DE8605799U1 - Vorrichtung zum Vereinzeln von IC's - Google Patents
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Description
Vorrichtung zum Vereinzeln von ICs
Die vorliegende Neuerung bezieht sich auf eine Vorrichtung zum automatischen Vereinzeln von insbesondere aus sogenannten
IC - Stangen herausgleitenden elektrischen Bauteilen, wie ICs (SMD - Bauteile ). Im besonderen ist die Vorrichtung
nach der Erfindung in Verbindung mit Prüfautomaten für vorgenannte Bauteile bestimmt. ICs und andere SMD - Bauteile
werden im allgemeinen in mehr oder weniger langen, in der Breite der Form der Bauteile angepaßten IC-Stangen transportiert
und aufbewahrt.
Vor dem Einbau dieser Bauteile müssen diese im allgemeinen genau geprüft werden, um in komplexen Schaltungen nicht
durch den Einbau eines mangelhaften ICs eine in ihrer Gesamtheit unbrauchbare komplexe Schaltung zu fertigen und damit
ein mangelhaftes Gerät herzustellen.
Zum Prüfen derartiger Bauteile, insbesondere vor dem Einbau, sind Prüfeinrichtungen, sogenannte Handler, bekannt geworden,
die vollautomatisch arbeiten, bei denen die einzelnen Bauelemente aus einem Magazin, in das sie vorher aus den IC Stangen
eingefüllt wurden, oder aber auch unmittelbar aus den einzelnen IC einzeln automatisch der Prüfeinrichtung
zugegführt und dann je nach dem Prüfergebnis in unterschiedlichem Magazinen oder aber auch IC - Stangen abgelegt.
Diese Prufeinrichtungen arbeiten im allgemeinen vollautomatisch
und mit hohen Taktzeiten.
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Es besteht abeC auch Bedarf, insbesondere bei kleineren
Elektronikfirmen und vorzugsweise auch in Verbindung mit dem Wareneingang in den einzelnen Firmen, kleinere Stückzahlen
derartiger Bauelemente beim Eingang zu prüfen. Hierzu existieren Prüfeinrichtungen, die einen Prüfsockel aufweisen,
auf bzw. in den durch eine Bedienungsperson die einzelnen Bauelemente einzeln nacheinandereinaesetzt werden. Die Bedienungsperson
muß dann die Bauelemente
je nach dem Prüfergebnis in verschiedene Behälter und anschließend
in entsprechende IC - Stangen ablegen.
Diese Prüfung ist äußerst zeitraubend und wegen des hohen Personalkostenanteils auch unverhältnismäßig teuer.
Es besteht deshalb Bedarf an einer mechanisch arbeitenden Prüfeinrichtung bei der mit im Vergleich zur einfachen Handarbeit
relativ größeren Taktzeiten, aber im Vergleich zu den vollautomatisch arbeitenden Prüfautomaten geringeren
Taktzeiten gearbeitet wird.
Aufgabe der Erfindung ist es eine derartige Vorrichtung anzugeben, die im besonderen die aus den IC - Stangen austretende
Bauelementen zum Prüfsockel führt, sie dabei so vereinzelt,
daß jeweils ein und nur ein Bauelement mit dem Prüfsockel in Berührung kommt und die dann über eine entsprechende
Mechanik je nach dem Prüfergebnis, das die Bedienungsperson
ablesen kann, die Ablage des geprüften Bauelementes in einer IC - Stange für gute Bauelemente oder einer ie
- Stange für schlechte oder unbrauchbare Bauelemente unmittelbar zuläßt*
Diese Aufgabe wird mit einer Prüfeinrichtung mit den Merkmalen des Schutzanspruches 1 gelöst. Vorteilhafte Ausgestaltungen
ergeben sich aus den Unteransprüchen.
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Die Vorrichtung zum Vereinzeln von elektrischen Bauteilen gemäß vorausgegangener Definition weist eins Gleitbahn auf,
die schräg nach unter verläuft und die der Breite der Bauelemente entsprechend angepaßt ist. Im mittleren Bereich ist
die für das Prüfen der Bauelemente bestimmte Fassung vorgesehen.
Oberhalb der Gleitbahn sind insgesamt vier in den Gleitweg greifende bzw. die Bauelemente im Gleitweg beeinfiußende
Hebel vorgesehen, die gegenseitig in einem Abstand angeordnet sind, der in etwa gleich oder geringfügig größer als die
Länge der Bauelemente in der Gleitrichtung gesehen ist. Die einzelnen Hebel werden über einen vier Nocken aufweisenden
einzigen Nockenantrieb betätigt, wobei die Nocken so engeordnet sind, daß sowohl die ersten zwei Hebel als auch
die beiden letzten Hebel wechselweise wirksam werden, um ein schrittweises Weitergleiten des unter ihnen bzw. an
ihnen anliegenden Bauelementes zu ermöglichen. Dies hat zur Folge, daß bei einer Folge von in der Gleitbahn hinabgleitenden
Bauelemente zunächst das vorderste Bauelement an dem Hebel 2 gehalten wird, wodurch das zweite Bauelement
unter den Hebel 1 gelangt. Nun wechselt die Wirkung der beiden Hebel und der erste Hebel hält das zweite Bauelement
fest, während der zweite Hebel das erste frei gibt. Dies kann dabei in den Bereich des Prüfsockels unter den angehobenen
Hebel 3 gelangen, wo es durch den Hebel 3 nach unten gedrückt wird, so daß eine gute Kontaktverbindung zwischen
den Anschlußkontakten des Prüfsockels und den Anschlußfahnen ftm Bauelemente selbst hergestellt wird.
Das Prüfergebnis lautet dann brauchbar oder nichtbrauchbar und der Hebel 3 gibt das Bauelement frei und nach Anheben
auch des Hebels 4 gleitet das Bauelement unter dem Hebel 4 nach unten. Nunmehr wird das zunächst vom Hebel 2 festgehaltene
zweite Bauelement freigegeben und so fort.
Neuerungsgemäß sind im unteren Bereich der Gleiteinheit zwei wahlweise mit der Gleitbahn verbindbare Ausgangsgleitbahnen,
die ihrerseits wieder zu IC - Stangen zur Aufnahme der Bauelemente führen, vorgesehen, wobei die brauchbaren
Bauelemente in eine der IC - Stangen kommen und die unbrauchbaren nach Verschieben der Ausgangsgleitbahnen in die andere
IC - Stange.
Fntsprechend dem bevorzugten Arwsndungszwsck wird hierbei
der Nockenantrieb über eine Kurbel angetrieben, und zwar so, daß ein PrüfVorgang jeweils bei einer Umdrehung des
Nockenantriebs durchgeführt werden kann. Dabei empfiehlt es sich auch gemäß einer anderen Weiterbildung, die Verschiebung
der Ausgangsgleitbahn von Hand durchzuführen, indem beispielsweise zwei parallel angeordnete Ausgangsgleitbahnen
vorgesehen werden, von denen die für die brauchbaren ICs immer fluchtend mit der Arbeitsgleitbahn liegt. Die Einheit
der beiden gemeinsamen Gleitbahnen kann entgegen der Kraft einer Feder so verschoben werdens daß beim Auftreten eines
unbrauchbaren ICs die andere Ausgangsgleitbahn in Flucht mit der Arbeitsgleitbahn gebracht werden kann» Nach Durchtritt
des entsprechenden ICs wird der die Verschiebung bewirkende Hebel losgelassen und der Zustand, der für d'e
Weiterleitung brauchbarer ICs vorgesehen ist, stellt sich automatisch wieder her.
Bei der Ausbildung der einzelnen in die Gleitbahn greifenden nockenbetriebenen Hebel empfiehlt es sich, den ersten Hebel
als Tasthebel auszubilden, der über einen entsprechend elastischen Kopf das IC, das sich bei eingeschwenktem Hebel
unter ihm befindet, leicht gegen den Boden der Gleitbahn drückt, so daß ein Weitergleiten ausgeschlossen wird. Die
Hebel 2 und 4 werden vorzugsweise mit - gegebenenfalls in
ihrer wirksamen Lage verstellbar in den Gleitweg hineinragenden Kantleisten versehen, gegen die die einzelnen IC dann
beim Gleiten anstoßen, wenn der Hebel in die Gleitbahn eingeschwenkt ist und unter der sie durchgleiten können, wenn
der Hebel aus der Gleitbahn herausgeschwenkt ist.
Besondere Bedeutung kommt dem dritten Hebel zu, der das einzelne Bauelement in den Prüfsockel drückt. Dieser Hebel
wird gemäß einer anderen Weiterbildung des Erfindungsgedarkens vorzugsweise federnd gelagert und zwar insbesondere
so, daß ein gewisser voreinstellbarer Maximaldruck auf das Bauelement nicht überschritten werden kann. Umgekehrt muß
ein für die Kontaktgabe ausreichender Druck vorhanden sein, der entsprechend den Prüfbedingungen auch eine ganz bestimmte
Mindestgröße haben muß.
(K Einzelheiten einer Vorrichtung nach der Erfindung werden
im folgenden in Verbindung mit den Zeichnungen erläutert.
Dabei zeigen die Zeichnungen in
Fig. 1 eine schematische Seitenansicht und
Fig. 2 eine Draufsicht auf die für das Verständnis der Erfindung notwendigen Teile einer Vorrichtung zum
Vereinzeln von Bauelementen zum Zwecke des Prüfens.
Fig. 3 zeigt skizzenhaft eine mögliche Abwandlung Jer
Ausgangsgleitbahnen.
Wie schon erwähnt, sind nur die für das Verständnis der
Erfindung notwendigen Teile in der Zeichnung wiedergegeben. Konstruktive Details wie sie sowohl zum Einstellen der Neigung
der Gleitbahn als solche, zum Verstellen der Breite der Gleitbahn, zum Befestigen von IC-Stangen im Ein- und
Auslauf und insbesondere auch ! agerungen für Hebel und Nocken
sind aus Übersichtlichkeit-. . : sjen bewußt weggelassen. Die
Realisierung dieser für den Aufbau einer Vorrichtung nach der Erfindung sicher notwendigen aber für das Verständnis
der Erfindung überflüssigen Teile gehören zum Rüstzeug des entsprechenden Fachmannes.
Die Fig. 1 zeigt in einer schematischen Seitenansicht eine Vorrichtung
nach der Erfindung. Der Unterbau der Vorrichtung ist durch den Ständer 1 angedeutet, auf dem über ein Schwenkteil 2 der gesamte
Aufbau gehalten wird. Das Verschwenken ermöglicht die Einstellung der Neigung der Arbeitsgleitbahn der Vorrichtung.
Dabei ist die Gleitbahn auf einem Rahmenteil 3 angeordnet. Sie wird im wesentlichen aus zwei einen den Bauelementen in Höhe und
Breite angepaßten lichten Raum übergreifenden Führurv^sschienen
4 und 5 gebildet. Dabei sind die Führungsschienen 4 und 5 gegeneinander verschiebbar, so daß der lichte Abstand im Innern der Führungsschienen
den zu prüfenden Bauelementen entsprechend angepaßt werden kann.
Zum Zuführen der zu prüfenden ICs, die pauscha1 mit 6 bezeichnet
sind, wird auf der linken oberen Seite eine sogenannte IC - Stange
7 in die Gleitbahn, also zwischen den Führungsschienen 4 und 5 bis zu einer geeigneten Tiefe eingesteckt. Sie wird dort auf Grund
des guten Formschlusses gehalten.
Nach dem Einstecken gleiten die einzelnen IC in die Gleitbahn nach
unten. Im Zuge des Gleitbahnweges sind dann vier Hebel 8, 9, 10,
11 vorgesehen, die über einen Nockenantrieb 12 mit einzelnen Nocken 13, 14, 15, 16 von der Gleitbahn weg bzw. in die Gleitbahn hineinbewegt
werden können. Der Nockenantrieb wird von Hand über eine Kurbel 17 angetrieben.
Dabei sind die Nocken so gewählt, daß beim Beginn einer Umdrehung der Nocken 14 zunächst den Hebel 9 nach unten drückt, der an seiner
rechton Seite, wie gestrichelt angedeutet, eine nach unten weisende
Klappe aufweist. Dementsprechend können die Bauelemente 6 bis zu diesem Hebel gleiten. Beim Weiterdrehen senkt sich nun der Hebel
8, der als Tasthebel mit einer weichen Spitze ausgebildet ist, nach unten und halt das unter ihm befindliche Bauelement fest,
das zunächst an dem vom Hebel 9 gehaltenen Bauelement anlag. Gleichzeitig
hebt sich der Hebel 9 nach oben und das an diesem Hebel zunächst gehaltene Bauelement gleitet in den Bereich des Hebels
10, wo auch ein Prüf sockel 18 (vgl. Fig.1) vorgesehen is C. Hier senkt sich der Hebel 10, der federnd vorgespannt ist, was durch
die doppelt gestrichelte Linie in Fig. 2 zwischen Nocken 15 und
Hebel 10 angedeutet ist, und drückt das IC mit dem voreingestellten
Maximaldruck in den Prüfsockel. Der Hebel 11 hat an seiner linken
Seite eine in den Gleitweg reichende Anschlagkante, an der das unter dem Hebel 10 befindliche Bauteil zunächst zur Anlage kam.
Nach Überprüfung des Bauteils unter dem Hebel 10 gibt der Hebel
10 das Bauteil frei, das in diesem Moment noch durch den Hebel
11 in seiner Position, allerdings ohne Anpreßdruck gehalten wird. Es wird dab^i von einer im Prüfsockel vorhardenen - nicht gezeigten
ß - Druckfeder aus dem Prüfsockel nach oben gedrückt. Wenn das Bauteil
als brauchbar erkannt wurde, kann es nach Anheben des Hebels 11
in eine Ausgangsgieitbahn 19 gleiten, und von dieser unmittelbar in eine IC - Stange 20. Der Ausgangsgleitbahn 19 ist eine Ausgangsgleitbahn
21 parallel zugeordnet und bildet mit dieser eine bauliche Einheit. Sie können gemeinsam wie durch einen Pfeil angedeutet
so verschoben werden, daß die Ausgangsgleitbahn 19 nicht mehr mit der durch die Gleitschienen 4 und 5 gebildeten Arbeitsgleitbahnen
fluchtet, sondern die Ausgangsgleitbahn 21, die ihrerseits eine IC - Stange 22 hält.
Wenn beim Prüfungsergebnis das unter dem Hebel 10 im Prüfsockel befindliche Bauelement als unbrauchbar erkannt worOen war, wird
die Bedienungsperson das Weiterdrehen üer Kurbe. 17 kurz unterbrechen
und die Einheit der beiden Ausgangsgleitbahnen 19 und 21 mit einem - nicht dargestellten - Hebel in einer - ebenfalls nicht
dargestellten - Führung, wie vorstehend erläutert, verschieben, so daß das unbrauchbare Bauelement in die IC - Stange 22 gelangt.
Dabei ist die Lagerung der Ausgangsgleitbahnen so gewählt, daß die gezeichnete Stellung, in der die IC - Stange 20 mit .der Arbeitsgleitbahn fluchtet die Normalstßllung bildet und ein Fluchten
der IC - Stange 22 nur nach Verschieben entgegen der Federkraft gegeben ist.
der IC - Stange 22 nur nach Verschieben entgegen der Federkraft gegeben ist.
Diese Erläuterungen zeigen, daß konstruktiv eine Reihe von Abwandlungen
möglich ist. So kann beispielsweise an Stelle von zwei Gleitbahnen
auch eine Gleitweiche vorgesehen werden, beispielsweisε
auch dadurch, daß die beiden Ausgangsgleitbahnen übereinander angeordnet werden oder aber eine Gleitbahn über eine Zunge in zwei
Gleitbahnen übergeführt werden, wie in Fig. 3 angedeutet. Die dort schematisch gezeigte Ausgangsgleitbahn 24 verzweigt sich in die
Ausgangsgleitbahn 25 und 26, wobei bei nach unten geklappter Zunge 23 die Bauelemente von 24 nach 25 gelangen und bei nach oben geschwenkter
Zunge von 24 nach 26. Bei einer derartigen Konstruktion ist dabei nur dafür zu sorgen, daß die über die 2unge verlaufende
Gleitfläche keinerlei Unebenheiten aufweist, an der die Lötfahnen
anstoßen können.
Auch der Aufbau des Nockenantriebs zum Betätigen der Hebel kann auf verschiedene Weise realisiert werden. Insbesondere ist es nicht
notwendig, den Nockenantrieb seitlich anzordnen. Er könnte auch oberhalb verlaufen, wobei dann die Hebel nach Art von Stößel betätigt
werden müßten und bei dem dritten Hebel dann ein in seiner Federkraft einstellbares elastisches Zwischenglied anzuordnen wäre.
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Claims (8)
1. Vorrichtung zum Vereinzeln von insbesondere aus sogenannten IC - Stangen heraus^leitenden elektrischen Bauteilen, wie
ICs (SMD - Bauteile), insbesondere um die Bauteile positionsgerecht einem Prüfsockel einzeln zufuhren und dort kontaktieren
zu können, gekennzeichnet durch eine schräg verlaufende der Breite der Bauelemente angepaßte Gleitbahn (4, 5), in
deren mittlerem Bereich die für das Prüfen der Bauelemente bestimmte Fassung (18) vorgesehen ist, weiter gekennzeichnet
durch insgesamt vier in den Gleitweg greifende bzw. die Bauelemente im Gleitweg beeinflussende Hebel (8, 9, 10, 11)
in einem Abstand gleich oder geringfügig größer als die Länge eine- einzelnen Bauelementes (6) in Gleitrichtung gesehen,
ai'i alle von einem gemeinsamen Nockenantrieb (12) mit vier
unterschiedlich gestalteten Nocken (13, 14, 15, 16) in Richtung von und zum Gleitweg betätigt werden, von denen zumindest
der dritte oberhalb des Prüfsockels angeordnete Hebel (10)
als die Bauelemente nach unten drückender. Taster ausgebildet ist und wobei die ersten beiden und die letzten beiden Hebel
aufeinanderfolgend derart arbeiten, daß wenn der zweite bzw. vierte Hebel jeweils ein Bauelement freigibt, der erste bzw.
dritte das unter ihm befindliche Bauelement (6) festhält und umgekehrt und gekennzeichnet durch zwei wahlweise mit
der Gleitbahn verbindbare Ausgangsgleitbahnen.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein einstellbares Federglied vorgesehen ist, über das die
auf das Bauelement im Bereich des Prüfsockels durch den dritten Hebel (10) ausgeübte Anpreßkraft einstellbar ist.
·- ίο -
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß auch der erste Hebel (13) als Tasthebel ausgebildet ist,
der über eine weiche Spitze ein Bauelement durch Druck auf der Gleitbahn festhält.
4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß der zweite Hebel (14) und der vierte Hebel (16) seitliche
Anschlagkanten aufweisen, gegen die die einzelnen Bauelemente gleiten und bei eingeschwenktem Hebel gehalten werden.
5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet,
daß der Nockenantrieb (12) über eine Handkurbel (17) antreibbar ist.
6. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Ausgangsgleitbahnen parallel angeordnet
und einstückig derart ausgebildet sind, daß beim Verschieben der einen Ausgangsgleitbahn, die in Normallage fluchtend
zu der Gleitbahn der Vorrichtung verläuft, die andere entsprechend fluchtend zur Vorrichtungsgleitbahn zu liegen kommt.
7. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Einheit der beiden Ausgangsgleitbahnen eine über Federkraft
erzwingbare Normalstellung aufweist, aus der sie mit Hilfe eines Handhebels verschiebbar ist und in die sie nach
Freigabe wieder zurückkehrt.
8. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß d:.e Enden der Gleitbahnen zur Aufnahme
der Enden von IC - Stangen (?, 20, 21) ausgebildet sind, so daß die IC Stangen unter Formschluß gehalten werden.
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Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE8605799U DE8605799U1 (de) | 1986-03-03 | 1986-03-03 | Vorrichtung zum Vereinzeln von IC's |
DE19873706817 DE3706817A1 (de) | 1986-03-03 | 1987-03-03 | Vorrichtung zum vereinzeln von ic's |
US07/021,262 US4805779A (en) | 1986-03-03 | 1987-03-03 | Device for separation of integrated circuits |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE8605799U DE8605799U1 (de) | 1986-03-03 | 1986-03-03 | Vorrichtung zum Vereinzeln von IC's |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE8605799U1 true DE8605799U1 (de) | 1986-09-11 |
Family
ID=6792327
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE8605799U Expired DE8605799U1 (de) | 1986-03-03 | 1986-03-03 | Vorrichtung zum Vereinzeln von IC's |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4805779A (de) |
DE (1) | DE8605799U1 (de) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5348164A (en) * | 1993-04-13 | 1994-09-20 | Micron Semiconductor, Inc. | Method and apparatus for testing integrated circuits |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3701021A (en) * | 1970-11-27 | 1972-10-24 | Signetics Corp | Apparatus for testing circuit packages |
JPS5232274A (en) * | 1975-09-05 | 1977-03-11 | Kokusai Electric Co Ltd | Equipment to mount ic on measurement socket |
DE3119686A1 (de) * | 1981-05-18 | 1982-12-02 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Be- und entstueckautomat fuer bauelemente |
US4588092A (en) * | 1983-11-15 | 1986-05-13 | Automated Electronic Technology, Inc. | Integrated circuit handling and contact system |
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1986
- 1986-03-03 DE DE8605799U patent/DE8605799U1/de not_active Expired
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1987
- 1987-03-03 US US07/021,262 patent/US4805779A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4805779A (en) | 1989-02-21 |
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