即分光装置401安装于安装基架1的探测装置安装件103的导槽1031中，并且通过紧固件将分光装置401固定于安装基架1上。
所述的样品承载装置包括样品进口202、样品出口203和样品承载盒体201；所述的样品进口202和样品出口203分别设于样品承载盒体201的上部和下部，即样品进口202和样品出口203分别设于样品承载盒体201对称的两端，以便于流体样品或者颗粒状样品通过样品进口202进入样品承载盒体201内，而且在对于被测样品探测完成后，被测样品可以通过样品出口203被输送出样品承载盒体201。
所述的样品承载盒体201与安装基架1的安装法兰102相连接，并且样品承载盒体201与X射线发生装置3在同一轴线上。
样品承载盒体201可以通过铰接安装于安装基架1的安装法兰102上，即在样品承载盒体201与安装基架1的安装法兰102相连接处设有铰链或者铰轴，从而可以方便的打开或者关闭样品承载盒体201。样品承载盒体201也可以固定安装于安装基架1的安装法兰102上。
样品承载盒体201与X射线发生装置3在同一轴线上，以便于X射线发生装置3的发射窗口与样品承载盒体201正对，X射线发生装置3发出的X射线直接照射到输入样品承载盒体201中的样品。
本发明的X射线荧光激发检测装置属于X射线荧光分析仪的重要部分，本发明的工作原理如下：X射线发生装置3发出的X射线直接照射到输入样品承载装置中的被测样品，该被测的流体样品或者颗粒状样品通过样品进口202进入样品承载盒体201内，而且在对于被测样品探测完成后，被测样品可以通过样品出口203被输送出样品承载盒体201。被测样品在X射线的激发下发出二次荧光，该二次荧光通过分光装置401到达X射线探测器402，由X射线探测器402最终完成对于被测矿物样品的品位分析。
本发明的X射线荧光激发检测装置通过上述的设计，将X射线发生装置3和探测装置以及样品承载装置整合到安装基架1上，使X射线荧光激发检测装置具有结构紧凑简单、可以方便的同时安装多个探测装置、测量的准确度高等优点。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求书的保护范围为准。

Claims (4)

1.一种X射线荧光激发检测装置，用于检测矿物样品中的矿物品位，其特征在于，该装置包括安装基架、样品承载装置、X射线发生装置和多个探测装置；所述的样品承载装置、X射线发生装置和多个探测装置固定安装于安装基架上，并且X射线发生装置与样品承载装置相通，探测装置与样品承载装置相通；
所述的安装基架包括中空孔、安装法兰和多个探测装置安装件，中空孔设于安装基架轴向中部，安装法兰设于安装基架的一个端面上并与中空孔垂直，安装法兰的外侧面设有样品承载装置安装孔；
所述的样品承载装置包括样品进口、样品出口和样品承载盒体，所述的样品进口和样品出口分别设于样品承载盒体的上部和下部，所述的样品承载盒体与安装基架的安装法兰相连接，并且样品承载盒体与X射线发生装置在同一轴线上，样品承载盒体通过铰接安装于所述安装法兰上；
所述的安装基架中空孔包括具有同一中心线的台阶孔，并且靠近两端部的台阶孔直径大于中部的台阶孔；其中，远离安装法兰的端部台阶孔内径与X射线发生装置相适应，设有安装法兰端部台阶孔与多个探测装置安装件相连通；
多个探测装置安装件设于安装基架与中空孔平行的外表面，所述的多个探测装置安装件包括多个与中空孔中心线平行的导槽，每个导槽能插入一个探测装置；
所述的探测装置小于或等于六个。
2.根据权利要求1所述的X射线荧光激发检测装置，其特征在于，所述的探测装置包括分光装置和X射线探测器，其中分光装置与X射线探测器连接。
3.根据权利要求2所述的X射线荧光激发检测装置，其特征在于，所述探测装置中的分光装置与安装基架的探测装置安装件相连接。
4.根据权利要求1所述的X射线荧光激发检测装置，其特征在于，所述的X射线发生装置与样品承载装置相通包括X射线发生装置所发出的X射线直接照射样品承载装置的样品；所述的探测装置与样品承载装置相通包括样品承载装置中的样品受X射线激发后所发出的二次X射线传输到探测装置。
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