DE69424010D1 - Integrierte Halbleiterschaltung mit Selbsttestfunktion - Google Patents
Integrierte Halbleiterschaltung mit SelbsttestfunktionInfo
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5239341A JPH0794683A (ja) | 1993-09-27 | 1993-09-27 | 自己診断機能を有する半導体集積回路装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE69424010D1 true DE69424010D1 (de) | 2000-05-25 |
DE69424010T2 DE69424010T2 (de) | 2001-02-01 |
Family
ID=17043299
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1994624010 Expired - Fee Related DE69424010T2 (de) | 1993-09-27 | 1994-09-27 | Integrierte Halbleiterschaltung mit Selbsttestfunktion |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0645639B1 (de) |
JP (1) | JPH0794683A (de) |
DE (1) | DE69424010T2 (de) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3011095B2 (ja) * | 1996-03-15 | 2000-02-21 | 日本電気株式会社 | 自己診断機能を有する半導体集積回路装置 |
DE19742946C2 (de) * | 1997-09-29 | 2000-10-12 | Siemens Ag | Testschaltung auf einem Halbleiter-Chip |
DE19845064A1 (de) * | 1998-09-30 | 2000-04-13 | Siemens Ag | Halbleiterschaltkreis mit integrierter Selbsttestschaltung |
DE19852071C2 (de) | 1998-11-11 | 2000-08-24 | Siemens Ag | Integrierter Halbleiterchip mit über Bondpads voreingestellter Dateneingabe-/Datenausgabe-Organisationsform |
CN103630832B (zh) * | 2012-08-27 | 2016-03-02 | 特变电工新疆新能源股份有限公司 | 一种电力电子设备中开关件开机自检方法及装置 |
JP6962795B2 (ja) * | 2017-11-22 | 2021-11-05 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置および半導体システム |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR950008676B1 (ko) * | 1986-04-23 | 1995-08-04 | 가부시기가이샤 히다찌세이사꾸쇼 | 반도체 메모리 장치 및 그의 결함 구제 방법 |
ES2012483B3 (es) * | 1986-05-14 | 1990-04-01 | American Telephone & Telegraph Company | Circuito integrado con indicador de longitud de canal. |
-
1993
- 1993-09-27 JP JP5239341A patent/JPH0794683A/ja active Pending
-
1994
- 1994-09-27 DE DE1994624010 patent/DE69424010T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1994-09-27 EP EP19940115182 patent/EP0645639B1/de not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE69424010T2 (de) | 2001-02-01 |
EP0645639A1 (de) | 1995-03-29 |
EP0645639B1 (de) | 2000-04-19 |
JPH0794683A (ja) | 1995-04-07 |
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