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Die
vorliegende Anmeldung beansprucht die Priorität der vorläufigen US-Patentanmeldung Aktenzeichen
60/037,519, eingereicht am 10. Februar 1997 und der vorläufigen US-Patentanmeldung
Aktenzeichen Nr. 60/042,002, eingereicht am 16. April 1997.
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Die
vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung. die in der Lage
ist, die Quer- und Längskoordinaten
einer Lichtemission zu bestimmen, die durch die Wechselwirkung von
Photonen in einem Array von Photonendetektoren mit einer Vielzahl
von Szintillationslichtleitern induziert wird.
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HINTERGRUND DER ERFINDUNG
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Vorrichtungen
zum Bestimmen der Verteilung von Photonen, z. B. von einem Gammastrahl oder
Röntgenstrahl
ohne Beschränkung
bezüglich
ihrer spezifischen Energie, die durch Objekte hindurch gesendet
oder emittiert werden, um die Zusammensetzungen oder Funktionen
der Objekte zu untersuchen, sind aus dem Stand der Technik allgemein
bekannt. Beispielsweise kann die als Positronen-Emissions-Tomographie
(PET) bezeichnete Technik nach einem Einspritzen von Tracermolekülen, die
Positronen in einen lebenden Körper
emittieren, in vivo biochemische Funktionen untersuchen. Kurz nach
der Freisetzung der Positronen im Versuchskörper annihilieren die Positronen
mit umliegenden Elektronen, um ein Paar von Photonen zu erzeugen,
die jeweils eine Energie von 511 keV haben und sich in nahezu entgegengesetzte
Richtungen bewegen. Das Erfassen eines Paares von solchen Annihilationsphotonen durch
zwei entgegengesetzte Detektoren ermöglicht die Bestimmung der Lage
und der Raumrichtung einer Flugbahnlinie, die durch die entgegengesetzten Flugbahnen
der Photonen definiert ist. Durch die Verwendung einer weiteren,
aus dem Stand der Technik als tomographische Rekonstruktion bekannten
Technik, um die vielen Flugbahnlinien zu überlagern, die dadurch erhalten
werden, dass man das Versuchsobjekt mit einem Array von Detektoren
umgibt, kann ein Bild der Verteilung der Tracermoleküle im Körper erzeugt
werden.
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Ein
zentrales Merkmal einer solchen Vorrichtung ist der Photonendetektor.
Der letztgenannte muss in der Lage sein, genaue Schätzwerte
der Koordinaten der Photonenerfassung sowie der Energie und der
Ankunftszeit jedes auftreffenden Photons zu liefern. Genaue Informationen
bezüglich
der Position, der Energie und der Zeit sind notwendig, um eine genaues
Bild der Verteilung von Positronen emittierenden Molekülen zu rekonstruieren
und derartige in vivo Funktionsuntersuchungen zu ermöglichen.
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Aus
dem Stand der Technik sind mehrere Photonendetektoren bekannt, die
in der Lage sind, genaue Schätzwerte
hinsichtlich der Energie, der Querkoordinaten und der Zeit der Photonenwechselwirkungen
zu liefern. Ein nennenswertes Beispiel für einen solchen Photonendetektor
sowie eine Vorrichtung für
dessen Verwendung ist in dem US-Patent Nr. 4,750,972 von Casey et
al. offenbart. Eine Kristallmischung, die als Szintillator bezeichnet
wird, wird im Allgemeinen bei der Herstellung von Detektoren für die obige
Anwendung verwendet. Ein Szintillator (die Mischung) hat die einzigartige
Eigenschaft, bei Anregung an der Stelle der Wechselwirkung eines
Photons im Szintillator Licht zu emittieren. Ein Photonendetektor
gemäß dem Stand
der Technik hat die Form eines Blocks einer Szintillatormischung,
der zu einer Vielzahl von rechtwinkligen Kristallen mit üblichen Abmessungen
von 4 × 4 × 30mm geformt
und an bekannten Quer-(X und Y)-Positionen angeordnet ist. Das Array
wird entweder dadurch hergestellt, dass man einzelne Szintillator-Kristalle
Seite an Seite auf einen Träger
klebt oder man Schlitze in ein festes Stück eines Szintillator-Kristalls
entlang der Richtung senkrecht zu einem Photonen empfangenden Ende schneidet.
Photonen treten durch das empfangende Ende in den Block ein; das
von den oberen Querspitzen der Kristalle gebildet wird. Die Photonen
werden ein Volumen des Blocks über
eine begrenzte Strecke hinweg durchdringen, ehe sie mit dem Szintillator
in Wechselwirkung treten. Diese Strecke variiert statistisch für jedes
Photon gemäß einer
bekannten Exponentialverteilung, die von der Art der verwendeten Szintillatormischung
und der Energie der auftreffenden Photonen abhängt. Bei einer Wechselwirkung wird
die Szintillatormischung angeregt und emittiert eine Lichtmenge,
die proportional zu der von dem Photon verlorenen Energie ist. Das
aufnehmende Ende und die Seitenwände
jedes Szintillatorkristalls sind mit einer hochreflektierenden Verbindung
beschichtet, die dieses Licht im Volumen des Kristalls, in dem die
Wechselwirkung auftrat, einfangen wird. Der Kristall arbeitet als
Lichtleiter für
das emittierte Licht und kanalisiert das Licht durch Mehrfachreflektionen
an den beschichteten Seitenwänden
in Richtung eines Lichtübertragungsendes
des Kristalls. Eine geeignete Anzahl von Lichterfassungsvorrichtungen
sind optisch mit den Lichtübertragungsenden eines
Arrays von Kristallen gekoppelt, um das Licht aus allen Kristallen
im Array aufzufangen. Mit Hilfe geeigneter Kalibrierverfahren kann
anhand des aufgefangenen Lichtes bestimmt werden, wie viel Energie
von dem Photon bei der Wechselwirkung mit dem Szintillator freigesetzt
wurde, um die Wechselwirkung zeitlich zu erfassen und, was am wichtigsten
ist, das bestimmte Kristall, das durch die Wechselwirkung angeregt
wurde, zu lokalisieren.
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Da
herkömmliche
Detektoren nur die Wechselwirkungen von Photonen im Gesamtvolumen
eines Kristalls lokalisieren können,
gelten Detektoren gemäß dem Stand
der Technik als zweidimensional, d.h. ein Array von Kristallen liefert
nur Informationen bezüglich
der Querkoordinaten, X und Y, der Photonenwechselwirkung und lässt die
Position der Wechselwirkung entlang der Längsachse Z des angeregten Kristalls
unbestimmt. Die Längskoordinate
kann im Falle von bildgebenden Situationen, in denen das Photon
im rechten Winkel zum Aufnahmeende des Kristalls auftrifft, gefahrlos
weggelassen werden. In diesem Fall wird das Photon in einer Richtung
parallel zur Längsachse
des Kristalls eindringen und in dem Volumen dieses Kristalls in
Wechselwirkung treten. Die Kenntnis der Querkoordinaten (X- und
Y-Koordinaten) eines Paares von Photonen, die koinzident erfasst
werden, reicht dann aus, um die Ausrichtung und die Raumlage ihrer
Flugbahnlinie eindeutig zu bestimmen. Im Gegensatz dazu kann ein
Photon, das entlang einer Richtung auftrifft, die in einem deutlichen
Winkel in Bezug zum lotrechten Winkel der zur Bildung eines Detektors
angeordneten Kristalle steht, durch mehrere Kristalle eines Arrays
von Kristallen, das den Detektor bildet, fliegen, ehe es zu einer Wechselwirkung
kommt. Da es nicht bekannt ist, durch welche der Kristalle die Photonen
tatsächlich
in das den Detektor bildende Array von Kristallen eingetreten sind,
ist die alleinige Kenntnis der Querkoordinaten der Wechselwirkungen
der Photonen, die koinzident erfasst wurden, nicht ausreichend.
Es bleibt eine deutliche Unsicherheit bezüglich der Ausrichtung und der
Raumlage ihrer Flugbahnlinie.
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Die
oben erörterte
Unsicherheit verursacht deutliche Schwierigkeiten. Beispielsweise
ist die Positionsauflösung
einer PET-Vorrichtung im Allgemeinen als gemessene Raumgröße des Projektionsbildes
einer punktartigen Quelle vorgegeben, die koinzidente Photonen emittiert.
Eine Fehlidentifizierung des Inzidenzkristalls aufgrund des tiefen
Eindringens der Photonen, die in einem Winkel auf die Detektoren treffen,
die von dem Array von Kristallen gebildet sind, führt zu einer
Verschlechterung der Bildauflösung
herkömmlicher
PET-Kameras, die
im Stand der Technik allgemein als Parallaxenfehler bekannt ist. Der
Parallaxenfehler führt
dazu, dass die Bildauflösung
für eine
Photonen-Emissionsquelle,
die sich am Rand der Kamera befindet, deutlich verschlechtert ist verglichen
mit einer Quelle, die sich in deren Mitte befindet. Demzufolge wird
durch den Parallaxenfehler die Fähigkeit
herkömmlicher
Kameras beschränkt, relativ
große
Objekte, wie z. B. einen menschlichen Rumpf, abzubilden. Das Problem
wird folglich noch auffallender, wenn man ausgestreckte Körper abbildet
oder wenn man versucht, die Detektoren näher an den abzubildenden Körper zu
bringen.
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Selbstverständlich wäre es wünschenswert, den
Parallaxenfehler in PET-Kameras zu verhindern, indem man Detektoren
verwendet, die nicht nur die Querkoordinaten sondern auch die Längskoordinaten
der Photonenwechselwirkungen messen können. In der Tat lässt die
Kenntnis der dreidimensionalen Koordinaten der Wechselwirkungen
eines koinzident erfassten Photonenpaars keine Unklarheit bezüglich deren
Flugbahnlinien.
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Ein
unlängst
entwickelter Ansatz auf diesem Gebiet, der auf die Lage der X-,
Y- und Z-Koordinaten von Lichtemissionen in einem Array von Kristallen gerichtet
ist, ist im US-Patent 5,349,191 von Rogers offenbart. Der Ansatz
von Rogers beruht auf einer Fläche
auf mindestens einem Teil der Kristallwände mit einer hohen Lichtreflexion
und sowie derartigen Kristallquerschnittsabmessungen, dass der Gesamtanteil
des emittierten Lichts, das zu den Lichterfassungsvorrichtungen
geführt
wird, wesentlich geringer ist für
Wechselwirkungen, die nahe dem Aufnahmeende des Kristalls auftreten
und wesentlichen höher
ist für
solche, die nahe dem Lichtübertragungsende
auftreten. Dieser Ansatz führt
jedoch zu einer ununterbrochenen Schwankung des gesamten aufgefangenen
Lichts mit der Längs-
(Z-Richtungs-)-Emissionskoordinate. Diese Schwankung muss von daher an
einer Vielzahl von Stellen von dem Aufnahmeende zum Lichtübertragungsende
des Kristalls kalibriert werden. Die Kalibrierung umfasst Messungen
des aufgefangenen Lichts als eine Funktion der bekannten Längskoordinate
eines kollimierten Photonenstrahls, der auf eine Seitenfläche jedes
Detektors auftrifft. Obwohl der Rogers-Detektor genaue X-, Y- und
Z-Positionen eines Punktes von photoneninduzierter Lichtemission
in einem Muster einer Vielzahl von Szintillationskristalllichtleitern
liefert, erfordert dieser Detektor die obige Kalibrierung, die insbesondere
bei einer großen
Anzahl von Kristallen unpraktisch und zeitaufwändig ist.
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Ein
weiterer Ansatz gemäß dem Stand
der Technik zum Angeben der X-, Y- und Z-Positionen von photoneninduzierten
Lichtemissionen in den Kristallen ist im US-Patent Nr. 4,843,245
von Lecomte beschrieben. Dieser Ansatz nutzt das Stapeln von zwei
segmentierten Szintillationskristallen. die unterschiedliche Szintillationsabfallzeiten
haben. Da der Ansatz auf der Verfügbarkeit von Szintillatoren beruht,
die unterschiedliche Abfallzeiten haben, ist es in der Praxis schwierig,
diesen Ansatz auf mehr als zwei Segmente auszudehnen. Darüber hinaus
würde dies
zwangsweise relativ langsame Szintillatoren erfordern und wahrscheinlich
die maximale Geschwindigkeit, mit der Photonen erfasst werden können, beeinträchtigen.
Um einen Bereich von Abfallzeiten vorzusehen, müssen aufeinander folgende Szintillatoren in
der Tat niedrigere Geschwindigkeiten haben, und für eine vernünftige Auflösung muss
das letzte Segment eine deutlich reduzierte Geschwindigkeit haben.
Demzufolge kann die Gesamtgeschwindigkeit eines Detektors gemäß dem Ansatz
von Lecomte nicht größer als
die niedrigste Geschwindigkeit eines Segments sein.
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Das
US-Patent Nr. 5,122,667 von Thompson verwendet einen einzigen Kristall,
der die Schwierigkeiten des Lecomte-Ansatzes umgeht, jedoch auf
einem absorbierenden Band beruht, das sich an der mittleren Wechselwirkungs-Koordinate
entlang der Längsachse
des Kristalls befindet. Dieses Licht absorbierende Band unterteilt
den Kristall in zwei Bereiche, so dass ein Photon mit gleicher Wahrscheinlichkeit
vor oder hinter dem Band mit dem Kristall in Wechselwirkung tritt.
Koinzidente Ereignisse, die ein Paar dieser Kristalle umfassen,
werden sich somit in vier gleichwahrscheinliche Gruppen aufteilen.
Der Thompson-Ansatz gilt als eine Verbesserung gegenüber dem Ansatz
gemäß dem Stand
der Technik, bei dem Detektorkristalle aus zusammengeklebten unterschiedlichen
segmentierten Szintillatoren hergestellt sind. Thompson weist darauf
hin, dass die Verwendung eines segmentierten Kristalls mit verschiedenen
Materialien in den Segmenten zu einem verringerten Wirkungsgrad
führen
wird, wenn die Gesamtkristalltiefe konstant ist, oder zu einer niedrigeren
Auslösung
und einer Unschärfe,
wenn die Kristalle tiefer gemacht werden, um den Wirkungsgrad aufrechtzuerhalten.
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Das
US-Patent Nr. 5,012,103 beschreibt einen Strahlungsdetektor, der
einen Szintillator enthält, der
einen keilförmigen
Ausgabeabschnitt hat, einen Lichtleiter zum Einbringen von Szintillationslicht
mit einem V-förmigen
Abschnitt zur Aufnahme des Szintillatorausgabeabschnitts sowie einen
Photodetektor zum Erfassen des Szintillationslichts. Dieses Dokument
ist in der Tat hauptsächlich
darauf gerichtet, den Transmissionswirkungsgrad zu verbessern und
sieht keine Lehre bezüglich
der Bestimmung der Z-Achsen-Position der photoneninduzierten Lichtemission vor.
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Das
US-Patent Nr. 4,823,016 beschreibt einen Szintillationsdetektor
für die
dreidimensionale Messung der Adsorptionsposition von Gammastrahlen,
die in den Detektor eintreten, einschließlich eines Bündels von
säulenförmigen Szintillatorelementen, die
zwischen mehreren positionserfassenden Photodetektoren angeordnet
sind, die an beiden Enden des Szintillatorbündels angeordnet sind. Es fehlt
jegliche Lehre darüber,
dass derartige säulenförmige Szintillatorelemente
segmentiert und so bemessen sind, dass sie eine Reihe von Grenzschicht-Transmissionsverlusten
vorsehen, die verwendet werden können,
um Z-Achsen-Positionsinformationen aus der photoneninduzierten Lichtemission
zu extrahieren.
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Das
US-Patent Nr. 4,638,158 beschreibt ein System zur radiometrischen
Bohrlochvermessung unter. Verwendung eines einzelnen positionsempfindlichen
Gammastrahlendetektors, der eine Gamma-Gamma-Streuungstechnik einsetzt,
mit zwei Photodetektoren (PMT) an den entgegengesetzten Enden eines
Szintillatorkristalls. In dem Maße wie ein solcher Szintillatorkristall
als aus Kristallsegmenten zusammengesetzt angesehen werden kann,
sind diese Segmente entlang einer Achse angeordnet, die senkrecht
zur Richtung der ankommenden Gammastrahlen ist.
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Demzufolge
würde sich
ein deutlicher Vorteil auf diesem Gebiet ergeben, wenn die Quer-
und Längskoordinaten
der Photonenwechselwirkungen in einem Detektor bestimmt werden,
der aus Kristallen aus dem gleichen Material gebildet ist. Ein Photonendetektor,
der diese zusätzlichen
Informationen liefert, erfordert nur eine einfache Kalibrierung
und ermöglicht
die Korrektur des Parallaxenfehlers, der die derzeitige Generation
von PET-Kameras beeinträchtigt.
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ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
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Das
Hauptziel der Erfindung ist, einen verbesserten Szintillatorkristall
und eine Vorrichtung für dessen
Verwendung anzugeben, die mit Genauigkeit die Quer- und Längskoordinaten
von Photonenwechselwirkungen in Szintillatorkristallen bestimmen
können.
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Der
vorliegende verbesserte Szintillatorkristall ist eine Verbesserung
gegenüber
den Detektoren aus dem Stand der Technik, bei denen jeder Szintillatorkristall
als Lichtleiter dient, um Licht, das bei Anregung durch wechselwirkende
Photonen freigesetzt wird, zu übertragen.
In der Vorrichtung sind eine Vielzahl von Licht erfassenden Vorrichtungen
optisch mit dem Licht übertragungsende
des Kristallarrays gekoppelt, um dieses Licht aufzufangen. Mit der
oben genannten Ausnahme sind beim Stand der Technik die Kristalllichtleiter
monolithisch (nicht segmentiert und bestehen aus dem gleichen Material)
und weisen über
ihr gesamtes Volumen und insbesondere über ihre gesamte Länge einheitliche
Eigenschaften auf. Bei diesen unsegmentierten Lichtleitern aus dem Stand
der Technik wird die Wahrscheinlichkeit, dass das emittierte Licht
die Lichterfassungsvorrichtungen erreicht, von zwei grundlegenden
Phänomenen
bestimmt, nämlich:
die Absorption von Licht im Volumen jedes Kristalls oder der Austritt
oder die Absorption von Licht bei Wechselwirkungen mit den Oberflächen der
Enden oder der Seitenwände
des Kristalls. Beim Stand der Technik wird die Szintillatormischung
und ihre Oberflächenvergütung bzw.
-beschichtung so gewählt,
dass das Auftreten dieser beiden Phänomene so gut wie möglich auf
ein Minimum herabgesetzt wird.
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Im
Gegensatz zum Stand der Technik basiert die vorliegende Erfindung
auf der Entdeckung, dass eine diskrete schrittweise Veränderung
der Menge an aufgenommenem Licht durch einen segmentierten Szintillationskristall
erreicht werden kann, wobei die diskrete schrittweise Veränderung
von der Längskoordinate
der Photonenwechselwirkung abhängt.
Diese Veränderung
kann in einem Detektor, der eine Vielzahl solcher segmentierter
Kristalle umfasst, dafür
genutzt werden, nicht nur die Querkoordinaten sondern auch die Längskoordinaten
von Photonenwechselwirkungen zu erhalten, und sie vermeidet somit
unter anderem den Parallaxenfehler in der PET.
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Die
Erfindung betrifft im Wesentlichen einen Szintillationslichtleiter,
wie er im Anspruch 1 definiert ist. Zusätzliche Merkmale sind in den
abhängigen
Ansprüchen
definiert, insbesondere im Anspruch 17 für eine Vorrichtung, die Lichtleiter,
wie in Anspruch 1 definiert, enthält.
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Als
erstes Ausführungsbeispiel
der Erfindung wird eine diskrete Veränderung des aufgenommenen Lichtes
dadurch ermöglicht,
dass der Kristall entlang seiner Längsachse segmentiert wird,
so dass jeder Kristall aus einzelnen Kristallsegmenten der gleichen
oder der im Wesentlichen gleichen Szintillationsmischung gebildet
ist. Eine Grenzschicht, die die Lichtübertragung unterdrückt, ist
zwischen angrenzenden Segmenten angeordnet. Die Grenzschicht bewirkt
eine schrittweise Veränderung
des Lichts, das von den Lichterfassungsvorrichtungen aufgefangen
wird. Ein Unterdrücken
der Lichtübertragung
zwischen zwei angrenzenden Kristallsegmenten kann weiter durch die
Zusammensetzung der Grenzschicht und durch die Endkonfigurationen
der angrenzenden Segmente gesteuert werden.
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Der
Kristall kann entweder mechanisch oder chemisch segmentiert werden.
So werden in einem Ausführungsbeispiel
mechanischer Segmentierung angrenzende Kristallsegmente mechanisch
zusammengehalten, z. B. durch Klebstoffe oder mechanische Halterungen,
und die Grenzschicht nutzt einen Unterschied zwischen dem Brechungsindex
des Szintillatormaterials der Segmente und dem Brechungsindex der
Grenzschicht. Vorausgesetzt, dass er immer von dem des Szintillators
abweicht, kann dieser Brechungsindex für alle Segmente gleich sein oder
kann auch von einem Segment zum anderen variieren. Aufgrund der
allgemein bekannten Gleichungen von Fresnel ergibt sich, dass je
größer der Unterschied
zwischen diesen Brechungsindizes ist, umso größer die gesamte innere Reflektion
des Lichtes ist, wenn es die Grenzschicht zwischen zwei angrenzenden
Segmenten erreicht.
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In
einem anderen Ausführungsbeispiel
der Erfindung kann der Kristall chemisch segmentiert werden, um
ausgewählte
Eigenschaften des Kristalls an einer Grenzschicht zu ändern, und
zwar durch das Hinzufügen
spezifischer Dotierungssubstanzen unter Verwendung von Techniken,
die auf diesem Ge biet allgemein bekannt sind. Beispielsweise und
nicht einschränkend
ist das üblichste
Verfahren zum Züchten von
Kristallen aus Oxidmaterialien mit hohem Schmelzpunkt, wie z. B.
Lutetiumoxyorthosilikat (LSO), beschrieben in C.L. Melcher, et al., "Cerium-doped Lutetium
Oxyorthosilicate: A Fast, Efficient, New Scintillator", IEEE Trans. Nucl.
Sci., NS-39, 502, (1992), das Czochralski-Verfahren, bei dem ein
Impfkristall dazu verwendet wird, einen Einkristall aus einer Schmelze
zu ziehen. In dem besonderen Fall von Cer-dotiertem LSO kann die
Cer-Konzentration in den Rohmaterialien, d.h. der Schmelze, beispielsweise
zwischen 0,05 % und 2,0 % (in Relativprozent zu Lutetium) variiert
werden, um Grenzschichten in den LSO-Kristallen zu erzeugen, die
bewirken, dass spürbar
unterschiedliche Mengen an Licht emittiert werden, wenn sie durch
Photonen einer gegebenen Energie angeregt werden.
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Ein
gesteuertes Unterdrücken
der Übertragung
des emittierten Lichts zwischen Segmenten des Kristalls verbessert
wirksam die Menge an emittiertem Licht, die in dem Volumen eines
Segments eingefangen werden soll, ehe es die Lichterfassungsvorrichtungen
erreichen kann. Das Licht, das in einem Segment gefangen ist, hat
eine höhere
Chance in dem Volumen des Kristalls dieses Segments oder auf der
Oberfläche
der Außenwände des
Kristallsegments oder auf einer Licht adsorbierenden Maske, die
an den Enden eines Segments angeordnet ist (wird nachstehend beschrieben),
absorbiert zu werden.
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Für eine gegebene
Längsposition
der Emission wird der Anteil des ursprünglichen Lichts, das dieses
Einfangen überstehen
und die Lichterfassungsvorrichtungen erreichen wird, von der Gesamtanzahl
der Segmente zwischen dem Emissionspunkt des Lichts und dem Lichtübertragungsende
beeinflusst. Der Nettoeffekt der Unterdrückung der Übertragung an den Grenzschichten
zwischen Segmenten ist deshalb von einem Segment zum anderen inkremental.
Dies führt
zu diskreten (nicht kontinuierlichen) Unterschieden in der Menge
an aufgenommenem Licht für
Emissionspunkte, die sich in einzelnen Segmenten des segmentierten
Kristalls befinden. Die Lichtmenge ändert sich nicht für verschiedene
Emissionspunkte innerhalb eines einzelnen Segments.
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Ein
Unterdrücken
der Lichtübertragung
aus jedem Segment kann möglicherweise
nicht allein ausreichen, um diskrete und aufgelöste Unterschiede des von einem
Kristalllichtleiter gesammelten Lichtes sicherzustellen. Praktische
Grenzen werden dieser Trennung durch die Bulk-Eigenschaften der Szintillatormischung,
durch die Länge
und den Querschnitt der Segmente, durch die besondere Wahl der Grenzschicht,
durch die Oberflächengüte der Segmente
und durch die Reflexionsbeschichtung aufgezeigt. Demzufolge ist
ein wichtiges Merkmal der Erfindung, dass diskrete und aufgelöste Unterschiede in
der Menge an gesammeltem Licht dadurch verbessert werden, dass die
Absorption von gefangenem Licht in einem Segment verbessert wird.
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Es
können
mehrere verschiedene Mittel verwendet werden, um eine derartige
verbesserte Absorption zu erreichen. In einem ersten Ausführungsbeispiel
ist ein Teil oder das gesamte Aufnahmeende eines segmentierten Kristalls
mit einer Licht absorbierenden Maske beschichtet, die das gesamte
oder einen Teil des reflektierenden Materials ersetzt, das dieses
Ende normalerweise bedeckt. Dies führt zu der Absorption des emittierten
Lichts, das dieses Ende des Kristallsegmentsstapels erreicht. Die
absorbierende Maske wird einen anderen Anteil des Lichts eliminieren,
je nach Segment, in dem die Emission auftrat. Diese Menge hängt von
der Anzahl an Grenzschichten ab, durch die das Licht, das aus einem
gegebenen Segment stammt, hindurch treten muss, um das Aufnahmeende
des Kristallstapels mit der Maske darauf zu erreichen.
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In
einem anderen Ausführungsbeispiel
kann die Grenzschicht ein gesteuertes Absorptionsvermögen sowie
eine gesteuerte Dicke haben, um diese Absorption und Auflösungsunterschiede
in der Menge an Licht, das aus Wechselwirkungen, die in jedem Segment
stattfinden, aufgenommen wurde, zu verbessern. Dies betont weiter
den Lichtverlust an jedem Segment durch Eliminieren eines ausreichenden
Anteils des emittierten Lichts, das sich auf seinem Weg zu den Lichterfassungsvorrichtungen durch
jedes Segment bewegt.
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Ein
wichtiges Merkmal der Erfindung ist die Möglichkeit, nur eine Art von
Szintillatormischung zu nutzen und ohne besondere Beschränkung dahingehend,
welche spezifische Szintillatormischung verwendet werden muss. Der
Szintillator hat die gleichen oder im Wesentlichen die gleichen
physikalischen Eigenschaften für
jedes Segment des Kristalls.
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Die
Gesamthöhe
eines Kristalls wird von einer Notwendigkeit vorgegeben, einen guten
Erfassungswirkungsgrad für
Photonen zu erzielen, die mit der Mischung, die in einem bestimmten
Szintillator verwendet wird, in Wechselwirkung treten, und kann leicht
zwischen 15 und 50 mm variieren. Als weiteres Merkmal der Erfindung
kann die Gesamthöhe
des Kristalls gemäß zwei verschiedenen
Mustern segmentiert werden. Bei dem ersten Muster, das als Segmentierung
mit "gleicher Zählrate" (ECR) bezeichnet
wird, wird die Höhe
jedes Segments in Übereinstimmung
mit der exponentiellen Dämpfung
von Photonen bekannter Energie im Szintillator gewählt, um
dazu zu führen,
dass diese mit gleicher Wahrscheinlichkeit in jedem Segment des
Kristalls in Wechselwirkung treten. Bei dem zweiten Muster hat jedes
Segment des Kristalls im Wesentlichen die gleiche oder genau die
gleiche Höhe.
Dies hat den offensichtlichen Vorteil einer leichten Umsetzung,
und dieses Muster wird als Segmentierung mit "gleicher Dicke" (ET) bezeichnet. Obgleich die ECR- und ET-Segmentierungen
bevorzugt werden, versteht es sich, dass andere Längssegmentierungsmuster
verwendet werden können.
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Im
Gegensatz zum Stand der Technik sieht die vorliegende Erfindung
somit einen Kristalllichtleiter vor, der aus mindestens, vorzugsweise
jedoch mehr als zwei Segmenten von Kristallen der gleichen Szintillatormischung
besteht, um einen entlang seiner Längsachse segmentierten Kristall
zu bilden. Es gibt diskrete und auflösbare (erfassbare) Unterschiede
der Lichtmenge, die von jedem Segment des Kristalls stammt, die
das Lichtübertragungsende
des Kristalls erreicht und von den Lichterfassungsvorrichtungen
aufgezeichnet wird. Diese Unterschiede ergeben sich vollkommen oder
zum Teil aus der Grenzschicht, die sich an den Grenzflächen zwischen
zwei beliebigen angrenzenden Segmenten des Kristalls befindet. Da
diese Absorption in diskreten Schritten von dem Kristallsegment
abhängt,
aus dem die Lichtemission kam, liefert die Menge an gesammeltem Licht
eine selbstkalibrierende und beobachtbare Längskoordinate der Photonenwechselwirkung
in einem besonderen Segment, das das Licht erzeugte.
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Kurz
gesagt, gibt die vorliegende Erfindung somit einen Szintillationslichtleiter
zum Bestimmen der X-, Y- und Z-Positionen eines Punktes photoneninduzierter
Lichtemission an. Der Lichtleiter umfasst mehrere einzelne Kristallsegmente,
die aus der im Wesentlichen gleichen Szintillationsmischung gebildet
sind, wobei jedes Segment entlang einer gemeinsamen Längsachse
des Lichtleiters nebeneinander angeordnet ist. Eine Grenzschicht
ist zwischen mindestens zwei angrenzenden Kristallsegmenten angeordnet,
wobei die Grenzschicht einen derartigen Lichtübertragungsverlust hat, dass
Emissionen aus einem Segment des Lichtleiters unterschieden werden
können.
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Diese
Lichtleiter werden in einer Vorrichtung zum Bestimmen der X-, Y-
und Z-Positionen eines Punktes photoneninduzierter Lichtemissionen
in einem Array einer Vielzahl von Szintillationslichtleitern verwendet,
die aus einer Szintillationsmischung hergestellt sind. Zum Teil
ist die Vorrichtung herkömmlich und
umfasst ferner die neuartigen oben beschriebenen Lichtleiter, mindestens
einen Photodetektor, der ausgerichtet mit einem Lichtübertragungsende jedes
Lichtleiters angeordnet ist, sowie einen Analysator zur Analyse
anhand von durch den Photodetektor erzeugten Signalen der X- und
Y-Koordinaten von photoneninduzierten Lichtemissionen in dem Array von
Lichtleitern. In der vorliegenden Vorrichtung ist der Analysator
zum Teil ein Diskriminator, der von dem Photodetektor empfangene
Lichtwerte vergleicht, um zu bestimmen, welches Kristallsegment des
Lichtleiters das photoneninduzierte Licht emittiert hat, und um
somit eine Z-Koordinate desselben zu bestimmen.
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KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
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Nachstehend
wird die Erfindung anhand der beigefügten Zeichnungen beschrieben,
in denen zeigen:
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1(a) eine schematische isometrische Ansicht, die
einen segmentierten Gammastrahl-Kristalllichtleiter zeigt, der aus
drei Cer-dotierten Lutetiumoxyorthosilikat (LSO)-Kristallen mit
Höhen gemäß einer
ECR-Segmentierung besteht,
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1(b) eine schematische isometrische Ansicht, die
ein alternatives Ausführungsbeispiel
eines segmentierten Kristalllichtleiters gemäß einer ET-Segmentierung zeigt,
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2 die
Verteilung des mit dem Ausführungsbeispiel
der 1(a) gesammelten Lichts, bei einem
Aussetzen gegenüber
511 keV Gammastrahlen, die durch das Aufnahmeende des Kristallsegments
auftreffen,
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3(a) ein Ausführungsbeispiel
eines Detektors, der aus einer Vielzahl von segmentierten Kristalllichtleitern
mit ECR-Segmentierung hergestellt ist, die jeweils mit einer einzelnen
kompakten Lichterfassungsvorrichtung gekoppelt sind,
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3(b) zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel eines Detektors,
der aus einer Vielzahl von segmentierten Kristalllichtleitern hergestellt
und optisch mit einem Schlitzlichtleiter und vier Photovervielfachern
gekoppelt ist, deren Mittelpunkte für eine Kompaktheit ungefähr mit den
Mittelpunkten der Quadranten des Kristalllichtleiterarrays zusammenfallen,
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3(c) ein drittes Ausführungsbeispiel eines Detektors,
der aus einer Vielzahl von segmentierten Kristalllichtleitern besteht
und optisch mit einem Schlitzlichtleiter und vier Photovervielfachern gekoppelt
ist, deren Mittelpunkte ungefähr
mit den Ecken des Kristallarrays zusammenfallen.
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4(a) und 4(b) schematische
Diagramme, die zeigen, wie die vorliegende Erfindung die Längskoordinate
der Gammastrahlen induzierten Emissionen misst und den Parallaxenfehler
in einer PET-Kamera korrigiert, unter Verwendung von Detektoren,
die eine Vielzahl der vorliegenden segmentierten Kristalllichtleiter
umfassen,
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5 eine
isometrische Ansicht eines Abschnittes eines Lichtleiters, der darauf
aufgebrachte Oberflächenbeschichtungen
zeigt,
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6(a) und 6(b) verschiedene
Konfigurationen von angrenzenden Enden benachbarter Segmente eines
Lichtleiters,
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7 eine übliche Vorrichtung
zum Herstellen eines Histogramms von gesammeltem Licht,
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8(a), 8(b) und 8(c) weitere Ausführungsbeispiele mit verschiedenen
Konfigurationen angrenzender Enden von angrenzenden Segmenten.
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BESCHREIBUNG VON BEVORZUGTEN
AUSFÜHRUNGSBEISPIELEN
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Wie
oben angemerkt, betrifft die vorliegende Erfindung Detektoren zum
Bestimmen der X-, Y- und Z-Positionen von photoneninduziertem Licht
in einem segmentierten Kristalldetektor. Obgleich die Erfindung
somit bei jeder beliebigen photoneninduzierten Lichtemission anwendbar
ist, wird die Erfindung hier der Kürze wegen weitgehend in Verbindung
mit einem bevorzugten Ausführungsbeispiel
beschrieben, bei dem das Photon ein Gammastrahl ist, wobei es sich
jedoch versteht, dass die Erfindung nicht auf dieses Ausführungsbeispiel
beschränkt
ist.
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Die
Grenzschicht zwischen den Segmenten eines Kristalls kann in den
Kristall entweder mechanisch eingebracht werden, z. B. durch Zusammenkleben
von geschnittenen Segmenten des Kristalls mit einem Klebstoff, der
eine Grenzschichtfunktion ausübt,
oder auch chemisch, z. B. durch das Zufügen einer Dotierungssubstanz
in den Kristall sowie die Wahl der Konzentration derselben. Das
gewählte Verfahren
wird sowohl von den physikalischen Eigenschaften des gewählten Szintillators
abhängen
als auch von der Anwendung, für
die er vorgesehen ist. Die Grenzschicht funktioniert im Wesentlichen
auf die gleiche Weise, egal ob chemisch oder mechanisch gebildet.
Demzufolge wird die Erfindung nachstehend der Kürze wegen im Zusammenhang mit
der mechanisch gebildeten Grenzschicht erläutert, aber es versteht sich,
dass die Erfindung ebenso auf eine chemisch gebildete Grenzschicht
anwendbar ist.
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In
dem Ausführungsbeispiel
mit mechanisch gebildeter Grenzschicht wird der segmentierte Kristall
dadurch hergestellt, dass man einen monolithischen Kristall in gewünschte Segmentlängen entlang der
Längsrichtung
schneidet und man anschließend einen
Stapel aus den geschnitten Segmenten bildet, wobei die Grenzschicht
zwischen angrenzenden Segmenten vorgesehen wird, um einen Kristallstapellichtleiter
vorzusehen. Die 1(a) und 1(b) zeigen
zwei Ausführungsbeispiele
eines derartigen Kristallstapellichtleiters. Der Lichtleiter, der
allgemein mit 1 bezeichnet ist, hat vorzugsweise die Form eines rechteckigen
Prismas mit einer Höhe
von 20 bis 50 mm und einem Querschnitt von 2 bis 16 mm2.
Die Wahl des Querschnittes als auch der Höhe des Lichtleiters wird von
seiner effektiven Atomzahl, der Anwendung, für die der Detektor vorgesehen
ist, und dem Energiebereich der betrachteten Photonen abhängen. Er
wird dadurch gebildet, dass man mindestens, im Allgemeinen jedoch
mehr als zwei Kristallsegmente der gleichen oder der im Wesentlichen gleichen
Szintillatormischung optisch koppelt. Der gewählte Szintillator hat die gleichen
oder im Wesentlichen die gleichen chemischen und physikalischen
Eigenschaften in jedem Kristallsegment des Stapels (was normale
Herstellungs- und Rohmaterialreinheitstoleranzen ermöglicht)
und kann jede beliebige Szintillatormischung sein. Bei der besonderen Anwendung
der Erfindung bei der PET ist der Szintillator vorzugsweise Cer-dotiertes
Lutetiumoxyorthosilikat (LSO). Verglichen mit Wismutgermanat (BGO), das
beim Stand der Technik weit verbreitet ist, bietet das neue LSO,
wie es in C.L. Melcher, et al., das zuvor genannt wurde, beschrieben
ist, einen hohen Erfas sungswirkungsgrad, eine hohe Szintillationslichtausbeute
und eine kurze Szintillationsabfallzeit, und diese Eigenschaften
machen ihn zu einem deutlich besseren Szintillator zur Photonenerfassung, und
insbesondere zur Erfassung von 511 keV Gammastrahlen.
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Die
Gammastrahlen treten in den Kristalllichtleiter 1 durch
das Gammastrahlen- Aufnahmeende 2 ein oder allgemein aus
dieser Richtung und treten in Wechselwirkungen, die den Szintillator
anregen und die Emission von Licht nahezu proportional zur Energie
verursachen, die von den wechselwirkenden Gammastrahlen freigesetzt
wird. Alle Oberflächen 3 aller
Kristallsegmente 4 sind vorzugsweise auf die aus dem Stand
der Technik bekannte Art poliert oder geätzt oder beschichtet. Die Seitenwände sind
vorzugsweise mit einer weißen
Beschichtung überzogen,
die das Licht reflektiert, das andernfalls über Lichtbrechung austreten
würde.
Das Lichtübertragungsende 5 des
Kristallstapellichtleiters 1 ist optisch mit mindestens
einer Lichterfassungsvorrichtung 6 gekoppelt, die das emittierte
Licht auffängt
und es in ein proportionales elektrisches Signal umwandelt, das
unter Verwendung von Mitteln, die auf diesem Gebiet allgemein bekannt
sind, weiterverarbeitet werden kann.
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Die 1(a) zeigt ein Ausführungsbeispiel eines Kristallstapels
mit drei Kristallsegmenten gemäß einer
ECR-Segmentierung. Die Höhe
jedes Segments ist in Übereinstimmung
mit der exponentialen Dämpfung
von Gammastrahlen gegebener Energie, z. B. 511 keV für die PET,
in dem Szintillator gewählt,
so dass diese mit gleich großer
Wahrscheinlichkeit in jedem der Segmente des Stapels in Wechselwirkung
treten. Die 1(b) zeigt ein Ausführungsbeispiel
mit der alternativen ET-Segmentierung.
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Einzelne
Kristallsegmente 4 eines gestapelten Lichtleiters sind
optisch durch eine Grenzschicht 7 gekoppelt, die einen
geringeren Lichtdurchlass als die Kristallsegmente 4 hat,
z. B. erreicht durch einen Brechungsindex, der sich deutlich von
dem der gewählten
Szintillatorkristalle unterscheidet. Wenn die Grenzschicht mit einem
anderen Brechungsindex gebildet ist, kann der Brechungsindex kleiner
oder größer als
der Brechungsindex der Kristallsegmente sein. Es wird bevorzugt,
dass der Brechungsindex kleiner als der Brechungsindex der Kristalle
ist. Jede derartige Grenzschicht dient somit als Mittel zum Unterdrücken der Übertragung
von emittiertem Licht zwischen angrenzenden Kristallsegmenten.
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Ebenso
vorgesehen sind Mittel, um die Absorption eines Anteils des emittierten
Lichts zu verbessern, das auf seinem optischen Pfad entweder auf
das Aufnahmeende 2 oder die Grenzschicht 7 zwischen
den beiden obersten Kristallsegmenten des Stapels trifft. In einem
Ausführungsbeispiel
sind diese Mittel eine Licht absorbierende Maske 8, die
einen Teil oder das gesamte Aufnahmeende 2 des Kristallstapels
abdeckt. Diese Maske kann beispielsweise Klebstoff, Schmierstoff,
Farbe, Ätzflüssigkeit oder
jedes andere Material sein, das zu einer Lichtabsorption führt, die
sich mengenmäßig von
dem Reflektor unterscheidet, der den restlichen Teil des aufnehmenden
Endes 2 abdeckt, um Licht aus den inneren Lichtreflexionen,
die auftreten und andernfalls die Wirksamkeit des Lichtleiters erhöhen würden, zu
absorbieren oder teilweise zu adsorbieren.
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Die
Licht absorbierende Maske 8 kann einfach eine Farbe, ein
Lack, eine Kunststofffolie oder dergleichen sein, die jeweils Licht
absorbieren und direkt auf das Aufnahmeende 2 des Lichtleiters 1 gestrichen
oder aufgeklebt werden, oder sie kann ein schwarzes Klebeband sein,
wie z. B. gewöhnliches Elektrikerband,
oder ein aktives oder passives halbleitendes Material, das auf das
Aufnahmeende 2 geklebt wird, und die Zeichnungen zeigen
ein Band.
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Es
können
jedoch auch andere Mittel verwendet werden, um die Absorption von
emittiertem Licht, das sich zu dem Aufnahmeende 2 bewegt,
zu verbessern, z. B. ein Aufrauen der Oberfläche des Aufnahmeendes 2,
ein Einkerben dieser Oberfläche, ein
Sandstrahlen dieser Oberfläche,
usw., wodurch eine Maske 8 ausgebildet wird, aber vorzugsweise
ist die Maske 8 eine Beschichtung, eine Folie oder ein Band,
wie dies oben beschrieben ist.
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Wie
in 1(a) zu erkennen, kann ein solches
absorbierendes Material, d.h. die Maske 8, auch an oder
in oder als Teil der Grenzschicht 7 zwischen den beiden
obersten Kristallsegmenten des Lichtleiters verwendet werden, wie
dies in 1(a) angezeigt ist. Jegliche
Mittel zum Bereitstellen einer absorbierenden Eigenschaft an dieser
Grenzschicht, wie sie z. B. oben erwähnt sind, können verwendet werden. In der
Tat kann eine solche Maske 8 zwischen beliebigen zwei Kristallsegmenten
des Lichtleiters verwendet werden, aber am gewöhnlichsten wird eine derartige
Maske 8 zwischen den beiden obersten Kristallsegmenten
verwendet werden. Der Zweck der Maske zwischen Kristallsegmenten
liegt darin, dass Mittel vorgesehen werden, um emittiertes Licht
zu absorbieren, das von der Grenzschicht in ein Segment reflektiert
wird. Wenn beispielsweise eine Grenzschicht, die auf einem anderen
Brechungsindex beruht, zwischen dem Szintillator und der Grenzschicht
selbst verwendet wird, und die Grenzschicht ein relativ klares Material
ist, z. B. ein Klebstoff, zum Feinabstimmen des Lichtleiters, kann
es wünschenswert
sein, eine Licht absorbierende Maske 8 an oder in oder
als Teil der Grenzschicht aufzunehmen, um reflektiertes Licht zu
absorbieren. In diesem Fall kann die Maske beispielsweise entweder
ein Material sein, das das Licht nur teilweise absorbiert und im
Wesentlichen vollkommen über
die gesamte Grenzfläche zwischen
Kristallsegmenten angeordnet ist, z. B. eine leicht getönte Kunststofffolie,
oder ein Material, das im Wesentlichen opak gegenüber Licht
ist (hoher Absorber), das aber nur teilweise über der Grenzfläche zwischen
Kristallseg menten angeordnet ist, z. B. ein Streifen- oder Punkt-
oder Viereckmuster aus schwarzer Farbe, das nur einen Teil dieser
Grenzfläche
abdeckt. In anderen Fällen
der Feinabstimmung kann anstelle der verwendeten Maske die Grenzschicht
selbst absorbierendes Material enthalten, z. B. einen klaren Klebstoff,
der mit ausreichend Kohleschwarz vermischt ist, um sowohl den Verlust
an übertragenem
Licht für
die Grenzschichtzwecke als auch die Adsorption von Licht für die Maskenzwecke zu
erreichen.
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Obwohl
die Grenzschicht 7 zwischen Kristallsegmenten 4 einfach
ein Klebstoff sein kann, kann die Grenzschicht alles sein, was einen
merklichen Lichtübertragungsverlust
zwischen angrenzenden Kristallsegmenten vorsieht. So kann die Grenzschicht
einfach ein Abstand zwischen den Kristallsegmenten sein, so dass
zwischen diesen ein Luftspalt vorhanden ist, eine Flüssigkeit
oder ein Feststoff, die bzw. der an einer der Flächen angrenzender Kristallsegmente
anstößt, oder
auch ein Vakuum zwischen denselben. Sie alle werden einen anderen
Brechungsindex bilden und zu einem Lichtübertragungsverlust führen. Das
jeweilige Material der Grenzschicht ist nicht entscheidend.
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Die
Schwankungen in der Menge an gesammeltem Licht aus einzelnen Kristallsegmenten
müssen
nicht nur diskret sondern auch, was am wichtigsten ist, aufgelöst sein.
Um aufgelöst
zu sein, müssen die
diskreten Schwankungen in dem aufgenommenen Licht höher als
die statistischen Schwankungen in der Lichtmenge sein, die das aussendende
Ende erreicht, um in den Lichterfassungsvorrichtungen ein nützliches
Signal zu erzeugen. Diese statistischen Schwankungen werden durch
die Halbwertsbreite (FWHM) der Peaks quantifiziert, die in der Verteilung des
gesammelten Lichts beobachtet werden, wie z. B. diejenige, die in 2 gezeigt
ist. Die Grenzschicht muss somit eine Trennung der Peaks in der Verteilung
des gesammelten Lichts sicherstellen, die zumindest gleich der halben
Summe der entsprechenden Halbwertsbreiten ist, so dass die Peaks voneinander
unterschieden (aufgelöst)
werden können.
Um diese Trennung der Peaks zu erreichen, muss die Grenzschicht
weniger Licht durchlassen als das von den Kristallsegmenten durchgelassene Licht,
und diese Differenz an durchgelassenem Licht muss deutlich sein,
so dass die Peaks unterschieden werden können. Was als deutlich gilt,
wird von den Variablen der jeweiligen Szintillatormischung, der Geometrie
des Lichtleiters, der Anzahl an Kristallsegmenten, dem Reflexionsvermögen und/oder
der Absorption der Wände
der Kristallsegmente, der Verwendung oder Nichtverwendung einer
Maske 8, der Empfindlichkeit der Vorrichtung, die verwendet
wird, um ein Histogramm der Peaks zu erzeugen, und was am wichtigsten
ist, von der Lichtdurchlässigkeit
der Grenzschicht abhängen.
Somit muss der erforderliche merkliche Lichtübertragungsverlust durch die Grenzschicht
experimentell für
jede gewünschte Kombination
der vorstehenden Variablen bestimmt werden. Wenn ein Histogramm,
wie es in 2 gezeigt ist, die Peaks nicht
angemessen unterscheidet (auflöst),
z. B. durch mindestens eine Menge, die gleich der Hälfte der
Summe der entsprechenden Halbwertsbreiten ist, wie oben erörtert, dann
muss der Lichtdurchlass durch die Grenzschicht weiter reduziert
oder die andere obige Variable verändert werden, bis die Peaks
auflösbar
sind.
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Zusammengefasst
muss die Grenzschicht einen Lichtübertragungsverlust haben, der
auflösbar signifikant
ist, d.h. derart sein, dass die Lichtemission aus verschiedenen
Segmenten des Lichtleiters unterschieden werden kann. Zusätzlich hierzu
hat jede Szintillatormischung eine andere intrinsische Teil-Energieauflösung und
diese Auflösung ändert sich
mit der Energiehöhe
des Photons, z. B. Gammastrahl, das die Mischung anregt. Beispielsweise
können
bei einem Energieniveau von 511 keV Natriumiodid-Szintillatormischungen
eine Auflösung
von 7% haben. Somit muss der Nettolichtverlust, der durch die Grenzschicht
bewirkt wird, größer sein
als die intrinsische Teil-Energieauslösung der Szintillatormischung,
die für
die Kristallsegmente gewählt
wird, und im Falle von Natriumiodid müsste er größer als 7% sein. Um wie viel
größer dieser
Lichtverlust sein muss, hängt
von den oben erörterten
Variablen und der jeweiligen Szintillatormischung ab. Für spezifische
Kombinationen der oben erörterten
Variablen kann jedoch, obgleich der Nettolichtverlust, der durch eine
Grenzschicht bewirkt wird, mindestens gleich der intrinsischen Teil-Energieauflösung der
Szintillatormischung ist, bei einer Messung mit Photonen einer gegebenen
Energie, der Lichtverlust durch die Grenzschicht selbst ziemlich
niedrig sein und immer noch zu auflösbaren Peaks führen, insbesondere wenn
die Maske 8 vorhanden ist (vgl. 2). Ein Lichtübertragungsverlust
von 1,2 % ist für
gewöhnlich
angemessen für
so genannte "helle" Kristallszintillatoren,
z. B. LSO Kristalle (vgl. Beispiele 1 und 2), aber in den allgemeineren
Fällen,
in denen die Maskenfunktion durch die Segmentschicht selbst erfüllt wird,
sollte der Lichtverlust mindestens 7% und bis zu 30% betragen. Auch
hier müssen
die oben genannten Versuche für
die spezifische Kombination aus Szintillatormischung und oben erörterten
Variablen durchgeführt
werden.
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Der
Unterschied im Lichtdurchlass wird am bevorzugtesten dadurch erreicht,
dass die Grenzschicht einen anderen Brechungsindex als den Brechungsindex
der Kristallsegmente aufweist. Dies liegt daran, dass es sehr leicht
ist, einen solchen anderen Brechungsindex der Grenzschicht verglichen mit
dem Brechungsindex der Kristallsegmente zu erreichen, und als solches
ist es das bevorzugteste Ausführungsbeispiel
der Erfindung. Im Allgemeinen sollte der Brechungsindex der Grenzschicht
um ungefähr
mindestens 5%, z. B. mindestens 8% oder 10%, vom Brechungsindex
der Szintillatormischung abweichen, jedoch noch bevorzugter um etwa
mindestens 12% und bis zu etwa 50%.
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Beispielhaft
für eine
derartige Grenzschicht kann diese Schicht eine Flüssigkeit
oder ein Feststoff oder ein Gas sein, um die erforderliche Differenz
des Brechungsindex vorzusehen, und sie kann oder auch nicht zusätzliche
Materialien enthalten, um das Reflexionsvermögen und/oder die Lichtabsorption und/oder
den Brechungsindex dieser Flüssigkeit,
des Gases oder Feststoffes zu verbessern. Klares geliertes Wasser,
z. B. K.Y. TM Jelly, ist im Wesentlichen transparent,
hat aber einen deutlich anderen Brechungsindex im Vergleich zu dem
Kristall und kann als Grenzschicht verwendet werden. Auf der anderen Seite
kann Petroleumjelly durchscheinend gemacht werden und sieht sowohl
einen deutlich anderen Brechungsindex für die Grenzschichtfunktion
als auch etwas Absorptionsvermögen
für die
Maskenfunktion vor. Weiter können
beispielsweise Klebstoffe, z. B. Epoxyklebstoffe, transparent oder
durchscheinend sein, aber mit reflektierenden Feststoffen, z. B.
Aluminiumoxid, vermischt werden, um sowohl einen anderen Brechungsindex
als auch ein erhöhtes
Reflexiongsvermögen
vorzusehen. Ferner können
beispielsweise derartige Klebstoffe oder Gelees oder andere Materialien
mit Lichtabsorptionsmitteln vermischt werden, z. B. feingemahlenen
Kohlepartikeln oder allgemein bekannten löslichen Lichtabsorptionsmitteln,
um den abweichenden Brechungsindex und das Absorptionsvermögen vorzusehen.
Durch die Wahl des Materials für
die Grenzschicht selbst, deren Transparenz oder Durchscheinvermögen, die Aufnahme
von Absorptionsmitteln und/oder reflektierenden Materialien wird
eine große
Vielzahl von Möglichkeiten
vorgesehen, um das Licht in einem Segment einzufangen und folglich
den Durchlass von Licht durch die Grenzschicht zu verringern. Indem man
die Einfangfähigkeiten
der Grenzschicht mit der speziellen Szintillatormischung des Kristalls,
der Kristallgeometrie, der reflektierenden Beschichtung und der
Maske, etc. abstimmt, ist es leicht, sicherzustellen, dass die von
den Lichterfassungsvorrichtungen empfangene Lichtmenge hinsichtlich
des Segments, aus dem das Licht stammt, unterschieden (aufgelöst) werden
kann.
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In 1(a) beträgt
die Gesamthöhe
des Lichtleiters 1, als ein typisches Beispiel, ungefähr 20 mm,
und der Lichtleiter ist ein rechteckiges Prisma, wobei jede Seite
ungefähr
2 mm beträgt.
Aus 1(a) geht hervor, dass das unterste
Segment eine größere Höhe hat als
das ihm folgende Segment, und dieses Segment wiederum eine größere Höhe hat als
das oberste Segment, was der oben erwähnten Segmentierung mit „gleicher
Zählrate" entspricht. Andererseits
ist zu erkennen, dass in 1(b) jedes
der Segmente 4 im Wesentlichen die gleiche Höhe hat,
was der oben erwähnten
Segmentierung mit „gleicher
Dicke" entspricht.
In 1(b) beträgt die Gesamthöhe des Kristalllichtleiters
typischerweise ungefähr
30 mm, der Lichtleiter hat die Form eines rechteckigen Prismas,
jedes Kristallsegment 4 hat eine Höhe von ungefähr 10 mm,
und jeder Kristall hat eine rechteckige Seitenwand von 4 mm.
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In 2 ist
eine Messung (ein Histogramm) der Verteilung von aufgefangenem Licht
gezeigt, gewonnen mit Gammastrahlen mit einer Energie von 511 keV,
die senkrecht auf das Aufnahmeende 2 (oder aus dieser allgemeinen
Richtung) eines Kristalllichtleiters 1 auftreffen, der
gemäß dem in 1(a) offenbarten Ausführungsbeispiel gefertigt ist.
Die Verteilung des aufgefangenen Lichts zeigt drei ausgeprägte Peaks,
die durch diskrete Stufen entlang der Achse, die das aufgefangene
Licht repräsentiert,
deutlich voneinander getrennt sind (einzeln und aufgelöst). Jedes
Peak steht im Zusammenhang mit den Wechselwirkungen einfallender
Gammastrahlen in dem Volumen eines bestimmten Segments des Kristalllichtleiters.
Das unterste Peak entspricht den Anregungen durch die gesamte Energie der
einfallenden Gammastrahlen des obersten Kristallsegments gegenüber dem
Lichtübertragungsende 5.
Diese Daten zeigen, dass die Erfindung in der Lage ist, eine Messung
der Längskoordinate
von Wechselwirkungen von Gammastrahlen bereitzustellen. Das Segment,
in dem eine Gammastrahlenwechselwirkung aufgetreten ist, wird einfach
bestimmt, indem identifiziert wird, unter welches dieser Peaks die
für eine
bestimmte Gammstrahlenwechselwirkung aufgefangene Lichtmenge fällt.
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Die 3(a), 3(b) und 3(c) zeigen drei Ausführungsbeispiele eines Gammastrahlendetektors
bestehend aus einer Vielzahl von Kristallsegmenten, die mit ECR-Segmentierung
gestapelt sind. Jedes Ausführungsbeispiel
lässt sich
anhand der Beschaffenheit, Anzahl und Lage der das emittierte Licht
aufnehmenden Lichterfassungsvorrichtungen unterscheiden.
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3(a), die das am meisten bevorzugte Ausführungsbeispiel
darstellt, zeigt einen Gammastrahlendetektor, allgemein mit 20 bezeichnet,
der aus einer Vielzahl von Kristallsegmenten 4 besteht, die
mit einer ECR-Segmentation zu einem Lichtleiter gestapelt sind.
Die einzelnen Kristalllichtleiter sind eng gepackt und in einem
Muster mit jeweils bekannter X- und Y-Position (Koordinaten) angeordnet.
Das Lichtübertragungsende 5 jedes
Kristalllichtleiters ist mit einer einzelnen Festkörper-Lichterfassungsvorrichtung 21 gekoppelt.
Dies sind bekannte, hochverstärkende
und rauscharme Halbleiterphotodioden, die direkt auf das jeweilige
Lichtübertragungsende 5 der
Lichtleiter 1 optisch gekoppelt sind. Um Kompaktheit zu
erlangen, ist die Vielzahl von Photodioden, die zum Abtasten jedes
Kristalllichtleiters auf dem Array notwendig sind, auf einer einzigen
Matrix integriert, deren X- und Y-Muster und Querfläche eng
mit denen des Arrays übereinstimmen.
Optional können
Segmente optischer Fasern oder dergleichen jeden Lichtleiter des
Arrays individuell mit einer entsprechenden Einheit einer derartigen
Photodiodenmatrix koppeln, deren X- und Y-Muster oder deren Oberfläche sich
deutlich von denen des Kristallstapelarrays unterscheiden. Beispielsweise
ist es bei einer derartigen Kopplung jedes Lichtleiters mit einer
Photodiodenmatrix nicht notwendig, dass die Photodiodenmatrix die
gleiche X-Y-Anordnung wie die Lichtleiter hat, da die Kopplung einer
optischen Faser von einem bestimmten Lichtleiter zu einer be stimmten
Diode bekannt ist. Somit können
die Dioden in einer linearen Konfiguration oder einer kreisförmigen Konfiguration oder
in jeder anderen Konfiguration vorliegen, die zur Verwendung in
einer bestimmten Einrichtung zweckmäßiger ist.
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Wie
in 3(a) gezeigt und für alle Ausführungsbeispiele
gleich, ist ein Verstärker 32 vorgesehen,
der das durch die Aufnahme von Licht in den einzelnen Photodioden
erzeugte Signal verstärkt. Ferner
ist ein bekannter Diskriminator 33 vorgesehen, der unterscheidet,
welches der Photodiodenelemente eine beträchtliche Lichtmenge aufgefangen hat,
die auf die Wechselwirkung eines Gammastrahls in dem Volumen eines
Kristalllichtleiterarrays hin emittiert worden ist. Bei diesen bekannten
Diskriminatoren kann es sich um Einrichtungen mit Gattern oder einfach
um einen Teil eines Computerprogramms handeln, das zum Analysieren
der empfangenen Signale verwendet wird. Da eine Eins-zu-Eins-Entsprechung
zwischen einem Kristalllichtleiter und einer Photodiode vorliegt,
liefert diese Information die X- und die Y-Position der Gammastrahlenwechselwirkung.
Ferner gibt es einen bekannten Addierer 34, der die in
allen Photodiodenelementen erzeugten Signale addiert. Die Summe
dieser Signale folgt einer Verteilung, die die typische Form der
in 2 gezeigten Verteilung hat und ermöglicht es,
wie zuvor besprochen, die Längskoordinate
der Gammastrahlenwechselwirkung zu bestimmen. Eine Anzeigevorrichtung 35 kann
diese Ergebnisse anzeigen.
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3(b) zeigt ein Ausführungsbeispiel eines Gammastrahlendetektors
bestehend aus einer Vielzahl von Kristalllichtleitern 1.
Viele einzelne Kristalllichtleiter sind eng gepackt und in einem
Muster mit bekannten X- und Y-Positionen angeordnet und sind mit
einem Übertragungslichtleiter 22 gekoppelt.
Der Übertragungslichtleiter 22 kann
aus der gleichen Szintillatormischung, wie sie für den Kristalllichtleiter 1 gewählt wurde,
oder aus einer klaren passiven festen Mischung wie beispielsweise
Kunststoff oder Glas bestehen. Er hat senkrechte Schlitze 23,
die durch Sägeschnitte
ausgebildet sind und deren Abstand und Breite mit denjenigen der
Kristalllichtleiter 1 des Arrays übereinstimmen und deren Zweck
darin besteht, das Teilen des Lichts zwischen einem oder mehreren,
z.B. vier, Lichterfassungsvorrichtungen 24, 25 und 26 (die
vierte Erfassungsvorrichtung ist nicht dargestellt) wie in 3(b) gezeigt zu regeln sowie die Kristallidentifikation
wie in dem US-Patent Nr. 4,750,972 (Casey et al.) offenbart zu ermöglichen.
Die Sägeschnittschlitze 23 und
die Seitenwände 30 der Übertragungslichtleiter 22 haben
die gleiche Oberflächengüte und die
gleiche hochreflektierende Beschichtung wie die einzelnen Kristalllichtleiter 1.
Die vier Lichterfassungsvorrichtungen, von denen 24, 25 und
26 dargestellt sind, z. B. Photovervielfacher, sind an ein Lichtübertragungsende 31 des
geschlitzten Übertragungslichtleiters 22 optisch
gekoppelt. Um Kompaktheit zu erlangen, ist die Querfläche der
Lichterfassungsvorrichtung gleich einem oder kleiner als ein Viertel
der Gesamtquerfläche
des Kristalllichtleiterarrays. Ihre Mittelpunkte fallen annähernd mit
den Mittelpunkten der Quadranten des Arrays zusammen.
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3(c) zeigt ein drittes Ausführungsbeispiel eines Gammastrahlendetektors,
der aus einer Vielzahl von Kristalllichtleitern 1 und einem
geschlitzten Übertragungslichtleiter 22 besteht.
Bei diesem Ausführungsbeispiel
sind jedoch die Lichtübertragungsenden 31 der Übertragungslichtleiter 22 mit vier
Photovervielfachern 37, 38 und 39 (der
vierte Vervielfacher ist in den Zeichnungen nicht dargestellt) optisch
gekoppelt, deren Mittelpunkte annähernd mit den Ecken des Kristalllichtleiterarrays
zusammenfallen. Bei Photovervielfachern eines bestimmten Bereichs
hat diese spezielle Konfiguration, die von W.H. Wong et al. in „An Analog
Decoding BGO Block Detector Using Circular Photomultipliers", IEEE Trans. Nucl.
Sci, NS-42, 1095, (1995) offenbart wurde, den Vorteil, dass sie
die Identifizierung von Kristallen in einer Quer fläche ermöglicht,
die grob um einen Faktor vier kleiner ist als diejenige, die unter Verwendung
des Ausführungsbeispiels
der 3(b) erreichbar ist.
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Kleinere Änderungen
an den Ausführungsbeispielen,
wie beispielsweise die Verwendung von Photovervielfachern mit mehreren
oder runden Kathoden anstelle derjenigen mit einer quadratischen Kathode,
können
vorgenommen werden.
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In 4(a) ist ein schematisches Diagramm der grundlegenden
Funktionsweise eines Detektors dargestellt, der einen Block mit
einem Array aus einer Vielzahl von Kristalllichtleitern 40–47 hat.
Ein Gammastrahl (γ)
trifft auf das Aufnahmeende 2 des Detektors auf, wobei
er einen Winkel, Θ,
mit der Normalen erzeugt. Der Gammastrahl tritt durch die Spitze
des Kristalllichtleiters Nummer 42 in das Volumen des Detektors
ein und durchdringt das Volumen, um schließlich in einem Segment des
Kristalllichtleiters Nummer 45 eine Wechselwirkung zu haben. Die Wechselwirkung
regt die Szintillationsmischung an, die Licht emittiert. Ein geregelter
Bruchteil des emittierten Lichts wird in Z-Richtung des Lichtleiters 45 zu dem
Lichtübertragungsende 5 des
Kristallarrays geleitet, das wie oben beschrieben direkt oder durch Übertragungslichtleiter
mit Lichtdetektoren gekoppelt ist. Die Verteilung des von den Lichterfassungsvorrichtungen
aufgefangenen Lichts erlaubt es zunächst festzustellen, in welchem
Kristalllichtleiter die Lichtemission stattgefunden hat (X- und
Y-Koordinaten). Die Gesamtmenge des aufgefangenen Lichts wird dann
mit den Diskriminatorwerten verglichen, die so eingestellt sind,
dass sie mit der Stelle der Täler
einer Verteilung zusammenfallen, die der in 2 gezeigten
Verteilung ähnelt
und die durch eine vorherige Kalibration für jeden Kristalllichtleiter
des Detektorarrays gewonnen wurde. Der Vergleich erlaubt es, das Segment
des Kristalllichtleiters zu identifizieren, in dem die Wechselwirkung
stattgefunden hat, indem herausgefunden wird, welcher der Diskrimi ninatorwerte
mit der Gesamtmenge an aufgefangenem Licht für diese Wechselwirkung (Z-Koordinate)
korreliert. Da die Erfindung keinerlei Empfindlichkeit in dem Volumen
des identifizierten Segments bereitstellt, ist die „Z"-Koordinate der Wechselwirkung
in diesem Segment willkürlich
an der Stelle der am ehesten möglichen
Wechselwirkung in dem Volumen des identifizierten Kristallsegments
gelegen. Die transversalen X- und Y-Koordinaten werden so gewählt, dass
sie mit denjenigen des Mittelpunkts der Spitze des identifizierten
Kristallstapels zusammenfallen.
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4(b) zeigt die Projektionsbilder, die gemessen
werden können,
indem eine Punktquelle eines Positronen emittierenden Isotops entlang
dem horizontalen Radius eines runden PET-Kameragerüsts 48 bewegt
wird, und indem die resultierende Zahl von zusammenfallenden 511-keV-Gammastrahlen
betrachtet wird. Die gegenläufigen
Flugbahnen der zusammenfallenden Annihilationsgammastrahlen definieren
eine Reaktionslinie, deren Schnittpunkt mit der horizontalen Achse
zu dem Projektionsbild der Quelle beiträgt. Dieser Schnittpunkt wird
seinerseits durch die X- und Y-Koordinaten bestimmt, die durch die
Detektoren 49–54 für jeden
Gammastrahl des Paars gemessen werden. Die Detektoren 50 und 53 liegen
auf dem Kameragerüst 48 einander
diametral gegenüber
und sind für
eine an seinem Mittelpunkt angeordnete Quelle empfindlich. Die Messungen
der X- und Y-Koordinaten werden nicht beträchtlich verzerrt, da sich die
Gammastrahlen in einer Richtung 55 parallel zur Längsachse
der Lichtleiter 1 bewegen (in einem im Wesentlichen senkrechten Winkel
in die Lichtleiter eintreten). Sie wechselwirken folglich in dem
Volumen des gleichen Kristalls, durch den sie in den Detektor eingetreten
sind. Die gemessene Reaktionslinie für dieses Paar von Gammastrahlen
fällt mit
ihrer Flugbahnlinie zusammen. Die Breite des resultierenden Projektionsbildes,
das für mehrere
solcher Gammastrahlenpaare gewonnen wird, ist dann repräsentativ
für die
Untergrenze für die
Auflösung
der Kamera.
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Die
herkömmlichen
Detektoren 49 und 52 auf der linken Seite der
Zeichnung sind für
eine Quelle empfindlich, die von der Mitte des Kamerarings versetzt
ist. Auf diese Detektoren treffen Gammastrahlen mit einem Winkel
auf und haben eine beträchtliche
Chance, vor der Wechselwirkung mehrere Lichtleiter 1 zu
durchdringen. Da die herkömmlichen Detektoren
keine Mittel zum Bestimmen eines solchen Eindringwinkels haben,
werden die X- und Y-Koordinaten des Lichtleiters, in dem die Wechselwirkung
stattgefunden hat, zum Rekonstruieren der Reaktionslinie 56 verwendet.
Aufgrund des Unterschieds zwischen den X- und Y-Koordinaten des Lichtleiters,
in den die Gammastrahlen eintreten, und des Lichtleiters, in dem
die Gammastrahlen Wechselwirken, ist die rekonstruierte Reaktionslinie 56 von der
tatsächlichen
Flugbahn 57 einwärts
verschoben. Daraus folgt, dass das sich aus dem Zählen mehrerer derartiger
Gammastrahlenpaare ergebende Projektionsbild im Vergleich zu einem
mit der Quelle am Mittelpunkt der Kamera gewonnenen Projektionsbild
beträchtlich
verbreitert sein und zur Mitte hin geneigt sein wird. Zudem wird
das Bild näher
am Mittelpunkt der Kamera liegen als es für die Quelle tatsächlich zutrifft.
Darin besteht der so genannte Parallaxenfehler.
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Im
Gegensatz dazu bestehen die vorliegenden Detektoren 51 und 54 auf
der rechten Seite der Zeichnung aus einer Vielzahl von Kristallsegmenten und
ermöglichen
das Bestimmen der Längskoordinaten
der Wechselwirkungen wie in 4(a) gezeigt. Die
durch Zusammenfügen
der für
die Wechselwirkungen gemessenen X-, Y- und Z (Längs)-Koordinaten gewonnene
Reaktionslinie 58 fällt
in diesem Fall mit der tatsächlichen
Flugbahn der Gammastrahlen zusammen. Das Projektionsbild, das sich
aus dem Zählen
mehrerer Gammastrahlenpaare unter Verwendung des vorliegenden Kristallichtleiterdetektors ergibt,
wird als auf der Position der Quelle zentriert erscheinen, und wird – was be sonders
wichtig ist – schmaler
als das unter Verwendung der herkömmlichen Detektoren 49 und 52 gewonnene
Projektionsbild erscheinen.
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Wie
oben erwähnt
und in 5 zu sehen ist, ist auf zumindest einem Abschnitt
der Wände
der Segmente 3 jedes Lichtleiters 1 eine Licht
reflektierende Fläche 60 angeordnet.
Die Licht reflektierende Fläche
kann durch die aus dem Stand der Technik bekannten Verfahren hergestellt
werden, wie beispielsweise eine spiegelblanke Außenfläche, spezielle Oberflächenbehandlungen
einschließlich
Ioneninfusion und dergleichen, jedoch wird vorzugsweise eine Licht
reflektierende Beschichtung oder Umhüllung darauf aufgebracht werden.
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Bei
den meisten herkömmlichen
Detektoren wird eine reflektierende Beschichtung hergestellt, indem
herkömmliche
hochreflektierende Feststoffe in einem geeigneten organischen Träger suspendiert werden.
Der Träger
kann jeder beliebige Träger
sein, der diese reflektierenden Feststoffe an den Wänden der
Lichtleiter hält,
doch sind diese Träger
in den meisten Fällen
Kunststoffe, z.B. Epoxidharze, Polyesterharze, Siliziumharze usw.,
und insbesondere klare Epoxidharze. Zahlreiche hochreflektierende Feststoffe
sind im Stand der Technik bekannt, z. B. Magnesiumoxid und Magnesiumkarbonat,
jedoch wird gewöhnlich
einfach Aluminiumoxid in feingeteilter Form für die reflektierenden Feststoffe
verwendet. Um die Beschichtung so reflektierend wie möglich zu machen,
wird der Feststoffgehalt des Aluminiumoxids oder eines anderen reflektierenden
Feststoffs normalerweise so hoch wie möglich gewählt, z. B. mindestens 50%,
und meistens zumindest 60% oder 70% oder sogar höher. Andere Verfahren zum Aufbringen
von reflektierenden Flächen
auf die Lichtleiter können
ebenfalls eingesetzt werden, wie beispielsweise Spritzlackieren
oder Vakuumaufdampfung, oder auch spezielle Oberflächenbehandlungen, wie
beispielsweise das Schleifen oder Planschleifen der Oberfläche. Mehrfache
Umhüllungen
aus Teflonband dienen auch als sehr gute Beschichtung. Jegliche nützliche
Mittel zum Regulieren und Modifizieren der Reflektivität der Wände der
Lichtleiter können eingesetzt
werden.
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Wie
es gewöhnlich
der Fall ist, ist ein Photodetektor oder sind mehrere Photodetektoren,
z. B. 4 oder mehr Photodetektoren, mit den Lichtübertragungsenden ausgerichtet
angeordnet, so dass durch die Übertragungsenden übertragenes
photoneninduziertes Licht von den Photodetektoren aufgefangen wird.
Bei einem herkömmlichen
Ausführungsbeispiel ist
ein erstes Array aus Photodetektoren, z. B. Photodioden, an einem
der Enden des Lichtleiters angeordnet, und ein weiteres oder zweites
Array aus einer Vielzahl von Photodetektoren, z. B. Photovervielfacher,
ist an dem anderen der Enden der Lichtleiter angeordnet. Das erste
Array wird zum Bestimmen der X-Y-Position des emittierten gammastrahleninduzierten
Lichts verwendet und kann zudem zum Ausführen der Maskenfunktion verwendet
werden, und das weitere oder zweite Array aus Photovervielfachern
liefert einen Taktimpuls und Energiediskriminierung (siehe z. B.
Moses et al., „Performance
of a PET Detector Module Utilizing an Array of Silicon Photodiodes
to Identify the Crystal of Interaction", IEEE Transactions of Nuclear Science,
Bd. 40, Nr. 4, August 1993).
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Bei
der vorliegenden Erfindung sind diese beiden unterschiedlichen Anordnungen
möglich,
da sich die gammastrahleninduzierte Lichtemission selbstverständlich zu
beiden Enden der Lichtleiter bewegen wird und in diesem Sinne jedes
Ende oder beide Enden das Übertragungsende
sein kann bzw. können.
Somit ist es für
Bestimmungen der X-Y-Position wirklich gleichgültig, welches der Enden der Lichtleiter
zum Erfassen des emittierten Lichts dient. Für die Bestimmung der Z-Position
ist jedoch das Übertragungsende
das Ende, das die Photodetektoren hat, die zum Bestimmen der Z-Position
verwendet werden, die ebenfalls die Photodetektoren zum Bestimmen
der X-Y-Position sein können
oder nicht. Bei dem bevorzugten Ausführungsbeispiel bestimmen die
gleichen Photodetektoren sowohl die X-Y- als auch die Z-Position.
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Wie
in 1(a) gezeigt, können die
Lichtleiter einen allgemein rechteckigen Querschnitt haben, wie
es beim Stand der Technik gewöhnlich
der Fall ist, jedoch ist diese Querschnittskonfiguration nicht ausschlaggebend
für die
Erfindung. Die Querschnittskonfiguration kann oval oder kreisförmig oder dreieckig
oder jeder andere Querschnitt sein, doch haben die Lichtleiter wegen
der leichteren Herstellung durch Sägen von Schlitzen in einen
Block des Szintillatormaterials vorzugsweise einen rechteckigen
Querschnitt.
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Ebenso
können
das Photonenaufnahmeende 2 und das Übertragungsende 5 wie
in 1(a) gezeigt planar sein, wie
es beim Stand der Technik üblich
ist, jedoch ist auch dies nicht ausschlaggebend für die Erfindung.
Das Photonenaufnahmeende kann z.B. konvex oder kokav sein, es kann
jede Oberflächenkonfiguration
haben, die dazu dient, Photonen genau dadurch hindurch zu leiten.
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Eine
bevorzugte Form der Erfindung, insbesondere der leichteren Herstellung
wegen, ist diejenige, bei der die Lichtleiter 1 in einem
Szintillatorblock ausgebildet sind, wobei die Lichtleiter 1 sich
um weniger als eine Höhe
des Blocks erstrecken, um einen durchgehenden Lichtübertragungsabschnitt
(Übertragungslichtleiter 22)
des Blocks bereitzustellen, der an die Lichtübertragungsenden der Lichtleiter
angrenzt, obwohl an dem Aufnahmeende 2 oder an beiden Enden
ein Lichtübertragungsabschnitt
vorliegen kann. Größe und Form
der Übertragungslichtleiter 22 werden
oft sorgfältig
gewählt,
um die Lichtverteilung unter den Photodetektoren abzustimmen, was
wiederum die Bestimmung der X- und Y-Position verbessert, wie dies
ausführlich
in dem US-Patent Nr. 4,750,972 beschrieben ist. Alternativ jedoch
kann dieser Übertragungslichtleiter 22 von
dem Szintillatorblock getrennt sein, z.B. kann ein Glasblock oder dergleichen Übertragungslichtleiter 22 bilden.
Auf jeden Fall entsprechen die Übertragungslichtleiter 22 üblicherweise
den X-Y-Abmessungen des Szintillatorblocks oder sind um bis zu etwa
10–20%
größer als
diese, und die Abmessung des Übertragungslichtleiters 22 in
Z-Richtung, falls vorhanden, beträgt bis zu ungefähr 40% der
Abmessung der Szintillationslichtleiter in Z-Richtung.
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Bei
den bevorzugten Ausführungsbeispielen haben
die Szintillationslichtleiter 1 im Wesentlichen einen gleichförmigen Querschnitt,
haben einen rechteckigen Querschnitt und sind in einem im Wesentlichen
rechteckigen Szintillatorblock ausgebildet, wobei Schlitze in dem
Block von den Aufnahmeenden 2 zu den Lichtübertragungsenden 5 verlaufen,
um die so in dem Block ausgebildeten Lichtleiter räumlich zu trennen.
Bei dieser Anordnung ist es sehr einfach, eine reflektierende Beschichtung
auf den Wänden aufzubringen
(oder ansonsten die reflektierende Oberfläche wie oben besprochen vorzusehen).
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Jedoch
müssen
die Lichtleiter 1 keinen rechteckigen Querschnitt haben.
Tatsächlich
gibt es Vorteile, wenn benachbarte Enden benachbarter Segmente 4 eines
Lichtleiters 1 andere Formen bilden. Die 6A und 6B zeigen derartige unterschiedliche Formen.
Diese Figuren zeigen einen Abschnitt eines Lichtleiters 1 mit
zwei benachbarten Segmenten 70 und 71, die durch
eine Grenzschicht 72 getrennt sind. In diesen Figuren haben
die Ebene der untersten Kante 75 des Segments 70 und
die oberste Kante 76 des Segments 71 ebene Oberflächen, doch
die ebenen Oberflächen
sind nicht senkrecht zur Längsachse 77 des
Lichtleiters 1, sondern haben eine andere Form, z. B. steht
zumindest eine Oberfläche
in einem schiefen Winkel zur Längsachse 77.
Diese Form kann eckig, trunkiert oder auch unregelmäßig sein. Anders
als wenn die planaren Oberflächen
der Kanten 75 und 76 senkrecht zur Achse 77 sind,
bewirken solche Formen zusätzliche
Reflexionen emittierten Lichts innerhalb, z. B. des Segments 70 und
sorgen somit für
eine gesteigerte Lichtabsorption durch das Volumen des Szintillators
oder durch Oberflächen
auf dem Lichtleiter oder durch die Grenzschicht 72 und erhöhen dadurch
die Auflösung
des Segments, von dem das Licht emittiert wurde.
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Wie
in 8(a) dargestellt werden ebene Oberflächen der
Segmentgrenzflächen,
die entlang einer Ebene eines nicht senkrechten Winkels Θ gegenüber der
Längsachse 77 ausgerichtet
sind, den mittleren Auftreffwinkel des Lichts auf die Grenzfläche so ändern, dass
er beträchtlich
größer als
Null Grad wird. Als Ergebnis wird die Auswirkung darin bestehen,
die Reflexions-(Übertragungs-)Wahrscheinlichkeit
des einfallenden Lichts für
eine bestimmte Segmentgrenzfläche
zu erhöhen
(verringern), um sie zu einer wirksameren Barriere zu machen.
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Gleichermaßen muss
die Form der Grenzfläche
nicht unbedingt eben sein und kann verwendet werden, um die mittlere Übertragungswahrscheinlichkeit
durch Segmentgrenzflächen
zu verändern. Die 8(b) und 8(c) zeigen
zwei Ausführungsbeispiele,
die eine konvexe (8(b)) bzw. eine konkave (8(c)) pyramidenförmige Grenzflächen anstatt
der bevorzugten planaren Grenzfläche
verwenden, z. B. wo ein Ende eines Segments aus einer Vielzahl von
ebenen Oberflächen
zusammengesetzt und/oder unregelmäßig geformt ist. Bei der konvexen pyramidenförmigen Grenzfläche ist
die Situation ähnlich
derjenigen der gewinkelten ebenen Oberflächen der Grenzfläche der 8(b), und die Lichtübertragungswahrscheinlichkeit
vom oberen zum unteren Segment ist beträchtlich verringert. Andererseits
wirken die konkaven Oberflächen
der Grenzfläche
der 8(c) wie ein Trichter, der das
Licht auf die Pyramidenspitze fokussiert und die Lichtübertragung
von dem oberen zum unteren Segment steigert.
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Wie
oben erläutert
wird die Differenzierung von emittiertem Licht verwendet, um die
Z-Position des emittierten Lichts zu bestimmen. Jegliches der herkömmlichen
Verfahren kann zum Bestimmen der X-Y-Position verwendet werden.
Ein herkömmliches Verfahren
verwendet einen Analog-Digital-Umsetzer (ADU) zum Integrieren des
summierten Ladungssignals von allen Photodetektoren, das ein digital
Wort ergibt, das das für
jeden Gammastrahl erfasste gesamte Licht misst. Das Gesamtlicht-Wort
wird mit ähnlich
abgeleiteten ADU-Wörtern
von ausgewählten einzelnen
Paaren der Photodetektoren kombiniert, um Verweise an einem digitalen
Speicher anzubringen, aus dem die digitalen X- und Y-Koordinaten
des angeregten Lichtleiters gelesen werden. Diese X- und Y-Koordinaten
werden an einen anderen Teil des digitalen Speichers geleitet, der
ausgewählte
von diesen zusammen mit anderen nützlichen Informationen über das
erfasste Photon (wie beispielsweise sein genaues Zeitverhältnis zu
einem in einem anderen Detektor erfassten anderen Photon) aufzeichnet. Aus
den digitalen Aufzeichnungen vieler solcher erfasster und aufgezeichneter
Photonen wird später von
einem Rechner ein Bild des unbekannten Objekts rekonstruiert. Das
gleiche Verfahren und die gleiche Vorrichtung können ebenso zum Bestimmen der
Z-Koordinate verwendet werden.
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Als
typisches Beispiel für
eine Vorrichtung zum Erzeugen eines Histogramms aufgefangenen emittierten
Lichts zeigt 7, dass Annihilationsgammastrahlen 100 mit
einer Energie von 511 keV zunächst
von einem Radioisotop, wie beispielsweise 68Ge
oder 22Na, das in einer versiegelten Stelle,
wie beispielsweise einer Quelle 102 eingekapselt ist, gewonnen
werden. Ein Schlitz- oder Loch-Kollimator 103, bestehend
aus einem Schwermetall wie Blei oder Wolfram, ist vor der Quelle
platziert, um nur die Gammastrahlen auszuwählen, die in Richtung parallel
zu seiner Öffnung
emittiert werden.
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Kollimierte
Gammastrahlen treffen dann auf das Aufnahmeende eines gestapelten
Szintillatorkristalls 104 auf.
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Wie
zuvor beschrieben, induzieren die Wechselwirkungen dieser Gammastrahlen
in dem gestapelten Szintillatorkristall die Emission von Licht, das
dann zu dem Lichtübertragungsende
geleitet wird. Das Licht tritt an dem Ende aus, das mit dem empfindlichen
Fenster einer Lichterfassungsvorrichtung 105, wie beispielsweise
eines Photovervielfachers oder einer Photodiode, optisch gekoppelt
ist, der von einer Stromversorgungseinheit 106 versorgt wird,
die die zum Gewährleisten
des stabilen Betriebs der Vorrichtung geeignete Spannung liefert.
Für jeden
wechselwirkenden Gammastrahl wird das aufgefangene Licht auf diese
Art und Weise durch die Lichterfassungsvorrichtung in einen unverarbeiteten
analogen Spannungs- oder Stromimpuls umgesetzt.
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Der
unverarbeitete analoge Impuls wird nachfolgend zu einem linearen
oder formenden Verstärker 107 geleitet,
der seine Amplitude in den für die
folgende Verarbeitung notwendigen dynamischen Bereich bringt. Ein
Verzweiger oder Splitter 108 spaltet ferner das verstärkte analoge
Signal in zwei parallel Zweige.
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Der
erste dieser Zweige speist einen so genannten Constant Fraction
Discriminator 109, der die Funktion hat, einen logischen
Impuls auszugeben, wenn die Amplitude des verstärkten analogen Signals von
der Lichterfassungsvorrichtung einen vorgegebenen Minimalwert übersteigt.
Der Minimalwert ist typischerweise so gewählt, dass Photonenwechselwirkungen,
die zu einer beträchtlichen
Menge aufgefangenen Lichts führen,
einen logischen Impuls erzeugen werden. Diese Art von Diskriminator
registriert auch die Photonenwechselwirkung rechtzeitig, indem er
seinen logischen Impuls ausgibt, wenn der zugeführte analoge Impuls einen konstanten
Bruchteil seines eigenen Maximalwerts erreicht.
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Der
von dem Diskriminator ausgegebene logische Impuls wird als ein Eingangstorsignal 110 zum Auslösen eines
Analog-Digital-Umsetzers 111 verwendet. Sobald ein Torsignal
ankommt, setzt diese Einheit die maximale Amplitude, oder die verwertbare
elektrische Ladung des verzögerten
analogen Impulses 112, der am Eingang des A/D-Umsetzers 111 anliegt
und von dem zweiten Zweig des Verzweigers oder Splitters 108 erhalten
wurde, in einen digitalen Wert um. So wird ein digitales Ausgangssignal 113 gewonnen,
dessen Wert linear proportional zu der anfangs am Lichtübertragungsende
des gestapelten Szintillatorkristalls aufgefangenen Lichtmenge ist. Der
digitalisierte Wert des aufgefangenen Lichts jedes Photonenwechselwirkungs-Ereignisses
wird dann zur weiteren Verarbeitung in einen lokalen Rechnerspeicher 114 geleitet.
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Eine
derartige Verarbeitung kann beispielsweise üblicherweise die Verwendung
des digitalisierten Werts des aufgefangenen Lichts eines bestimmten
Photonenereignisses verwenden, um das richtige Element eines gespeicherten
linearen Arrays 115 zu erhöhen. Verfährt man so für eine ausreichend
große Zahl
von Ereignissen, führt
dies zu einem Histogramm der Verteilung des aufgefangenen Lichts
wie sie in 2 gezeigt ist. Dieses Histogramm
wird zum Kalibrieren der Reaktion des gestapelten Szintillatorkristalls
verwendet, und wird insbesondere eingesetzt, um die Schwellenwerte
T1, T2, T3, T4, ..., Tn, Tn+1 zu bestimmen,
die der Obergrenze und der Untergrenze der Menge an Licht entsprechen,
das für
Photonenwechselwirkungen aufgefangen wird, die in jedem der n einzelnen
Segmente des gestapelten Szintillatorkristalls auftreten, wobei
die Segmentnummer 1 das Segment am Aufnahmeende bezeichnet.
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Diese
Schwellenwerte werden gespeichert, um herauszufinden, in welchem
der Stapelsegmente nachfolgende Photonenwechselwirkungen auftreten. Dies
erfolgt, indem dem Segment mit der Nummer X die Wechselwirkung von
Photonen zugeordnet wird, die einen digitalisierten Wert für das aufgefangene Licht
liefert, der als zwischen den Schwellenwerten Tx und
Tx+1 liegend erkannt wird.
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BEISPIEL 1
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Drei
einzelne LSO-Kristalle der gleichen Zusammensetzung und mit einem
Brechungsindex von 1,825 wurden auf herkömmliche Weise auf allen sechs
Seiten mechanisch geschliffen, um jegliche Oberflächenrauigkeit
zu beseitigen. Jeder Kristall hatte Abmessungen von 4 mm mal 4 mm
mal 10 mm, und jeder Kristall war aus der gleichen LSO-Herstellungs-Charge
gefertigt worden.
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Die
4 mm-Seiten jedes Kristalls wurden mit Aceton gereinigt, um jegliche
Verunreinigung, z. B. Öl usw.
zu entfernen.
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Die
4×4-mm-Flächen von
zweien der Kristalle wurden mit einem bei Raumtemperatur härtendem klaren
Epoxidharz mit einem Brechungsindex von 1,45 vollkommen beschichtet,
um eine Klebstofflinie zu bilden. Die Dicke der Beschichtung betrug
zwischen ungefähr
0,025 mm und 0,076 mm (0,001 und 0,003 Inch).
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Die
drei Kristalle wurden in eine mechanische Spannvorrichtung montiert,
um die drei Kristalle auf einer einzigen Achse (Mittellinie) auszurichten, während die
Kristalle in vertikaler Richtung so angeordnet sind, dass die Schwerkraft
die Kristalle zusammen pressen und die Klebstofflinie beibehalten kann,
während
das Epoxidharz aushärtet.
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Die
drei Kristalle in der Spannvorrichtung wurden für eine Stunde in einen auf
50° vorgeheizten Ofen
gestellt, was das Aushärten
des bei Raumtemperatur härtenden
Epoxidharzes beschleunigt.
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Nach
einer Stunde im Ofen wurde der gehärtete Kristallstapel der drei
Kristalle aus der Spannvorrichtung entnommen und überschüssiges Epoxid wurde
von den Stellen um die geklebten Grenzflächen der geklebten Kristalle
herum mit Aceton und einer Rasierklinge entfernt, während der
Stapel noch immer heiß und
das Expoidharz noch immer weich war.
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Ein
4 mal 4 mm großes
schwarzes Elektrikerband aus Vinyl wurde am Aufnahmeende des Kristallstapels
angebracht. Der Stapel wurde auf seinen 30-mm-Seiten (drei Kristalle von je 10
mm in dem Stapel) und auf dem Aufnahmeende mit neuem Teflonband
mit mindestens 10 Bandwicklungen umhüllt. Dabei bleibt das Übertragungsende
frei von Teflonband.
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Auf
das Übertragungsende
wurde eine herkömmliche
klare Schmiere zur optischen Kopplung (Dow Corning Q2-3067) in einem
dünnen
Film aufgetragen.
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Das Übertragungsende
wurde dann mit dem Eintrittsfenster eines HAMAMATSU R877-Photovervielfachers
zur Leistungsprüfung
gekoppelt, was mit der Vorrichtung wie oben beschrieben ausgeführt wurde.
Die Ergebnisse ähnelten
den in 2 gezeigten.
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BEISPIEL 2
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Ein
LSO-Kristall mit Abmessungen von 2,5 mm mal 2,5 mm mal 22 mm (Brechungsindex
1,825) wurde auf allen sechs Seiten auf herkömmliche Weise mechanisch geschliffen.
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Der
Kristall wurde mit einem rotierenden Diamantsägeblatt mit Diamantpulver der
Maschenzahl 325 in drei einzelne Kristalle mit Schnitten senkrecht zur
Kristallachse (Mittellinie) geschnitten. Die Höhenmaße der drei Kristalle betrugen
2,68 mm, 5,46 mm bzw. 10,68 mm (dank der Dicke des Diamantsägeblatts).
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Jede
Oberfläche
wurde mit Aceton gereinigt, um Säge-
und Kristallreste zu entfernen. Die gesägten Oberflächen wurden nicht geschliffen.
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Bei
zwei der Kristalle wurde an den gesägten Flächen ein bei Raumtemperatur
härtendes
Epoxidharz mit einem Brechungsindex von 1,566 aufgebracht (EPO TEK
302 von der Firma Epoxy Technology Inc.). Die gesägten Flächen wurden
vollkommen mit dem Epxoidharz überzogen,
um eine ungefähr 0,001
bis 0,003 Inch dicke Klebstoffschicht zu bilden.
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Danach
wurden die drei Kristalle wie in Beispiel 1 beschrieben in der Spannvorrichtung
montiert, in einem Ofen gehärtet
und von überschüssigem Epoxidharz
gereinigt.
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Ein
2,5 mal 2,5 mm großes
Stück schwarzes Elektrikerband
aus Vinyl wurde an dem Aufnahmeende des gehärteten Kristallstapels angebracht
(an der 2,68 mm hohen Kristallfläche)
und dann mit Teflonband umwickelt, mit der Schmiere zur optischen Kopplung überzogen
und mit dem Photovervielfacher zur Leistungsprüfung gekoppelt, wie in Beispiel
1 angesprochen. Die Ergebnisse sind diejenigen der 2.
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Wie
aus dem Vorstehenden hervorgeht, ist der segmentierte Kristalllichtleiter
durchaus in der Lage, die X-, Y- und Z-Positionen eines Punktes
photoeninduzierter Lichtemissionen anzugeben, wenn die Grenzschicht
zwischen Segmen ten einen derartigen Lichtübertragungsverlust hat, dass
die Lichtemission von einem Segment des Lichtleiters unterscheidbar ist.
Dieser erforderliche Verlust variiert mit der Variablen der speziellen
Szintillatormischung, der Lichtleitergeometrie usw., wie oben beschrieben,
doch welcher Verlust auch immer für eine bestimmte Kombination
dieser Variablen erforderlich ist, kann die Grenzschicht leicht
angepasst werden, um diesen Verlust im Wesentlichen vorzusehen oder
fein einzustellen.
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Nahezu
jede Diskontinuität
zwischen benachbarten Segmenten kann eine Grenzschicht bilden, d.h.
entweder chemischer oder mechanischer Art, wie oben erläutert. Zum
Darstellen und nicht zum Einschränken
dieser Grenzschicht kann, neben den oben gelieferten Beispielen,
auch Folgendes als Grenzschicht verwendet werden: ein offenmaschiges Netz
aus verwobenen oder gelegten Fasern, z. B. synthetische, natürliche oder
Glasfasern; eine gitterförmige
Kunststofffolie; Streifen aus durchscheinendem oder nicht durchscheinendem
Material; transparente Feststoffe, z.B. Glas, mit einer bunt gestalteten Oberfläche; feste
Abschnitte aus Kunststofffolie oder Glas mit einer halbreflektierenden
und/oder halbdurchlässigen
Beschichtung; ein Muster aus zumindest halbundurchlässigen Konfigurationen,
z. B. Punkten, die auf ein Ende eines Segments gemalt sind; übliche sonnenreflektierende
Beschichtungen für
Glas, die für
Kameralinsen und Fensterglas verwendet werden; Glas- oder Kunststoffabschnitte
mit der Form geformter Abschnitte für einen Reibsitz und einen
Halt benachbarter Segmente; ein einzelner Kristall, der jedoch nur
teilweise durch den Querschnitt des Kristalls geschnitten ist, wobei
die teilweisen Schnitte die Grenzschicht bilden, wobei die Schnitte
wie oben beschrieben mit einem anderen Material gefüllt sind
oder nicht, das Teil der Grenzschicht bildet; ein länglicher
geformter Glas- oder Kunststoffbehälter zum
Aufnehmen und Sichern der Segmente, eines nach dem anderen, mit
Abstandhaltern dazwischen, um zumindest zum Teil eine Grenzschicht
zu bilden; ein länglicher
geformter Glas- oder Kunststoffrahmen mit Trennabschnitten zum Aufnehmen
und Sichern der Segmente, eines nach dem anderen, wobei die Trennabschnitte
die Grenzschicht bilden; ortsverschäumte Kunststoffe, die von selbst an
den Segmenten haften können
oder nicht; und Vergussharze und -kunststoffe, die zueinander beabstandete
Segmente einkapseln.
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Eine
derartige breite Vielfalt an Grenzschichten bietet eine große Bandbreite
beim Erzeugen der segmentierten Lichtleiter und ist ein wichtiges
Merkmal der Erfindung.
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Ähnlich kann
die Maske der Erfindung sehr verschieden sein. Als Beispiele für geeignete
Masken, neben den oben angeführten
Beispielen und als Erläuterung
und nicht als Einschränkung,
kann die Maske jede der oben erwähnten
Grenzschichten sein, mit der Ausnahme, dass die Lichtdurchlässigkeit
der Maske, die an dem Aufnahmeende des Lichtleiters angebracht wird,
beträchtlich
niedriger sein sollte als die Lichtdurchlässigkeit der Grenzschicht. Die
Lichtdurchlässigkeit
der Grenzschicht wird im Allgemeinen bis zu 30% niedriger sein als
die Lichtdurchlässigkeit
der Kristallsegmente, doch die an dem Aufnahmeende angebrachte Maske
sollte eine Lichtdurchlässigkeit
haben, die mindestens 50% niedriger ist als die Lichtdurchlässigkeit
der Kristallsegmente, und eher noch mindestens 75% oder 85% oder
95% niedriger ist. Bei vielen Kombinationen der oben erwähnten Variablen
wird die Lichtdurchlässigkeit
dieser Maske ungefähr
100% niedriger sein, d.h. sie wird im Wesentlichen kein Licht durchlassen.
Andererseits kann zur Feineinstellung eines bestimmten Lichtleiters
etwas Lichtdurchlässigkeit
dieser Maske erwünscht
sein. In solchen Fällen
kann das oben erwähnte
Netz aus verwobenen oder gelegten Fasern relativ dicht und von dunkler
oder schwarzer Farbe sein. Dies wird die Lichtdurchlässigkeit
der Maske stark reduzieren, doch die Lichtdurchlässigkeit nicht vollständig beseitigen,
z. B. ein Verlust der Lichtdurchlässigkeit von 85%. Ebenso können auch die
Glas- oder Kunststoffabschnitte mit der Form geformter Abschnitte
für einen
Reibsitz und einen Halt benachbarter Segmente einen Abschnitt haben,
der als diese Maske dient. Wenn dieser Maskenabschnitt aus mit Kohlenstoffschwarz
gefülltem
Kunststoff geformt ist, wird der Lichtübertragungsverlust der Maske
relativ hoch ausfallen, z.B. 98% oder 99%. Ebenso kann der ortsverschäumte Kunststoff,
z. B. Polyurethan, Kohlenstoffschwarz enthalten, wenn er als diese
Maske verwendet wird, und wird bei Anbringung direkt an dem Aufnahmeende
des obersten Kristallsegments nahezu 100% Verlust der Lichtdurchlässigkeit
liefern, ähnlich
wie das oben erwähnte
schwarze Elektrikerband. In den Fällen, in denen zur Feinabstimmung
eine größere Lichtdurchlässigkeit
dieser Maske wünschenswert
ist, kann die gitterförmige Kunststofffolie
als Maske verwendet werden, wobei die Gitter (die lichtdurchlässigen Abschnitte)
jedoch relativ wenige sind, so dass beispielsweise ein Lichtübertragungsverlust
von 70% in dieser Maske erzeugt wird. Selbstverständlich werden
für diese
Maske leichter anzubringende Materialen zum Bilden der Maske bevorzugt,
z. B. Farben, Beschichtungen, Folien, Kunststoff- oder Glasformteile,
Bänder
und Klebstoffe.