DE69532695T2

DE69532695T2 - Prüfung der Dichtfläche eines Behälters

Info

Publication number: DE69532695T2
Application number: DE69532695T
Authority: DE
Inventors: James A. Ringlien
Original assignee: Owens Brockway Glass Container Inc
Current assignee: Owens Brockway Glass Container Inc
Priority date: 1994-04-07
Filing date: 1995-03-30
Publication date: 2005-02-10
Anticipated expiration: 2015-03-31
Also published as: JP3774246B2; PT676633E; ES2217271T3; DE69532695D1; PL177700B1; EP0676633A1; PL308042A1; US5489987A; ATE262172T1; JPH0843320A; EP0676633B1; CN1120157A; KR950033416A; ZA952850B; BR9501476A; AU1626695A; DK0676633T3; KR100346327B1; CN1073233C; AU689536B2

Description

Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Inspektion des Halses eines Behälters, welcher eine Mittelachse und eine offene Mündung aufweist, die von einer axial blickenden Dichtfläche zur abdichtenden Anlage an einem Behälterdeckel umgeben ist.
Hintergrund der Erfindung
Ein Verfahren und eine Vorrichtung entsprechend dem Oberbegriff des Anspruchs 1 zur Inspektion des Endes eines Objekts auf Defekte hin ist aus EP-A 0 497 477 bekannt. Der obere Endabschnitt des Objekts wird von einer oder zwei Lichtquellen beleuchtet, und Streifen oder Ränder werden von zwei Sensoren abgebildet, die in einem vorbestimmten Winkel in Bezug aufeinander angeordnet sind und in Kameras seitlich und oberhalb der Bewegungsrichtung des zu inspizierenden Objektbereichs angeordnet sind. Es ist eine Bildverarbeitungsvorrichtung vorgesehen, um die Positionen der hellen Linien als digitale Werte aus der Anzahl von Bildelementen einzeln für die Bildsensoren zu berechnen, und diese digitalen Beträge werden zueinander addiert und voneinander subtrahiert, um aus dieser Addition und Subtraktion einen Defekt zu beurteilen. Die hellen Linien können nur durch Reflexionen an gebogenen Bereichen durch einen ausreichend breiten Strahl, so dass beide Bildsensoren des Paares reflektiertes Licht empfangen können, erzeugt werden.
Eine Vorrichtung und ein Verfahren entsprechend dem Oberbegriff des Anspruchs 1 ist aus EP-A-0 388 600 bekannt. Ein einfallender Lichtstrahl bildet einen beleuchteten Bereich in radialer Richtung über die Dichtfläche des Behälters hin, und eine Kamera, die ein Feld aus lichtempfindlichen Elementen aufweist, empfängt das reflektierte Licht von der zu inspizierenden Oberfläche. Fehler oder Defekte, wie etwa über den Hals laufende Linien oder Blasen, können aus dem empfangenen Bild erkannt werden, welches jedoch keine Informationen über das Niveau, d. h. die Höhenlage einer solchen inspizierten Oberfläche enthält.
Es ist bekannt, das Niveau einer Oberfläche mit Hilfe eines rotierenden kreisförmigen Abtastgeräts festzustellen, das entsprechend den Prinzipien der Triangulation arbeitet, und zwar auf dem Gebiet der Feststellung der Lage einer durch ein Schweißgerät hergestellten Naht (DE-C-3801626). Die Vorrichtung ist relativ komplex.
Bis dato wird die Behälterhöhe mit Hilfe von Rollen gemessen. US-A 3 313 409 offenbart eine Vorrichtung zur Inspektion von Glasbehältern, bei welcher ein Sternrad Behälter nacheinander durch eine Reihe von Inspektionsstationen befördert. An einer der Inspektionsstationen werden ausgewählte Dimensionsparameter des jeweiligen Behälters überprüft, und zwar durch Berührung des Behälters mit Rollen, die an Sensoren gekoppelt sind, und Drehen des Behälters um dessen Mittelachse, so dass die Sensoren Ausgangssignale liefern, welche sich in Funktion von Schwankungen der Behälterparameter ändern. Speziell wird mit Hilfe von Rollen, die an der Behälterdichtfläche in Anlage kommen, während der Behälter rotiert, die Behälterhöhe, die Verwölbung und Eindellung der Dichtfläche sowie eine schräge Ausrichtung des Behälterhalses gemessen. Die Rollen sind mit LVDT-Sensoren gekoppelt, welche analoge elektrische Signale liefern, die für Abweichungen oder Schwankungen im Niveau (der Höhe) an der Dichtfläche kennzeichnend sind. Diese Signale werden auf geeignete Elektronik geführt, um einen Rückweisungs-Druckkolben auszulösen, um einen Behälter aus der Beförderungslinie zu entfernen, falls die Messsignale von den gewünschten Normen und Spezifikationen abweichen.
Obgleich das in dem erwähnten Patent offenbarte Inspektionssystem, das dem Abtretungsempfänger des vorliegenden Dokuments übertragen worden ist, sich erheblichen kommerziellen Erfolges erfreut, bleiben Verbesserungen wünschenswert. Die Rollen im Kontakt mit der Behälterdichtfläche unterliegen mechanischem Verschleiß. Die Rollen können eine Verunreinigung an der Dichtfläche bewirken. Die Größe der Rollen schränkt die Größe der Behälter, in Verbindung mit welchen sie angewandt werden können, sowie die Größe (Auflösung) von Niveauabweichungen, die erkannt werden können, ein. Die beweglichen Teile erfordern Wartung und Reparatur.
Zusammenfassung der Erfindung
Eine allgemeine Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Inspektion der Dichtflächen von Behältern auf Niveauabweichungen an der Behälterdichtfläche hin zur Verfügung zu stellen, welche sich den zuvor erwähnten Nachteilen auf diesem Gebiet zuwenden und diese überwinden.
Darüber hinaus ist es Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Messung von Niveauabweichungen an den Dichtflächen von Behältern zur Verfügung zu stellen, welche elektrooptische Verfahren anwenden, bei welchen die Messvorrichtung nicht in Kontakt mit der Messoberfläche kommt. Eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, ein Verfahren und eine Vorrichtung der beschriebenen Gattung zur Verfügung zu stellen, welche die vorgenannten Aufgaben löst und gleichzeitig wirtschaftlich zu realisieren ist und über eine verlängerte Betriebszeit hin zuverlässig arbeitet. Eine weitere und speziellere Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, ein elektrooptisches kontaktfreies Verfahren sowie eine Vorrichtung zur Messung der Höhe von Behältern an den Dichtflächen, zur Messung einer Verwölbung und Eindellung an den Dichtflächen sowie zur Messung schräg stehender Hälse der Behälter zur Verfügung zu stellen.
Die Erfindung ist in den Ansprüchen 1 bzw. 10 definiert.
Die vorliegende Erfindung schlägt ein Verfahren und eine Vorrichtung zur elektrooptischen Messung von Niveauabweichungen an der Dichtfläche von Behältern durch Richten eines schmalen Lichtstrahls auf die Dichtfläche, von welcher dieser auf einen Lichtsensor reflektiert wird, vor. Der Sensor ist derart beschaffen, dass er ein elektrisches Ausgangssignal liefert, welches sich in Funktion der Auftreffstelle des reflektierten Lichtstrahls auf dem Sensor ändert. Jegliche Höhenabweichungen an der Dichtfläche des Behälters bewirken also eine entsprechende Schwankung des Punktes oder der Stelle, an welcher der reflektierte Lichtstrahl auf dem Sensor auftrifft, so dass der Sensor ein Ausgangssignal liefert, welches sich in direkter Abhängigkeit von dem Niveau der Dichtfläche ändert.
Eine Vorrichtung zur Inspektion der Dichtfläche von Behälterhälsen entsprechend derzeit bevorzugter Ausführungsformen der Erfindung umfasst eine Lichtquelle, die derart positioniert ist, dass ein schmaler Lichtstrahl auf die Dichtfläche eines Behälters gerichtet wird, während der Behälter um seine Mittelachse gedreht wird. Ein Lichtsensor ist derart angeordnet, dass er den von der Dichtfläche reflektierten schmalen Lichtstrahl empfängt und ein Ausgangssignal liefert, das in Abhängigkeit von der Auftreffposition des reflektierten Lichtstrahls auf dem Sensor variiert. Der Sensor ist mit zugehöriger Elektronik gekoppelt, und zwar zum Bereitstellen von Informationen, welche für die Behälterhöhe kennzeichnend sind, sowie eines Signals zur Steuerung der Aussonderung eines Behälters aus dem Beförderungssystem, wenn die Höhe des Behälters, die Verwölbung oder Eindellung der Dichtfläche oder der schräge Hals an dem Behälter außerhalb vorgegebener Normen liegen.
Die Lichtquelle und der Sensor sind in den bevorzugten Ausführungsformen der Erfindung oberhalb der Dichtfläche des Behälters angeordnet und sind in Bezug aufeinander und in Bezug auf die Behälterdichtfläche derart ausgerichtet, dass die Strahlen, welche auf die Behälterdichtfläche auftreffen und von dieser reflektiert werden, in einer Ebene senkrecht zu der Dichtfläche liegen. Bei einer Ausführungsform der Erfindung sind zwei Paare aus Lichtquelle und Sensor an seitlich entgegengesetzten Seiten des Behälters angeordnet, wobei jeder Sensor ein Ausgangssignal liefert, das in Abhängigkeit von der Höhe der unmittelbar dem Sensor benachbarten Behälterdichtfläche variiert. Die beiden Sensoren sind mit Elektronik gekoppelt, um Niveauabweichungen an der Dichtfläche in kombinierter Abhängigkeit von den Ausgangssignalen der beiden Sensoren zu bestimmen. Somit können Eindellungen an der Dichtfläche sowie ein schräg gestellter Behälterhals festgestellt werden und in Funktion einer Differenz zwischen den Sensorausgangssignalen gemessen werden, während eine verwölbte Dichtfläche in Funktion einer Summe der Sensorausgangssignale festgestellt und gemessen werden kann. Die Höhe des Behälters sowie Schwankungen in der Höhe zwischen aufeinanderfolgenden Behältern, welche durch die Inspektionsstation befördert werden, können in Abhängigkeit von dem Ausgangssignal eines oder beider Sensoren bestimmt werden.
Kurze Beschreibung der Zeichnungen
Die Erfindung wird zusammen mit ihren zusätzlichen Aufgaben, Merkmalen und Vorteilen am besten anhand der folgenden Beschreibung, der anhängenden Ansprüche sowie der begleitenden Zeichnungen verständlich werden, in welchen:
1 eine schematische Ansicht der Vorrichtung zur Inspektion der Dichtfläche von Behältern entsprechend einer derzeit bevorzugten Ausführungsform der Erfindung ist; die
2A und 2B fragmentarische schematische Diagramme sind, welche die Funktionsweise der in 1 dargestellten Ausführungsform veranschaulichen; und
3 eine fragmentarische schematische Ansicht einer modifizierten Ausführungsform der Erfindung ist.
Detaillierte Beschreibung bevorzugter Ausführungsformen
Bezug nehmend auf 1 ist eine Beförderungseinrichtung 20, die typischerweise ein (nicht gezeigtes) Sternrad und eine Gleitplatte 21 beinhaltet, derart angeordnet und mit einer Quelle für geformte Behälter verbunden, dass sie nacheinander Behälter 22 an einer Dichtflächen-Inspektionsstation 24 in Position bringt. Eine solche Behälterinspektionsanordnung mit Sternradbeförderungseinrichtung ist beispielsweise in dem zuvor erwähnten US-Patent 3,313,409 offenbart. Eine Flaschendrehvorrichtung 26, beispielsweise eine Antriebsrolle, ist derart angeordnet, dass sie an dem jeweiligen Behälter 22 in der Station 24 in Anlage kommt und den Behälter um dessen Mittelachse 25 dreht, während der Behälter durch die Transporteinrichtung an fester Stelle gehalten wird. Ein Kodierer 28 ist mit dem Behälterdrehmechanismus gekoppelt, um Signale zu liefern, welche Schritte der Behälterdrehung anzeigen. Ein Detektor 30, beispielsweise ein Schalter, ist derart positioniert, dass er ein Signal liefert, welches das Vorhandensein des Behälters 22 an der Station 24 anzeigt.
Bei der in 1 dargestellten Realisierung der vorliegenden Erfindung umfasst der Behälter 22 eine geformte Glasflasche mit einem zylindrischen Körper 32 und einem im Allgemeinen zylindrischen Hals 34, welcher von der Körperschulter 35 aus nach oben ragt. Der Halsabschnitt des Behälters umfasst einen oberen Abschnitt des Halses 34, welcher in einer axial blickenden Dichtfläche 36 für den Deckel endet, welche entsprechend der vorliegenden Erfindung inspiziert wird. Ein Schraubengewinde 38 ist integral in die Außenseite der Halswandung, welche die Behältermündung umgibt, eingeformt, oder es ist eine Lippe oder Schulter 40 an der Außenseite der Halswandung angeformt, über welche die Ringwand eines Deckels gepresst werden kann, und zwar in der üblichen Weise der Befestigung eines Deckels an dem Behälter. Die vorliegende Erfindung ist auf ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Inspektion der Höhe und von Niveauabweichungen der Dichtfläche 36, an welcher der Deckel sitzt, ausgerichtet.
Eine Lichtquelle 42 wie etwa ein Laser oder eine Glühlichtquelle ist oberhalb der Dichtfläche 36 des Behälters 22 an der Station 24 angeordnet und derart ausgerichtet, dass ein schmal kollimierter Lichtstrahl 44 in einem spitzen Winkel nach unten auf die Dichtfläche 36 gerichtet wird. Eine Kamera 46 ist ebenfalls oberhalb der Dichtfläche 36 des Behälters 22 an der Station 24 angeordnet und derart ausgerichtet, dass sie den von der Dichtfläche 36 reflektierten Strahl 45 empfängt. Die Kamera 46 weist eine Fokussierungslinse 48 sowie einen Lichtsensor 50 auf, welcher ein elektrisches Ausgangssignal liefert, das nicht nur den Einfall des reflektierten Lichts auf den Sensor, sondern auch die Auftreffposition auf dem Sensor anzeigt. Ein Informationsprozessor 52 empfängt Signale von dem Detektor 30, welche das Vorhandensein eines Behälters 22 an der Inspektionsstation 24 anzeigen, sowie Signale von dem Kodierer 28, welche die Schritte der Behälterdrehung angeben. Die Kamera 46 ist gleichfalls mit dem Informationsprozessor 52 gekoppelt, um Steuersignale von dem Prozessor 52 zu empfangen und Ausgangssignale für den Informationsprozessor bereitzustellen, welche die Auftreffposition des reflektierten Lichtstrahls 45 auf dem Sensor 50 anzeigen. Die Lichtquelle 42 wird gleichfalls durch den Prozessor 52 gesteuert.
Die Funktionsweise der Ausführungsform aus 1 ist in den 2A und 2B veranschaulicht. In 2A schneidet der auftreffende Strahl 44 die Dichtfläche 36 an dem Punkt A und wird bei 45 durch die Linse 48 hindurch reflektiert, um auf dem Sensor 50 an Punkt B aufzutreffen. In 2B trifft der Strahl 44 an dem Punkt A' in einer Eindellung oder Vertiefung 36a in der Dichtfläche 36 auf. Folglich trifft der reflektierte Lichtstrahl 45 auf dem Sensor 50 durch die Linse 48 hindurch an einer anderen Stelle B' auf. Da der Sensor 50 an den Informationsprozessor 52 (1) ein Ausgangssignal liefert, welches für die Auftreffposition auf dem Sensor kennzeichnend ist, wird sich dieses Ausgangssignal in 2B von dem Signal in 2A unterscheiden. Folglich empfängt der Informationsprozessor 52 eine Angabe zur Abweichung des Niveaus an der Dichtfläche an der Stelle der Behälterdrehung, an welcher die Vertiefung 36a vorhanden ist, und zwar mit einem Betrag, welcher der Abweichung zwischen dem nominellen Auftreffpunkt B in 2A und dem veränderten Auftreffpunkt B' in 2B entspricht. Für den Fall, dass die Vertiefung 36a im Wesentlichen bogenförmig dimensioniert ist, wird in der Situation aus 2B das veränderte Sensorausgangssignal während einer entsprechend größeren Anzahl von Schritten der Behälterdrehung beibehalten bleiben. Andererseits wird, wenn ein erhöhter Abschnitt 36b an der Dichtfläche gefunden wird, die Auftreffstelle B" des reflektierten Lichtstrahls 45 auf dem Sensor 50 in der entgegengesetzten Richtung abweichen und eine entsprechende Angabe wird für den Informationsprozessor 52 bereitgestellt.
Somit liefert die Vorrichtung aus 1 Signale an den Informationsprozessor 52 nicht nur zu Änderungen der Höhe an der Dichtfläche 36 bei rotierendem Behälter, welche eine Eindellung, Verwölbung oder einen schiefen Hals anzeigen können, sondern auch zur mittleren Höhe der Dichtfläche, während der Behälter rotiert. Ein solcher Mittelwert und/oder Schwankungen der Höhe der Dichtfläche können bei 54 geeignet angezeigt werden und werden in dem Prozessor 52 mit entsprechenden Normen oder Schwellwerten verglichen. Falls die mittlere Höhe der Dichtfläche außerhalb der Vorgabe liegt oder falls Messwerte, eine Verwölbung, Eindellung oder schiefe Dichtfläche betreffend, außerhalb akzeptabler Vorgaben liegen, wird ein Rückweisungssignal erzeugt und einem geeigneten Rückweisungsmechanismus zugeführt, um den Behälter aus der Prozesslinie zu entfernen.
Die Lichtquelle 42 und der Sensor 50 sind vorzugsweise derart oberhalb der Dichtfläche 36 des Behälters 22 an der Station 24 angeordnet, dass der einfallende Lichtstrahl 44 und der reflektierte Lichtstrahl 45 in einer Ebene senkrecht zu der nominellen Ebene der Dichtfläche liegen. Der Sensor 50 kann eine Seiteneffektdiode umfassen, welche eine Seiteneffektachse in der Ebene des einfallenden und des reflektierten Lichtstrahls aufweist. Eine solche Seiteneffektdiode liefert ein analoges Signal an den Informationsprozessor 52, das in seinem Betrag in Abhängigkeit von der Auftreffposition des reflektierten Lichtstrahls auf der Oberfläche der Diode variiert. Alternativ kann der Sensor 50 einen CCD-Matrixfeldsensor umfassen, der eine Mehrzahl von lichtempfindlichen Elementen umfasst, die in einer Linie in der Ebene des auftreffenden und des reflektierten Lichtstrahls angeordnet sind. Bei einer solchen Anordnung wird das Sensorfeld von dem Informationsprozessor 52 abgetastet und die Auftreffposition des reflektierten Lichtstrahls auf dem Sensorfeld wird als Funktion der Amplitude der Ausgangssignale der verschiedenen Elemente bestimmt. Ein solcher Matrixsensor würde vorzugsweise einen linearen Matrixsensor umfassen oder kann einen Matrixfeldsensor umfassen, in welchem eine Reihe oder Spalte zum Zwecke der Messung des Dichtflächenniveaus überwacht wird.
3 stellt eine modifizierte Inspektionsstation 24a dar, in welcher zwei Lichtquelle/Sensor-Module 56, 58 derart angeordnet sind, dass sie an seitlich entgegengesetzten Seiten der Behältermündung jeweilige Lichtstrahlen 44 nach unten auf die Dichtfläche richten und reflektierte Lichtstrahlen 45 von der Dichtfläche empfangen. Die Anordnung mit zwei Lichtquellen/Sensoren aus 3 hat den speziellen Vorteil, dass die Ausgangssignale der jeweiligen Quelle/Sensor-Module 56, 58 in Echtzeit verglichen werden können, um Höhencharakteristika des Behälters 22 in kombinierter Abhängigkeit von diesen Ausgangssignalen zu bestimmen. Das bedeutet, dass ein schiefer Hals und eine Eindellung an der Dichtfläche 36 in Funktion der Differenz zwischen der Höhe der Dichtfläche an den gegenüberliegenden Seiten der Behältermündung gemessen werden kann, während eine verwölbte Dichtfläche in Funktion der Summe der Sensorausgangssignale festgestellt werden kann. Wiederum kann der Betrag der Höhenabweichungen der Dichtfläche bei 54 angezeigt werden (1) und mit geeigneten Normen oder Vorgaben verglichen werden, um ein Rückweisungssignal zu erzeugen.

Claims

Vorrichtung zur Inspektion des Halses (34) eines Behälters (22), der eine Mittelachse (25) und eine offene Mündung aufweist, die von einer axial blickenden Dichtfläche (36) zur abdichtenden Anlage an einem Behälterdeckel umgeben ist, wobei die Vorrichtung umfasst: eine Einrichtung (26) zum Drehen des Behälters (22) um eine Drehachse, die mit der Mittelachse (25) zusammenfällt; eine Lichtquelle (42), die derart positioniert ist, dass ein einfallender Lichtstrahl (44) in einem spitzen Winkel auf die Dichtfläche (36) eines Behälters in der Dreheinrichtung gerichtet wird; eine Lichtsensoreinrichtung (46), die derart angeordnet ist, dass sie das von der Dichtfläche (36) reflektierte Licht (45) empfängt; wobei die Lichtquelle (42) und die Lichtsensoreinrichtung (46) oberhalb der Dichtfläche (36) des Behälters (22) angeordnet sind und derart positioniert sind, dass die auf die Dichtfläche (36) des Behälters auftreffenden (44) und von dieser reflektierten (45) Strahlen in einer Ebene senkrecht zu der Dichtfläche (36) liegen; sowie eine Einrichtung (52) zum Erkennen von Abweichungen (36a, 36b) an der Dichtfläche (36) des Behälters; dadurch gekennzeichnet, dass das Licht (44, 45) von der Lichtquelle (42) zu der Lichtsensoreinrichtung (46) in einer Ebene parallel zu der zentralen Drehachse (25) des Behälters (22) liegt, wobei diese Ebene in einem Abstand liegt, der gleich dem Radius der zu inspizierenden Dichtfläche (36) ist; wobei der einfallende Strahl (44) ein schmal kollimierter Strahl ist, der die Dichtfläche (36) an einer Position oder einem Punkt (A, A', A") kreuzt und der reflektierte Lichtstrahl (45) an einer entsprechenden Position oder einem Punkt (B, B', B") auf die Lichtsensoreinrichtung (46) auftrifft; dass die Erkennungseinrichtung (52) dazu entworfen ist, Abweichungen (36a, 36b) im Niveau der Dichtfläche (36) zu erkennen, indem sie die Position des Punktes (B, B', B") auf der Sensoreinrichtung (46, 50) als das tatsächliche Niveau der Dichtfläche (36) in Bezug auf die Lichtquelle (42) und die Sensoreinrichtung (46) an einer entsprechenden Position oder einem Punkt (B, B', B") interpretiert; und dass Abweichungen (36a, 36b) durch diese Detektoreinrichtung (52) in Funktion der Auftreffposition des reflektierten Lichtstrahls (45) auf der Lichtsensoreinrichtung (46, 50) erkannt werden, während der Behälter (22) rotiert.
Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass ein erstes Paar (56) aus einer zusammenwirkenden ersten Lichtquelle (42) und einer ersten Lichtsensoreinrichtung (46) und ein zweites Paar (58) aus einer zusammenwirkenden zweiten Lichtquelle (42) und einer zweiten Lichtsensoreinrichtung (46) auf seitlich entgegengesetzten Seiten der Drehachse (25) angeordnet sind; und dass jeweils der einfallende (44) und der reflektierte (45) Strahl in Ebenen liegen, die sich senkrecht zu der Dichtfläche (36) des Behälters und in einem Abstand erstrecken, welcher der Breite der Behältermündung entspricht.
Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Erkennungseinrichtung (52) für Abweichungen Mittel zum Erkennen von Niveauabweichungen an der Dichtfläche (36) in kombinierter Funktion von Abweichungen der Auftreffpositionen der reflektierten Lichtstrahlen (45) bei jeweils dem ersten und dem zweiten Paar (56, 58) umfasst.
Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass jeweils das erste und das zweite Paar (56, 58) ein elektrisches Signal liefern, das sich in Funktion der Auftreffposition des zugehörigen reflektierten Strahls (45) ändert ; und dass die Abweichungs-Erkennungseinrichtung (52) Mittel umfasst, die auf eine Summe dieser Signale ansprechen.
Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass jeweils das erste und das zweite Paar (56, 58) ein elektrisches Signal liefern, das sich in Funktion der Auftreffposition des zugehörigen reflektieren Strahls (45) ändert ; und dass die Abweichungs-Erkennungseinrichtung (52) Mittel umfasst, die auf eine Differenz zwischen diesen Signalen ansprechen.
Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtsensoreinrichtung (46) einen Sensor (50) mit einer Seiteneffektdiode umfasst, die derart angeordnet ist, dass eine Seiteneffektachse in besagter Ebene liegt.
Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtsensoreinrichtung (46) einen Sensor (50) mit einer Matrix aus lichtempfindlichen Elementen umfasst, der so positioniert ist, dass die Matrix in besagter Ebene angeordnet ist.
Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtsensoreinrichtung (46) eine Fokussierungslinse (48) umfasst.
Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtquelle (42) einen Laser umfasst.
Verfahren zur Inspektion des Halses eines Behälters (22), der eine Mittelachse (25) und eine offene Mündung aufweist, die von einer axial blickenden Dichtfläche (36) zur abdichtenden Anlage an einem Behälterdeckel umgeben ist, wobei das Verfahren folgende Schritte umfasst: (a) der Behälter (22) wird um seine Achse (25) gedreht; (b) ein Lichteinfallsstrahls (44) wird in einem spitzen Winkel auf die Dichtfläche (36) des Behälters gerichtet, während dieser rotiert, und zwar in solcher Weise, dass der Strahl von der Dichtfläche (36) in einer Ebene senkrecht zu der Dichtfläche reflektiert wird; (c) die Lichtsensoreinrichtung (46) wird in dieser senkrechten Ebene positioniert, um den Lichtstrahl (45), der von der Dichtfläche (36) reflektiert wird, zu empfangen; (d) es wird eine Einrichtung (52) zum Erkennen von Abweichungen (36a, 36b) an der Dichtfläche (36) des Behälters (22) vorgesehen; dadurch gekennzeichnet, dass (a') sich die rotierende Dichtfläche (36) an dem zu inspizierenden Bereich tangential entlang der Ebene bewegt, in welcher das Licht (44, 45) von der Lichtquelle (42) zu der Sensoreinrichtung (46) läuft; (b') der einfallende Strahl (44) ein schmal kollimierter Strahl ist, der die Dichtfläche (36) an einer Position oder einem Punkt (A, A', A") kreuzt und der reflektierte Strahl (45) auf die Lichtsensoreinrichtung (46) an einem entsprechenden Punkt (B, B', B") auftrifft, welche eine Position auf dem Sensor hat, die sich mit dem Niveau der Dichtfläche (36) in Bezug auf diesen Sensor ändert; und (d') die Position des Punktes (B, B', B") auf dem Sensor als das tatsächliche Niveau an der Dichtfläche (36) des Behälters (22) interpretiert wird und Niveauabweichungen (36a, 36b) in Funktion von Abweichungen in der Auftreffposition des reflektierten Lichtstrahls (45) an der Sensoreinrichtung (46) interpretiert werden, während der Behälter rotiert.
Verfahren nach Anspruch 10, welches die folgenden zusätzlichen Schritte umfasst: (e) ein zweiter, schmal kollimierter Lichtstrahl (44) wird in einem spitzen Winkel auf die Dichtfläche (36) des Behälters (22) gerichtet, während dieser rotiert, und zwar in solcher Weise, dass der zweite Strahl (44) als ein Punkt (A, A') auftrifft, der von der Dichtfläche (36) in einer zweiten Ebene senkrecht zu der Dichtfläche reflektiert wird; (f) ein zweiter Lichtsensor wird so positioniert, dass er den zweiten Lichtstrahl (45), der von der Dichtfläche (36) reflektiert wird, empfängt; und (g) Niveauabweichungen an der Dichtfläche (36) des Behälters werden in kombinierter Funktion der Abweichungen in der Auftreffposition der reflektierten Lichtstrahlen (45) auf den Sensoren erkannt, während der Behälter rotiert.
Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, dass die Ebenen auf seitlich entgegengesetzten Seiten von der Rotationsachse (25) in einem Abstand liegen, welcher der Breite der Behältermündung entspricht.