DE69734221T2 - Verfahren und Vorrichtung zur elektrochemischen Feinbearbeitung von Materialien - Google Patents

Verfahren und Vorrichtung zur elektrochemischen Feinbearbeitung von Materialien Download PDF

Info

Publication number
DE69734221T2
DE69734221T2 DE69734221T DE69734221T DE69734221T2 DE 69734221 T2 DE69734221 T2 DE 69734221T2 DE 69734221 T DE69734221 T DE 69734221T DE 69734221 T DE69734221 T DE 69734221T DE 69734221 T2 DE69734221 T2 DE 69734221T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
probe
processed
tip
fine tip
fine
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE69734221T
Other languages
English (en)
Other versions
DE69734221D1 (de
Inventor
Masayuki Chiba-shi Suda
Toshihiko Chiba-shi Sakuhara
Tatsuaki Chiba-shi Ataka
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Instruments Inc
Original Assignee
Seiko Instruments Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Instruments Inc filed Critical Seiko Instruments Inc
Publication of DE69734221D1 publication Critical patent/DE69734221D1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE69734221T2 publication Critical patent/DE69734221T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D21/00Processes for servicing or operating cells for electrolytic coating
    • C25D21/12Process control or regulation
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25FPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC REMOVAL OF MATERIALS FROM OBJECTS; APPARATUS THEREFOR
    • C25F3/00Electrolytic etching or polishing
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S977/00Nanotechnology
    • Y10S977/84Manufacture, treatment, or detection of nanostructure
    • Y10S977/849Manufacture, treatment, or detection of nanostructure with scanning probe
    • Y10S977/852Manufacture, treatment, or detection of nanostructure with scanning probe for detection of specific nanostructure sample or nanostructure-related property
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S977/00Nanotechnology
    • Y10S977/84Manufacture, treatment, or detection of nanostructure
    • Y10S977/849Manufacture, treatment, or detection of nanostructure with scanning probe
    • Y10S977/855Manufacture, treatment, or detection of nanostructure with scanning probe for manufacture of nanostructure

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Electrical Discharge Machining, Electrochemical Machining, And Combined Machining (AREA)
  • Micromachines (AREA)

Description

  • Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Durchführung einer Feinbearbeitung, das/die sich in der Metallindustrie, Elektronikindustrie usw. auf die Durchführung einer Feinbearbeitung in einer Lösung durch eine elektrochemische Reaktion unter Verwendung einer Sonde mit einer feinen Spitze beziehen.
  • US 5308979 beschreibt ein Abtastsondenmikroskop, das gespeicherte Daten zur Steuerung der vertikalen Position der Mikroskopsonde über einer Oberfläche verwendet. Der Abtastvorgang wird in zwei Phasen ausgeführt. In der ersten Phase wird die Sonde über die Oberfläche geführt, um topographische Daten zu ermitteln, die gespeichert werden. Die gespeicherten topographischen Daten werden dann zur Steuerung der vertikalen Höhe der Sonde über der Oberfläche in der zweiten Phase verwendet, in der ein Parameter der Oberfläche, der nicht photometrisch ist, wie die Oberflächentemperatur, gemessen wird, oder eine Aufgabe, wie die Manipulation eine DNA-Strangs, ausgeführt wird.
  • Als Verfahren zur Durchführung einer Bearbeitung in einer Flüssigkeit durch elektrochemische Reaktion mit Hilfe einer Sonde mit einer feinen Spitze wurde bisher ein Verfahren zur Durchführung einer Bearbeitung unter Verwendung eines elektrochemischen Tunnelmikroskops vom Abtasttyp beschrieben. In einem Verfahren zur Durchführung einer Feinbearbeitung, das sich auf die Annäherung einer Sonde mit feiner Spitze an die Oberfläche eines zu bearbeitenden Materials bezieht, und somit auf die Durchführung einer Feinbearbeitung unter Verwendung einer elektrochemischen Reaktion, die zwischen den beiden eintritt, ist es zur Verbesserung der Bearbeitungspräzision wichtig, den Abstand zwischen der Sonde und dem zu bearbeitenden Material zu verringern und diesen Abstand so zu steuern, dass er unverändert bleibt. Wenn der Abstand zwischen der Sonde und dem zu bearbeitenden Material zunimmt, wird die Bearbeitungsfläche unvorteilhaft breiter. Auch wenn sich der Abstand zwischen der Sonde und dem zu bearbeitenden Material während des Bearbeitungsvorganges ändert, ist es schwierig, die bearbeitete Konfiguration entsprechend den Vorgaben zu formen. Damit die Bearbeitungspräzision in der Größenordnung von Submikron liegen kann, muss der Abstand zwischen dem vorderen Ende der Sonde und dem zu bearbeitenden Material auch im Bereich von Submikron sein, und es ist schwierig, einen solchen geringen Abstand mit Hilfe von optischen Mitteln zu steuern. Wenn die Messung des Tunnelstroms durchgeführt wird, der zwischen dem vorderen Ende der Sonde und dem zu bearbeitenden Material strömt, wird es somit möglich, einen solchen geringen Abstand relativ leicht mit hoher Präzision zu steuern. Während das herkömmliche Verfahren zur Durchführung einer Feinbearbeitung, das ein elektrochemisches Tunnelmikroskop vom Abtasttyp verwendet, auch so angeordnet ist, dass eine Rückkopplungssteuerung des Abstandes zwischen Sonde und Probe durch die Verwendung dieses Tunnelstroms vorgenommen wird, beinhaltet es mehrere Probleme.
  • Zunächst wird der Aspekt hervorgehoben, dass, wenn eine elektrochemische Reaktion zwischen der Sonde und dem zu bearbeitenden Material hervorgerufen wird, der Faraday-Strom (elektrolytische Strom) zwischen den beiden fließt. Es ist schwierig zu bestimmen, ob der Strom der zwischen der Sonde und dem zu bearbeitenden Material fließt, ein Tunnelstrom oder ein Faraday-Strom ist. Ebenso besteht bei dem Verfahren zur Ausführung einer Rückkopplungssteuerung des Abstandes zwischen Sonde und Probe durch die Verwendung des Tunnelstroms das Problem, dass, wenn eine elektrochemische Reaktion eintritt, mit dem Ergebnis, dass der Faraday-Strom fließt, der Abstand zwischen der Sonde und dem zu bearbeitenden Material sich unvorteilhaft ändert, mit dem Ergebnis, dass die bearbeitete Konfiguration von der vorbestimmten Konfiguration abweicht. Zur Vermeidung des Auftretens dieses Problems kann auch die Verwendung eines Verfahrens in Betracht gezogen werden, das die Rück kopplungssteuerung unwirksam macht, wenn der Bearbeitungsvorgang durchgeführt wird, und die Position der Sonde auf der Z-Achse unveränderlich macht. Es besteht jedoch das Problem, dass in dem Fall, wenn eine Bearbeitung kontinuierlich durchgeführt wird, während die Sonde bewegt wird, die Sonde unvorteilhaft mit dem zu bearbeitenden Material aufgrund dessen Oberflächenrauheit, Oberflächenneigungen usw. zusammenstößt, da der Abstand zwischen dem zu bearbeitenden Material und der Sonde sehr kurz ist. Auch wenn die Rückkopplungssteuerung bei Verwendung eines Tunnelstroms ausgeführt wird, muss der Abstand zwischen dem zu bearbeitenden Material und der Sonde eine Abstandsgröße haben, die das Erfassen des relevanten Tunnelstroms ermöglicht. Das heißt, der Freiheitsgrad, mit dem der relevante Abstand eingestellt werden kann, war nicht hoch.
  • Da in dem Prozess einer elektrochemischen Reaktion das Ausmaß der Reaktion zu dem Wert des Faraday-Stroms proportional ist, ist es auch wichtig, den Faraday-Strom zu steuern, der zwischen der Sonde und dem zu bearbeitenden Material fließt, um das Ausmaß der Bearbeitung einzustellen. In dem herkömmlichen elektrochemischen Tunnelmikroskop vom Abtasttyp dienen im Allgemeinen die Sonde und das zu bearbeitende Material als Arbeitselektroden und eine elektrochemische Zelle ist mit einem Vierelektroden-System konstruiert, das diese Arbeitselektroden umfasst, sowie Referenz- und Gegenelektroden, die hinzugefügt werden. Im Falle dieser Konstruktion ist die Zelle im Prinzip so konstruiert, dass das Hauptaugenmerk auf der Steuerung der elektrochemischen Reaktionen liegt, die zwischen der Sonde und der Gegenelektrode und zwischen dem zu bearbeitenden Material und der Gegenelektrode eintreten, auch wenn das Potenzial sowohl der Sonde als auch des zu bearbeitenden Materials unabhängig eingestellt werden kann. Dies bedeutet, dass die Zellenkonstruktion nicht so gestaltet ist, dass der Faraday-Strom zwischen der Sonde und dem zu bearbeitenden Material präzise gesteuert wird. Aus diesem Grund entsteht das Problem, dass es schwierig ist, das Ausmaß der Bearbeitung einzustellen.
  • KURZDARSTELLUNG DER ERFINDUNG
  • In Hinblick auf eine Lösung oder zumindest Verminderung der obengenannten Probleme stellt die vorliegende Erfindung ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Feinbearbeitung bereit, wie in Anspruch 1 beziehungsweise 3 beschrieben ist.
  • Es ist ein Merkmal der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren zur Durchführung einer Feinbearbeitung bereitzustellen, mit dem ein Abstand zwischen einer Sonde und einer Probe so gesteuert werden kann, dass er unverändert bleibt, ohne Auswirkung des Faraday-Stroms.
  • Es ist ein weiteres Merkmal der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren zur Durchführung einer Feinbearbeitung bereitzustellen, mit dem der Abstand zwischen der Sonde und der Probe bei einem großen Abstand eingestellt werden kann, der das Erfassen des Tunnelstroms unmöglich macht, mit dem Ergebnis, dass der Freiheitsgrad für die Einstellung eines solchen Abstandes hoch ist.
  • Es ist ein weiteres Merkmal der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren zur Durchführung einer Feinbearbeitung bereitzustellen, mit dem ein Ausmaß der Bearbeitung durch Steuern des Faraday-Stroms leicht gesteuert werden kann.
  • Gemäß einem ersten Aspekt der Erfindung wird ein Verfahren zur Durchführung einer Feinbearbeitung bereitgestellt, in dem ein zu bearbeitendes Material in einer Flüssigkeit unter Verwendung einer Sonde mit einer feinen Spitze elektrochemisch bearbeitet wird, umfassend die folgenden Schritte:
    Konstruieren einer elektrochemischen Zelle in Form eines Vierelektroden-Systems, das die Sonde mit der feinen Spitze, das zu bearbeitende Material, eine Referenzelektrode und eine Gegenelektrode umfasst;
    Einstellen jedes Potenzials der Sonde mit der feinen Spitze und des zu bearbeitenden Materials auf einen Wert, bei dem keine elektrochemische Reaktion eintritt;
    Steuern des Abstandes zwischen der Spitze der Sonde und dem zu bearbeitenden Material, während ein konstanter Tunnelstrom zwischen dem zu bearbeitenden Material und der Sonde mit der feinen Spitze aufrechterhalten wird;
    Speichern der z-Achsenposition der Spitze der Sonde, um eine Konfiguration des zu bearbeitenden Materials zu speichern;
    Rekonstruieren der elektrochemischen Zelle in Form eines Dreielektroden-Systems, das die Sonde mit der feinen Spitze, das zu bearbeitende Material und die Referenzelektrode umfasst;
    Steuern der z-Achsenposition der Spitze der Sonde, so dass sie an ihrer gespeicherten Position oder an einer Position liegt, die durch Addieren einer bestimmten festgesetzten Verschiebung zu der gespeicherten Position erhalten wird, und
    Bearbeiten des zu bearbeitenden Materials durch elektrochemische Reaktion.
  • Die Bearbeitung des Materials kann das Anlegen einer konstanten Spannung oder eines konstanten Spannungsimpulses oder eines konstanten Stroms oder eines konstanten Stromimpulses zwischen der Sonde und dem Material enthalten.
  • Gemäß einem zweiten Aspekt der Erfindung wird eine Vorrichtung zur Durchführung eines Verfahrens zur Feinbearbeitung, wie zuvor beschrieben, bereitgestellt, umfassend:
    eine Sonde mit der feinen Spitze, Mittel zum Bewegen der Sonde mit der feinen Spitze über die Oberfläche eines zu bearbeitenden Materials in einer Flüssigkeit, um eine elektrochemische Reaktion herbeizuführen;
    Mittel zum selektiven Anlegen einer Spannung zwischen der Sonde mit der feinen Spitze und dem zu bearbeitenden Material als Teil eines Dreielektroden-Systems, das eine Referenzelektrode enthält, oder zwischen der Sonde mit der feinen Spitze, dem zu bearbeitenden Material und einer Gegenelektrode als Teil eines Vierelektroden-Systems, das die Referenzelektrode enthält;
    Mittel als Teil des Vierelektroden-Systems zum Messen eines Tunnelstroms zwischen der Sonde mit der feinen Spitze und dem zu bearbeitenden Material, wenn jedes Potenzial der Sonde mit der feinen Spitze und des zu bearbeitenden Materials auf einen Wert eingestellt ist, bei dem keine elektrochemische Reaktion eintritt, Mittel zum Steuern des Abstandes zwischen der Spitze der Sonde und dem zu bearbeitenden Material abhängig von dem Tunnelstrom, und Mittel zum Speichern von Informationen, die sich auf die z-Achsenposition der Sonde beziehen;
    Mittel als Teil des Dreielektroden-Systems zum Anlegen einer Spannung zwischen der Sonde mit der feinen Spitze und dem zu bearbeitenden Material, wobei die Sonde mit der feinen Spitze, das zu bearbeitende Material und die Referenzelektrode in dem Dreielektroden-System in die Flüssigkeit getaucht sind, so dass eine elektrochemische Bearbeitung erfolgt; und
    Mittel zum Umschalten von dem Mittel zum Messen des Tunnelstroms zu dem Mittel zum Anlegen einer Spannung zwischen der Sonde mit der feinen Spitze und dem zu bearbeitenden Material.
  • KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • 1 ist ein schematisches Blockdiagramm einer Vorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung;
  • 2 ist ein Flussdiagramm zur Durchführung einer Feinbearbeitung gemäß der vorliegenden Erfindung; und
  • 3 ist eine Photographie, die ein Beispiel zeigt, in dem ein Muster auf einem Dünnfilm aus Chrom durch die Verwendung des Verfahrens zur Durchführung der Feinbearbeitung gemäß der vorliegenden Erfindung gebildet wird.
  • AUSFÜHRLICHE BESCHREIBUNG DER ERFINDUNG
  • Es wird nun eine Ausführungsform eines Verfahrens zur Durchführung der Feinbearbeitung gemäß der vorliegenden Erfindung unter Bezugnahme auf die Zeichnungen erklärt.
  • 1 ist eine Ansicht, die ein Beispiel einer Vorrichtung zur Durchführung einer Feinbearbeitung zeigt, die zur Ausführung des Verfahrens zur Durchführung einer Feinbearbeitung gemäß der vorliegenden Erfindung konstruiert wurde. Eine Sonde 1 und ein zu bearbeitendes Material 2 werden in eine elektrolytische Lösung 3 getaucht und derart angeordnet, dass sie einander gegenüberliegen. Die Sonde 1 ist an einem Sondenantriebsmechanismus 4 montiert, der mit hoher Präzision in die X-, Y- und Z-Richtung bewegbar ist. Obwohl in dieser Ausführungsform ein Mechanismus, der eine Vielzahl kombinierter piezoelektrischer Elemente umfasst, als Sondenantriebsmechanismus 4 verwendet wird, ist ein solcher Mechanismus kein unerlässliches Bestandteil für das Verfahren zur Durchführung einer Feinbearbeitung gemäß der vorliegenden Erfindung, und dieser Mechanismus kann durch einen anderen Mechanismus mit ähnlicher Funktion ersetzt werden. Ferner ist der Sondenantriebsmechanismus 4 an einen Sondenpositionssteuermechanismus 5 angeschlossen. Der Sondenpositionssteuermechanismus 5 umfasst in seinem Inneren einen X/Y-Achsen-Steuermechanismus 6 zum Steuern der horizontalen Position der Sonde, einen Z-Achsen-Rückkopplungs-Steuermechanismus 7 zum Steuern der Z-Achsenposition der Sonde 1, so dass der Tunnelstrom, der zwischen der Sonde 1 und dem zu bearbeitenden Material 2 fließt, festgelegt werden kann, eine Speichervorrichtung 8, die an den Z-Achsen-Rückkopplungs-Steuermechanismus 7 angeschlossen ist und die Änderung in der Z-Achsenposition der Sonde 1 während der Rückkopplungssteuerung kontinuierlich aufzeichnen kann, und aus der die derart aufgezeichneten Daten wieder ausgelesen werden können, und einen Z-Achsen-Nicht-Rückkopplungs-Steuermechanismus 9 zum Steuern der Z-Achsenposition in Übereinstimmung mit den Daten von der Speichervorrichtung 8. Ebenso sind in der elektrolytischen Lösung 3 eine Referenzelektrode 10, die in der elektrochemischen Messung als Referenz für das Elektrodenpotenzial dient, und eine Gegenelektrode 11 eingebaut, die in der elektrochemischen Messung als Elektrode zum Anlegen eines Potenzials dient. Die Sonde 1, das zu bearbeitende Material 2, die Referenzelektrode 10 und die Gegenelektrode 11 sind durch einen Schaltmechanismus 12 an einen von einem Tunnelstrom-Messmechanismus 13, der einen Messelektrodenpotenzial-Steuermechanismus enthält, und einen Arbeitselektrodenpotenzial-Steuermechanismus 14 angeschlossen. Das Signal von dem Tunnelstrom-Messmechanismus 13 wird in den obengenannten Z-Achsen-Rückkopplungs-Steuermechanismus 7 eingegeben. Wenn der Schaltmechanismus 12 betätigt wurde, um zu dem Tunnelstrom-Messmechanismus 13 zu wechseln, ist die elektrochemische Zelle mit einem Vierelektroden-System konstruiert, in dem die Sonde 1 und das zu bearbeitende Material 2 jeweils als Arbeitselektroden dienen, und die Gegenelektrode 11 als Gegenelektrode dient. Wenn andererseits der Schaltmechanismus 12 betätigt wurde, um zu dem Arbeitselektrodenpotenzial-Steuermechanismus 14 zu wechseln, ist die elektrochemische Zelle mit einem Dreielektroden-System konstruiert, in dem die Sonde 1 als Gegenelektrode dient und das zu bearbeitende Material 2 als Arbeitselektrode dient.
  • 2 ist ein Flussdiagramm zur Durchführung einer Feinbearbeitung gemäß der vorliegenden Erfindung. Wenn die Bearbeitung durchgeführt wird, wird zunächst die Sonde 1 durch den X/Y-Achsen-Steuermechanismus 6 in die Position bewegt, in der mit der Bearbeitung des zu bearbeitenden Materials 2 begonnen werden soll. (Schritt 1)
  • Anschließend wird der Schaltmechanismus 12 betätigt, um zu dem Tunnelstrom-Messmechanismus 13 zu wechseln, und dann wird das Potenzial sowohl der Sonde 1 als auch des zu bearbeitenden Materials 2 auf einen Potenzialbereich eingestellt, bei dem keine elektrochemische Reaktion zwischen den beiden stattfindet. (Schritt 2)
  • Anschließend wird die Z-Achsenposition der Sonde 1 langsam verändert, so dass sich die Sonde 1 dem zu bearbeitenden Material 2 nähert. (Schritt 3). Während der Tunnelstrom, der zwischen der Sonde 1 und dem zu bearbeitenden Material 2 fließt, durch die Verwendung des Tunnelstrom-Messmechanismus 13 gemessen wird, wird zu diesem Zeitpunkt die Sonde 1 dem zu bearbeitenden Material 2 näher gebracht, bis der Wert des Tunnelstroms ein vorgeschriebener Wert wird.
  • Sobald der Wert des Tunnelstroms den vorgeschriebenen Wert erreicht, wird der Z-Achsen-Rückkopplungs-Steuermechanismus 7 eingeschaltet, um dadurch eine Rückkopplungssteuerung der Z-Achsenposition der Sonde 1 auszuführen, so dass der Tunnelstrom unverändert bleibt. (Schritt 4)
  • Während die Sonde 1 entlang einer geraden Linie oder Kurve bewegt wird, entlang der die Bearbeitung des zu bearbeitenden Materials 2 ausgeführt wird, wird danach eine Messung der Z-Achsenposition der Sonde 1 vorgenommen und die derart gemessenen Daten werden kontinuierlich in der Speichervorrichtung 8 gespeichert. (Schritt 5). Nach Beendigung der Messung der Konfiguration des Oberflächenabschnitts des zu bearbeitenden Materials 2, der sich entlang der geraden Bearbeitungslinie oder Kurve erstreckt, wird die Sonde 1 zu der vordersten Position des zu bearbeitenden Bereichs zurückgestellt.
  • Anschließend wird der Z-Achsen-Rückkopplungs-Steuermechanismus 7 ausgeschaltet, und der Z-Achsen-Nicht-Rückkopplungs-Steuermechanismus 9 eingeschaltet, so dass die Z-Achsenposition der Sonde 1 in Übereinstimmung mit den Daten von der Speichervorrichtung 8 gesteuert werden kann. (Schritt 6)
  • Ferner wird der Schaltmechanismus 12 betätigt, um zu dem Arbeitselektrodenpotenzial-Steuermechanismus 14 zu wechseln. Eine elektrochemische Zelle in einem Dreielektroden-System ist mit der Sonde 1, dem Material 2 und der Referenzelektrode 10 konstruiert. (Schritt 7)
  • Die Sonde 1 wird dann entlang derselben Oberflächenabschnittskonfiguration wie zuvor erwähnt bewegt. (Schritt 8)
  • Während die Z-Achsenposition der Sonde während dieser Bewegung in Übereinstimmung mit den Daten von der Speichervorrichtung 8 so gesteuert wird, dass der Abstand zwischen der Sonde 1 und dem zu bearbeitenden Material 2 unverändert bleibt, wird ein geeigneter Spannungspegel zwischen der Sonde 1 und dem zu bearbeitenden Material 2 mit Hilfe des Arbeitselektrodenpotenzial-Steuermechanismus 14 angelegt. (Schritt 9)
  • Dann wird entsprechend dem Pegel der angelegten Spannung und der Art der verwendeten elektrolytischen Lösung 3 zu diesem Zeitpunkt die Oberfläche des zu bearbeitenden Materials geätzt, oder es werden Substanzen durch elektrische Sedimentation entlang der Stelle abgeschieden, an der die Sonde 1 geführt wurde. (Schritt 10)
  • Durch Wiederholung dieser Abläufe kann das zu bearbeitende Material 2 zu einer vorbestimmten Konfiguration feinbearbeitet werden. Zu diesem Zeitpunkt kann durch Addieren eines bestimmten Versatzes zu den Daten über die gespeicherte Z-Achsenposition der Sonde 1 der Abstand zwischen der Sonde 1 und dem zu bearbeitenden Material frei eingestellt werden, so dass eine Abstandsgröße erhalten wird, die außerhalb des Bereichs liegt, der das Erfassen des Tunnelstroms ermöglicht, und dadurch die Größe der Bearbeitungsstelle und die Tiefe der Bearbeitung gewählt werden. Ebenso ist es möglich, als Verfahren zum Anlegen einer Spannung bei der Durchführung der Bearbeitung ein Verfahren zum kontinuierlichen Anlegen einer konstanten Spannung (konstanter Spannungsmodus), ein Verfahren zum kontinuierlichen Anlegen eines Spannungsimpulses (konstanter Spannungsimpulsmodus), ein Verfahren zum Anlegen eines konstanten Stroms unter Steuerung des Stroms, der fließt, so dass dieser Strom konstant gehalten werden kann (konstanter Strommodus), ein Verfahren zum Anlegen eines konstanten Stromimpulses bei gleichzeitiger Ausführung einer Steuerung, dass dieser konstante Stromimpuls angelegt werden kann (konstanter Stromimpulsmodus), usw., verwendet werden.
  • 3 ist eine Photographie, die aufgenommen wurde, als das Ergebnis mit Hilfe eines Tunnelmikroskops vom Abtasttyp betrachtet wurde, das durch Ätzen eines Dünnfilms aus Chrom auf einem Glassubstrat durch Anwendung der obengenannten Methode erhalten wurde. Chrom wurde durch Sputtern auf dem Glassubstrat zu einer Dicke von 200 nm abgeschieden und das erhaltene Glassubstrat wurde als zu bearbeitendes Material 2 verwendet. Eine wässerige Sulfaminsäurelösung von 0,1 mol/l wurde als elektrolytische Lösung 3 verwendet, ein Draht aus einer Platin-Iridium-Legierung, dessen Spitzenende durch elektrolytisches Ätzen geschärft worden war, und dessen Abschnitt, der das Spitzenende nicht enthält, mit Harz überzogen worden war, wurde als Sonde 1 verwendet, eine Platinplatte wurde als Gegenelektrode 11 verwendet, und eine gesättigte Silber/Silberchlorid-Elektrode wurde als Referenzelektrode 10 verwendet. Während unter den Bedingungen, dass der Tunnelstrom = 0,3 nA ist, die Sonde 1 entlang einer geraden Linie mit einer Länge von 20 μm bei einer Geschwindigkeit von 200 nm/sec bewegt wurde, wurde zunächst die Z-Achsenposition der Sonde 1 gespeichert und dadurch eine Messung der Oberflächenkonfiguration des Chrom-Dünnfilms vorgenommen, die sich entlang derselben geraden Linie erstreckte. Während die Sonde 1 entlang dieser geraden Linie an einer Position bewegt wurde, die durch Addieren eines Versatzes von 20 nm zu den gespeicherten Daten erhalten wurde, wurde anschließend eine Steuerung ausgeführt, so dass während dieser Bewegung der Sonde ein Stromimpuls Ion = 30 nA, Ton = 0,3 sec, Toff = 1,0 sec kontinuierlich zwischen der Sonde 1 und dem zu bearbeitenden Material 2 im konstanten Stromimpulsmodus angelegt wurde. Und die Bearbeitung, die dieser geraden Linie entspricht, wurde in 200 nm Intervallen wiederholt, wodurch schließlich ein quadratisches Muster von 20 × 20 μm gebildet wurde. Die Tiefe des derart geätzten Bereichs war etwa 100 nm.
  • Wie zuvor erwähnt, ist es gemäß dem Verfahren zur Durchführung einer Feinbearbeitung der vorliegenden Erfindung möglich, den Abstand zwischen der Sonde und der Probe so zu steuern, dass er unverändert bleibt, ohne Auswirkung eines Faraday-Stroms auf diesen. Zusätzlich ist es auch möglich, den Abstand zwischen der Sonde und der Probe auf einen großen Abstand einzustellen, der das Erfassen des Tunnel stroms unmöglich macht, mit dem Ergebnis, dass der Freiheitsgrad für das Einstellen eines solchen Abstandes hoch ist. Da die elektrochemische Zelle mit einem Dreielektroden-System konstruiert ist, ist es auch möglich, dass Ausmaß der Bearbeitung durch Steuern des Faraday-Stroms leicht zu steuern.

Claims (3)

  1. Verfahren zur Durchführung einer Feinbearbeitung, in dem ein zu bearbeitendes Material (2) in einer Flüssigkeit (3) unter Verwendung einer Sonde mit einer feinen Spitze (1) elektrochemisch bearbeitet wird, umfassend die folgenden Schritte: Konstruieren einer elektrochemischen Zelle in Form eines Vierelektroden-Systems, das die Sonde mit der feinen Spitze, das zu bearbeitende Material, eine Referenzelektrode und eine Gegenelektrode umfasst; Einstellen jedes Potenzials der Sonde mit der feinen Spitze und des zu bearbeitenden Materials auf einen Wert, bei dem keine elektrochemische Reaktion eintritt; Steuern des Abstandes zwischen der Spitze der Sonde und dem zu bearbeitenden Material, während ein konstanter Tunnelstrom zwischen dem zu bearbeitenden Material und der Sonde mit der feinen Spitze aufrechterhalten wird; Speichern der z-Achsenposition der Spitze der Sonde, um eine Konfiguration des zu bearbeitenden Materials zu speichern; Rekonstruieren der elektrochemischen Zelle in Form eines Dreielektroden-Systems, das die Sonde mit der feinen Spitze, das zu bearbeitende Material und die Referenzelektrode umfasst; Steuern der z-Achsenposition der Spitze der Sonde, so dass sie an ihrer gespeicherten Position oder an einer Position liegt, die durch Addieren einer bestimmten festgesetzten Verschiebung zu der gespeicherten Position erhalten wird, und Bearbeiten des zu bearbeitenden Materials durch elektrochemische Reaktion.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, wobei die Bearbeitung des Materials das Anlegen einer konstanten Spannung oder eines konstanten Spannungsimpulses oder eines konstanten Stroms oder eines konstanten Stromimpulses zwischen der Sonde und dem Material enthält.
  3. Vorrichtung zur Durchführung eines Verfahrens zur Feinbearbeitung nach Anspruch 1, umfassend: eine Sonde mit der feinen Spitze (1), Mittel (6) zum Bewegen der Sonde mit der feinen Spitze über die Oberfläche eines zu bearbeitenden Materials (2) in einer Flüssigkeit (3), um eine elektrochemische Reaktion herbeizuführen; Mittel (14, 13) zum selektiven Anlegen einer Spannung zwischen der Sonde (1) mit der feinen Spitze und dem zu bearbeitenden Material (2) als Teil eines Dreielektroden-Systems, das eine Referenzelektrode (10) enthält, oder zwischen der Sonde (1) mit der feinen Spitze, dem zu bearbeitenden Material (2) und einer Gegenelektrode (11) als Teil eines Vierelektroden-Systems, das die Referenzelektrode (10) enthält; Mittel (13) als Teil des Vierelektroden-Systems zum Messen eines Tunnelstroms zwischen der Sonde (1) mit der feinen Spitze und dem zu bearbeitenden Material (2), wenn jedes Potenzial der Sonde (1) mit der feinen Spitze und des zu bearbeitenden Materials (2) auf einen Wert eingestellt ist, bei dem keine elektrochemische Reaktion eintritt, Mittel (7) zum Steuern des Abstandes zwischen der Spitze der Sonde (1) und dem zu bearbeitenden Material (2) abhängig von dem Tunnelstrom, und Mittel (8) zum Speichern von Informationen, die sich auf die z-Achsenposition der Sonde (1) beziehen; Mittel (14) als Teil des Dreielektroden-Systems zum Anlegen einer Spannung zwischen der Sonde (1) mit der feinen Spitze und dem zu bearbeitenden Material (2), wobei die Sonde (1) mit der feinen Spitze, das zu bearbeitende Material (2) und die Referenzelektrode (10) in dem Dreielektroden-System in die Flüssigkeit (3) getaucht sind, so dass eine elektrochemische Bearbeitung erfolgt; und Mittel (12) zum Umschalten von dem Mittel (13) zum Messen des Tunnelstroms zu dem Mittel (19) zum Anlegen einer Spannung zwischen der Sonde (1) mit der feinen Spitze und dem zu bearbeitenden Material (2).
DE69734221T 1996-04-02 1997-03-27 Verfahren und Vorrichtung zur elektrochemischen Feinbearbeitung von Materialien Expired - Lifetime DE69734221T2 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8104581A JP3016129B2 (ja) 1996-04-02 1996-04-02 微細加工方法
JP10458196 1996-04-02

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE69734221D1 DE69734221D1 (de) 2006-02-02
DE69734221T2 true DE69734221T2 (de) 2006-05-11

Family

ID=14384410

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE69734221T Expired - Lifetime DE69734221T2 (de) 1996-04-02 1997-03-27 Verfahren und Vorrichtung zur elektrochemischen Feinbearbeitung von Materialien

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5885434A (de)
EP (1) EP0800081B1 (de)
JP (1) JP3016129B2 (de)
DE (1) DE69734221T2 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102007043066A1 (de) * 2007-09-10 2009-03-12 Robert Bosch Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur elektrochemischen Bearbeitung

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6267506B1 (en) 1999-02-26 2001-07-31 Chris Campion Fold-top closure and method therefor
EP1146376A1 (de) * 2000-04-12 2001-10-17 Triple-O Microscopy GmbH Verfahren und Vorrichtung zur kontrollierten Bearbeitung von Abtastsonden
KR100379748B1 (ko) * 2000-10-05 2003-04-11 한국과학기술원 초미세 원통형 전극제작을 위한 전해가공방법
LV12835B (en) * 2000-11-24 2002-07-20 Leon�ds BE�ERS Micromovement measuring device and a method of displacement-to-signal conversion embodied in said device
GB0521076D0 (en) * 2005-10-17 2005-11-23 Anglo Baltic Holdings Ltd Measurement of micromovements
DE102006060921A1 (de) * 2006-12-20 2008-06-26 Endress + Hauser Gmbh + Co. Kg Vorrichtung zur Bestimmung und/oder Überwachung einer Prozessgröße
CN102928492B (zh) * 2012-11-14 2015-01-21 天津博硕东创科技发展有限公司 二氧化钛纳米管阵列精密制备和原位测试分析系统
CN104062324B (zh) * 2014-06-19 2017-05-24 中国船舶重工集团公司第七二五研究所 局部区域形貌扫描的电化学检测装置
CN104098066B (zh) * 2014-07-21 2016-01-20 哈尔滨工业大学 电化学微纳加工设备
CN108680493B (zh) * 2016-04-29 2020-07-17 天津大学 金属焊接接头部位电偶腐蚀中腐蚀电流密度的测定方法
CN113046807B (zh) * 2021-03-05 2022-04-26 佛山科学技术学院 微区电化学加工装置及利用其制备电沉积氧化亚铜的方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3220433A1 (de) * 1982-05-29 1983-12-01 Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart Verfahren zum elektrochemischen abtragen von metallischem werkstoff
US4541909A (en) * 1984-07-20 1985-09-17 Westinghouse Electric Corp. Controlled metal removal by parallel-to-face electrochemical machining
DE3709433A1 (de) * 1987-03-21 1988-09-29 Aeg Elotherm Gmbh Verfahren und vorrichtung zum elektrochemischen bearbeiten von werkstuecken
US4868396A (en) * 1987-10-13 1989-09-19 Arizona Board Of Regents, Arizona State University Cell and substrate for electrochemical STM studies
JP2814256B2 (ja) * 1989-01-31 1998-10-22 セイコーインスツルメンツ株式会社 電気化学測定トンネル電流同時測定装置およびトンネル探針
JPH0637088A (ja) * 1991-10-28 1994-02-10 Seiko Instr Inc 超微細加工方法
JP3278454B2 (ja) * 1992-04-07 2002-04-30 セイコーインスツルメンツ株式会社 溶液中走査型トンネル顕微鏡
US5308974B1 (en) * 1992-11-30 1998-01-06 Digital Instr Inc Scanning probe microscope using stored data for vertical probe positioning
US5630932A (en) * 1995-09-06 1997-05-20 Molecular Imaging Corporation Tip etching system and method for etching platinum-containing wire

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102007043066A1 (de) * 2007-09-10 2009-03-12 Robert Bosch Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur elektrochemischen Bearbeitung

Also Published As

Publication number Publication date
DE69734221D1 (de) 2006-02-02
JP3016129B2 (ja) 2000-03-06
EP0800081B1 (de) 2005-09-21
EP0800081A1 (de) 1997-10-08
JPH09267218A (ja) 1997-10-14
US5885434A (en) 1999-03-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69734221T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur elektrochemischen Feinbearbeitung von Materialien
DE2731930C2 (de) Elektrode zur Bestimmung von pH-, pCO↓2↓ -und pO↓2↓ -Werten in Flüssigkeiten
EP0105961B1 (de) Verfahren zum Messen der abgetragenen Schichtdicke bei subtraktiven Werkstückbearbeitungsprozessen
DD203776A5 (de) Verfahren und vorrichtung zum messen der elektrophoretischen beweglichkeit
EP0045970B1 (de) Verfahren zur Bestimmung der Stromausbeute bei galvanischen Bädern
EP1146984B1 (de) Verfahren und vorrichtung zur elektrochemischen materialbearbeitung
CH679989A5 (de)
EP0446742B1 (de) Verfahren und Einrichtung zum Herstellen von Mikro-Schmelzstrukturen aus elektrisch leitendem Material auf Sondenspitzen sowie deren Verwendung
EP2049894B1 (de) Vorrichtung und verfahren zum erfassen von partikeln mit pipette und nanopore
DE69824125T2 (de) Verfahren zur Herstellung eines Bauteils und Herstellungsvorrichtung
WO1996001993A1 (de) Verfahren zur elektrochemischen analyse
EP0581081A1 (de) Verfahren zur Bestimmung von Persäuren
DE2711989B1 (de) Elektrochemische Bestimmung von Schwermetallen in Wasser
DE2502653A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur kompensation des bei profilmessungen auftretenden steigungsfehlers
DE112018007560T5 (de) Drahterodiermaschine und Geradheitsberechnungsverfahren
DE3535754A1 (de) Vorrichtung zur messung des aluminiumoxydgehaltes der in aluminiumelektrolyseoefen befindlichen kryolitschmelze
DE102011017466B4 (de) Inline-Bestimmung von Oberflächeneigenschaften
DE102005062728B4 (de) Verfahren zur Bestimmung einer dreidimensionalen Stromdichtenverteilung in einem Elektrolytbad
DE1948982A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Trennen und Analysieren von Stoffgemischen durch Verschiebungselektrophorese
EP0022503B1 (de) Vorrichtung zur Anzeige der metallspezifischen Beladung von Ionenaustauschern
DE19949976C1 (de) Verfahren und Anordnung zur in-situ Endpunkterkennung beim chemisch-mechanischen Polieren (CMP) von Schichten auf Halbleiterwafern
DE10015931A1 (de) Verfahren zur elektrochemischen Nanostrukturierung
EP1867422A2 (de) Vorrichtung und Verfahren zur elektrochemischen Bearbeitung von Werkstücken
DE19820770A1 (de) Verfahren zur elektrochemischen Beschichtung eines Substrats oder eines Gegenstandes sowie Gegenstand mit einer nach dem Verfahren hergestellten Beschichtung
DE3408726C2 (de)

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition