DE729687C - Hochvergroesserndes Elektronenmikroskop (UEbermikroskop) zur Abbildung durchstrahlter Objekte mittels Schattenwurfs - Google Patents

Hochvergroesserndes Elektronenmikroskop (UEbermikroskop) zur Abbildung durchstrahlter Objekte mittels Schattenwurfs

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DE729687C
DE729687C DEL96451D DEL0096451D DE729687C DE 729687 C DE729687 C DE 729687C DE L96451 D DEL96451 D DE L96451D DE L0096451 D DEL0096451 D DE L0096451D DE 729687 C DE729687 C DE 729687C
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DE
Germany
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electron
electron microscope
lens
imaging
microscope
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Expired
Application number
DEL96451D
Other languages
English (en)
Inventor
Dr Phil Hans Boersch
Dr-Ing Hans Mahl
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AEG AG
Original Assignee
AEG AG
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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/26Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes
    • H01J37/27Shadow microscopy

Description

  • Hochvergrößerndes Elektronenmikroskop (Übermikroskop)_zur Abbildung durchstrahlter Objekte mittels Schattenwurfs Die Erfindung bezieht sich auf ein hochvergrößerndes Elektronenmikroskop, insbesondere Übermikroskop, besonders einfacher Bauart. -Unter einem Übermikroskop soll dabei, wie üblich, ein Elektronenmikroskop verstanden werden, dessen Auflösungsgrenze diejenige des Lichtmikroskops überschreitet. Während es aus verschiedenen Gründen nicht ganz einfach ist, ein tatsächlich abbildendes Elektronenmikroskop höchster Vergrößerung und Auflösung herzustellen, bereitet die Erzielung hoher Vergrößerung mit dem Mikroskop der vorliegenden Art keine besonderen Schwierigkeiten; allerdings wird hierbei von dem üblichen 'Wege einer elektronenoptischen Abbildung abgegangen und sich mit einem Schattenwurf des zu untersuchenden Objekts begnügt.
  • In einem hochvergrößernden Elektroneninikroskop (Übermikroskop) zur Abbildung durchstrahlter Objekte mittels Schattenwurfs dient erfindungsgemäß ein durch einen kurz vor oder hinter der Objektebene liegenden Punkt verlaufendes Elektronenbündel zur Bestrahlung des Objekts.
  • Die Erfindung sei näher erläutert an Hand des in der Abbildung schematisch dargestellten Ausführungsbeispiels.
  • In der Abbildung bedeutet i eine Kathode und 2 eine sie umgebende Beschleunigungselektrode (Anode). Außerdem befindet sich vor der Kathode eine elektrische oder. magnetische, hier schematisch angedeutete Linie 3, welche die Emission der Kathode zu einem Punkt kurz vor oder hinter der Objektebene d. zusammenführt. In der Objektebene befindet sich in dein Ausführungsbeispiel eine Elektrode 4. mit einer Mittelöffnung, in der sich das zu durchstrahlende Objekt 5 befindet. In einiger Entfernung von der Objektebene ist e'n Leuchtschirm oder eine photographische Platte 6 angebracht, auf dem bzw. auf der das durch die Elektronen entworfene Schattenbild des Objekts erscheint. Die Wirkungsweise des vorliegenden Elektronenmikroskops wird durch den schematisch angedeuteten Strahlengang veranschaulicht. Mit ; sind die von der Kathode ausgehenden Elektronen bezeichnet, die durch die Linse 3 zu einem Punkte 8 kurz vor der Objektebene fokussiert werden. Die von diesem Punkt ausgehenden Elektronen verbreiten sich kegelförmig auf den Leuchtschirm zu und durchsetzen dabei das Objekt. Die Kontraste des Bildes «-erden dabei durch Streuung und Absorption oder Bremsung der Elektronen erhalten. Während die absorbierten Elektronen nichts, die gebremsten wenig zii dem Bild beitragen, geben die gestreuten Elektronen einen allgemeinen Untergrund, der aber wegen seiner geringen Intensität nicht stört.
  • Es ist ersichtlich, daß Auflösungsvermögen und Vergrößerung des Elektronenmikroskops der vorliegenden Art davon abhängen, wie weit sich der Punkt (8 in der Abblldung) verwirklichen läßt, durch den die Elektronen hindurchgehen. In dem Ausführungsbeispiel nach der Abbildung ist als Elektronenquelle eine unter dein Einfluß hoher Felder einittierende Spitze gewählt, die eine auf einen außerordentlich kleinen Bereich beschränkte intensive Emission liefert. Es ist für den vorliegenden Fall nicht notwendig, iin Punkt 8 nun gerade ein genaues Bild dieser emittierenden Spitze zu erhalten, so daß es ohne besondere Schwierigkeiten gelingt, eine Fokussierung der von der Kathode ausgehenden Emission vorzunehmen. Es kann übrigens auch in bereits vorgeschlagener Weise vor der emittierenden Spitze ein in einfacher Weise hohe Feldstärken ermöglichendes Netz oder auch eine Folie, ein Gitter u. dgl. vorgesehen sein, welches unter Umständen noch zur Erzielung von Linsenwirkungen gewölbt sein kann. Die Linse 3 kann dann als magnetische Linse oder aber als elektrische Linse, in diesem Fall als Verzögerungslinse ausgebildet sein. Wenn eine Abbildung der Spitze vorgenommen wird, genügt dann im allgemeinen schon eine Vergrößerung im Verhältnis i:i, um den erwünschten kleinen Punkt 8 zu erhalten.
  • Man kann als Elektronenquelle aber auch eine flächenhaft emittierende Quelle verwenden. Hierbei wird insbesondere die Verwendung einer virtuellen Kathode in Form eines durchstrahlten Loches zweckmäßig sein. Solche Löcher lassen sich noch mit einem Durchmesser von io-3cm herstellen. Die Linse3, für deren Stellung ja im Gegensatz etwa zur Braunsehen Röhre keine besonderen Bedingungen gelten, kann nun ein Bild dieser Kathode beispielsweise inidoofacherVerkleinerung entwerfen. Dann entsteht also ein Punkt 8 mit einem Durchmesser von io-o cm, d. h. bereits von Moleküldimensionen. Abstände dieser Größenordnung können also mit dem vorliegenden Mikroskop aufgelöst werden. Die Vergrößerung des Mikroskops ist gegeben durch das Verhältnis des Abstandes des Punktes 8 vom Objekt und des Leuchtschirmes 6 vom Objekt, und zwar, wenn der Punkt 8 nur in sehr geringem Abstand sich von der Objektebene befindet, praktisch unabhängig davon, ob er nun vor oder hinter der Objektebene liegt, Auch die Herstellung einer das erzielte Auflösungsvermögen wirklich ausnutzenden Vergrößerung ist daher ohne Schwierigkeiten möglich. Es ist im vorstehenden ein für das Auflösungsvermögen besonders günstiges Zahlenbeispiel gewählt worden. Man erkennt, daß schon dann, wenn die flächenhafte Kathode einen Durchmesser von 1o-2 cm hat und die Linse nur eine Verkleinerung von 1/loo bewirkt, ein Punkt 8 von einem Durchmesser von iolcm erzielt wird, so daß schon hier die Auflösungsgrenze des Lichtmikroskops erreicht wird.
  • Es ist zwar bekannt, in einem sogenannten Rastermikroskop, bei dem das Objekt punktweise abgetastet wird, einen zu einem außerordentlich kleinen OOuerschnitt konzentrierten Strahl zu verwenden. Da bei diesem Rasterinikroskop aber von den abtastenden Elektronen kein unmittelbares Bild, sondern nur wie bei der Fernsehaufnahme eine Folge von Stromimpulsen erzielt wird, läßt dieses Rastermikroskop einen weitergehenden Vergleich mit dein Elektronenmikroskop der vorliegenden Art nicht zu.
  • Unter Umständen ist es vorteilhaft, in dem bestrahlenden Strahlengang, etwa an der Stelle der Linse 3, eine Blende 9 anzubringen, die, wie aus der vorstehenden Erklärung der Wirkungsweise des Elektronenmikroskops hervorgeht, als Bildfeldblende wirkt. Die Blende gestattet zugleich, die Randbezirke der Linse 3 auszuschalten, also etwaige Linsenfehler zu eliminieren, die das Entstehen eines scharfen Punktes 8 verhindern würden, und schließlich den Öffnungswinkel des bestrahlenden Bündels zu begrenzen. Diese Eigenschaft der Linse bietet den Vorteil, daß man die Größe des Üffnungswinkels so bemessen kann, daß er kleiner ist als der kleinste Braggsche Ablenkwinkel. Es wird dadurch eine Überstrahlung des Bildes durch gebeugte Elektronen vermieden.
  • Das vorliegende Mikroskop hat vor den bekannten hochvergrößernden Mikroskopen den Vorteil eines außerordentlich geringen Aufwands, der einmal durch das Fehlen von Linsen zwischen Objekt und Leuchtschirm oder photographischer Platte bedingt ist, dann aber auch dadurch, daß die einzige überhaupt notwendige Linse von relativ großer Brennweite sein kann,' da man die notwendige Kleinheit des Punktes 8 nicht allein durch die Wirkung der Linse zu erzielen braucht, sondern auch durch geeignete Bemessung der Elektronenquelle erzielen kann. Gerade aus diesem Grunde ist die Verwendung einer eine Feldemission zeigenden Spitze besonders günstig, zumal da die Spitze gleichzeitig einen außerordentlich intensiven Strahl zu liefern vermag.
  • Es ist selbstverständlich, .daß man bei Verwendung eines als virtuelle Kathode dienenden durchstrahlten Loches die auf dieses Loch gerichteten Elektronenstrahlen in bekannter Weise vorkonzentriert.
  • Die Linse 3 -war oben als elektrische oder magnetische Linse bezeichnet worden. Es ist klar, daß man im allgemeinen der elektrischen Linse den Vorzug geben wird, einmal wegen der Vermeidung eines Stromverbrauchs, dann deshalb, weil man dann die Spannungen für diese Linse in an sich bekannter Weise zusammen mit den übrigen für das Mikroskop notwendigen Spannungen einer gemeinsamen Spannungsquelle, z. B. über einen Spannungsteil-er, entnehmen kann, so daß die Bildschärfe von Spannungsschwankungen frei ist.

Claims (5)

  1. PATENTANSPRÜCHE: i. Hochvergrößerndes Elektronen-. mikroskop (Übermikroskop) zur Abbildung durchstrahlter Objekte mittels Schattenwurfs, dadurch gekennzeichnet, daß zur Bestrahlung des Objekts ein Elektronenbündel dient, welches durch einen kurz vor oder hinter der Objektebene liegenden Punkt verläuft.
  2. 2. Elektronenmikroskop nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß als Quelle für das bestrahlende Elektronenbündel eine Feldemission zeigende Spitze dient und daß eine Elektronenlinse in einen kurz vor oder hinter der Objektebene liegenden Punkt die von der Spitze emittierten Elektronen fokussiert.
  3. 3. Elektronenmikroskop nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß das bestrahlende Elektronenbündel einer flächenhaft emittierenden Quelle, vorzugsweise einem durchstrahlten Loch von einem Durchmesser von o,oi cm oder weniger, entstammt, von der eine Elektronenlinse kurz vor oder hinter .der Objektebene ein stark, vorzugsweise mindestens auf 11100 verkleinertes Bild entwirft.
  4. 4. Elektronenmikroskop nach Anspruch 2 oder 3, gekennzeichnet durch eine im Abbildungsstrahlengang des bestrahlenden Bündels, vorzugsweise in der' Linse liegende Bildfeldblende.
  5. 5. Elektronenmikroskop nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Bildfeldblende so bemessen ist, daß sie den Öffnungswinkel des von dem Objekt aus divergierenden Elektronenstrahls kleiner als den kleinsten Braggschen Ablenkwinkel macht.
DEL96451D 1938-12-02 1938-12-03 Hochvergroesserndes Elektronenmikroskop (UEbermikroskop) zur Abbildung durchstrahlter Objekte mittels Schattenwurfs Expired DE729687C (de)

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