DE69816289T2 - Photobleichbare lumineszenzschichten zur kalibrierung und standardisierung in optischer mikroskopie - Google Patents

Photobleichbare lumineszenzschichten zur kalibrierung und standardisierung in optischer mikroskopie Download PDF

Info

Publication number
DE69816289T2
DE69816289T2 DE69816289T DE69816289T DE69816289T2 DE 69816289 T2 DE69816289 T2 DE 69816289T2 DE 69816289 T DE69816289 T DE 69816289T DE 69816289 T DE69816289 T DE 69816289T DE 69816289 T2 DE69816289 T2 DE 69816289T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
calibration
luminescence
image
distribution
intensity
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE69816289T
Other languages
English (en)
Other versions
DE69816289D1 (de
Inventor
Jacobus Godefriedus BRAKENHOFF
Iftekar Rick GHAUHARALI
Willem Johannes HOFSTRAAT
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Universiteit Van Amsterdam
Original Assignee
Universiteit Van Amsterdam
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Universiteit Van Amsterdam filed Critical Universiteit Van Amsterdam
Publication of DE69816289D1 publication Critical patent/DE69816289D1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE69816289T2 publication Critical patent/DE69816289T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/27Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
    • G01N21/274Calibration, base line adjustment, drift correction
    • G01N21/278Constitution of standards
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/645Specially adapted constructive features of fluorimeters
    • G01N21/6456Spatial resolved fluorescence measurements; Imaging
    • G01N21/6458Fluorescence microscopy
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/65Raman scattering
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T436/00Chemistry: analytical and immunological testing
    • Y10T436/10Composition for standardization, calibration, simulation, stabilization, preparation or preservation; processes of use in preparation for chemical testing

Description

  • Die Erfindung betrifft die Präparation und Verwendung dünner, photobleichbarer Lumineszenzschichten zur Kalibrierung und Standardisierung optischer Abbildungsvorrichtungen, wie z. B. optische oder Raman-Mikroskope. Für die quantitative Anwendung von optischer und Raman-Mikroskopie ist es essentiell, dass die Intensitäten in den Bildern, die mit diesen Mikroskopietechniken aufgenommen werden, nur durch die räumliche Verteilung der Konzentrations-, Absorptions- und Emissions-Charakteristika der Leuchtstoffe in der in Untersuchung befindlichen Probe bestimmt sind. Wenn dies nicht möglich ist, sollten die Bildintensitäten zumindest proportional zu diesen Parametern sein. Im allgemeinen sind jedoch Variationen der Bildintensitäten nicht nur durch die Probe bestimmt, sondern auch durch räumliche Inhomogenitäten des optischen Systems des Mikroskops über das Betrachtungsfeld, so dass nur qualitative Untersuchungen durchgeführt werden können. Um die für eine quantitative Mikroskopie erforderlichen Bilder realisieren zu können, muss das Mikroskop kalibriert und standardisiert werden. Die so erhaltenen Bilder ermöglichen den Vergleich unterschiedlicher Proben, die an demselben Mikroskop erhalten wurden, auch zu einem unterschiedlichen Zeitpunkt, oder den Vergleich von an unterschiedlichen Mikroskopen erhaltenen Bilder, vorausgesetzt, dass die unterschiedlichen Mikroskope auf die gleiche Weise kalibriert worden sind.
  • In einer früheren Arbeit wurde eine Kalibrierung und Standardisierung eines optischen Mikroskops mittels eines Ansatzes unter Verwendung von Bildern einer gleichförmigen Lumineszenzschicht versucht (K. R. Castleman, Digital Image Processing. Prentice-Hal1, Englewood Cliffs, New Jersey, 1979, and Z. Jericevic, B. Wiese, J. Brayan & L. C. Smith, "Validation of an Image System", in Luminescence Microscopy of Living Cells in Culture, Part B, Quantitative Luminescence Microscopy Imaging and Spectroscopy, herausgegeben von D. Lansing Taylor and Y. Wang, Academic Press, San Diego, Kalifornien, 1989). Ein solcher Ansatz weist drei Nachteile auf. Erstens wird, im Falle eines Bildes einer Lumineszenzschicht, das Produkt der Beleuchtungs- und Nachweiseffizienzverteilungen gemessen, und es ist keine Information über die separaten Verteilungen zugänglich. Zweitens sind vollständig gleichförmige Lumineszenzschichten schwierig zu erhalten. Drittens werden die Ergebnisse der Kalibrierung und Standardisierung auf Basis dieses Ansatzes durch Lumineszenz-Photobleichung der Schicht beeinflusst. Für eine generelle Kalibrierung und Standardisierung in optischer Mikroskopie wäre es bevorzugt, einen Ansatz zu haben, welcher diese Nachteile nicht aufweist. Jericevic et al. (Z. Jericevic, 8. Wiese, J. Brayan & L. C. Smith, "Validation of an Image System" in Fluorescence Microscopy of Living Cells in Culture, Part B, Quantitative Fluorescence Microscopy-Imaging and Spectroscopy, herausgegeben von D. Lansing Taylor and Y. Wang, Academic Press, San Diego, Kalifornien, 1989) haben versucht, den ersten Nachteil zu beseitigen, indem sie Lumineszenz-Photobleichungs-Techniken für die Bestimmung von ausschließlich der Beleuchtungsverteilung verwendeten. In diesem Verfahren waren wenigstens 20 Bilder einer gleichförmigen Photobleichungs-Lumineszenzschicht erforderlich. Sie zeigten, dass es mittels numerischem Anfitten der Lumineszenzintensitätsabnahme in jedem Pixel des ersten Bildes mit einer Exponentialfunktion möglich war, nur die Anregungsintensitätsverteilung in dem Betrachtungsfeld des verwendeten Mikroskops zu bestimmen (Z. Jericevic, D. M.
  • Benson, J. Bryan, & L. C. Smith, "Rigorous Convergence Algorithm for Fitting a Monoexponential Function with a Background Term Using the Least-Squares Method," Anal. Chem., 59 (1987), 658–662). Es existieren einige Nachteile bei diesem Verfahren und dem experimentellen Ansatz. Erstens muss eine Lumineszenzschicht präpariert werden, indem eine FITC-IgG-Mischung auf einem Objektträger ausgebreitet wird. Mittels einer solchen Prozedur ist es sehr schwierig, eine gleichförmige Lumineszenzschicht zu erhalten. Zweitens liefert das Verfahren nur die Beleuchtungsverteilung; es wird keine Information über die Nachweisverteilung erhalten. Drittens basiert die Bestimmung der Beleuchtungsverteilung auf numerischen Anfittungs-Routinen, was das Verfahren relativ langsam macht.
  • Diese Erfindung beschreibt die Präparation und Verwendung dünner, photobleichbarer Lumineszenzschichten für die Kalibrierung und Standardisierung eines optischen oder Raman-Mikroskops in dem Wellenlängenbereich von 250 nm–1700 nm, vorzugsweise 250 nm–1100 nm, und bevorzugter 350 nm bis 900 nm.
  • Dies wird gemäß der Erfindung mittels Präparation einer photobleichbaren Lumineszenzkalibrierungsschicht und deren nachfolgender Verwendung für die Bestimmung der Rnregungsintensitäts- und Nachweiseffizienzverteilungen im Betrachtungsfeld des verwendeten Mikroskops erreicht. Der Begriff Photobleichung umfasst sämtliche Prozesse, welche zur Reduzierung der Intensität des bei der Wellenlänge der Anregung erzeugten Lumineszenzlichtes führen. Die Anregung kann mittels eines Lasers oder mittels einer fokussierten Lichtquelle in den oben definierten Wellenlängenbereichen durchgeführt werden. Beispiele solcher Prozesse sind Photoxidations-, Photoreduktions-, Photoisomerisierungs- oder Photoadditionsreaktionen, oder lichtinduzierte Elektronentransferprozesse.
  • Es ist für die Effektivität der Erfindung ausreichend, dass die präparierte Kalibrierungsschicht näherungsweise gleichförmig, lumineszierend und photobleichbar ist, vorzugsweise näherungsweise gleichförmig, lumineszierend und mono-exponentiell photobleichbar in einem bestimmten Bereich. Die Kalibrierungsschicht sollte die folgenden Anforderungen erfüllen.
    • (i) Die Lumineszenzintensität des Leuchtstoffs in der Kalibrierungsschicht sollte proportional zu der Anregungsintensität, der Leuchtstoffkonzentration und der Beleuchtungsdauer sein.
    • (ii) Die Photobleichrate des Leuchtstoffs in der Kalibrierungsschicht sollte proportional zur Beleuchtungsintensität und unabhängig von der Leuchtstoffkonzentration sein.
    • (iii) Die Lumineszenzquantenausbeute, der Absorptionsquerschnitt und der Bleichfaktor definiert als Verhältnis der Photobleichrate zur Anregungsintensität – des Leuchtstoffs in der Kalibrierungsschicht sollten unabhängig von der Mikroumgebung innerhalb der Schicht sein.
  • Die ersten beiden Anforderungen reichen bereits zur qualitativen Kalibrierung der Messung aus. Die dritte Anforderung in Kombination mit den ersten beiden ermöglicht absolute Messungen eines Bildes in optischer- oder Raman-Mikroskopie.
  • Die Kalibrierungsschicht wird auf ein optisch ebenes und transparentes Substrat mittels Spin-Coating, Tauchbeschichtung ("Dip-Coating") oder Stabbeschichtung (= "Rod-Coating", "doctor blading" = Abstreichbeschichtung") einer vorzugsweise 1–30 Gew.%-igen Lösung eines optisch transparenten Polymers aufgebracht, welches eine bestimmte Menge eines photobleichbaren Lumineszenzmaterials auf solche Weise aufweist, dass der endgültige Polymerfilm weniger als 10 Gew.% Leuchtstoff aufweist und eine optische Dämpfung von weniger als 0,3 Absorptionseinheiten in dem Wellenlängenbereich von Interesse ("wavelength region of interest") aufweist, oder eine Lösung eines Seitenketten-Polymers mit einer bestimmten Menge von daran kovalent gebundenen photobleichbaren Lumineszenzgruppen auf solche Weise, dass der relative molare Anteil der Seitenketten geringer als 10% und die optische Dämpfung der Kalibrierungsschicht geringer als 0,3 Absorptionseinheiten in dem Wellenlängenbereich von Interesse ist. Der verwendbare Konzentrationsbereich wird durch die Notwendigkeit bestimmt, intermolekulare Wechselwirkungen (Energietransfer) und innere Filter- und Konzentrationsquencheffekte zu vermeiden, welche zu Abweichungen von der einfachen mono-exponentiellen Abnahme führen können. Eine optische Dämpfung von mehr als 0,3 Absorptionseinheiten ist möglich, aber es sind mathematische Korrekturen erforderlich. Eine solche Dämpfung ist daher weniger bevorzugt. Geeignete polymere Materialien, welche über den Wellenlängenbereich von Interesse transparent sind, sind Polyacrylate, Polymethacrylate, Polycarbonate, Polyolefine, Polyetter, Polyurethane, Polyetherketone, Polyester, Polystyrene, Polysiloxane und dergleichen, oder Copolymere hiervon. Geeignete polymere Seitenkettenmaterialien basieren auf den gleichen optisch transparenten Bausteinen, die in den oben erwähnten transparenten Polymerarten angewandt werden, und einem geeigneten lumineszierenden und photobleichbaren Molekül, welches eine funktionelle Gruppe aufweist, so dass es entweder an dem Polymer gebunden werden kann oder mit anderen funktionellen Monomeren reagieren kann, um ein lumineszierendes Seitenketten-Hauptkettenpolymer zu bilden. Alternativ können dünne Schichten präpariert werden, indem von Sol-Gel-Glasbildungsansätzen Gebrauch gemacht wird.
  • Das verwendete Lumineszenzmaterial sollte photobleichbar sein, was bedeutet, dass die Intensität der Lumineszenz durch die Beleuchtung in dem Mikroskop bei der angewendeten Anregungswellenlänge reduziert werden sollte. Eine Anzahl von lichtinduzierten Prozessen kann zu einer solchen Photobleichung führen; einige Beispiele sind Photooxidations-Photoreduktions-, Photoisomerisierungs- oder Photoadditionsreaktionen, oder lichtinduzierte Elektronentransferprozesse. Alle lumineszierenden photochromatischen Materialien können verwendet werden. Das photobleichbare Lumineszenzmaterial kann einer solchen Umwandlung entweder reversibel oder irreversibel unterzogen werden.
  • In Anbetracht der exzellenten Homogenität der Lumineszenzschichten, die gemäß der oben erwähnten Prozedur erhalten werden, kann sogar die direkte Lumineszenzintensität zur Kalibrierung verwendet werden.
  • Mit der präparierten Kalibrierungsschicht können absolute Anregungsintensitäts- und Nachweiseffizienzverteilungen in dem Betrachtungsfeld des verwendeten Mikroskops von Bildern vor oder nach einer partiellen Photobleichung der Kalibrierungsschicht und die Lumineszenzquantenausbeute, der Absorptionsquerschnitt und der Bleichfaktor des Leuchtstoffs in der Kalibrierungsschicht wie folgt bestimmt werden.
  • Wenn die Lumineszenzintensität der Kalibrierungsschicht proportional zur Anregungsintensität, der Leuchtstoffkonzentration und der Beleuchtungsdauer ist, wenn ihre Photobleichung mono-exponentiell ist und wenn ihre Photobleichrate proportional zur Anregungsintensität und unabhängig von der Leuchtstoffkonzentration ist, kann ein Bild der Schicht, das aufgenommen wird, bevor jegliche Photobleichung stattgefunden hat und welches nachfolgend als "erstes Bild" bezeichnet wird, als Produkt der Bildbelichtungszeit, der Lumineszenzquantenausbeute, des Absorptionsquerschnitts, der Bleichfaktors und der Konzentrationsverteilung des Leuchtstoffs in der Kalibrierungsschicht und der Anregungsintensitäts- und Nachweiseffizienzverteilungen des verwendeten Mikroskops beschrieben werden. Die Nachweiseffizienz beinhaltet sämtliche Elemente des Nachweisweges, die für die Umwandlung der nachzuweisenden Intensität bis zu dem Intensitätswert eines Pixels in dem endgültigen Bild wichtig sind, wie etwa den Sammelbegrenzungs-Raumwinkel ("finite collection solid angle") der Objektivlinse, das Reflexionsvermögen und den Transmissionsgrad der optischen Elmente in dem Nachweisweg, und die Quantenausbeute des Detektors. Ein Bild, welches nachfolgend als "zweites Bild" bezeichnet wird, das aufgenommen wird, nachdem die Kalibrierungsschicht während eines bestimmten Zeitintervalls gebleicht worden ist, kann als das Produkt aus dem ersten Bild und einer Exponentialfunktion geschrieben werden, welche durch den Bleichfaktor, die Anregungsintensität und das Bleichzeitintervall bestimmt wird.
  • Basierend auf diesen beiden Bildern kann die relative Anregungsintensitätsverteilung – oder eine Verteilung, die proportional zur Anregungsintensitätsverteilung ist – in dem Betrachtungsfeld des verwendeten Mikroskops bestimmt werden, indem der Logarithmus des Verhältnisses zwischen dem ersten und dem zweiten Bild der Kalibrierungsschicht berechnet wird. Die absolute Anregungsintensitätsverteilung kann bestimmt werden, indem das Verhältnis der relativen Anregungsintensitätsverteilung und des Bleichfaktors des Leuchtstoffs in der Kalibrierungsschicht zu dem Bleichzeitintervall berechnet wird. Es ist wichtig, darauf hinzuweisen, dass es für die Bestimmung dieser – relativen oder absoluten – Anregungsintensitätsverteilung nicht erforderlich ist, dass die Kalibrierungsschicht gleichförmig ist.
  • Sobald die relative Anregungsintensitätsverteilung bestimmt worden ist, kann die relative Nachweiseffizienzverteilung oder eine Verteilung, die proportional zur Nachweiseffizienzverteilung ist – wie folgt bestimmt werden. Als erstes wird eine Verteilung, welche proportional zu dem Produkt der Nachweiseffizienz- und Leuchtstoffkonzentrationsverteilung ist und die nachfolgend als "Produktverteilung" bezeichnet wird, bestimmt, indem das Verhältnis des ersten Bildes zur relativen Anregungsintensitätsverteilung berechnet wird. Als zweites wird eine Anzahl von Produktverteilungen aus der gleichen Anzahl von Bildpaaren, erster und zweiter Bilder, bestimmt, wobei jedes Bildpaar von einem anderen Teil der Kalibrierungsschicht aufgenommen wird. Mittels Mittelwertbildung aus diesen unterschiedlichen Produktverteilungen kann der Beitrag möglicher Inhomogenitäten der Leuchtstoffkonzentrations-Verteilung eliminiert werden, und es wird eine Verteilung erhalten, die ausschließlich zu der Nachweiseffizienzverteilung proportional ist, d. h. die relative Nachweiseffizienzverteilung. Die Anzahl von Produktverteilungen, die zur Mittelwertbildung erforderlich ist, hängt von der Gleichförmigkeit der Kalibrierungsschicht ab: Für gleichförmige Schichten ist keine Mittelwertbildung erforderlich, allerdings sollte die Anzahl unterschiedlicher Produktverteilungen um so größer sein, je weniger gleichförmig die Schicht ist. Für viele Anwendungen ist die Bestimmung relativer Verteilungen bereits ausreichend.
  • Wenn die direkte Lumineszenzintensität verwendet wird, können die Anregungsintensitätsverteilung und die Nachweiseffizienzverteilung nicht separat bestimmt werden. Für viele Anwendungen, z. B. Shading-Korrektur-Prozeduren, ist es ausreichend, das Produkt der Intensitätsverteilungen für Kalibrierungszwecke zu verwenden.
  • Die absolute Nachweiseffizienzeffizienzverteilung kann bestimmt werden, indem das Produkt aus der relativen Nachweiseffizienzverteilung, dem Bleichfaktor des Leuchtstoffs in der Kalibrierungsschicht und dem Bleichzeitintervall berechnet wird, und das Ergebnis durch die Bildbelichtungszeit und die Lumineszenzquantenausbeute, den Absorptionsquerschnitt und die mittlere Leuchtstoffkonzentration des Leuchtstoffs in der Kalibrierungsschicht dividiert wird. Die Parameter, deren Kenntnis für eine absolute Bestimmung der Anregungsintensitäts- und Nachweiseffizienzverteilungen erforderlich ist, sind der Absorptionsquerschnitt, die Lumineszenzquantenausbeute und der Bleichfaktor der Kalibrierungsschicht. Alle drei Parameter können unabhängig von dem verwendeten Mikroskop bestimmt werden.
  • Der Absorptionsquerschnitt der Kalibrierungsschicht bei einer bestimmten Wellenlänge kann bestimmt werden, indem die optische Dämpfung bei der gleichen Wellenlänge bestimmt wird, und diese Information mit der Dicke der Schicht und ihrer Leuchtstoffkonzentration kombiniert wird.
  • Die Lumineszenzquantenausbeute der Kalibrierungsschicht kann mittels Vergleichs der Lumineszenz der Kalibrierungsschicht mit der Lumineszenz einer Referenzschicht, deren Lumineszenzquantenausbeute bekannt ist, bestimmt werden.
  • Der Bleichfaktor der Kalibrierungsschicht kann bestimmt werden, indem die relative Abnahme der Lumineszenzintensität nach der Beleuchtung mit einer bekannten Anregungsdosis, d. h. Energie pro Flächeneinheit, gemessen wird.
  • Bei bekannten Anregungsintensitäts- und Nachweiseffizienzverteilungen sind eine Anzahl von Kalibrierungs- und Standardisierungsschritten in der optischen Mikroskopie verfügbar.
    • (i) Das Verfahren kann angewandt werden, um die Anregungsintensitäts- und Nachweiseffizienzverteilungen unterschiedlicher Mikroskope, oder die der gleichen Mikroskope zu unterschiedlichen Zeitpunkten zu vergleichen. Unterschiede zwischen der Gesamtleistung von Mikroskopen können auf den Anregungsweg, den Nachweisweg oder beide zurückzuführen sein. Eine solche Information kann verwendet werden, um selektiv den Weg zu optimieren, welcher den Leistungsgrad begrenzt. Eine andere Möglichkeit besteht darin, die Beleuchtungs- und Nachweisparameter unterschiedlicher Mikroskope so einzustellen, dass sich gleiche – oder zumindest vergleichbare – Anregungs- und Nachweisbedingungen ergeben. Dies erleichtert den Vergleich von Messungen, in denen eine (Art von) Probe entweder mit unterschiedlichen Mikroskopen, oder mit dem gleichen Mikroskop zu unterschiedlichen Zeitpunkten, untersucht wird.
    • (ii) Die Anregungsintensitätsverteilung ist wichtig bei der Interpretation von Intensitätsvariationen in Bildern, die mittels sogenannter Lumineszenzbleichratenabbildung erhalten wurden. (G. J. Brakenhoff, K. Visscher & G. Gijsbers, "Luminescence Bleach rate Imaging," J. Microsc., 175 (1994), 154–161). In diesem Abbildungsmodus wird die lokale Photobleichrate statt der Lumineszenzintensität als Kontrastparameter für die Bilderzeugung verwendet. Räumliche Inhomogenitäten der Anregungsintensitätsverteilung führen zu deutlichen – Variationen der gemessenen Photobleichrate. Bei Verfügbarkeit einer experimentell bestimmten Anregungsintensitätsverteilung können diese deutlichen Variationen korrigiert werden.
    • (iii) Das Verfahren kann zur Korrektur von Intensitätsvariationen in einem Bild einer in Untersuchung befindlichen Probe verwendet werden, welche durch Inhomogenitäten des optischen Systems des Mikroskops verursacht werden, eine Prozedur, die als "Shading-Korrektur" bezeichnet wird. In dem einfachen Falle einer lumineszierend gekennzeichneten Probe, deren nachgewiesene Lumineszenzintensität proportional sowohl zur Anregungsintensität als auch zur Nachweiseffizienz ist, wird die Shading-Korrektur ausgeführt, indem das Verhältnis aus dem Bild der in Untersuchung befindlichen Probe und dem Produkt der – relativen oder absoluten – Anregungsintensitäts- und Nachweiseffizienzverteilungen berechnet wird. Die Tatsache, dass bei diesem Verfahren die Anregungsintensitäts- und Nachweiseffizienzverteilungen separat verfügbar sind, impliziert, dass auch in komplizierteren Proben, beispielsweise Proben, in welchen lichtlineare Abhängigkeiten auftreten, eine Shading-Korrektur möglich ist.
    • (iv) Das Verfahren kann zur quantitativen Untersuchung von Proben angewandt werden. Die Intensitätsvariationen in einem shadingkorrigierten Bild einer Probe sind von dem zur Erzeugung des Bildes verwendeten Mikroskop unabhängig und werden nur durch probenbezogene Faktoren bestimmt, wie etwa die Konzentrationen von Leuchtstoffen in der Probe und deren Absorptions- und Emissionscharakteristika. Wenn Shading-Korrektur auf absoluten Anregungsintensitäts- und Nachweiseffizienzverteilungen beruht, können die Intensitäten in dem shading-korrigierten Hild einer Probe verwendet werden, um diese probenbezogenen Faktoren quantitativ zu bestimmen. Beispielsweise können, wenn ein Leuchtstoff verfügbar ist, der zur lumineszierenden Kennzeichnung einer Probe verwendet werden kann, und wenn die Lumineszenzquantenausbeute und der Absorptionsquerschnitt dieses Leuchtstoffs bekannt sind und von der Mikroumgebung innerhalb der Probe unabhängig sind, die Intensitäten in dem shading-korrigierten Bild verwendet werden, um die Konzentration dieses Leuchtstoffs in der Probe auf mikroskopischer Ebene quantitativ zu bestimmen.
    • (v) Die Anregungsintensitäts- und Nachweiseffizienzverteilungen können zur aktiven Bildkorrektur verwendet werden, indem Beleuchtungs- und Nachweisparameter während der Bilderfassung auf solche Weise moduliert werden, dass sich eine räumlich gleichförmige Beleuchtung und Nachweiseffizienz ergibt. Diese Möglichkeit ist wichtig für bleichratenabbildende, photoaktivierbare Prozesse, Bewertung der biologischen Zellschädigung etc.
  • Beispiele
  • Um die Anwendbarkeit der Erfindung zu demonstrieren, wurde eine lumineszierende und photobleichbare Kalibrierungsschicht präpariert und zur Shading-Korrektur von Bildern verwendet, die mittels eines konfokalen Lumineszenzmikroskops aufgenommen wurden. Die lumineszierende und photobleichbare Kalibrierungsschicht basierte auf dem Leuchtstoff 4-Dimethylamin-4'-Nitrostilben (DANS). Lösungen aus DANS und Polymethylmethacrylat (PMMA) in Chloroform wurden präpariert und zum Spin-Coating von Standardglas-Deckgläschen verwendet, die zur optischen Mikroskopie verwendet werden. Zur Untersuchung des Einflusses der Leuchtstoffkonzentration auf die Lumineszenzintensität und die Photobleichrate wurden drei Kalibrierungsschichten mit relativen Konzentrationen von 0.2, 0.5 und 1.0 präpariert. DANS in PMMA kann im Wellenlängenbereich < 250 nm bis 550 nm angeregt werden; es fluoresziert im Wellenlängebereich 500–850 nm. Bei Bestrahlung findet eine Photobleichung des Fluorophors statt, hauptsächlich aufgrund von Photooxidation.
  • Das für diese Demonstration verwendete Mikroskop war ein Olympus IMT-2 Inversionsmikroskop (Olympus Corporation, Lake Success, NY, USA), welches mit einer bilateralen konfokalen INSIGHT-PLUS Zeilenabtasteinheit (Meridian Instruments Inc., Okemos, MI, USA) und einer 100x, NA = 1.32, Ölimmersionsobjektivlinse ausgestattet war. Lumineszenz wurde bei 488 nm unter Verwendung eines luftgekühlten Argon-Ionenlasers (Modell 532, Omnichrome, Chino, CA, USA) angeregt. Die Anregungsintensität konnte variiert werden, indem neutrale Dichtefilter (NDFs) in dem Laserausgangsweg des Mikroskops eingesetzt wurden. Insgesamt vier NDFs waren verfügbar, mit einem Transmissionsgrad, welcher von 1% bis 50% reichte. Die erzeugte Lumineszenz wurde mit einer gekühlten CCD-Kamera (Model DDE/3200, Astromed, Cambridge, GB) über einen Hochpassfilter mit einer Grenzwellenlänge bei 520 nm nachgewiesen. Eine Hewlett-Packard-Workstation, Modell 725/50, (Hewlett-Packard, Palo Alto, CA, USA) wurde zur Bildaufnahme- und Belichtungssteuerung über einen mechanischen Lasershutter verwendet. Die Bildanalyse wurde auf der gleichen Workstation unter Verwendung des Bildverarbeitungspakets Scillmage (T. K. Ten Kate, R. van Balen, A. W. M. Smeulders, F. C. A. Groen & G. A. de Boer, "SCILIAM, a Multi-level Interactive Image Processing Environment," Pattern Recognition Leiters, 11 (1990), 429– 441) durchgeführt.
  • Zur Untersuchung der Photobleichungs-Charakteristika der Kalibrierungsschicht wurden sogenannte "Bleichkurven" bestimmt, indem eine Serie von Bildern – eine Zeitserie – von einem bestimmten Teil der Kalibrierungsschicht aufgenommen wurde. Die Bildbelichtungszeit war für sämtliche Bilder in der Zeitserie gleich, und es trat keine zusätzliche Belichtung zwischen aufeinanderfolgenden Bildern auf. von jeder Zeitserie wurden zwei Größen bestimmt: die mittlere Anfangslumineszenzintensität und die mittlere Bleichrate. Die mittlere Anfangslumineszenzintensität wurde berechnet, indem die Intensitäten des ersten Bildes der Zeitserie Bemittelt wurden. Die mittlere Bleichrate sollte Idealerweise bestimmt werden, indem die Bleichraten Bemittelt werden, die für jedes Pixel in dem ersten Bild der Zeitserie für eine Anzahl von "Bereichen von Interesse" (ROIs = "regions of interest") berechnet werden, welche in dem Bild willkürlich ausgewählt wurden. Die Daten für jeden individuellen ROI wurden mit einer (Mono-)Exponentialfunktion angefittet. Die mittlere Bleichrate wurde als Mittelwert der individuellen ROI-Bleichraten erhalten.
  • Für die Lumineszenzschicht wurde verifiziert, dass die Lumineszenz- und Photobleich-Charakteristika den Anforderungen des Verfahrens entsprechen, d. h., dass die Lumineszenzintensität in dem ersten Bild der Kalibrierungsschicht – oder die Anfangslumineszenzintensität – proportional zur Anregungsintensität, der Leuchtstoffkonzentration und der Bildbelichtungszeit sein sollte, ihre Photobleichung mono-exponentiell sein sollte und ihre Photobleichrate proportional zur Anregungsintensität und unabhängig von der Leuchtstoffkonzentration sein sollte.
  • Es wurde herausgefunden, dass die Bedingungen für die Lumineszenzcharakteristika durch die vorgeschlagene Kalibrierungsschicht erfüllt werden. Die Photobleichung der Kalibrierungsschicht war anfänglich nicht streng monoexponentiell; allerdings konnte eine nahezu monoexponentielle Photobleichung der Kalibrierungsschicht mittels einer "Vor-Bleichung" der Schicht realisiert werden. Die Daten, die nach 180-sekündiger Vorbleichung erhalten wurden, wurden verwendet, um die "Rate der Photobleichung" zu berechnen, welche sich als proportional zur Anregungsintensität und unabhängig von der Leuchtstoffkonzentration in der Schicht erwies. Daher werden, nach geeigneter Vorbleichung, die Anforderungen für die Photobleichcharakteristika durch die präparierte Kalibrierungsschicht erfüllt.
  • Die Anregungsintensitätsverteilung kann aus zwei Bildern der Kalibrierungsschicht bestimmt werden, welche durch ein Zeitintervall voneinander getrennt sind, in welchem die Kalibrierungsschicht partiell gebleicht wird. Um die relative Anregungsintensitätsverteilung zu berechnen, wurden das erste und das zweite Bild mit einer Vorbleichzeit von 180 Sekunden und einem Bleichzeitintervall von 150 Sekunden aufgenommen, da in diesem Zeitintervall die Abnahme der Lumineszenzintensität gut durch eine Mono-Exponentialfunktion beschrieben wird. In diesen Bildern ist ein streifen- und punktartiges Muster zu erkennen, welches unabhängig von dem Teil der Kalibrierungsschicht ist, von welchem die Bilder aufgenommen wurden. Dies weist darauf hin, dass das streifen- und punktartige Muster durch Inhomogenitäten des optischen Systems des Mikroskops verursacht wird. Eine Überprüfung zeigt, dass die Anregungsintensität nicht gleichförmig über der Bildregion verteilt ist, sondern dass ein streifenartiges Muster auftritt. Es wurde herausgefunden, dass dieses Muster durch den dichroischen Spiegel in dem Mikroskop verursacht wird. Die relative Größe der Variationen in der Anregungsintensität über dem Bildbereich kann als Variationskoeffizient (CF = "coefficient of variation") – das Verhältnis der Standardabweichung zum Mittelwert ausgedrückt werden. Die Messung zeigt, dass in der relativen – und absoluten- Anregungsintensitätsverteilung Variationen von etwa 10% über die Bildregion auftreten. Der CF ist ein Maß für die Variation über das gesamte Bild. Es ist darauf hinzuweisen, dass lokal wesentlich größere Variationen auftreten können.
  • Die Nachweiseffizienzverteilung kann auch aus zwei Bildern – dem ersten und dem zweiten Bild – der Kalibrierungsschicht bestimmt werden. Die relative Nachweiseffizienzverteilung wird aus der Produktverteilung bestimmt, welche proportional zu dem Produkt der Nachweiseffizienz- und der Leuchtstoffkonzentrationsverteilung ist. Die Produktverteilung wird anhand des ersten Bildes der Kalibrierungsschicht und der bereits bestimmten relativen Anregungsintensitätsverteilung bestimmt. Mittels Berechnung der Produktverteilung aus verschiedenen, zufällig ausgewählten Teilen der Kalibrierungsschicht und Mittelwertbildung der Ergebnisse wird die relative Nachweiseffizienzverteilung erhalten. Mittels Mittelwertbildung über eine Anzahl von Produktverteilungen, die an unterschiedlichen Teilen der Kalibrierungsschicht gemessen wurden, wird die relative Nachweiseffizienzverteilung erhalten. Wie bereits erwähnt wurde, wird dieses streifenartige Muster durch den dichroischen Spiegel in dem Mikroskop verursacht, und da dieser Spiegel Teil sowohl des Anregungs- als auch des Nachweisweges ist, ist das gleiche Muster in der relativen Anregungsintensitäts- und der Nachweiseffizienzverteilung sichtbar. Ebenfalls sichtbar sind dunkle Punkte, die in den relativen Anregungsintensitätsverteilungen nicht sichtbar sind. Diese sind vermutlich durch kleine Staubpartikel oder andere Unregelmäßigkeiten in dem Nachweisweg des Mikroskops verursacht. Die relative Größe der Variationen in der Nachweiseffizienz kann abgeschätzt werden, indem wiederum der CV als Maß für die Variationen genommen wird. Variationen von etwa 25% traten in den relativen – und absoluten – Nachweiseffizienzverteilungen auf. Wiederum können die Variationen lokal viel größer sein.
  • Bei bekannter relativer Anregungsintensitäts- und Nachweiseffizienzverteilung kann eine Shading-Korrektur eines Bildes einer Probe durchgeführt werden, indem das Verhältnis des Bildes der Probe zu dem Produkt der relativen Anregungsintensitäts- und der Nachweiseffizienzverteilung berechnet wird.
  • Ein Vergleich vor und nach der Korrektur zeigt eine deutliche Abnahme der Intensitätsvariationen. Auch ist sichtbar, dass ein Merkmal der Kalibrierungsschicht – die absichtlich photogebleichte linienförmige Region – nach der Korrekturprozedur gut erhalten war, wohingegen die Intensitätsvariationen, welche durch die Inhomogenitäten des optischen Systems verursacht sind, verschwunden waren. Ein davon verschiedener Weg besteht darin, den Effekt der Shading-Korrektur zu visualisieren, in welchem Falle die Intensitäten vor und nach der Korrektur aufgetragen werden. Hieraus wird deutlich, dass die Intensitätsvariationen nach der Korrektur signifikant kleiner als vor der Korrektur sind. Der Effekt der Shading-Korrektur wurde quantitativ bestimmt, indem der CV der Intensitäten in den Bildern berechnet wurde. Die Resultate zeigen CVs von etwa 22% und 4% vor bzw. nach der Korrektur. Dies bedeutet, dass die Prozedur der Shading-Korrektur eine mehr als 5-fache Abnahme der Intensitätsvariationen ergab. Lokal wird die Abnahme der Bildintensitätsvariationen offensichtlich viel größer sein.

Claims (4)

  1. Eine Kalibrierungsschicht, aufweisend ein optisch transparentes Polymer, welches ein photobleichbares lumineszierendes Material aufweist, wobei der resultierende Polymerfilm weniger als 10 Gew.-% Leuchtstoff aufweist und eine optische Dämpfung von weniger als 0,3 Absorptionseinheiten in dem Wellenlängenbereich 250 bis 1700 nm aufweist.
  2. Die Kalibrierungsschicht nach Anspruch 1, wobei die photobleichbare lumineszierende Gruppe, die in dem photobleichbaren lumineszierenden Material enthalten ist, an ein Seitenkettenpolymer kovalent gebunden ist, dessen relativer molarer Anteil geringer als 10% ist.
  3. Ein Verfahren zur Kalibrierung einer optischen Abbildungsvorrichtung unter Anwenden der Kalibrierungsschicht von Anspruch 1 oder 2, wobei die Abnahme in der Lumineszenz als das Ergebnis einer Photobleichung zwischen zwei aufeinanderfolgenden Bildern zur Kalibrierung verwendet wird.
  4. Das Verfahren gemäß Anspruch 3, wobei ein optisches oder Raman-Mikroskop kalibriert wird.
DE69816289T 1997-04-25 1998-04-17 Photobleichbare lumineszenzschichten zur kalibrierung und standardisierung in optischer mikroskopie Expired - Fee Related DE69816289T2 (de)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP97201235 1997-04-25
EP97201235 1997-04-25
PCT/EP1998/002358 WO1998049537A1 (en) 1997-04-25 1998-04-17 Photobleachable luminescent layers for calibration and standardization in optical microscopy

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE69816289D1 DE69816289D1 (de) 2003-08-14
DE69816289T2 true DE69816289T2 (de) 2004-04-22

Family

ID=8228254

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE69816289T Expired - Fee Related DE69816289T2 (de) 1997-04-25 1998-04-17 Photobleichbare lumineszenzschichten zur kalibrierung und standardisierung in optischer mikroskopie

Country Status (5)

Country Link
US (1) US6259524B1 (de)
EP (1) EP0977981B1 (de)
AT (1) ATE244879T1 (de)
DE (1) DE69816289T2 (de)
WO (1) WO1998049537A1 (de)

Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6472671B1 (en) * 2000-02-09 2002-10-29 Jean I. Montagu Quantified fluorescence microscopy
DE10048812B4 (de) * 2000-09-29 2005-07-28 Orga Systems Gmbh Datenträger mit mittels energiereichem Strahl personalisierbaren Echtheitsmerkmalen
ATE366923T1 (de) * 2001-03-28 2007-08-15 Clondiag Chip Tech Gmbh Vorrichtung zur referenzierung von fluoreszenzsignalen
US6468803B1 (en) * 2001-05-25 2002-10-22 Becton, Dickinson And Company Method for calibrating a sample analyzer
US6794424B2 (en) 2001-12-04 2004-09-21 Agilent Technologies, Inc. Devices for calibrating optical scanners and methods of using the same
US7057721B2 (en) * 2002-01-10 2006-06-06 Chemimage Corporation Wide field method for detecting pathogenic microorganisms
US7534561B2 (en) 2003-04-02 2009-05-19 Agilent Technologies, Inc. Nucleic acid array in situ fabrication methods and arrays produced using the same
JP2005181244A (ja) * 2003-12-24 2005-07-07 Yokogawa Electric Corp 光量分布補正方法およびバイオチップ読取装置
US7480042B1 (en) 2004-06-30 2009-01-20 Applied Biosystems Inc. Luminescence reference standards
AU2005279041B2 (en) * 2004-09-01 2011-04-07 Perkinelmer Singapore Pte Ltd. A method of analysing a sample and apparatus therefor
US20060202118A1 (en) * 2005-02-25 2006-09-14 Axel Engel Standard for referencing luminescence signals
US20070141726A1 (en) * 2005-12-19 2007-06-21 Agency For Science, Technology And Research Detection via switchable emission of nanocrystals
EP2156370B1 (de) 2007-05-14 2011-10-12 Historx, Inc. Abteilungsauftrennung durch pixelcharakterisierung unter verwendung von bilddatenclusterung
ES2599902T3 (es) 2007-06-15 2017-02-06 Novartis Ag Sistema y método de microscopio para obtener datos de muestra normalizados
CA2604317C (en) 2007-08-06 2017-02-28 Historx, Inc. Methods and system for validating sample images for quantitative immunoassays
CA2596204C (en) 2007-08-07 2019-02-26 Historx, Inc. Method and system for determining an optimal dilution of a reagent
GB0721564D0 (en) 2007-11-02 2007-12-12 Ge Healthcare Uk Ltd Microscopy imaging phantoms
DE102008028708A1 (de) 2008-06-17 2009-12-24 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Verfahren zum Kalibrieren eines Detektors eines Laser-Scanning-Mikroskops
US9240043B2 (en) 2008-09-16 2016-01-19 Novartis Ag Reproducible quantification of biomarker expression
US8374818B2 (en) 2008-12-19 2013-02-12 Affymetrix, Inc. System, method and apparatus for calibrating inspection tools
GB0900526D0 (en) * 2009-01-14 2009-02-11 Perkinelmer Ltd Fluorescence microscopy methods and apparatus
US8259170B2 (en) 2009-08-24 2012-09-04 Cellomics, Inc. Integrated calibration sample bay for fluorescence readers
US20110089317A1 (en) * 2009-10-21 2011-04-21 University Of North Texas Health Science Center At Forth Worth Polarization Standards for Microscopy
NL2012169C2 (en) * 2014-01-30 2015-08-06 Univ Delft Tech Determining the average number of localizations per emitter and the average number of emitters associated with one site in localization microscopy.
JP7424289B2 (ja) * 2018-07-24 2024-01-30 ソニーグループ株式会社 情報処理装置、情報処理方法、情報処理システム、およびプログラム

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4055376A (en) * 1975-10-02 1977-10-25 Rockwell International Corporation Calibration reticle for measuring microscopes
US4868126A (en) 1985-12-11 1989-09-19 Flow Cytometry Standards Corporation Method of calibrating a fluorescent microscope using fluorescent calibration microbeads simulating stained cells

Also Published As

Publication number Publication date
DE69816289D1 (de) 2003-08-14
EP0977981A1 (de) 2000-02-09
EP0977981B1 (de) 2003-07-09
ATE244879T1 (de) 2003-07-15
US6259524B1 (en) 2001-07-10
WO1998049537A1 (en) 1998-11-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69816289T2 (de) Photobleichbare lumineszenzschichten zur kalibrierung und standardisierung in optischer mikroskopie
DE69916402T2 (de) System und verfahren zum nachweis von anormalen strahlungsbelichtungen mittels gepulster optisch stimulierter lumineszenz
DE4026564C2 (de)
DE2422016A1 (de) Diagnose von krankheitszustaenden durch fluoreszenzmessungen unter verwendung von abtastlaserstrahlen
DE2446032A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur feststellung submikrometrisch bemessener partikel
EP2380008B1 (de) Verfahren und system zur charakterisierung einer probe mittels bildgebender fluoreszenzmikroskopie
EP0469377B1 (de) Analysesystem und Verfahren zur Bestimmung eines Analyten in einer fluiden Probe
DE3026185C2 (de) Zusammensetzung, geeignet zur Untersuchung biologischer Gewebe oder Flüssigkeiten und Verfahren zu deren Anwendung
WO2005019821A1 (de) Analytisches system und verfahren zur analyse nichtlinearer optischer signale
DE19915137C2 (de) Verfahren zur Quantifizierung mehrerer Fluorochrome in einer mehrfach gefärbten Probe bei der Fluoreszenzmikroskopie und Verwendungen des Verfahrens
DE2635347A1 (de) Messanordnung und -verfahren
DE1497614A1 (de) Fotografische Speicher-Aufzeichnung von Informationen und Verfahren zur Herstellung solcher Aufzeichnungen
WO2022079260A1 (de) Verfahren und fluoreszenzmikroskop zur ortsbestimmung einzelner fluoreszierender farbstoffmoleküle durch adaptive abtastung
DE10222359A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur spektral differenzierenden, bildgebenden Messung von Fluoreszenzlicht
DE10239330A1 (de) Verfahren zur Herstellung von optischen Fluorid-Kristall-Lithographie/Laser-Elementen für Wellen-Längen &lt;200 NM
DE102019119213A1 (de) Vorrichtungen und Verfahren zur Mikroskopie für dreidimensionale Superauflösung
DE2321050A1 (de) Verfahren und einrichtung zur ermittlung boesartiger zellen
EP1552281B1 (de) Bestimmung der eignung eines optischen materials zur herstellung von optischen elementen, eine vorrichtung hierzu und die verwendung des materials
DE10231543B3 (de) Konfokale 3D-Scanning Absorption
WO2010037488A1 (de) Verfahren zum auswerten von fluoreszenzkorrelationsspektroskopiemessdaten (fcs)
DE102007005147A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Untersuchung der Anheftung oder Ablösung lebender oder toter Zellen oder zellähnlicher Partikel oder sonstiger Oberflächenbelegung an Oberflächen mittels Plasmonenresonanz sowie Verwendung dieses Verfahrens und dieser Vorrichtung
DE4104014A1 (de) Verfahren zur bestimmung von calciumionenkonzentration in zellen
DE60317049T2 (de) Verfahren zum nachweis der auswirkungen von störeffekten auf messdaten
DE19930607A1 (de) Verfahren und Apparatur zum Gewinnen von Daten für die Bestimmung der Reaktionskinetik
DD266024A1 (de) Verfahren und anordnung zur darstellung der gefaessstruktur und zur messung der durchblutung von lebenden gewebeabschnitten

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee