DE768538T1 - Verfahren, Prüfer und Schaltung zur Triggerimpulsbeauftragung einer Einrichtung - Google Patents
Verfahren, Prüfer und Schaltung zur Triggerimpulsbeauftragung einer EinrichtungInfo
- Publication number
- DE768538T1 DE768538T1 DE0768538T DE96202805T DE768538T1 DE 768538 T1 DE768538 T1 DE 768538T1 DE 0768538 T DE0768538 T DE 0768538T DE 96202805 T DE96202805 T DE 96202805T DE 768538 T1 DE768538 T1 DE 768538T1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- bst
- pulse
- circuit
- trigger
- pulse trigger
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims 5
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 claims abstract 5
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 claims 3
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
- G11C29/12—Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
- G11C29/18—Address generation devices; Devices for accessing memories, e.g. details of addressing circuits
- G11C29/30—Accessing single arrays
- G11C29/32—Serial access; Scan testing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3185—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
- G01R31/318533—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG
- G01R31/318544—Scanning methods, algorithms and patterns
- G01R31/318547—Data generators or compressors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3185—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
- G01R31/318533—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG
- G01R31/318555—Control logic
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Claims (11)
1. Verfahren des Zuführens eines Impulsauslösers an eine zu triggernde Einheit,
wobei der Impulsauslöser der zu triggernden Einheit unter der Steuerung einer "Boundary Scan Test"(BST)-Logik zugeführt wird, dadurch gekennzeichnet,
daß in der BST-Logik ein Zustand bestimmt wird, in dem der Impulsauslöser generiert werden kann und
daß in Reaktion auf den genannten Zustand von der BST-Logik eine Impulsschaltung
aktiviert wird, um den Impulsauslöser zu generieren.
2. Verfahren nach Anspruch 1, bei dem der Impulsauslöser der zu triggernden
Einheit unter der Steuerung einer "Boundary Scan Test"(BST)-Kette zugeführt wird,
dadurch gekennzeichnet,
daß ein Stimulus zu einer zuvor bestimmten ersten BST-Zelle der BST-Kette
geschoben wird, wobei die genannte BST-Zelle mit einem ersten Eingang einer Impulsschaltung gekoppelt ist,
daß der Stimulus dem ersten Eingang der Impulsschaltung von der zuvor bestimmten ersten BST-Zelle zugeführt wird und
daß der Stimulus dem ersten Eingang der Impulsschaltung von der zuvor bestimmten ersten BST-Zelle zugeführt wird und
daß die Impulsschaltung den Impulsauslöser in Reaktion auf den Stimulus generiert.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet.
daß ein Freigabesignal zu einer zuvor bestimmten zweiten BST-Zelle der BST-Kette
geschoben wird, wobei die zweite BST-Zelle mit einem Freigabeeeingäng der Impulsschaltung gekoppelt ist,
daß das Freigabesignal von der zuvor bestimmten zweiten BST-Zelle an den
Freigabeeingang der Impulsschaltung gelegt wird, und daß die Impulsschaltung bei Vorhandensein des Freigabesignals den Impulsauslöser
generiert und bei NichtVorhandensein des Freigabesignals als Alternative für den
Impulsauslöser den Stimulus vom ersten Eingang in einem transparten Modus
Jtag Technologies B.V., Eindhoven PHQ 95.012 EP
Anmeldenummer: 96202805.6 (EP 0 768 538 Al) 27.10.1997
-2-
DE/EPO 7685S8T1
weiterleitet.
4. Verfahren nach Anspruch 1, 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet,
daß die Impulsschaltung zusätzlich zu dem genannten Impulsauslöser einen weiteren
Impulsauslöser generiert.
5. Tester zum Zuführen eines Impulsauslösers an eine zu triggernde Einheit unter
der Steuerung einer Boundary Scan Test(BST)-Logik, dadurch gekennzeichnet,
daß der Tester zusätzlich zur BST-Logik eine Impulsschaltung umfaßt, von der ein
Eingang mit der BST-Logik gekoppelt ist,
daß die BST-Logik ausgebildet ist, einen Zustand zu bestimmen, in dem der
Impulsauslöser generiert werden kann und
daß die Impulsschaltung ausgebildet ist, den Impulsauslöser in Reaktion auf den
Zustand und unter der Steuerung der BST-Logik zu generieren. 15
6. Tester nach Anspruch 5, der dazu bestimmt ist, den Impulsauslöser der zu
triggernden Einheit unter dem Einfluß einer "Boundary Scan Test"(BST)-Kette zuzuführen, dadurch gekennzeichnet,
daß der Eingang der Impulsschaltung mit einer zuvor bestimmten ersten BST-Zelle
in der BST-Kette gekoppelt wird und
daß die Impulsschaltung ausgebildet ist, den Impulsauslöser in Reaktion auf einen
Stimulus aus der zuvor bestimmten ersten BST-Zelle zu generieren.
7. Tester nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet.
daß die Impulsschaltung ausgebildet ist, zusätzlich zu dem genannten Impulsauslöser
einen weiteren Impulsauslöser zu generieren.
8. Elektronische Schaltung mit einer "Boundary Scan Test(BST)-Kette, dadurch
gekennzeichnet.
Jtag Technologies B.V., Eindhoven PHQ 95.012 EP
Anmeldenummer: 96202805.6 (EP 0 768 538 Al) 27.10.1997
-3-
DE/EP 0 76B53P
daß die Schaltung eine Impulsschaltung umfaßt, von der ein erster Eingang mit einer
zuvor bestimmten ersten BST-Zelle in der BST-Kette gekoppelt ist und
daß die Impulsschaltung ausgebildet ist, einen Impulsauslöser in Reaktion auf einen
Stimulus aus der zuvor bestimmten ersten BST-Zelle zu generieren. 5
9. Elektronische Schaltung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet,
daß die Impulsschaltung einen Freigabeeingang umfaßt, der mit einer zuvor
bestimmten zweiten BST-Zelle in der BST-Kette gekoppelt ist und daß die Impulsschaltung ausgebildet ist, den Impulsauslöser bei Vorhandensein des
Freigabesignals zu generieren und bei NichtVorhandensein des Freigabesignals als
Alternative für den Impulsauslöser den Stimulus vom ersten Eingang in einem transparten Modulus weiterzuleiten.
10. Elektronische Schaltung nach Anspruch 8 oder 9, dadurch gekennzeichnet.
daß die Impulsschaltung ausgebildet ist, zusätzlich zu dem genannten Impulsauslöser
einen weiteren Impulsauslöser zu generieren.
11. Elektronische Schaltung nach Anspruch 8, 9 oder 10, dadurch gekennzeichnet,
daß die elektronische Schaltung eine weitere elektronische Funktion umfaßt.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP95202758 | 1995-10-13 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE768538T1 true DE768538T1 (de) | 1998-03-12 |
Family
ID=8220712
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE0768538T Pending DE768538T1 (de) | 1995-10-13 | 1996-10-09 | Verfahren, Prüfer und Schaltung zur Triggerimpulsbeauftragung einer Einrichtung |
DE69606129.5T Expired - Lifetime DE69606129T3 (de) | 1995-10-13 | 1996-10-09 | Verfahren und Tester zur Beaufschlagung eines elektronischen Bausteins mit einem Triggerimpuls |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE69606129.5T Expired - Lifetime DE69606129T3 (de) | 1995-10-13 | 1996-10-09 | Verfahren und Tester zur Beaufschlagung eines elektronischen Bausteins mit einem Triggerimpuls |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5983378A (de) |
DE (2) | DE768538T1 (de) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6425101B1 (en) * | 1998-10-30 | 2002-07-23 | Infineon Technologies North America Corp. | Programmable JTAG network architecture to support proprietary debug protocol |
US7133822B1 (en) | 2001-03-29 | 2006-11-07 | Xilinx, Inc. | Network based diagnostic system and method for programmable hardware |
US11293979B2 (en) * | 2019-10-22 | 2022-04-05 | Peter Shun Shen Wang | Method of and an arrangement for analyzing manufacturing defects of multi-chip modules made without known good die |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL192801C (nl) * | 1986-09-10 | 1998-02-03 | Philips Electronics Nv | Werkwijze voor het testen van een drager met meerdere digitaal-werkende geïntegreerde schakelingen, geïntegreerde schakeling geschikt voor het aanbrengen op een aldus te testen drager, en drager voorzien van meerdere van zulke geïntegreerde schakelingen. |
US5056094A (en) * | 1989-06-09 | 1991-10-08 | Texas Instruments Incorporated | Delay fault testing method and apparatus |
US5048021A (en) * | 1989-08-28 | 1991-09-10 | At&T Bell Laboratories | Method and apparatus for generating control signals |
US5498972A (en) * | 1990-08-15 | 1996-03-12 | Telefonaktiebolaget Lm Ericsson | Device for monitoring the supply voltage on integrated circuits |
US5172377A (en) * | 1990-09-07 | 1992-12-15 | Genrad, Inc. | Method for testing mixed scan and non-scan circuitry |
JPH04306786A (ja) * | 1991-04-03 | 1992-10-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 文字認識装置 |
US5513187A (en) * | 1991-08-08 | 1996-04-30 | Siemens Aktiengesellschaft | Process for testing integrated circuits with at least one logic circuit and testable integrated circuit |
EP0578858A1 (de) * | 1992-07-17 | 1994-01-19 | International Business Machines Corporation | AC-Verbindungsprüfung für integrierte Schaltungsbausteine |
US5633812A (en) * | 1992-09-29 | 1997-05-27 | International Business Machines Corporation | Fault simulation of testing for board circuit failures |
US5428626A (en) * | 1993-10-18 | 1995-06-27 | Tektronix, Inc. | Timing analyzer for embedded testing |
TW253942B (de) * | 1994-01-31 | 1995-08-11 | At & T Corp | |
US5630048A (en) * | 1994-05-19 | 1997-05-13 | La Joie; Leslie T. | Diagnostic system for run-time monitoring of computer operations |
US5648973A (en) * | 1996-02-06 | 1997-07-15 | Ast Research, Inc. | I/O toggle test method using JTAG |
-
1996
- 1996-10-09 DE DE0768538T patent/DE768538T1/de active Pending
- 1996-10-09 DE DE69606129.5T patent/DE69606129T3/de not_active Expired - Lifetime
- 1996-10-10 US US08/729,480 patent/US5983378A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE69606129D1 (de) | 2000-02-17 |
US5983378A (en) | 1999-11-09 |
DE69606129T2 (de) | 2000-09-28 |
DE69606129T3 (de) | 2015-03-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2555435C2 (de) | Monolithische hochintegrierte Halbleiterschaltung | |
DE3750597T2 (de) | Geeichtes automatisches Prüfsystem. | |
DE69115776T2 (de) | Prüfvorrichtung für integrierte schaltungen | |
DE3882266T2 (de) | Abfrageprüfgerät für digitale Systeme mit dynamischem Direktzugriffspeicher. | |
DE4436494C2 (de) | Prüfgerät für Halbleiter-ICs | |
DE19729163B4 (de) | System und Verfahren zur Abtaststeuerung einer programmierbaren Sicherungsschaltung in einer integrierten Schaltung | |
DE69029122T2 (de) | Prüfmustergenerator | |
DE69126848T2 (de) | Integrierte Halbleiterschaltung | |
EP0903587B1 (de) | Verfahren zum Testen einer elektronischen Schaltung | |
EP0009572A2 (de) | Verfahren und Anordnung zur Prüfung von durch monolithisch integrierte Halbleiterschaltungen dargestellten sequentiellen Schaltungen | |
DE4110151A1 (de) | Integrierte halbleiter-schaltkreisvorrichtung mit abtastpfaden, die einzelne steuerbare umgehungen aufweisen | |
EP0318768A1 (de) | Logikanalysator | |
EP1225559A3 (de) | Treiberschaltung für Anzeigevorrichtung | |
DE3429060A1 (de) | Ueberwachungseinrichtung mit mehreren in reihe geschalteten schaltern | |
DE768538T1 (de) | Verfahren, Prüfer und Schaltung zur Triggerimpulsbeauftragung einer Einrichtung | |
DE69637490T2 (de) | Prüfbare schaltung und prüfverfahren | |
EP1163680B1 (de) | Vorrichtung und verfahren für den eingebauten selbsttest einer elektronischen schaltung | |
DE68924125T2 (de) | Logikanalysator mit Doppel-Triggerung. | |
DE3786768T2 (de) | Halbleitergerät mit programmierbaren Nur-Lesespeicherzellen für spezifischen Modus. | |
DE69114915T2 (de) | Verfahren zum Steuern einer Selbstprüfung in einer Datenverarbeitungsanlage und für dieses Verfahren geeignete Datenverarbeitungsanlage. | |
EP1122742A2 (de) | Verfahren zum Testen der Refresheinrichtung eines Informationsspeichers | |
DE2751654A1 (de) | Elektronische uhr | |
DE19710480C2 (de) | Unterbrechungsanzeigevorrichtung für eine Vielzahl von Halbleiterschaltelementen, welche eine Überstrom/Übertemperatur-Schutzfunktion aufweisen und die eine Identifizierung des unterbrochenen Halbleiterschaltelementes ermöglicht | |
DE3686795T2 (de) | Schaltung zur erleichterung der evaluation. | |
DE3885935T2 (de) | Digitaler In-Circuit-Prüfer mit Kanalspeicherlöschschutz. |