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HINTERGRUND DER ERFINDUNG
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(1) Sachgebiet der Erfindung
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Diese
Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Vorrichtung zum
Erzeugen einer Test-Sequenz bzw. Prüf-Sequenz, um einen Fehler
in einer digitalen Schaltung zu testen.
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(2) Beschreibung des in
Bezug stehenden Stands der Technik
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Die
Anwendung einer LSI bei einer digitalen Schaltung ist heutzutage
umfangreich geworden, wobei sie auf jedem Gebiet verwendet wird.
Eine Technik zum Testen eines Fehlers in einer LSI ist von großer Wichtigkeit
entsprechend dem Fortschritt des LSI geworden, da Signale darin
nicht direkt beobachtbar und kontrollierbar sind.
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Verschiedene
Verfahren sind angegeben worden, um automatisch eine Test-Sequenz zum Testen
eines Fehlers in einer digitalen Schaltung zu erzeugen. Allgemein
wird das Vorhandensein eines Fehlers durch zuerst Eingeben einer
geeigneten Eingangssequenz zu einem Eingangsanschluss einer Schaltung,
die getestet werden soll, und dann durch Vergleichen des erhaltenen
Ausgangs eines Ausgangsanschlusses der Schaltung mit einem erwarteten
Ausgang geprüft.
Diese Eingangssequenz ist die Test-Sequenz, die erzeugt wird, um
jeden vermuteten Fehler zu erfassen.
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Herkömmliche
Test-Sequenz-Erzeugungsverfahren sind, zum Beispiel, in Kapitel
1, 1.4.2, „Stuck
at Fault Testing",
eines Referenz-Buchs, mit dem Titel „FAULT TOLERANT COMPUTIN:
THEORY AND TECHNIQUES",
Volume I, herausgegeben von PRENTICEHALL, Englewood Cliff, New Jersey, und „HITEC:
A TEST GENERATION PACKAGE FOR SEQUENTIAL CIRCUITS" von T. Niemann und
J. H. Patel, als eine Referenz der European Design Automation Conference,
1991, offenbart. Weitere Entwicklungen sind durch die folgenden
Dokumente offenbart.
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In
der EP-A-0535573 wird, wenn ein System fehlschlägt, einen Schaltungs-Zustand
einzustellen, der Schaltungs-Zustand als ein nicht zulässiger Zustand
gespeichert. Auf diese Art und Weise wird ein Schaltungs-Zustand
davor bewahrt, dass er mit dem nicht zulässigen Zustand zu dem Zeitpunkt
einer Erzeugung einer darauf folgenden Test-Sequenz übereinstimmt. Demzufolge kann
die Möglichkeit
einer Erzeugung einer erfolg reichen Test-Sequenz erhöht werden
und das System zur Erzeugung der Test-Sequenz kann eine höhere Fehlererfassung
erreichen.
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Anstelle
einer Vorwärts-Fehlerpropagation, um
sensitivierte Pfade zu erzeugen, schlägt Cheng in „The Back
Algorithm for Sequential Test Generation" [Proceedings of the International Conference
on Computer Design: VLSI in Computers and Processors, (ICCD), New
York, 3.–5.
Oktober 1998, No. -, 3. Oktober 1998, Institute of Electrical and
Electronics Engineers, Seiten 66–69, XP000119185] einen modifizierten
D-Algorithmus vor, der dazu verwendet wird, die sensitivierten Pfade
rückwärts durch
Einstellen der erforderlichen, sensitivierten Werte zu erzeugen.
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Im
Gegensatz zu früheren
Maßnahmen
zerlegen Gosh et al. in „Test
Generation and Verification for Highly Sequential Circuits" (IEEE Transactions
on Computer Aided Design of Integrated Circuits and Systems, Vol.
10, No. 5, 1. Mai 1991, New York, Seiten 652–667, XP000236537) das Problem
einer sequenziellen Test-Erzeugung in drei Unterprobleme: kombinationsmäßige Test-Erzeugung;
fehlerfreie Zustand-Einstellung; und fehlerfreie Zustand-Differenzierung.
Zu Anfang werden, vor einer Test-Erzeugung, getrennte Summen von
Produkt-Darstellungen der vollständigen
und teilweisen EIN-Einstellungen und AUS-Einstellungen jedes der
Flip-Flop-Eingänge und
von primären
Ausgängen
der sequenziellen Schaltung, unter Verwendung des PODEM-Algorithmus,
extrahiert. Schnelle Algorithmen für eine Zustand-Einstellung
und eine Zustand-Differenzierung basierend auf dieser Darstellung
werden beschrieben.
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Ein
neuer, deterministischer Test-Muster-Erzeugungs-Algorithmus für sequenzielle
Schaltungen wird durch Heap et al. in „STarsS: A Target Switching Algorithm
for Sequential Test Generation" (Digest
of Papers of the 1991 IEEE VLSI Test Symposium, 15.–17. April,
Atlantic City, Seiten 210–214, XP000573424)
vorgestellt. Der STarS Algorithmus beginnt mit einem Erzeugen einer
Test-Sequenz für einen
spezifischen Soll-Fehler, allerdings protokolliert, wenn dieses
Muster erzeugt wird, er den Satz von Fehlern, die auch diese Sequenz
als Teil eines Tests verwenden. Ein Backtracking bzw. Rücksetzen wird
durch Umschalten des Soll-Fehlers auf ein Element dieses Fehler-Satzes
vermieden und Teilsequenzen werden erneut so oft wie möglich versucht.
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Schließlich geben
Razdan et al., in „An
Interactive Sequential Test Pattern Generation System" (Proceedings of
the 1989 International Test Conference, 29.–30. August, Washington DC,
Seiten 38–46,
XP000089928) ein Tool für
eine automatische Test-Muster- Erzeugung
an, das dem Designer ermöglicht,
den Test-Erzeugungs-Prozess zu beeinflussen, und verwendet innovative
Heuristiken und sequenzielle Grundstrukturen auf hohem Niveau.
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Ein
herkömmliches
Verfahren zum Erzeugen einer Test-Sequenz ist im Detail wie folgt:
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Ein
Fehler, der erfasst werden soll, ist ein Stuck-at-Fault, was ein
Modell-Fehler ist, angenommen basierend auf einer Schaltung, die
getestet werden soll. Ein solcher Fehler verursacht einen Wert einer
Signalleitung in der Schaltung, die auf entweder eine logische 0
oder eine logische 1 gelegt werden soll, was jeweils als ein „Stuck-at-0-Fault" und „Stuck-at-1-Fault" bezeichnet wird.
Diese Stuck-at-Faults sind zuvor in einer Fehlertabelle registriert,
die in 1 dargestellt ist, und zwar basierend auf einer
Net-Liste der Schaltung. Die Tabelle enthält fünf Spalten, „Signalleitungen", die alle Signalleitungen
in der Schaltung anzeigt, „Fehler", die entweder einen
Stuck-at-0-Fault (s-a-0) oder einen Stuck-at-1-Fault (s-a-1) anzeigt, „Erfassung", die eine erfolgreiche
Erfassung oder eine Erfassungsfähigkeit
durch eine Test-Sequenz für
einen anderen Fehler mit einer 1 anzeigt, „Prozess", die den Abschluss eines Test-Sequenz-Erzeugungsprozesses mit
einer 1 anzeigt (es spielt keine Rolle, ob der Prozess erfolgreich
ist oder nicht), und „redundante
Fehler", die eine
Redundanz anzeigt, d. h. eine nicht Erfassbarkeit eines Fehlers
durch eine 1. Zum Beispiel ist s-a-0 in der Signalleitung „a" dahingehend befunden
worden, nicht ein redundanter Fehler durch den Prozess zu sein,
und eine Test-Sequenz ist erfolgreich erzeugt worden, wobei andererseits
s-a-1 in der Signalleitung „c" dahingehend befunden
worden ist, nicht ein redundanter Fehler zu sein, und die Erzeugung
einer Test-Sequenz ist nicht erfolgreich gewesen.
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Das
herkömmliche
Verfahren zum Erzeugen einer Test-Sequenz in einer sequenziellen
Schaltung ist in der Form eines Flussdiagramms in 2 dargestellt.
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In
dem Flussdiagramm beginnt der Prozess zur Erzeugung einer Test-Sequenz
am Schritt 401.
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Im
Schritt 402 wird beurteilt, ob irgendein Fehler, mit Ausnahme
redundanter Fehler, für
die eine Test-Sequenz noch nicht erzeugt worden ist (nachfolgend
bezeichnet als ein nicht erfasster Fehler), und für die ein
Test-Sequenz-Erzeugungsprozess bis jetzt nicht durchgeführt worden
ist (nachfolgend bezeichnet als ein nicht bearbeiteter Fehler), vorhanden
ist. Falls einer vorhanden ist, schreitet das System, das diesen
Prozess ausführt, zu
Schritt 403 fort, und ansonsten geht das System zu Schritt 408 über, um
den Prozess zu beenden.
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Im
Schritt 403 wird, unter nicht erfassten und nicht bearbeiteten
Fehlern, ein Fehler, für
den eine Test-Sequenz erzeugt ist (nachfolgend bezeichnet als ein
Soll-Fehler), ausgewählt,
und gleichzeitig wird die entsprechende Reihe in der Spalte „Prozess" auf eine 1 gesetzt.
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Im
Schritt 404 wird ein Test-Muster für einen Soll-Fehler als ein
primärer
Schritt für
die Testsequenz-Erzeugung, und zwar nur für die kombinationsmäßige Schaltung,
um zu prüfen,
ob der Fehler ein logisch unerfasster Fehler ist (nachfolgend bezeichnet
als ein redundanter Fehler), erzeugt. Wenn der Soll-Fehler dahingehend
befunden ist, dass er ein redundanter Fehler ist oder mehr Zeit
erfordert, als zugelassen ist, um eine Test-Sequenz zu erzeugen,
wird die entsprechende Reihe in der Spalte „redundanter Fehler" auf eine 1 gesetzt
und das System geht zurück
zu Schritt 402. Im Schritt 404 wird ein solcher
nicht erfasster Fehler vor der Erzeugung der Test-Sequenz ausgeschlossen.
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Im
Schritt 405 wird eine Test-Sequenz für den Soll-Fehler, ausgewählt in dem
Schritt 403, erzeugt, um die Effekte des Soll-Fehlers von
der Fehlerstelle zu irgendeinem externen Ausgangs-Anschlussstift
zu propagieren (nachfolgend bezeichnet als ein Fehler-Propagations-Prozess).
Falls der Fehler-Propagations-Prozess erfolgreich ist, geht das System
weiter zu Schritt 406, und ansonsten geht das System zurück zu Schritt 402,
um den nächsten Soll-Fehler
zu verarbeiten.
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Im
Schritt 406 wird eine Test-Sequenz erzeugt, um den Anfangszustand
der Schaltung zu einem Zustand zu überführen, der auftrat, als der
Fehler-Propagations-Prozess
gerade abgeschlossen worden ist (nachfolgend bezeichnet als ein
Zustand-Initialisierungs-Prozess).
Falls der Prozess erfolgreich ist, dann geht das System weiter zu
Schritt 407, und ansonsten geht das System zurück zu Schritt 402,
um den nächsten
Soll-Fehler zu bearbeiten.
Der Anfangszustand kann irgendein Zustand sein; allerdings kann,
allgemein, solange wie alle Flip-Flops (nachfolgend bezeichnet als
FFs) in der Schaltung, die getestet werden soll, entweder in einem „don't care" Zustand oder in
einem unbekannten Zustand vorliegen, eine Test-Sequenz, durch die
ein Fehler-Test durchgeführt
werden kann, in welchem Zustand auch immer sich die sequenzielle
Schaltung befindet, erhalten werden. Tatsächlich kann, wenn die Schaltung
in einem Zustand vorlag, der auf trat, als ein unmittelbar vorhergehender
Fehler-Test gerade abgeschlossen worden ist, die Zeit, die für aufeinanderfolgende
Fehler-Tests erforderlich ist, verkürzt werden.
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Im
Schritt 407 wird eine Fehler-Simulation mit der Test-Sequenz
des Soll-Fehlers, ausgewählt im
Schritt 403, durchgeführt,
und die entsprechende Reihe in der Spalte „Erfassung" wird als eine 1 gesetzt. Mehr als ein
Soll-Fehler kann erfasst werden, da alle Fehler in dem gemeinsamen
Pfad gleichzeitig simuliert werden.
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Im
Schritt 408 endet der Prozess zur Erzeugung einer Test-Sequenz.
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Der
Fehler-Propagations-Prozess von Schritt 405, der auf einer
REVERSE TIME PROCESSING (RTP) basiert, ist in Form eines Flussdiagramms
in 3 dargestellt. Entsprechend einer RTP wird eine
sequenzielle Schaltung, die logisch aus einer kombinationsmäßigen Schaltung
und FFs besteht, als eine Reihe von kombinationsmäßigen Schaltungen,
iteriert in einer Zeit-Sequenz, die noch logisch gleich zu der sequenziellen
Schaltung sind, behandelt. In der Reihe von Schaltungen wird ein Pfad,
der sich von einem externen Ausgang, der das Ziel des Soll-Fehlers
ist, bis zu der Fehlerstelle erstreckt, heuristisch bestimmt und
zurück
nachvollzogen, und dann wird eine Eingangs-Sequenz für das Fehlersignal,
um entlang des Pfads propagiert zu werden, durch den Fehler-Propagations-Prozess aufgefunden.
Bei diesem Prozess wird ein Eingang für das Fehlersignal des Soll-Fehlers,
um zu propagieren, an jeder iterierten, kombinationsmäßigen Schaltung
gefunden (nachfolgend bezeichnet als ein Timeframe), das bedeutet,
der Pfad wird aktiviert.
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Genauer
gesagt werden die nachfolgenden Schritte in jedem Timeframe so ausgeführt, wie
dies in 3 dargestellt ist:
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In
dem Flussdiagramm beginnt die Fehler-Propagations-Verarbeitung am
Schritt 601.
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Im
Schritt 602 wird beurteilt, ob ein Pfad, umfassend einen
Soll-Fehler, sensitiviert worden ist oder nicht. Falls dies der
Fall ist, dann wird der Fehler-Propagations-Prozess als ein Erfolg
angesehen. Das System geht zu Schritt 605 über, und
geht ansonsten zu Schritt 603 über.
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Im
Schritt 603 wird die Stelle eines Soll-Fehlers oder einer
der Ausgänge
der FFs entsprechend zu den Eingängen
der kombinationsmäßigen Schaltung
als eine D-Frontier ausgewählt.
Dann wird die D-Frontier einem Fehler-Signal zugeordnet und dann wird
das Fehler-Signal zu irgendeinem externen Ausgangs-Anschlussstift
oder zu dem Eingang der D-Frontier, ausgewählt in einem unmittelbar vorhergehenden
Timeframe (nachfolgend bezeichnet als Vorgabe-PPO), durch Zuordnen
von Eingangswerten und Zustandswerten jeweils zu den externen Eingangs-Anschlussstiften
und den Ausgängen
der FFs, propagiert. Falls der Fehler-Propagations-Prozess erfolgreich
ist, dann geht das System weiter zu Schritt 604, und ansonsten
geht es zu Schritt 605.
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In
dem Schritt 604 werden die Zustandswerte, die so den externen
Eingangs-Anschlussstiften zugeordnet sind, um den Fehler-Propagations-Pfad zu
sensitivieren, als Test-Sequenz gespeichert, wobei das System dann
zu Schritt 602 mit dem Eingang an FF weiter geht, dessen
Ausgang die D-Frontier ist, als neue Vorgabe-PPO.
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Im
Schritt 605 endet der Fehler-Propagations-Prozess.
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Der
Zustand-Initialisierungs-Prozess von Schritt 406 ist in
Form eines Flussdiagramms in 4 gezeigt.
In diesem Prozess wird eine Eingangs-Sequenz basierend auf Zustandswerten,
zugeordnet so, dass der Zustand-Übergang
von einem Zustand, der dann auftrat, als der Fehler-Propagations-Prozess
gerade abgeschlossen worden ist, beginnt (nachfolgend bezeichnet
als ein Fehler-Anregungs-Zustand), was zurück zu dem Anfangs-Zustand führt, im
Gegensatz zu dem Zustand-Übergang in
einem tatsächlichen
Fehler-Test.
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In 4 beginnt
der Zustand-Initialisierungs-Prozess am Schritt 501.
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Im
Schritt 502 wird beurteilt, ob der momentane Zustand der
Schaltung mit dessen Anfangszustand übereinstimmt oder nicht. Falls
sie übereinstimmend
sind, dann geht das System weiter zu Schritt 505, um den
Prozess zu beenden, und ansonsten geht das System weiter zu Schritt 503.
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Im
Schritt 503 wird der momentane Zustand durch Zuordnen von
Zustandswerten zu den Ausgängen
der externen Eingangs-Anschlussstifte und der FFs eingestellt. Falls
die Einstellung erfolgreich ist, dann geht das System weiter zu
Schritt 504, und ansonsten geht es zu Schritt 505 über, um
den Prozess zu beenden.
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Im
Schritt 504 werden die Zustandswerte, die so zu den externen
Eingangs-Anschlussstiften
zugeordnet sind, als eine Test-Sequenz gespeichert, wogegen die
Zustandswerte, die den Ausgängen
der FFs zugeordnet sind, das bedeutet die Zustandswerte, die den
momentanen Zustand eingestellt haben, als der momentane Zustand
definiert. Dann geht das System zurück zu Schritt 502.
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Im
Schritt 505 endet der Zustand-Initialisierungs-Prozess.
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Die
Betriebsweise der Test-Sequenz-Erzeugung, die den vorstehend angegebenen
Aufbau besitzt, wird nachfolgend beschrieben:
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Zuerst
wird ein Soll-Fehler unter nicht erfassten und nicht verarbeiteten
Fehlern, dargestellt in der Fehler-Tabelle in 1,
ausgewählt
(Schritte 401–403 in 2).
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Dann
wird ein Test-Muster für
das binäre Schaltnetz
in einer Schaltung, die getestet werden soll, erzeugt, um zu prüfen, ob
der ausgewählte Soll-Fehler
ein redundanter Fehler ist oder zusätzliche Zeit für den Prozess
erforderlich ist. Die Schaltung, die getestet werden soll, ist in 5(a) dargestellt, und deren vereinfachtes
Diagramm ist in 5(b) dargestellt.
Da die Schaltung logisch in ein binäres Schaltnetz und FFs unterteilt
werden kann, wird davon ausgegangen, dass die Eingänge des
binären
Schaltnetzes aus externen Eingangs-Anschlussstiften, die primäre Eingänge (nachfolgend bezeichnet
als PIs) und pseudo-primäre
Eingänge (nachfolgend
bezeichnet als PPIs), ausgegeben von den FFs, sind, bestehen, wogegen
die Ausgänge
der kombinationsmäßigen Schaltung
aus den externen Ausgangs-Anschlussstiften bestehen, die primäre Ausgänge (nachfolgend
bezeichnet als POs) und pseudo-primäre Ausgänge, eingegeben zu den FFs (nachfolgend
bezeichnet als PPOs), sind.
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Ein
Testmuster für
das binäre
Schaltnetz wird durch Zuordnen eines geeigneten Eingangs-Werts unter
Verwendung der PIs und der PPIs der Eingänge ebenso wie der POs und
der PPOs der Ausgänge des
binären
Schaltnetzes erzeugt, so dass das Fehler-Signal eines Soll-Fehlers zu irgendeinem
Ausgang im Schritt 404 propagiert wird. Als Ergebnis schreitet,
wenn die Test-Muster-Erzeugung erfolgreich ist, das System weiter
zu Schritt 405, wogegen dann, wenn ein Soll-Fehler ein
redundanter Fehler ist, eine 1 in der Spalte des „redundanten
Fehlers" in der
Fehler-Tabelle eingestellt wird, und das System geht zurück zu Schritt 402,
um den nächsten Soll-Fehler
auszuwählen.
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Im
Schritt 405 wird ein Prozess einer Fehler-Propagation ausgeführt, um
eine Test-Sequenz für den Soll-Fehler
zu erzeugen, wie dies in 6 dargestellt ist. Die Zeichnung
enthält
drei Timeframes 701, 702 und 703 in der
sequenziellen Schaltung, die als erster, zweiter und dritter jeweils
verarbeitet werden. Diese Timeframes entsprechen dem binären Schaltnetz,
das entsprechend dem Zustand-Übergang
der FFs, separiert von dem binären
Schaltnetz, erweitert ist. (Als Referenz wird die Schaltung der 5(b) erweitert und ist in 7 dargestellt).
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Obwohl
nur drei Timeframes in 6 zur Vereinfachung dargestellt
sind, sind im Gegensatz dazu zahlreiche Timeframes in einer tatsächlichen LSI
erforderlich. Es sollte angemerkt werden, dass der Fehler-Propagations-Prozess
umgekehrt von dem Timeframe 701 bis zu dem Timeframe 703 entgegen
dem tatsächlichen
Betrieb einer sequenziellen Schaltung fortschreitet. 6 enthält weiterhin
einen externen Ausgangs-Anschlussstift 704 der sequenziellen
Schaltung, einen Propagations-Pfad 705 eines Fehler-Signals
in dem Timeframe 701, einen anderen Fehler-Propagations-Pfad 706 in
dem Timeframe 702, FFs 707–709, verwendet in
dem Timeframe 701, FFs 710–712, verwendet in
dem Timeframe 702, und eine Fehlerstelle 713 für den Soll-Fehler „a".
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Der
Fehler-Propagations-Prozess, der in Form eines Flussdiagramms in 3 dargestellt
ist, wird nachfolgend im Detail unter Bezugnahme auf 6 angegeben.
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In
dem ersten Timeframe 701 kann der Soll-Fehler 713 nicht
aufgrund davon sensibilisiert werden, dass er zu POs kombinationsmäßig unerreichbar
ist (Schritt 602 in 3), so dass
der Ausgang von FF3 (709) heuristisch als ein D-Frontier ausgewählt ist.
Der Fehler-Propagations-Pfad 705 wird so sensitiviert,
um ein Fehler-Signal 703 zu FF3 (709) zuzuordnen,
und es zu dem externen Ausgangs-Anschlussstift 704 zu propagieren.
Mit anderen Worten werden Zustandswerte zu den externen Eingangs-Anschlussstiften
und den FFs zugeordnet, um den Pfad, der von FF3 (709)
bis zu dem externen Ausgangs-Anschlussstift 704 führt, zu
sensitivieren (Schritt 603). Die Zustandswerte, die erfolgreich
zugeordnet sind, werden als Test-Sequenz gespeichert, und der Eingang
von FF3, dessen Eingang das D-Frontier ist, wird als ein neuer Soll-PPO
eingestellt. Dann geht das System zurück zu Schritt 602 (Schritt 604).
Da der Soll-Fehler bis zu diesem Punkt noch nicht sensitiviert worden
ist, schreitet das System weiter zu Schritt 603 (Schritt 602).
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In
dem nächsten
Timeframe 702 wird der Ausgang von FF3 (709),
ausgewählt
als ein D-Frontier in dem Timeframe 701, zu einem Soll-PPO
gemacht, und FF2 (711) wird heuristisch als ein D-Frontier
ausgewählt.
Dann wird FF2 (711) einem Fehler-Signal zugeordnet und
das Fehler-Signal wird zu dem Eingang von FF3 (709) als
ein Soll-PPO durch Sensitivieren des Fehler-Propagations-Pfads 706 propagiert
(Schritt 603). Der erfolgreich zugeordnete Zustandswert
wird als eine Test-Sequenz gespeichert und der Eingang von FF2 wird
als ein neuer Soll-PPO eingestellt (Schritt 604).
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In
dem nächsten
Timeframe 703 wird der Ausgang von FF2 (711),
ausgewählt
in dem Timeframe 702 als ein D-Frontier, zu einem Soll-PPO
gemacht. Es wird angenom men, dass ein Fehler-Signal nicht zu dem
Eingang von FF2 (711) als das Soll-PPO propagiert werden
kann, immer wenn ein D-Frontier ausgewählt ist (Schritt 603).
Da der Fehler-Propagations-Prozess
für den
Fehler 713 demzufolge nicht erfolgreich ist, endet der
Fehler-Propagations-Prozess (Schritt 604). Darauffolgend
geht das System zurück
zu Schritt 402 in 2 (Schritt 405), um
den nächsten
Soll-Fehler auszuwählen
und um denselben Prozess zu wiederholen (Schritte 402–405).
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Andererseits
werden, wenn das Fehler-Signal erfolgreich zu dem Soll-Fehler 713 in
dem Timeframe 703 propagiert wird, die Zustandswerte, zugeordnet
zu den externen Eingangs-Anschlussstiften in jedem Timeframe, als
eine Test-Sequenz erzeugt. Allerdings befindet sich der Zustand
jedes FF in einem Fehler-Anregungs-Zustand (in dem vorstehenden Fall
entspricht er dem Zustandswert, der erfolgreich dem Timeframe 703 zugeordnet
ist), so dass die Test-Sequenz, die so erzeugt ist, nur für den Fehler-Anregungs-Zustand effektiv
ist. Deshalb ist ein Auffinden einer Sequenz, um den Anfangs-Zustand der
Schaltung zu deren Fehler-Anregungs-Zustand zu überführen, erforderlich. Dies ist
der Zustand-Initialisierungs-Prozess.
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Die
Betriebsweise des Zustand-Initialisierungs-Prozesses wird nachfolgend
unter Bezugnahme auf 8 beschrieben.
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In
der Zeichnung bezeichnen die Bezugszeichen 801–804 jeweils
einen Zustand der Schaltung, 801 stellt einen Fehler-Anregungs-Zustand
dar, 804 stellt einen Anfangs-Zustand dar. Verzweigungen 805–808 zeigen
die Möglichkeit
von Übergängen jeweils
von einem Zustand 802 zu einem Zustand 801, von
einem Zustand 803 zu einem Zustand 802, von einem
Zustand 801 zu einem Zustand 803 und von einem
Zustand 804 zu einem Zustand 803 an.
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An
dem Punkt des Abschlusses des Fehler-Propagations-Prozesses ist
der momentane Zustand der Zustand 801 (S1), der nicht mit
dem Anfangs-Zustand übereinstimmt
(Schritt 502 in 4). Deshalb wird der momentane
Zustand eingestellt, das bedeutet die Zustände der externen Eingänge und
der FFs werden so zugeordnet, dass der momentane Zustand übertragen
werden kann. Hierbei wird angenommen, dass die Zuordnung des Zustands 802 (S2)
zu den FFs eingestellt ist (Schritt 503). Der eingestellte
Zustand wird als ein neuer, momentaner Zustand behandelt (S2) (Schritt 504).
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Der
momentane Zustand wird in derselben Art und Weise eingestellt und
der Zustand S3 wird zu einem neuen, momentanen Zustand gemacht (Schritte 502–504).
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Bei
der Einstellung des momentanen Zustands S3 kann der momentane Zustand
S3 von irgendeinem der Zustände
S1 und S4 übertragen
werden. Wenn der eingestellte Zustand der Zustand S4 ist, ist die
Zustand-Initialisierung erfolgreich. In diesem Fall kann eine Fehler-Test-Sequenz
durch Kombinieren einer Eingangs-Sequenz, erhalten in einem vorherigen
Fehler-Propagations-Prozess, und einer anderen Eingangs-Sequenz,
zugeordnet in dem Zustand-Initialisierungs-Prozess, erhalten werden.
Im Gegensatz dazu wird, wenn der eingestellte Zustand der Zustand
S1 ist, die Zustand-Initialisierung nicht erfolgreich wiederholt,
was zu einer Schleife eines Zustand-Übergangs führt, wobei niemals der Anfangs-Zustand
erhalten wird.
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Nachdem
der Zustand-Initialisierungs-Prozess durchgeführt ist, wird eine Fehler-Simulation für den Soll-Fehler
unter Verwendung der erhaltenen Test-Sequenz ausgeführt. Nachdem
bestätigt
ist, dass der Soll-Fehler durch die externen Ausgangs-Anschlussstifte
erfassbar ist, wird die entsprechende Reihe in der Spalte „Erfassung" auf eine 1 gesetzt
(Schritt 407 in 2). Dann geht das System zurück zu Schritt 402.
Das vorstehende Verhalten wird weiter wiederholt, um den Test-Sequenz-Erzeugungs-Prozess
für jeden
Soll-Fehler auszuführen.
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Schließlich wird
der Test-Sequenz-Erzeugungs-Prozess in der Schaltung in 7 nachfolgend
beschrieben. Das „X" markiert die Signalleitungen,
die Soll-Fehler darstellen.
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Ein erster Timeframe in
dem Propagations-Prozess
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Es
wird angenommen, dass, da die Sensitivierung eines Pfads, der einen
Soll-Fehler besitzt,
mit einer „X" Markierung nicht
abgeschlossen worden ist (Schritt 602 in 6),
ein Ausgang Y2 von FF2 als ein D-Frontier ausgewählt wird (die erstere Hälfte von Schritt 603).
In dem binären
Schaltnetz werden die Zustandswerte, um den Pfad zwischen einem
Eingangs-Signal y2 und einem externen Ausgangs-Anschlussstift 0
zu sensitivieren, wie folgt zugeordnet:
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Zwei
Eingänge
(I, y2) eines UND-Gatters G2 müssen
(1, D) für
ein Fehler-Signal D sein, um zu dem externen Ausgangs-Anschlussstift
0 hin ausgegeben zu werden. In diesem Fall kann ein Eingang y1 „don't" nicht sicher sein (don't care). Dementsprechend
wird ein Zustandswert (I, y2 x2) = (1, X, D) zugeordnet, (die letztere
Hälfte
von Schritt 603). Dieser Zustandswert (I, X, D) wird als
Teil der Test-Sequenz gespeichert, und der Eingang y2 von FF2 (Schritt 604)
wird zu einem neuen Soll-PPO gemacht.
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Ein zweiter Timeframe
in dem Propagations-Prozess
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Es
wird angenommen, dass ein Soll-Fehler mit einer „X" Markierung als ein D-Frontier ausgewählt worden
ist (Schritt 602 und die erstere Hälfte von Schritt 603).
In dem binären
Schaltnetz werden die Zustandswerte, um einen Pfad zwischen dem Soll-Fehler
und Y2 des Soll-PPO zu sensitivieren, wie folgt zugeordnet:
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Zwei
Eingänge
eines ODER-Gatters G3 (der Ausgang von G1, y1) müssen (D, 0) für das Fehler-Signal
D sein, um zu Y2 ausgegeben zu werden, und, zusätzlich, müssen zwei Eingänge des UND-Gatters
G1 (I, Soll-Fehler) (1, D) sein. Deshalb wird ein Zustandswert (I,
y1, y2) = (1, 0, 0) zugeordnet (die letztere Hälfte von Schritt 603).
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Dieser
Zustandswert (1, 0, 0) wird als Teil der Test-Sequenz gespeichert,
und ein Eingang y1 von FF1 (Schritt 604) wird zu einem
neuen Soll-PPO gemacht. Allerdings endet, da der Soll-Fehler sensitiviert
worden ist (Schritt 602), der Propagations-Prozess (Schritt 605).
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Zustand-Initialisierungs-Prozess
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In
Folge wird ein Zustand-Initialisierungs-Prozess durchgeführt. Falls
angenommen wird, dass der Anfangs-Zustand (FF1, FF2) = (0, 0) ist,
dann endet der Zustand-Initialisierungs-Prozess unmittelbar
(Schritte 502 und 505 in 4).
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Das
Nachfolgende ist eine Beschreibung eines Falls, bei dem der Anfangs-Zustand
(FF1, FF2) = (X, X) ist, und das bedeutet, er ist nicht sicher (don't care). Da der Anfangs-Zustand (X, X) und
der momentane Zustand (0, 0) nicht miteinander übereinstimmen (Schritt 502),
wird ein Zustandswert, um den momentanen Zustand einzustellen, zugeordnet.
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Um
FF1 (Y1 = 0) einzustellen, sollten die zwei Eingänge des UND-Gatters G1 (I,
y2) (0, X) sein, und um FF2 (Y2 = 0) einzustellen, sollten die zwei
Eingänge
des ODER-Gatters
G3 (der Ausgang von G1, y1) (0, 0) sein. In diesem Fall sollte y2
X sein. Deshalb stellt ein Zuordnen von I = 0 als den Eingangs-Wert
den Zustand (0, 0) auf (Schritt 503).
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Dieser
Eingangs-Wert I = 0 wird als Teil der Test-Sequenz gespeichert und
der eingestellte Zustand (0, X) wird zu dem momentanen Zustand gemacht
(Schritt 504). Da er nicht mit dem Anfangs-Zustand übereinstimmt
(Schritt 502), wird der momentane Zustand eingestellt.
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Um
FF1 (Y1 = 0) einzustellen, sollten zwei Eingänge eines UND-Gatters G1 (I,
y1) (0, X) sein, und, um FF2 (Y2 = 0) einzustellen, sollten die
zwei Eingänge
des ODER- Gatters
G3 (der Ausgang von G1, y1) (0, X) sein. In diesem Fall sollte y1
X sein, so dass ein Zuordnen von I = 0 als der Eingangs-Wert den
Zustand (0, X) aufstellt (Schritt 503).
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Dieser
Eingangs-Wert I = 0 wird als Teil der Test-Sequenz gespeichert und
der eingestellt Zustand (X, X) wird zu dem momentanen Zustand gemacht
(Schritt 504). Da er mit dem Anfangs-Zustand übereinstimmt
(Schritt 502), wird der Einstellungs-Prozess beendet (Schritt 505).
-
Darauffolgend
wird eine Sequenz {0011} erhalten, die zu dem Eingangs-Signal I
eingegeben werden sollte.
-
Allerdings
verbleiben, gemäß dem Verfahren zum
Erzeugen einer Test-Sequenz, das so beschrieben ist, viele Fehler
unerfasst durch Fehlen irgendeiner eingerichteten Strategie für Prozesse
einer nicht erfolgreichen Fehler-Propagation oder von Zustand-Initialisierungs-Prozessen.
-
ZUSAMMENFASSUNG
DER ERFINDUNG
-
Im
Hinblick auf die vorstehenden Umstände ist es eine Aufgabe dieser
Erfindung, ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Erzeugen einer
Test-Sequenz zu schaffen, mit einer hohen Fehlererfassung, durch
Verbessern der Chance eines erfolgreichen Fehler-Propagations-Prozesses.
-
Gemäß einem
Aspekt der Erfindung wird ein Verfahren zum Erzeugen einer Test-Sequenz geschaffen,
um einen angenommen Stuck-at-Fault in einer sequenziellen Schaltung,
erweitert als eine Reihe von Timeframes, zu testen, wobei das Verfahren aufweist:
Rückwärtsverfolgung
in den Timeframes, um ein Fehlersignal des Stuck-at-Fault entlang
eines Pfads, ausgewählt
in einem Timeframe, zu propagieren, und Zuordnen eines Eingabewerts
in dem Timeframe, um den Pfad zu sensibilisieren, wobei der Vorgang
eines Rückwärtsverfolgens
von einem ersten Timeframe beginnt, der einen Ausgangsanschlussstift
enthält,
der das Ziel des Stuck-at-Fault ist, bis zu einem Timeframe, der
die Fehlerstelle enthält;
Definieren, wenn ein Pfad, der nicht erfolgreich in einem Timeframe
sensibilisiert ist, erfasst ist, mindestens eines Segments des Pfads
als nicht zulässige
Information, wobei sich der Pfad zwischen dem ersten Timeframe und
dem Timeframe erstreckt, wo der Pfad so erfasst ist, dass er nicht
erfolgreich sensibilisiert worden ist; und erneutes Starten eines
anderen Rückverfolgungs-Vorgangs
ohne Auswählen
des Segments, das als nicht zulässige
Information definiert ist.
-
Die
nicht zulässige
Information kann ein D-Frontier sein, eine Signalleitung anzeigend,
ausgewählt
in einem spezifizierten Timeframe, wobei die Signalleitung das Ziel
eines Fehler-Signals, propagiert von einem unmittelbar vorhergehenden
Timeframe, ist.
-
Der
spezifizierte Timeframe kann ein Timeframe sein, bei dem ein Fehler-Propagations-Pfad
zuerst sensitiviert wird.
-
Die
nicht zulässigen
Informationen können ein
Satz eines D-Frontier und ein Ausgang eines Propagations-Pfads,
ausgewählt
in einem Timeframe unmittelbar vor einem Timeframe, die bearbeitet
werden soll, sein, wobei der Ausgang hier als ein Soll-PPO bezeichnet
wird, der Satz, der einen Propagations-Pfad in einem spezifizierten
Timeframe anzeigt.
-
Die
nicht zulässigen
Informationen können einen
Satz eines D-Frontier und eines Soll-PPO sein, wobei der Satz einen
Propagations-Pfad in einem Timeframe unmittelbar vor dem Timeframe,
wo die Propagation nicht erfolgreich gewesen ist, anzeigt.
-
Das
Verfahren kann weiterhin einen ersten Schritt eines Zählens der
Zahl von Fehler-Propagations-Prozessen, ausgeführt für jeden Soll-Fehler, für den eine
Testsequenz erzeugt ist, und einen zweiten Schritt eines Beurteilens,
ob die Zahl, die gezählt
ist, über
eine vorbestimmte Zahl hinausgeht, und dann Beenden der Testsequenzerzeugung,
falls dies der Fall ist, aufweisen, wobei der erste Schritt aufweist: einen
ersten Unterschritt eines Auswählens
eines Soll-Fehlers unter einem von Soll-Fehlern, für die die Fehler-Propagations-Prozesse
bis dahin noch nicht ausgeführt
worden sind, und anderen Soll-Fehlern, für die die
Fehler-Propagations-Prozesse dahingehend angesehen werden, dass
sie bis dahin noch nicht ausgeführt
worden sind, und für
die Testsequenzen bis dahin noch nicht erzeugt sind; einen zweiten
Unterschritt eines Auswählens,
wenn ein D-Frontier,
das einen Eingang eines Pfads anzeigt, der sensibilisiert werden
soll, bereits als ein nicht zulässiges
Frontier registriert ist, eines D-Frontier, ein anderes als das
nicht zulässige
Frontier, in einem Timeframe, wo ein Soll-Fehler zu einem externen Ausgangsanschlussstift
hin propagiert ist, um einen Fehler-Propagations-Prozess auszuführen; einen dritten
Unterschritt eines Beurteilens, ob die Fehler-Propagation in dem
zweiten Schritt erfolgreich ist oder nicht; einen vierten Unterschritt
eines Registrierens, wenn die Fehler-Propagation dahingehend beurteilt ist,
dass sie nicht erfolgreich ist, des D-Frontier, ausgewählt in einem
Timeframe, wo die Effekte eines Soll-Fehlers zu einem externen Ausgangsanschlussstift
als das nicht zulässige
D-Frontier des Soll-Fehlers propagiert sind; und einen fünften Unterschritt
eines Ansehens von Fehlern, wenn der erste bis dritte Unterschritt
für alle
Soll-Fehler ausgeführt
worden ist, für
die die Fehler-Propagations-Prozesse
nicht erfolgreich durchgeführt
worden sind, ausgeführt
als Fehler, für
die Fehler-Propagations-Prozesse
bis dahin noch nicht ausgeführt
worden sind.
-
Gemäß einem
anderen Aspekt der Erfindung wird eine Vorrichtung zum Erzeugen
einer Testsequenz geschaffen, um einen angenommenen Stuck-at-Fault
in einer sequenziellen Schaltung, erweitert als eine Reihe von Timeframes,
zu testen, wobei die Vorrichtung aufweist: eine Rückverfolgungseinrichtung
zum Rückwärtsverfolgen
in den Timeframes, um ein Fehlersignal des Stuck-at-Fault entlang eines
Pfads, ausgewählt
in einem Timeframe, zu propagieren, wobei ein Eingangswert in dem
Timeframe zugeordnet wird, um den Pfad zu sensibilisieren, und der
Rückverfolgungs-Vorgang
von einem ersten Timeframe aus startet, der einen Ausgangsanschlussstift
enthält,
der das Ziel des Stuck-at-Fault ist,
bis zu einem Timeframe, der die Fehlerstelle enthält; eine
Definitionseinrichtung zum Definieren, wenn ein Pfad, nicht erfolgreich
sensibilisiert in einem Timeframe, erfasst ist, mindestens eines
Segments des Pfads als nicht zulässige
Information, wobei sich der Pfad zwischen dem ersten Timeframe und
dem Timeframe erstreckt, wo der Pfad dahingehend erfasst ist, dass
er nicht erfolgreich sensibilisiert worden ist; eine Speichereinrichtung
zum Speichern der nicht zulässigen
Information entsprechend zu dem Fehlersignal; und eine Sperreinrichtung
zum Verhindern, dass ein Pfad, definiert als nicht zulässige Information,
ausgewählt
wird, wenn die Rückverfolgungseinrichtung
für einen
anderen Fehler angesteuert wird.
-
Die
nicht zulässigen
Informationen können ein
D-Frontier sein, eine Signalleitung anzeigend, ausgewählt in einem
spezifizierten Timeframe, wobei die Signalleitung das Ziel eines
Fehler-Signals ist, propagiert von einem unmittelbar vorhergehenden Timeframe
aus.
-
Der
spezifizierte Timeframe kann ein Timeframe sein, in dem ein Fehler-Propagations-Pfad
zuerst erfasst ist.
-
Die
nicht zulässigen
Informationen können ein
Satz eines D-Frontier und eines Soll-PPO sein, wobei der Satz einen Propagations-Pfad
in einem spezifizierten Timeframe anzeigt.
-
Die
nicht zulässigen
Informationen können ein
Satz eines D-Frontier und eines Soll-PPO sein, wobei der Satz einen Propagations-Pfad
in einem Timeframe unmittelbar vor dem Timeframe anzeigt, wo die
Propagation nicht erfolgreich gewesen ist.
-
Gemäß der Vorrichtung
und dem Verfahren mit dem vorstehend angegebenen Aufbau wird, wenn
ein Fehler-Propagations-Prozess für einen Soll-Fehler nicht erfolgreich
ist, mindestens ein Segment eines Pfads, um die Effekte des Soll-Fehlers
zu propagieren, als illegale Information gespeichert. Und der Fehler-Propagations-Prozess
wird erneut für denselben
Soll-Fehler ohne Auswählen
der nicht zulässigen
Informationen gestartet. Demzufolge wird die Chance eines erfolgreichen
Fehler-Propagations-Prozesses erhöht, was zu der Verbesserung
der Fehlererfassung führt.
-
KURZE BESCHREIBUNG
DER ZEICHNUNGEN
-
Diese
und andere Aufgaben, Vorteile und Merkmale der Erfindung werden
aus der nachfolgenden Beschreibung davon ersichtlich werden, die
in Verbindung mit den beigefügten
Zeichnungen vorgenommen wird, die eine spezifische Ausführungsform der
Erfindung darstellen. In den Zeichnungen:
-
1 zeigt
eine Beispiel-Fehler-Tabelle für eine
Schaltung, die getestet werden soll.
-
2 zeigt
ein Flussdiagramm eines herkömmlichen
Verfahrens zum Erzeugen einer Test-Sequenz für ein binäres Schaltnetz.
-
3 zeigt
ein Flussdiagramm eines Fehler-Propagations-Prozesses in dem Verfahren
der 2 basierend auf einem Reverse Time Process Verfahren.
-
4 zeigt
ein Flussdiagramm des Zustand-Initialisierungs-Prozesses in dem
Verfahren der 2.
-
5(a) stellt ein binäres Schaltnetz und Flip-Flops
in der sequenziellen Schaltung dar, und 5(b) zeigt
ein vereinfachtes Diagramm.
-
6 zeigt
eine operationsmäßige Darstellung
des Fehler-Propagations-Prozesses in dem Verfahren der 2.
-
7 zeigt
ein Beispiel einer Test-Sequenz-Erzeugung in der Schaltung, dargestellt
in 5(b).
-
8 zeigt
ein Beispiel von Zustand-Übergängen in
einem Zustand-Initialisierungs-Prozess.
-
9 zeigt
ein Flussdiagramm eines Verfahrens zum Erzeugen einer Test-Sequenz für ein binäres Schaltnetz
gemäß einer
Ausführungsform
1 dieser Erfindung.
-
10 zeigt
eine Tabelle, die eine Gruppe von nicht zulässigen D-Frontiers in derselben
Ausführungsform
darstellt.
-
11 zeigt
ein Flussdiagramm eines Fehler-Propagations-Prozesses in derselben
Ausführungsform.
-
12 zeigt
eine operationsmäßige Darstellung
des Fehler-Propagations-Prozesses
in derselben Ausführungsform.
-
13 zeigt
ein Flussdiagramm des Fehler-Propagations-Prozesses in einer Ausführungsform
2 dieser Erfindung.
-
14 zeigt
eine Tabelle, die eine Gruppe einer nicht zulässigen Kombination in derselben
Ausführungsform
darstellt.
-
15 zeigt
eine operationsmäßige Darstellung
des Fehler-Propagations-Prozesses
in derselben Ausführungsform.
-
16 zeigt
ein Flussdiagramm des Zustand-Initialisierungs-Prozesses von Ausführungsform
3 dieser Erfindung.
-
17 zeigt
eine Historik von Zustand-Übergängen in
derselben Ausführungsform.
-
18 zeigt
eine operationsmäßige Darstellung
des Zustand-Initialisierungs-Prozesses
in derselben Ausführungsform.
-
BESCHREIBUNG
DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORMEN
-
Ausführungsform 1
-
Das
Verfahren zum Erzeugen einer Test-Sequenz gemäß dieser Ausführungsform
ist in einem Flussdiagramm in 9 dargestellt.
-
Fehler,
die unter Verwendung dieser Test-Sequenz getestet werden sollen,
sind dieselben wie solche, die in dem Stand der Technik beschrieben
sind, und sind zuvor in einer Fehler-Tabelle registriert, wie dies
in 1 dargestellt ist, und zwar für jede Signalleitung, basierend
auf einer Netz-Liste der LSI, die getestet werden soll.
-
In 9 beginnt
das Verfahren zum Erzeugen einer Test-Sequenz an einem Schritt 101.
-
Im
Schritt 102 wird die maximale Zahl von Schleifen des Prozesses,
die für
nicht erfasste Fehler in Bezug auf die Fehler-Tabelle ausgeführt werden soll,
eingestellt. Die Zahl wird unter Berücksichtigung der Komplexität oder der
Größe einer
Schaltung, die getestet werden soll, oder einer Zeit, die für den Prozess
zugelassen wird, bestimmt. In den meisten Fällen ist 5 Mal angemessen.
-
Im
Schritt 103 wird die Zahl des Prozesses auf Null initialisiert.
-
Im
Schritt 104 wird beurteilt, ob der Prozess die maximale
Zahl, eingestellt im Schritt 102, erreicht hat. Falls dies
nicht der Fall ist, dann geht das System zu Schritt 105 weiter,
und ansonsten geht das System zu Schritt 115 weiter.
-
Im
Schritt 105 wird beurteilt, ob dort irgendein nicht erfasster
oder nicht bearbeiteter Fehler, mit Ausnahme von redundanten Fehlern,
in der Fehler-Tabelle, vorhanden ist. Falls dies nicht der Fall ist,
geht das System weiter zu Schritt 106, und ansonsten geht
es weiter zu Schritt 113.
-
Im
Schritt 106 wird ein Soll-Fehler unter den nicht erfassten
und nicht bearbeiteten Fehlern ausgewählt.
-
Im
Schritt 107 wird ein Test-Muster für den ausgewählten Fehler
erzeugt, und zwar als ein vorbereitender Schritt für die Erzeugung
der Test-Sequenz, und zwar nur für
das binäre
Schaltnetz, um zu prüfen,
ob er ein nicht erfasster Fehler ist oder nicht. Die Schritte 106 und 107 entsprechen
jeweils den Schritten 403 und 404 in 2,
den Stand der Technik zeigend.
-
Im
Schritt 108 wird ein Fehler-Propagations-Prozess für den ausgewählten Soll-Fehler durchgeführt.
-
In
den Schritten 109 und 110 werden ein Zustand-Initialisierungs-Prozess
und ein Fehler-Simulations-Prozess jeweils durchgeführt. Diese
Schritte entsprechen den Schritten 406 und 407 in 2.
-
Im
Schritt 111 wird beurteilt, ob der Fehler-Propagations-Prozess,
durchgeführt
im Schritt 107, erfolgreich ist oder nicht. Falls er es
ist, geht das System zurück
zu Schritt 105, und ansonsten geht das System zu Schritt 112 weiter.
-
In
dem Schritt 112 wird ein D-Frontier, ausgewählt in einem
Timeframe, wo die Effekte des Soll-Fehlers zu irgendeinem externen
Ausgangs-Anschlussstift propagiert sind, als eine nicht zulässige D-Frontier-Gruppe,
dargestellt in 10, registriert. Die Figur enthält drei
Spalten: „Signalleitungen", die Soll-Fehler-Stellen,
die erfasst werden sollen, anzeigend, „Fehler", die Typen der Fehler anzeigend, und „D-Frontier", die D-Frontiers
anzeigend, die gesperrt sind, um sie auszuwählen. In dieser Ausführungsform
werden die nichtzulässigen
D-Frontiers für
jeden Fehler registriert.
-
Im
Schritt 113 werden nicht erfasste Fehler in der Fehler-Tabelle,
mit Ausnahme von redundanten Fehlern, als nicht verarbeitete Fehler
behandelt. Mit anderen Worten werden Fehler entsprechend zu „0" in der Spalte „Erfassung" und zu anderen als „1" in der Spalte „redundante
Fehler" zu „0" in der Spalte von „Prozess" gemacht. Dementsprechend
werden Fehler, für
die eine Test-Sequenz-Erzeugung erfolgreich vorgenommen worden ist,
erneut im Schritt 106 ausgewählt.
-
Im
Schritt 114 zählt
das System die Zahl des Test-Sequenz-Erzeugungs-Prozesses für nicht
erfasste Fehler mit 1.
-
Im
Schritt 115 endet der Prozess der Erzeugung der Test-Sequenz.
-
Der
Fehler-Propagations-Prozess von Schritt 108 ist im Detail
in dem Flussdiagramm in 11 angegeben.
-
Das
Flussdiagramm enthält
zusätzliche Schritte 1403–1405,
entsprechend zu denen Fehler, registriert in der nicht zulässigen D-Frontier-Gruppe, von
den auszuwählenden
Objekten eines D-Frontiers in dem Timeframe mit der Nr. k ausgeschlossen
werden. Dementsprechend wird ein D-Frontier, ein anderes als solche,
die dahingehend erfasst sind, dass sie nicht erfolgreich zuvor propagiert
worden sind, in dem Timeframe der Nr. k, in und nach dem zweiten Fehler-Propagations-Prozess
ausgewählt.
-
Im
Schritt 1402 wird beurteilt, ob ein Pfad, umfassend einen
Soll-Fehler, sensitiviert worden ist oder nicht. Falls dies der
Fall ist, dann ist der Prozess erfolgreich, und das System geht
zu Schritt 1409 über,
um den Prozess zu beenden, und ansonsten geht das System weiter
zu Schritt 1403.
-
Im
Schritt 1403 wird beurteilt, ob ein Timeframe, das verarbeitet
werden soll, der k (= 1. in dieser Ausführungsform) Timeframe ist oder
nicht. Falls dies der Fall ist, dann geht das System weiter zu Schritt 1404,
und ansonsten geht das System zu Schritt 1406 über.
-
Im
Schritt 1404 wird die Soll-Fehler-Stelle oder einer der
Ausgänge
von FFs (d. h. die Eingänge des
binären
Schaltnetzes) als ein D-Frontier ausgewählt. Bei der Auswahl wird auf
die nicht zulässige D-Frontier-Gruppe
so Bezug genommen, um ein Auswählen
solcher, registriert als nicht zulässige D-Frontiers für den entsprechenden
Fehler, zu vermeiden.
-
Im
Schritt 1405 wird das ausgewählte D-Frontier temporär gespeichert.
-
Im
Schritt 1406 wird die Soll-Fehler-Stelle oder einer der
Ausgänge
der FFs als ein D-Frontier in derselben Art und Weise wie im Schritt 603 in 3 ausgewählt.
-
Im
Schritt 1407 wird ein Fehler-Signal dem ausgewählten D-Frontier
in einem Timeframe, das getestet werden soll, zugeordnet, Eingangs-Werte und
Zustandswerte werden jeweils den externen Eingangs-Anschlussstiften
und den Ausgängen
der FFs zugeordnet, um das Fehler-Signal zu einem Soll-PPO zu propagieren
(das bedeutet, um den Fehler-Propagations-Pfad zu sensitivieren).
Falls die Fehler-Propagation erfolgreich ist, dann geht das System
weiter zu Schritt 1408, und ansonsten geht das System zu
Schritt 1409, um den Prozess zu beenden. Eine solche Pfad-Sensitivierung
ist dieselbe wie die letztere Hälfte
von Schritt 602 in 3.
-
Im
Schritt 1408 werden die Eingangs-Werte, zugeordnet zu den
externen Eingangs-Anschlussstiften
im Schritt 1407, als ein Teil einer Test-Sequenz gespeichert,
und das System geht zurück
zu Schritt 1402 mit dem Eingang von D-Frontier als ein
neuer Soll-PPO.
-
Die
Betriebsweise der vorstehenden Test-Sequenz-Erzeugung dieser Ausführungsform wird
nachfolgend unter Bezugnahme auf 12 beschrieben,
wo entsprechende Bauelemente mit den entsprechenden Bezugszeichen
in Bezug auf 6 bezeichnet sind. Das Bezugszeichen 1001 stellt
die nicht zulässige
D-Frontier-Gruppe für
einen Soll-Fehler 713 dar, und 1002–1004 sind
Fehler-Propagations-Pfade, jeweils von Timeframes 701–703 in
dem zweiten Propagations-Prozess.
-
Zuerst
wird die maximale Zahl des Fehler-Propagations-Prozesses auf 5 in
dieser Ausführungsform
eingestellt (Schritt 102 in 9), und
eine Variable i zum Kontrollieren der Zahl wird auf Null initialisiert
(Schritt 103). Dann wird beurteilt, ob die Variable i die
maximale Zahl erreicht hat. Falls dies der Fall ist, dann geht das
System weiter zu Schritt 115, um den Prozess zu beenden,
und ansonsten geht es weiter zu Schritt 105 (Schritt 104).
-
Die
darauf folgenden Schritte 105–107 sind dieselben
wie die Schritte 402–404 in 2,
so dass die Beschreibung weggelassen wird.
-
Falls
ein Test-Muster erfolgreich im Schritt 107 erzeugt ist,
wird ein Fehler-Propagations-Prozess
ausgeführt,
um eine Test-Sequenz für
einen Soll-Fehler zu erzeugen (Schritt 108).
-
In
einem ersten (i = 0) Fehler-Propagations-Prozess wird angenommen,
dass der Prozess für
den Soll-Fehler 713 ausgeführt wird, wie dies unter Bezugnahme
auf 6 beschrieben ist. Die Unterschiede in der Betriebsweise
werden nur nachfolgend erläutert.
-
In
einem ersten Timeframe (Schritt 1403) ist ein D-Frontier,
das nicht in der nicht zulässigen D-Frontier-Gruppe
registriert worden ist, ausgewählt. Allerdings
ist dort kein Fehler, registriert zu der ersten Zeit, vorhanden,
so dass FF3 ähnlich
wie im Schritt 1404 in 11 ausgewählt wird.
Das D-Frontier, das so ausgewählt
ist, wird temporär
gespeichert (Schritt 1405). Falls das System fehlschlägt, den
Propagations-Pfad in dem dritten Timeframe entsprechend so wie im
Stand der Technik zu sensitivieren, wird der Abschluss des Fehler-Propagations-Prozesses
geprüft
(Schritt 111). Wenn der Prozess nicht erfolgreich ist,
wird das D-Frontier 709, das temporär gespeichert ist, zu der nicht
zulässigen
D-Frontier-Gruppe 101 des
Soll-Fehlers 713 registriert (Schritt 112).
-
Hiernach
wird der vorstehende Prozess für jeden
nicht verarbeiteten Fehler in Bezug auf die Fehler-Tabelle ausgeführt (der
Prozess von Schritt 105 zu entweder Schritt 111 oder
Schritt 112 wird wiederholt, wobei ein D-Frontier in dem
Timeframe der Nr. k (= 1. in dieser Ausführungsform) als ein nicht zulässiges D-Frontier
für jeden
Fehler registriert wird, für
den der Propagations-Prozess nicht erfolgreich gewesen ist.
-
Nach
dem Abschluss des Prozesses zum Erzeugen einer Test-Sequenz für jeden
nicht verarbeiteten Fehler wird entschieden, dass dort kein unverarbeiteter
Fehler vorhanden ist (Schritt 105). Dementsprechend werden
Fehler entsprechend zu „0" in der Spalte „Prozess" und andere als „1" in der Spalte „Redundanz-Fehler" auf „0" in der Spalte „ Prozess" eingestellt (Schritt 113),
was zulässt,
dass Fehler, für die
der Prozess nicht erfolgreich gewesen ist, erneut ausgewählt werden.
Die Variable i, die die Zahl des Test-Sequenz-Erzeugungs-Prozesses, die bis
hier wiederholt ist, darstellt, aufwärts mit 1 gezählt (Schritt 114),
und das System geht zurück
zu Schritt 105.
-
In
einem zweiten (i = 2) Fehler-Propagations-Prozess wird der Fehler 713,
für den
der Prozess nicht erfolgreich gewesen ist, wenn i = 1 gilt, erneut als
ein Soll-Fehler ausgewählt
(Schritt 106), und der Prozess wird wie folgt ausgeführt, nachdem
das Test-Muster
für das
binäre
Schaltnetz erzeugt ist (Schritt 107):
-
In
dem Prozess in dem Timeframe 701, der der erste Timeframe
ist (Schritt 1403), gibt die Referenz zu der nicht zulässigen D-Frontier-Gruppe 1001 FF3
dahingehend frei, um von den auszuwählenden Objekten beseitigt
zu werden (709), und als ein Ergebnis wird FF1 (707)
heuristisch als ein D-Frontier ausgewählt (1404) und temporär gespeichert
(Schritt 1405). Dies sensitiviert den Fehler-Propagations-Pfad 1002 bis
zu dem externen Ausgangs-Anschlussstift 704 (Schritt 1407)
und gestaltet FF1 so (707), dass es der Soll-PPO ist (Schritt 1408).
-
In
einem zweiten Timeframe 702 wird FF3 (712) als
ein D-Frontier ausgewählt
(Schritte 1403 und 1406), und ein Fehler-Propagations-Pfad 1003 wird
sensitiviert (Schritt 1407), um die Effekte des Fehlers
zu FF1 (707) des Soll-PPO zu propagieren, um dadurch FF3
(712) zu dem Soll-PPO zu machen (Schritt 1408).
-
In
einem dritten Timeframe 703 wird die Fehler-Stelle 713 als
ein D-Frontier ausgewählt
(Schritte 1403 und 1406), und ein Fehler-Propagations-Pfad 1004 wird
sensitiviert (Schritt 1407), um die Effekte des Fehlers
von der Fehler-Stelle 713 zu FF3 (712) des Soll-PPO zu propagieren.
Da der Soll-Fehler sensitiviert worden ist (Schritt 1402),
geht das System weiter zu einem Zustand-Initialisierungs-Prozess,
der nicht beschrieben ist, da er derselbe wie derjenige des in Bezug
stehenden Stands der Technik ist.
-
Wie
zuvor erläutert
ist, wird, gemäß dieser Ausführungsform,
in dem Fall, dass ein Prozess für eine
Fehler-Propagation nicht erfolgreich in einer Test-Sequenz, erzeugt
dazu, einen Soll-Fehler zu testen, vorgenommen worden ist, ein D-Frontier,
ausgewählt
in einem k (= 1 in dieser Ausführungsform) Timeframe,
der die Effekte dieses Soll-Fehlers zu externen Ausgangs-Anschlussstiften
propagiert, zu der Gruppe von nicht zulässigen D-Frontiers registriert. Zusätzlich wird
eine Test-Sequenz, die nicht erfolgreich für einen Soll-Fehler erzeugt ist,
erneut generiert. Demzufolge kann eine Signalleitung, die zu der Gruppe
der nicht zulässigen
D-Frontiers für
den Soll-Fehler gehört,
von den auszuwählenden
Objekten eines D-Frontiers in einem Timeframe eliminiert werden,
wo die Effekte des Soll-Fehlers
zu den externen Ausgangs-Anschlussstiften propagiert werden, wenn
die Test-Sequenz
erneut erzeugt wird. Demzufolge wird ein Fehler-Propagations-Pfad
flexibel geändert,
so dass die Chancen eines Erfolgs beim Erzeugen einer Test-Sequenz
für einen
Soll-Fehler erhöht
werden. Als Folge kann eine Test-Sequenz für einen Soll-Fehler mit einer
hohen Fehlererfassung erzeugt werden.
-
Ausführungsform 2
-
Das
Verfahren zum Erzeugen einer Test-Sequenz dieser Ausführungsform
ist im Wesentlichen dasselbe wie dasjenige der 2 für den in
Bezug stehenden Stand der Technik, mit der Ausnahme des Fehler-Propagations-Prozesses.
Dementsprechend wird der Fehler-Propagations-Prozess ausschließlich wie
folgt beschrieben:
-
In 13 beginnt
der Fehler-Propagations-Prozess am Schritt 301.
-
Im
Schritt 302 wird beurteilt, ob ein Soll-Fehler erfasst
ist oder nicht. Falls dies der Fall ist, dann geht das System zu
Schritt 308 weiter, um den Prozess zu beenden, und ansonsten
geht das System zu Schritt 303 weiter.
-
Im
Schritt 303 wird entweder der Soll-Fehler oder einer der
Ausgänge
der FFs als ein D-Frontier ausgewählt. Dann wird ein Test-Muster,
das ein Fehler-Signal zu dem Soll-PPO propagiert, erzeugt. Falls dieser
Prozess nicht erfolgreich ist, dann geht das System zu Schritt 306,
und ansonsten geht es zu Schritt 304 weiter. Allerdings
wird ein Satz eines D-Frontiers, das zu der Gruppe des nicht zulässigen Satzes
gehört,
und der Soll-PPO von den auszuwählenden
Objekten eliminiert.
-
Im
Schritt 304 wird der Satz des Soll-PPO und das D-Frontier
temporär
gespeichert.
-
Im
Schritt 305 wird, falls das D-Frontier, ausgewählt im Schritt 303,
der Eingang eines FF ist, dessen Ausgang zu einem neuen Soll-PPO
gemacht.
-
Im
Schritt 306 wird der Satz des D-Frontier, ausgewählt im Schritt 304,
und der Soll-PPO
zu der Gruppe des nicht zulässigen
Satzes hinzugefügt.
Ein Beispiel einer solchen Gruppe eines nicht zulässigen Satzes
ist in 14 dargestellt.
-
Im
Schritt 307 wird die Test-Sequenz, die bis hier erzeugt
ist, insgesamt gelöscht,
und das System geht zurück
zu Schritt 302.
-
Im
Schritt 308 wird die Gruppe des nicht zulässigen Satzes
gelöscht
und der Fehler-Propagations-Prozess endet.
-
Der
Betrieb der vorstehenden Erzeugung einer Test-Sequenz dieser Ausführungsform
wird nachfolgend unter Bezugnahme auf 15 beschrieben,
wo entsprechende Bauelemente mit den entsprechenden Bezugszeichen
in Bezug auf 6 bezeichnet sind.
-
In 15 stellt
das Bezugszeichen 1201 die Gruppe des nicht zulässigen Satzes,
dargestellt in 14, dar, und Leitungen 1202 und 1203 sind
jeweils Fehler-Propagations-Pfade
in den Timeframe 702 und 703 jeweils.
-
Bei
der Test-Sequenz-Erzeugung für
den D-Frontier 713 wird, falls angenommen wird, dass der
Fehler-Propagations-Prozess in dem Timeframe 703 nicht
erfolgreich ist, wie dies zuvor beschrieben ist (Schritt 303 in 13),
ein Satz eines D-Frontiers, das der Ausgang von FF2 (711)
ist, in dem Timeframe 702 unmittelbar vor dem Timeframe 703,
wo der Prozess nicht erfolgreich ist, und ein Soll-PPO, der der
Eingang von FF3 (709) ist, zu der Gruppe 1201 des
nicht zulässigen
Satzes registriert (Schritt 306).
-
Darauf
folgend geht das System zurück
zu dem ersten Timeframe 701, um den Prozess erneut nach
Löschen
der gesamten Sequenz, erzeugt bis hier, für den Soll-Fehler 713 durchzuführen (Schritt 307),
und wählt
das D-Frontier 709 in dem Timeframe 701 aus. Dann
wird der Fehler-Propagations-Pfad 705 sensitiviert, um
die Effekte des Soll-Fehlers „b" (713) zu
den externen Ausgangs-Anschlussstiften zu propagieren (Schritte 302 und 303),
und es speichert temporär
den Satz des D-Frontier 709 und des externen Ausgangs-Anschlussstiftes
PO (Schritt 304), was den Fehler-Propagations-Pfad 705 anzeigt,
wobei der Eingang eines FF, dessen Ausgang das D-Frontier ist, zu
dem nächsten
Soll-PPO gemacht wird (Schritt 305).
-
In
dem Timeframe 702 wird, als Folge der Referenz der Elemente
(D-Frontier 711 und Soll-PPO 709) in der Gruppe
des nicht zulässigen
Satzes 1201, festgestellt, dass das D-Frontier 709 das
Soll-PPO ist. Dementsprechend wird FF2 (711) von den Auswahlobjekten
eliminiert und FF1 (710) wird als ein D-Frontier ausgewählt. Und
der Fehler-Propagations-Pfad 1202,
der sich bis zu FF3 (709) des Soll-PPO erstreckt, wird
sensitiviert (Schritte 302–305).
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Dann
wird der Fehler-Propagations-Prozess in dem Timeframe 703 ausgeführt und
die Fehler-Stelle 713 wird als das D-Frontier ausgewählt. Der Fehler-Propagations-Pfad 1203 wird
sensitiviert, um die Effekte des Fehlers von der Fehler-Stelle 713 zu FF1
(710) des Soll-PPO zu propagieren (Schritte 302–305).
Da der Soll-Fehler dementsprechend sensitiviert worden ist, behandelt
das System den Fehler-Propagations-Prozess als Erfolg und geht zu
dem Zustand-Initialisierungs-Prozess über (Schritt 302).
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Obwohl
im Schritt 307 vorstehend die Test-Sequenz, die bis hier
erzeugt ist, insgesamt gelöscht
wird, und der Fehler-Propagations-Prozess für den ersten Timeframe gestartet
wird, kann er erneut von einem Frame vor dem Timeframe gestartet
werden, wo der Prozess nicht erfolgreich gewesen ist, da der Pfad
in einem unmittelbar vorhergehenden Timeframe dahingehend verhindert
wird, verarbeitet zu werden.
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Wie
zuvor beschrieben ist, wird, gemäß dieser
Ausführungsform,
in dem Fall, dass ein Fehler-Propagations-Prozess nicht erfolgreich
in der Test-Sequenz, erzeugt dazu, einen Soll-Fehler zu testen,
vorgenommen worden ist, ein Satz eines D-Frontier und eines Soll-PPO,
ausgewählt
in einem Timeframe unmittelbar vor dem Timeframe, wo der Prozess
nicht erfolgreich gewesen ist, als eine Gruppe eines nicht zulässigen Satzes
registriert. Zusätzlich
wird die Test-Sequenz, die bis hier erzeugt ist, insgesamt oder
teilweise gelöscht
und erneut von dem Beginn an oder der Mitte an erzeugt. Demzufolge
kann irgendein Satz, der zu der Gruppe des nicht zulässigen Satzes
gehört,
von den Auswahlobjekten eines D-Frontier in einem Timeframe eliminiert
werden. Demzufolge wird ein Fehler-Propagations-Pfad flexibel geändert, wodurch
die Chancen eines Erfolgs beim Erzeugen einer Test-Sequenz für einen Soll-Fehler
erhöht
werden. Als eine Folge kann eine Test-Sequenz für einen Soll-Fehler mit einer
hohen Fehlererfassung erzeugt werden.
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Ausführungsform 3
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Das
Verfahren zum Erzeugen einer Test-Sequenz dieser Ausführungsform
ist im Wesentlichen dasselbe wie 2, mit der
Ausnahme des Zustand-Initialisierungs-Prozesses. Dementsprechend wird der
den Zustand initialisierende Prozess ausschließlich wie folgt beschrieben:
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In 16 beginnt
der Zustand-Initialisierungs-Prozess am Schritt 201.
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Im
Schritt 202 wird beurteilt, ob der momentane Zustand der
Schaltung bzw. des Schaltnetzes mit seinem Anfangs-Zustand übereinstimmt
oder nicht. Falls sie übereinstimmen,
dann geht das System weiter zu Schritt 208, und ansonsten
geht das System weiter zu Schritt 203.
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In
dem Schritt 203 wird der momentane Zustand durch Zuordnen
von Werten zu den externen Eingangs-Anschlussstiften und den FFs
eingestellt, um so nicht in den Zustand überzugehen, der zu der Gruppe
des nicht zulässigen
Zustands, registriert im Schritt 206, gehört.
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Im
Schritt 204 wird der eingestellte Zustand zu der Historik
von Zustand-Übergängen hinzugefügt. Ein
Beispiel einer solchen Historik ist in 17 dargestellt,
wo jeder Zustand durch einen Zustand-Namen und einen Zustandswert
jedes FF, das den Zustand darstellt, dargestellt werden kann.
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In
dem Schritt 205 wird beurteilt, ob dort mehr als ein Zustand,
eingestellt im Schritt 203, in der Historik vorhanden ist.
Falls dies der Fall ist, geht das System weiter zu Schritt 206,
und ansonsten geht das System zu Schritt 207 über.
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Im
Schritt 206 wird der eingestellte Zustand von der Historik
gelöscht
und zu der Gruppe des nicht zulässigen
Zustands registriert. Wenn dort zwei identische Zustände in der
Historik vorhanden sind, bedeutet dies, dass eine Schleife eines
Zustand-Übergangs
gebildet wird. Deshalb wird der Zustand, der später eingestellt ist, als ein
nicht zulässiger Zustand definiert,
wodurch der Zustand-Initialisierungs-Prozess davor bewahrt wird,
in eine Schleife überzugehen.
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Im
Schritt 207 wird der eingestellte Zustand als der momentane
Zustand behandelt.
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Im
Schritt 208 wird die Gruppe des nicht zulässigen Zustands
gelöscht.
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Im
Schritt 209 wird der Zustand-Initialisierungs-Prozess beendet.
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Die
Betriebsweise der Test-Sequenz-Erzeugung dieser Ausführungsform
wird nachfolgend unter Bezugnahme auf 18 beschrieben:
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18(a) stellt eine Historik 1101 der
Zustand-Übergänge in einem
Fall dar, dass dort zwei identische Zustände während des Zustand-Initialisierungs-Prozesses
eines Schaltnetzes, das dahingehend getestet werden soll, dass es
die Zustand-Übergänge besitzt,
dargestellt in 8, vorhanden sind. 13(b) stellt eine Historik 1102 in
einem Fall dar, dass, von den zwei identischen Zuständen, der
später
zugeordnete Zustand von der Historik 1101 gelöscht worden
ist. 13(c) stellt eine Historik 1103 in
einem Fall dar, dass der Zustand-Initialisierungs-Prozess der Schaltung
bzw. des Schaltnetzes erfolgreich durchgeführt ist.
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Das
Nachfolgende ist eine Beschreibung der Erzeugung einer Test-Sequenz-Überführung von dem Anfangs-Zustand 804 zu
dem Fehler-Anregungs-Zustand 801 in 8:
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Zuerst
wird der Fehler-Anregungs-Zustand 801 zu der Historik der
Zustand-Übergänge registriert
(Schritt 201). Dann wird der Fehler-Anregungs-Zustand 801 eingestellt,
um den Zustand 802 zu erhalten (Schritt 203),
der zu der Historik registriert wird (Schritt 204). Da
der Zustand 802 weder der Anfangs-Zustand ist, noch dort
zwei identische Zustände
in der Historik vorhanden sind (Schritt 205), wird der
eingestellte Zustand als der momentane Zustand definiert (Schritt 207),
und der Zustand 802 wird eingestellt (Schritte 202 und 203).
In derselben Art und Weise werden die Zustände 803 und 801 eingestellt und
zu der Historik registriert.
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An
diesem Punkt besitzt die Historik 1101 zwei der Zustände 801 (205, 18(a)), so dass der Zustand 801,
der später
registriert ist, davon gelöscht wird
und zu der Gruppe der nicht zulässigen
Zustände
registriert wird (Schritt 206, 18(b)).
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Der
Zustand 804 wird durch Einstellen des Zustands 803 erneut
erhalten, um zu vermeiden, dass er in dem nicht zulässigen Zustand 801 vorliegt (Schritt 203),
und wird in der Historik registriert (Schritt 204, 13(c)). Hierbei sind keine identischen
Zustände
in der Historik 1103 vorhanden (Schritt 205).
Weiterhin ist, da der Zustand 804 gleich zu dem Anfangs-Zustand
ist (Schritt 202), der Zustand-Initialisierungs-Prozess
erfolgreich und wird beendet.
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Gemäß dieser
Ausführungsform
wird die Historik der Zustand-Übergänge gespeichert,
wenn der Zustand-Initialisierungs-Prozess der Erzeugung der Test-Sequenz
eines Soll-Fehlers durchgeführt wird.
Wenn dabei zwei identische Zustände
in der Historik vorhanden sind, wird der Zustand, der später zugeordnet
ist, davon gelöscht
und als ein nicht zulässiger
Zustand registriert, so dass er nicht zu einem nicht zulässigen Zustand übergehen
wird. Demzufolge werden die Chancen eines Erfolgs in dem Zustand-Initialisierungs-Prozess erhöht, und,
als Folge, kann eine Test-Sequenz für einen Soll-Fehler mit einer
hohen Fehler-Überdeckung
erzeugt werden.
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Obwohl
die vorliegende Erfindung vollständig
anhand von Beispielen unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen
beschrieben worden ist, sollte angemerkt werden, dass verschiedene Änderungen
und Modifikationen für
Fachleute auf dem betreffenden Fachgebiet ersichtlich werden, ohne
den Schutzumfang der vorliegenden Erfindung zu verlassen, wie er
durch die beigefügten
Ansprüche
bestimmt ist.