DE8138143U1 - Vorrichtung zum pruefen einer elektronischen leiterplatte oder einer entsprechenden elektronischen baugruppe als pruefling - Google Patents
Vorrichtung zum pruefen einer elektronischen leiterplatte oder einer entsprechenden elektronischen baugruppe als prueflingInfo
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- DE8138143U1 DE8138143U1 DE19818138143 DE8138143U DE8138143U1 DE 8138143 U1 DE8138143 U1 DE 8138143U1 DE 19818138143 DE19818138143 DE 19818138143 DE 8138143 U DE8138143 U DE 8138143U DE 8138143 U1 DE8138143 U1 DE 8138143U1
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Description
Vorrichtung zum Prüfen einer elektronischen Leiterplatte oder einer entsprechenden elektronischen Baugruppe
als Prüfling
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Prüfen von in einem Muster angeordneten Meßpunkten einer in einem
Aufnahmeteil der Vorrichtung auswechselbar angeordnete elektronische Leiterplatte und einer entsprechenden
elektronischen Baugruppe als Prüfling mittels an einer Schablone entsprechend jenem Muster angebrachter Prüfstifte,
die jeweils mit einem Kontaktkopf einen Meßpunkt der Leiterplatte od. dgl. während des Prüf-Vorganges
unter Einfluß eines Strömungsmediums die Luft berühren und über eine Verdrahtung mit einer
Registrier- oder Meßeinrichtung verbindbar sind.
Prüfvorrichtungen dieser Art sind beispielsweise der
US-PS 3 757 219 zu entnehmen; die dort gezeigte Schablone ruht fest auf einem Rahmen unter einem ebenfalls rahmenartigen
Bund von Schraubenfedern in Abstand gehaltenen Aufnahmeteil für eine die Kontaktkopie dann in Abstand
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J-12S - 2 -
überspannenden Leiterplatte. Durch die Beaufschlagung
eines Druckschlauches mit Druckluft oder Flüssigkeit wird die Leiterplatte auf die Kontaktköpfe gedrückt
und so geprüft. Eine derartige Prüfvorrichtung ist den heutigen Anforderungen nicht mehr gewachsen, weshalb
man für eine andere Vorrichtung bereits vorgeschlagen hat, die Schablore in eine Vakuumkassette
zu integrieren, um eine bessere Automatisierung des Prüfprozesses zu erreichen. Nachteilig hierbei
blieb die unverhältnisnäßig aufwendige Lagerhaltung derartiger Vakuumkassetten, weshalb sich der Erfinder
das Ziel gesetzt hat, die eingangs erwähnte Vorrichtung weitergehend zu automatisieren und das
Problem einer teuren Lagerhaltung zu beseitigen.
Zur Lösung dieser Aufgabe führt, daß Schablone und Prüfling auswechselbar in dem gegenüber der Prüfvorrichtung
schwenkbaren deckelartigen Aufnahmeteil beidseits einer vakuumkammer angeordnet und mit
dieser bewegbar sind, wobei die Schablone in geschlossenem Zustand der Prüfvorrichtung mit verdrahteten
Kontaktstiften von zumindest einer in dieser festliegenden Kontaktplatten sowie die Vakuumkammer
mit einer diese evakuierenden Einrichtung in Verbindung stehen.
Dank dieser Maßgaben ist also die Vakuumkammer mit Schablone und Prüfling gemeinsam Teil des Vorrichtungsdeckels und können beide an diesem ausgewechselt werden,
so daß nicht mehr für jedes Muster eine gesonderte Vakuumkassette aufbewahrt werden muß.
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J-128 - 3 -
Mit dem gleichen Vorteil ist eine andere Prüfvorrichtung ausgestattet, bei der erfindungsgemäß Schablone und
Prüfling cuswechselbar in dem gegenüber der Prüfvorrichtung schwenkbaren deckelartigen Aufnahmeteil
beidseits einer Vakuumkammer angeordnet und mit dieser bewegbar sind, wobei unabhängig von der Lage des deckelartigen
Aufnahmeteils die Vakuumkammer mit einer sie evakuierenden Einrichtung in Verbindung steht und die
Schablone gleichzeitig mit den verdrahteten Kontaktstiften einer Kontaktplatte. Wenn hier von einer
Schablone gesprochen wird, so handelt es sich bei dieser um eine in einem Raster gelochte Trägerplatte für Prüfstifte,
welche entsprechend dem zu prüfenden Muster in die Schablone eingesteckt sind. Die Kontaktplatte
wiederum wird von einer identischen oder ähnlichen Trägerplatte gebildet, die bevorzugt insgesamt mit
federnden Kjntaktstiften besteckt ist; letztere sind
mit ihrem unteren Ende verdrahtet, während die federnden Kontaktköpfe bei Anlage der Schablone an diese den Strom
von den Verdrahtungsenden zur Schablone leiten.
Nach einem weiteren Merkmal der Erfindung ist der Aufnahmeteil an einem Bodenteil der Prüfvorrichtung angelenkt
und an dieser in Schüießlage gegen Kraftspeicher
durch Rastvorrichtungen gehalten, wobei bevorzugt als Kraftspeicher Gasfedarn eingesetzt werden.
Vorteilhafterweise ist die Kontaktplatte mittels Rastorganen lösbar am deckelartigen Aufnahmeteil festgelegt
und mit diesem bewegbar oder aber bei einem anderen Erfindungsgegenstand fest mit dem Bodenteil der Prüfvorrichtung
verbunden, wobei die Kontaktstifte nur in Schließlage Kontaktelementen der Schablone anliegen.
J-128 -A-
Sowohl bei der feststehenden Kontaktplatte als auch bei jener, welche mit dem deckelartigen Aufnahmeteil
schwenkbar ist umgibt die Kontaktplatte ein Rahmen, der entweder an dem Bodenteil festsitzt oder zwischen
Führungsstiften bewegt zu werden vermag.
Als besonders günstig hat es sich erwiesen, daß
als Rastorgane zwischen Bodenteil einerseits und Aufnahmeteil anderseits und/oder zwischen diesem einerseits
und der Kontaktplatte anderseits Hakenelemente des einen Teiles dienen, die gegen Kraftspeicher aus
einem ösenartigen Gegenglied des jeweils anderen Teiles führbar sind und zwar über Betätigungsknöpfe,
die vo. der Außenseite der Prüfvorrichtung her greifbar sind. Dank dieser Hakeneiemente ist es somit möglich,
den Aufnahmeteil in seiner unteren Prüfstellung zu halten oder aber im Falle des am Aufnahmeteil festliegenden
Rahmens für die Kontaktplatte den Zugriff zu dieser zu ermöglichen. Bei letztgenannter Ausführungsform
ist der Prüfvorgang unabhängig von der Lage des Aufnahmeteils gegenüber dem Bodenteil durchführbar.
Ist die Kontaktplatte mit ihrem Rahmen an der Bodenplatte oder dem Bodenteil nicht befestigt, so ist sie daran angelenkt,
wobei bevorzugt die Achse ihres Gelenkes auch in die Achse der Scharniere zwischen Aufnahme- und Bodenteil
fällt oder zuminest zu ihr parallel verläuft. Diese Maßgabe ermöglicht es, den gemeinsamen Schwenkvorgang
von Aufnahmeteil oder Vakuumkassette und Kontaktplatte problemlos durchzuführen.
- 5 - I
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Weitere Vorteile, Merkmale und Einzelheiten der Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung
bevorzugter Ausführungsbeispiele sowie anhand de^ Zeichnung; diese zeigt in:
Fig. 1: die Draufsicht auf den Bodenteil einer Prüfvorrichtung
für bestückte Leiterplatten, elektrische Baugruppen od. dgl. mit Kontaktstiften;
Fig. 2: die teilweise gebrochene Seitenansicht der Fig. 1 ;
Fig. 3: fcinen vergrößerten Detailschnitt aus Fig. 1
nach deren Linie III - III;
Fig. 4: eine der Fig. 1 entsprechende Wiedergabe
einer anderen Ausführungsform, dargestellt in zwei an der Linie IV zusammenhängenden
Figurenteilen 4 und 4.;
Fig. 5: einen Teil der Frontansicht zu Fig. 4.
An einer Bodenplatte 1 einer Prüfvorrichtung 2 sind entlang den Seitenkanten 3 Seitenwangen 4 mit Scharnierlöchern
5 nahe des hinteren Wangenendes 6 angebracht. Eine Frontwand ist mit 7 bezeichnet.
Außerdem erkennt man in Fig. 1 in einem Abstand a von der hinteren Plattenkante 8 einen mit Innengewindeschrauben
9 festgelegten Aufsatzrahmen 10, der eine Lochplatte 11 als Träger für Kontaktstifte 12 umgibt.
Diese sind in Bohrungen 13 der Trägerplatte 11
J-128 ' ' ' - 6 -
eingesetzt und unterhalb der Bohrungen 12 in einer in der Zeichnung übersichtlichkeitshalber vernachlässigten
Weise verdrahtet sowie von dort aus mit einem nicht gezeigten Prüfpult verbunden.
An einer der Seitenwangen 4 ist ein klotzartiger Ansatz 15 mit einem Rohrknie 16 zu erkennen, das einerseits
bei 17 in der Seitenwange 4 und anderseits in einer oberen Mündung 18 endet, die von einem
Dichtring 19 vom Durchmesser d (z. B. 18 mm} umgeben
ist. Dieses Rohrknie 16 ist der Vakuumansch!"ß für eine Vakuumkasnette 20, die mit Scharnierlasch^n 21
und Achsbolzen 22 an jene Scharnierlöcher 5 der Seitenwangen 4 angeschlossen ist und bei Verschwenken
in Pfeilrichtung ζ durch seitliche Gasfedern 23 geführt und stufenlos gehalten wird.
Nahe der Frontwand 7 der Bodenplatte 1 sind Klinkengesperre 25 vorgesehen, die über Schraublöchern 26
der Bodenplatte 1 festgelegt und deren Sperrhaken gegen Kraftspeicher 28 durch von der Frontwand 7
abragende Handgriffe 29 bewegbar sind.
In diese Klinkengesperre 25 rastet bei geschlossener Prüfvorrichtung 2 jeweils ein Rastjoch 30 jener
Vakuumkassette 20 ein, deren Vakuumkammer 31 dann über einen nicht erkennbaren Vakuumstutzen mit dem
Rohrknie 16 verbunden ist.
Nach dem Öffnen der Prüfvorrichtung 2 durch Verschieben
der Sperrhaken 27 in Pfeilrichtung y ist der Innenraum 32 der Prüfvorrichtung 2 und damit auch
eine — in eine Vertiefung 33 der Kassetteninnenseite 34 eingesetzte — Schablone 35 zugänglich.
j«, 128 ·· ·· .». . · .j j υ , 11
Letztere liegt in der Vertiefung 33 einer Dichtung 36 an
und ist ihrerseits als gelochte Trägerplatte für nicht
wiedergegebene Prüfstifte ausgebildet sowie mit einer
Steckeraufnahme 37 für Stecker 38 ausgerüstet. Diese :
und ist ihrerseits als gelochte Trägerplatte für nicht
wiedergegebene Prüfstifte ausgebildet sowie mit einer
Steckeraufnahme 37 für Stecker 38 ausgerüstet. Diese :
stellen in geschlossenem Zustand der Prüfvorrichtung |,
2 den Kontakt mit den unteren Kontaktstiften 12 her. f
I Die in Bohrungen der Schablone 35 nach dem Muster einer ·?
zu prüfenden Schaltplatte AO steckenden Prüfstifte lie- |
gen einerseits jener Schaltplatte AO — dem in eine fi
obere Mulde 41 der Vakuumkassette 20 eingelegten Prüf- |
ling — an und werden anderseits über jene Steckerauf- s
nähme 37 mit Prüfstrom beaufschlagt. Mit dem Schließen |
der Prüfvorrichtung 2 wird das Prüfen des Prüflings 40 S
eingeleitet, an einem nicht wiedergegebenen Signalpult J,
1 werden mögliche Prüfdefekte angezeigt. f
Bei der Ausführung 2_ nach Fig. A,5 ist der Aufsatz-
3.
rahmen 10 für die unteren Kontaktstifte 12 durch Scharnier
45 an Lagerböcken 46 der Bodenplatte 1 angelenkt
und zusätzlich durch Stifte 47 geführt; der Aufsatzrahmen 10 kann durch Schnappriegel 50 an Tragjochen 51 ■' der Vakuumkassette 20 festgelegt und mit ihr bewegt
werden. Durch Betätigung von seitlich in Lagerböcken 52
ruhenden Druckorganen 53 über Griffe 5A an den Seitenwangen A wird ein Hebelarm 55 des Schnappriegels 50
beaufschlagt und dieser um seine Achse 56 in Pfeilrichtung χ geführt, bis der Aufsatzrahmen 10 von der
Vakuumkassette 20 freigesetzt ist. Ein jenen Schnapp- : riegel 50 in seine in Fig. A gezeigte Raststellung
zurückführender Kraftspeicher ist nicht deutlich erkennbar. Ein Kraftspeicher A9 umgibt einen Schaft des
Druckorgans 53, um dieses aus seiner Drucklage zurückzustellen .
und zusätzlich durch Stifte 47 geführt; der Aufsatzrahmen 10 kann durch Schnappriegel 50 an Tragjochen 51 ■' der Vakuumkassette 20 festgelegt und mit ihr bewegt
werden. Durch Betätigung von seitlich in Lagerböcken 52
ruhenden Druckorganen 53 über Griffe 5A an den Seitenwangen A wird ein Hebelarm 55 des Schnappriegels 50
beaufschlagt und dieser um seine Achse 56 in Pfeilrichtung χ geführt, bis der Aufsatzrahmen 10 von der
Vakuumkassette 20 freigesetzt ist. Ein jenen Schnapp- : riegel 50 in seine in Fig. A gezeigte Raststellung
zurückführender Kraftspeicher ist nicht deutlich erkennbar. Ein Kraftspeicher A9 umgibt einen Schaft des
Druckorgans 53, um dieses aus seiner Drucklage zurückzustellen .
J-128 - 8 -
Der Vakuumanschluß 16 ist hier zwischen den Scharnieren
45 angeordnet und bleibt auch bei geöffneter Prüfvorrichtung 2_ an deren Vakuumkammer 31 angeschlossen.
Diese Ausführung 2& erlaubt beispielsweise das nachträgliche
Verdrahten der Kontaktstifte 12 bei hochgehobenem Aufsatzrahmen 10 sowie beaufschlagter Vakuumkammer 31.
Claims (12)
- PATENTANWALT DIPL.-ING. HIEBSCH ■ D - 77 SINGEN, dena.Z. J-128SCHÜTZANSPRÜCHEu) Vorrichtung zum Prüfen von in einem Muster angeordneten ^ Meßpunkten einer in einem Aufnahmeteil der Vorrichtung auswechselbar angeordneten elektronischen Leiterplatte oder einer entsprechenden elektronischen Baugruppe als Prüfling mittels an einer Schablone entsprechend jenem Muster angebrachter Prüfstifte, die jeweils mit einem Kontaktkopf einen Meßpunkt der Leiterplatte od. dgl. während des Prüfvorganges unter Einfluß eines Strömungsmediums wie Luft berühren und über eine Verdrahtung mit einer Registrier- oder Meßeinrichtung verbindbar sin'J. fdadurch gekennzeichnet,daß Schablone (35) und Prüfling (AO) auswechselbar in dem gegenüber der Prüfvorrichtung (2) schwenkbaren deckelartigen Aufnahmeteil (20) beidseits einer Vakuumkammer (31) angeordnet und mit dieser bewegbar sind, wobei die Schablone in geschlossenem Zustand der Prüfvorrichtung mit verdrahteten Kontaktstiften (12) von zumindest einer in dieser festliegenden Kontakt- ! platte (11) sowie die Vakuumkammer mit eine dieseevakuierenden Einrichtung in Verbindung stehen.
- 2. Vorrichtung zum Prüfen von in einem Muster angeordneten Meßpunkten einer in einem Aufnahmeteil der Vorrichtung auswechselbar angeordneten elektronischen Leiterplatte oder einer entsprechenden elektronischen Baugruppe als Prüfling mittels an einer Schablone entsprechend jenem- A 2 -J-128 - A 2 -Muster angebrachter Prüfstifte, die jeweils mit einem Kontaktkopf einen Meßpunkt der Leiterplatte od. dgl. während des Prüfvorganges unter Einfluß eines Strömungsmediums wie Luft berühren und über eine Verdrahtung mit einer Registrier- oder Meßeinrichtung verbindbar sind, dadurch gekennzeichnet, daß Schablone (35) und Prüfling (AO) auswechselbar in dem gegenüber der Prüfvorrichtung (2 ) schwenkbaren deckelartigen Auf-Clnahmeteil (20) beidseits einer Vakuumkammer (31) angeordnet und mit dieser bewegbar sind, wobei unabhängig von der Lage des Aufnahmeteiles die Vakuumkammer mit einer sie evakuierenden Einrichtung und die Schablone mit den verdrahteten Kontaktstiften (12) einer Kontaktplatte (11) in Verbindung steht.
- 3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Aufnahmeteil (20) an einem Bodenteil (1) der Prüfvorrichtung (2, 2 ) angelenkt und am Bodenteil in Schließlage gegen Kraftspeicher (23) durch Rastvorrichtungen (25) gehalten ist.
- 4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß als Kraftspeicher seitlich des Aufnahmeteiles (20) C-asfedern (23) vorgesehen sind.
- 5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Schablone (35) mit von ihrer Fläche abstehenden Kontaktelementen (37, 38) versehen ist, welche zumindest in Prüflage den Kontaktstiften (12) der Kontaktplatte (11) aufliegen.A3-• · I• I Iti t iJ-128 - A 3 -
- 6. Vorrichtung nach wenigstens einem der Ansprüche 2 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Kontaktplatte (11) mittels Rastorganen (50) lösbar am deckelartigen Aufnahmeteil (20) festgelegt und mit diesem oewegbar ist.
- 7. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Kontaktplatte (11) fest mit dem Bodenteil (1) der Prüfvorrichtung (2) verbunden und ihre Kontaktstifte (12) in Schließlage Kontaktelemeiiten (37, 38) der Schablone (35) anliegen.
- 8. Vorrichtung nach Anspruch 6 oder 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Kontaktplatte '11) in einem Rahmen (10) sitzt, der an Führungsstiften (47) lagert oder mit dem Bodenteil (1) der Prüfvorrichtung (2) verschraubt ist.
- 9. Vorrichtung nach wenigstens einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß als Rastorgan zwischen Bodenteil (1) einerseits sowie Aufnahmeteil (20) anderseits und/oder zwischen diesem einerseits sowie der Kontaktplatte (11) anderseits Hakenelemente (27 bzw. 50) des einen Teils (1 bzw. 20) dienen, die gegen Kraftspeicher (28) aus einem ösenartigen Gegenglied (3o bzw. 51) des jeweils anderen Teils (11 bzw. 20)führbar sind.
- 10. Vorrichtung nach wenigstens einem der Ansprüche 2 bis 6 oder 8 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß der Rahmen (10) der Kontaktplatte (11) am Bodenteil (1) angelenkt ist.-AA-ill! M · 4 * «« ·• t · * « HX *• t ft t t » · t * * (.4 t t *J-128 -Ai
- 11, Vorrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, Jj daß die Achse des Gelenkes (46) koaxial mit oder parallel zu der Achse (22) von Scharnieren verläuft, | welche das Aufnahmeteil (20) mit dem Bodenteil (1) verbinden.
- 12. Vorrichtung nach wenigstens einem der Ansprüche bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß der Vakuumanschluß (18) im Bereich der Scharniere (46) vorgesehen und unabhängig von der Schwenkbewegung des Aufnahmeteils (20) einen daran vorgesehenen Anschlußteil anliegt.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19818138143 DE8138143U1 (de) | 1981-12-30 | 1981-12-30 | Vorrichtung zum pruefen einer elektronischen leiterplatte oder einer entsprechenden elektronischen baugruppe als pruefling |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19818138143 DE8138143U1 (de) | 1981-12-30 | 1981-12-30 | Vorrichtung zum pruefen einer elektronischen leiterplatte oder einer entsprechenden elektronischen baugruppe als pruefling |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE8138143U1 true DE8138143U1 (de) | 1982-05-19 |
Family
ID=6734320
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19818138143 Expired DE8138143U1 (de) | 1981-12-30 | 1981-12-30 | Vorrichtung zum pruefen einer elektronischen leiterplatte oder einer entsprechenden elektronischen baugruppe als pruefling |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE8138143U1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3739705A1 (de) * | 1987-02-27 | 1988-09-08 | We Electronic Gmbh | Vorrichtung zum pruefen elektronischer leiterplatten |
-
1981
- 1981-12-30 DE DE19818138143 patent/DE8138143U1/de not_active Expired
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3739705A1 (de) * | 1987-02-27 | 1988-09-08 | We Electronic Gmbh | Vorrichtung zum pruefen elektronischer leiterplatten |
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