DE69510972T2 - Mit Schwarzelektrode TFEL-Anzeigegerät - Google Patents
Mit Schwarzelektrode TFEL-AnzeigegerätInfo
- Publication number
- DE69510972T2 DE69510972T2 DE69510972T DE69510972T DE69510972T2 DE 69510972 T2 DE69510972 T2 DE 69510972T2 DE 69510972 T DE69510972 T DE 69510972T DE 69510972 T DE69510972 T DE 69510972T DE 69510972 T2 DE69510972 T2 DE 69510972T2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- layer
- refractive index
- light
- thin film
- complex refractive
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 69
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 47
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 19
- 230000008033 biological extinction Effects 0.000 claims description 16
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 16
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 9
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 8
- 238000013459 approach Methods 0.000 claims description 5
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 claims description 5
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 claims description 5
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims description 4
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims description 4
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims description 3
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 16
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 16
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 14
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 13
- 230000008569 process Effects 0.000 description 6
- 230000008859 change Effects 0.000 description 5
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 5
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 description 4
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 description 4
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 3
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 3
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000036961 partial effect Effects 0.000 description 3
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 3
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000002745 absorbent Effects 0.000 description 2
- 239000002250 absorbent Substances 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 2
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 2
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 229920002545 silicone oil Polymers 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000006117 anti-reflective coating Substances 0.000 description 1
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 150000002222 fluorine compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 230000000670 limiting effect Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical group 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- 239000007800 oxidant agent Substances 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 1
- PBCFLUZVCVVTBY-UHFFFAOYSA-N tantalum pentoxide Inorganic materials O=[Ta](=O)O[Ta](=O)=O PBCFLUZVCVVTBY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B33/00—Electroluminescent light sources
- H05B33/12—Light sources with substantially two-dimensional radiating surfaces
- H05B33/22—Light sources with substantially two-dimensional radiating surfaces characterised by the chemical or physical composition or the arrangement of auxiliary dielectric or reflective layers
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B33/00—Electroluminescent light sources
- H05B33/10—Apparatus or processes specially adapted to the manufacture of electroluminescent light sources
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/80—Constructional details
- H10K59/8791—Arrangements for improving contrast, e.g. preventing reflection of ambient light
- H10K59/8792—Arrangements for improving contrast, e.g. preventing reflection of ambient light comprising light absorbing layers, e.g. black layers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/80—Constructional details
- H10K50/805—Electrodes
- H10K50/82—Cathodes
- H10K50/822—Cathodes characterised by their shape
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/80—Constructional details
- H10K50/85—Arrangements for extracting light from the devices
- H10K50/854—Arrangements for extracting light from the devices comprising scattering means
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/80—Constructional details
- H10K50/85—Arrangements for extracting light from the devices
- H10K50/856—Arrangements for extracting light from the devices comprising reflective means
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/80—Constructional details
- H10K50/86—Arrangements for improving contrast, e.g. preventing reflection of ambient light
- H10K50/865—Arrangements for improving contrast, e.g. preventing reflection of ambient light comprising light absorbing layers, e.g. light-blocking layers
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10S428/917—Electroluminescent
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Description
- Die nachfolgende Erfindung bezieht sich auf eine Dünnfilm-Elektrolumineszenz(TFEL)- Vorrichtung zum Schaffen einer verbesserten optischen Anzeige. Die Erfindung bezieht sich insbesondere auf eine Dünnfilmabsorptionsschicht in der Vorrichtung zum Absorbieren einfallenden Lichtes.
- TFEL-Anzeigen sind aus einem lamellaren Stapel konstruiert, welcher einen Satz transparenter, vorderer Elektroden, die normalerweise aus auf einem transparenten Substrat (Glas) ausgebildeten Indiumzinnoxid bestehen, und eine transparente, elektrolumineszierende Phosphorschicht auf, welche sandwichartig zwischen transparenten, hinter den vorderen Elektroden angeordneten, dielektrischen Schichten angeordnet ist. Hinter der rückseitigen, dielektrischen Schicht sind rückseitige Elektroden angeordnet, welche üblicherweise aus Aluminium konstruiert sind, da dieses sowohl eine gute elektrische Leitfähigkeit als auch eine selbstheilende Fehlercharakteristik aufweist. Hintere Aluminiumelektroden verbessern auch die Lumineszenz der Anzeige, indem sie den größten Anteil des Lichtes, das sonst zur Rückseite der Anzeige hin verlorengehen würde, zum Betrachter hin reflektieren. Dieses reflektierte Licht verdoppelt nahezu das Licht des angezeigten Bildes, da die Phosphorschicht Licht aussendet, das zu gleichen Anteilen zur Vorderseite und zur Rückseite gerichtet ist. Rückseitige Aluminiumelektroden reflektieren aber auch vorderes Umgebungslicht, welches von der Außenseite der Anzeige her eintritt und sich mit der Anzeigeninformation überlagert, wodurch deren Kontrast verringert wird.
- Um den Kontrast der Anzeige zu erhöhen, wird manchmal auf dem vorderen, transparenten Substrat der Anzeige ein Antireflexbelag verwendet, um den Anteil des Umgebungslichtes, welcher von der Stirnseite der Anzeige reflektiert wird, zu reduzieren. Der lamellare TFEL- Stapel kann ferner gegenüber dem Substrat eine Gehäusedichtung umfassen, wobei die Rückwand des Gehäuses geschwärzt ist, um Licht, das von fremden Lichtquellen hinter der Anzeige her eintritt, abzublocken. Der schwarze Belag absorbiert Umgebungslicht, das von der Vorderseite durch die Anzeige gelangt und durch die hinteren Elektroden nicht reflektiert wurde.
- Die Reflexion von den hinteren Elektroden, welche normalerweise aus Aluminium bestehen, weist aufgrund der Oberflächenrauhigkeit der reflektierenden, hinteren Elektroden ein diffuses Reflexionsvermögen auf, welches wiederum zu der diffusen Streuung von anderen Dünnfilmschichten der Anzeige beiträgt. Das diffuse Reflexionsvermögen wird typischerweise mittels eines Photometers gemessen, das in der Blickposition und senkrecht zur Anzeige angeordnet ist. Bei Umgebungslicht, welches zur Anzeige unter einem 45º Winkel bis zur senkrechten Blickrichtung gerichtet ist, weist eine typische TFEL-Anzeige etwa 15 an diffusem Reflexionsvermögen auf. Ein kreisförmiges Polarisationsfilter verringert das diffuse Reflexionsvermögen von etwa 15% auf etwa 1%, läßt aber nur etwa 37 bis 42% des emittierten Lichts von der Anzeige durch und trägt beträchtlich zu den Kosten der Anzeige bei.
- Ein anderer Lösungsweg, welcher zum Verbessern des Anzeigenkontrastes versucht worden ist, besteht in der Verwendung transparenter, hinterer Elektroden aus Indiumzinnoxid. Dies reduziert das Licht-Reflexionsvermögen von den hinteren Elektroden und gestattet, daß das Licht durch die Rückseite der Anzeige gelangt, wo es absorbiert werden kann. Indiumzinnoxid weist jedoch einen höheren elektrischen Widerstand als Metallelektroden, wie z. B. solche aus Aluminium, auf, so daß diese sehr Viel dünner herzustellen sind, um die passende elektrische Leitfähigkeit zu erzielen. Außerdem zeigen dicke Schichten aus Indiumzinnoxid nicht die selbstheilenden Eigenschaften von rückseitigen Aluminiumelektroden. Dies kann aufgrund eines dielektrischen Durchschlages zu einem unannehmbaren Verlust hinsichtlich der Zuverlässigkeit der Vorrichtung führen.
- Ein anderer Lösungsweg ist in dem US-Patent 5 003 211 von Matsudaira gezeigt, in welchem eine Elektrolumineszenz-Tafel einschließlich einer transparenten Elektrode, einer Schwarzelektrode und einer Elektrolumineszenzschicht zwischen den beiden offenbart ist. Eine lichtabsorbierende Zwischenschicht ist zwischen der Elektrolumineszenzschicht und der Schwarzelektrode angeordnet. Sowohl der Brechungsindex als auch der Extinktionskoeffizient der Zwischenschicht nehmen von einer ersten, zur Elektrolumineszenzschicht hin gerichteten Oberfläche zu einer zweiten, zur Schwarzelektrode hin gerichteten Oberfläche hin zu.
- Bei einem weiteren Lösungsweg, welcher in dem US-Patent 3 560 784 von Steel et al. gezeigt ist, ist eine lichtabsorbierende Schicht in die Dünnfilm Schichtstruktur eingearbeitet. Dieses Dokument schlägt vor, daß, sofern eine herkömmliche, hintere Metallelektrode verwendet wird, nunmehr eine lichtabsorbierende Schicht als Isolationsschicht oder als leitfähige Schicht hinzugefügt werden kann. Das Einsetzen einer dunklen Schicht unmittelbar hinter die Phosphorschicht kann jedoch zu Störungen mit der Phosphor/Isolator-Grenzfläche und damit zu einem schlechteren Leistungsvermögen der Anzeige führen. Der Lichtimpuls für eine Polarität kann verringert werden, was zu einem Flimmereffekt oder auch zu einem Verlust an Gesamthelligkeit fuhren kann.
- In dem US-Patent 5 003 221 von Shimizu ist die Verwendung einer Dünnfilmschicht offenbart, welche zwischen einem transparenten Substrat und einer Schicht ausgebildet ist, die angrenzend an das transparente Substrat in einem lamellaren TFEL-Stapel gebildet ist. Der Brechungsindex der Dünnfilmschicht wird etwa auf denjenigen von Schichten geändert, welche zu den Grenzflächen zwischen der Dünnfilmschicht und den korrespondierenden Schichten gerichtet sind, so daß eine Differenz in bezug auf den Brechungsindex an diesen Grenzflächen minimiert ist. Shimizu ist gerichtet auf das Lösen des Problems einer Maximierung der Lichtdurchlässigkeit zwischen Schichten unter Verwendung unterschiedlicher tatsächlicher Brechungsindizes. Dazu lehrt Shimizu den Einsatz mehrfach abgestufter Schichten oder einer einzigen kontinuierlichen Abstufung der Dünnfilmschicht zwischen zwei benachbarten Schichten des lamellaren Stapels, um die Lichtdurchlässigkeit zwischen jenen einzelnen Schichten zu maximieren.
- Aufgrund der Aufbringung eines elektrischen Feldes zwischen der transparenten Elektrodenschicht und der rückseitigen Elektrodenschicht werden in der Phosphorschicht lichtemittierende Pixel ausgebildet. Aufgrund der physikalischen Struktur der Phosphorschicht emittieren die Pixel Licht, welches meist in die Ebene der Phosphorschicht gerichtet ist. Da sich das emittierte Licht in der Phosphorschicht ausbreitet, wird es durch Fehler in der Phosphorschicht gestreut, wodurch verursacht wird, daß ein beträchtlicher Anteil des emittierten Lichtes nach vorne und nach hinten gerichtet ist. Licht, das nach hinten gerichtet oder gestreut ist, wird von den hinteren Elektroden nach vorne reflektiert und dem nach vorne gerichteten Licht zugefügt. Dies verursacht einen unscharf aussehenden Bereich, welcher um den angesprochenen Pixel erscheint. Ein kreisförmiges Polarisationsfilter kann diesen Effekt ohne eine Abnahme der Gesamtmenge an emittiertem Licht selektiv nicht verringern.
- Emittiertes Licht, das unter kleinen Winkeln zu den Grenzschichten auf die Phosphor- Dielektrikum Grenzschichten trifft, wird vollständig nach innen reflektiert. Licht, das unter einem größeren Einfallwinkel auf die Phosphor-Dielektrikum-Grenzschichten trifft, wird in das jeweilige Dielektrikum gebrochen. Der Unterschied zwischen den Brechungsindizes des Frontglases und der Außenluft sind beträchtlich, deshalb ist der erforderliche Einfallwinkel für das in die Luft zu brechende Licht größer als alle anderen inneren Grenzflächen. Licht, das der Frontglas-Luft Grenzschicht nicht entkommen kann, kann sich mit anderen Worten frei zwischen anderen Lagen des lamellaren TFEL-Stapels brechen. Das nach hinten gerichtete Licht, welches von der Glas-Luft Grenzschicht reflektiert wird, und weiteres nach hinten gerichtetes Licht wird auf die hinteren Elektroden treffen, welche ein Reflektieren des Lichtes nach vorne bewirken. Ein solches Licht, welches entweder diffus gestreut ist oder auf einen Defekt trifft, wird sich dadurch innerhalb der Anzeige weiterbewegen, bis es möglicherweise seinen Winkel hinsichtlich der Glas-Luft Grenzschicht erhöht, was sein Entweichen aus der Anzeige allgemein an einem von dem Pixel entfernten Ort gestattet.
- Die sichtbare Farbe einer TFEL-Anzeige scheint von den Wellenlängen des durch die Phosphorschicht emittierten Lichts und die Dicke der einzelnen Dünnfilmschichten abzuhängen. Bernsteinfarbene Anzeigen variieren in der Farbe üblicherweise zwischen gelb unter einem senkrechten Blickwinkel und rot/orange bei einer Sicht außerhalb des senkrechten Blickwinkels. Alternativ dazu kann die Farbe beim senkrechten Blickwinkel rot/orange und gelb sein, wenn die Blickrichtung außerhalb des senkrechten Blickwinkels liegt. Mit den gegenwärtigen Verfahrenstechniken zum Abscheiden der Dünnfilmschichten ist es schwierig, den Prozeß in hinreichendem Maße so steuern zu können, daß von Bildschirm zu Bildschirm übereinstimmende Farben erzeugt werden.
- Erwünscht ist deshalb ein Weg, den Kontrast der Anzeige zu verbessern, den unscharf aussehenden Bereich um den angesprochenen Pixel zu verringern, Farbvariationen zwischen den Anzeigen zu reduzieren und das diffuse Reflexionsvermögen nahezu zu beseitigen.
- Die vorliegende Erfindung überwindet die vorgenannten Nachteile des Standes der Technik, indem sie eine Elektrolumineszenzanzeige schafft, welche mehrere Schichten einschließlich wenigstens einer transparenten Elektrodenschicht, einer rückseitigen Elektrodenschicht und wenigstens drei Schichten mit einer sandwichartig zwischen vorderen und hinteren dielektrischen Schichten angeordneten Elektrolumineszenzschicht aufweist. Sämtliche drei Schichten sind zwischen der rückseitigen Elektrodenschicht und der transparenten Elektrodenschicht so angeordnet, daß sie Licht nach dem Aufbringen eines elektrischen Feldes zwischen der transparenten Elektrodenschicht und der rückseitigen Elektrodenschicht aussenden. Eine Dünnfilmabsorptionsschicht, welche einen wesentlichen Prozentgehalt des darauf auftreffenden Lichtes absorbiert, ist zwischen der hinteren Elektrodenschicht und der hinteren dielektrischen Schicht angeordnet.
- Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung hat die Dünnfilmabsorptionsschicht an ihrer ersten Seite einen ersten komplexen Brechungsindex, welcher weitgehend an den komplexen Brechungsindex der rückseitigen, dielektrischen Dünnfilmschicht angepaßt ist. Die Dünnfilmabsorptionsschicht hat ferner einen zweiten komplexen Brechungsindex an ihrer zweiten Seite, welche weitgehend an den komplexen Brechungsindex der hinteren Elektrodenschicht angepaßt ist.
- Durch das Anordnen der Dünnfilmabsorptionsschicht vor der hinteren Elektrodenschicht wird Umgebungslicht und nach hinten gerichtetes Licht, welches von dem Elektrolumineszenzelement herrührt, weitgehend vor dem Auftreffen auf die hintere Elektrode absorbiert, wodurch der Kontrast der Anzeige erhöht wird. Durch das weitgehende Anpassen der komplexen Brechungsindizes an beiden Grenzflächen der Dünnfilmabsorptionsschicht an die der hinteren Elektrodenschicht und der nächst angrenzenden Schicht, normalerweise einer dielektrischen Schicht, werden ferner die Reflexionen an den jeweiligen Grenzflächen minimiert.
- Die Absorptionsschicht verringert das diffuse Reflexionsvermögen von etwa 15% auf etwa 0,6% durch ein Absorbieren des Umgebungslichtes, das auf die hinteren Elektroden getroffen und dadurch nach vorne reflektiert worden wäre. Außerdem verringert die Absorptionsschicht die Farbvariation zwischen Anzeigen um 80%.
- Außerdem verringert die Absorptionsschicht den unscharf aussehenden Bereich um den angesprochenen Pixel, indem das nach hinten gerichtete, von der Phosphorschicht abgegebene Licht und das emittierte Licht absorbiert wird, das von den Dünnfilmschichten nach hinten innen reflektiert wird.
- Die vorgenannte und andere Aufgaben, Merkmale und Vorteile der Erfindung werden anhand der nachfolgenden detaillierten Beschreibung der Erfindung anhand der beigefügten Zeichnung näher erläutert.
- Es zeigen:
- Fig. 1 eine teilweise Schnittansicht einer erfindungsgemäß aufgebauten und eine einfach abgestufte, kontinuierliche Dünnfilmabsorptionsschicht enthaltenden TFEL- Vorrichtung;
- Fig. 2 eine teilweise Schnittansicht einer erfindungsgemäß aufgebauten und eine mehrfach abgestufte Dünnfilmabsorptionsschicht aufweisenden TFEL-Vorrichtung;
- Fig. 3 eine teilweise Schnittansicht einer alternativen Ausführungsform einer TFEL- Vorrichtung, welche erfindungsgemäß aufgebaut ist und eine mehrfach abgestufte Dünnfilmabsorptionsschicht umfaßt.
- Mit Bezug auf Fig. 1 umfaßt eine TFEL-Vorrichtung ein üblicherweise aus Glas gefertigtes, transparentes Substrat 10, welches einen die TFEL-Aazeigeelemente aufweisenden, lamellaren Stapel abstützt. Der lamellare Stapel umfaßt einen Satz durchsichtiger, vorderer Elektroden 12 und eine Sandwichstruktur, welche eine Elektrolumineszenzschicht 16 umfaßt, die im einzelnen sandwichartig zwischen vorderen und hinteren dielektrischen Schichten 14 und 18 angeordnet ist. Üblicherweise aus Aluminium gefertigte, hintere Elektroden 20 sind hinter dem rückseitigen Dielektrikum 18 angeordnet und erstrecken sich in einer Richtung senkrecht zu den transparenten, vorderen Elektroden 12, so daß Pixelpunkte aus Licht erzeugt werden, wenn die Elektroden in beiden Gruppen gleichzeitig unter Strom gesetzt werden. Die TFEL-Komponenten sind gegenüber dem Substrat 10 durch ein Gehäuse 22 abgedichtet, welches an dem Substrat 10 durch jeden geeigneten Klebstoff 24 befestigt werden kann. Ein optisch absorbierendes Material kann in den durch das Gehäuse 22 festgelegten Hohlraum eingefüllt werden, um Licht weiter zu absorbieren. Dieses kann die Form eines Siliconöls, das üblicherweise als Füllmaterial verwendet wird, oder eines festen Füllstoffs einer solchen Art annehmen, wie sie in dem US-Patent 5 194 027 offenbart ist. Das Siliconöl 24 kann eine schwarze Form umfassen, um es optisch absorbierend zu machen. Die optische Absorption wird auch durch Vorsehen eines schwarzen Überzugs 26 an der hinteren, inneren Hohlraumwand des Gehäuses 22 verbessert.
- Durch Vorsehen einer Dünnfilmabsorptionsschicht 28 zwischen den hinteren Elektroden 20 und dem hinteren Dielektrikum 18 kann ein beträchtlicher Prozentanteil des darauf eintreffenden Lichtes absorbiert werden. Die Absorptionsschicht 28 sollte im wesentlichen jedwede Reflexion des Lichtes an der Grenzfläche zwischen der Absorptionsschicht 28 und dem hinteren Dielektrikum 18 eliminieren.
- Jedes Material hat einen komplexen Brechungsindex, allgemein n-ik bezeichnet, wobei n der Brechungsindex bezogen auf die Geschwindigkeit des Lichtes in dem Medium und k der Extinktionskoeffizient bezogen auf die Absorption des Lichtes im Medium ist. Durch weitgehendes Anpassen des Brechungsindex und des Extinktionskoeffizienten sowohl der Absorptionsschicht 28 als auch des hinteren Dielektrikums 18 an der Grenzfläche zwischen diesen wird an der Grenzfläche keine bedeutende Lichtmenge nach vorne reflektiert. Die komplexen Brechungsindizes an der Grenzfläche zwischen der Absorptionsschicht 28 und den hinteren Elektroden 20 sollten ebenfalls weitgehend abgestimmt werden, um die Reflexion minimal zu halten. Die komplexen Brechungsindizes der Absorptionsschicht 28 sollten mit anderen Worten an die komplexen Brechungsindizes der jeweiligen Materialien an beiden Grenzflächen angepaßt werden.
- Zum Abstimmen der komplexen Brechungsindizes an beiden Oberflächen der Absorptionsschicht 28 sollten der Brechungsindex und der Extinktionskoeffizient von einer Grenzfläche zur anderen Grenzfläche auf gewisse Weise verändert werden, um die Reflexion des Lichtes innerhalb der Absorptionsschicht 28 zu minimieren. Um die Reflexion minimal zu halten, kann die Absorptionsschicht 28 an der hinteren dielektrischen Grenzfläche aus einem transparenten Material ausgebildet sein, welches sich allmählich zu einem lichtundurchlässigen Material ändert, das eine beträchtliche Lichtmenge an der hinteren Elektrodengrenzfläche absorbiert. Vorzugsweise ist die Absorptionsschicht lediglich zwischen den einzelnen hinteren Elektroden 20 und der hinteren dielektrischen Schicht 18 angeordnet. Die Absorptionsschicht 28 kann entweder als kontinuierlich abgestufter dünner Film oder als mehrfach abgestufter dünner Film wie die Absorptionsschichten 28' aufgebaut sein, wie dies in Fig. 2 gezeigt ist. (Die mit einem hochgesetzten. Strich versehenen Bezugszahlen der Fig. 2 beziehen sich auf dieselbe jeweilige Struktur, wie sie in Fig. 1 gezeigt ist, ausgenommen den Aufbau der Absorptionsschicht 28 und 28'.) Es wird darauf hingewiesen, daß die Absorptionsschicht 28 ein Metall sein kann. Falls dies der Fall ist, dann ist die Absorptionsschicht, wie in Fig. 2 gezeigt, zu strukturieren, um keine Kurzschlüsse zwischen den hinteren Elektroden zu bilden. Somit sind die Schichten 28' strukturierte Streifen mit dazwischen vorgesehenen Lücken, welche sich gleich ausgedehnt wie die Elektroden erstrecken.
- Es wurde herausgefunden, daß eine Absorptionsschicht, welche drei einfache Konstruktionsnebenbedingungen erfüllt, die gewünschten Absorptionseigenschaften bei minimaler unerwünschter Reflexion aufweist. Die drei Nebenbedingungen lauten wie folgt und werden nachfolgend der Reihe nach erläutert:
- (1) Sämtliche diskrete Schrittabstufungen in den Brechungsindizes sind bezogen auf die Wellenlänge des bei der Anzeige verwendeten Lichts extrem dünn auszuführen;
- (2) die optischen Konstanten ändern sich monoton von einem Material zum anderen; und
- (3) die durchschnittliche optische Dicke der Absorptionsschicht insgesamt ist wenigstens so groß, daß sie in der Größenordnung der Wellenlänge des Anzeigenlichtes liegt.
- Zu Punkt (1) bezieht sich das Erfordernis, daß alle Stufen oder Abstufungen bezogen auf die Wellenlänge des Lichtes extrem dünn auszubilden sind, auf Wechsel im einzelnen im Brechungsindex und im Extinktionskoeffizienten, n und k. Diese werden klein gemacht, um jedwede signifikante Interferenz auszuschließen. Bei einer Absorptionsschicht 28', welche aus mehrfach abgestuften Schichten gebildet ist, werden die Wechsel im Brechungsindex und dem Extinktionskoeffizienten (n-ik) jeder benachbarten Schicht ausreichend klein gehalten. Um die Wechsel im komplexen Brechungsindex ausreichend klein zu halten, sind zahlreiche Dünnfilmschichten zu verwenden. Bei einer kontinuierlich aufgebauten Absorptionsschicht 28 sollten der Brechungsindex und der Extinktionskoeffizient sich mit einem stufenweisen Gradienten von der Grenzfläche der hinteren dielektrischen Schicht zur Grenzfläche der hinteren Elektroden verändern. Durch allmähliches Verändern des komplexen Brechungsindex wird die Brechung des Lichtes verringert.
- Zu Punkt (2) sollten sich die optischen Konstanten monoton von einem Material zum anderen ändern. Der Brechungsindex und der Extinktionskoeffizient, n und k, sollten sich wertmäßig ändern und zwar entweder jeweils zunehmen oder abnehmen, ohne innerhalb der Absorptionsschicht vor- und zurückzuschwingen. Wenn der Wert entweder des Brechungsindex oder des Extinktionskoeffizienten, n oder k, in der Absorptionsschicht zunimmt und dann abnimmt, oder alternativ dazu, abnimmt und dann zunimmt, dann können Reflexionen die Folge sein.
- Zu Punkt (3) muß die mittlere optische Dicke der Absorptionsschicht wenigstens so groß sein, daß sie in der Größenordnung der Wellenlänge des Lichtes liegt. Die optische Dicke ist das Produkt aus dem Brechungsindex und der physikalischen Dicke der Absorptionsschicht. Die optische Dicke sollte wenigstens die Hälfte der Wellenlänge des für die Anzeige verwendeten Lichtes betragen.
- Eine Absorptionsschicht, hat, wie beschrieben, viele wünschenswerte Eigenschaften, wenn sie vor den hinteren Elektroden 20 angeordnet ist. Erstens kann sie optisch als eine unendlich dicke Schicht aus einem transparenten Material nachgebildet werden, da innerhalb der abgestuften Schicht oder an den Grenzflächen zu der hinteren dielektrischen Schicht oder den hinteren Elektroden keine wesentliche Reflexion des Lichtes auftritt, und diese das einfallende Licht ohne wesentliche Reflexion in ihrem Inneren absorbiert. Die Absorptionsschicht absorbiert mit anderen Worten einfallendes Licht, das zur Hinterseite der Anzeige gerichtet ist, ohne wesentliche Reflexion des einfallenden Lichtes nach vorne.
- Der Kontrast einer Anzeige ist ein Maß des von einer Anzeige reflektierten Umgebungslichtes verglichen mit dem durch die Anzeige ohne das Umgebungslicht emittierten Lichtes. Durch das Absorbieren des Umgebungslichtes in der Absorptionsschicht reflektiert diese nicht von den hinteren Elektroden nach vorne, und der Kontrast der Anzeige wird erhöht. Allerdings gibt es eine mit der Verwendung einer solchen Absorptionsschicht verbundene Helligkeitseinbuße. Es wurde herausgefunden, daß eine Anzeige mit einer Absorptionsschicht etwa 28% der Lumineszenz einer Anzeige mit ungefilterter, standardisierter, reflektierender Elektrode aufweist. Diese Verringerung beruht auf dem Verlust des anfänglich durch den Phosphor in andere Richtungen, so zum Beispiel zur Seite und nach hinten, emittierten Lichtes, das durch hintere Standardelektroden nach vorne zum Betrachter reflektiert worden wäre. Selbst trotz der Verringerung der Lumineszenz weist eine Anzeige mit einer Absorptionsschicht im Vergleich zu einer Anzeige mit reflektierender Standardelektrode einen verbesserten Kontrast auf, und in einigen Anwendungsfällen wird ein höherer Kontrast stärker benötigt als eine hohe Lumineszenz.
- Ein diffuses Reflexionsvermögen wird vor allem durch Licht verursacht, das auf die hinteren Elektroden fällt, welche normalerweise aus glänzendem Aluminium mit einer rauhen Oberfläche hergestellt sind. Mit Hilfe der Absorptionsschicht wird verhindert, daß das Licht auf die hinteren Elektroden trifft, wodurch die Hauptkomponente beseitigt wird, welche ein diffuses Reflexionsvermögen hervorruft. Ein geringfügiger Anteil des diffusen Reflexionsvermögens wird auf Grund der Grenzflächen zwischen den unterschiedlichen lamellaren Stapelelementen und den Fehlern in den Elementen als solchen noch immer auftreten. Es wurde herausgefunden, daß eine Anzeige mit einer Absorptionsschicht das diffuse Reflexionsvermögen von etwa 15% auf etwa 0,6% verringert, was den Kontrast der Anzeige beträchtlich verbessert.
- Außerdem ist die Absorptionsschicht weitgehend winkelunabhängig in bezug auf ihre Lichtabsorption. Deshalb wird Licht, das in eine rückwärtige Richtung streut und das unter den meisten Einfallwinkeln auf die Absorptionsschicht trifft, absorbiert, wodurch der unscharf aussehende Bereich um den angesprochenen Pixel verringert wird.
- Außerdem wird Licht, das zwischen den verschiedenen Dünnfilmschichten gebrochen wird und dem es an dem erforderlichen Einfallwinkel zum Entkommen der Luft-Dielektrikum- Grenzschicht mangelt, auch durch die Absorptionsschicht absorbiert. Die Wirkung der Absorption eines derart gebrochenes Lichtes besteht in einem ungeordnet die Anzeige verlassenden Licht.
- Außerdem verringert die Absorptionsschicht Farbänderungen zwischen "identischen" Anzeigen. Es wird angenommen, daß ein Teil der Farbvariationen zwischen unterschiedlichen Anzeigen durch die Interferenz von Licht verursacht wird, das durch die hinteren Elektroden 20 nach vorne reflektiert wird. Farbunterschiede können durch einen Wechsel im Betrachtungswinkel ebenso wie durch geringe Unterschiede in der Dicke der Dünnfilmschichten zwischen unterschiedlichen Anzeigen hervorgerufen werden. Durch das Beseitigen der durch Reflexionen von den hinteren Elektroden verursachten Lichtinterferenzen können Farbunterschiede zwischen "identischen" Anzeigen um 80% reduziert werden.
- Eine typische, hintere, dielektrische Schicht hat einen Brechungsindex und einen Extinktionskoeffizienten bei einer Wellenlänge von 550 nm von n = 1,75 und k ∼ 0 bezogen auf ein durchsichtiges Material. Hintere Aluminiumelektroden haben einen Brechungsindex und einen Extinktionskoeffizienten von n = 0,82 und k = 6,0 bezogen auf ein lichtundurchlässiges Material. Bei diesen Werten wird angenommen, daß die Absorptionsschicht sich von n = 1,75 auf n = 0,82 und von k ∼ 0 auf k = 6,0 vorzugsweise innerhalb von 300 bis 600 Angström ändert. Die Absorptionsschicht kann auch wesentlich dicker sein, falls dies gewünscht ist. Andere dielektrische Materialien, wie zum Beispiel Quarz (n = 1,46; k ∼ 0) und Ta&sub2;O&sub5; (n = 2,3; k ∼ 0), können verwendet werden. Hintere Elektroden können auch aus anderen Materialien, wie zum Beispiel Chrom (n = 2,48; k = 2,3), hergestellt sein, falls dies gewünscht ist.
- Für die hinteren Elektroden ist Aluminium wegen seiner Leitfähigkeit und selbstheilenden Eigenschaften ein bevorzugtes Metall, und Aluminiumoxid ist ein Schmelzdielektrikum, das über gewisse selbstheilende Eigenschaften verfügt. Bei hängenden Konstruktionen ist Molybdän das bevorzugte Metall. Das optimale Verfahren zum Herstellen einer nichtreflektierenden Absorptionsschicht könnte dann durch Abstufen eines Aluminiumoxids auf den Aluminiumelektroden erfolgen. Das bevorzugte Verfahren zum Durchführen einer Ablagerung solch eines Materials ist eine reaktive Gleichstromzerstäubung. Dies gestattet die Verwendung eines einzigen Targets, wie zum Beispiel Aluminium, das bei hohen Geschwindigkeiten abgeschieden wird. Der Übergang von dem Oxid an der Grenzfläche zur hinteren dielektrischen Schicht zum Metall an der Grenzfläche zu den hinteren Elektroden wird durch Steuern der Sauerstoffmenge in der Kammer bewerkstelligt. Nach einem Beginnen auf einem Niveau, welches ausreicht, einen reinen Aluminiumoxidfilm sicherzustellen, welcher eng an den komplexen Brechungsindex am Dielektrikum angepaßt ist, verringert der Benutzer langsam den Druck des Oxidationsmittels, bis ein reines Aluminiummetall abgeschieden wird, wodurch die dielektrischen Unterscheidungsmerkmale n und k an den hinteren Elektroden abgepaßt werden. Dasselbe Ergebnis kann auch durch Verwendung einer HF-Kathode zum Abscheiden von Aluminiumoxid und Vermischen dieses Materials mit dem Zerstäubungsmaterial von einem Aluminiumtarget erzielt werden.
- Alternativ dazu könnte Siliciumnitrid auf eine abgestufte Weise mit Molybdän vermischt werden, um eine Absorptionsschicht mit einem Gradienten zu bilden, der von reinem Si&sub3;N&sub4; bis zu reinem Molybdänmetall reicht. Falls gewünscht, kann dann dem Molybdän jedwedes Metall zugegeben werden, um die benötigte Leitfähigkeit herbeizuführen. Obgleich mehrere Verfahren zum Abscheiden eines derartigen Materials verwendet werden können, ist das bevorzugte Verfahren eine Vakuumbeschichtung. Das Oxid im Metall könnte mit einem relativ langsamen Übergang von hohen Oxid-/niedrigen Metall-Anteilen zu niedrigen Oxid-/hohen Metall-Anteilen und schließlich zu reinem Metall aus separaten Quellen mit abgeschieden werden. Andere Beschichtungstechniken, wie zum Beispiel das Abscheiden von Metallen und transparenten Materialien, beispielsweise Oxiden, Fluoriden und Nitriden, können ebenfalls erfolgreich eingesetzt werden.
- Obgleich viele Systemkonfigurationen arbeiten können, ist die bevorzugte Geometrie eine Konfiguration vom "Karussel"-Typ mit Substraten auf der Seite eine Polygons, welcher einen rauhen Zylinder bildet, wobei eine derartige Konfiguration beispielsweise durch die Firma Kurdex Corporation oder Leybold hergestellt wird. Der Zylinder wird dann schnell herumgewirbelt, wobei die Substrate vor einer oder mehreren Kathoden vorbeigelangen. Der Prozess wird dann langsam, sowie sich das Karussel dreht, von einem Metalloxidprozess in einen Metallprozess verändert. Aufgrund der Leitfähigkeit der Absorptionsschicht ist die Absorptionsschicht unter Verwendung eines standardmäßigen Liftoff- oder Ätzverfahrens vorzugsweise lediglich zwischen jeder hinteren Elektrode und dem hinteren Dielektrikum angeordnet, welches Verfahren dem Fachmann gut bekannt ist. Unabhängig von dem Abscheideverfahren sind jedoch Lücken 29' zwischen den Elektroden freizulassen, falls der Übergang im Material die Absorptionsschicht an dem den Elektroden benachbarten Ende zu reinem Metall führt.
- Fig. 3 zeigt eine "umgekehrte" Struktur einer Elektrolumineszenzvorrichtung 40, welche denen der Fig. 1 und 2 ähnelt. Die Vorrichtung 40 ist mit einem Substrat 44 hergestellt, das vorzugsweise auf seiner Unterseite einen schwarzen Überzug 46 aufweist, falls das Substrat 44 transparent ist. Auf dem Substrat 44 sind die hinteren Elektroden 48 abgeschieden. Zwischen den hinteren Elektroden 48 und der hinteren dielektrischen Schicht 50 ist eine Dünnfilmabsorptionsschicht 42 vorgesehen. Die Absorptionsschicht ist entweder aus mehrfach abgestuften Düunfilmschichten oder als kontinuierlich abgestufte Dünnfilmschicht unter Verwendung irgendeines geeigneten, zuvor beschriebenen Verfahrens aufgebaut. Eine Elektrolumineszenzschicht 52 ist sandwichartig zwischen der hinteren dielektrischen Schicht 50 und einer vorderen dielektrischen Schicht 54 angeordnet. Eine transparente Elektrodenschicht 56 ist auf der vorderen dielektrischen Schicht 54 ausgebildet und durch ein transparentes Substrat 58 umschlossen, welches entweder direkt mit der transparenten Elektrodenschicht 56 verbunden oder von dieser durch einen Spalt getrennt ist. Die abgestufte Absorptionsschicht 42 ist, wie zuvor beschrieben, derart ausgebildet, daß sie einen beträchtlichen prozentualen Anteil des darauf einfallenden Lichtes absorbiert.
- Mehrere alternative Änderungen im Aufbau liegen innerhalb des Umfangs der Erfindung. Im Falle der Verwendung einer Abstufung von einem Oxidgemisch zu einem Metall könnten der Brechungsindex und der Extinktionskoeffizient ohne ein Beeinträchtigen des Gesamtleistungsvermögens der Absorptionsschicht zum Oxid hin zurückschalten, falls das Schalten auftritt, nachdem eine genügende Dicke an Material zum Absorbieren eines Großteils des einfallenden Lichtes abgeschieden worden ist. Außerdem wird ein Teil des reflektierten Lichts beim Schalten durch die Absorptionsschicht weiterhin absorbiert, sofern es sich vorwärts bewegt. Es ist möglich, zusätzliche Dünnfilmschichten dem lamellaren Stapel einschließlich solchen, die zwischen der hinteren dielektrischen Schicht und der hinteren Elektrodenschicht angeordnet sind, zuzufügen.
- Ein geringer Spielraum existiert auf der Metallseite der Absorptionsschicht, da das meiste Licht zu der Zeit, zu der es jenen Punkt erreicht, absorbiert worden ist. Insofern kann die Reflexion weg von den hinteren Elektroden auf weniger als 2% (von 90% ohne die Absorptionsschicht) bei einer Gesamtdicke der Absorptionsschicht von etwa 400 Angström reduziert werden.
- Begriffe und Ausdrücke, die in der vorstehenden Beschreibung verwendet wurden, sind darin lediglich zum Zwecke der Erläuterung und nicht im Sinne einer Beschränkung verwendet worden. Es ist nicht beabsichtigt, durch die Verwendung derartiger Begriffe und Ausdrücke Äquivalente von gezeigten oder beschriebenen Merkmalen oder deren Teile auszuschließen. Es wird darauf hingewiesen, daß der Umfang der Erfindung lediglich durch die nachfolgenden Patentansprüche bestimmt und begrenzt ist.
Claims (11)
1. Elektrolumineszenzvorrichtung umfassend:
(a) mehrere Schichten einschließlich wenigstens einer transparenten
Elektrodenschicht (12; 12'; 56), einer hinteren Elektrodenschicht (20; 20'; 48) und
wenigstens drei Schichten (14, 16, 18; 14', 16', 18'; 54, 52, 50) einschließlich
einer Elektrolumineszenzschicht (16, 16', 52), welche sandwichartig
zwischen vorderen und hinteren dielektrischen Schichten (14, 18; 14', 18'; 54,
50) angeordnet ist, wobei sämtliche dieser drei Schichten zwischen der
hinteren Elektrodenschicht (20; 20'; 48) und der transparenten Elektrodenschicht
(12; 12'; 56) angeordnet sind, um Licht aufgrund der Einwirkung eines
elektrischen Feldes zwischen der transparenten Elektrodenschicht (12; 12'; 56)
und der hinteren Elektrodenschicht (20; 20'; 48) auszusenden; und
(b) eine lichtabsorbierende Dünnfilmschicht (28; 28'; 42), welche einen
beträchtlichen prozentualen Anteil des darauf einfallenden Lichtes absorbiert und
welche zwischen der hinteren Elektrodenschicht (20; 20'; 48) und der
hinteren dielektrischen Schicht (18; 18'; 50) angeordnet ist,
dadurch gekennzeichnet, daß
(c) die lichtabsorbierende Dünnfilmschicht (28; 28'; 42) einen ersten komplexen
Brechungsindex an einer ersten, der hinteren dielektrischen Schicht (18; 18';
50) benachbarten Seite aufweist, wobei die hintere dielektrische Schicht (18;
18'; 50) einen anfänglichen komplexen Brechungsindex hat, welcher an einer
der lichtabsorbierenden Schicht (28; 28'; 42) benachbarten Seite an den
ersten komplexen Brechungsindex weitgehend angepaßt ist; und
(d) die lichtabsorbierende Dünnfilmschicht (28; 28'; 42) an einer zweiten, der
hinteren Elektrodenschicht (20; 20'; 48) benachbarten Seite einen zweiten
komplexen Brechungsindex hat, wobei die hintere Elektrodenschicht (20; 20';
48) einen komplexen Brechungsindex hat, welcher an einer zweiten, der
lichtabsorbierenden Schicht (28; 28'; 42) benachbarten Seite an den zweiten
komplexen Brechungsindex weitgehend angepaßt ist.
2. Elektrolumineszenzvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
die erste Seite der lichtabsorbierenden Schicht (28; 28'; 42) transparent ist und
daß die zweite Seite im wesentlichen lichtundurchlässig ist.
3. Elektrolumineszenzvorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß
der erste komplexe Brechungsindex von der ersten Seite der lichtabsorbierenden
Schicht (28; 28'; 42) mit einem abgestuften Gradienten zum zweiten komplexen
Brechungsindex an der zweiten Seite der lichtabsorbierenden Schicht wechselt.
4. Elektrolumineszenzvorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß
der erste komplexe Brechungsindex monoton zum zweiten komplexen
Brechungsindex wechselt und daß:
(a) die lichtabsorbierende Dünnfilmschicht (28; 28'; 42) aus mehreren diskreten
Schichten zusammengesetzt ist, welche dünn in bezug auf die Wellenlänge
des Lichtes sind; und
(b) die mittlere optische Dicke der Dünnfilmschicht wenigstens so groß ist, daß
sie in der Größenordnung der Wellenlänge des Lichtes liegt.
5. Elektrolumineszenzvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß:
(a) der Brechungsindex des ersten komplexen Brechungsindex im Wert zum
Brechungsindex des zweiten komplexen Brechungsindex hin abnimmt; und
(b) der Extinktionskoeffizient des ersten komplexen Brechungsindex im Wert
zum Extinktionskoeffizienten des zweiten komplexen Brechungsindex hin
zunimmt.
6. Elektrolumineszenzvorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß:
(a) der erste Brechungsindex und der erste Extinktionskoeffizient im einzelnen
etwa 1, 75 und 0 betragen; und
(b) der zweite Brechungsindex und der zweite Extinktionskoeffizient im
einzelnen etwa 0,8 bis 6,0 betragen.
7. Verfahren zum Bilden einer TFEL-Vorrichtung mit einer lichtabsorbierenden
Dünnfilmschicht, welche einen beträchtlichen prozentualen Anteil des darauf
einfallenden Lichtes absorbiert, gekennzeichnet durch die folgenden Schritte:
(a) Herstellen eines lamellaren TEEL-Stapels einschließlich einer
Phosphorschicht, welche sandwichartig zwischen vorderen und hinteren dielektrischen
Schichten angeordnet ist;
(b) Beginnen mit der Abscheidung einer Dünnfilmabsorptionsschicht auf der
hinteren dielektrischen Schicht mit einem Material, das an den komplexen
Brechungsindex der hinteren dielektrischen Schicht weitgehend angepaßt ist;
und
(c) langsames Verändern der Zusammensetzung des Materials, derart, daß sich
der komplexe Brechungsindex der Dünnfilmabsorptionsschicht demjenigen
eines lichtundurchlässigen Materials annähert, sowie die
Dünnfilmabsorptionsschicht eine bestimmte Dicke erreicht.
8. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die in Schritt (b)
aufgebrachte Dünnfilmabsorptionsschicht ein Metalloxid aufweist und daß Schritt (c)
durch ein Reduzieren des Sauerstoffgehalts des Metalloxids durchgeführt wird,
während die Dünnfilmabsorptionsschicht abgeschieden wird.
9. Verfahren nach Anspruch 8, ferner gekennzeichnet durch den Schritt eines
Ausbildens von Lücken in der Absorptionsschicht zwischen benachbarten Elektroden.
10. Verfahren zum Bilden einer TFEL-Vorrichtung mit einer lichtabsorbierenden
Dünnfilmschicht, welche einen beträchtlichen prozentualen Anteil des darauf
einfallenden Lichtes absorbiert, gekennzeichnet durch die folgenden Schritte:
(a) Herstellen eines lamellaren TFEL-Stapels einschließlich einer
Phosphorschicht, welche sandwichartig zwischen vorderen und hinteren dielektrischen
Schichten angeordnet ist;
(b) Beginnen mit der Abscheidung einer Dünnfilmabsorptionsschicht auf einer
hinteren Elektrodenschicht mit einem Material, das an den komplexen
Brechungsindex der hinteren Elektrodenschicht weitgehend angepaßt ist; und
(c) langsames Ändern der Zusammensetzung des Materials während der
Abscheidung der Absorptionsschicht, derart, daß der komplexe Brechungsindex
der Dünnfilmabsorptionsschicht sich demjenigen eines transparenten
Materials annähert, sowie die Dünnfilmabsorptionsschicht eine bestimmte Dicke
erreicht.
11. Verfahren nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß die
Dünnfilmabsorptionsschicht in Schritt (b) ein Metalloxid aufweist und daß Schritt (c)
durchgeführt wird, indem der Sauerstoffgehalt des Metalloxids reduziert wird, während
die Dünnfilmabsorptionsschicht abgeschieden wird.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/208,732 US5504389A (en) | 1994-03-08 | 1994-03-08 | Black electrode TFEL display |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE69510972D1 DE69510972D1 (de) | 1999-09-02 |
DE69510972T2 true DE69510972T2 (de) | 1999-12-09 |
Family
ID=22775811
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE69510972T Expired - Fee Related DE69510972T2 (de) | 1994-03-08 | 1995-02-13 | Mit Schwarzelektrode TFEL-Anzeigegerät |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5504389A (de) |
EP (1) | EP0671865B1 (de) |
JP (1) | JP4011126B2 (de) |
DE (1) | DE69510972T2 (de) |
Families Citing this family (50)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2795207B2 (ja) * | 1994-03-31 | 1998-09-10 | 株式会社デンソー | エレクトロルミネッセンス表示器及びその製造方法 |
US5757127A (en) * | 1994-06-10 | 1998-05-26 | Nippondenso Co., Ltd. | Transparent thin-film EL display apparatus with ambient light adaptation means |
JP2896980B2 (ja) * | 1994-10-27 | 1999-05-31 | セイコープレシジョン株式会社 | El表示装置およびこのel表示装置を用いた発光文字板 |
JPH08190091A (ja) * | 1995-01-11 | 1996-07-23 | Aneruba Kk | 液晶ディスプレイ用薄膜基板及びこの薄膜基板を使用した液晶ディスプレイ並びに液晶ディスプレイ用薄膜基板の作成装置 |
KR0165867B1 (ko) * | 1995-01-21 | 1999-04-15 | 김은영 | 백색발광용 전계발광소자 및 그 제조방법 |
TW386609U (en) * | 1996-10-15 | 2000-04-01 | Koninkl Philips Electronics Nv | Electroluminescent illumination apparatus |
US5859442A (en) * | 1996-12-03 | 1999-01-12 | Micron Technology, Inc. | Circuit and method for configuring a redundant bond pad for probing a semiconductor |
JPH10333601A (ja) * | 1997-06-02 | 1998-12-18 | Canon Inc | エレクトロ・ルミネセンス素子及びその製造法 |
JPH113048A (ja) * | 1997-06-10 | 1999-01-06 | Canon Inc | エレクトロ・ルミネセンス素子及び装置、並びにその製造法 |
US6261852B1 (en) * | 1999-04-19 | 2001-07-17 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company | Check abnormal contact and via holes by electroplating method |
JP4766628B2 (ja) * | 2000-07-31 | 2011-09-07 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 表示装置および表示装置の製造方法 |
US6635306B2 (en) | 2001-06-22 | 2003-10-21 | University Of Cincinnati | Light emissive display with a black or color dielectric layer |
KR100472502B1 (ko) * | 2001-12-26 | 2005-03-08 | 삼성에스디아이 주식회사 | 유기 전계 발광 표시 장치 |
CA2419121A1 (en) * | 2002-05-03 | 2003-11-03 | Luxell Technologies, Inc. | Dark layer for an electroluminescent device |
JP4050972B2 (ja) * | 2002-10-16 | 2008-02-20 | 株式会社 日立ディスプレイズ | 表示装置 |
US7015639B2 (en) * | 2002-10-22 | 2006-03-21 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Electroluminescent devices and method of making transparent cathodes |
US7417782B2 (en) * | 2005-02-23 | 2008-08-26 | Pixtronix, Incorporated | Methods and apparatus for spatial light modulation |
US7045954B2 (en) * | 2003-06-17 | 2006-05-16 | City University Of Hong Kong | Organic light-emitting device with reduction of ambient-light-reflection by disposing a multilayer structure over a semi-transparent cathode |
WO2005117501A1 (en) * | 2004-05-25 | 2005-12-08 | Agency For Science, Technology And Research | Composite optical destructive electrode for high contrast electroluminescent devices |
US7405852B2 (en) | 2005-02-23 | 2008-07-29 | Pixtronix, Inc. | Display apparatus and methods for manufacture thereof |
US8310442B2 (en) | 2005-02-23 | 2012-11-13 | Pixtronix, Inc. | Circuits for controlling display apparatus |
US9261694B2 (en) | 2005-02-23 | 2016-02-16 | Pixtronix, Inc. | Display apparatus and methods for manufacture thereof |
US7304786B2 (en) | 2005-02-23 | 2007-12-04 | Pixtronix, Inc. | Methods and apparatus for bi-stable actuation of displays |
US8159428B2 (en) | 2005-02-23 | 2012-04-17 | Pixtronix, Inc. | Display methods and apparatus |
US9158106B2 (en) | 2005-02-23 | 2015-10-13 | Pixtronix, Inc. | Display methods and apparatus |
US8519945B2 (en) | 2006-01-06 | 2013-08-27 | Pixtronix, Inc. | Circuits for controlling display apparatus |
US20080158635A1 (en) * | 2005-02-23 | 2008-07-03 | Pixtronix, Inc. | Display apparatus and methods for manufacture thereof |
US7746529B2 (en) | 2005-02-23 | 2010-06-29 | Pixtronix, Inc. | MEMS display apparatus |
US20070205969A1 (en) | 2005-02-23 | 2007-09-06 | Pixtronix, Incorporated | Direct-view MEMS display devices and methods for generating images thereon |
US7304785B2 (en) | 2005-02-23 | 2007-12-04 | Pixtronix, Inc. | Display methods and apparatus |
US9082353B2 (en) | 2010-01-05 | 2015-07-14 | Pixtronix, Inc. | Circuits for controlling display apparatus |
US9229222B2 (en) | 2005-02-23 | 2016-01-05 | Pixtronix, Inc. | Alignment methods in fluid-filled MEMS displays |
US7999994B2 (en) * | 2005-02-23 | 2011-08-16 | Pixtronix, Inc. | Display apparatus and methods for manufacture thereof |
US8482496B2 (en) | 2006-01-06 | 2013-07-09 | Pixtronix, Inc. | Circuits for controlling MEMS display apparatus on a transparent substrate |
KR100704377B1 (ko) * | 2005-12-07 | 2007-04-09 | 한국전자통신연구원 | 평판 표시장치 및 그 제조방법 |
US8526096B2 (en) | 2006-02-23 | 2013-09-03 | Pixtronix, Inc. | Mechanical light modulators with stressed beams |
US7876489B2 (en) | 2006-06-05 | 2011-01-25 | Pixtronix, Inc. | Display apparatus with optical cavities |
EP2080045A1 (de) | 2006-10-20 | 2009-07-22 | Pixtronix Inc. | Lichtleiter und rücklichtsysteme mit lichtumlenkern bei variierenden dichten |
US7852546B2 (en) | 2007-10-19 | 2010-12-14 | Pixtronix, Inc. | Spacers for maintaining display apparatus alignment |
US9176318B2 (en) | 2007-05-18 | 2015-11-03 | Pixtronix, Inc. | Methods for manufacturing fluid-filled MEMS displays |
JP4743132B2 (ja) * | 2007-02-15 | 2011-08-10 | ティアック株式会社 | 複数のファンクションキーを有する電子機器 |
US8248560B2 (en) | 2008-04-18 | 2012-08-21 | Pixtronix, Inc. | Light guides and backlight systems incorporating prismatic structures and light redirectors |
US7920317B2 (en) * | 2008-08-04 | 2011-04-05 | Pixtronix, Inc. | Display with controlled formation of bubbles |
US8169679B2 (en) | 2008-10-27 | 2012-05-01 | Pixtronix, Inc. | MEMS anchors |
BR112012019383A2 (pt) | 2010-02-02 | 2017-09-12 | Pixtronix Inc | Circuitos para controlar aparelho de exibição |
EP2531881A2 (de) | 2010-02-02 | 2012-12-12 | Pixtronix Inc. | Verfahren zur herstellung einer mit einer kalten dichtungsflüssigkeit gefüllten anzeigevorrichtung |
TWI475574B (zh) * | 2012-02-29 | 2015-03-01 | Far Eastern New Century Coprration | 塗佈型透明導電膜結構及其應用 |
US9134552B2 (en) | 2013-03-13 | 2015-09-15 | Pixtronix, Inc. | Display apparatus with narrow gap electrostatic actuators |
CN104037358B (zh) * | 2014-06-16 | 2017-05-03 | 上海和辉光电有限公司 | 有机发光二极管显示面板 |
US9983423B2 (en) | 2015-09-22 | 2018-05-29 | Apple Inc. | Touch sensitive display with graded index layer |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3560784A (en) * | 1968-07-26 | 1971-02-02 | Sigmatron Inc | Dark field, high contrast light emitting display |
GB2017138B (en) * | 1978-02-03 | 1982-08-18 | Sharp Kk | Light absortion film for rear elecrodes of electroluminescent display panel |
DE3231727A1 (de) * | 1981-09-21 | 1983-04-07 | Sun Chemical Corp., New York, N.Y. | Elektrolumineszente anzeigevorrichtung |
US4634639A (en) * | 1984-04-30 | 1987-01-06 | Hoya Corporation | Electroluminescent panel having a light absorption layer of germanium oxide |
US4717859A (en) * | 1984-12-14 | 1988-01-05 | Gold Star Co., Ltd. | Polychromatic electro luminescence display device |
FR2582130B1 (fr) * | 1985-05-20 | 1987-08-14 | Menn Roger | Ecran matriciel electroluminescent trichrome et procede de fabrication |
US4870322A (en) * | 1986-04-15 | 1989-09-26 | Hoya Corporation | Electroluminescent panel having a layer of germanium nitride between an electroluminescent layer and a back electrode |
US5003221A (en) * | 1987-08-29 | 1991-03-26 | Hoya Corporation | Electroluminescence element |
US4963788A (en) * | 1988-07-14 | 1990-10-16 | Planar Systems, Inc. | Thin film electroluminescent display with improved contrast |
CA1302547C (en) * | 1988-12-02 | 1992-06-02 | Jerzy A. Dobrowolski | Optical interference electroluminescent device having low reflectance |
KR930010129B1 (ko) * | 1990-10-31 | 1993-10-14 | 주식회사 금성사 | 박막 el 표시소자의 제조방법 및 구조 |
US5232543A (en) * | 1992-07-17 | 1993-08-03 | Lear Seating Corporation, Inc. | Apparatus for bonding fabric to seat cushion trenches |
US5517080A (en) * | 1992-12-14 | 1996-05-14 | Westinghouse Norden Systems Inc. | Sunlight viewable thin film electroluminescent display having a graded layer of light absorbing dark material |
EP0673590B1 (de) * | 1992-12-14 | 1999-08-25 | United Technologies Corporation | Im sonnenlicht sichtbare elektrolumineszente dünn-schicht-vorrichtung mit geschwärzter metallelektrode |
US5445898A (en) * | 1992-12-16 | 1995-08-29 | Westinghouse Norden Systems | Sunlight viewable thin film electroluminescent display |
-
1994
- 1994-03-08 US US08/208,732 patent/US5504389A/en not_active Expired - Lifetime
-
1995
- 1995-02-13 DE DE69510972T patent/DE69510972T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1995-02-13 EP EP95300885A patent/EP0671865B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1995-03-08 JP JP04839395A patent/JP4011126B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4011126B2 (ja) | 2007-11-21 |
US5504389A (en) | 1996-04-02 |
JPH07288183A (ja) | 1995-10-31 |
DE69510972D1 (de) | 1999-09-02 |
EP0671865B1 (de) | 1999-07-28 |
EP0671865A1 (de) | 1995-09-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE69510972T2 (de) | Mit Schwarzelektrode TFEL-Anzeigegerät | |
DE69410513T2 (de) | Lichtemitierende Elemente | |
DE68926906T2 (de) | Optische elektrolumineszente Interferenz-Vorrichtung mit niedriger Reflexion | |
DE3784660T2 (de) | Anzeigevorrichtung. | |
DE69419387T2 (de) | Lumineszente Vorrichtung mit verstellbarer Wellenlänge und Kontrolmethode dafür | |
DE3941859C1 (de) | ||
DE3873975T2 (de) | Elektroskopische anzeigevorrichtung. | |
DE69223251T2 (de) | Elektrisch leitende, lichtdämpfende antireflektierende beschichtung | |
DE69531628T2 (de) | Lichtabsorbierender antireflektor | |
DE69122602T2 (de) | Elektrisch leitfähige, lichtschwächende antireflexbeschichtung | |
DE69533229T2 (de) | Antireflektierender belag für temperaturempfindlichen träger | |
DE69931045T2 (de) | Lichtabsorbierender antireflektierende körper und verfahren zur seiner herstellung | |
DE10152412A1 (de) | Filmschicht mit bestimmten optischen und elektrischen Eigenschaften | |
DE2903866A1 (de) | Anzeigevorrichtung | |
DE10133369A1 (de) | Plasmaanzeigeplatte | |
DE10056286B4 (de) | Substrat für Flüssigkristallanzeigeelemente | |
EP0006566A2 (de) | Flüssigkristallzelle | |
DE19501229A1 (de) | Dünnschicht-Lichtemissions-Element | |
DE10152410A1 (de) | Filmschicht mit bestimmten optischen und elektrischen Eigenschaften | |
DE69704287T2 (de) | Elektrolumineszenz-Vorrichtung und Herstellungsverfahren | |
DE10152411A1 (de) | Filmschicht mit bestimmten optischen und elektrischen Eigenschaften | |
DE4108121C2 (de) | Dünnfilm-Elektrolumineszenz-Anzeigevorrichtung mit hohem Kontrastverhältnis | |
DE3783450T2 (de) | Kathodenstrahlroehre mit antireflektionsschicht. | |
DE2347525C3 (de) | Sonnenschutzglas | |
DE19704135B4 (de) | Elektrolumineszenz-Anzeigegerät |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |