DE69606987D1 - Verfahren und vorrichtung zur parallelen automatischen prüfung von elektronischen schaltungen - Google Patents

Verfahren und vorrichtung zur parallelen automatischen prüfung von elektronischen schaltungen

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6385747B1 (en) * 1998-12-14 2002-05-07 Cisco Technology, Inc. Testing of replicated components of electronic device
DE60001254T2 (de) * 2000-06-16 2003-07-10 Agilent Technologies Inc Testgerät für integrierte Schaltungen mit Multiportprüffunktionalität
MXPA04007832A (es) 2002-02-11 2005-09-08 Bayer Pharmaceuticals Corp Aril-ureas con actividad inhibitoria de angiogenesis.

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4730318A (en) * 1986-11-24 1988-03-08 International Business Machines Corporation Modular organized storage tester
EP0293260A3 (de) * 1987-05-29 1990-08-08 Zehntel, Inc. Digitaler In-Circuit-Prüfer mit einem Kanaltreibersperrer
JPH01270683A (ja) * 1988-04-22 1989-10-27 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路
JP2609284B2 (ja) * 1988-05-10 1997-05-14 株式会社日立製作所 分散形タイミング信号発生装置
US4972413A (en) * 1989-03-23 1990-11-20 Motorola, Inc. Method and apparatus for high speed integrated circuit testing
US4989209A (en) * 1989-03-24 1991-01-29 Motorola, Inc. Method and apparatus for testing high pin count integrated circuits
US5225772A (en) * 1990-09-05 1993-07-06 Schlumberger Technologies, Inc. Automatic test equipment system using pin slice architecture

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