DE887909C - Leuchtschirm - Google Patents

Leuchtschirm

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DE887909C
DE887909C DEM4253D DEM0004253D DE887909C DE 887909 C DE887909 C DE 887909C DE M4253 D DEM4253 D DE M4253D DE M0004253 D DEM0004253 D DE M0004253D DE 887909 C DE887909 C DE 887909C
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DE
Germany
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screen
luminescent screen
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luminescent
flat
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Expired
Application number
DEM4253D
Other languages
English (en)
Inventor
Hansheinrich Dr-Ing Verse
Helmut Dr Phil Habil Witte
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
CHF Mueller AG
Original Assignee
CHF Mueller AG
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Publication date
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Classifications

    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K4/00Conversion screens for the conversion of the spatial distribution of X-rays or particle radiation into visible images, e.g. fluoroscopic screens

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

  • Leuchtschirm Die röntgenographische Durchleuchtung wird bisher unter Verwendung von ebenen Leuchtschirmen durchgeführt. Hierbei treten jedoch häufig Schwierigkeiten dadurch auf, daß man infolge der Außenmaße der normalen Leuchtschirme nicht nahe genug an bestimmte Stellen, die einer besonderen Untersuchung unterzogen werden sollen, herankommen kann. Dies gilt sowohl für die medizinische als auch für die Materialuntersuchung. Bei der letzteren ist die Heranbringung des Schirmes an die auf das Vorkommen von Fehlern besonders interessierende Stelle aus Gründen der Fehlererkennbarkeit bei der Untersuchung auf kleine Fehlerstellen unbedingt notwendig. Dieser Mangel zeigt sich in großem Maße. bei der Durchleuchtung komplizierter Werkstücke, wie z. B. Motorengehäuse. Man ist daher bei solchen Untersuchungen dazu übergegangen. Leuchtschirme kleinerer Abmessungen, beispielsweise 6 X 6 zu verwenden. Diese Maßnahme aber hat mehrere Nachteile zur Folge, die einerseits darin bestehen, daß die Übersichtlichkeit infolge des außerordentlich, eingeengten Gesichtsfeldes leidet und damit erfahrungsgemäß die Feststellung' der Fehler .erschwert, andererseits die Untersuchungsgeschwindigkeit wesentlich verringert wird. Wenn nämlich das Betrachtungsfeld klein ist, so durchlaufen die sich auf dem Schirm abzeichnenden Fehler das Bildfeld schnell und können in manchen Fällen leicht übersehen werden, oder der Prüfer ist, um sich genauer zu überzeugen, gezwungen, die Bewegung des Werkstückes anzuhalten und umzukehren.
  • Es ist bekannt, biegsame Schichten für Röntgenaufnahmen anzuwenden, die sich dem Untersuchungsobjekt anschmiegen. Diese photographischen Schichten werden erst während der Untersuchung so gebogen, daß sie dem Objekt angepaßt werden. Hierbei werden an die mechanischen Eigenschaften des Schichtträgers sehr große Anforderungen gestellt, die im Falle der nur einmal benutzten photographischen Schicht vielleicht erfüllbar sind, nicht dagegen für einen häufig gebrauchten Leuchtschirm.
  • Ferner ist es bekannt, einen Leuchtschirm derart in einen biegsamen Rahmen zu spannen, daß eine gewisse Anpassung an das zu durchleuchtende Objekt möglich ist. Auch bei diesem. Verfahren, das sich in der Praxis nicht eingeführt hat, werden durch das ständig neue Einstellen des Leuchtschirmes durch Biegen des Rahmens an die Haltbarkeit übermäßig .große Anforderungen gestellt. Auch dieEinfachheit undBequ@emlichkeit derHandhabung lassen sehr zu wünschen übrig.
  • Durch die vorliegende Erfindung werden die geschilderten Nachteile beseitigt. Sie betrifft einen Leuchtschirm für die röntgenographische Durchleuchtung, insbesondere zur Grobstrukturuntersuchung von Werkstücken und besteht darin, daß der Leuchtschirm eine nicht ebene, insbesondere dem zu durchleuchtenden Gegenstande mehr oder weniger angepaßte Form hat.
  • Durch die schematischen Abbildungen wird die Erfindung an Hand der Untersuchung von Werkstücken näher erläutert.
  • In Abb. i wird das zu untersuchende Werkstück i von den Röntgenstrahlen der Strahlenquelle 2 durchleuchtet und das Bild der durchdringenden Strahlung auf dem . Leuchtschirm 3 sichtbar gemacht. Erfindungsgemäß ist dieser Leuchtschirm nicht eben, sondern. .gekrümmt und in diesem Falle der Form bestimmter Teile des Werkstückes angepaßt, so daß ein Teil des Leuchtschirmes, und zwar in diesem Falle der Teil 4, sehr nahe an die Oberfläche des Werkzeuges herangebracht werden kann. Der Schirm hat die Form eines abgerundeten Kegelstumpfes.
  • Im Gegensatz zu den bereits vorgeschlagenen Leuchtschirmen kleiner Bildfläche hat der erfindungsgemäße Schirm den Vorteil, da.ß sich eine Fehlstelle 5, beispielsweise bei einer Drehung des Werkzeuges i um die Achse 6 in Pfeilrichtung, auf dem Schirm 3 nicht erst an der Stelle 4 abzeichnet, sondern bereits an der Stelle 7 auf dem Schirm sichtbar wird und in das Blickfeld des Beobachters kommt. Hierbei ist es unerheblich, daß die Fehlererkennbarkeit an der Stelle 7 schlechter als an der Stelle 4 ist. -Es ist aber der Vorteil vorhanden, daß der Beobachter, dessen Gesichtswinkel sowieso größer als die kleine Fläche der Stelle 4 ist, bereits das Ankommen einer Fehlerstelle -bemerkt und dadurch gegebenenfalls die Drehung oder anderweitige Bewegung -hemmen kann, um die -Fehlerstelle 5 an der eigentlichen Beobachtungsstelle genauer untersuchen oder eine Markierungsvorrichtung, z. B. eine Spritzpistole rechtzeitig betätigen zu können. Es ist dabei noch zu bemerken, daß das Werkstück bei der Drehbewegung in dem vorliegenden Falle auch noch einer horizontalen Verschiebung unterliegen muß, damit nicht in der nächsten Bewegungsphase beispielsweise der vorspringende Teil 8 an den Leuchtschirm 3 anstößt.
  • Ein anderes Beispiel zeigt Abb.2. Die entsprechenden Teile sind mit den entsprechenden Ziffern versehen. Das Werkstück i führt hier eine senkrecht zur Zeichenebene verlaufende Bewegung aus. Es. weist mehrere Nuten 9 auf, deren Wandungsteile nacheinander röntgenographisch untersucht-werden sollen. Hier ist gemäß der Erfindung der Leuchtschirm 3 ebenfalls nicht eben, sondern in Form einer U- oder topfförmigen Fläche ausge= bildet. Wie man aus dem gerade eingezeichneten Strahlenkegel io ersieht, wird die linke Fläche einer dieser Nuten untersucht, wobei es von besonderem Interesse ist, auch den Übergang von dieser zur nächsten Fläche an der Ecke i i mit zu erfassen, ein Vorgehen, das bei ebenen Schirmen nicht möglich ist. Bei diesem Beispiel wird also der Schirm der Werkstückform vollkommen angepaßt und damit eine einfachere Untersuchung von Aussparungen im Werkstück ermöglicht als bisher.
  • Je nach der Form des Werkstückes und den günstigsten Untersuchungsbedingungen kann so der Leuchtschirm gemäß der Erfindung entweder aus einer zusammenhängenden, gekrümmten oder aus mehreren Teilen zusammengesetzten Flächen bestehen, wobei hier die einzelnen Teile eben oder ebenfalls gekrümmt sein können. Eine derartige Maßnahme kann auch aus Herstellungsgründen des Schirmes vorteilhaft sein.
  • Bei Röntgenunüersuchungsanlagen mit Leuchtschirm und Beobachtungsfenster haben die letzteren an dieser Stelle gleichzeitig den Strahlenschutz zu übernehmen und sind, der vorhandenen Strahlenenergie entsprechend, dick zu machen. Sie können in üblicher Weise eben ausgebildet werden. Wenn es sich aber um genauere Untersuchungen und im besonderen um Betrachtungen der Fehlerstellen mittels Winkelspiegeln oder optischer Vergrößerungsgeräte handelt, oder wenn photographische Aufnahmen des Leuchtschirmbildes gemacht werden sollen, ist es zweckmäßiger, wenn das Betrachtungsfenster nicht wie im üblichen Sinne eben ausgebildet wird, sondern der jeweils benutzten Schirmform mehr oder weniger angepaßt wird. Sofern das Betrachtungsfenster die gleiche Form wie der Schirm hat, ist es besonders vorteilhaft, die Leuchtmasse direkt auf dem Betrachtungsfenster anzubringen. Natürlich könnte man bei Benutzung von Winkelspiegeln auch das Bestrahlungsfenster weglassen, da der Strahlenschutz anderweitig erreicht werden kann.
  • Die Erfindung ist, wie bereits erwähnt, nicht auf die beschriebenen Beispiele, d. h. auf Zwecke der Materialprüfung beschränkt, sie läßt sich vielmehr auch bei medizinischen Geräten, z. B. bei der Untersuchung von Körperhöhlen, anwenden.

Claims (1)

  1. PATENTANSPRÜCHE: i. Leuchtschirm für röntgenographische Durchleuchtung, insbesondere zur Grobstrukturuntersuchung von konkaven Werkstücken, dadurch gekennzeichnet, daß der Schirm starr, aber nicht eben ist, wobei seine Oberfläche der Oberfläche des Werkstückes angepaßt ist. a. Leuchtschirm für röntgenographische Durchleuchtung nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß er mit einem strahlensicheren, eben ausgebildeten Betrachtungsfenster baulich vereinigt ist. 3. Leuchtschirm für röntgenographische Durchleuchtung nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß er mit einem strahlensicheren Fenster verbunden ist, welches der Leuchtschirmform mehr oder weniger angepaßt ist. q.. Leuchtschirm für röntgenographische Durchleuchtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Schirm direkt auf das passend geformte Betrachtungsfenster aufgebracht ist.
DEM4253D 1941-12-23 1941-12-23 Leuchtschirm Expired DE887909C (de)

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DEM4253D DE887909C (de) 1941-12-23 1941-12-23 Leuchtschirm

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DEM4253D DE887909C (de) 1941-12-23 1941-12-23 Leuchtschirm

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DE887909C true DE887909C (de) 1953-08-27

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DEM4253D Expired DE887909C (de) 1941-12-23 1941-12-23 Leuchtschirm

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