DE69806758D1 - Verfahren und vorrichtung zur prüfung von elektronischen einrichtungen - Google Patents

Verfahren und vorrichtung zur prüfung von elektronischen einrichtungen

Info

Publication number
DE69806758D1
DE69806758D1 DE69806758T DE69806758T DE69806758D1 DE 69806758 D1 DE69806758 D1 DE 69806758D1 DE 69806758 T DE69806758 T DE 69806758T DE 69806758 T DE69806758 T DE 69806758T DE 69806758 D1 DE69806758 D1 DE 69806758D1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
electronic devices
testing electronic
testing
devices
electronic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE69806758T
Other languages
English (en)
Other versions
DE69806758T2 (de
Inventor
Serge Claverie
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Thales Avionics SAS
Original Assignee
Thales Avionics SAS
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Thales Avionics SAS filed Critical Thales Avionics SAS
Application granted granted Critical
Publication of DE69806758D1 publication Critical patent/DE69806758D1/de
Publication of DE69806758T2 publication Critical patent/DE69806758T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26—Functional testing
    • G06F11/273—Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/005—Testing of electric installations on transport means
    • G01R31/008—Testing of electric installations on transport means on air- or spacecraft, railway rolling stock or sea-going vessels
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2834—Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
DE69806758T 1997-05-30 1998-05-29 Verfahren und vorrichtung zur prüfung von elektronischen einrichtungen Expired - Fee Related DE69806758T2 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR9706684A FR2764072B1 (fr) 1997-05-30 1997-05-30 Procede et dispositif de test pour equipements electroniques
PCT/FR1998/001092 WO1998054587A1 (fr) 1997-05-30 1998-05-29 Procede et dispositif de test pour equipements electroniques

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE69806758D1 true DE69806758D1 (de) 2002-08-29
DE69806758T2 DE69806758T2 (de) 2003-06-18

Family

ID=9507438

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE69806758T Expired - Fee Related DE69806758T2 (de) 1997-05-30 1998-05-29 Verfahren und vorrichtung zur prüfung von elektronischen einrichtungen

Country Status (6)

Country Link
US (1) US6598002B1 (de)
EP (1) EP0985155B1 (de)
CA (1) CA2291657C (de)
DE (1) DE69806758T2 (de)
FR (1) FR2764072B1 (de)
WO (1) WO1998054587A1 (de)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2510884A1 (de) * 2003-11-17 2012-10-17 Boston Scientific Limited Systeme für die Verbindung eines medizinischen Implantats mit einer Abgabevorrichtung
FR2903384B1 (fr) * 2006-07-04 2009-05-29 Airbus France Sas Systeme de commande de vol pour aeronef,et systeme de test pour tester un tel systeme de commande de vol.
FR2918759B1 (fr) 2007-07-13 2009-09-18 Eurocopter France Procede de test d'un systeme electronique
US8204711B2 (en) * 2009-03-25 2012-06-19 GM Global Technology Operations LLC System and apparatus for managing test procedures within a hardware-in-the-loop simulation system
CN102810122A (zh) * 2011-06-02 2012-12-05 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 电子产品设计的验证系统和方法
US10169127B2 (en) * 2014-03-06 2019-01-01 International Business Machines Corporation Command execution results verification
RU2632546C1 (ru) * 2016-06-23 2017-10-05 Публичное акционерное общество "Авиационная холдинговая компания "Сухой" Стенд комплексирования информационно-управляющих систем многофункциональных летательных аппаратов
US11142345B2 (en) 2017-06-22 2021-10-12 Textron Innovations Inc. System and method for performing a test procedure

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4393498A (en) * 1981-01-22 1983-07-12 The Boeing Company Method and apparatus for testing systems that communicate over digital buses by transmitting and receiving signals in the form of standardized multi-bit binary encoded words
US5184312A (en) * 1985-10-13 1993-02-02 The Boeing Company Distributed built-in test equipment system for digital avionics
US4943919A (en) * 1988-10-17 1990-07-24 The Boeing Company Central maintenance computer system and fault data handling method
US5036479A (en) * 1989-04-20 1991-07-30 Trw Inc. Modular automated avionics test system
DE4100899A1 (de) * 1990-01-17 1991-07-18 Schlumberger Technologies Inc System fuer die steuerung des ablaufs von testsequenzen in einer informationsverarbeitungsvorrichtung
US5111402A (en) * 1990-01-19 1992-05-05 Boeing Company Integrated aircraft test system
DE69229389T2 (de) * 1992-02-25 1999-10-07 Hewlett Packard Co Testsystem für Schaltkreise
US5437007A (en) * 1992-11-10 1995-07-25 Hewlett-Packard Company Control sequencer in an iconic programming system
US6151567A (en) * 1994-05-27 2000-11-21 Hamilton Sundstrand Corporation Data communication analysis and simulation tool
US6230109B1 (en) * 1995-05-16 2001-05-08 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Multiconductor continuity and intermittent fault analyzer with distributed processing and dynamic stimulation
DE59600816D1 (de) * 1995-05-23 1998-12-17 Daimler Benz Ag Verfahren zur rechnergestützten messung und prüfung von elektrischen schaltungen, insbesondere von elektronischen baugruppen, und prüfplatz zur durchführung des verfahrens

Also Published As

Publication number Publication date
FR2764072B1 (fr) 1999-09-17
EP0985155A1 (de) 2000-03-15
FR2764072A1 (fr) 1998-12-04
EP0985155B1 (de) 2002-07-24
CA2291657A1 (fr) 1998-12-03
CA2291657C (fr) 2007-04-03
DE69806758T2 (de) 2003-06-18
WO1998054587A1 (fr) 1998-12-03
US6598002B1 (en) 2003-07-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69629098D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Belastungsprüfung
DE69803160D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur bestückung von elektronischen bauteilen
DE69636701D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung von Halbleiterchips
DE69733463D1 (de) Vorrichtung und verfahren zur rahmung von paketen
DE60030658D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Überprüfung von Gegenständen
DE69818321D1 (de) Verfahren und Gerät zur Bereitstellung einer elektronischen Programmübersicht
DE69827656D1 (de) Vorrichtung und verfahren zur bestueckung von bauteilen
DE69835511D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Durckimpulsbetätigte Telemetrie
DE69836540D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur ausführung von bildverbesserungen
DE69832534D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur auswahl von orthodontischen vorrichtungen
DE69922687D1 (de) Verfahren und vorrichtung zum montieren von bauteilen
DE69532091D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Durchführung von Messungen
DE69929478D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Zuweisung von Kodes
DE69700993D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur befestigung von bauelementen
DE69812098D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur verwaltung von hash-codierten objekten
DE69621485T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Bestückung elektronischer Bauteile
DE69834320D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Folgeschätzung
DE69834695D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Datenkompression
DE69719477T2 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Eingabe von Buchstaben
DE69630224D1 (de) Verfahren und einrichtung zur bestückung elektronischer bauteile
DE69719784T2 (de) Vorrichtung und verfahren zur markierung von defekten
DE69720157D1 (de) System und Verfahren zur Prüfung elektronischer Geräte
DE69605122D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur prüfung von gewindeverbindungen und gewindeteilen
DE69806758T2 (de) Verfahren und vorrichtung zur prüfung von elektronischen einrichtungen
DE69724737D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung von Speicherschaltungen

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee