JPH0843320A - 容器密封面検査 - Google Patents
容器密封面検査Info
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- JPH0843320A JPH0843320A JP7104633A JP10463395A JPH0843320A JP H0843320 A JPH0843320 A JP H0843320A JP 7104633 A JP7104633 A JP 7104633A JP 10463395 A JP10463395 A JP 10463395A JP H0843320 A JPH0843320 A JP H0843320A
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title description 11
- 230000008859 change Effects 0.000 claims abstract description 22
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 11
- 230000001154 acute effect Effects 0.000 claims abstract description 4
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims description 79
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 abstract description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 abstract 1
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 2
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 230000007812 deficiency Effects 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007717 exclusion Effects 0.000 description 1
- 238000012886 linear function Methods 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 238000010926 purge Methods 0.000 description 1
- 230000008439 repair process Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000004441 surface measurement Methods 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 1
- 238000005303 weighing Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9054—Inspection of sealing surface and container finish
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 測定面に対する非接触式電気光学技術によ
る、容器密封面のレベル変化量を測定する装置と方法を
提供。 【構成】 容器（２２）がその中心軸線の周りに回転す
る時に、容器の密封面上に鋭角をなして光エネルギーの
狭いビーム（４４）を指向するように位置ぎめされた光
源（４２）を含む、容器（２２）の密封面（３６）を検
査する装置。光センサ（４６）は、密封面から反射した
光エネルギーの狭いビーム（４５）を受信し、かつ上記
光センサ上の反射した光ビームの入射位置の関数として
変化する出力信号を供給する。上記センサは関連電子装
置（５２）に結合され、容器の高さの表示情報を供給
し、かつ上記容器の高さ、容器密封面の歪または下向傾
斜、または容器の上向傾斜が、予め決められた標準値を
越える時には、コンベヤシステムから容器の分離を制御
する信号を供給する。
る、容器密封面のレベル変化量を測定する装置と方法を
提供。 【構成】 容器（２２）がその中心軸線の周りに回転す
る時に、容器の密封面上に鋭角をなして光エネルギーの
狭いビーム（４４）を指向するように位置ぎめされた光
源（４２）を含む、容器（２２）の密封面（３６）を検
査する装置。光センサ（４６）は、密封面から反射した
光エネルギーの狭いビーム（４５）を受信し、かつ上記
光センサ上の反射した光ビームの入射位置の関数として
変化する出力信号を供給する。上記センサは関連電子装
置（５２）に結合され、容器の高さの表示情報を供給
し、かつ上記容器の高さ、容器密封面の歪または下向傾
斜、または容器の上向傾斜が、予め決められた標準値を
越える時には、コンベヤシステムから容器の分離を制御
する信号を供給する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は容器の検査、特に容器の
密封面におけるレベルの変化量を測定する方法および装
置に関連する。
密封面におけるレベルの変化量を測定する方法および装
置に関連する。
【０００２】
【従来の技術】米国特許第３，３１３，４０９号は、一
連の検査ステーションを通り１個の星形車が容器を移送
するガラス容器を検査する装置を開示している。検査ス
テーションの１つにおいて、各容器の選択された寸法パ
ラメータは、センサが容器パラメータの変化量の関数と
して変化する出力信号を提供するように、上記容器を上
記センサに結合したローラに接触させ、かつ上記容器を
その中央軸線の周りに回転させることにより検査され
る。特に、容器の高さ、密封面の歪および下向傾斜、お
よび容器口部の上向傾斜は、上記容器が回転するにつれ
て容器密封面に接触するローラにより測定される。上記
ローラは線形可変差動変成器（ＬＶＤＴ）センサに結合
され、密封面におけるレベル（高さ）の偏差または変位
量を表示するアナログ電気信号を提供する。これらの信
号は適当な電子装置に送られ、もしも測定信号が所定の
標準値および規格からはずれている時には、容器を移送
ラインから分離するため排除プランジャを付勢する。前
記特許に開示され、これの譲受人に譲渡された検査シス
テムは実質的な商業上の成功を得てはいるが、改良点が
望まれたまま残されている。容器密封面に接触するロー
ラは、機械的摩耗を受けやすい。これらのローラは前記
密封面における汚染を生じることもある。これらのロー
ラの寸法は、関連使用できる容器の寸法、および検出で
きるレベル変化量の寸法（分解能）を制限する。可動部
品は保守および修理を必要とする。本発明の一般目的
は、当技術における前記欠陥を処理しかつ克服する上記
容器密封面におけるレベルの変化量に対して、容器の密
封面を検査する装置および寸法を提供することにある。
連の検査ステーションを通り１個の星形車が容器を移送
するガラス容器を検査する装置を開示している。検査ス
テーションの１つにおいて、各容器の選択された寸法パ
ラメータは、センサが容器パラメータの変化量の関数と
して変化する出力信号を提供するように、上記容器を上
記センサに結合したローラに接触させ、かつ上記容器を
その中央軸線の周りに回転させることにより検査され
る。特に、容器の高さ、密封面の歪および下向傾斜、お
よび容器口部の上向傾斜は、上記容器が回転するにつれ
て容器密封面に接触するローラにより測定される。上記
ローラは線形可変差動変成器（ＬＶＤＴ）センサに結合
され、密封面におけるレベル（高さ）の偏差または変位
量を表示するアナログ電気信号を提供する。これらの信
号は適当な電子装置に送られ、もしも測定信号が所定の
標準値および規格からはずれている時には、容器を移送
ラインから分離するため排除プランジャを付勢する。前
記特許に開示され、これの譲受人に譲渡された検査シス
テムは実質的な商業上の成功を得てはいるが、改良点が
望まれたまま残されている。容器密封面に接触するロー
ラは、機械的摩耗を受けやすい。これらのローラは前記
密封面における汚染を生じることもある。これらのロー
ラの寸法は、関連使用できる容器の寸法、および検出で
きるレベル変化量の寸法（分解能）を制限する。可動部
品は保守および修理を必要とする。本発明の一般目的
は、当技術における前記欠陥を処理しかつ克服する上記
容器密封面におけるレベルの変化量に対して、容器の密
封面を検査する装置および寸法を提供することにある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】本発明の一目的は、計
量装置が測定面に接触しない電気光学技術を用いる、容
器の密封面のレベル変化量を測定する装置と方法を提供
することにある。本発明の他の一目的は、上記目的を達
成する一方で、延長された作動寿命にわたって経済的に
満足されかつ確実な、前記特性をもった方法および装置
を提供することにある。本発明のさらに他の一目的およ
び特定目的は、密封面における容器の高さを測定し、密
封面における歪および下向傾斜を測定し、かつ容器口部
の上向傾斜を測定する電気光学的非接触方法および装置
を提供することにある。
量装置が測定面に接触しない電気光学技術を用いる、容
器の密封面のレベル変化量を測定する装置と方法を提供
することにある。本発明の他の一目的は、上記目的を達
成する一方で、延長された作動寿命にわたって経済的に
満足されかつ確実な、前記特性をもった方法および装置
を提供することにある。本発明のさらに他の一目的およ
び特定目的は、密封面における容器の高さを測定し、密
封面における歪および下向傾斜を測定し、かつ容器口部
の上向傾斜を測定する電気光学的非接触方法および装置
を提供することにある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明は、光エネルギー
の狭いビームを密封面上に指向し、ビームが光センサに
反射されることにより、容器の密封面におけるレベルの
変化量を電気光学的に測定する方法および装置を意図す
るものである。上記センサは、このセンサ上に反射され
た光ビームの入射位置の関数として変化する電気出力を
提供するものである。このように、容器密封面のレベル
のどんな変化量も、上記反射された光ビームがセンサ上
に衝突する点または位置で対応変化量を生じるので、上
記センサは密封面レベルの一次関数として変化する出力
信号を供給する。本発明の現在の好適実施例による容器
口部の密封面を検査する装置は、上記容器がその中心軸
線周りに回転する時に、容器の密封面上に光エネルギー
の狭いビームを指向するように配置された光源を含む。
光センサは上記密封面で反射した光エネルギーの狭いビ
ームを受信するように配置され、かつ上記反射した光ビ
ームの、上記センサ上の入射位置の関数として変化する
出力を提供する。上記センサは関連電子装置に結合さ
れ、容器の高さを表示する情報、および上記容器の高
さ、容器の密封面の歪または下向傾斜、または容器の上
向傾斜が予め決められた標準値を越える時に、前記コン
ベヤシステムから容器を分離させる制御用信号を提供す
る。
の狭いビームを密封面上に指向し、ビームが光センサに
反射されることにより、容器の密封面におけるレベルの
変化量を電気光学的に測定する方法および装置を意図す
るものである。上記センサは、このセンサ上に反射され
た光ビームの入射位置の関数として変化する電気出力を
提供するものである。このように、容器密封面のレベル
のどんな変化量も、上記反射された光ビームがセンサ上
に衝突する点または位置で対応変化量を生じるので、上
記センサは密封面レベルの一次関数として変化する出力
信号を供給する。本発明の現在の好適実施例による容器
口部の密封面を検査する装置は、上記容器がその中心軸
線周りに回転する時に、容器の密封面上に光エネルギー
の狭いビームを指向するように配置された光源を含む。
光センサは上記密封面で反射した光エネルギーの狭いビ
ームを受信するように配置され、かつ上記反射した光ビ
ームの、上記センサ上の入射位置の関数として変化する
出力を提供する。上記センサは関連電子装置に結合さ
れ、容器の高さを表示する情報、および上記容器の高
さ、容器の密封面の歪または下向傾斜、または容器の上
向傾斜が予め決められた標準値を越える時に、前記コン
ベヤシステムから容器を分離させる制御用信号を提供す
る。
【０００５】本発明の好適実施例の光源および光センサ
は、容器の密封面上方に配置され、そして相互に関して
かつ容器密封面に関して方向づけられるので、上記容器
密封面上に入射し、そして、容器密封面から反射された
ビームは、上記密封面に直角な平面内に在る。本発明の
一実施例において、２個の光源／センサ組が上記容器の
横方向対向面に配置され、各センサについては、このセ
ンサに密接する容器密封面のレベルの関数として変化す
る出力信号を供給する。上記２個のセンサは電子回路に
結合され、上記２個のセンサ出力信号の組合せ関数とし
て密封面のレベルの変化量を測定する。このように、密
封面の下向傾斜および上向傾斜容器口部は、センサ出力
信号間の差の関数として識別および測定することもで
き、一方歪みのある密封面は、センサ出力信号の和の関
数として識別および測定することもできる。検査ステー
ションを通って移送される連続する容器の高さ、および
高さの変化量は、上記センサのいずれか一方または両方
の出力の関数として測定することもできる。本発明は、
その付加目的、特徴および利点と共に、下記の説明、添
付の特許請求の範囲および添付図面から最も良く理解さ
れよう。
は、容器の密封面上方に配置され、そして相互に関して
かつ容器密封面に関して方向づけられるので、上記容器
密封面上に入射し、そして、容器密封面から反射された
ビームは、上記密封面に直角な平面内に在る。本発明の
一実施例において、２個の光源／センサ組が上記容器の
横方向対向面に配置され、各センサについては、このセ
ンサに密接する容器密封面のレベルの関数として変化す
る出力信号を供給する。上記２個のセンサは電子回路に
結合され、上記２個のセンサ出力信号の組合せ関数とし
て密封面のレベルの変化量を測定する。このように、密
封面の下向傾斜および上向傾斜容器口部は、センサ出力
信号間の差の関数として識別および測定することもで
き、一方歪みのある密封面は、センサ出力信号の和の関
数として識別および測定することもできる。検査ステー
ションを通って移送される連続する容器の高さ、および
高さの変化量は、上記センサのいずれか一方または両方
の出力の関数として測定することもできる。本発明は、
その付加目的、特徴および利点と共に、下記の説明、添
付の特許請求の範囲および添付図面から最も良く理解さ
れよう。
【０００６】
【実施例】図１について説明すると、コンベヤ２０は通
常星形車（図示せず）およびすべり板２１を含み、密封
面検査ステーション２４の位置内へ連続する容器２２を
もたらすように、成形容器の源に配置され、かつ連接さ
れる。上記星形車コンベヤ容器検査配列は、例えば前記
米国特許第３，３１３，４０９号に発表されている。駆
動ローラのようなびん回転装置２６は、上記コンベヤに
より容器が固定位置に保持される時に、ステーション２
４で各容器２２に接触し、かつその中心軸線２５の周り
に容器を回転させるように配置される。エンコーダ２８
は、容器回転の増分を表示する信号を供給するため容器
回転機構に連接される。スイッチのような検出器３０
は、ステーション２４に容器２２の存在を表示する信号
を提供するように配置される。
常星形車（図示せず）およびすべり板２１を含み、密封
面検査ステーション２４の位置内へ連続する容器２２を
もたらすように、成形容器の源に配置され、かつ連接さ
れる。上記星形車コンベヤ容器検査配列は、例えば前記
米国特許第３，３１３，４０９号に発表されている。駆
動ローラのようなびん回転装置２６は、上記コンベヤに
より容器が固定位置に保持される時に、ステーション２
４で各容器２２に接触し、かつその中心軸線２５の周り
に容器を回転させるように配置される。エンコーダ２８
は、容器回転の増分を表示する信号を供給するため容器
回転機構に連接される。スイッチのような検出器３０
は、ステーション２４に容器２２の存在を表示する信号
を提供するように配置される。
【０００７】図１に示された本発明の実施において、容
器２２は円筒形本体３２および本体肩部３５から上方に
突出するほぼ円筒形の首部３４を備えた成形ガラスびん
からなる。上記容器口部は、軸方向表面仕上キャップ密
封面３６に終る首部３４の上部を含み、上記密封面３６
は本発明に従って検査される。らせんねじ山３８は容器
口を取り巻く口部壁の外面内に一体成形されるか、もし
くはリップまたは肩部４０が口部壁の外面上に成形さ
れ、それをおおってキャップを容器に付加するため常法
どおりキャップスカートがクリンプされる。本発明は、
上記キャップを嵌める密封面３６のレベルの高さおよび
変化量を検査する方法および装置に向けられている。レ
ーザまたは白熱光源のような、光源４２はステーション
２４の容器２２の密封面３６上方に置かれ、密封面３６
上に鋭角をなして下方に光エネルギーの狭い視準された
ビーム４４を指向するように方向づけられる。カメラ４
６もまたステーション２４の容器２２の密封面３６上方
に置かれ、そして密封面３６から反射されたビーム４５
を受信するように方向づけられる。カメラ４６は集束レ
ンズ４８および光センサ５０を含み、光センサ５０はこ
のセンサ上の反射された光エネルギーの入射ばかりでな
く、このセンサ上の入射の位置もまた表示する電気出力
信号を供給する。情報処理装置５２は、検査ステーショ
ン２４の容器２２の存在を表示する検出器３０からの信
号、および容器回転の増分を表示するエンコーダ２８か
らの信号を受信する。カメラ４６は同様に情報処理装置
５２に結合され、処理装置５２からの制御信号を受信
し、情報処理装置にセンサ５０上の反射された光ビーム
４５の入射の位置を表示する出力信号を供給する。光源
４２は同様に処理装置５２により制御される。
器２２は円筒形本体３２および本体肩部３５から上方に
突出するほぼ円筒形の首部３４を備えた成形ガラスびん
からなる。上記容器口部は、軸方向表面仕上キャップ密
封面３６に終る首部３４の上部を含み、上記密封面３６
は本発明に従って検査される。らせんねじ山３８は容器
口を取り巻く口部壁の外面内に一体成形されるか、もし
くはリップまたは肩部４０が口部壁の外面上に成形さ
れ、それをおおってキャップを容器に付加するため常法
どおりキャップスカートがクリンプされる。本発明は、
上記キャップを嵌める密封面３６のレベルの高さおよび
変化量を検査する方法および装置に向けられている。レ
ーザまたは白熱光源のような、光源４２はステーション
２４の容器２２の密封面３６上方に置かれ、密封面３６
上に鋭角をなして下方に光エネルギーの狭い視準された
ビーム４４を指向するように方向づけられる。カメラ４
６もまたステーション２４の容器２２の密封面３６上方
に置かれ、そして密封面３６から反射されたビーム４５
を受信するように方向づけられる。カメラ４６は集束レ
ンズ４８および光センサ５０を含み、光センサ５０はこ
のセンサ上の反射された光エネルギーの入射ばかりでな
く、このセンサ上の入射の位置もまた表示する電気出力
信号を供給する。情報処理装置５２は、検査ステーショ
ン２４の容器２２の存在を表示する検出器３０からの信
号、および容器回転の増分を表示するエンコーダ２８か
らの信号を受信する。カメラ４６は同様に情報処理装置
５２に結合され、処理装置５２からの制御信号を受信
し、情報処理装置にセンサ５０上の反射された光ビーム
４５の入射の位置を表示する出力信号を供給する。光源
４２は同様に処理装置５２により制御される。
【０００８】図１の実施例の作動が、図２Ａおよび２Ｂ
に示される。図２Ａにおいて、入射ビーム４４は点Ａで
密封面３６と交わり、４５で反射され、レンズ４８を経
て点Ｂにおいてセンサ５０に衝突する。図２Ｂにおい
て、ビーム４４は密封面３６内の下向傾斜すなわちくぼ
み３６ａ内の点Ａ′に入射する。その結果として、反射
した光ビーム４５はレンズ４８を通り異なる点Ｂ′でセ
ンサ５０に入射する。センサ５０はセンサ上の入射の位
置を表示する出力信号を情報処理装置５２（図１）に供
給するので、図２Ｂの上記出力信号は、図２Ａの信号と
は異なっている。従って、情報処理装置５２は、くぼみ
３６ａが出会う容器回転の点における密封面のレベルの
変化量の表示、および図２Ａの入射基準点Ｂと、図２Ｂ
の変化した入射点Ｂ′との間のずれに対応する大きさの
表示を受信する。くぼみ３６ａが事実上弧状寸法である
場合、図２の情況の変更したセンサ出力信号は、容器回
転の多数の増分に対応して維持されよう。また他方で
は、隆起部３６ｂが上記密封面と出会うならば、センサ
５０上の反射された光ビーム４５の入射点Ｂ′は反対方
向に変わり、情報処理装置５２に対応表示を供給する。
に示される。図２Ａにおいて、入射ビーム４４は点Ａで
密封面３６と交わり、４５で反射され、レンズ４８を経
て点Ｂにおいてセンサ５０に衝突する。図２Ｂにおい
て、ビーム４４は密封面３６内の下向傾斜すなわちくぼ
み３６ａ内の点Ａ′に入射する。その結果として、反射
した光ビーム４５はレンズ４８を通り異なる点Ｂ′でセ
ンサ５０に入射する。センサ５０はセンサ上の入射の位
置を表示する出力信号を情報処理装置５２（図１）に供
給するので、図２Ｂの上記出力信号は、図２Ａの信号と
は異なっている。従って、情報処理装置５２は、くぼみ
３６ａが出会う容器回転の点における密封面のレベルの
変化量の表示、および図２Ａの入射基準点Ｂと、図２Ｂ
の変化した入射点Ｂ′との間のずれに対応する大きさの
表示を受信する。くぼみ３６ａが事実上弧状寸法である
場合、図２の情況の変更したセンサ出力信号は、容器回
転の多数の増分に対応して維持されよう。また他方で
は、隆起部３６ｂが上記密封面と出会うならば、センサ
５０上の反射された光ビーム４５の入射点Ｂ′は反対方
向に変わり、情報処理装置５２に対応表示を供給する。
【０００９】従って、図１の装置は、容器が回転する時
の、下向傾斜、歪または上向傾斜の口部を示す密封面の
レベルの変化ばかりでなく、容器が回転する時の、上記
密封面の平均の高さもまた、情報処理装置５２へ信号を
供給する。密封面の高さのこのような平均および／また
は変化量は、適当に５４で表示することもでき、かつ処
理装置５２内で対応する標準値またはしきい値と比較さ
れる。もしも平均密封面の高さが規格外にあれば、また
はもしも歪、下向傾斜または上向傾斜密封面測定値が合
格規格外にあれば、不合格信号が発生して、その容器を
工程ラインから除外する適当な排除機構に信号を送る。
の、下向傾斜、歪または上向傾斜の口部を示す密封面の
レベルの変化ばかりでなく、容器が回転する時の、上記
密封面の平均の高さもまた、情報処理装置５２へ信号を
供給する。密封面の高さのこのような平均および／また
は変化量は、適当に５４で表示することもでき、かつ処
理装置５２内で対応する標準値またはしきい値と比較さ
れる。もしも平均密封面の高さが規格外にあれば、また
はもしも歪、下向傾斜または上向傾斜密封面測定値が合
格規格外にあれば、不合格信号が発生して、その容器を
工程ラインから除外する適当な排除機構に信号を送る。
【００１０】光源４２とセンサ５０は、通常ステーショ
ン２４の容器２２の密封面３６上方に配置されるので、
入射光ビーム４４と反射光ビーム４５は上記密封面の基
準面に直角な平面内に配置される。センサ５０は、入射
および反射光ビームの平面内にラテラル効果軸線を備え
たラテラル効果ダイオードを含むこともできる。そのよ
うなラテラルレフレクトダイオードは、ダイオード面上
に反射された光ビームの入射の位置の関数として大きさ
が変化するアナログ信号として情報処理装置５２にアナ
ログ信号を供給する。別法として、センサ５０は入射お
よび反射光ビームの平面内に一直線に配置された複数の
光感応素子を有する電荷結合素子（ＣＣＤ）配列センサ
からなることもある。そのような配列においては、セン
サ配列は情報処理装置５２により走査され、上記センサ
配列上の反射光ビームの入射位置は、各種素子出力信号
の振幅の関数として決定される。そのような配列センサ
は通常線形配列センサからなり、または１行または１列
が密封面レベル測定目的のためモニタされる、マトリッ
クス配列センサで構成することもできる。
ン２４の容器２２の密封面３６上方に配置されるので、
入射光ビーム４４と反射光ビーム４５は上記密封面の基
準面に直角な平面内に配置される。センサ５０は、入射
および反射光ビームの平面内にラテラル効果軸線を備え
たラテラル効果ダイオードを含むこともできる。そのよ
うなラテラルレフレクトダイオードは、ダイオード面上
に反射された光ビームの入射の位置の関数として大きさ
が変化するアナログ信号として情報処理装置５２にアナ
ログ信号を供給する。別法として、センサ５０は入射お
よび反射光ビームの平面内に一直線に配置された複数の
光感応素子を有する電荷結合素子（ＣＣＤ）配列センサ
からなることもある。そのような配列においては、セン
サ配列は情報処理装置５２により走査され、上記センサ
配列上の反射光ビームの入射位置は、各種素子出力信号
の振幅の関数として決定される。そのような配列センサ
は通常線形配列センサからなり、または１行または１列
が密封面レベル測定目的のためモニタされる、マトリッ
クス配列センサで構成することもできる。
【００１１】図３は変型検査ステーション２４ａを示
し、それぞれの光ビーム４４を下方に密封面に指向し、
かつ容器の口の横方向対向側面からの反射された光ビー
ム４５を受信するように、１対の光源／センサモジュー
ル５６，５８が配置される。図３の対になった光源／セ
ンサ配列は、それぞれ光源／センサモジュール５６，５
８の出力が、出力信号の組合せた関数として容器２２の
高さ特性を決定するため実時間で比較することもできる
という固有利点を有する。すなわち、上向傾斜口部およ
び密封面３８の下向傾斜が容器の口の対向側面の密封面
の高さの差の関数として測定される一方で、歪密封面は
センサ出力信号の和の関数として識別することもでき
る。再言すると、密封面高さの変化量の大きさは、５４
（図１）で表示することもでき、かつ排除信号の発生用
の適当な標準値または規格と比較することもできる。
し、それぞれの光ビーム４４を下方に密封面に指向し、
かつ容器の口の横方向対向側面からの反射された光ビー
ム４５を受信するように、１対の光源／センサモジュー
ル５６，５８が配置される。図３の対になった光源／セ
ンサ配列は、それぞれ光源／センサモジュール５６，５
８の出力が、出力信号の組合せた関数として容器２２の
高さ特性を決定するため実時間で比較することもできる
という固有利点を有する。すなわち、上向傾斜口部およ
び密封面３８の下向傾斜が容器の口の対向側面の密封面
の高さの差の関数として測定される一方で、歪密封面は
センサ出力信号の和の関数として識別することもでき
る。再言すると、密封面高さの変化量の大きさは、５４
（図１）で表示することもでき、かつ排除信号の発生用
の適当な標準値または規格と比較することもできる。
【図１】本発明の現在の一好適実施例による、容器の密
封面を検出する装置の略示線図である。
封面を検出する装置の略示線図である。
【図２Ａ】図１に説明した実施例の作動を説明する部分
略示線図である。
略示線図である。
【図２Ｂ】図１に説明した実施例の作動を説明する部分
略示線図である。
略示線図である。
【図３】本発明の変型実施例の部分略示線図である。
２０ コンベヤ ２１ すべり板 ２２ 容器 ２４ 検査ステーション ２５ 中心軸線 ２６ びん回転装置 ２８ エンコーダ ３０ 検出器 ３２ 円筒形本体 ３４ 円筒形首部（口部の一部） ３５ 肩部 ３６ 密封面 ３６ａ 下向傾斜すなわちくぼみ ３８ らせんねじ山 ４２ 光源 ４４ 視準された狭い光エネルギーの入射ビーム ４５ 反射した光ビーム ４６ カメラすなわち光センサ手段 ４８ 集束レンズ ５０ 光センサ ５２ 情報処理装置すなわち変化量検出手段 ５４ 表示 ５６，５８ 光源／センサモジュール
Claims (12)
- 【請求項１】 中心軸線（２５）および容器キャップに
密封係合する軸方向表面仕上密封面（３６）で囲まれる
開放口を備えた容器（２２）の口部（３４）を検査する
装置であって、該装置が：容器（２２）をその中心軸線
（２５）の周りに回転させる手段（２６）、 該回転させる手段内の容器の密封面（３６）上に光エネ
ルギーの狭いビーム（４４）を指向するように位置ぎめ
された光源（４２）、 上記密封面で反射した光エネルギーの狭いビーム（４
５）を受信するように配置された光センサ手段（４
６）、 上記光源（４２）および該光センサ手段（４６）は、上
記回転させる手段内の上記容器の密封面上方に配置さ
れ、かつ容器の密封面に入射し、容器の密封面から反射
した上記ビーム（４４、４５）が上記密封面に直角な平
面内にあるように位置ぎめされ、および上記容器の密封
面のレベルの変化量を検出する手段（５２）、を含み、 上記光センサ手段（４６）は、該光センサ手段上の光の
入射位置の関数として変化する電気出力信号を供給する
ことが特徴であり、上記容器（２２）の密封面（３６）
で上記光センサ手段（４６）上へ反射した光ビーム（４
５）は、上記光源（４２）および上記光センサ手段に関
して、上記密封面のレベルと共に変化する該光センサ手
段上の位置において入射し、そして変化量は、上記容器
が回転する時に上記光センサ手段（４６）上の反射した
光ビーム（４５）の入射位置の関数として、上記変化量
を検出する手段（５２）により検出されることを特徴と
する前記容器を検査する装置。 - 【請求項２】 上記回転させる手段内の上記容器の軸線
の横方向対向側面上のそれぞれの対（５６、５８）に配
置された、第１および第２の光源および第１および第２
の光センサ手段を含み、上記密封面（３６）に入射する
ビーム（４４）および密封面（３６）から反射したビー
ム（４５）が、上記各対に対し容器密封面に直角な平面
内にある請求項１に記載の装置。 - 【請求項３】 上記変化量を検出する手段（５２）が、
上記第１および第２の光センサ手段のおのおのの上の反
射した光ビーム（４５）の入射位置の変化量の組合せ関
数として、上記密封手段のレベルの変化量を検出する手
段を含む請求項２に記載の装置。 - 【請求項４】 上記第１および第２のセンサ手段のおの
おのが、関連した反射ビーム（４５）の入射位置の関数
として変化する電気信号を供給し、上記変化量検出手段
（５２）が該電気信号の和に応答する手段を含む請求項
３に記載の装置。 - 【請求項５】 上記第１および第２のセンサ手段のおの
おのが、関連する反射したビーム（４５）の入射位置の
関数として変化する電気信号を供給し、上記変化量検出
手段（５２）が上記電気信号間の差に応答する手段で構
成される請求項３に記載の装置。 - 【請求項６】 上記光センサ手段（４６）が、ラテラル
効果軸線をその平面内に備えるように位置ぎめされた、
ラテラル効果ダイオード（５０）で構成される請求項１
〜５のいずれか一項に記載の装置。 - 【請求項７】 上記光センサ手段（４６）は、配列がそ
の平面内に配置されるように位置ぎめされた光感応素子
の配列（５０）で構成される請求項１〜６のいずれか一
項に記載の装置。 - 【請求項８】 上記光源（４２）が、光エネルギーの視
準されたビームの狭いビームを供給する手段で構成され
る請求項１〜７のいずれか一項に記載の装置。 - 【請求項９】 上記光源（４２）がレーザで構成される
請求項８に記載の装置。 - 【請求項１０】 容器の密封面（３６）の高さの変化量
に関して容器（２２）を検査する方法であって： （ａ） 容器軸線の周りに容器を回転させること、 （ｂ） 容器が回転する時に、上記密封面に直角な平面
内で光エネルギーのビームが密封面に入射および反射す
るように、上記容器の密封面上に鋭角をなして光エネル
ギーのビーム（４４）を指向すること、 （ｃ） 上記容器の密封面で上記光センサ上に反射した
光ビーム（４５）が、上記光センサに関し密封面のレベ
ルと共に変化する該光センサ上の位置に入射するよう
に、上記密封面から反射した光ビームを受信するため光
センサ（４６）を位置決めすること、 （ｄ） 上記容器が回転する時に、上記センサ上の反射
した光ビームの入射位置の変化量の関数として、上記容
器の密封面におけるレベルの変化量を検出すること、の
ステップを含む前記容器を検査する方法。 - 【請求項１１】（ｅ） 光エネルギーのビームが、上記
密封面に直角な第２の平面内で密封面に入射および反射
するように、上記容器が回転する時に、容器（２２）の
密封面（３６）上に鋭角をなして光エネルギーの第２の
ビーム（４４）を指向すること、 （ｆ） 上記密封面から反射した第２の光ビーム（４
５）を受信するため第２の光センサを位置ぎめするこ
と、および （ｇ） 上記容器が回転する時に、上記センサ上の反射
した光ビームの入射位置の変化量の組合せ関数として、
上記容器の密封面におけるレベルの変化量を検出するこ
と、の付加ステップを含む請求項１０に記載の方法。 - 【請求項１２】 上記平面が、容器軸線の横方向対向側
面上にある請求項１１に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US08/223803 | 1994-04-07 | ||
| US08/223,803 US5489987A (en) | 1994-04-07 | 1994-04-07 | Container sealing surface inspection |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0843320A true JPH0843320A (ja) | 1996-02-16 |
| JP3774246B2 JP3774246B2 (ja) | 2006-05-10 |
Family
ID=22838034
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10463395A Expired - Fee Related JP3774246B2 (ja) | 1994-04-07 | 1995-04-06 | 容器密封面検査 |
Country Status (14)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5489987A (ja) |
| EP (1) | EP0676633B1 (ja) |
| JP (1) | JP3774246B2 (ja) |
| KR (1) | KR100346327B1 (ja) |
| CN (1) | CN1073233C (ja) |
| AT (1) | ATE262172T1 (ja) |
| BR (1) | BR9501476A (ja) |
| CA (1) | CA2146095C (ja) |
| DE (1) | DE69532695T2 (ja) |
| DK (1) | DK0676633T3 (ja) |
| ES (1) | ES2217271T3 (ja) |
| PL (1) | PL177700B1 (ja) |
| PT (1) | PT676633E (ja) |
| ZA (1) | ZA952850B (ja) |
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- 1994-04-07 US US08/223,803 patent/US5489987A/en not_active Expired - Lifetime
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- 1995-03-30 EP EP95104695A patent/EP0676633B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-03-30 DK DK95104695T patent/DK0676633T3/da active
- 1995-03-30 PT PT95104695T patent/PT676633E/pt unknown
- 1995-03-30 ES ES95104695T patent/ES2217271T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1995-03-30 DE DE69532695T patent/DE69532695T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1995-03-30 AT AT95104695T patent/ATE262172T1/de active
- 1995-03-31 CA CA002146095A patent/CA2146095C/en not_active Expired - Fee Related
- 1995-04-06 JP JP10463395A patent/JP3774246B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1995-04-06 KR KR1019950007956A patent/KR100346327B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1995-04-06 CN CN95114842A patent/CN1073233C/zh not_active Expired - Lifetime
- 1995-04-06 ZA ZA952850A patent/ZA952850B/xx unknown
- 1995-04-06 BR BR9501476A patent/BR9501476A/pt not_active IP Right Cessation
- 1995-04-07 PL PL95308042A patent/PL177700B1/pl unknown
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Also Published As
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|---|---|
| PL177700B1 (pl) | 2000-01-31 |
| ZA952850B (en) | 1995-12-21 |
| AU1626695A (en) | 1995-10-19 |
| AU689536B2 (en) | 1998-04-02 |
| ES2217271T3 (es) | 2004-11-01 |
| KR100346327B1 (ko) | 2002-11-29 |
| JP3774246B2 (ja) | 2006-05-10 |
| PT676633E (pt) | 2004-08-31 |
| PL308042A1 (en) | 1995-10-16 |
| US5489987A (en) | 1996-02-06 |
| DE69532695D1 (de) | 2004-04-22 |
| DK0676633T3 (da) | 2004-07-12 |
| CA2146095C (en) | 2007-03-20 |
| EP0676633B1 (en) | 2004-03-17 |
| BR9501476A (pt) | 1995-11-07 |
| CA2146095A1 (en) | 1995-10-08 |
| CN1073233C (zh) | 2001-10-17 |
| KR950033416A (ko) | 1995-12-26 |
| DE69532695T2 (de) | 2005-02-10 |
| ATE262172T1 (de) | 2004-04-15 |
| EP0676633A1 (en) | 1995-10-11 |
| CN1120157A (zh) | 1996-04-10 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20041105 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
| A521 | Request for written amendment filed |
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|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20060208 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20060217 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090224 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100224 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110224 Year of fee payment: 5 |
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