DE735384C - Lichtelektrische Pruefeinrichtung fuer die Kennzeichen von Gegenstaenden - Google Patents

Lichtelektrische Pruefeinrichtung fuer die Kennzeichen von Gegenstaenden

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DE735384C
DE735384C DES127497D DES0127497D DE735384C DE 735384 C DE735384 C DE 735384C DE S127497 D DES127497 D DE S127497D DE S0127497 D DES0127497 D DE S0127497D DE 735384 C DE735384 C DE 735384C
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DE
Germany
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test
luminous flux
diaphragm
openings
photocell
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Expired
Application number
DES127497D
Other languages
English (en)
Inventor
Rudolf Benda
Dipl-Ing Rudolf Schmook
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority to DES127497D priority Critical patent/DE735384C/de
Application granted granted Critical
Publication of DE735384C publication Critical patent/DE735384C/de
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Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07CPOSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C5/00Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
    • B07C5/34Sorting according to other particular properties
    • B07C5/3412Sorting according to other particular properties according to a code applied to the object which indicates a property of the object, e.g. quality class, contents or incorrect indication

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

  • Lichtelektrische Prüfeinn"chtung für die Kennzeichen von Gegenständen Es sind lichtelektrische Prüfeifirichtungen für die Kennzeichen von Gegenständen be- kannt, bei denen das zu untersuchende Keimzeichen aus verschiedenen Teilen besteht und jedes Teilmerkmal für sich geprüft wird. Die Prüfung geschieht hierbei mittels einer einzigen Photozelleneinrichtung und,- den Strahlengang durchlaufender Formblenden, vorzugsweise unter stetigem Vorschub der Gegenstände und mit einer derartigen Anordnung der Blendenöffnungen, daß sie auf denjenigen örtlich verschiedenen Stellen des Gegenstandes, an denen die Merkmale zu suchen sindl, abgebildet werden. Es sind, ferner lichtelektrische Ausgleichsverfahren bekannt, bei denen das vom Prüfling und einemVergleichsnormal im schnellenWechsel auf die Photo-zelle fallende Licht nur dann eine Wirkung hervorruft, wenndie Wirkung des vorn Merkmal des Prüflings auf die Zelle zurückgeworfenen Lichtstromes von derjenigen des- Vergleichslichtstromes abweicht.
  • Die vorliegende Erfindung bezweckt nun, eine vorzugsweise nach dem bekannten Ausgleichsverfahren arbeitende Einirichtung für die Prüfung von Kennzeichen, von# Gegenständen zu schaffen, deren Teilmerkmale nicht gleich sind, die also einzeln für sich auf die Photozelle verschieden stark einwirken würden. Dies geschieht erfindungsgemäß durch eine solche Anordnung der Blendenöffnungen, daß sie je auf denjenigen örtlich verschiedenen Stellen des Gegenstandes, an dem Teilmerkmale zu suchen sind, in einer einzigen Lage des Gegenstand-es nacheinander abgebildet werden, und eine solche Anordnung, von unterschiedlich lichtdurchlässigen Mitteln für den Lichtstrom, der auf jedes Teilmerkmal fällt, daß beim Vorhandensein des gesuchten Teilmerkmales der von diesem auf die gemeinsame Photo7ulle gelangende Lichtstrorn jeweils die gleiche Größe hat. - Die Prüfung der einzelnen Teilinerkmale prakm tisch in einer einzigen Prüflage des Gegleiistandcs schließt einen gleichmäßigen lan.'-'Vorschnb der Gegenstände nicht aus sainen t' Die Erfindun ermöglicht eine Ersparnis ai# Aufwand für lichtelektrische Einrichtun und besondere Transporteinriclitungen sowie eine Ersparnis an Zeit für die Prüfung eines Gegenstandes. Bei gleichmäßigem Vorschub der G;3,-en.stinide werden die Abinessungen des Atisleuclitliclitd,2c1z,2s kleiner, z. B. schnialer, als di2 der Teilinerkmale gewählt. Da,-durch: wird erreicht, daß während einer hinreichen-den Zeitdauer des Prüfvorganges ein gleichmäßiger Strominipuls für das Auslöserelais erreicht wird. Die Ausleuchtung der Gegenstände katin auch vermittels eines Funkens oder der Entladung einer Gasentladungsröhre bewirkt werden.
  • In den Fi,-,. i bis 6 ist die Erfindung beispielsweise schematisch dargestellt.
  • Es zeigt Fig. ip. einen auszusuchenden Körper mit einem Gesamtmerkmal, dessen eilmerkmale in Fig. 11), einzeln dargestellt sind, Fig. 2 die Erfindung an Hand einer sog. Kompensationsanordnung, Fig. 2a die Ausbildung feststehender Blenden, 'Fi-- 3 die A Anordnung A der Blenden- oder Lochscheiben, Fig. 4 eine Art und Fig. 5 eine andere des Ausleuchtens des Merkmales, Fig. 6 die Anordnung von Gratikeilen an einer Lochscheibe.
  • Es soll angenommen werden, daß ein Gegenstand nach Fig. ia mit einem Gesanitmerkinal vers"elieii ist, dessen Teilmerkinale i, 2, 3 in Fi.g. i b einzeln dargestellt sind. Das Gesamtmerkmal soll auf richtige Einhaltung der Teilinerkmale untersucht werden.
  • Bei der in Fig. 2 sch,-matisch dar-estellten Kompensntionsanordnung gehen von der möglichst flächenhaften Lichtquelle 4 in! an sieh für Kompensationseinrichtungen bekannter Weise zwei Lichtstrahlenbündel 5 und 6 aus, die z. B. mittels der Linsen 7 und 8 über Spiegel 9 Lind io nach Durchgang durch Regelgraukeile i i und 12 auf den Linsen 13 und 14 abgebildet werd,2n und die entweder im Gegentakt, wie dargestellt, oder auch im Gleichtakt, wozu dann zwei Pliotozellen statt einer verwendet werden müssen, kurzzeitig durch die Lochblendenscheibe 15 in Verbindung mit den feststehenden Schlitzblenden 16 Und, 17 (An#sicht der Blenden in, Fig.:2a) freigegeben und abgeblendet werden. Der durch die Blende 17 fallend-- Lichtstrom gelangt über Linse 18, Spiegel ig und! 2o direkt zur Photozelle 21 oder bei Gleichtaktfreigabe zu einer zweit-2n- Photozelle. Das Prüflichtstrahlenbündel gelan gt über Linse 22, Spi-C-CI 23 und 24 zu einer Linse 25 und von ihr durch Lochblen,den der auf der gleichen Welle wie die Lochblendenscheibe 15 angeordneten
    "j,cheibe 265 über eine weitere Linse 27 -711
    er
    auf der gleichen Welle 34 wie die an-
    il Scheiben an-eordneten Lochblenclen-
    )Kle, 11
    ## eibe28 und durch deren Löcher hindurch
    W#rmittels einer Linse29 über den HilfssPiegel 30 züi der Stelle des PrüflinIgs 3 1, an der sich das Merkmal befindet.
  • Vom Prüftling31 wird das Licht auf die Riiigphotozelle2i zurückgestrahlt, die über den Verstärker 32 auf eine Auslöse- und Sortiereinrichtung 33 wirkt.
  • Die Ausgestaltung der drei vorzugsweise von einer gemeinsamen Welle 34 angetriebenen Lochscheiben 15, 26 Und 2,9 Und deren Anordnungen zueinander sind auch in der Fig. 3 dargestellt. Auf der Scheibe 28 sind für die Teilmerkinale des züi prüfenden Gegen-,;tandes Formblendenöffnungen angeordnet. (liese Blendenöffnungen sind so bemessen, daß ihre mittels der Optik erzeugten Abbildungen3i11 (Fig.4) auf dem Prüflin931 in an sich schon anderswo vorgeschlagener schmaler sind als die des Merknialts "i, Dadurch ist es möglich, den Prüfling auch während des ständigen Vorschubes so abzutasten, daß während der Zeitdauer, die für das Ansprechen des Steuerrelais erforderlich ist, ein gleichbleibender Impuls erzeugt wird.
  • Um den Abtastlichtblitz höchstens so lange dauern zu lassen, als der Transportzeit für eine Länge gleich dem Unterschied zwischen der Größe des -,I#.bbildes der Forrnblendenöffn-ung und der des 'Merkmales entspricht, kann die Lochscheibe 15 mit schmalen Lheliern oder Schlitzen versehen sein, die #-or ebenso geformten Blenden. 16 und 17 (Fig. 2a) angeordnet sind. Statt der Lochscheibe 15 kann .auch ein nicht dargestellter Kontakt verwendet werden, der durch den Vorschubantrieb der Prüflinge kurzzeitig geschlossen wird und, im Photozellenstromkreis liegt. Auch kann ein mit dem Vorschubantrieb gekul)-pelter Synchrongenerator mit durch bekannte Mittef erzwungener möglichst schnialer Stromkurve die Lichtquelle speisen oder am Verstärker eine freigebende Gitterspannung erzeugen. In den Fig 2 und 5 ist ein -weiterer Weg angedeutet. Es wird von der gleichen, Lichtquelle 4, die zur Ausleuchtung des Merkmalüs dient, ein Lichtstrahl 38 abgezweigt und einer der Blendenscheiben, z. B. der Scheibe 26, zugeführt, die in diesem Falle gemäß Fig. 5 auf einem Kreis so viele Langlöcher 35 hat, als Teilmerkl-nale zu priifen sind, wobei die Zwischenräume zwischen den Langlöchern der Zeitdauer des Freigebens bzw. Wiedersperrens entsprechen. Der seinen Weg kn über Linse 39 und Spiegel 2D 40 und 41 durch die Langlöcher nehmende Lichtstrahl 38 fällt auf eine besondere Photozelle 36, die ihrerseits über eine Verstärkerröhre 37 dem Hauptverstärker 33 eine sperrend wirkende Gitterspannung in nicht weiter dargestellter Weise zuführt. Man kann aber auch mit einem auf Durchlässigkeit des Verstärkers 33 wirkenden Impuls der Röhre 37 arbeiten. Dadurch, daß durch die -Löcher der Scheibe 26 jeweils ein gleicher Rückstrahlungswert der Teilmerkmale der Prüflinge festgelegt wird, ist die Stärkedes Vergleichslichtstronies b für alle Teilmerkmale von ihrer Größe und Form unabhängig. An Stelle der Scheibe 2,6 könnte auch ein nicht dargestellter mechanisch von dem Antrieb gesteuert-er verstellbarer Graukeil im Strahlengang des Prüflings vorgesehen werden. Die Graukeile i i und 1:2 in den beiden Strahlengängen sind lediglich zur Feineinstellung der beiden Lichtbündel 5 und 6 vorgesehen.
  • Sol,1 eine Sortierung 'je nach Abweichung der einzelnen Merkmale vom Sollwert erfolgen, so ist die Steuerung der Sortiereinrichtungen in an sich bekannter Weise vom Vorsch,ubantrieb ab-zuleiten. Soll bei Abweichung auch nur eines Merkmales vom Sollwert die Auslösung erfolgen, so sind keine besonderen Maßnahmen nötig. Sobald ein Merkmal abweicht, erfolgt eben dannt die Aussonderung oder Aussonderungsvorbereitung.
  • Die Merkmale können, auch eine beliebige andere als die in den Fig. i und, :2 gewählte Gestalt geonietrischer Figuren haben. Sie können z. B. auch Ziffern sein.' An der Scheibe:26" (Fig. 6) ist vor deren Öffnungen für die einzelnen Teilmerkmale je ein verstellbarer Graukeil 36 angeordnet.

Claims (2)

  1. PATENTANSPRÜCHE: i. Lichtelektrische Prüfeinrichtung für die Kennzeichen von Gegenständen- mittels einer Photozelleneinrichtung und den Strahlengang durchlaufender Formblenden, vorzugsweise unter stetigem Vorschub der Gegenstände, - gekennzeichnet durch eine solche Anordnung der Blendenöffnungen, daß sie je auf denjenigen örtlich verschiedenen Stellen, des Gegenistandes, an dem Teilmerkmale zu suchen sind, in einer einzigen Lage- des Gegenstandes nacheinander abgebildet werden, und eine solche Anordnung von unterschiedlich lichtdurchlässigen Mitteln für den Lichtstrom, der auf jedes Teilmerkmal fällt, daß beim Vorhandensein des gesuchten Teilmerkmales der von diesem auf die gemeinsame Photozelle gelangende Lichtstrom jeweils die gleiche Größe hat.
  2. 2. Prüfeinrichtung nach Anspruch- i, dadurch gekennzeichnet, daß an den den einzelnen Teilmerkmalen zugeordneten öffnungen der Formblenden unterschiedlich lichtdurchlässige Filter angeordnet sind. 3. Prüfeinrichtung nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß synchron mit der Forrnblende (28) im Prüflichtstrom des Prüflings eine besondere Blende (26) innerhalb, eines Linsensysteins (25, :27) uniläuft, welche Blendenöffnungen ver-. schiedener Größe zur Beeinflussung des Prüflichtstrom,es trägt. 4. Prüfeinricht,ung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Filter an den Öffnungen einer besonderen Blende (26) angeordnet sind, die synchron mit der Formblendee (28) umläuft. 5. Prüfeinrichiung nach Anspruch i, dadurchgekennzeichnet, daß iniPräflichtstrom außer der Formblende (28) zwungsweise durch den Antrieb der Vorschuheinrichtung verstellbare Graukeile angeordnet sind-, deren Verstellung durch Kurvenscheiben erfolgt.
DES127497D 1937-06-03 1937-06-03 Lichtelektrische Pruefeinrichtung fuer die Kennzeichen von Gegenstaenden Expired DE735384C (de)

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DE (1) DE735384C (de)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1097011B (de) * 1956-07-17 1961-01-12 Kelvin & Hughes Ltd Einrichtung zum selbsttaetigen Steuern einer physikalischen Groesse
DE1135201B (de) * 1959-04-22 1962-08-23 Meyer Geo J Mfg Co Kontrolleinrichtung zur Feststellung von Fremdkoerpern in einem durch-scheinenden Behaelter mit Mitteln zur Beleuchtung einer zu kontrollierenden Zone des Behaelters
DE1226888B (de) * 1956-03-29 1966-10-13 Paul Albert Bucciali Schaltvorrichtung zur wahlweise selbsttaetigen oder manuellen Bedienung eines elektro-magnetisch umschaltbaren Geschwindigkeits-wechselgetriebes fuer Fahrzeuge
EP0136445A1 (de) * 1983-07-27 1985-04-10 POLYGRAM GmbH Transportsystem

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DE1135201B (de) * 1959-04-22 1962-08-23 Meyer Geo J Mfg Co Kontrolleinrichtung zur Feststellung von Fremdkoerpern in einem durch-scheinenden Behaelter mit Mitteln zur Beleuchtung einer zu kontrollierenden Zone des Behaelters
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