DE927106C - Roentgenstrahlenempfindliche Widerstandsschicht - Google Patents

Roentgenstrahlenempfindliche Widerstandsschicht

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Publication number
DE927106C
DE927106C DEZ2874A DEZ0002874A DE927106C DE 927106 C DE927106 C DE 927106C DE Z2874 A DEZ2874 A DE Z2874A DE Z0002874 A DEZ0002874 A DE Z0002874A DE 927106 C DE927106 C DE 927106C
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
resistance layer
electrode
resistance
electrons
layer
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Expired
Application number
DEZ2874A
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English (en)
Inventor
Manfred Dipl-Phys Keller
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Zeiss Ikon AG
Original Assignee
Zeiss Ikon AG
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Publication date
Application filed by Zeiss Ikon AG filed Critical Zeiss Ikon AG
Priority to DEZ2874A priority Critical patent/DE927106C/de
Application granted granted Critical
Publication of DE927106C publication Critical patent/DE927106C/de
Expired legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J29/00Details of cathode-ray tubes or of electron-beam tubes of the types covered by group H01J31/00
    • H01J29/02Electrodes; Screens; Mounting, supporting, spacing or insulating thereof
    • H01J29/10Screens on or from which an image or pattern is formed, picked up, converted or stored
    • H01J29/36Photoelectric screens; Charge-storage screens
    • H01J29/39Charge-storage screens
    • H01J29/45Charge-storage screens exhibiting internal electric effects caused by electromagnetic radiation, e.g. photoconductive screen, photodielectric screen, photovoltaic screen

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)

Description

  • Röntgenstrahlenempfindliche Widerstandsschicht Halbleiterschichten, die unter dem Einfluß sichtbarer Strahlung ihren Widerstand ändern, können nach dem heutigen Stand der Technik mit hinreichend großer Empfindlichkeit hergestellt werden, um sie beispielsweise in Bildzerlegerrö-hren zu benutzen, damit das auf der Schicht erzeugte Bild mit den in der Fernsehtechnik bekannten Mitteln abgetastet und fernübertragen werde. In diesen Widerstandsschichten werden mit anderen Worten durch Bestrahlung mit im sichtbaren Bereich liegenden Wellenlängen hinreichend Elektronen ausgelöst, um Bildamplituden zu' liefern, die zwischen der Hell- und Dunkelgrenze genügende Halbtöne enthalten. Die wesentlich kurzwelligeren Röntgenstrahlen erzeugen zwar in der Widerstandsschicht ebenfalls Elektronen, Photo-und Comptonelektronen, aber ihre Anzahl ist so gering, daß sie in der halbdurchlässigen Schicht der B.ildzerlegerröhre . einen nur kleinen Photoeffekt hervorrufen, der für die technische Auswertung in einer Fernsehapparatur nieiht ausreicht.
  • Es ist zwar schon vorgeschlagen worden, die Dicke der Widerstandsschicht zu vergrößern, um damit die Anzahl der von den: Röntgenstrahlen erzeugten Elektronen zu vermehren, wodurch an der Signalplatte höhere Spannungswerte abgegriffen werden können, die in einer solchen Größenordnung liegen, daß sie die für den Bildaufbau wichtigen Zwischenwerte maximaler oder minimaler Leuchtstärke wiedergeben. Dieser Maßnahme ist jedoch durch die damit verbundene Verringerung der Bildpunktkapazität eine Grenze gesetzt. Die Halbleiterschicht bildet nämlich einendielektTischen Kon.densatorbelag zwischen der als Kondens,atorplatten anzusprechenden Signal- und Deckelektrode. Je. dicker diese Halbleiterschicht gewählt wird, um so geringer ist die Bildpunktkapazität. Die Herstellung dicker Widerstandsschichten ist aber auch mit rein technologischen Schwierigkeiten verbunden.
  • Der Photoeffekt von: Widerstandsschichten, die Röntgenstrahlen ausgesetzt werden sohlen, kann danach nur vergrößert werden, wenn es gelingt, die Anzahl der in dieser Schicht erzeugten Elektronen zu vermehren.
  • Der Erfindung liegt die Erkenntnis zugrunde, daß in jedem von Röntgenstrahlen durchsetzten Körper Photo- und Comptonelektronen mit einer genau definierten Reichweite erzeugt werden, die von der Wellenlänge der benutzten Röntgenstrahlung abhängt.
  • Die zur Empfindlichkeitssteigerung -benötigten Elektronen, die als Leitfähigketselektronen in der Widerstandsschicht anzusprechen sind, können gemäß der Erfindung dadurch vermehrt werden, daß für die Deckelektrode, die von der Röntgenstrahlung durchsetzt wird, eine Dicke gewählt wird, die mindestens der Reichweite der in ihr erzeugten Photo^ und Comptonelektronen entspricht. Ist die Schichtdicke kleiner als die Reichweite dieser Elektronen, so entfällt zur Erzeugung der Elektronen eine dieser Differenz entsprechende Schicht, ist sie größer als die Reichweite, so treten zwar nicht alle erzeugten Elektronen aus der Deckelektrode in die Widerstandsschicht ein. Der Verlust, der damit verbunden ist, ist aber wesentlich geringer als in dem vorhergehenden Fall. Das Bild der Funktion, die die Anzahl der erzeugten Elektronen in Abhängigkeit von der Dicke .der Schicht wiedergibt, zeigt einen steilem Anstieg bis zum Maximum (Elektronenreichweite gleich Dicke der Schicht) und einen sehr flachen Abfall, worin die Begründung dafür gegeben ist, die Dicke der Deckelektrode mindestens - gleich der Reichweite der erzeugten Elektronen zu wählen.
  • Da die Elektronenkonzentration in erster Näherung mit der dritten Potenz der Ordnungszahl seines Materials steigt, wird gemäß der Erfindung ein Stoff mit hoher Ordnungszahl-=für die Deckelektrode vorgeschlagen.
  • Eine weitere Steigerung der Photoelektronen konzentration ist dadurch möglich, daß die mit der Widerstandsschicht in Kontakt stehende Oberfläche der Deckelektrode aufgerauht wird, um einen leichteren übergang der Elektronen in die Widerstands- bzw. Halbleiterschicht zu ermöglichen.
  • Auch besteht die Möglichkeit, zwischen Deckelektroden und Widerstandsschicht eine die chemische Reaktion oder Diffusion zwischen diesen Schichten verhindernde Schutzschicht anzuordnen, -deren- Elektronenabsorption natürlich niedrig gehalten sein muß.
  • Widerstandsschichten, die mit den angegebenen Mitteln eine vergrößerte Photoelektronenkonzen-'trätion aufweisen, besitzen auch bei ihrer Bestrahlung mit Röntgenlicht eine so große relative Widerstandsänderung, daß sie als HaJbleiterschichten in Bildzerlegerröhren, verwendet werden können, die in der Lage sind, das auf der Halbleiterschicht unmittelbax erzeugte Röntgenschattenbild aufzufangen und es durch die üblichen Fernsehmittel weiterzubehandeln..
  • An Hand der Zeichnung wird die Erfindung erläutert.
  • Gemäß der schematischen Darstellung in Fig. i isst die .Deckelektrode. i den durch die eingezeichneten - Pfeile angedeuteten Röntgenstrahlen ausgesetzt, welche in die vor der Signalelektrode 2 liegendeHalbleiterschicht3 eindringen und das dem Röntgenschattenbild entsprechende Spannungsgebirge aufbauen, das durch die Signalelektrode über einen, Arbeitswiderstand abgeleitet wird. Die vor diesem Widerstand liegende, angedeutete Ableitung stellt die zum Bildverstärker führende Leitung dar.
  • In Fig. 2 ist der Halbleiterschicht 3 eine Deckelektrodenschicht i in einer solchen Dimensionierung vorgelagert, daß die erzeugten Elektronen, deren Reichweite die Pfeile andeuten, auch noch in der Grenzlage in die Halbleiterschicht eindringen können.
  • Der Fig.3 ist die Anordnung der Halbleiterschicht in einer Bildzerlegerröhre zu entnehmen, die Glas Röntgenschattenbild durch Röntgenstrahlen (eingez.eichnete Pfeile) empfängt. Auf der Innenwand der Röhre ist die Deckelektrode i aufgebracht, die die Halbleiterschicht 3 trägt. Die Ableitelektrode stellt in diesem Fall der abtastende Elektronenstrahl 2' dar, der im Gegensatz zu der in Fig. i gezeigten, kontinuierlichen Fläche das in der Halbleiterschicht erzeugte Spannungsgebirge von Bildpunkt zu Bildpunkt abtasten kann.

Claims (5)

  1. PATENTANSPRÜCHE: i. Röntgenstrahlenempfindli.che Widerstandsschicht, deren durchstrahlte Deckelektrode als Elektronenerzeuger dient, dadurch gekennzeichnet, daß zur Steigerung- ihrer relativen Widerstandsänderung die Deckelektrode eine Dicke aufweist, die mindestens gleich der Reichweite der in der Elektrode ausgelösten Elektronen ist..
  2. 2. Widerstandsschicht nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß die Deckelektrode aus einem Material hoher Ordnungszahl besteht, z. B. aus Wismut, Blei, Thallium, Gold, Platin, Iridium, Wolfram oder Tontal.
  3. 3. Widerstandsschicht nach Anspruch i oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die mit der Widerstandsschicht in Kontakt stehende Oberfläche der Deckelektrode zur Erleichterung des Überganges der in ihr erzeugten Elektronen in, die Widerstandsschicht aufgerauht ist. q..
  4. Widerstandsschicht nach Anspruch i, 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen der Deckelektrode und der Widerstandsschicht eine die Diffusion oder chemische Reaktion zwischen diesen Schichten verhindernde Schutzschicht liegt.
  5. 5. Widerstandsschicht nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch .ihre sinngemäße Anwendung auf Halbleiter--schichten von Bildzerlegerrähren für unmittelbar erzeugte Röntgenschattenbilder.
DEZ2874A 1952-08-14 1952-08-14 Roentgenstrahlenempfindliche Widerstandsschicht Expired DE927106C (de)

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DE927106C true DE927106C (de) 1955-04-28

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1267242B (de) * 1963-08-27 1968-05-02 Csf Bildaufnahmeroehre fuer den Infrarotbereich

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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DE1267242B (de) * 1963-08-27 1968-05-02 Csf Bildaufnahmeroehre fuer den Infrarotbereich

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